Informe de Pasantia

REPÚBLICA BOLIVARIANA DE VENEZUELA
UNIVERSIDAD NACIONAL EXPERIMENTAL POLITÉCNICA

“ANTONIO JOSÉ DE SUCRE, UNEXPO”
DEPARTAMENTO DE INGENIERÍA MECÁNICA
VICE-RECTORADO DE PUERTO ORDAZ, ESTADO BOLÍVAR
PRÁCTICA PROFESIONAL
CÁLCULO TEÓRICO DE LAS RESISTENCIAS ELÉCTRICAS EN LOS

SHUNTS EMPLEADOS DURANTE EL PROCESO DE COCCIÓN ELÉCTRICA
(Celdas Hal –230, Complejo de Reducción de V línea. CVG Venalum)
Autor:
Br. Juan José Rivas García

Revisado por:
C.I. 18.078.964
Ing. Elías Malave
Ing. Vidal Sanabria
Lic. Mercedes Márquez
Ciudad Guayana, Agosto de 2010

REPÚBLICA BOLIVARIANA DE VENEZUELA
UNIVERSIDAD NACIONAL EXPERIMENTAL POLITÉCNICA
“ANTONIO JOSÉ DE SUCRE, UNEXPO”
DEPARTAMENTO DE INGENIERÍA MECÁNICA
VICE-RECTORADO DE PUERTO ORDAZ, ESTADO BOLÍVAR
PRÁCTICA PROFESIONAL
ACTA DE APROBACIÓN
Quienes suscriben, los tutores académico e industrial, para examinar el informe

técnico presentado por el ciudadano: Juan José Rivas García, portador de la cédula
de identidad Nº 18.078.964, titulado “CÁLCULO TEÓRICO DE LAS
RESISTENCIAS ELÉCTRICAS EN LOS SHUNTS EMPLEADOS DURANTE EL
PROCESO DE COCCIÓN ELÉCTRICA”, dirigido al conjunto de celdas Hal-230
del Complejo de Reducción de V línea en CVG Venalum, como requisito para la
aprobación de la cátedra Práctica Profesional, consideramos que dicho trabajo
cumple con los requisitos exigidos para tal efecto, y por lo tanto lo declaramos:
APROBADO
Ing. Elías Malave Ing. Vidal Sanabria

Tutor Académico Tutor Industrial
Rivas García, Juan José

C.I. 18.078.964
Ciudad Guayana, Agosto de 2010
II
AGRADECIMIENTOS
A Dios todopoderoso por acompañarme siempre en todos los momentos difíciles.
A mis padres Ana Mireya García de Rivas y José Amable Rivas Valero por su
apoyo incondicional.
A mis hermanos Jesús David Rivas García, Amable José Rivas García y Johana
Paola Rivas García por su cariño.
A mi tía María Cecilia Rivas Valero por su invaluable tiempo dedicado a la familia
Rivas García.
A mis abuelos Jesús Rivas, Celia de Rivas, Rosendo García y Paula de García por
sus sabios consejos.
A mi novia Stefany Bastidas por su afecto y comprensión.
A la profesora Doina Márquez por su colaboración en la toma de mediciones.
Al profesor Elías Malave por su plena disposición en la realización del presente

informe técnico.
III
ÍNDICE GENERAL
Pág.
ACTA DE APROBACIÓN DE LOS TUTORES…………………………… II
AGRADECIMIENTOS………………………………………………….……. III
RESUMEN…………………………………………………………………….. XII
INTRODUCCIÓN……………………………………………………….……. XIII
CAPITULO I: EL PROBLEMA
Definición del problema……………………………………………… 17

Objetivo general…………………………………………………….... 21
Objetivos específicos……………………………………………........ 21
Justificación…………………………………………………………... 22
Alcance………………………………………………………..…….... 22
CAPITULO II: MARCO DE REFERENCIA
Descripción de la empresa………………………………………..….. 23
Descripción del área de pasantía…………………………………..…. 25
Descripción del trabajo asignado……………………………..……… 30
Descripción del proceso…………………………………………….... 31
Resistencias eléctricas en los shunts……………………………….… 36
Glosario de términos………………………………………………..... 47
CAPITULO III: ASPECTOS PROCEDIMENTALES
Actividades ejecutadas……………………………………….…….… 48
Técnicas e instrumentos de recolección de datos…………………..… 52
Procesamiento de la información………………………………...…... 54
Tipos de análisis a realizar…………………………………………..... 65
IV
CAPITULO IV: RESULTADOS
Presentación de resultados…………………………………………..... 66
Descripción de resultados………………………………………..……. 80
Análisis de resultados…………………………………......................... 92
CONCLUSIONES……………………………………………………….......... 98
RECOMENDACIONES……………………………………………………... 99
REFERENCIAS BIBLIOGRAFÍCAS…………………………………......... 101
V
ÍNDICE DE FIGURAS
Pág.
Figura 1. Proceso de obtención del aluminio en CVG Venalum…………........ 14
Figura 2. Shunts empleados durante el proceso de cocción de las celdas

Hal-230 (filas central y derecha) y V-350 (fila izquierda)………….. 16
Figura 3. Problema de distribución de la corriente eléctrica a través de un

shunt. ………...................................................................................... 18
Figura 4. Corte transversal de una celda durante su operación normal……….. 19
Figura 5. Vista lateral de la celda en cocción y corte transversal de una

resistencia variable del shunt………………………………………... 19
Figura 6. Distribución de corriente en una celda electrolítica Hal-230 durante

la cocción……………………………………………………………. 20
Figura 7. Estructura administrativa y operativa de CVG de Venalum………... 24
Figura 8. Disposición del conjunto de celdas reductoras Hal-230 en el

complejo de V línea.………………………………………………... 25
Figura 9. Corte transversal de una celda reductora de aluminio………………. 26
Figura 10. Flujo de corriente en una celda reductora durante su operación

normal. ……………………………………………………………… 27
Figura 11. Flujo de corriente del anillo de barras durante la operación normal
de la celda…………………………………………………………… 28
Figura 12. Conducción de la corriente eléctrica a través del shunt. …………… 29
Figura 13. Estructura básica, identificación y componentes materiales del

shunt…………………………………………………………………. 30
Figura 14. Ubicación de los shunts en el lado lateral de la celda, aguas arriba… 32
Figura 15. Corte transversales de la celda y del shunt durante el proceso de

cocción.……………………………………………………………… 33
VI
Figura 16. Disposición de los flexibles de cocción en una celda Hal-230…….. 35
Figura 17. Fuerza normal ejercida por el peso total del shunt sobre los sitios de
encaje del anillo de barras conductoras…………………………….. 38
Figura 18. Curva de la rugosidad media Ra del perfil de rugosidad.…………... 39
Figura 19. Curva de la rugosidad media Rz del perfil de rugosidad..………….. 40
Figura 20. Esquema de la interfase de contacto eléctrico entre dos elementos

conductores. ……………………………………………………….. 40
Figura 21. Efecto de de la capas de óxido en la disminución del área de

contacto eléctrico. …………………………………... ……………. 41
Figura 22. Clasificación general de las resistencias eléctricas.. ……………….. 43
Figura 23. Esquemas de circuitos eléctricos en serie (izquierda) y en paralelo

(derecha)…………………………………………………………….. 44
Figura 24. Ley de Kirchhoff aplicada a un nodo……………………………….. 46
Figura 25. Uso de extensiones en las juntas apernadas poco accesibles..……… 48
Figura 26. Inserción del torquímetro y aplicación del torque de apriete………. 49
Figura 27. Verificación del torque de apriete..…................................................ 49
Figura 28. Sujeción de las tuercas móviles durante la medición del torque
apriete………………………………………………………………. 50
Figura 29. Procedimiento de montaje del rugosimetro…………………………. 51
Figura 30. Medición de la rugosidad superficial en los elementos del shunt

sujetos a consideración. …………………………………………….. 52
Figura 31. Designación de la nomenclatura de los pernos y juntas apernadas en

los shunts.……………………………………………………….. 55
Figura 32. Designación de la nomenclatura de las juntas superficiales en los

shunts..………………………………….………………………….. 56
Figura 33. Áreas de contacto eléctrico teóricas en las juntas apernadas y

superficiales del shunt..…………………………………………….. 57
VII
Figura 34. Designación de las áreas de contacto eléctrico teóricas asumidas en
las juntas apernadas del shunt, para la determinación de la
resistencia eléctrica de contacto por constricción…………………… 58
Figura 35. Puntos sometidos al control de temperatura del shunt 3 empleado

en la celda CV - 5…………………………………………………… 56
Figura 36. Visualización de los tramos considerados para el estudio de los

shunts..………………………………..…………………………….. 61
Figura 37. Puntos en consideración para la comparación de los shunts

evaluados de manera experimental y teórica………………………. 62
Figura 38. Visualización de los 4 tramos correspondientes a las resistencias

variables del shunt, a través de los cuales circula la corriente
eléctrica en el tramo C–D.…………………………………………. 63
Figura 39. Circuito eléctrico del shunt..………………………………………. 64
Figura 40. Circuito eléctrico del shunt 5..………………………………………. 84
Figura 41. Circuito eléctrico del shunt 2..………………………………………. 85
Figura 42. Circuito eléctrico del shunt ideal……………………………………. 86
VIII
ÍNDICE DE TABLAS
Pág.
Tabla 1. Cuadro comparativo de las 5 etapas que conforman el proceso de
cocción eléctrica.……………………………………………………. 32
Tabla 2. Valores de temperatura tomados del shunt 3 durante la cocción de la

celda CV-5. …………………………………………………………. 59
Tabla 3. Torque de apriete real de los pernos presentes en las juntas

apernadas de los shunts.……………………………………………... 66
Tabla 4. Fuerza de contacto de los pernos y juntas de los shunts sujetos a

estudio..……………………………………………………………… 68
Tabla 5. Rugosidad superficial presente en las superficies de contacto

eléctrico consideradas..……………………………………………… 70
Tabla 6. Resistencia eléctrica de constricción en los pernos y juntas de los

shunts..………………………………………………………………. 71
Tabla 7. Espesor de película asumido en las juntas de los shunts……………. 74
Tabla 8. Resistencia eléctrica de película en las juntas de los shunts..……...... 75
Tabla 9. Resistencia eléctrica de contacto total en las juntas de los shunts… 75
Tabla 10. Resistencia eléctrica intrínseca de los elementos conductores del

shunt.………………………………………………………………… 76
Tabla 11. Voltajes y diferencia de potencial presente en los diferentes nodos y

tramos establecidos en los shunts sujetos a estudio………………… 80
Tabla 12. Resistencias equivalentes establecidas en los tramos de los shunts

sujetos a estudio.…………………………………………………….. 82
Tabla 13. Intensidad de corriente a través de cada uno de los tramos de los
shunts sujetos a estudio……………………………………………… 83
Tabla 14. Variación de la potencia eléctrica para los shunts sujetos estudio
durante el primer período del proceso de cocción eléctrica en una
celda Hal-230..………………………………………………………. 87
IX
Tabla 15. Diferencias entre las resistencias de contacto de las juntas
apernadas, de acuerdo a la fuerza de apriete y calidad superficial.… 88
Tabla 16. Diferencias en las resistencias globales de los shunt 5, 2 e ideal.…... 89
Tabla 17. Diferencias en las resistencias de contacto totales entre los shunts 2
y 5.…………………………………………………………………... 89
Tabla 18. Variación de la caída de potencial en los tramos sujetos a estudio

de los shunts 2, 5 y en condiciones ideales…………………………. 90
Tabla 19. Diferencias en el consumo energético entre los shunt 2, 5 e ideal….. 91
X
ÍNDICE DE GRÁFICOS
Pág.
Gráfico 1. Curvas de temperatura vs tiempo de cada una de las 5 etapas del
proceso de cocción eléctrica de la celda CV – 5, para el shunt 3
sometido a condiciones extremas…………………………………… 57
Gráfico 2. Comparación de las distintas potencias eléctricas consumidas por

los shunts sujetos a estudio bajo distintos parámetros
operacionales……………………………………………………….. 87
XI
Rivas García, Juan José. (2010). “CÁLCULO TEÓRICO DE LAS RESISTENCIAS
ELÉCTRICAS EN LOS SHUNTS EMPLEADOS DURANTE EL PROCESO DE
COCCIÓN ELÉCTRICA”, Complejo de Reducción de V línea. CVG Venalum.
Práctica Profesional. Departamento de Ingeniería Mecánica. Vice-Rectorado de
Puerto Ordaz. UNEXPO. Tutor Académico: Ing. Elías Malave, Tutor Industrial: Ing.
Vidal Sanabria.
RESUMEN
La siguiente investigación se basa en la determinación teórica de las resistencias

eléctricas de contacto e intrínsecas en los shunts, y en la evaluación de la distribución
de corriente a través de los mismos durante el proceso de cocción. Para ello se
emplearon valores reales obtenidos a partir de mediciones del torque de apriete en las
juntas apernadas, y de la rugosidad superficial presente en los contactos eléctricos de
los shunts; con los cuales se determinaron las resistencias eléctricas de contacto. Cabe
destacar que se tomaron en cuenta para las mediciones, los shunts que fueron
sometidos a labores de mantenimiento, así como también aquellos que no fueron
sometidos a dichas labores. Seguidamente, los resultados obtenidos fueron
comparados con los valores recomendados para una presión de contacto teórica ideal
en juntas apernadas, y de rugosidad superficial acorde a aplicaciones de contacto
eléctrico. En lo que respecta a la distribución de la corriente eléctrica, se realizaron
circuitos eléctricos equivalentes en donde se muestran las resistencias eléctricas de
contacto e intrínsecas a lo largo de los shunts sujetos a estudio. Por otra parte, se
determinaron las resistencias eléctricas intrínsecas, utilizando los valores de
temperatura obtenidos en los elementos conductores de los shunts en cocciones
anteriores. Los resultados finales demuestran que las resistencias eléctricas de
contacto influyen directamente en el rendimiento de los shunts, ya que; en
condiciones de contacto ideal, fue obtenida una resistencia eléctrica global de
73,73 µΩ, en comparación con los 120,03 µΩ obtenidos para un dispositivo en
condiciones no óptimas. Junto con lo anterior, se determinó que la distribución de
corriente es de 8,75 KA para cada una de las resistencias variables de los shunts 2, 5 e
ideal, tomando en consideración el mismo espesor de película, y diferentes torques de
apriete para las juntas que conforman los dispositivos en cuestión.
Descriptores claves: “Resistencias eléctricas de contacto, shunts, proceso de

cocción, juntas apernadas, contactos eléctricos, distribución de corriente, torque de
apriete, rugosidad superficial, resistencias eléctricas intrínsecas.”
XII
INTRODUCCIÓN
El aluminio representa el elemento metálico más abundante de la corteza terrestre,

ya que posee un porcentaje aproximado del 8 % total de los elementos que la
conforman [1]; razón por la cual se le suele encontrar presente en la mayoría de los
compuestos minerales existentes en el planeta Tierra. Sin embargo, dicho elemento
como tal no se encuentra dentro de la corteza, razón por la cual requiere ser extraído
de rocas de mineral de bauxita; de las cuales mediante un proceso químico (proceso
Bayer) es transformada en alúmina de grado metalúrgico (polvo), después de pasar
por una serie de procesos físicos y químicos destinados al mejoramiento de sus
propiedades metalúrgicas. Dicha alúmina es trasladada luego por rigurosos controles
de calidad y control de impurezas para su más pronta utilización en las celdas de
reducción electrolíticas, encargadas de transformar la alúmina junto con otros aditivos
en aluminio líquido mediante el proceso Hall-Hérault.
En CVG Venalum el proceso de obtención del aluminio se encuentra constituido

en varias etapas, comprendidas por diferentes procesos productivos de acuerdo al
tipo de producto generado (ver figura 1). El primero de ellos consiste en el procesado
del carbón, destinado a la obtención de los ánodos empleados en las celdas
reductoras. El segundo comprende el proceso de reducción electrolítica, donde es
obtenido el aluminio primario (líquido). Por último, se tiene la colada del aluminio
líquido en los hornos de retención, para la obtención de productos primarios.
Por su parte, el proceso de obtención del aluminio empleado por la empresa es el

antes mencionado Hall-Hérault, en el cual las temperaturas del aluminio fundido en
las celdas reductoras alcanzan valores que rondan los 950°C, considerablemente una
temperatura más arriba que la requerida para fundir el aluminio (660°C).A
continuación se muestra en la figura 1, los diferentes procesos productivos llevados a
cabo en CVG Venalum, para la obtención del aluminio primario:
XIII
PRODUCCIÓN DEL ALUMINIO
CVG VENALUM
FABRICACIÓN DE ÁNODOS FABRICACIÓN DE CÁTODOS
┼ ┼ ┼ Revestimiento
Materiales Trituración Refractarios, Alúmina Pasta Bloques catódico
Ánodo verde
-Coque de petróleo aislantes y catódica laterales
calcinado cementos
-Alquitrán de ánodos refractarios Cátodo
-Cabo reacondicionado
-Desecho verde
Molienda Compactación Hornos de cocción Casco
┼ ┼ ┼ ┼ ┼
Ánodo Bloque Barra Fundición Pasta Bloque catódico
Varilla Fundición Ánodo
envarillado catódico colectora gris fría envarillado
anódica gris cocido
REDUCCIÓN ELECTROLÍTICA
┼
Baño
líquido
Criolita Alúmina Aluminio líquido
(Trasegado)
Energía eléctrica Celda reductora de aluminio (V-350)

Proceso de electrólisis
Lingotera COLADA Rueda para lingotes Cilindros

de 680 Kg
Productos
Horno de derivados
retención
Lingotes de 10 Kg Lingotes de 22 Kg Lingotes de 680 Kg Cilindros homogenizados
Figura 1 - Proceso de obtención del aluminio en CVG Venalum. XIV

Fuente: Autor.
Referente al funcionamiento de las celdas electrolíticas, las mismas al cumplir su
período de vida útil, son desincorporadas de la línea de producción con la finalidad
de reacondicionar su súper estructura y revestimiento catódico. Para volver a
incorporarlas es necesario calentar el revestimiento de la celda de una forma gradual
y uniforme mediante un proceso de cocción, cuya función primordial es evitar los
choques térmicos ocasionados durante el arranque. Al momento de incorporar una
celda, es insertada dentro de la cuba de la misma una solución de alúmina (2Al2O3) y
criolita fundida (Na3AlF6), que constituyen el baño electrolítico. La inserción de
dicha mezcla tiene como objeto, generar una reacción entre los componentes
químicos que la conforman mediante un proceso de electrólisis; ocasionado por la
conducción de corriente eléctrica a través de ella, generándose así el aluminio líquido
(primario).
Por su parte, el proceso de cocción de las celdas se realiza de 2 formas diferentes,

bien sea a gas o con electricidad. Dentro del complejo de reducción de V línea dicho
proceso es llevado a cabo mediante el uso de electricidad; la cual es transmitida a
través de un sistema de barras conductoras que interconecta a cada una de las celdas
que conforman la línea de producción. Cabe destacar, que la corriente eléctrica
transmitida a cada una de las celdas, conectadas en serie, debe ser corriente continua;
razón por la cual es transformada de alterna a continua por medio de unos
rectificadores dispuestos aguas abajo del complejo.
Durante el precalentamiento de la celda, se requiere que la corriente eléctrica de

entrada, cumpla con una adecuada distribución y un incremento controlado. Para
lograr dicha regulación del flujo eléctrico, se emplean un conjunto de dispositivos
eléctricos resistores denominados shunts; encargados de controlar la entrada de
corriente a la celda en cocción.
En base a lo anterior, se plantea en la siguiente investigación el estudio de las

resistencias eléctricas generadas en dichos dispositivos eléctricos durante el proceso
XV
de cocción, motivo por el cual fue estructurado el informe en 4 capítulos. Para el
primer capítulo se expone el problema de las resistencias eléctricas de contacto en los
shunts; en el segundo se realiza una breve descripción de la empresa, el área de
pasantía y el trabajo asignado; en el tercero se explica a fondo la metodología
empleada para la consecución de los resultados; estos últimos expuestos y analizados
en el capítulo IV.
A continuación se muestra en la figura 2, los shunts empleados para la cocción de

las celdas Hal-230 y V-350, en su lugar de disposición dentro del Complejo de
Reducción de V línea en CVG Venalum.
Figura 2 – Shunts empleados durante el proceso de cocción de las celdas

