Capacidad del Proceso

Temario semana 7
• Capacidad de Procesos
• Indicador Cp
• Indicador Cpk
• Capacidad del proceso por control
• Otros Indices
 1

Capacidad del proceso

3
 CAPACIDAD DEL PROCESO

 La capacidad del proceso consiste en conocer la amplitud de la

variación natural del proceso para una característica de calidad
Proceso “capaz” dada, ya que esto permite saber en qué medida tal característica
de calidad es satisfactoria, es decir, cumple las especificaciones.
 En las gráficas se muestra como un proceso es “capaz” cuando
las variaciones del mismo están dentro de los límites del mismo,
en caso de estar fuera de los límites, los valores del proceso,
consideramos que es un proceso con falta de capacidad.

“EL ANALISIS DE LA CAPACIDAD DETERMINA SI EL PROCESO ES CAPAZ DE PRODUCIR RESULTADOS QUE

CUMPLAN CON LOS REQUERIMIENTOS DEL CLIENTE”
4
 CAPACIDAD DEL PROCESO

Proceso “capaz”

5
Proceso “capaz”

6
 CAPACIDAD DEL PROCESO

Proceso “capaz”

7
 CAPACIDAD DEL PROCESO
Proceso capaz
EJEMPLO:
Suponga que el diámetro interno de un cojinete que soporta
un eje de acero tiene una especificación inferior de 1.498
pulgadas y otra superior de 1.510 pulgadas. Si el diámetro es
demasiado pequeño puede agrandarse por medio del
proceso de reelaboración. Sin embargo, si es demasiado
grande, la pieza debe desecharse.
Si la variación natural en el proceso de torneado resulta en
diámetros que por lo común van de 1.495 pulgadas a 1.515 Proceso incapaz
pulgadas, se diría que el proceso no es capaz de cumplir las LES=1.510
LEI=1.498
especificaciones.
La gerencia entonces enfrenta tres posibles decisiones:
1) Medir cada pieza y reprocesar
2) Desarrollar un mejor proceso para lo cual invertiría en 1.495 1.515
nueva tecnología
3) Modificar las especificaciones del diseño.

8
 CAPACIDAD DEL PROCESO

Un estudio de capacidad de proceso es una investigación planificada

minuciosamente, de modo que genere información específica sobre el
Proceso “capaz” rendimiento de un proceso en condiciones determinadas de operación.
Entre las preguntas comunes que se formulan en un estudio de
capacidad de proceso se tienen:

 ¿En donde se centra el proceso?

 ¿Cuánta variabilidad existe en el proceso?
 ¿Es aceptable el rendimiento en relación con las especificaciones?
 ¿Qué factores contribuyen a la variabilidad?

9
 2

Indice Cp

10
 Indice “Cp”

99.37%

Especificación del producto (necesidad cliente)

Capacidad del proceso (característica del proceso)

11
 Interpretación del índice “Cp”

Para que el proceso sea considerado potencialmente capaz

de cumplir las especificaciones, se requiere que la variación
real (natural) siempre sea menor que la variación tolerada.
De aquí que lo deseable es el que índice Cp >1 y si el Cp <1,
es una evidencia que el proceso no cumple las
especificaciones.
99.37%

12
Interpretación del índice “Cp”

13
 CAPACIDAD DEL PROCESO

El valor Cp nos permite

identificar el tipo de control
que realizaremos en el
proceso, desde un control
exhaustivo a un punto de
control por puntos

14
 3

Indice Cpk

15
 Indice “Cpk”

El índice Cpk es el indicador de la capacidad real de un proceso

que se puede ver como un ajuste del índice Cp para tomar en
cuenta el centrado del proceso.

16
 Indice “Cpk”

El índice Cpk nos indica que tan centrado se encuentra el proceso

en relación al nivel objetivo.

Cp no cambia cuando cambia el Cpk < 1 indica no cumplimiento

centro del proceso de especificaciones

Cp < 1 indica que nos encontramos

Cp=Cpk cuando el proceso se centra
ante un proceso no capaz

Cpk = 0 indica que el promedio es

Cpk siempre es menor o igual a Cp igual a uno de los límites de
especificación.

