CONTROL ESTADISTICO DE PROCESOS

Problema 1. – La Empresa ABC lleva el Control de Calidad mediante los Hora Longitud - cm
Limites Específicos 0.445 + 0.065 para satisfacer las especificaciones de
1 0.429 0.488 0.413 0.470 0.418
ingeniería. Se debe evaluar la Capacidad de Proceso para asegurar los requisitos
del cliente. El control se desarrolla cada hora y se toma un subgrupo de 5 2 0.450 0.444 0.457 0.467 0.421
unidades consecutivas registrando los datos pertinentes. Se pide: 3 0.455 0.461 0.425 0.460 0.432
a. Analizar los datos recepcionados e indicar sus observaciones. 4 0.441 0.473 0.457 0.433 0.424
b. Evaluar los indicadores de Capacidad de Proceso. 5 0.459 0.507 0.459 0.48 0.444
c. Decisiones tomadas para informar de la calidad del producto.
6 0.443 0.432 0.429 0.467 0.423
Problema 2. – La Empresa ABC fabrica 7 0.457 0.462 0.439 0.457 0.450
chips electrónicos y tiene muy buenos 8 0.459 0.442 0.491 0.441 0.444
niveles de ganancia. Un promedio de 10
9 0.481 0.449 0.438 0.434 0.445
partes defectuosas por millón se produce en
la actualidad. 10 0.451 0.477 0.457 0.444 0.471
a. ¿Cuáles son los LC para una muestra de 11 0.493 0.426 0.417 0.437 0.427
tamaño 100? 12 0.434 0.446 0.421 0.474 0.436
b. Recalcule los LC para una muestra de
13 0.427 0.457 0.468 0.472 0.454
tamaño 10 000.
c. ¿Cuáles de los tamaños de muestra 14 0.411 0.448 0.444 0.456 0.469
recomendaría Ud.? Explique. 15 0.465 0.446 0.450 0.460 0.431
La Empresa ABC ha reconsiderado el 16 0.459 0.460 0.462 0.420 0.434
método de Control de Calidad y ha decidido utilizar Control de Proceso por
variables en lugar de atributos. Para el control de variables se medirá el voltaje 17 0.419 0.430 0.440 0.478 0.445
de un chip con base a una muestra única de 5 chips. El voltaje promedio en el 18 0.462 0.464 0.437 0.443 0.432
pasado para muestras de tamaño 5 ha sido 3.1 volts y el rango ha sido 1.2 volts. 19 0.451 0.414 0.458 0.444 0.426
a. ¿Cuáles serian los LC para la grafica de control resultantes (promedio y 20 0.430 0.427 0.448 0.441 0.445
rango)?
b. Se toman 5 muestras de voltajes con los siguientes resultados: Muestra 1 2 3 4 5
¿Qué acción se debe tomar, si procede?
x 3.6 3.3. 2.6 3.9 3.4
c. Comente los pros y los contras de utilizar estas gráficas de control de
R 2.0 2.6 0.7 2.1 2.3
variables contra la grafica de control de atributos. ¿Cuál prefiere Ud.?

Problema 3. – Uso del Muestreo por Atributos para encontrar planes de muestreo para las siguientes especificaciones: NAC = AQL
= 0.02, TPDL = LTPD = NCR = 0.06; error tipo I = 0.05; error tipo II = 0.10 y Lote = 2000 unidades.
a. Determinar n y c para un plan sencillo de muestreo.
b. Determinar n1, n2 / c1, c2 para un plan doble de muestreo.
c. Elaborar las de operación OC para los planes a y b.
d. Representar gráficamente la Curva de Calidad Promedio de Salida AOL para el plan sencillo de muestreo. ¿Qué indica?
Compárelas AOL de 3 diferentes planes de muestreo sencillos de su propia invención.