Hal-230 (filas central y derecha) y V-350 (fila izquierda).
Fuente: Gerencia de Investigación y Desarrollo.
XVI
CAPITULO I
EL PROBLEMA
Definición del problema
Durante el funcionamiento de las celdas electrolíticas, se generan diferentes tipos

de problemas, relacionados a la distribución de corriente a través de las mismas,
principalmente durante el proceso de cocción. Tales problemas afectan directamente
el rendimiento de las celdas, influyendo además en su vida útil. Las altas caídas de
voltaje, relacionadas al bajo rendimiento de las celdas, se encuentran asociadas a un
aumento en las resistencias eléctricas de contacto e intrínsecas, de los dispositivos
encargados de transmitir el flujo de corriente durante la cocción.
Relacionado a lo anterior, en el Complejo de Reducción de V línea se ha

constatado a través de mediciones experimentales, que la distribución de corriente
eléctrica a lo largo de las celdas reductoras es des-uniforme, provocando de esa forma
que la calidad en la cocción sea deficiente.
Al no realizarse una buena cocción, el revestimiento catódico no será calentado de

una forma gradual y uniforme. Como consecuencia se generan gradientes térmicos en
el revestimiento catódico durante el proceso de cocción y arranque, disminuyendo así
la vida útil de la celda, aumentando además los costos por tonelada de aluminio
producido.
Por tal motivo, la empresa ha promovido el desarrollo de estudios experimentales,

teóricos, e inclusive la aplicación de modelos matemáticos avanzados; los cuales han
17
venido perfeccionándose, con la finalidad de mejorar la eficiencia de las celdas
electrolíticas, y en consecuencia disminuir el consumo de energía en cada uno de sus
procesos productivos.
Estudios experimentales llevados a cabo en la celda 932 durante el proceso de

cocción eléctrica [3], demuestran que la distribución de la corriente de entrada
proveniente de los shunts y las barras conductoras es des-uniforme. En dicho estudio
se muestra, la diferencia existente entre las resistencias eléctricas de contacto
presentes en las juntas apernadas y superficiales de los shunts, y su efecto sobre la
distribución de corriente. Los shunts son dispositivos encargados de regular la entrada
de corriente hacia la celda en cocción mediante el uso de resistencias variables.
En el trabajo anterior se determinó que el problema de la distribución de corriente

hacia las celdas reductoras durante el proceso de cocción, es debido en gran parte a
las resistencias eléctricas generadas en los contactos eléctricos de los shunts (ver
figuras 3).
I4
1 I2
2
Resistencias
3 I3
4 variables
I1
Sin aislante
(Resistencia conectada) Donde:
I1≠I2≠I3≠I4
Ie=Is
Distribución de corriente
(Resistencias conectadas) Leyenda:
I1: Corriente resistencia 1.
Contactos eléctricos Ie: Corriente de entrada
(Juntas apernadas) del shunt, desviada de la
celda en cocción.
Is: Corriente de salida del
Contactos eléctricos shunt, desviada de la celda
Is Ie en cocción.
(Juntas superficiales)
Figura 3 – Problema de distribución de la corriente eléctrica a través de un shunt.

Fuente: Gerencia de Investigación y desarrollo en cooperación con el autor.
18
A continuación se muestra en las figuras 4, la distribución de la corriente eléctrica
a través de una celda de reducción de aluminio en operación normal:
E
H H
Leyenda:
A F A A. Riser
E. Puente anódico
G B. Barras catódicas
inferiores
F. Barra anódica
D.2 D.1 C. Casco
C G. Ánodo
D. Flexibles de cátodos
H. Flexibles de ánodos.
Figura 4 – Corte transversal de una celda durante su operación normal.

Fuente: Malpica, U.J.
Seguidamente, se tiene en la figura 5 el flujo de corriente a través de una celda en

cocción, considerando también la función que cumplen las resistencias variables
dentro del shunt, como se muestra a continuación:
Ic
Ic
Colocación de
aislante
termoeléctrico
Is
Ie
Ie Ie Ie
Is Ie
Is
Resistencia variable Resistencia variable
desconectada conectada
Leyenda:
Ie: Corriente de entrada (Estado de celda anterior).
Ic: Corriente dirigida a la celda en cocción.
Is: Corriente desviada por los shunts a la celda siguiente.
Figura 5 – Vista lateral de la celda en cocción y corte transversal de una resistencia variable del shunt.
Fuente: Gerencia de Investigación y Desarrollo en cooperación con el autor.
19
Por su parte, la distribución de la corriente de entrada a los shunts empleados en
las celdas Hal-230 es la siguiente:
Ubicación de flexible de
cocción doble Aguas abajo
Flexible anódico
Ánodo envarillado
Shunt Puente anódico
Celda en cocción
Pasillo ancho
Casco
Anillo de barras
conductoras
Riser
Celda anterior
Bloque catódico
Aguas arriba
Pasillo angosto
Flexible catódico
Flexible de cocción
doble
Leyenda:
Corriente dirigida hacia la celda en cocción. Soporte de concreto
Corriente de salida de las barras catódicas (aguas abajo).
Corriente de salida de las barras catódicas (aguas arriba).
Corriente desviada por los shunts de la celda en cocción.
Corriente de entrada de la celda anterior.
Ánodos
envarillados Puente anódico
Donde:
= + + -
= + +
Figura 6 – Distribución de corriente en una celda electrolítica Hal-230 durante la cocción.

En definitiva, se requiere cuantificar el valor de las resistencias eléctricas de

contacto en los shunts, con el fin de determinar el efecto real de las mismas sobre la
distribución de corriente en dichos dispositivos, así como también en las celdas
reductoras durante el proceso de cocción.
20
Objetivo general
Determinar la influencia de las resistencias eléctricas de contacto de los shunts,

sobre la distribución de corriente en dichos equipos durante el proceso de cocción de
las celdas Hal-230.
Objetivos específicos
• Determinar la fuerza de apriete de las juntas apernadas de los shunts, mediante

la medición del torque de apriete real en los pernos presentes en cada una de
ellas.
• Determinar la influencia del acabado superficial en las caras de contacto

eléctrico de las juntas apernadas y superficiales de los shunts, mediante el
estudio de la rugosidad superficial teórica y real en cada una de ellas.
• Estimar las resistencias eléctricas de contacto por constricción y de película en

las juntas apernadas y superficiales de los shunts.
• Determinar las resistencias eléctricas intrínsecas de los shunts en estudio, y

construir los circuitos eléctricos resistivos.
• Determinar la potencia teórica consumida para cada uno de los shunts sujetos
a estudio.
21
Justificación
La presente investigación permitirá conocer de forma teórica, el valor aproximado

de las resistencias eléctricas de contacto en los shunts; con la finalidad de evaluar las
causas de la alta desviación en la distribución de corriente en dichos dispositivos. Los
resultados obtenidos permitan al personal de mantenimiento y operación, identificar
los puntos de mejora en los shunts, con la finalidad de mejorar la calidad del proceso
de cocción en las celdas Hal-230, a manera de evitar los altos gradientes térmicos
causantes de la disminución en la vida útil de las mismas, y que generan a su vez
altas caídas de voltajes en las juntas apernadas y superficiales de dichos dispositivos
eléctricos, haciendo de esta forma ineficiente el proceso desde el punto de vista
energético. Además se espera que sirvan de base los valores obtenidos; para el
desarrollo de nuevos dispositivos resistores más eficientes que permitan ahorrar en
energía a la empresa.
Alcance
La siguiente investigación va dirigida al estudio de las resistencias eléctricas tipo

shunt, empleadas durante el proceso de cocción eléctrica llevado a cabo en el
Complejo de Reducción de V línea en CVG Venalum, empresa destinada a la
producción de aluminio primario. La finalidad es determinar las resistencias eléctricas
de contacto teóricas en los shunts sujetos a estudio, mediante el uso de valores de
operación nominales establecidos para las celdas Hal-230 presentes en el complejo
reductor antes mencionado. Seguidamente se establecerán comparaciones respecto a
los valores obtenidos en trabajos anteriores para los shunts 1 y 3, empleados durante
el proceso de cocción de la celda 932. En definitiva, se determinará la influencia de
los contactos eléctricos en las juntas apernadas y superficiales del shunt, sobre la
distribución de corriente la eléctrica a través del mismo.
22
CAPÍTULO II
MARCO DE REFERENCIA
Descripción de la empresa
La Industria Venezolana de Aluminio CA (CVG Venalum), fue creada el 29 de

Agosto de 1973, con la finalidad de concretar un importante proyecto industrial y
económico para Venezuela, destinado al aprovechamiento de los recursos naturales y
al potencial hidroeléctrico de la Región Guayana, en cuanto a la producción de
aluminio primario se refiere. En lo que respecta a su capital, el 100 % de las acciones
pertenece al estado venezolano [4].
En cuanto a su producción, el 54% del aluminio obtenido es destinado a los

mercados exteriores. El principal comprador es la transnacional Glencore, con la que
se firmó un convenio en octubre pasado para la venta de 360.000 toneladas de
aluminio en los próximos 6 años [5]. Cabe destacar que es la mayor reductora de
aluminio en Latinoamérica, con una capacidad instalada de 430.000 toneladas/año.
Por otro lado, desde el punto de vista tecnológico, la empresa cuenta con un plan
de mejora continua en lo que respecta a sus distintos procesos operacionales,
respaldados a su vez con la certificación de las normas ISO 9001 y 1401.
Referente a su ubicación geográfica, esta planta reductora de aluminio se

encuentra ubicada en Ciudad Guayana, Estado Bolívar, al sureste del país sobre la
margen sur del río Orinoco, en el sector industrial Matanzas ubicado al final de la
avenida Fuerzas Armadas. Por su parte, la estructura organizativa de la empresa es
23
del tipo lineal, y está constituida por gerencias del tipo administrativo dirigidas por la
Junta Directiva y la Presidencia, además de las del tipo operativo coordinadas por la
Gerencia General de Planta (ver figura 7).
JUNTA DIRECTIVA
PRESIDENCIA
Contraloría Interna Consultoría Jurídica
Gerencia de Ingeniería Gerencia de Planificación

Industrial CVG VENALUM y Presupuesto
Gerencia de Gerencia de Gerencia de Gerencia de Gerencia de Gerencia de

Administración Sistemas y Comercialización Investigación
Logística personal
y Finanzas Organización y Desarrollo
Gerencia General de
Planta
Gerencia de Gerencia de Gerencia Gerencia Gerencia de Gerencia de

Control de Reducción de colada de Carbón Suministros Mantenimiento
Calidad Industriales Industrial
Gerencia de Economía Social y Desarrollo Endógeno
Figura 7 – Estructura administrativa y operativa de CVG de Venalum.

Fuente: Autor.
Dentro de las gerencias administrativas cabe destacar la Gerencia de Investigación

y Desarrollo, cuya misión es la de generar innovaciones tecnológicas y determinar la
factibilidad de adaptación de nuevas tecnologías, con el fin de aumentar la
rentabilidad, competitividad e imagen de la empresa [6]. Con el respaldo de dicha
gerencia fue llevada a cabo la presente investigación, mediante el asesoramiento
técnico del personal de trabajo de la División de Reducción III, relacionada con las
operaciones en el conjunto de celdas Hal-230 y V-350 del complejo de V línea.
24
Descripción del área de pasantía
El área en la cual fue llevada a cabo la presente investigación está representada

por el complejo de reducción de V línea, el cual consiste en una edificación o
estructura metálica tipo galpón, en donde son realizadas un conjunto de operaciones
destinadas a la producción de aluminio primario. Dicho complejo cuenta con una
línea de producción constituida por un conjunto de 180 celdas electrolíticas Hal-230
de tecnología Hydro Aluminium (ver figura 8), y 5 celdas de tecnología venezolana
desarrolladas por CVG Venalum (V-350).
Zona de disposición de Celda Hal-230 230 KA Nave 1 (90 celdas)

los shunts
Resistencia de celda Pasillo Angosto
230 KA
990 901
Celda V-350
Corriente Pasillo Ancho
90 KA nominal IN Rectificadores
(230 KA) Pasillo Ancho
1105 1101 1090 1001
90 KA 90 KA 230 KA Pasillo Angosto

320 KA
Sistema de barras Nave 2 (90 celdas)

conductoras
Boosters
(V -350)
Leyenda:
Corriente alterna Corriente continua
Figura 8 – Disposición del conjunto de celdas reductoras Hal-230 en el complejo de V línea.

Fuente: Autor.
25
Como puede notarse en la figura anterior, el conjunto de celdas se encuentra
distribuido en 2 grupos de naves, con un total de 90 celdas cada una. También puede
observarse el amperaje nominal de operación de la línea de producción V (celdas Hal
-230), el cual corresponde a 230 KA, con una eficiencia del 93 % de la corriente [7].
Referente al conjunto de 180 celdas de reducción electrolítica Hal-230,

desarrolladas por la empresa Hydro Aluminium, se tiene por cada unidad reductora
una producción diaria de 1,6 toneladas de aluminio primario (líquido), con una
temperatura y amperaje de operación normal de 960 °C y 223 KA respectivamente.
La frecuencia de trasegado es de 24 horas. Este tipo de celda reductora se encuentra
principalmente constituida por una cuba o casco de metal, en el cual son dispuestos
un conjunto de materiales como ánodos, cátodos, alúmina, fluoruro de aluminio y
criolita. El número de ánodos envarillados dispuestos en el puente anódico es de 26,
teniendo cada uno un periodo de vida útil de 22 días [8]. Por su parte la alúmina
(Al2O3) y el fluoruro de aluminio (AlF3) son suministrados por alimentadores
(tolvas), 5 y 1 respectivamente (ver figura 9).
Superestructura Tolva de Al2O3 y AlF3

Varilla anódica
Puente anódico
Ánodo
Tapas
Aluminio líquido
Baño electrolítico
Barras colectoras
Revestimiento
Casco
Bloque catódico
Figura 9 – Corte transversal de una celda reductora de aluminio.

Fuente: Malpica, U.J.
26
Por otra parte, la circulación de la corriente eléctrica a lo largo de la línea de
producción es llevada a cabo por medio de un sistema de barras conductoras, en el
cual se conforman anillos de barras dispuestas en la parte inferior y a los laterales del
casco en cada una de las celdas. A continuación se muestra en las figuras 10 y 11 la
conducción de corriente en la celda y el anillo de barras conductoras, durante el
proceso de operación normal.
Puente anódico
Varilla anódica
Flexible anódico
Riser
Bloque catódico
Revestimiento
Baño electrolítico Barras
Ánodo
conductoras
frontales
Casco
Flexible catódico
Corriente de
salida Is Corriente de
entrada Ie
Barra catódica (colectora) Metal (aluminio líquido)

Sitio de encaje
Aguas abajo Soporte de concreto Barra conductora

inferior Aguas arriba
Leyenda:
Corriente de entrada a la celda. Donde:
Corriente de salida de las barras catódicas (aguas abajo). 223 KA =
111,5 KA +
111,5 KA
Figura 10 – Flujo de corriente en una celda reductora durante su operación normal.

27
Corriente de Casco de la celda Barra colectora Barras conductoras
salida Is siguiente frontales
Aguas abajo
Bloque catódico
Riser de la ceda
siguiente
Flexible catódico
Riser de la
celda en cocción
Soporte de concreto
Aguas arriba
Barras conductoras Barras conductoras

laterales inferiores
Sitio de encaje
Leyenda: Donde:
Corriente de entrada a la celda.
223 KA =
111,5 KA+ 111,5 KA Corriente de
Corriente de salida de las barras catódicas (aguas abajo). entrada Ie
Figura 11 – Flujo de corriente del anillo de barras durante la operación normal de la celda.
Como puede verse en las figuras anteriores el flujo de corriente proveniente del
estado de celda anterior, es transmitido a la celda siguiente por medio de los risers;
los cuales transmiten el flujo eléctrico hacia el puente anódico, en donde se
encuentran alojados los ánodos envarillados. Luego la corriente eléctrica pasa por
medio del baño y el metal líquido hacia las barras colectoras, donde es dirigida hacia
los flexibles catódicos ubicados aguas arriba y aguas abajo. Finalmente, la corriente
eléctrica devuelta aguas arriba es conducida hacia los risers de la celda siguiente
(aguas abajo), a través de las barras conductoras laterales e inferiores.
Por otra parte, antes de poner en funcionamiento (operación normal) una celda
reductora, la misma debe ser precalentada en su revestimiento catódico mediante un
proceso de cocción (ver figura 15). Dicho proceso es llevado a cabo mediante un
28
conjunto de dispositivos eléctricos denominados shunts; los cuales están dotados de
un grupo de 4 resistencias eléctricas variables, que tienen la finalidad de regular la
entrada de la corriente eléctrica a las celdas reductoras durante el proceso de cocción.
Durante el precalentamiento (cocción) de una celda Hal–230 son empleados 4

shunts, cada uno de ellos es capaz de reducir 35 KA de corriente de entrada a la celda.
Debido a esto, cada shunt al poseer 4 resistencias variables (ver figura 12), se reduce
la entrada de corriente hacia la celda en 8,75 KA por resistencia conectada. Además 4
shunts conectados reducen aproximadamente 140 KA de corriente de entrada a la
celda, cuando están en funcionamiento las 16 resistencias [9].
Resistencias variables
Leyenda:
1
Ie: Corriente de entrada al shunt (Barra frontal A). 2
3
Is: Corriente de salida del shunt, desviada de la celda en 4
cocción a través de las barras conductoras hacia los risers
de la celda siguiente (Resistencia conectada).
Ic: Corriente de entrada no desviada por el shunt, dirigida

hacia los risers de la celda en cocción (Resistencias
desconectadas).
Extracción del aislante
termoeléctrico
Donde:
35 KA 8,75 KA 26,25 KA
= + Contacto eléctrico pleno
(resistencia conectada)
Sitio de encaje Contacto eléctrico restringido
(resistencias desconectadas)
Inserción del shunt

en el sitio de encaje 35 KA (Ie)
A
F
Aislante
8,75 KA (Is) Barras frontales A y F Termoeléctrico
Figura 12 – Conducción de la corriente eléctrica a través del shunt.

29
Seguidamente se muestra en la figura 13 la estructura básica e identificación del
shunt, además de los componentes materiales de los elementos conductores que lo
conforman.
16
15 14
17
12
13
5
10
12 5
5
3 4
11
4
3 2 2
8
5 5
1 9 7
Leyenda: 3
6
1: Aislante termoeléctrico (Samicanit). 2: Cuñas (Aleación ÁSV 1027 EC).
3: Barras (Aleación El - Cu - F20). 4: Juntas apernadas entre elementos 2 y 3.
5: Bloques (Aleación ÁSV 1027 EC). 6: Aislante termoeléctrico (Samicanit).
7: Perno separador (St). 8: Perno de ajuste (St). 2
9: Pernos de ajuste (St). 10: Bimetálico (Al-St).
11: Aislantes termoeléctricos (Arclex-M). 12: Fecha de disposición. 1
13: Número de carcasa. 14: Resistencias variables (St).
15: Ventilador. 16: Carcasa (St).
Figura 13 – Estructura básica, identificación y componentes materiales del shunt.