Cpk = 1 es un estándar que indica Cpk < 0 indica que el promedio está
cumplimientos de especificaciones fuera de las especificaciones.

17
 Indice “Cpk”

El índice Cpk nos indica que tan centrado se encuentra el proceso

en relación al nivel objetivo.

18
 4

Capacidad del proceso y control

19
 Capacidad del Proceso y Control

 Si un proceso no es capaz ni está bajo control, primero se

debe de crear un estado de control eliminando las causas
especiales de la variación y luego actuar sobre las causas
comunes para mejorar su capacidad.
 Los cálculos de capacidad de procesos tienen poco sentido si
éste no se encuentra bajo control estadístico, por que los
datos se confunden con las causas especiales que no
representan la capacidad del proceso.

20
TENDENCIAS DE LA CAPACIDAD DE PROCESOS
TENDENCIAS DE LA CAPACIDAD DE PROCESOS
EJEMPLO 1
Calculando el Cp
del proceso

ES = 5.8
Especificaciones
EI = 4.2
Calculando el Cpk
del proceso

Cp = 0.5925
Cpk= 0.4074

Cp [0 …. 1]
 EJEMPLO 2

Se viene analizando los procesos productivos de pernos en forma de U y se tienen los siguientes resultados:
Dimensión promedio es X = 10.7171 y la desviación estándar S= 0.0868. El histograma señala que los datos
analizados tiene una distribución aproximada normal. Por lo tanto, cabe esperar que todas las dimensiones
de los pernos en forma de U queden entre 10.7171+ 3x (0.868) = 10.4566 y 10.7171-3x (0.0868)=10.9766.
Las especificaciones de diseño son: EI = 10.55 mm y ES= 10.90 mm.
Calcular:
a) Los índices Cp y Cpk e interprételos
b) ¿El proceso cumple con las especificaciones? Argumente su respuesta

26
 SOLUCION

1. Calcular el “Cp” del proceso

Cp = ES-EI /6

Datos:
ES =10.90 mm Cp = 0.67 < 1. Es decir, de nivel 4.
EI = 10.55 mm
= 0.0868
= 10.7171

27
 2. Calcular el “Cpk” del proceso

Datos:
ES =10.90 mm
EI = 10.55 mm
= 0.0868
= 10.7171

Cpk = 0.64 < 1 No cumplimiento de especificaciones

Cp = 0.67
Cpk= 0.4074

Cp [0 …. 1]

28
 Uso de los índices de capacidad de proceso

Suponga que un gerente de control de calidad en una empresa tiene un proceso

con una desviación estándar de 1 y un rango de especificaciones de 8. El valor de Cp
es de 1.33. El gerente se da cuenta de que la dispersión natural está dentro de las
especificaciones en este momento, pero los nuevos contratos exigen aumentar el
valor del índice de capacidad.
Se han establecido objetivos para aumentar el índice Cp a 1.66 dentro de tres meses, a
2.00 dentro de seis meses y a 2.33 dentro de un año.

29
 Uso de los índices de capacidad de proceso

Dado que el rango de especificaciones (LES-LEI) se mantiene al nivel previo

de
8, la tabla siguiente muestra la desviación estándar del proceso necesaria
para cada fase del proyecto. En términos de operación, esta tarea supone
reducir la variabilidad en el proceso de una desviación estándar de 1.00 a
0.57, lo que da por resultado el aumento deseado de Cp del nivel actual de
1.33 al nivel final de 2.33, que se lograría si se recurriera a una mejora del
proceso y se actualiza la tecnología.

30
Valores de Cp LEI= -8 LES = +8

Cp = 1.33

LEI= -8 LES = +8

Cp = 1.66

LEI= -8 LES = +8

Cp = 2.00
LEI= -8 LES = +8

Cp = 2.33
 5

Otros Indices

32
 Otros índices

33
 Cr: “Representa la proporción de
la banda de especificaciones
que es cubierta por el proceso”

34
35
36
37
 Conceptualizando Seis Sigma
 Seis sigma (6 σ) o Six Sigma, más conocida por su
denominación en inglés, es una estrategia de mejora de
procesos, centrada en la reducción de la variabilidad de los
mismos, reforzando y optimizando cada parte de proceso
consiguiendo reducir o eliminar los defectos o fallos en la
entrega de un producto o servicio al cliente.

