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INDUSTRIAL Y ELECTRNICA
SESIN 3B
DAQ Y CONTROL DIGITAL
MOTIVACIN(1)
Los controladores digitales son los que se implementan
en la prctica, mas no los analgicos.
Un manejo adecuado de sta teora permitir a travs
de la implementacin de controladores digitales alcanzar
el desempeo ptimo en automatizacin de procesos.
Los sistemas en tiempo continuo se pueden describir
mediante ecuaciones diferenciales. Los sistemas en
tiempo discreto tambin se pueden describir mediante
ecuaciones en diferencias despus de la apropiada
discretizacin de las seales en tiempo continuo.
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MOTIVACIN(2)
MOTIVACIN(3)
Diversas teoras se desprenden del control digital.
Tipos de Controladores:
PID
Inteligente (Difuso, Neuronal, Bayesiano)
Ubicacin de polos (Realimentacin de estados)
Polinomiales (Un paso, Kalman, Dahlin, RST)
ptimo
MPC
No-Lineal (Lyapunov, Modo Deslizante)
Adaptativo
Tolerante a Fallas
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TIPOS DE SEALES
Digitales
Anlogas
Computador
Digital
0101
1010
1011
SH
y
Convertidor
A/D
0001
0010
1000
Circuito de
Retencin
Actuador
Planta o
Proceso
Transductor
MyR EN INSTRUMENTACIN
PROCESO DE MyR(1)
Seal muestreada V(t)
Seguimiento del
V(t)*
dispositivo de
muestreo y retencin
PROCESO DE MyR(2)
CONVERTIDORES D/A(1)
CONVERTIDORES D/A(2)
Frecuencia de Nyquist y de
muestreo en conversin A-D
Clasificacin de sistemas de
conversin A-D
Los convetidores A-D se clasifican de acuerdo a:
Relacin de fB a 0.5 fS (frecuencias de banda base a muestreo)
Rapidez de conversin.
rbol de cuantificacin,
aproximaciones sucesivas de 3 bits
Muestreo de Seales
Muestras individuales se representan en la forma: x[i] = x(it), para i =
0, 1, 2,
Si N muestras se obtiene de una seal x(t): X = {x[0], x[1], x[2], x[N1])
La secuencia X = {x[i]} est indexada en i y no contiene informacin de
la velocidad de muestreo
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Consideraciones al muestrear
La seal analgica original es
continua respecto al tiempo.
La seal muestreada es una serie
de muestras discretas adquiridas a
una
velocidad
de
muestreo
especfica.
Seal Original
Seal Muestreada
Aliasing
Velocidad de muestreo cada cundo ocurre una conversin en el ADC.
Alias representacin incorrecta de una seal
Posibles causas Ruido, armnicas
Con muestreo adecuado
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Ejemplo de Aliasing
Seales antes
de la
Adquisicin
Frecuencia de Alias =
|(mltiplo entero de la frecuencia de muestreo ms prximo a la
frecuencia de la seal - frecuencia de la seal)|
Seales despus
de la Adquisicin
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Sobremuestreo
+ Incrementa la frecuencia de
Nyquist
- El ADC puede no lograr esa
velocidad
Filtro pasobajo
+ Elimina la mayora de las
frecuencias arriba de la
frecuencia de corte
- La regin transitoria an permite
que algunas frecuencias sea
ledas
Mejor solucin
+ Realizar un sobremuestreo y
tener un filtro pasobajo
1.0
Vout
Vin
0.0
Frecuencia
Nyquist
Filtro real
1.0
Vout
Vin
0.0
Corte
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Frecuencia
Teorema de Nyquist
Se debe de muestrear mnimo al doble de
la frecuencia mxima presente en la
seal, para obtener una representacin
acertada de la FRECUENCIA de la
misma.
NOTA: Es necesario muestrear 5 o 10 ms rpido que
la mxima frecuencia presente en la seal, para obtener
una representacin acertada de la FORMA de la misma.
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Ejemplo de Nyquist
Aliased Signal
Onda Senoidal 100Hz
Muestreada a 100Hz
Muestreo adecuado
para frecuencia
(Mismo # de ciclos)
Onda Senoidal 100 Hz
Muestreada a
200Hz
Muestreada a 1kHz
Muestreo
adecuado para
Frecuencia y
Forma
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