Fuente: Gerencia de Investigación y Desarrollo en cooperación con el autor
Descripción del trabajo asignado
Se procedió mediante la determinación de valores referenciales reales obtenidos de

forma directa en las juntas apernadas de los shunts, al evaluó de las resistencias
eléctricas de contacto en dichos dispositivos de manera teórica. El trabajo tomó en
cuenta la distribución de corriente a lo largo del shunt, así como también las
30
resistencias eléctricas intrínsecas generadas en cada uno de los componentes del
dispositivo resistor.
Además se consideraron para el estudio un shunt supuesto en condiciones ideales,

otro con mantenimiento rutinario, y por último se consideró otro dispositivo al cual se
le realizó mantenimiento en las juntas apernadas de los bloques de aluminio y cobre
(overhall). Con el estudio de los dispositivos antes mencionados, se procedió
mediante la aplicación de una serie de relaciones experimentales, a la determinación
de la influencia de las resistencias eléctricas de contacto en la distribución de
corriente, tomando valores operacionales de referencia para una celda Hal-230
durante el proceso de cocción.
Descripción del proceso
Como se vio anteriormente, la transmisión de corriente durante la operación

normal de la celda, debe garantizar que dicho flujo permanezca a lo largo de la línea
de producción. Sin embargo, antes de poner en funcionamiento una determinada
celda, esta debe ser precalentada, con la finalidad de prepárala a la hora de insertar el
baño electrolítico durante el arranque.
El proceso de cocción eléctrica consiste en hacer pasar una corriente eléctrica a

través del revestimiento catódico de la celda reductora, con la finalidad de calentarlo
a una temperatura lo más cercana posible a la del baño electrolítico (960 oC), y así
reducir en gran parte los choques térmicos generados durante el arranque.
Por su parte, la duración total del proceso es de aproximadamente 48 horas,

conformado por 5 periodos de acuerdo a los tiempos de cocción y al número de
resistencias variables desconectadas en los shunts; los cuales se encuentran resumidos
en la tabla 1.
31
RESISTENCIAS
Etapa - Tiempo Amperaje de
A desconectar Ubicación en Quedan conectadas
de cocción (h) entrada
(Inserción de aislante) shunt (Sin aislante)
Etapa 1: 0 – 6 h 100.5 2 Una a shunts 1 y 4 14
Etapa 2: 6 - 12 h 135.5 4 Una a cada shunt 10
Etapa 3: 12 - 16 h 153 2 Una a shunts 1 y 4 8
Etapa 4: 16 - 24 h 188 4 Una a cada shunt 4
Etapa 5: 24 - 48 h 205.5 2 Una a shunts 2 y 3 2
Tabla 1 – Cuadro comparativo de las 5 etapas que conforman el proceso de cocción eléctrica.
A continuación se muestra en la figura 14 la disposición de los shunts desde el

punto de vista lateral de la celda durante el proceso de cocción.
Riser Shunt 1 Shunt 2 Superestructura Shunt 3 Shunt 4
Parte posterior Parte frontal

de la celda de la celda
Casco Barra
conductora
Pasillo Pasillo
Angosto Ancho
Figura 14 – Ubicación de los shunts en el lado lateral de la celda, aguas arriba.

Como puede observarse en la figura anterior, la designación de los shunts es

realizada desde el pasillo angosto hasta el pasillo ancho, ubicados ambos en la parte
posterior y frontal de la celda respectivamente. La función principal de tales
dispositivos resistores, es la de regular la corriente de entrada a la celda, desviándola
hacia los risers de la celda siguiente a medida que transcurren cada una de las etapas
del proceso de cocción. El flujo de corriente de la celda en cocción es el siguiente:
32
Leyenda: Puente anódico Flexible anódico
Corriente de entrada a la celda Riser
proveniente del estado de celda
anterior. Varilla anódica
Corriente desviada por los
shunts de la celda en cocción.
Corriente de salida de las
barras catódicas aguas arriba.
Corriente de salida de las Ánodo
barras catódicas aguas abajo. Manto refractario
Baño molido o
(Canal central) criolita
Bloque catódico
Revestimiento Casco
Flexible catódico
Corriente de Corriente de
salida Is entrada Ie
Barra catódica (colectora) Cama de coque
Estado de celda Estado de celda
siguiente anterior
Soporte de concreto Barra conductora

inferior
Aguas abajo Aguas arriba
Resistencia variable sin Resistencia variable con

aislante termoeléctrico aislante termoeléctrico
8,75 KA no desviados por
el shunt, suministrados a la
celda en cocción.
8,75 KA desviados de la
celda en cocción, hacia los
risers de la celda siguiente
Aislante termoeléctrico
8,75 KA provenientes de la
corriente de entrada Ie
Figura 15 – Corte transversales de la celda y del shunt durante el proceso de cocción.
33
Como puede verse en la figura anterior, el flujo de corriente a través de la celda en
cocción es desviado por el shunt hacia los risers de la celda siguiente, dependiendo de
la conexión o no de sus resistencias variables.
A diferencia del proceso de normalización de la celda, durante la cocción no se

cuenta con el baño ni con el metal líquido (figura 10), ya que en su lugar son
dispuestos otros materiales como lo son el baño molido o criolita, la manta refractaria
y la cama de coque.
En lo que respecta al baño molido o criolita, y la manta refractaria; estos

constituyen materiales utilizados al momento de preparar la celda para la cocción, los
cuales tienen como finalidad primordial, evitar las pérdidas del calor generado por la
resistencia ejercida al paso de la corriente eléctrica a través de la cama de coque,
dispuesta entre los ánodos y los bloques catódicos. Además el uso de dichos
materiales permiten conservan los ánodos, al evitar en gran parte la oxidación de los
mismos.
De acuerdo a lo anterior, el flujo de corriente no desviado por los shunts, es

dirigido a los risers de la celda en cocción, los cuales lo transmiten al puente anódico
por medio de los flexibles anódicos. Una vez que llega la corriente al puente anódico,
esta es distribuida a cada uno de los 26 ánodos envarillados dispuestos en la celda, los
cuales se encuentran sujetos por medio de unos flexibles de cocción. Las celdas Hal–
230 cuentan con 12 flexibles dobles (6 por cada lado) y 2 sencillos (ver figura 16).
Seguidamente el flujo de corriente pasa a través de la cama de coque, para luego

ser dirigido a los bloques catódicos, los cuales transmiten la corriente a los flexibles
dispuestos aguas abajo y aguas arriba en las barras conductoras frontales del anillo.
Finalmente, el flujo de corriente proveniente de los flexibles de catódicos aguas
arriba, es devuelto aguas abajo por medio de las barras colectoras inferiores y
laterales, uniéndose a este la corriente desviada por los shunts.
34
Puente anódico Grapa de sujeción
Flexibles de cocción dobles Grapa de sujeción
Flexible anódico
Aguas arriba
Ánodos envarillados
Manto
refractario
Baño molido o
criolita
Ánodos envarillados
Aguas abajo
Flexible de cocción doble
2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 26
Leyenda:
: Corriente de entrada a la celda en

Pasillo Angosto Flexible doble Flexible simple Varilla anódica Pasillo Ancho cocción proveniente de los risers.
: Corriente de salida de los ánodos
envarillados conectados a los flexibles
de cocción aguas arriba.
: Corriente de salida de los ánodos
envarillados conectados a los flexibles
de cocción aguas abajo.
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25
Aguas arriba 35
Figura 16 – Disposición de los flexibles de cocción en una celda Hal -230.
Fuente: Autor.
Resistencias eléctricas en los shunts
Las resistencias eléctricas en los shunts representan uno de los principales

parámetros a controlar durante el proceso de cocción, ya que de ellas depende en gran
parte la distribución de la corriente eléctrica en el shunt y hacia la celda en
precalentamiento.
Referente a lo anterior, en los shunts existen dos tipos de juntas en donde se

generan contactos eléctricos, las cuales fueron designadas anteriormente como
superficiales y apernadas. Para cada una de dichas juntas, deben de tomarse en cuenta
los diversos factores a los cuales se encuentran expuestas, a fin de determinar la
influencia de los mismos sobre la distribución de corriente en los shunts.
Fuerza de contacto. Juntas apernadas.
Entre los principales factores, tomados en cuenta a la hora de evaluar las

resistencias eléctricas del shunt, está la fuerza de contacto o apriete existente entre los
elementos de las juntas apernadas y superficiales.
Para la determinación de dicha fuerza en las juntas apernadas, se consideraron los

pernos M24x240 y M24x300 de calidad 8.8; los cuales generalmente no necesitan
elementos de seguridad para su sujeción [10]. La fuerza de contacto (Fc) fue
determinada mediante la expresión:
𝐅𝐂 = (𝐌𝐀 𝐱 𝟏, 𝟑𝟓𝟓𝟖𝟏𝟖) / 𝐝𝐞𝐱𝐭 𝐱 𝐊 𝐝 [𝐍] (𝟏)
Donde FC: Fuerza de contacto normal (N), MA: Torque de apriete (lbs.-ft),
dext: Diámetro externo del vástago del tornillo, Kd = Coeficiente que dependerá de la
calidad del perno (generalmente 0,18) y 1,355818: Factor de conversión de lbs.-ft a
N-m.
36
Fuerza de contacto. Juntas superficiales.
En base a lo anterior, según el cuaderno técnico de productos Eriflex [11], para

distribuciones de baja tensión se tiene que la fuerza de contacto necesaria (FC), es una
función directa de la superficie de contacto (AC) y de un valor optimizado de la
presión Póptima = 2,5 DaN/mm2 (Norma EN 60439).
Al emplearse el valor optimizado Póptima para la presión de contacto (PC), la fuerza

ejercida entre los elementos de las juntas apernadas y superficiales del shunt, será la
más acorde a la hora de generar un contacto eléctrico efectivo. De acuerdo a lo
anterior la fuerza de contacto ideal puede ser expresada de la siguiente forma:
𝐅𝐂 = 𝐏𝐂 𝐱 𝐀 𝐂 = 𝐤 𝐱 𝐀 𝐂 [𝐍] (𝟐)
Cabe destacar que dicha presión de apriete se verá afectada al momento de ajustar
las juntas apernadas y superficiales del shunt, por otros factores como la falta de
paralelismo y planitud entre los elementos de contacto, el ángulo de las cuñas con
respecto a los sectores maquinados de los sitios de encaje en las barras conductoras;
que influyen de manera negativa sobre las tolerancias establecidas para el montaje de
dicho equipo resistor.
Sin embargo, para la determinación de la fuerza de contacto presente en las juntas

superficiales del shunt, correspondientes a las cuñas de aluminio y el sitio de encaje
del anillo de barras conductoras, se tomó como criterio adicional el peso total del
mismo.
Dicho peso total ejercido por el shunt sobre las caras de contacto de las barras
conductoras frontales, se consideró de acción simétrica para cada una de las uniones,
como se muestra a continuación:
37
Peso total
Lado posterior Lado frontal del

del shunt shunt
R1 P1 P2 R2
Cuña posterior Cuña frontal
Juntas
superficiales Barra frontal F del Barra frontal A del
anillo de celda en anillo de celda
cocción anterior
Leyenda:
R1: Reacción normal de la cuña posterior del shunt.
T Y
R2: Reacción normal de la cuña frontal del shunt.
P1: Fuerza normal ejercida por el peso total del shunt sobre la
cuña posterior.
P α = 3°
PN
P2: Fuerza normal ejercida por el peso total del shunt sobre la
cuña frontal.
PT N
P: Peso total del shunt.
α
PN: Componente normal del peso total del shunt.
PT: Componente tangencial del peso total del shunt.
Y: Eje de las ordenadas del sistema rectangular de coordenadas.

X
X: Eje de las abscisas del sistema rectangular de coordenadas.
T: Eje normal del sistema polar de coordenadas.
N: Eje tangencial del sistema polar de coordenadas. R1 P1

α
α: Ángulo conformado por las superficies de contacto de las
cuñas del shunt y las barras conductoras, con respecto al eje Y.
Figura 17 – Fuerza normal ejercida por el peso total del shunt sobre los sitios de encaje
del anillo de barras conductoras.
38
De acuerdo a la descomposición vectorial del peso total del shunt, la fuerza normal
ejercida por cada cuña del mismo, en relación a las barras frontales del sitio de encaje
del anillo de barras conductoras, es la siguiente:
𝐅𝐂 = 𝐏. 𝐂𝐨𝐬 𝟖𝟕° = 𝐦𝐠 . 𝐂𝐨𝐬 𝟖𝟕° [𝐍] (𝟑)
Rugosidad
Seguidamente, otro de los factores sujetos a estudio es el acabado superficial en

los contactos eléctricos del shunt. Para el estudio de dicho acabado superficial, se
determino la rugosidad presente en la superficie de los contactos eléctricos, de
acuerdo a los sistemas de medición estipulados internacionalmente en la norma DIN
4768. En dicha norma se exponen una serie de procedimientos a seguir para la
determinación de los valores de rugosidad con aparatos eléctricos de palpado [12].
Fueron considerados para la determinación de la rugosidad superficial los sistemas

Ra y Rz. El primero de ellos muestra los valores absolutos de los alejamientos de
perfil desde la línea central. Corresponde a la altura de un rectángulo de longitud l m,
cuya área es igual a la suma de las áreas delimitadas por el perfil de rugosidad y la
línea central (ver figura 18). En cambio sistema Rz, representa el promedio de las
alturas de pico a valles. Es la diferencia entre el promedio de las alturas de los cinco
picos más altos y la altura promedio de los cinco valles más profundos (ver figura
19).
Rectángulo de
Perfil de rugosidad longitud 1 m Línea central
Figura 18 – Curva de la rugosidad media Ra del perfil de rugosidad.

Fuente: Norma DIN 4768.
39
Seguidamente se muestra en la figura 19 la curva de rugosidad media Rz del perfil
de rugosidad.
Tramo 1 Tramo 2 Tramo 3 Tramo 4 Tramo 5
Perfil de rugosidad
Pico más
Valle más
Figura 19 – Curva de la rugosidad media Rz del perfil de rugosidad.

Fuente: Norma DIN 4768.
En relación a lo anterior, la unión entre dos superficies ocurre realmente de forma

microscópica a través de sus rugosidades superficiales, lo cual trae como resultado
una reducción del área de contacto nominal real, y un empaquetamiento de las líneas
de flujo eléctrico al pasar a través de los micro-puntos de contacto [13]. Dicha
constricción del flujo de corriente eléctrica, disminuye la cantidad de material
utilizado para la conducción eléctrica, y por consiguiente aumenta la resistencia
eléctrica total de la junta (ver figura 20).
Constricción de las
líneas de flujo de la Corriente de entrada Interfase de
corriente de entrada contacto
Conductor A
Micro
Línea de flujo puntos de
de corriente contacto
Conductor B
Corriente de salida
Figura 20 - Esquema de la interfase de contacto eléctrico entre dos elementos conductores.
Fuente: Consultora científica Timron en cooperación con el autor.
40
Seguidamente, estudios realizados por el científico Roland Timsit [13], establecen
que el área de constricción de los micro-puntos de contacto no es del todo circular,
sin embargo; esta suele adoptarse de esa forma por motivos de simplificación en los
cálculos matemáticos. En dichos estudios fue hallada una relación experimental para
la resistencia eléctrica por constricción, la cual se expresa de la siguiente forma:
𝛒
𝐑 𝐂 = � � [𝛑𝐇/𝐅𝐂 ]𝟏/𝟐 (𝟒)
𝟐
De la ecuación anterior se tiene que ρ: Resistividad eléctrica promedio de los

materiales en contacto. H: Dureza Vickers del material más blando de las partes en
contacto [14]. FC: Fuerza de contacto o apriete promedio entre los elementos
conductores.
Por otra parte, la presencia del agentes contaminantes externos e internos en los
contactos eléctricos de las uniones, como el polvo, el óxido de aluminio (altamente
resistivo al flujo de eléctrico), el aire (espacio entre micro-puntos de contacto), óxido
cuproso; forman una especie de capa o película intersticial, cuyo efecto se muestra
en la figura 21 [13].
Capa de óxido A Capa de óxido B
Espesor de Área de contacto real

Placa A disminuida
película
Línea de flujo Placa B

de corriente Película de óxido
Figura 21 – Efecto de de la capas de óxido en la disminución del área de contacto eléctrico.

Fuente: Consultora científica Timron en cooperación con el autor.
Como puede verse en la figura anterior, al igual que las rugosidades superficiales,
la película de óxido genera una disminución del área de contacto de la unión, y por lo
tanto aumentan la resistencia eléctrica total de la misma. De acuerdo a
41
experimentaciones realizadas por Robert Timsit [13], la resistencia eléctrica de
película se encuentra definida por la siguiente expresión:
𝐝
𝐑 𝐏 = 𝛒𝐜𝐨𝐧𝐭 (𝟓)
𝐀𝐂
Donde ρcont: Resistividad eléctrica del material que conforma la película

contaminante. AC: Área de contacto eléctrico. d: Espesor de película. El espesor de
película fue tomado como un valor aproximado, a partir de los registros obtenidos
para las rugosidades de las superficies en contacto, debido a la falta de valores
referenciales [13]. Cabe destacar que el valor de la rugosidad superficial, asumido
para el espesor de película ideal es de 3,20 µΩ, según el cuaderno técnico de
productos Eriflex [11].
En base a las ecuaciones anteriores se tiene que la resistencia de contacto total se

encuentra definida por la siguiente expresión:
𝐝 𝛒
𝐑 𝐂𝐓 = 𝛒𝐜𝐨𝐧𝐭 + � � [𝛑𝐇/𝐅𝐂 ]𝟏/𝟐 (𝟔)
𝐀𝐂 𝟐
De la relación experimental anterior se deduce que las resistencias eléctricas de

contacto por constricción y de película se encuentran conectadas en serie [13].
Las relaciones experimentales anteriores, permiten determinar de forma

aproximada el valor de las resistencias eléctricas de contacto, sin embargo todavía no
se han considerado las resistencias intrínsecas; debidas a la oposición interna del
material de los elementos conductores, al pasar la corriente eléctrica a través de la
estructura cristalina que conforman sus átomos. Dichas resistencias intrínsecas se
encuentran definidas por la ley de Ohm, razón por la cual suelen llamárseles también
resistencias óhmicas. La ley antes mencionada se define como:
42
𝐕 = 𝐑 𝐈 . 𝐈 (𝟕)
En donde la resistencia eléctrica intrínseca RI queda expresada por:
𝛒𝐓𝟐 𝐥 𝐕
𝐑𝐈 = = (𝟖)
𝐀𝐓 𝐈
Donde RI: Resistencia eléctrica intrínseca (Ω), AT: Sección transversal del
conductor (m2), l: Longitud del conductor (m), ρT2: resistividad (Ω.m), I: Corriente
(A), y V: voltaje (V). También la resistividad eléctrica suele determinarse mediante la
expresión [15]:
𝛒𝐓𝟐 = 𝛒𝐓𝟏 [𝟏 + 𝛂𝐓𝟏 (𝐓𝟐 − 𝐓𝟏 )] (𝟗)
Donde ρT1: Resistividad a la temperatura T1 (Ω.m), ρT2: Resistividad a la

temperatura T2 (Ω.m) y αT1: Coeficiente de temperatura de resistividad eléctrica (1 x
10-3 °K). Generalmente para T1, se suele adoptar el valor de 20 °C, correspondiente a
la temperatura ambiente.
A continuación se muestra en la figura 22, la clasificación general de las

resistencias eléctricas a determinar en el shunt:
Resistencia intrínseca
Resistencias Resistencia de constricción
eléctricas
Resistencia de contacto
Resistencia de película
Figura 22 - Clasificación general de las resistencias eléctricas.

Fuente: Autor.
43
Seguidamente para establecer la distribución de corriente a lo largo de los shunts,
fueron elaborados circuitos eléctricos equivalentes, tomando en cuenta tanto las
resistencias eléctricas de contacto como las intrínsecas, así como también la
diferencia de potencial en cada uno de los tramos de los dispositivos resistores. Para
la elaboración de los mismos se emplearon un conjunto de ecuaciones, derivadas de
las reglas básicas utilizadas para la construcción de circuitos eléctricos conectados en
serie y en paralelo. A continuación se muestra en la figura 23 dos esquemas
representativos de un circuito eléctrico en serie y otro en paralelo.
I I I A
R1 V1 V3 V5 V7 V9
I I R1 R3 R5 R7 R9
I V1
I1 I3 I5 I7 I9
+
I
V
-+
R3 V3
R2
V2 I I
V
- VA = VB = VC = VD
V2
R2
I2
V4
R4
I4
V6
R6
I6
V8
R8
I8
= VE = V
V10
R10
I10
V
I I B
Figura 23 - Esquemas de circuitos eléctricos en serie (izquierda) y en paralelo (derecha).

Fuente: Autor.
En base a los esquemas anteriormente expuestos, se derivan las siguientes

ecuaciones [16]:
En serie:
𝐈 = 𝐈𝟏 = 𝐈𝟐 = 𝐈𝟑 (𝟏𝟎)
𝐕𝐓𝐎𝐓𝐀𝐋 = 𝐕𝟏 + 𝐕𝟐 + 𝐕𝟑 (𝟏𝟏)
𝐕𝐓𝐎𝐓𝐀𝐋 = 𝐈𝟏 𝐑 𝟏 + 𝐈𝟐 𝐑 𝟐 + 𝐈𝟑 𝐑 𝟑 (𝟏𝟐)
𝐑 𝐄𝐐𝐔𝐈𝐕𝐀𝐋𝐄𝐍𝐓𝐄 = 𝐑 𝟏 + 𝐑 𝟐 + 𝐑 𝟑 (𝟏𝟑)
44
𝐕𝐓𝐎𝐓𝐀𝐋 = 𝐈𝐑 𝐄𝐐𝐔𝐈𝐕𝐀𝐋𝐄𝐍𝐓𝐄 (𝟏𝟒)
En paralelo:
𝐕𝐓𝐎𝐓𝐀𝐋 = 𝐕𝟏 = 𝐕𝟐 = 𝐕𝟑 (𝟏𝟓)
𝐈 = 𝐈𝟏 + 𝐈𝟐 + 𝐈𝟑 (𝟏𝟔)
𝟏 𝟏 𝟏 𝟏
= + + (𝟏𝟕)
𝐑 𝐄𝐐𝐔𝐈𝐕𝐀𝐋𝐄𝐍𝐓𝐄 𝐑𝟏 𝐑𝟐 𝐑𝟑
𝐕𝐓𝐎𝐓𝐀𝐋 𝐕𝟏 𝐕𝟐 𝐕𝟑
= + + (𝟏𝟖)
𝐑 𝐄𝐐𝐔𝐈𝐕𝐀𝐋𝐄𝐍𝐓𝐄 𝐑𝟏 𝐑𝟐 𝐑𝟑
Sin embargo, para la determinación de los valores de corriente y voltaje

desconocidos en el circuito eléctrico del shunt, fue utilizada la primera ley de
Kirchhoff, también conocida como ley de corrientes. Dicha ley considera que la suma
de las corrientes que llegan a un nodo es igual a la suma de las corrientes que salen de
él. Se encuentra definida por la siguiente expresión:
𝐧 𝐧
� 𝐈𝐞 (𝐂𝐨𝐫𝐫𝐢𝐞𝐧𝐭𝐞𝐬 𝐝𝐞 𝐥𝐥𝐞𝐠𝐚𝐝𝐚) = � 𝐈𝐬 (𝐂𝐨𝐫𝐫𝐢𝐞𝐧𝐭𝐞𝐬 𝐝𝐞 𝐬𝐚𝐥𝐢𝐝𝐚)

𝐤=𝟏 𝐤=𝟏
Si se consideran como positivas las corrientes que llegan a un nodo y como

negativas las corrientes que salen, la ley de los nodos también puede expresarse en la
forma siguiente:
� 𝐈𝐤 = 𝐈𝟏 + 𝐈𝟐 + 𝐈𝟑 + 𝐈𝟒 + 𝐈𝟓 … 𝐈𝐧 = 𝟎 (𝟏𝟗)
𝐤=𝟏
Donde se expresa que en un nodo, la suma algebraica de las intensidades de

corriente es igual a cero.
45
La primera regla de Kirchhoff equivale a afirmar que la carga eléctrica ni se crea
ni se destruye (principio de conservación de la carga eléctrica). Esto significa que la
carga eléctrica no se puede acumular en un nodo de la red, esto es la cantidad de
carga que entra a un nodo cualquiera en un cierto instante, es igual a la cantidad de
carga que sale de ese nodo [16]. Por lo tanto, el sentido de la corriente en cada uno de
los conductores o ramas se fija arbitrariamente teniendo en cuenta lo establecido en la
ley (ver figura 24).
𝐈𝟏 + 𝐈𝟐 + 𝐈𝟑 + 𝐈𝟒 − 𝐈𝟓 = 𝟎 I4
I3 I5
NODO
I2
I1
Figura 24 – Ley de Kirchhoff aplicada a un nodo.

Fuente: Autor.
El número de ecuaciones obtenidas de las reglas de Kirchhoff ha de ser siempre

igual al número de incógnitas, para poder solucionar simultáneamente las ecuaciones.
Para finalizar, la potencia eléctrica teórica se define como:
𝐏 = 𝐈. 𝐕 (𝟏𝟗)
Donde P: Potencia (W), I: Corriente eléctrica (A), y V: Voltaje.
46
Glosario de términos
Corriente eléctrica (I): Cantidad de electrones viajando en un momento dado. Se

mide en amperes (A), donde un ampere representa 6.25 x 1018 electrones en
movimiento. Puede ser del tipo alterna o continua.
Micro–puntos de contacto: Denominación dada a las asperezas y rugosidades

presentes en las superficies de los elementos en contacto de los shunts, para el estudio
de las resistencias eléctricas en la interfase de contacto.
Resistencia eléctrica (R): Resistencia que opone un material al flujo de la corriente

eléctrica a través del mismo. Se divide en resistencias eléctricas intrínsecas y de
contacto. Tiene como unidad de medición el ohmio (Ω).
Shunts: Dispositivos resistores encargados de controlar el flujo de corriente eléctrica

hacia las celdas reductoras durante el proceso de cocción.
Resistencia eléctrica de contacto: Resistencia eléctrica debida a los micro-puntos

(rugosidades) y agentes contaminantes presentes en la interfase de contacto. Se mide
en (Ω).
Resistencia eléctrica intrínseca: Resistencia eléctrica debida a estructura interna o

cristalina de los átomos presentes en el material conductor. Es medida en (Ω).
Juntas apernadas: Uniones conformadas por pernos. En los shunts corresponden a

las uniones entre las barras de cobre con los bloques y cuñas de aluminio.
Juntas superficiales: Uniones sin elementos de sujeción (pernos). Para el caso de los
shunts, corresponde a las uniones formadas por estos en los sitios de encaje,
específicamente entre las barras conductoras frontales y las cuñas de aluminio.
47
CAPÍTULO III
ASPECTOS PROCEDIMENTALES
Actividades ejecutadas
Medición de torque
Primeramente se llevó a cabo la medición del torque de apriete real en las juntas
apernadas del shunt, mediante el uso de un torquímetro analógico. El procedimiento
realizado fue el siguiente:
1. Calibración del instrumento de medición. Se procedió a la calibración de

la aguja del torquímetro.
2. Selección del tipo de unidad en la cual se desean obtener los valores del
torque de apriete. Se selecciono como unidad de medición Lb–ft.
3. Colocación de la aguja indicadora del torquímetro en el cero absoluto de
la escala de medición correspondiente al tipo de unidad seleccionada.
4. Inserción del dado correspondiente al ataque del torquímetro. Destaca el
uso de extensiones en las uniones poco accesibles. (Ver figura 25 y 26).
Figura 25 – Uso de extensiones en las juntas apernadas poco accesibles.

Fuente: Autor.
48
Figura 26 - Inserción del torquímetro y aplicación del torque de apriete.
Fuente: Autor.
5. Ya insertado el torquímetro se hace girar el brazo del instrumento en

sentido horario, ya que se está determinando el par de apriete de los pernos
en la junta. El apriete debe realizarse hasta llegar a un punto donde la aguja
indicadora se estabilice o llegue a un tope máximo (Ver figura 27). Para el
caso de torques de apriete bajos, suele moverse la cabeza del perno, por lo
que se toma como referencia el valor inmediatamente después de
producirse el giro de la misma.
Figura 27 –Verificación del torque de apriete.

Fuente: Autor.
49
Finalmente, para el caso de las juntas apernadas con tuercas móviles, se procedió a
utilizar una llave combinada, de tal manera de ejercer una oposición al movimiento
relativo de las mismas con respecto a los pernos, durante la medición del torque de
apriete (Ver figura 28).
Figura 28 – Sujeción de las tuercas móviles durante la medición del torque apriete.
Fuente: Autor.
Medición de rugosidad
Una vez culminada la toma de mediciones de los torques de apriete reales en las
juntas apernadas de los shunts, se procedió a la determinación de la rugosidad
superficial en las áreas de contacto eléctrico de las juntas; la cual fue llevada a cabo
mediante el uso de un rugosimetro digital en el laboratorio de metrología de la
UNEXPO. Los elementos sujetos a la medición de la rugosidad superficial en las
áreas de contacto eléctrico fueron los siguientes:
A. Bloque de aluminio de la junta de tuercas móviles (área de contacto

eléctrico).
B. Bloque de aluminio de la junta de tuercas fijas (área opuesta a la de
contacto eléctrico).
C. Probeta de aluminio mecanizada (acabado inicial de los bloques de
aluminio, medición de la rugosidad en las superficies inclinada y
horizontal).
50
El procedimiento de medición llevado a cabo fue el siguiente:
1. Calibración del rugosimetro.

2. Colocación del indicador digital en el cero absoluto.
3. Selección del sistema de medición. Fue seleccionado el sistema RZ
anteriormente descrito.
4. Verificación del estado en que se encuentran las superficies a medir. En el
caso del elemento B (figura 30) debido a que el área de contacto se
encontraba muy deteriorada se procedió a obtener un valor aproximado
para la rugosidad superficial del área opuesta, con la finalidad de no dañar
el elemento de palpado del rugosimetro.
5. Montaje de la pieza a la cual se le va a medir la rugosidad de la superficie
de contacto. Se debe verificar que el elemento de palpado quede a nivel
con la superficie sujeta a medición.
6. Montaje del rugosimetro (Ver figura 29).
Figura 29 – Procedimiento de montaje del rugosimetro.

Fuente: Autor.
7. Verificación del paralelismo entre la herramienta de palpado y la superficie

de contacto.
8. Selección de la longitud de palpado.
51
9. Inicio de las mediciones (Ver figura 30).
Elemento A Elemento B
Elemento C–H Elemento C-I

Superficie horizontal Superficie inclinada
Figura 30 – Medición de la rugosidad superficial en los elementos del shunt sujetos a consideración.
Fuente: Autor.
10. Verificación de los parámetros obtenidos.

11. Impresión de los resultados.
Técnicas e instrumentos de recolección de datos
En correspondencia con el problema y los objetivos planteados en la presente

investigación, las técnicas e instrumentos de recolección empleados fueron:
Revisión documental
Se realizó una revisión documental de los parámetros históricos y reales obtenidos

durante el proceso de cocción eléctrica, donde fueron tomaron los registros de:
52
• Temperatura.
• Resistencias eléctricas de contacto.
• Resistencias eléctricas intrínsecas.
• Voltaje.
• Dureza del material.
• Resistividad eléctrica.
• Corriente eléctrica nominal.
En cuanto a los instrumentos empleados se tienen:
1. Tablas.
2. Cuadros de registros.
3. Libreta de notas.
4. Cuadernos.
Observación
El tipo de observación llevada a cabo es del tipo participante, ya que hubo una
compenetración en la cual se paso a formar parte del medio de estudio, en este caso
de las resistencias eléctricas tipo shunt. Esto se debe a que se tomaron valores de
parámetros funcionales reales en el área, donde se encontraban dispuestos dichos
dispositivos eléctricos.
Por otra parte, este tipo de observación se sub-divide en libre o no estructurada, ya

que fue realizada en función de determinar las resistencias eléctricas de contacto de
los shunts, sin embargo, no se tiene una guía o procedimiento prediseñado en el cual
se especifique cada uno de los aspectos que deben ser observados. Los instrumentos
empleados fueron:
1. Cámara fotográfica marca Sony de 8 megapíxeles.
53
2. Torquímetro de aguja marca Proto. Hecho en USA. Error de medición: +
20 Ft-Lb.
3. Rugosimetro digital marca Mitutoyo. Error de medición: + 0,01 µm.
4. Accesorios: Dado y extensión del torquímetro marca Koken, hechos en
Japón. El dado posee un cubo de ataque de 1(7/16) de pulgadas.
5. Llave combinada de 1(7/16) de pulgadas.
Procesamiento de la información
El procesamiento de la información recolectada fue llevado a cabo mediante el

empleo de un software computacional, destinado al procesamiento de valores para un
amplio número de muestras. Dicho software corresponde al programa Microsoft
Office Excel versión 2003 y versión 2007, el cual estuvo destinado a la elaboración
de cálculos matemáticos mediante el uso de tablas de valores.
Tablas
Se tomaron en cuenta diversas designaciones, referentes a los elementos

constituyentes del shunt, con la finalidad de poder obtener las dimensiones de las
tablas de valores, en cuanto al número de filas y columnas se refiere. Además fueron
empleados valores referenciales obtenidos en cocciones anteriores, cuyas
designaciones ya habían sido establecidas.
Primeramente para la determinación del torque de apriete, se procedió a designar

cada uno de los pernos que conforman las juntas apernadas del shunt. Se tomó en
cuenta un orden determinado para la designación de los mismos, en donde fueron
enumerados primero los que conforman las juntas apernadas fijas, y luego los de las
móviles correspondientes a las resistencias variables. A continuación se muestra en la
figura 31 la designación de los pernos y juntas apernadas del shunt:
54
1 2 3 4
5 6 7 8 13 14
Pernos
15 16
Pernos
1 2 3 4
Juntas 9
Junta
12 11 10 9
Pernos
8 7 6 5
Juntas
Leyenda:
Juntas apernadas móviles conformadas

por las barras de cobre y bloques de
aluminio.
Juntas apernadas fijas conformadas

por las barras de cobre y bloques de
aluminio.
Junta apernada móviles conformada

por las barras de cobre y las cuñas de
aluminio.
Figura 31 – Designación de la nomenclatura de los pernos y juntas apernadas en los shunts.

Fuente: Autor.
55
Seguidamente se muestra en la figura 32 las designaciones de las uniones
superficiales del shunt.
11 10
Uniones superficiales
(Vista superior)
Leyenda:
Unión superficial entre la barra frontal

10 del anillo de la celda anterior y la cuña
del lado frontal del shunt.
11 Unión superficial entre la barra frontal

del anillo de la celda en cocción y la cuña
del lado posterior del shunt.
Figura 32 – Designación de la nomenclatura de las juntas superficiales en los shunts.

Fuente: Autor.
Por otra parte, para la determinación de las resistencias eléctricas en el shunt, se

designo un área de contacto para cada una de las uniones. El área de contacto total en
las juntas apernadas dependió del número de pernos; condición asumida en vista de la
disparidad en los torques de apriete para una misma unión. A continuación se muestra
56
en la figura 33 las áreas de contacto eléctrico teóricas en las juntas apernadas y
superficiales del shunt, cuyas dimensiones se encuentran expresadas en mm [17].
Juntas 1, 2, 3 y 4
Juntas 5, 6, 7 y 8
Junta 9
Juntas 10 y 11
Nota 1: El área de azul representa la superficie de los pernos, por lo tanto debe ser
sustraída del área total de contacto. Los pernos se encuentran eléctricamente aislados.
Nota 2: Para el caso de las juntas apernadas, el área de contacto total se divide en
forma simétrica de acuerdo al número de pernos presentes en cada una de ellas.
Figura 33 – Áreas de contacto eléctrico teóricas en las juntas apernadas y superficiales del shunt.
Fuente: Autor.
57
En relación al caso de las juntas apernadas, como se vio en la figura anterior, se
requiere dividir el área de contacto total en partes iguales dependiendo del número de
pernos presentes en ellas. Sin embargo, dicha área requiere ser dividida solamente
para la determinación de las resistencias eléctricas de contacto por constricción, ya
que de acuerdo a la ecuación (4), esta depende de la fuerza de contacto, y al ser los
torques de apriete distintos para una misma junta, no se podrían evaluar. Por tal
motivo para el caso especial de las resistencias intrínsecas por constricción se
establecieron las designaciones mostradas a continuación:
Juntas: 1, 2, 3 y 4 Junta: 9
Pernos: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7 y 8 Pernos: 13, 14, 15 y 16
1-1 2-2 3-3 4-4 9-13 9-14
1-5 2-6 3-7 4-8 9-15 9-16
Juntas 5, 6, 7 y 8
Pernos: 9, 10, 11 y 12
Nota:
La nomenclatura utilizada para la

designación de cada una de las áreas
de contacto es la siguiente:
8-12 7-11 6-10 5-9 # Designación: # Junta - # Perno
Figura 34 – Designación de las áreas de contacto eléctrico teóricas asumidas en las juntas apernadas
del shunt, para la determinación de la resistencia eléctrica de contacto por constricción.
Fuente: Autor.
Por otra parte, para la determinación de las resistencias eléctricas intrínsecas, se

tomaron en cuenta valores referenciales de temperatura de los elementos conductores
del shunt en cocciones anteriores. Cabe destacar que el estudio anterior fue realizado
en otras condiciones (celda V-350), y no en una celda Hal-230 de V línea, sin
58
embargo pueden considerarse como similares. Seguidamente se muestra en la figura
35 y en la tabla 2, los puntos y valores a considerar del shunt 3 durante el proceso de
cocción de la celda CV-5 [18].
T5
T2 T1
T4 T3
T10
T7
T8
T6
T9
Figura 35 – Puntos sometidos al control de temperatura del shunt 3 empleado en la celda CV - 5.

Fuente: Gerencia de Investigación y Desarrollo en cooperación con el autor. Fecha: 6/8/2008.
Designación Elemento del shunt

T1 Resistencia 1
T2 Resistencia 2
T3 Resistencia 3
T4 Resistencia 4
T5 Resistencia 1 (Parte superior)
T6 Resistencia 2 (cerca del bimetálico)
T7 Barra de cobre
T8 Bloque de aluminio
T9 Cuña de aluminio
T10 Aire (cerca de los aislantes)
Tabla 2 – Valores de temperatura tomados del shunt 3durante la cocción de la celda CV-5.
Fuente: Gerencia de Investigación y Desarrollo en cooperación con el autor. Fecha: 6/8/2008.
59
En base a la designación anterior, fueron asumidos valores de temperatura para
cada uno de los elementos de los shunts 2, 5 y en condiciones ideales, obtenidos a
partir de la siguiente gráfica [18]:
Gráfico 1 – Curvas de temperatura vs tiempo de cada una de las 5 etapas del proceso de cocción
eléctrica de la celda CV – 5, para el shunt 3 sometido a condiciones extremas.
Fuente: Gerencia de Investigación y Desarrollo. Fecha: 6/8/2008.
Cabe resaltar que los valores de temperatura asumidos corresponden a los

obtenidos para la primera etapa del proceso de cocción, ya que se requiere que las 4
resistencias variables de los shunts se encuentren conectadas, a fin de evaluar el
comportamiento de los contactos eléctricos en las juntas apernadas de los mismos.
Con los valores asumidos, se procedió a la determinación de las resistencias eléctricas
intrínsecas, estableciendo además las dimensiones de cada uno de los elementos del
shunt de acuerdo a los planos de fabricación [17].
60
Seguidamente los valores obtenidos para las resistencias eléctricas intrínsecas y
de contacto, fueron reflejados mediante la elaboración de un circuito eléctrico, en el
cual fueron designados un conjunto de puntos, de acuerdo a los tramos tomados en
consideración para el shunt. A continuación se muestra en la figura 36 los puntos
tomados en consideración:
TRAMO C – D (DESPUÉS DE RI4 Y ANTES DE RI77)

REQ 3
D C
TRAMO D – E (ENTRE RI77 Y RI80) TRAMO B – C (ENTRE RI1 Y RI4)

REQ4 REQ 2
E B
TRAMO E – F (ENTRE RC12 Y RP12) TRAMO A – B (ENTRE RC1 Y RP1)

REQ 5 REQ 1
F A
Figura 36 – Visualización de los tramos considerados para el estudio de los shunts.

61
En cuanto a los puntos establecidos, para la comparación entre los shunts
evaluados de manera experimental y teórica, fueron tomados en cuenta los tramos
comprendidos entre las barras conductoras del anillo de celdas, y las cuñas de
aluminio de los dispositivos resistores antes mencionados. Los puntos designados en
el circuito eléctrico del shunt se muestran a continuación:
ΔVA-F
REQ Barras
ΔVB-E
REQ
Shunt
Leyenda: A B E F
A: Nodo o punto
correspondiente a la barra
frontal del anillo de barras
conductoras de la celda
anterior.
B: Nodo o punto
correspondiente a la cuña de
aluminio dispuesta en la parte
frontal del shunt.
E: Nodo o punto
correspondiente a la cuña de
aluminio dispuesta en la parte
posterior del shunt.
F: Nodo o punto
correspondiente a la barra
frontal del anillo de barras
conductoras de la celda en
cocción. ΔVA-B ΔVE-F
REQ 1 REQ 5
Figura 37 – Puntos en consideración para la comparación de los shunts

evaluados de manera experimental y teórica.
Fuente: Autor.
Por su parte para el tramo C – D, correspondiente a las resistencias variables del

shunt, se estableció un esquema en el cual pudiera visualizarse con mayor facilidad el
62
flujo de corriente a través del mismo, permitiendo además establecer de manera más
sencilla la ecuación correspondiente al nodo C; mostrada en el capítulo siguiente. El
esquema utilizado fue el siguiente:
I1
VC VD
I2
I1 I6
I3
I4
REQ 3
ΔVC-D
Figura 38 – Visualización de los 4 tramos correspondientes a las resistencias variables del shunt, a
través de los cuales circula la corriente eléctrica en el tramo C–D.
Fuente: Autor.
Como puede notarse, los tramos principalmente considerados para el estudio de

los shunt fueron 6. Primeramente los tramos A-B y E-F corresponden a resistencias
eléctricas de contacto en las uniones 10 y 11. Seguidamente para los tramos B-C y
D-E, se tomaron en cuenta las resistencias intrínsecas y de contacto de la unión 9.
Para el tramo C-D, correspondiente a las 4 resistencias variables del shunt
conformadas por las uniones 5-1, 6-2, 7-3 y 8-4, se tomaron en cuenta todas las
resistencias eléctricas intrínsecas y de constricción generadas en las mismas.
Y por último se tiene el tramo A-F correspondiente a todas las resistencias

generadas por las uniones del shunt, a partir de las juntas superficiales 10 y 11. A
continuación se presenta en la figura 39 el circuito eléctrico del shunt, en donde se
demuestra la circulación de la corriente a través del mismo, y los tramos
considerados a objeto de estudio:
63
ΔVA-F
REQ Shunt
ΔVB-E
REQ Barras
RI8 RI9 RI10
I2 I2
RI11 RI12 RI13

RC3 RP3 RI5 RI6 RI7 RI20 RI21 RI22 RC4 RP4
REQ B
RI14 RI15 RI16
UNIÓN 5 UNIÓN 1
RI17 RI18 RI19
REQ A REQ C
I1 I3 RI26 RI27 RI28 I3 I1
RI29 RI30 RI31

REQ E
UNIÓN 10 UNIÓN 9 RI32 RI33 RI34 UNIÓN 9 UNIÓN 11
ΔVA-B ΔVB-C UNIÓN 6 UNIÓN 2 ΔVD-E ΔVE-F

RI35 RI36 RI37
REQ 1 REQ 2 REQ D REQ F REQ 4 REQ 5
RC1 RP1 RI1 RC2 RP2 RI2 RI3 RI4 RI77 RI78 RI79 RC11 RP11 RI80 RC12 RP12
C I4 RI44 RI45 RI46 I4

A B D E F
RI47 RI48 RI49
REQ H
RI50 RI51 RI52
Leyenda:
UNIÓN 7 UNIÓN 3
Resistencias eléctricas. RI53 RI54 RI55
REQ G REQ I
Flujo de corriente.
RI62 R63 RI64 I5
RC Designación de las resistencias eléctricas de
I5
constricción.
RI65 RI66 RI67
RP Designación de las resistencias eléctricas de RC9 RP9 RI59 RI60 RI61 RI74 RI75 RI76 RC10 RP10
película.
REQ K
RI68 RI69 RI70
RI Designación de las resistencias eléctricas
intrínsecas. UNIÓN 8 UNIÓN 4
RI71 RI72 RI73
ΔV Designación de la diferencia de potencial REQ J REQ L
(voltaje).
ΔVC-D
I Designación de la corriente eléctrica en los REQ 3 64
tramos.
Figura 39 – Circuito eléctrico del shunt.
Fuente: Autor.
También destaca del circuito eléctrico del shunt, la consideración de resistencias
eléctricas equivalentes distintas a los tramos en consideración, requeridas al momento
de determinar los valores desconocidos del voltaje en los nodos, y así poder
establecer la distribución de corriente del dispositivo resistor en cuestión.
Para la identificación de cada una de las resistencias equivalentes, será empleado

como criterio, los nodos o puntos que las comprenden, así como también las
designaciones de la primera y la última resistencia que las conforman. Así por
ejemplo, se tiene para la resistencia equivalente A, REQ A (RC3 a RI7).
Gráficos
A manera de demostración fue elaborado un gráfico de columna comparativo, en

el cual se reflejó la variación de la potencia eléctrica de cada uno de los shunts sujetos
a estudio, determinada durante la primera etapa del proceso de cocción. También se
elaboraron una serie de gráficos circulares seccionados, con la finalidad de visualizar
el porcentaje de la corriente de entrada que pasa a través de cada una de las
resistencias variables de los shunts, evaluados tanto de forma experimental como
teórica.
Tipo de análisis a realizar
En la presente investigación el análisis llevado a cabo es de contenido, ya que, se

verificaron los valores correspondientes a los parámetros adoptados para el cálculo de
las resistencias eléctricas de contacto, a fin de comparar los resultados obtenidos de
manera experimental, con los determinados de forma teórica. Simultáneamente se
realizó un análisis cuantitativo, con el objeto de establecer las discrepancias
existentes entre los valores de las resistencias eléctricas de contacto teóricas y reales
de los shunts, los cuales habían sido sometidos a labores de mantenimiento, con
respecto de aquellos que no fueron sometidos a dichas labores.
65
CAPÍTULO IV
RESULTADOS
Presentación de resultados
Torque de apriete
Los valores obtenidos de las mediciones llevadas a cabo en los pernos presentes en
las juntas apernadas de los shunts fueron los siguientes:
TORQUE DE APRIETE REAL - MA [lb.ft]

PERNO
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
SHUNT
1 170 100 120 80 190 100 80 160 130 130 260 180 10 40 25 25
2 140 170 160 170 230 160 50 190 60 160 130 120 10 10 10 10
5 180 180 120 60 160 120 110 110 180 240 200 80 80 260 250 160
6 40 40 130 60 70 60 50 30 120 120 80 60 170 187 210 180
7 50 150 110 90 170 30 40 40 120 100 180 133 20 50 57 100
8 50 70 40 20 50 70 70 50 53 10 80 70 190 250 230 240
10 60 100 20 40 40 70 51 30 130 150 180 90 100 110 105 105
11 110 110 110 60 180 30 70 100 90 130 90 150 160 100 160 220
12 20 60 80 90 20 70 50 110 110 140 180 170 180 70 90 20
Tabla 3 –Torque de apriete real de los pernos presentes en las juntas apernadas de los shunts.
Fuente: Autor.
Por su parte, los valores resaltados en amarillo representan aquellos torques que no
pudieron ser medidos, y que por lo tanto debieron ser promediados de acuerdo al
número de pernos presentes en las juntas apernadas del mismo tipo, con la finalidad
de determinar la fuerza de contacto presente en ellas.
66
Hay que resaltar, que los torques de apriete promediados fueron determinados a
partir de los valores obtenidos para las juntas apernadas de un mismo shunt. Por
ejemplo, para el perno 7 del shunt 10 correspondiente a la junta 3, su torque de
apriete real fue promediado a partir de los valores obtenidos en los 7 pernos medidos
de las juntas apernadas 1, 2, 3 y 4 del mismo dispositivo, como se muestra a
continuación:
(𝟔𝟎 + 𝟏𝟎𝟎 + 𝟐𝟎 + 𝟒𝟎 + 𝟒𝟎 + 𝟕𝟎 + 𝟑𝟎)𝐥𝐛. 𝐟𝐭

𝐌𝐀−𝟕 = = 𝟓𝟏 𝐥𝐛. 𝐟𝐭 (𝟐𝟎)
𝟕
Fuerza de contacto
Al momento de determinar la fuerza de contacto presente en las juntas apernadas

de los shunts, fueron tomaron a objeto de estudio, los valores del torque de apriete
obtenidos para los dispositivos 2 y 5. Se consideró el shunt 5, ya que el mismo había
sido sometido a un overhall o mantenimiento más profundo que el rutinario; en donde
fueron cambiados los bloques de aluminio que conforman las resistencias. Además
se estableció a objeto de comparación el shunt 2, que al igual que el resto de los
dispositivos resistores, fue sometido a un mantenimiento rutinario; el cual consiste
básicamente en la limpieza de los contactos eléctricos, ajuste del torque de apriete en
los pernos, y cambio de aislantes. Cabe destacar que para los shunts 2 y 5, fue
determinada la fuerza de contacto en cada uno de los pernos que conforman las juntas
apernadas; debido a las diferencias existentes en los torques de apriete de los
elementos de sujeción.
Referente a los resultados obtenidos para la fuerza de contacto en los pernos del
shunt en condiciones ideales, los mismos corresponden a los valores mayores
obtenidos en los pernos de los dispositivos 2 y 5, considerando las juntas del mismo
tipo. Así se tiene por ejemplo, que para el grupo de pernos 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7 y 8
(juntas 1, 2, 3 y 4) pertenecientes a los shunts 2 y 5, corresponde una fuerza de
67
contacto ideal por perno de 1,88 E+04; el cual fue el mayor valor (FC-MÁX (GRUPO DE
PERNOS) ) obtenido en los cálculos para los dispositivos antes mencionados. En base a lo
anterior, la fuerza de contacto ideal para una determinada junta apernada del shunt
(FC-JUNTA), se expresa de la siguiente forma:
𝐅𝐂−𝐉𝐔𝐍𝐓𝐀 = 𝐅𝐂−𝐌Á𝐗 (𝐆𝐑𝐔𝐏𝐎 𝐃𝐄 𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎𝐒) ∗ # 𝐝𝐞 𝐩𝐞𝐫𝐧𝐨𝐬 𝐞𝐧 𝐥𝐚 𝐣𝐮𝐧𝐭𝐚 𝐚𝐩𝐞𝐫𝐧𝐚𝐝𝐚 (𝟐𝟏)
Los valores obtenidos fueron los siguientes:
FUERZA DE CONTACTO - Fc [N]
SHUNT 2 5 Ideal
ELEMENTO (S)
Perno 1 1,15 E+04 1,47 E+04 1,88 E+04
Perno 2 1,39 E+04 1,47 E+04 1,88 E+04
Perno 3 1,31 E+04 9,82 E+03 1,88 E+04
Perno 4 1,39 E+04 4,91 E+03 1,88 E+04
Perno 5 1,88 E+04 1,31 E+04 1,88 E+04
Perno 6 1,31 E+04 9,82 E+03 1,88 E+04
Perno 7 4,09 E+03 9,01 E+03 1,88 E+04
Perno 8 1,56 E+04 9,01 E+03 1,88 E+04
Perno 9 4,91 E+03 1,47 E+04 1,96 E+04
Perno 10 1,31 E+04 1,96 E+04 1,96 E+04
Perno 11 1,06 E+04 1,64 E+04 1,96 E+04
Perno 12 9,82 E+03 6,55 E+03 1,96 E+04
Perno 13 8,19 E+02 6,55 E+03 2,13 E+04
Perno 14 8,19 E+02 2,13 E+04 2,13 E+04
Perno 15 8,19 E+02 2,05 E+04 2,13 E+04
Perno 16 8,19 E+02 1,31 E+04 2,13 E+04
Juntas 1,2,3 y 4 3,77 E+04
Juntas 5,6,7 y 8 1,96 E+04
Junta 9 8,51 E+04
Juntas 10 y 11 8,56 E+02 8,56 E+02 4,28 E+04
Tabla 4 – Fuerza de contacto en lo pernos y juntas de los shunts sujetos a estudio.

Fuente: Autor.
68
Por su parte, para el caso de las juntas superficiales que conforman los shunts 2 y
5, correspondientes a las uniones 10 y 11, el valor real de la fuerza de contacto fue
tomado a partir de la descomposición del peso total del shunt en dos fuerzas de igual
magnitud, y normales a las caras de contacto eléctrico entre las barras conductoras y
las cuñas de aluminio, obteniéndose el siguiente resultado:
𝐅𝐂 = 𝟖, 𝟓𝟔 𝐄 + 𝟐 𝐍
En lo que respecta al peso teórico total del shunt, se sumaron los pesos unitarios de
los elementos constituyentes del mismo, establecidos en los planos de fabricación, en
donde se obtuvo un valor aproximado de:
𝐏 = 𝟑𝟑𝟑𝟒, 𝟖𝟑 𝐊𝐠. 𝐟 = 𝟑𝟐𝟕𝟏𝟒, 𝟔𝟖 𝐍
La fuerza ejercida por el peso se encuentra definida por la siguiente ecuación:
𝐦
𝐏 = 𝐦. 𝐠 = 𝐌𝐚𝐬𝐚 𝐝𝐞𝐥 𝐬𝐡𝐮𝐧𝐭 [𝐊𝐠]. 𝐀𝐜𝐞𝐥𝐞𝐫𝐚𝐜𝐢ó𝐧 𝐝𝐞 𝐠𝐫𝐚𝐯𝐞𝐝𝐚𝐝 � 𝟐 � (𝟐𝟐)
𝐬
El resultado obtenido para las juntas superficiales fue comparado con el de un

shunt en condiciones ideales, en el cual se tomó como criterio de cálculo la presión de
contacto optimizada (PÓPTIMA); cuyo valor corresponde al recomendado por el
fabricante de juntas mecánicas Eriflex. Se empleó la siguiente expresión:
𝐅𝐜 = 𝐏Ó𝐏𝐓𝐈𝐌𝐀 . 𝐀 𝐜 = 𝟒, 𝟐𝟖𝐄 + 𝟒 𝐍 (𝟐𝟑)
Por último, para la obtención de los valores anteriores fueron empleadas las
ecuaciones 1 y 2 en las juntas apernadas, mientras que también se utilizó la ecuación
3 en las de tipo superficial, en donde se tomó en cuenta el peso total del shunt.
69
Rugosidad superficial
Para el caso de la rugosidad superficial, se tomaron en cuenta de las mediciones

realizadas, los valores obtenidos para el sistema RZ, de acuerdo a la designación
establecida para cada una de las superficies de los elementos en consideración. Los
valores obtenidos se muestran a continuación:
RUGOSIDAD SUPERFICIAL REAL - d [µm]
ELEMENTO A ELEMENTO B ELEMENTO C-I ELEMENTO C-H
50,5 34,9 5,4 4,6
Tabla 5 – Rugosidad superficial presente en las superficies de contacto eléctrico consideradas.

Fuente: Autor.
Hay que resaltar, que los valores obtenidos para los elementos A y B fueron
intercambiados, motivado a los efectos del presente estudio, en donde la rugosidad
superficial del primer elemento debe ser en teoría mucho menor a la del segundo.
Además como se había mencionado anteriormente, las mediciones en el elemento B
tuvieron que realizarse en la cara de contacto eléctrico opuesta, debido a la delicadeza
del elemento de palpado presente en el equipo de medición (rugosimetro).Los valores
obtenidos, fueron adoptados como aproximaciones del espesor de película en las
juntas apernadas y superficiales del shunt; el cual es requerido a la hora de determinar
la resistencia de película.
Para el shunt 2, se emplearon los valores obtenidos para los elementos A y B, sin
embargo, para el shunt 5, se estableció el valor promedio (5µm) de las rugosidades
presentes en las superficies horizontal e inclinada del elemento C, correspondiente a
la rugosidad de los bloques de aluminio una vez esmerilados durante el
mantenimiento extraordinario (overhall) llevado a cabo en las resistencias variables.
70
Resistencias eléctricas de contacto
Primeramente, para la resistencia eléctrica de contacto por constricción fueron

obtenidos los siguientes resultados:
RESISTENCIA DE CONSTRICCIÓN - RC [µΩ]
SHUNT 2 5 Ideal
ELEMENTO (S)
Perno 1 0,11 0,10 0,09
Perno 2 0,10 0,10 0,09
Perno 3 0,10 0,12 0,09
Perno 4 0,10 0,17 0,09
Perno 5 0,09 0,10 0,09
Perno 6 0,10 0,12 0,09
Perno 7 0,18 0,12 0,09
Perno 8 0,09 0,12 0,09
Perno 9 0,17 0,10 0,08
Perno 10 0,10 0,08 0,08
Perno 11 0,11 0,09 0,08
Perno 12 0,12 0,15 0,08
Perno 13 0,41 0,15 0,08
Perno 14 0,41 0,08 0,08
Perno 15 0,41 0,08 0,08
Perno 16 0,41 0,10 0,08
Junta 1 (RC4) 0,10 0,10 0,06
Junta 2 (RC6) 0,10 0,11 0,06
Junta 3 (RC8) 0,14 0,12 0,06
Junta 4 (RC10) 0,10 0,15 0,06
Junta 5 (RC3) 0,17 0,10 0,08
Junta 6 (RC5) 0,10 0,08 0,08
Junta 7 (RC7) 0,11 0,09 0,08
Junta 8 (RC9) 0,12 0,15 0,08
Junta 9 (RC2 Y RC11) 0,41 0,10 0,04
Juntas 10 y 11 (RC1 Y RC12) 0,50 0,50 0,07
Tabla 6 – Resistencia eléctrica de constricción en los pernos y juntas de los shunts.

