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VICERRECTORADO ACADEMICO
COMISION GENERAL DE CURRICULUM
PROGRAMA ANALITICO
1. Introducir en los 1.1 La tabla periódica. Exposición por parte del 15% Evaluación Material de Dispositivos
conceptos básicos 1.2 Los compuestos: facilitador. de trabajo de Apoyo Semiconductores
de la cristalografía GaAs, InP. investigación presentado en Jasprit Singh.
de materiales del 1.3 Tipos de sólidos. Interacción grupal para el Internet. McGraw-Hill
estado sólido. 1.4 Las estructuras análisis de los conceptos 15% Asistencia ISBN 970-10-1024-
cristalinas. suministrados. a clases Diapositivas o 8
1.5 Los Planos transparencias.
cristalinos, índices de Mecánica de la pregunta. 70% Examen Solid State
Miller, la estructura de escrito Marcadores. Electronic Devices
Diamante y la Resolución de problemas Ben G. Streetman
estructura Zincblende. propuestos por el 1er Parcial Pizarra. Prentice-Hall
1.6 Los enlaces facilitador en el aula. Ponderación: ISBN 0-13-158767-
atómicos. 30% Borradora. 5 TK7871.85.S77
1.7 Defectos en la Formulación de
estructura cristalina. conclusiones por parte Computadora. Fiber Optics &
del estudiante y el Optoelectronics
2. Analizar e 2.1 El cuanto de facilitador. Peter K. Cheo
interpretar energía, la dualidad Prentice-Hall
físicamente los onda partícula y el Asignación de tópicos de ISBN 0-13-312646-
conceptos básicos principio de investigación por parte 3
de la mecánica incertidumbre de del facilitador.
cuántica. Heisenberg.
2.2 La ecuación de
Schrödinger general.
2.3 La ecuación de
Schrödinger del
electrón libre.
2.4 La ecuación de
Schrödinger en el Pozo
de Potencial infinito.
2.5 Describa la
solución e la ecuación e
Schrödinger para el
átomo de un electrón.
PROGRAMA ANALITICO
1. Analizar la 1.1 El modelo ideal de Exposición por parte del 15% Evaluación Material de Apoyo Dispositivos
física básica bandas de energía de la facilitador. de trabajo de presentado en Internet. Semiconductores
del contacto unión metal- investigación Jasprit Singh.
metal- semiconductor. Interacción grupal para el Diapositivas o McGraw-Hill
semiconductor 1.2 El efecto Schottky del análisis de los conceptos 15% Asistencia transparencias. ISBN 970-10-
sistema metal-vacío. suministrados. a clases 1024-8
1.3 El efecto Schottky de Marcadores.
un contacto metal- Mecánica de la pregunta. 70% Examen Solid State
semiconductor. escrito Pizarra. Electronic
1.4 Los procesos de Resolución de problemas Devices
transporte básicos en propuestos por el 2do Parcial Borradora. Ben G.
polarización directa del facilitador en el aula. Ponderación: Streetman
contacto metal- 30% Computadora. Prentice-Hall
semiconductor. Formulación de ISBN 0-13-
1.5 El transporte de conclusiones por parte del 158767-5
corriente y el proceso de estudiante y el facilitador. TK7871.85.S77
emisión termoiónica y de
difusión. Asignación de tópicos de Fiber Optics &
1.6 El efecto de la investigación por parte Optoelectronics
corriente Túnel en el del facilitador. Peter K. Cheo
transporte de corriente de Prentice-Hall
la unión metal- ISBN 0-13-
semiconductor. 312646-3
1.7 Los efectos de la
inyección de portadores
minoritarios en el
transporte de corriente de
la unión metal-
semiconductor.
1.8 La barrera de potencial
del contacto metal-
semiconductor.
1.9 La respuesta corriente-
voltaje en función de la
barrera de potencial en la
unión metal-
semiconductor.
2.1 Clasificación de la
2. Analizar las familia de los transistores
características de efecto de campo FET.
físicas de 2.2 El modelo Schockley
funcionamient de una unión del transistor
o de los de efecto de campo.
transistores de 2.3 Las curvas
efecto de características básicas I-V
campo. del JFET.
2.4 La curva característica
de transferencia de un
JFET de canal largo.
Las curvas características
I_V del MESFET
normalmente ON y OFF.
2.5 La curva de la
velocidad de arrastre en
función del campo
eléctrico para Si, GaAs y
InP.
2.6 La movilidad con el
incremento del campo
eléctrico del MESFET.
2.7 Las curvas de corriente
de drenaje, respecto a la
movilidad del MESFET.
2.8 El modelo de dos
regiones de un MESFET.
2.9 El modelo de la
velocidad saturada del
MESFET.
2.10 El perfil del campo
eléctrico y la curva
característica corriente
tensión del MESFET para
diferentes condiciones de
polarización de compuerta
y drenaje.
2.11 La velocidad de
arrastre y la distribución de
carga espacial en el corte
transversal del canal de un
MESFET.
2.12 La velocidad del
electrón al entrar en la
región de alta intensidad
de campo bajo la
compuerta.
2.13 El circuito
equivalente del MESFET
de microondas y el origen
físico de los elementos del
circuito.
2.14 Las limitaciones de
potencia y de frecuencia
del MESFET de
microondas.
2.15 El circuito
equivalente de análisis de
ruido del MESFET de
microondas.
PROGRAMA ANALITICO
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UNIVERSIDAD NACIONAL EXPERIMENTAL DEL TACHIRA
VICERRECTORADO ACADEMICO
COMISION GENERAL DE CURRICULUM
PROGRAMA ANALITICO
Plan de Evaluación