 La meta de seis sigma es llegar a un máximo de

3,4 defectos por millón de eventos u oportunidades (
DPMO), entendiéndose como defecto cualquier evento en el
que un producto o servicio no logra cumplir los requisitos del
cliente.

 Dentro de los beneficios que se obtienen del seis sigma

están: mejora de la rentabilidad y la productividad. Una
diferencia importante con relación a otras metodologías es
la orientación al cliente.

38
Conceptualizando Seis Sigma

39
 Conceptualizando Seis Sigma

Se indica el número de partes por millón (ppm) que

estarán fuera de los límites de especificación usando
como límite el valor de cada desviación estándar.

40
 Conceptualizando Seis Sigma

Distribución normal centrada

41
 Índice “Z”

Es la métrica de capacidad de procesos de mayor uso en Seis Sigma. Se obtiene

calculando la distancia entre la media y las especificaciones, y esta distancia
se divide entre la desviación estándar.

42
 Reducción de defectos al subir el número de
sigmas de un proceso (Largo plazo)

Factor de
Reducción
Pasar de A reducción
porcentual
de defectos

2 sigmas (308 537 PPM) 3 sigmas (66 807 PPM) 5 78%

3 sigmas (66 807 PPM) 4 sigmas (6210 PPM) 11 91%

4 sigmas (6 210 PPM) 5 sigmas (233 PPM) 27 96%

5 sigmas (233 PPM) 6 sigmas (3.4 PPM) 68 99%

43
Calidad de Corto Plazo y Largo Plazo en términos
de Cp, Zc, ZL y PPM (Partes por millón)

44
45
 Calidad Seis Sigma/Proceso Seis Sigma

Tener calidad Seis Sigma significa diseñar productos y procesos que logren que
la variación de la características de calidad sea tan pequeña que el índice Z, de
corto plazo sea igual a seis, lo que implica que la campana de la distribución
quepa dos veces dentro de las especificaciones .

Proceso Seis Sigma, es el proceso cuya capacidad para cumplir

especificaciones a corto plazo es igual a Zc= 6 y Cpk= 2 o cuando a
largo plazo es Zl= 4.5 , y Ppk= 1.5

46
 Seis Sigma para atributos

Cuando las características de la calidad son de tipo continuo/atributos se emplea la

métrica Defectos por millón de oportunidades de error (DPMO)

OPORTUNIDAD
UNIDAD (U) INDICE DPU
DE ERROR (O)

INDICE DPO DPMO

47
 Seis Sigma para atributos

Parte o producto que se elabora

UNIDAD (U)
mediante un proceso

Cualquier evento que no cumpla la especificación

DEFECTO (D) de una CTQ (la cual es definida por el cliente)

Es una unidad producida que tiene uno o más

DEFECTUOSO defectos
 Seis Sigma para atributos

Cualquier parte de la unidad que puede

OPORTUNIDAD
medirse o probarse si es adecuada y que
DE ERROR (O)
ofrezca una oportunidad de no satisfacer un
requisito del cliente (CTQ)

INDICE DPU
(Defectos por Métrica de calidad que es igual al número
unidad) de defectos encontrados entre el número de
unidades inspeccionadas. No toma en
DPU = D/U cuenta las oportunidades de error.
49
 Seis Sigma para atributos

INDICE DPO
(DEFECTO POR Métrica de calidad que es igual al número de defectos
OPORTUNIDAD)
encontrados entre el total de oportunidades de error
al producir una cantidad específica de unidades
DPO = D/(UxO)

DPMO
(DEFECTO POR MILLON DE Métrica Seis Sigma para procesos de
OPORTUNIDADES)
atributos que cuantifica los defectos
esperados en un millón de
DPMO = (D/(UxO)) x 1 000 000 oportunidades de error.

50
EJEMPLO 1: APLICACIÓN DEL CALCULO DEL VALOR DE Z (VALOR SIGMA DEL
PROCESO)

51
EJEMPLO 1: APLICACIÓN DEL CALCULO DEL VALOR DE Z (VALOR SIGMA DEL
PROCESO)

Unidad = 2000 sillas revisadas

Oportunidad de error (O) = 24 puntos de ensamble
Defectos (D) = 120 puntos de ensamble

1 INDICE DPU (Defectos por unidad)

DPU = D/U = 120/2 000 = 0.06

Esto significa, que en promedio, cada silla tiene 0.06

DATOS
ensambles defectuosos (en 100 sillas se esperarían 6
ensambles defectuosos) . Es claro que una misma silla
puede tener más de un ensamble defectuoso.

52
 EJEMPLO 1: APLICACIÓN DEL CALCULO DEL VALOR DE Z (VALOR SIGMA DEL
PROCESO)

Unidad = 2000 sillas revisadas 2

Oportunidad de error (O) = 24 puntos de ensamble
Defectos (D) = 120 puntos de ensamble
INDICE DPO (DEFECTO POR OPORTUNIDAD)

DPO = D/(UxO)= 120/(2000x24) =

0.0025

Esto significa que de 48 000 ensambles (2 000x24), se

fabricaron 120 puntos de ensamble con algún defecto.

53
 EJEMPLO 1: APLICACIÓN DEL CALCULO DEL VALOR DE Z (VALOR SIGMA DEL
PROCESO)
Unidad = 2000 sillas revisadas
Oportunidad de error (O) = 24 puntos de ensamble 3
Defectos (D) = 120 puntos de ensamble
Entonces, de un millón de ensambles DPMO
realizados (24 por silla), se espera tener (DEFECTO POR MILLON DE OPORTUNIDADES)
2500 con algún tipo de defecto, de lo
cual se infiere que no se tiene un
proceso Seis Sigma ya que para ello se DPMO = (D/(UxO)) x 1 000 000 = 0.0025x1 000 000 = 2 500
requiere tener3.4 DPMO como máximo

54
 EJEMPLO 2: APLICACIÓN DEL CALCULO DEL VALOR DE Z (VALOR SIGMA DEL
PROCESO)

 Se fabrican tarjetas electrónicas en lotes de 2,000 unidades de las cuales se

encontraron 1,000 defectos.
 Cada tarjeta tiene 50 componentes.
 Calcule los índices DPU y DPMO e interprete.

55
EJEMPLO 2: APLICACIÓN DEL CALCULO DEL VALOR DE Z (VALOR SIGMA DEL
PROCESO)

Unidad = 2,000 tarjetas electrónicas

Oportunidad de error (O) = 50 puntos componentes
Defectos (D) = 1,000

1 INDICE DPU (Defectos por unidad)

DPU = D/U = 1000/2 000 = 0.50

Esto significa, que en promedio, que por cada dos

tarjetas inspeccionadas, una tenía problemas.

Una desventaja del DPU es que no toma en cuenta el número de oportunidades de error en la unidad

56
 EJEMPLO 2: APLICACIÓN DEL CALCULO DEL VALOR DE Z (VALOR SIGMA DEL
PROCESO)

Unidad = 2,000 tarjetas electrónicas

Oportunidad de error (O) = 50 puntos componentes
2
Defectos (D) = 1,000
INDICE DPO (DEFECTO POR OPORTUNIDAD)

DPO = D/(UxO)= 1000/(2000x50)

DPO = 0.010

Esto significa que 10,000 componentes (oportunidades)

se fabricaron 1000 con algún defecto.

57
 EJEMPLO 2: APLICACIÓN DEL CALCULO DEL VALOR DE Z (VALOR SIGMA DEL
PROCESO)
Unidad = 2,000 tarjetas electrónicas
Oportunidad de error (O) = 50 puntos componentes 3
Defectos (D) = 1,000
DPMO
Entonces, de un millón de tarjetas se (DEFECTO POR MILLON DE OPORTUNIDADES)
espera tener 10,000 con algún defecto.
Lo que indica que no se tiene un
proceso Seis Sigma ya que para ello se
DPMO = (D/(UxO)) x 1 000 000 = 0.010 x 1 000 000
requiere tener3.4 DPMO como máximo DPMO = 10,000

58
Diapositiva de conclusiones de la sesión.