Fuente: Autor.
71
Para la obtención de los valores de las resistencias eléctricas de contacto por
constricción, se empleó la designación establecida en el circuito eléctrico del shunt.
Hay que resaltar, para los valores obtenidos en las juntas apernadas del shunt en
condiciones ideales, la utilización de la fuerza de apriete total ejercida por los pernos
presentes en las mismas. Por ejemplo, para la junta 1 se tiene la siguiente fuerza de
contacto ideal:
𝐅𝐂−𝐣𝐮𝐧𝐭𝐚 𝟏 = 𝐅𝐂−𝐩𝐞𝐫𝐧𝐨 𝟏 + 𝐅𝐂−𝐩𝐞𝐫𝐧𝐨 𝟓 (𝟐𝟒)
Los valores de la fuerza de contacto ideal obtenidos a partir de la expresión

anterior, fueron sustituidos en la ecuación 4 para la determinación de la resistencia de
constricción ideal en cada una de las juntas apernadas del shunt.
También fue tomado en cuenta para el cálculo en las juntas apernadas de los
shunts 2 y 5, el promedio de las resistencias de constricción de los pernos presentes
en cada una de ellas. Primeramente para las uniones entre las barras de cobre y las
cuñas de aluminio (junta apernada 9), se obtuvieron los siguientes resultados:
(𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟏𝟑 ) + (𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟏𝟒 ) + (𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟏𝟓 ) + (𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟏𝟔 ) (25)

𝐑 𝐂𝟐 = 𝐑 𝐂𝟏𝟏 =
𝟒
(𝟎, 𝟒𝟏 + 𝟎, 𝟒𝟏 + 𝟎, 𝟒𝟏 + 𝟎, 𝟒𝟏)µ𝛀
𝐑 𝐂𝟐 = 𝐑 𝐂𝟏𝟏 = = 𝟎, 𝟒𝟏 µ𝛀 (𝐒𝐡𝐮𝐧𝐭 𝟐)
𝟒
𝐑 𝐂𝟐 = 𝐑 𝐂𝟏𝟏 = 𝟎, 𝟏𝟎 µ𝛀 (𝐒𝐡𝐮𝐧𝐭 𝟓)
En cambio para las juntas 5, 6, 7 y 8 conformadas por los bloques de aluminio y

las barras de bronce de tuercas fijas del shunt 2, se obtuvieron los siguientes valores:
𝐑 𝐂𝟑 = 𝟎, 𝟏𝟎 µ𝛀; 𝐑 𝐂𝟓 = 𝟎, 𝟏𝟎 µ𝛀;
72
𝐑 𝐂𝟕 = 𝟎, 𝟏𝟒 µ𝛀; 𝐑 𝐂𝟗 = 𝟎, 𝟏𝟎 µ𝛀
Por su parte para el shunt 5 los valores determinados fueron:
𝐑 𝐂𝟑 = 𝟎, 𝟏𝟎 µ𝛀; 𝐑 𝐂𝟓 = 𝟎, 𝟏𝟏 µ𝛀;
𝐑 𝐂𝟕 = 𝟎, 𝟏𝟐 µ𝛀; 𝐑 𝐂𝟗 = 𝟎, 𝟏𝟓 µ𝛀
Seguidamente para las juntas 1, 2, 3 y 4 conformadas por los bloques de aluminio

y las barras de bronce de tuercas móviles del shunt 2, fueron obtenidos los siguientes
resultados:
(𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟏 ) + (𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟓 ) (𝟎, 𝟏𝟏 + 𝟎, 𝟎𝟗)µ𝛀

𝐑 𝐂𝟒 = = = 𝟎, 𝟏𝟎 µ𝛀 (𝟐𝟔)
𝟐 𝟐
(𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟐 ) + (𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟔 ) (𝟎, 𝟏𝟎 + 𝟎, 𝟏𝟎)µ𝛀

𝐑 𝐂𝟔 = = = 𝟎, 𝟏𝟎 µ𝛀
𝟐 𝟐
(𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟑 ) + (𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟕 ) (𝟎, 𝟏𝟎 + 𝟎, 𝟏𝟖)µ𝛀

𝐑 𝐂𝟖 = = = 𝟎, 𝟏𝟒 µ𝛀
𝟐 𝟐
(𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟒 ) + (𝐑 𝐂−𝐏𝐄𝐑𝐍𝐎 𝟖 ) (𝟎, 𝟏𝟎 + 𝟎, 𝟎𝟗)µ𝛀

𝐑 𝐂𝟏𝟎 = = = 𝟎, 𝟏𝟎 µ𝛀
𝟐 𝟐
Para el shunt 5:
𝐑 𝐂𝟒 = 𝟎, 𝟏𝟎 µ𝛀; 𝐑𝐂𝟔 = 𝟎, 𝟏𝟏 µ𝛀
𝐑 𝐂𝟖 = 𝟎, 𝟏𝟐 µ𝛀; 𝐑𝐂𝟏𝟎 = 𝟎, 𝟏𝟓 µ𝛀
73
Seguidamente para las juntas 10 y 11, el valor correspondiente a las resistencias
eléctricas de constricción en base al peso total del shunt es el siguiente:
𝐑 𝐂𝟏 = 𝐑 𝐂𝟏𝟐 = 𝟎, 𝟓𝟎 µ𝛀
Cabe destacar que en la obtención del valor anterior, no se tomó en cuenta la

acción de la fuerza de apriete ejercida por los pernos ubicados en el sitio de encaje de
los shunts en el anillo de barras conductoras. Por su parte, para el cálculo de los
valores de la resistencia de constricción en las juntas apernadas de los shunts 2 y 5,
también fue empleada la ecuación 4.
En cuanto a la determinación de la resistencia eléctrica de película, a diferencia de

la de constricción, fue determinada solamente para las juntas del shunt, al no verse
influenciada la misma, por la diferencia en los torques de apriete de los pernos. Los
valores fueron determinados a través de la ecuación 5, en donde se utilizó un espesor
de película de 3,5 µΩ recomendado por el fabricante de juntas mecánicas Eriflex para
el shunt en condiciones ideales. En cambio para los shunts 2 y 5, fueron aproximados
los valores medidos para la rugosidad superficial de los bloques de aluminio de las
resistencias variables, como los espesores de película referenciales. Los resultados
obtenidos fueron los siguientes:
ESPESOR DE PELÍCULA - d [µΩ]
SHUNT
2 5 Ideal
JUNTA (S)
JUNTAS 1, 2, 3 y 4 34,90 5 3,20

JUNTAS 5, 6, 7 y 8 50,50 5 3,20
JUNTA 9 34,90 34,90 3,20
JUNTAS 10 y 11 34,90 34,90 3,20
Tabla 7 – Espesor de película asumido en las juntas de los shunts.

Fuente: Autor.
74
RESISTENCIA DE PELÍCULA - RP [µΩ]
SHUNT
2 5 Ideal
JUNTA (S)
JUNTA 1 (RP4), 2 (RP6), 3 (RP8) y 4 (RP10) 56,74 8,13 5,20

JUNTA 5 (RP3),6 (RP5),7 (RP7) y 8 (RP9) 65,16 6,45 4,13
JUNTA 9 (RP2 Y RP11) 9,78 9,78 0,90
JUNTA 10 y 11 (RP1 Y RP12) 5,41 5,41 0,50
Tabla 8 – Resistencia eléctrica de película en las juntas de los shunts.

Fuente: Autor.
Ya determinadas las resistencias de contacto por constricción y de película en los

shunts sujetos a estudio, se obtuvo el valor total de las mismas para cada una de las
juntas como se muestra a continuación:
RESISTENCIA ELÉCTRICA DE CONTACTO TOTAL [µΩ]
JUNTA (S)
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 y 11
SHUNT
2 56,84 56,84 56,88 56,83 65,32 65,26 65,27 65,27 10,19 5,91
5 8,23 8,24 8,25 8,27 6,55 6,53 6,54 6,60 9,88 5,91
IDEAL 5,26 4,21 0,94 0,57
Tabla 9 – Resistencia eléctrica de contacto total en las juntas de los shunts.

Fuente: Autor.
Se tomo en cuenta a la hora de determinar la resistencia eléctrica de contacto total,

que las resistencias de película y de constricción se encuentran conectadas en serie,
de acuerdo a la ecuación 6. A continuación se muestra un ejemplo, para el cálculo de
la resistencia eléctrica de contacto total en la unión 1 del shunt 2:
𝐝 𝛒
𝐑 𝐂−𝐔𝐍𝐈Ó𝐍 𝟏 = 𝛒𝐜𝐨𝐧𝐭 + � � [𝛑𝐇/𝐅]𝟏/𝟐 = 𝐑𝐏𝟒 + 𝐑𝐂𝟒 = 𝟓𝟔, 𝟕𝟒 𝛀 + 𝟎, 𝟏𝟎 𝛀 = 𝟓𝟔, 𝟖𝟒 𝛀
𝐀 𝟐
75
Resistencias eléctricas intrínsecas
Para la obtención de las resistencias eléctricas intrínsecas, se tomaron en cuenta las

dimensiones de los elementos conductores del shunt, establecidas en los planos de
fabricación, así como también fueron utilizados valores para las resistividades
eléctricas y sus respectivos coeficientes, de acuerdo al tipo de material utilizado. Los
valores obtenidos, al igual que el caso de las resistencias eléctricas de contacto por
constricción y de película, fueron designados de acuerdo a la nomenclatura
establecida en el circuito eléctrico del shunt, tomando en cuenta que las 4 resistencias
variables del mismo deben estar conectadas, a manera de determinar la influencia de
de los contactos eléctricos en la distribución de corriente. Los resultados obtenidos
fueron los siguientes:
RESISTENCIA ELÉCTRICA INTRÍNSECA TEÓRICA [µΩ].

PRIMERA ETAPA DEL PROCESO DE COCCIÓN ELÉCTRICA.
ρt1 ρt2 Área

t2 α2 Longitud Ancho Alto RI
Elemento conductor Material (µΩ.m) (µΩ.m) transversal
(°K) (1 x 10-3 °K) (m) (m) (m) (µΩ)
(20 °C) (m2)
Cuña frontal – Junta 10
Plato G (RI1) ÁSV 1027 EC 0,0267 1123 0,0045 0,126 0,292 0,450 0,200 0,076 0,48
Barra 1 – Junta 9 (Frontal)
Plato A (RI2) El - Cu - F20 0,0169 1123 0,0043 0,077 0,100 0,380 0,080 0,017 0,46
Plato B (RI3) El - Cu - F21 0,0169 1123 0,0043 0,077 0,430 0,380 0,080 0,030 1,09
Plato C (RI4) El - Cu - F22 0,0169 1123 0,0043 0,077 0,040 0,400 0,800 0,320 0,01
Bloque 1 – Junta 5
Plato L (RI5) ÁSV 1027 EC 0,0267 1123 0,0045 0,126 0,050 0,100 0,200 0,013 0,48
Plato L (RI23) ÁSV 1027 EC 0,0267 1123 0,0045 0,126 0,050 0,100 0,200 0,013 0,48
Plato L (RI41) ÁSV 1027 EC 0,0267 1123 0,0045 0,126 0,050 0,100 0,200 0,013 0,48
Plato L (RI59) ÁSV 1027 EC 0,0267 1123 0,0045 0,126 0,050 0,100 0,200 0,013 0,48
Bimetálico – Junta 5
Plato 13 x 100 x 100 (RI6) Al 0,0267 493 0,0045 0,051 0,013 0,100 0,100 0,100 0,01
Plato 25 x 100 x 100 (RI7) St 0,101 493 0,0065 0,232 0,025 0,100 0,100 0,100 0,06
76
Plato 13 x 100 x 100 (RI24) Al 0,0267 493 0,0045 0,051 0,013 0,100 0,100 0,100 0,01
Plato 25 x 100 x 100 (RI25) St 0,101 493 0,0065 0,232 0,025 0,100 0,100 0,100 0,06
Plato 13 x 100 x 100 (RI42) Al 0,0267 493 0,0045 0,051 0,013 0,100 0,100 0,100 0,01
Plato 25 x 100 x 100 (RI43) St 0,101 493 0,0065 0,232 0,025 0,100 0,100 0,100 0,06
Plato 13 x 100 x 100 (RI60) Al 0,0267 493 0,0045 0,051 0,013 0,100 0,100 0,100 0,01
Plato 25 x 100 x 100 (RI61) St 0,101 493 0,0065 0,232 0,025 0,100 0,100 0,100 0,06
Resistencias
Resistencia 1 (Juntas 5 y 1)
Resistencia a
Lámina A (Frontal) (RI8) St (Asumido) 0,101 713 0,0065 0,646 1,585 0,012 0,100 0,001 497,59
Lámina B (Intermedia) (RI9) St (Asumido) 0,101 398 0,0065 0,170 0,287 0,012 0,100 0,001 40,64
Lámina A (Posterior) (RI10) St (Asumido) 0,101 713 0,0065 0,646 1,585 0,012 0,100 0,001 497,59
Resistencia b
Resistencia c
Resistencia d
Resistencia a
Resistencia b
Resistencia c
Resistencia d
77
Resistencia a
Resistencia b
Resistencia c
Resistencia d
Resistencia a
Resistencia b
Resistencia c
Resistencia d
Plato 25 x 100 x 100 (RI20) St 0,101 493 0,0065 0,232 0,025 0,100 0,100 0,100 0,06
Plato 13 x 100 x 100 (RI21) Al 0,0267 493 0,0045 0,051 0,013 0,100 0,100 0,100 0,01
78
Plato 25 x 100 x 100 (RI38) St 0,101 493 0,0065 0,232 0,025 0,100 0,100 0,100 0,06
Plato 13 x 100 x 100 (RI39) Al 0,0267 493 0,0045 0,051 0,013 0,100 0,100 0,100 0,01
Plato 25 x 100 x 100 (RI56) St 0,101 493 0,0065 0,232 0,025 0,100 0,100 0,100 0,06
Plato 13 x 100 x 100 (RI57) Al 0,0267 493 0,0045 0,051 0,013 0,100 0,100 0,100 0,01
Plato 25 x 100 x 100 (R74) St 0,101 493 0,0065 0,232 0,025 0,100 0,100 0,100 0,06
Plato 13 x 100 x 100 (R75) Al 0,0267 493 0,0045 0,051 0,013 0,100 0,100 0,100 0,01
Barra – Junta 1
Plato L (RI22) ÁSV 1027 EC 0,0267 1123 0,0045 0,126 0,050 0,100 0,200 0,013 0,48
Barra – Junta2
Plato L (RI40) ÁSV 1027 EC 0,0267 1123 0,0045 0,126 0,050 0,100 0,200 0,013 0,48
Barra – Junta 3
Plato L (RI58) ÁSV 1027 EC 0,0267 1123 0,0045 0,126 0,050 0,100 0,200 0,013 0,48
Barra – Junta 4
Plato L (R76) ÁSV 1027 EC 0,0267 1123 0,0045 0,126 0,050 0,100 0,200 0,013 0,48
Barra 2 – Junta 9 (Posterior)
Plato D (R77) El - Cu - F20 0,0169 1123 0,0043 0,077 0,040 0,400 0,800 0,320 0,01
Plato E (R78) El - Cu - F21 0,0169 1123 0,0043 0,077 0,430 0,380 0,080 0,030 1,09
Plato F (R79) El - Cu - F22 0,0169 1123 0,0043 0,077 0,100 0,380 0,080 0,017 0,46
Cuña posterior – Junta 11
Plato G (RI80) ÁSV 1027 EC 0,0267 1123 0,0045 0,126 0,292 0,450 0,200 0,076 0,48
Tabla 10 – Resistencia eléctrica intrínseca de los elementos conductores del shunt.

Fuente: Autor.
Hay que resaltar, que a pesar de ser diferentes las condiciones establecidas para el
shunt 3 empleado durante la cocción de la celda CV-5, pueden considerarse similares
a la hora de evaluar los dispositivos resistores empleados en las celdas Hal-230. En el
caso especial de las resistencias variables, representadas por las láminas de acero
(frontal, intermedia y superior), se tomaron en cuenta temperaturas promedios para la
realización de los cálculos. Por último, fue empleada la ecuación 9 para la
determinación de los valores, obtenida a partir de la Ley de Ohm, establecida en las
expresiones 7 y 8.
79
Descripción de resultados
Una vez determinadas las resistencias eléctricas de los shunts, se procedió a la

determinación de la distribución de corriente en los mismos, lo cual genera una carta
de voltaje. Dicha carta es obtenida mediante la resolución de un sistema de
ecuaciones lineales, obtenido a partir de la aplicación de la Ley de Ohm y la primera
Ley de Kirchhoff en cada uno de los nodos del circuito eléctrico del shunt.
Los resultados obtenidos fueron comparados con los valores de la diferencia de

potencial, en los tramos medidos experimentalmente para los shunts 1 y 3, empleados
durante la cocción de la celda 932, como se muestra a continuación:
VOLTAJE – DIFERENCIA DE POTENCIAL [V]
SHUNT
2 5 IDEAL 1 3
PARÁMETRO
VA 4,61 3,65 2,58
VB 4,41 3,45 2,56
VC 3,98 3,03 2,46
VD 0,64 0,62 0,12
VE 0,21 0,21 0,02
VF 0 0 0
ΔVA-B 0,21 0,21 0,02 0,02 0,07
ΔVB-E 4,20 3,24 2,54 3,27 3,32
ΔVE-F 0,21 0,21 0,02 0,04 0,02
ΔVA-F 4,61 3,65 2,58 3,34 3,44
ΔVB-C 0,43 0,42 0,10
ΔVD-E 0,43 0,42 0,10
ΔVC-D 3,34 2,40 0,34
Tabla 11 – Voltajes y diferencia de potencial presente en los diferentes nodos y tramos

establecidos en los shunts sujetos a estudio.
Fuente: Autor.
Para la determinación del voltaje en los nodos o puntos establecidos en el circuito

