Difracción de rayos X

Gran parte del conocimiento adquirido sobre la estructura cristalina es el

resultado de la utilización de las técnicas de difracción de rayos X. Estas
técnicas permiten obtener informaciones detalladas sobre dimensiones de la
red cristalina, orientación de sus planos cristalográficos, presencia de
impurezas, defectos, etc.
El uso de rayos X en el estudio de los cristales se debe al hecho de que su
longitud de onda, de esta radiación, es del orden de las distancias entre
planos cristalinos (0,5 - 2,5Å). La técnica de rayos X fue también aplicado al
estudio de cuerpos opacos (radiografía), debido a su alto poder de
penetración, propagación en línea recta, sensibilizar filmes fotográficos, y por
presentar velocidades de propagación definidas.
La obtención de rayos X, involucra la aplicación de tensiones del orden de
35kV entre el cátodo y ánodo dentro de un sistema preparado en alto vacío.
Esquema de sistema de generación de rayos X
La generación de rayos X es relativamente fácil; al ser calentado el filamento de
tungsteno (cátodo) libera electrones por emisión termo iónica. Debido a la
diferencia de potencial (35kV) los electrones liberados son acelerados en
dirección opuesta al campo, ganan energía cinética, y al moverse hacia ánodo
(cobre, molibdeno,…) colisionan con ésta, provocando la emisión de rayos X. En
ese proceso casi el 98% de la energía cinética de los electrones es transformada
en calor por tanto necesario una refrigeración.

A emisión de rayos X se produce cuando un electrón de alta energía E=EL-EK

libera otro electrón de la capa K para la capa L; para ocupar ese lugar vacío
un electrón de la capa L salta hacia la capa K liberando una energía en forma
de radiación de rayos X. Esta radiación es característica de cada metal.
Radiación Kα.
La radiación Kα es característico de cada material emitido por los electrones que
caen de la capa L hacia K por existir una vacancia. Si la emisión es producido
cuando el electrón cae de la capa M a la capa K, se llama radiación K.

KL M N
Cu

K1; L2  K

K 2; L3  K
( L  [ L1, L2, L3])
DIFRACCION DE RAYOS X

La dispersión y la consecuente difracción de rayos X es un proceso que puede ser

analizado de diferentes modos; el más básico: dispersión de rayos X por un electrón.
Esta dispersión puede ser coherente o incoherente. En la dispersión coherente la onda
dispersada tiene dirección definida, misma fase y misma energía en relación a la onda
incidente; se trata de una colisión elástica (Efecto Rayleigh). En la dispersión
incoherente, la onda dispersada no tiene dirección definida, no mantiene la fase ni la
energía (efecto Raman: Stokes y anti Stokes). En la colisión inelástica, la energía
referente a la diferencia entre la onda incidente y la onda dispersada se traduce en un
aumento de temperatura (vibración de átomos). Cuando dos ondas en fase inciden en
un átomo, pueden tener interferencia constructiva si cumple con la Ley de Bragg. Laue
demostró experimentalmente la naturaleza ondulatoria de Rayos X, utilizando un cristal
y por detrás había una placa fotográfica donde se formaban padrones de difracción.

En una molécula de N átomos hay 3N grados de

libertad; 3 de traslación y 3 de rotación, entonces
hay (3N-6) modos vibracionales. Las moléculas
lineales tienen (3N-5) grados vibracionales.
Difractómetro de rayos X
 Difracción de rayos x

n λ = 2d senθ

FG  GH  d  sen
n  FH  GH  2 FG Ley de Bragg
Difracción de rayos x

MP  PN  n n, es llamado como orden de

MP  PN  d  sen difracción, y la ecuación es
conocido como la ley de Brag.
 2d  sen  n , n  1, 2, 3,... (4.1)

2a  sen

h2  k 2  l 2
Calcular d, distancia entre dos planos paralelos.