eléctrico del shunt, se emplearon un conjunto de 5 ecuaciones lineales derivadas de la
80
leyes de Ohm y de Kirchhoff antes mencionadas, las cuales conformaron un sistema
de ecuaciones lineales al ser igualadas a cero; de donde fueron obtenidos los valores
de las incógnitas (voltajes). Las ecuaciones obtenidas por nodo fueron las siguientes:
Nodo A:
𝐕𝐀 − 𝐕𝐁 𝐕𝐀 − 𝐕𝐁
𝟑𝟓 𝐊𝐀 = → − 𝟑𝟓 𝐊𝐀 = 𝟎
𝐑𝐄𝐐 𝟏 𝐑𝐄𝐐 𝟏
Nodo B:
𝐕𝐁 − 𝐕𝐂 𝐕𝐁 − 𝐕𝐂
𝟑𝟓 𝐊𝐀 = → − 𝟑𝟓 𝐊𝐀 = 𝟎
𝐑𝐄𝐐 𝟐 𝐑𝐄𝐐 𝟐
Nodo C:
𝐕𝐂 − 𝐕𝐃 𝐕𝐂 − 𝐕𝐃
𝟑𝟓 𝐊𝐀 = → − 𝟑𝟓 𝐊𝐀 = 𝟎
𝐑𝐄𝐐 𝟑 𝐑𝐄𝐐 𝟑
Nodo D:
𝐕𝐃 − 𝐕𝐄 𝐕𝐃 − 𝐕𝐄
𝟑𝟓 𝐊𝐀 = → − 𝟑𝟓 𝐊𝐀 = 𝟎
𝐑𝐄𝐐 𝟒 𝐑𝐄𝐐 𝟒
Nodo E:
𝐕𝐄 − 𝐕𝐅 𝐕𝐄 − 𝐕𝐅
𝟑𝟓 𝐊𝐀 = → − 𝟑𝟓 𝐊𝐀 = 𝟎
𝐑𝐄𝐐 𝟓 𝐑𝐄𝐐 𝟓
Cabe destacar que el voltaje del punto F fue asumido como cero, al ser
considerado como el punto de referencia, ya que a través de él pasará el flujo de
corriente proveniente del shunt hacia la celda siguiente, debido a la fuerza
electromotriz ejercida por los electrones en el punto A. También hay que considerar
que la diferencia de potencial entre 2 puntos debe ser siempre positiva, a manera de
garantizar que la corriente de entrada del shunt siga siendo del mismo sentido, a
medida que atraviesa el conjunto de resistencias variables. Dicha suposición
garantizará además la resolución del sistema de ecuaciones, al poseer 5 ecuaciones
para el mismo número de incógnitas (voltajes). El método de resolución empleado fue
el de sustitución.
81
Para la aplicación de dicho método se empleó la función solver del programa
Microsoft Excel, la cual permite realizar un amplio número de interacciones, a fin de
encontrar los valores que satisfagan las ecuaciones establecidas para cada una de las
incógnitas. Seguidamente, para las resistencias eléctricas equivalentes de los shunts,
fueron obtenidos los siguientes resultados:
RESISTENCIA ELÉCTRICAS EQUIVALENTES [µΩ]
SHUNT
2 5 IDEAL 1 3
PARÁMETRO
REQ 1 (A-B) ó (RC1 a RP1) 5,91 5,91 0,57 0,80 1,31
REQ 2 (B-C) ó (RI1 a RI4) 12,24 11,93 2,98
REQ 3 (C-D) ó (RC3 a RP10) 90,54 68,71 67,76
REQ 4 (D-E) ó (RI77 a RI80) 12,24 11,93 2,98
REQ 5 (E-F) ó (RC12 a RP12) 5,91 5,91 0,57 1,31 1,18
REQ Shunt (B-E) ó (RI1 a RI80) 120,03 92,58 73,73 106,88 150,27
REQ Conexiones 43,46 16,01 7,85 85,90 132,08
REQ St 64,74 64,74 64,74 18,87 13,69
REQ Barras (A-F) ó (RC1 a RP12) 131,85 104,40 74,86
REQ A (RC3 a RI7) 65,87 7,09 6,26
REQ B – Rst (RI8 a RI19) 258,96 258,96 258,96 80,7 62,50
REQ C (RI20 a RP4) 57,38 8,77 5,81
REQ D (RC5 a RI25) 65,80 7,08 6,26
REQ E – Rst (RI26 a RI37) 258,96 258,96 258,96 73,87 62,52
REQ F (RI38 a RP6) 57,38 8,78 5,81
REQ G (RC7 a RI43) 65,81 7,09 6,26
REQ H – Rst (RI44 a RI55) 258,96 258,96 258,96 73,87 39,96
REQ I (RI56 a RP8) 57,42 8,79 5,81
REQ J (RC9 a RI61) 65,82 7,14 6,26
REQ K – Rst (RI62 a RI73) 258,96 258,96 258,96 73,87 62,52
REQ L (RI74-RP10) 57,38 8,82 5,81
Tabla 12 – Resistencias equivalentes establecidas en los tramos de los shunts sujetos a estudio.
Fuente: Autor.
82
Ya obtenidos los valores para las resistencias eléctricas equivalentes y la
diferencia de potencial por tramos, se procedió a la determinación de la intensidad de
corriente que pasa a través de las resistencias variables, determinando así la
distribución de la misma a través de los shunts. Los resultados obtenidos se muestran
a continuación:
CORRIENTE ELÉCTRICA [KA]
SHUNT
2 5 IDEAL 1 3
PARÁMETRO
I1 35 35 35 31,25 22,90
I2 8,75 8,75 8,75 6,66 8,64
I3 8,75 8,75 8,75 7,69 11,07
I4 8,75 8,75 8,75 9,04 0,06
I5 8,75 8,75 8,75 8,40 9,24
Tabla 13 – Intensidad de corriente a través de cada uno de los tramos de los shunts sujetos a estudio.
Fuente: Autor.
Cabe destacar que para los shunts 1 y 3 evaluados de forma experimental, se tomó
en cuenta la corriente de entrada real, calculada a partir de la diferencia de potencial
del shunt, y la resistencia equivalente del mismo, parámetros obtenidos durante la
cocción de la celda 932. Seguidamente a partir de los valores del voltaje, y de las
resistencias equivalentes por tramo, se determinó la intensidad de corriente a través
de cada resistencia variable, en donde se tiene por ejemplo para las juntas 1 y 5 del
shunt en condiciones ideales lo siguiente:
𝐕𝐂 − 𝐕𝐃 𝟐, 𝟒𝟔 𝐕 − 𝟎, 𝟏𝟐 𝐕
𝐈𝟐 = =� � . 𝟏𝟎𝟎𝟎
𝐑𝐄𝐐𝐀 + 𝐑𝐄𝐐𝐁 + 𝐑𝐄𝐐𝐂 𝟔, 𝟐𝟔µ𝛀 + 𝟐𝟓𝟖, 𝟗𝟔µ𝛀 + 𝟓, 𝟖𝟏µ𝛀
𝐈𝟐 = 𝟖, 𝟕𝟓 𝐊𝐀
Seguidamente se muestran en las figuras 40, 41 y 42 la distribución de corriente en

los shunts 2, 5 y en condiciones ideales:
83
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
I2 = 8,75 KA I2 = 8,75 KA
SHUNT 5
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
0,10 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 8,13 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
6,45 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,10µΩ

497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
I3 = 8,75 KA 497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ I3 = 8,75 KA
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

0,08 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 8,13 µΩ
I1 = 35 KA
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
I1 = 35 KA
6,45 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,11 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
5,41 µΩ 0,10 µΩ 0,46 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,46 µΩ 9,78 µΩ 0,50 µΩ

A B C D E F
I4 = 8,75 KA 497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ I4 = 8,75 KA

497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

3,65 V 0,09 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 8,13 µΩ
104,40 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
3,24 V 6,45 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,12 µΩ REQI1 = 274,83 µΩ

92,28 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
I5 = 8,75 KA 497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ I5 = 8,75 KA REQI2 = 274,82 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

0,15 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 8,13 µΩ
REQI3 = 274,84 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
6,45 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,15 µΩ

497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
REQI4 = 274,92 µΩ
2,40 V
68,71 µΩ
0,21 V 0,21 V Figura 40 – Circuito eléctrico del shunt 5. 84

5,91 µΩ 5,91 µΩ
Fuente: Autor.
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
I2 = 8,75 KA I2 = 8,75 KA
SHUNT 2
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
0,17 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 56,74 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
65,16 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,10 µΩ

497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

I3 = 8,75 KA I3 = 8,75 KA
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
0,10 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 56,74 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

I1 = 35 KA I1 = 35 KA
65,16 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,10 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

A B C D E F
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
5,41 µΩ 0,41 µΩ 0,46 µΩ 0,01 µΩ
I4 = 8,75 KA I4 = 8,75 KA 1,09 µΩ 0,41 µΩ 0,48 µΩ 5,41 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

4,61 V
131,85µΩ 0,11 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 56,74 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

4,20 V
120,03µΩ 65,16 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,14 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ REQI1 = 382,21 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

I5 = 8,75 KA I5 = 8,75 KA
REQI2 = 382,14 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
0,12 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 56,74 µΩ

REQI3 = 382,20 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
65,16 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,10 µΩ

497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
REQI4 = 382,16 µΩ
3,34 V
95,54 µΩ
0,21 V 0,21 V Figura 41 – Circuito eléctrico del shunt 2.
5,91 µΩ 5,91 µΩ 85
Fuente: Autor.
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
I2 = 8,75 KA I2 = 8,75 KA
SHUNT IDEAL
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
0,08 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 5,20 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
4,13 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,06 µΩ

497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ I3 = 8,75 KA

I3 = 8,75 KA
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
0,08 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 5,20 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

I1 = 35 KA I1 = 35 KA
4,13 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,06 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
0,07 µΩ 0,48 µΩ 0,90 µΩ 1,09 µΩ 0,01 µΩ 0,46 µΩ 0,90µΩ 0,07 µΩ

A B C E F
D
I4 = 8,75 KA 497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
0,50 µΩ 0,04 µΩ 0,46 µΩ 0,01 µΩ I4 = 8,75 KA 1,09 µΩ 0,04 µΩ 0,48 µΩ 0,50 µΩ
2,58 V 497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

74,86 µΩ
0,08 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 5,20 µΩ
2,54 V 497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

73,73 µΩ
4,13 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,06 µΩ
REQI1 = 271,03 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

I5 = 8,75 KA I5 = 8,75 KA REQI2 = 271,03 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ

0,08 µΩ 0,48 µΩ 0,06 µΩ 0,06 µΩ 0,48 µΩ 5,20 µΩ
REQI3 = 271,03 µΩ
497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
4,13 µΩ 0,01 µΩ 0,01 µΩ 0,06 µΩ

497,5µΩ 40,6µΩ 497,5µΩ
REQI4 = 271,03 µΩ
2,34 V
67,76 µΩ
0,02 V 0,02 V
0,57 µΩ 0,57 µΩ Figura 42 – Circuito eléctrico del shunt ideal. 86
Fuente: Autor.
A continuación se visualiza desde un punto de vista energético, la potencia
eléctrica instantánea, desviada por los shunts de una celda Hal-230 durante la
primera etapa del proceso de cocción eléctrica:
POTENCIA DESVIADA DURANTE LA PRIMERA ETAPA DE

LA COCCIÓN ELÉCTRICA (CELDA HAL-230)
SHUNT POTENCIA Nota: Los valores determinados para la

potencia eléctrica de los shunts,
5 113,37 KW corresponden a un instante de tiempo, y
no al intervalo de 6 horas de la primera
2 147 KW etapa del proceso de cocción. Fue
asumida como constante la caída de
EN CONDICIONES IDEALES 89,03 KW potencial (ΔVB-E), y la intensidad de
1 (CELDA 932) 104,37 KW corriente de entrada (I1) en los
dispositivos resistores durante dicho
3 (CELDA 932) 78,78 KW intervalo de tiempo.
Tabla 14 - Variación de la potencia eléctrica para los shunts sujetos estudio durante el primer período
del proceso de cocción eléctrica en una celda Hal-230.
Fuente: Autor.
POTENCIA
147KW
160KW
140KW
113,37KW 104,37KW
120KW
89,03KW
100KW 78,78KW
80KW
60KW
40KW
20KW
0KW
0h 6h TIEMPO
SHUNT 5 SHUNT 2
SHUNT EN CONDICIONES IDEALES SHUNT 1 (CELDA 932)
SHUNT 3 (CELDA 932)
Gráfico 2 - Comparación de las distintas potencias eléctricas consumidas por los shunts sujetos a
estudio bajo distintos parámetros operacionales.
Fuente: Autor.
87
Seguidamente, de acuerdo a la fuerza de apriete y la calidad superficial
(rugosidad), fueron halladas las diferencias entre las resistencias eléctricas de
contacto por constricción y de película en las juntas apernadas del shunt 5, sometido a
un overhall o mantenimiento especial; con respecto al dispositivo resistor 2, en el cual
fue realizado un mantenimiento de rutina. Los resultados se muestran a continuación:
DIFERENCIAS ENTRE LAS RESISTENCIAS DE CONTACTO TOTAL DE LOS SHUNTS 2 Y 5 EN LAS JUNTAS APERNADAS, DE
ACUERDO A LA FUERZA DE APRIETE Y LA CALIDAD SUPERFICIAL EN LOS CONTACTOS ELÉCTRICOS
JUNTA APERNADA 1 2 3 4 5 6 7 8 9
DIFERENCIA DEBIDA A LA FUERZA DE APRIETE.

0 0,01 0,02 -0,05 0,07 0,02 0,02 -0,03 0,31
RESISTENCIA DE CONSTRICCIÓN (µΩ)
PORCENTAJE DE INCREMENTO DEBIDO A LA FUERZA DE

0 9,09 16,66 -33,33 70 25 22,22 -20 310
APRIETE (%)
DIFERENCIA DEBIDA A LA CALIDAD SUPERFIFCIAL.

48,61 58,71
RESISTENCIA DE PELÍCULA (µΩ)
PORCENTAJE DE INCREMENTO DEBIDO A LA CALIDAD

597,90 910,23
SUPERFICIAL (%)
Tabla 15 - Diferencias entre las resistencias de contacto de las juntas apernadas, de acuerdo a la
fuerza de apriete y calidad superficial.
Fuente: Autor.
Para la obtención de cada una de las diferencias, se tomó en cuenta el

mantenimiento especial ejecutado en los bloques de aluminio del shunt 5; por lo tanto
se asumió que el mismo debería de poseer en teoría, los menores valores en cuanto a
la resistencia eléctrica de contacto por constricción y de película se refiere. Las
diferencias fueron halladas a partir de la siguiente expresión:
𝚫𝐑(𝐂 ó 𝐏) = (𝐑𝐂 ó 𝐑𝐏 𝐝𝐞𝐥 𝐬𝐡𝐮𝐧𝐭 𝟐) − (𝐑𝐂 ó 𝐑𝐏 𝐝𝐞𝐥 𝐬𝐡𝐮𝐧𝐭 𝟓) (𝟐𝟕)
En cuanto a los valores negativos resaltados en rojo, los mismos representan un

incremento negativo de la resistencia eléctrica de contacto del shunt 5, en relación al
dispositivo resistor 2.
88
Por otra parte, las diferencias entre las resistencias globales de los shunts 5, 2
respecto al dispositivo resistor en condiciones ideales, fueron las siguientes:
DIFERENCIAS EN LAS RESISTENCIAS

GLOBALES DE LOS SHUNTS 2 Y 5 (REQ Shunt)
DIFERENCIA RESPECTO AL SHUNT IDEAL PORCENTAJE DE INCREMENTO

SHUNT
(µΩ) (%)
5 18,85 25,57
2 46,30 62,80
Tabla 16 - Diferencias en las resistencias globales de los shunt 5, 2 e ideal.

Fuente: Autor.
La obtención de los valores anteriores se realizó mediante la ecuación 29, aplicada

a las resistencias equivalentes por shunt, y restando siempre el valor del dispositivo
en condiciones ideales.
A continuación, se tiene para las resistencias de contacto totales entre los shunts 5
y 2, con mantenimiento especial y rutinario respectivamente, las siguientes
variaciones:
DIFERENCIAS ENTRE LAS RESISTENCIAS DE CONTACTO TOTALES DE LOS SHUNTS 2 Y 5
JUNTA 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
DIFERENCIA (µΩ) 48,61 48,60 48,63 48,56 58,77 58,73 58,73 58,67 0,31
PORCENTAJE DE INCREMENTO (%) 590,64 589,80 589,45 587,18 897,25 899,39 898,01 888,94 3,14
Tabla 17 - Diferencias en las resistencias de contacto totales entre los shunts 2 y 5.

Fuente: Autor.
En la tabla anterior, fue utilizado el criterio de cálculo empleado para las 2 tablas
anteriores. Cabe destacar que las juntas superficiales, correspondientes a los números
89
10 y 11, no fueron determinadas ya que las mismas presentan igual resistencia de
contacto, al haber sido sometidas ambas al mantenimiento rutinario, a diferencia de
los bloques de aluminio en el shunt 5.
En cuanto a la caída de voltaje presente en los puntos de control de los shunt

evaluados teóricamente, fueron determinadas las diferencias obtenidas para los
tramos A-B, B-E, E-F, A-F, B-C, D-E y C-D, mostradas a continuación
VARIACIÓN EN LA CAIDA DE POTENCIAL ELÉCTRICO DE LOS TRAMOS EN

CONSIDERACIÓN DE LOS SHUNTS 2 Y 5 RESPECTO A LOS VALORES IDEALES
SHUNT 2 5
VARIACIÓN TRAMO A-B (V) 0,19 0,19

PORCENTAJE DE INCREMENTO TRAMO A-B (%) 950 950
VARIACIÓN TRAMO B-E (V) 1,66 0,70
PORCENTAJE DE INCREMENTO TRAMO B-E (%) 65,35 27,56
VARIACIÓN TRAMO E-F (V) 0,19 0,19
PORCENTAJE DE INCREMENTO TRAMO E-F (%) 950 950
VARIACIÓN TRAMO A-F (V) 2,03 1,07
PORCENTAJE DE INCREMENTO TRAMO A-F (%) 78,68 41,47
VARIACIÓN TRAMO B-C (V) 0,33 0,32
PORCENTAJE DE INCREMENTO TRAMO B-C (%) 330 320
VARIACIÓN TRAMO D-E (V) 0,33 0,32
PORCENTAJE DE INCREMENTO TRAMO D-E (%) 330 320
VARIACIÓN TRAMO C-D (V) 3 2,06
PORCENTAJE DE INCREMENTO TRAMO C-D (%) 882,35 605,88
Tabla 18 - Variación de la caída de potencial en los tramos sujetos a estudio

de los shunts 2, 5 y en condiciones ideales.
Fuente: Autor.
Los valores de la tabla anterior fueron determinados a partir de la resta de la

diferencia de potencial obtenida para los shunts 2 y 5, con respecto al valor obtenido
90
del dispositivo resistor en condiciones ideales, para cada una de los tramos en
consideración.
Para finalizar, las diferencias en el consumo energético de los shunts 2, 5 e ideal,

fueron evaluadas para la potencia consumida en un cierto instante de tiempo, durante
la primeras 6 horas del proceso de cocción.
Se tomo en cuenta la corriente de entrada constante para el intervalo de 6 horas,

correspondiente al período antes mencionado, así como también se asumió constante
el valor de la diferencia de potencial en los shunts 2, 5 e ideal, a efecto de determinar
la potencia teórica de los mismos.
Las variaciones obtenidas en los dispositivos 2 y 5, respecto al shunt ideal fueron

las siguientes:
DIFERENCIAS EN EL CONSUMO ENERGÉTICO DE LOS SHUNTS 2, 5

RESPECTO AL IDEAL
PORCENTAJE DE
DIFERENCIA POTENCIA
SHUNT INCREMENTO
(KW)
(%)
5 24,34 27,34
2 57,97 65,11
Tabla 19 - Diferencias en el consumo energético entre los shunt 2, 5 e ideal.

Fuente: Autor.
Al igual que en todas las demás tablas comparativas, fue calculado el porcentaje de
incremento, que representa en que tanto porciento rebaza el valor obtenido al de
referencia, siendo para la última tabla mostrada la potencia del shunt ideal. Los
valores de la diferencia de potencia, fueron determinados restando el valor obtenido
para el shunt ideal, de los determinados en los dispositivos 2 y 5.
91
Análisis de resultados
Para el análisis de los resultados, se consideran en primer lugar las juntas

apernadas y superficiales de los shunts 2, 5 e ideal. Seguidamente serán analizadas las
diferencias existentes entre los mismos, en cuanto a sus resistencias globales y de
contacto, tomando en cuenta la influencia del acabado superficial y la fuerza de
apriete, así como también, la diferencia de la distribución de la corriente en las
resistencias variables, y las desviaciones en el consumo energético.
Referente a las juntas apernadas de los shunt, correspondientes a las uniones

conformadas por los pernos, se tiene una variación notable en las fuerzas de contacto
de los elementos de sujeción, debida en gran parte a la desviación de los torques de
apriete medidos en ellas. Tal diferencia fue más notoria en aquellas juntas con mayor
número de pernos, obteniéndose por ejemplo para los cuatro elementos de sujeción de
la junta apernada 9, cuatro fuerzas de contacto diferentes.
Se obtuvieron torques de apriete de aproximadamente 10 a 260 lb.ft, para los

pernos de las juntas conformadas por las barras de cobre y las cuñas del shunt, así
como también con los bloques de aluminio de tuercas fijas. Por su parte, en las juntas
apernadas de tuercas móviles, constituidas por los bloques de aluminio y la barra de
cobre, se obtuvieron torques de apriete por el orden de los 20 a 230 lb.ft. Sin
embargo, para el caso del shunt 2, no pudieron ser medidos los torques de apriete de
los pernos 13, 15 y 16, debido al aislamiento de las roscas con las tuercas de sujeción
de la junta 9; razón por la cual fue asumido el valor de 10 lb.ft del perno número diez
correspondiente a la misma unión.
La diferencia en los torques pudiera atribuirse a la utilización de pistolas

neumáticas durante el apriete de los pernos; las cuales son poco exactas en
comparación con los torquímetros.
92
Seguidamente, como puede verse en la tabla 4, la fuerza de contacto ideal en los
pernos, será la de mayor magnitud obtenida en un determinado grupo o tipo de junta
para los shunts 2 y 5. Así se tiene por ejemplo, que la fuerza de contacto del perno 5
de1 shunt 2 es de 2,88 E+04 N, la cual representa a su vez el valor ideal, para el
grupo de pernos de las juntas 1, 2, 3, 4; al ser el de mayor magnitud. Lo anterior se
debe a que a mayor fuerza de contacto, menor será la resistencia eléctrica de
constricción generada en la junta; razón por la cual son empleados los mayores
valores para los pernos del shunt ideal, permitiendo así establecer comparaciones con
los dispositivos resistores 2 y 5.
Para los ocho primeros pernos de los shunts 2 y 5 correspondientes a las juntas 1,
2, 3 y 4, se obtuvieron valores de la fuerza de contacto por el orden de los 9,01 E+03
y 2,88 E+04 N. En las cuatro siguientes de obtuvieron valores de 4,91 E+03 y 1,96
E+04 N. La fuerza de contacto en las juntas apernadas fue determinada solamente
para el caso ideal, debido a la presión de contacto des-uniforme; derivada de los
torques de apriete medidos en los pernos de los shunts 2 y 5. Por su parte, se obtuvo
para las juntas superficiales 10 y 11, una fuerza de contacto de 8,56 E+02 N, derivada
del peso total del shunt; el cual en comparación con el valor ideal de 4,28 E+04 N, es
mucho menor, pudiéndose entender que la no consideración de la presión ejercida por
los pernos en el sitio de encaje, sea la causa tal desviación.
También se determinó el acabado superficial de los contactos eléctricos de los

shunts, correspondientes a los bloques de aluminio dispuestos en las resistencias
variables. Debido a las limitaciones del caso, solo pusieron ser determinadas las
rugosidades superficiales en dos bloques de aluminio, correspondientes a una de las
resistencias variables del shunt. Sin embargo, dichos bloques de aluminio se
encontraban en condiciones deplorables, por tal razón los valores obtenidos fueron
adoptados solamente para el espesor de película en las juntas conformadas por el
shunt 2. Para la junta de tuercas móviles se obtuvo 34,9 µm (Elemento B), a
diferencia de las fijas con 50,5 µm (Elemento A). Cabe destacar, que debido al gran
93
deterioro en la superficie de contacto del bloque de aluminio de la unión de tuercas
fijas, se estimo un valor cercano en el lado opuesto al área de contacto eléctrico. Se
asumió el mayor valor para el elemento A, debido a que constituye en teoría el
contacto eléctrico con mayor desgaste superficial en el shunt, a causa de los
fenómenos de electromigración debidos a la conducción eléctrica, y a los arcos
eléctricos generados al extraer los aislantes termoeléctricos de las resistencias
variables.
Por su parte, para el shunt en condiciones ideales, se asumió el valor promedio de

las rugosidades superficiales determinadas de las superficies horizontal (4,6 µm) e
inclinada (5,4 µm) del elemento C, cuya rugosidad es aproximadamente igual a la de
los bloques de aluminio, una vez mecanizados (esmerilados). El valor promedio fue
de 5 µm.
Ya analizados los torques de apriete y los acabados superficiales en los contactos

eléctricos de los shunt sujetos a estudio, se procese a el análisis de las resistencias
eléctricas de contacto total, por constricción y de película.
Referente a resistencia de constricción, los valores obtenidos para los ocho

primeros pernos oscilaron entre los 0,09 y 0,17 µΩ, a diferencia de los cuatro
siguientes, con 0,08 y 0,17 µΩ. Por su parte para los cuatro pernos de la unión 9, se
obtuvieron valores comprendidos entre 0,08 y 0,41 µΩ. Las juntas de los shunts que
generaron la mayor resistencia de constricción, correspondieron a los números 10 y
11 con 0,50 µΩ; mientras que para el caso ideal se obtuvo 0,09 µΩ para las primeras
4 uniones. En general los valores obtenidos para las resistencias eléctricas de
constricción fueron lo bastantes bajos para las juntas de los shunts 2, 5 e ideal sujetos
a estudio.
En contraparte, para el caso de las resistencias eléctricas de película, fueron

obtenidos valores mucho mayores que los de constricción. Para las primeras 4 juntas
94
apernadas, se tienen valores entre los 54,74 y 8,13 µΩ para los shunts 2 y 5
respectivamente. A continuación fueron obtenidos valores entre 65,16 y 6,45 µΩ en
las juntas 5, 6, 7 y 8 de los dispositivos 2 y 5. De los valores anteriores destaca la
influencia del acabado superficial en las resistencias de contacto de las juntas, con
resultados mucho más bajos en los contactos eléctricos correspondientes a los bloques
de aluminio del shunt 5, los cuales fueron sustituidos por unos esmerilados. Por su
parte en la unión 9, se obtuvo un valor de 9,78 µΩ tanto para los shunts 2 y 5,
considerando un espesor de película de 34,90 µm. Para las juntas superficiales se
tiene un único valor de 5,41µΩ para los shunts 2 y 5. Y por último se tiene los valores
ideales obtenidos a partir del espesor de película de 3,2 µm, los cuales son de 5,20 y
4,13 µΩ para las juntas de tuercas móviles y fijas respectivamente.
De acuerdo a los resultados obtenidos para las resistencias eléctricas de contacto,

queda en evidencia la influencia de los agentes contaminantes presentes en la
interfase de contacto, sobre la fuerza de contacto ejercida sobre las juntas del shunt.
Hay que destacar, que el espesor de película considerado, se tomó igual para las
juntas del mismo tipo. Por ejemplo, para las juntas 1, 2, 3 y 4 del shunt 2, fue
empleado el espesor de película de 34,90 µΩ. Lo anterior, fue asumido debido a las
limitaciones en cuanto a las mediciones de los contactos eléctricos del shunt. Sin
embargo, en la realidad dicha suposición no es válida, ya que cada contacto eléctrico
posee un acabado superficial distinto, y por lo tanto una resistencia de película muy
diferente a las determinadas de manera teórica en el presente estudio. En cuanto a los
valores obtenidos, se tiene para la junta 5 unos 65,32 µΩ correspondientes al shunt 2,
a diferencia de los 6,55 µΩ del dispositivo resistor número 5.
Por otro lado, a fin de establecer la influencia de las resistencias eléctricas de

contacto sobre la distribución de corriente a través de los shunts, se determinaron las
resistencias eléctricas intrínsecas presentes en sus elementos conductores. Para ello se
consideraron las temperaturas promedio de los elementos conductores, durante la
primera etapa del proceso de cocción, a fin de garantizar que todas las resistencias
95
variables de los mismos se encuentren conectadas. Destacan los altos valores
obtenidos para las láminas de acero frontal e intermedia, de 497,59 y 40,64 µΩ. Las
temperaturas promedio de dichos elementos rondaron entre los 713 y 398 °K
respectivamente. Además, como era de esperarse en teoría, las resistencias eléctricas
intrínsecas dependieron en gran parte de la temperatura, y la longitud de los
elementos conductores, obteniéndose los mayores valores en las láminas de acero
correspondientes a las resistencias variables, en contraste con las cuantías menores de
0,01 µΩ; pertenecientes a los platos C y D de las barras de cobre junto con los de
aluminio que conforman a los bimetálicos del shunt.
Al ser los valores constantes para los espesores de película de los agentes
contaminantes, y las temperaturas promedio de los elementos conductores de los
shunt iguales, el único factor capaz de hacer variar la distribución de corriente a
través de las 4 resistencias variables será: la fuerza de contacto. Motivado a lo
anterior, la variación en la distribución de corriente, obtenida para cada una de los
dispositivos resistores sujetos a estudio es prácticamente nula, ya que; la influencia de
la fuerza de contacto en relación a los otros dos factores es bien despreciable. Por
ejemplo, destacando los valores obtenidos para las resistencias eléctricas equivalentes
mostradas en el circuito eléctrico del dispositivo resistor 2, en sus cuatro resistencias
variables se nota una discrepancia que oscila por el orden de los 382,14 y 382,21 µΩ;
razón por la cual la distribución de corriente permanece constante.
En base a lo anterior, la distribución de corriente se mantuvo uniforme en cada uno

de los shunts evaluados de manera teórica, con un valor de 8,75 KA para cada una de
sus resistencias variables, considerando un amperaje de entrada de 35 KA. De
haberse contado con diferentes espesores de película en las interfases de contacto
eléctrico de los shunts 2 y 5, los valores obtenidos para la distribución de corriente
hubiesen sido des-uniformes, en relación al dispositivo considerado en condiciones
ideales.
96
Sin embargo, el aumento de las resistencias de contacto en el shunt 2, con respecto
a los dispositivos resistores 5 e ideal, no paso desapercibido, ya que desde el punto de
vista energético, la resistencia global en el mismo fue la de mayor magnitud,
influyendo directamente en el aumento de la de caída de potencial en los tramos A-F
y B-E del circuito eléctrico. Se obtuvo para el shunt 2 una caída de potencial de
4,61 V entre los puntos A–F correspondientes a las barras conductoras, a diferencia
de los 3,65 y 2,58 V correspondientes a los dispositivos 5 e ideal respectivamente.
Por lo tanto el incremento porcentual del voltaje de los shunts 2 y 5 respecto al ideal
fue de 78,68 y 41,47 %.
Para finalizar, se tiene un consumo energético de 147 KW en el dispositivo 2, el

cual fue sometido a un mantenimiento rutinario, en contraste con los 113,37 KW
obtenidos para el shunt 5, al cual se le aplicaron labores de mantenimiento especiales
(overhall). Seguidamente, para el shunt ideal se obtuvo una potencia instantánea de
89,03 KW en la primera etapa del proceso de cocción. Cabe destacar, que la potencia
fue calculada para un instante de tiempo, y no para el intervalo de 6 horas
correspondiente a la primera etapa del proceso de cocción.
97
CONCLUSIONES
1. La diferencia global existente entre los shunts 5, 2 con respecto al dispositivo en

condiciones ideales es de 18,85 y 46,30 µΩ; obteni
éndose incrementos con
respecto al valor de referencia de 25,57 y 62,80 % respectivamente.
2. Los valores obtenidos para las resistencias eléctricas de contacto totales en las
juntas de los shunts 2 y 5, poseen diferencias por el orden de los 0,31 y 58,77
µΩ; obteniéndose incrementos porcentuales entre 3,14 y 899, 39 % para el
dispositivo número dos, sometido a un mantenimiento de rutina.
3. Los valores obtenidos para la resistencia de contacto debidos a la fuerza de

apriete, fueron muy bajos, con una diferencia de 0 a 0,07 µΩ entre los shunts 2 y
5. En cuanto a la resistencia de contacto debido al acabado superficial, se tiene
un aumento significativo en la diferencia para el shunt 2, con un porcentaje de
910,23 %, por encima del valor estimado para el dispositivo 5 (8,13 µΩ); el cual
fue sometido a un mantenimiento especial (overhall).
4. La diferencia en la distribución de corriente de los shunts 2, 5 e ideal es

despreciable, ya que el valor de las resistencias eléctricas equivalentes son muy
cercanos en cada una de las 4 juntas variables de los dispositivos en cuestión;
considerando además que el espesor de película fue asumido de igual forma para
cada una de ellas. El flujo de corriente en cada una de las 4 juntas variables fue
de 8,75 KA, en donde las resistencias equivalentes oscilaron entre 382,14 -
382,21 µΩ (shunt 2); 274,82 - 274,92 µΩ (shunt 5) y 273µΩ (shunt ideal).
5. El consumo energético de los shunts 5 y 2 fue de 113,37 KW y 147 KW

respectivamente, con una diferencia de unos 24,34 KW y 57,97 KW respecto al
dispositivo en condiciones ideales.
98
RECOMENDACIONES
En cuanto a la determinación de los parámetros experimentales destinados a la

determinación de las resistencias eléctricas de contacto se tiene:
• Realizar ensayos de dureza Vickers, que correspondan específicamente al

tipo de aleación de aluminio y de cobre presentes en las juntas apernadas y
superficiales de los shunts.
• Llevar a cabo mediciones experimentales de la resistividad eléctrica real,

estableciendo como temperatura de referencia 20 oC.
• Hacer un estudio comparativo de un shunt sometido en condiciones reales de

operación, para cada uno de sus elementos conductores, con la finalidad de
obtener parámetros reales más acordes a los determinados teóricamente.
• Llevar a cabo experimentaciones que permitan conocer en realidad, cual es

el espesor de película existente en las uniones de contacto eléctrico, tanto
apernadas como superficiales.
• Establecer una relación experimental que permita relacionar directamente la

rugosidad superficial, con las resistencias eléctricas de contacto.
• Realizar en futuros estudios simulaciones de los contactos eléctricos de los

shunts, a manera de comparación con los resultados obtenidos de forma
experimental y teórica.
• Determinar de forma experimental la temperatura específica para cada uno

de los elementos conductores presentes en los shunts.
99
• Determinar el torque de apriete real de las juntas apernadas una vez
terminado el proceso de cocción eléctrica, para así poder establecer una
relación cuantitativa; en cuanto a la fuerza de contacto antes y después de
dicho proceso.
En cuanto a las opciones de solución, destinadas a mejorar el rendimiento de las

resistencias eléctricas tipo shunt durante el proceso de cocción eléctrica están:
• Realizar un mantenimiento más frecuente de las juntas apernadas y

superficiales de los shunt, en el cual se le dé una mayor importancia al
acabado superficial de las áreas de contacto eléctrico de los elementos
conductores que las conforman.
• Diseñar, fabricar y construir máquinas fresadoras portátiles, que permitan

realizar las labores de mantenimiento de una forma más rápida y
ergonómica.
• Realizar el apriete de los pernos en las juntas apernadas de los shunts,

mediante el uso de llaves dinamométricas o torquímetros.
• Limpiar los agentes contaminantes de las superficies de contacto eléctrico,

correspondientes a las juntas superficiales de los shunts, conformadas en los
sitios de encaje del anillo de barras conductoras.
• Disponer de sensores en los puntos donde se generen las mayores

resistencias eléctricas a lo largo del shunt, con la finalidad de automatizar las
labores de control y monitoreo de parámetros como: la temperatura, voltaje,
caudal de aire, entre otros; tareas que resultan muy dificultosas para los
técnicos e ingenieros, debido a la densa atmosfera de polvo presente en el
área, y el alto grado de calor generado.
100
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cocción de CV – 5. Puerto Ordaz, Venezuela: Gerencia de Investigación y
Desarrollo, CVG Venalum.
102

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REPÚBLICA BOLIVARIANA DE VENEZUELA

UNIVERSIDAD NACIONAL EXPERIMENTAL POLITÉCNICA

CÁLCULO TEÓRICO DE LAS RESISTENCIAS ELÉCTRICAS EN LOS

Br. Juan José Rivas García

Ciudad Guayana, Agosto de 2010

Quienes suscriben, los tutores académico e industrial, para examinar el informe

Ing. Elías Malave Ing. Vidal Sanabria

Rivas García, Juan José

Ciudad Guayana, Agosto de 2010

A Dios todopoderoso por acompañarme siempre en todos los momentos difíciles.

A mi novia Stefany Bastidas por su afecto y comprensión.

A la profesora Doina Márquez por su colaboración en la toma de mediciones.

Al profesor Elías Malave por su plena disposición en la realización del presente

Definición del problema……………………………………………… 17

CAPITULO II: MARCO DE REFERENCIA

CAPITULO III: ASPECTOS PROCEDIMENTALES

Figura 2. Shunts empleados durante el proceso de cocción de las celdas

Figura 3. Problema de distribución de la corriente eléctrica a través de un

Figura 4. Corte transversal de una celda durante su operación normal……….. 19

Figura 5. Vista lateral de la celda en cocción y corte transversal de una

Figura 6. Distribución de corriente en una celda electrolítica Hal-230 durante

Figura 7. Estructura administrativa y operativa de CVG de Venalum………... 24

Figura 8. Disposición del conjunto de celdas reductoras Hal-230 en el

Figura 9. Corte transversal de una celda reductora de aluminio………………. 26

Figura 10. Flujo de corriente en una celda reductora durante su operación

Figura 12. Conducción de la corriente eléctrica a través del shunt. …………… 29

Figura 13. Estructura básica, identificación y componentes materiales del

Figura 15. Corte transversales de la celda y del shunt durante el proceso de

Figura 18. Curva de la rugosidad media Ra del perfil de rugosidad.…………... 39

Figura 19. Curva de la rugosidad media Rz del perfil de rugosidad..………….. 40

Figura 20. Esquema de la interfase de contacto eléctrico entre dos elementos

Figura 21. Efecto de de la capas de óxido en la disminución del área de

Figura 22. Clasificación general de las resistencias eléctricas.. ……………….. 43

Figura 23. Esquemas de circuitos eléctricos en serie (izquierda) y en paralelo

Figura 24. Ley de Kirchhoff aplicada a un nodo……………………………….. 46

Figura 25. Uso de extensiones en las juntas apernadas poco accesibles..……… 48

Figura 26. Inserción del torquímetro y aplicación del torque de apriete………. 49

Figura 27. Verificación del torque de apriete..…................................................ 49

Figura 29. Procedimiento de montaje del rugosimetro…………………………. 51

Figura 30. Medición de la rugosidad superficial en los elementos del shunt

Figura 31. Designación de la nomenclatura de los pernos y juntas apernadas en

Figura 32. Designación de la nomenclatura de las juntas superficiales en los

Figura 33. Áreas de contacto eléctrico teóricas en las juntas apernadas y

Figura 35. Puntos sometidos al control de temperatura del shunt 3 empleado

Figura 36. Visualización de los tramos considerados para el estudio de los

Figura 37. Puntos en consideración para la comparación de los shunts

Figura 38. Visualización de los 4 tramos correspondientes a las resistencias

Figura 39. Circuito eléctrico del shunt..………………………………………. 64

Figura 40. Circuito eléctrico del shunt 5..………………………………………. 84

Figura 41. Circuito eléctrico del shunt 2..………………………………………. 85

Figura 42. Circuito eléctrico del shunt ideal……………………………………. 86

Tabla 2. Valores de temperatura tomados del shunt 3 durante la cocción de la

Tabla 3. Torque de apriete real de los pernos presentes en las juntas

Tabla 4. Fuerza de contacto de los pernos y juntas de los shunts sujetos a

Tabla 5. Rugosidad superficial presente en las superficies de contacto

Tabla 6. Resistencia eléctrica de constricción en los pernos y juntas de los

Tabla 7. Espesor de película asumido en las juntas de los shunts……………. 74

Tabla 8. Resistencia eléctrica de película en las juntas de los shunts..……...... 75

Tabla 9. Resistencia eléctrica de contacto total en las juntas de los shunts… 75

Tabla 10. Resistencia eléctrica intrínseca de los elementos conductores del

Tabla 11. Voltajes y diferencia de potencial presente en los diferentes nodos y

Tabla 12. Resistencias equivalentes establecidas en los tramos de los shunts

Tabla 16. Diferencias en las resistencias globales de los shunt 5, 2 e ideal.…... 89

Tabla 18. Variación de la caída de potencial en los tramos sujetos a estudio