 D1
Po  (0, 0, )
C
Ax0  Byo  Czo  D2
d
A2  B 2  C 2
 D1
00C  D2
C D2  D1
d 
A2  B 2  C 2 A2  B 2  C 2

D2  D1
d
h2  k 2  l 2

Para el caso de una estructura cubica

a
d
h2  k 2  l 2
.
Na rede cúbica simples, são possíveis reflexões por todos os planos (h k l). Contudo, na estrutura CCC(BCC),
apenas ocorre difração pelos planos cuja soma dos índices de Miller (h + k + l) seja um número par (Tabela 5.2).
Por isso, na estrutura cristalina CCC, os principais planos difratores são {110}, {200}, {211}, etc., que estão
indicados na Tabela 5.3. No caso da estrutura cristalina CFC, os planos difratores são aqueles cujos índices de
Miller são todos pares ou todos ímpares (zero é considerado par). Por conseguinte, na estrutura cristalina CFC,
os planos difratores são {111}, {200}, {220}, etc., que estão indicados na Tabela seguinte:
PROBLEMAS:
Determine el tipo de estructura y la orientación de los planos que corresponden a cada pico mostrado
en la figura.
 sin 2 (i ) Para cada pico i, multiplicar por n
Xn  2 n
sin (1 ) hasta que la fracción sea entero.
 PROBLEMAS 1:
• Determine el tipo de estructura y la orientación de los planos que corresponden a cada pico mostrado en
la figura:
 PROBLEMAS 1:
• Determine el tipo de estructura y la orientación de los planos que corresponden a cada pico mostrado en
la figura:

(111)

sen 21
 0.77 CFC
sen 2 2

(200)

(311)
(220)
(222) (400)
Para determinar la longitud «a» del arista del cubo:

2a  sen

h2  k 2  l 2

 h2  k 2  l 2 0.1542 12  12  12
a   0.4033367nm
2sen o
2sen(19.335 )

0.1542 22  02  02
 o
 0.41047nm
2sen(22.065 )

0.1542 22  22  02
 o
 0.4058nm
2sen(32.5 )

0.1542 32  12  12
 o
 0.4078nm
2sen(38.83 )
a 2 4 2 o
R   1.4142 A
4 2
 a
d 0.4
h k l
2 2 2
d1   0.2309 nm
1 1 1
2 2 2

0.4
d2   0.200 nm
2 0 0
2 2 2

0.4
d3   0.1414 nm
2 2 0
2 2 2

0.4
d4   0.1206 nm
3 1 1
2 2 2
PROBLEMA.2:
a)

sen 2 (20)
2
 0.4965  0.5 BCC
(110) sen (29.03)

(211)
(310)
(200)
(220)
 b) La distancia interplanar para cada pico:

2asen  h2  k 2  l 2
 a
h2  k 2  l 2 2sen

 h2  k 2  l 2 0.1542nm 12  12  02
a   0.3188nm
2sen 2sen20 o

 h2  k 2  l 2 0.1542nm 22  02  02
a   0.3177nm
2sen 2sen29.03o

 h2  k 2  l 2 0.1542nm 22  12  12
a   0.3182nm
2sen 2sen36.4 o
 a
d hkl 
h2  k 2  l 2
0.31nm
d110   0.2192nm
12  12  02
0.31nm
d 200   0.155nm
2 0 02 2 2

0.31nm
d 211   0.1265nm
2 1 1
2 2 2

0.31nm 0.31nm
d 220   0.1096nm d310   0.098nm
22  22  02 3 1  0
2 2 2
c) Para determinar el radio atómico:
Datos: a=0.31nm, BCC y la relación que existe entre arista y radio atómico
3 a2 = (4R)2

3a 3(0.3182nm)
R   0.1377nm
4 4
 PROBLEMAS 3:
• Determine el tipo de estructura y la orientación de los planos que corresponden a cada pico mostrado en
la figura: