UCSM EPII Guía de Prácticas 10 de Control de Procesos

11
Característica

Tiempo

Gráficos de Control de Atributos

UyC

 OBJETIVOS
 Comprender la importancia y aplicación de los gráficos de control por atributos U y C.
 Elaborar los gráficos U, y C para un muestreo dado.
 Distinguir entre la aplicación de gráficos por variables de los de atributos.

 RECURSOS

 Computadora con acceso a internet

 Guía de Prácticas.
 Apuntes de clase
 Libros según bibliografía del curso
 Calculadora
 Web –internet

DURACIÓN DE LA PRÁCTICA
 Una sesión (2 horas).

 MARCO TEÓRICO1

1. Gráfico C : Número de defectos por unidad o subgrupo

Se emplea cuando en lugar de querer controlar el número de artículos defectuosos, lo que queremos
controlar es el número de defectos que aparecen en un artículo o unidad de superficie o tiempo.
Ejemplo:

- numero de imperfecciones por prenda de vestir.

- número de defectos por metro cuadrado de tela
- número de quejas por hora, errores por día
1
Extraído de: Control Estadístico de la Calidad y Seis Sigma, Humberto Gutiérrez Pulido / Román de la Vara Salazar 2
Ing. Eva Cornejo Paredes
UCSM EPII Guía de Prácticas 10 de Control de Procesos

En uno u otro caso, este tipo de control puede ser llevado tomando la distribución de
referencia de la ley Poisson (), donde se representa el número medio de ocurrencias
por unidad de tiempo, superficie, etc.

Límites de control de C:

Donde c:

El proceso se encontrará fuera de control sólo si se salen puntos por encima del límite
de control superior y se deben eliminar si corresponden a causas atribuibles. En el
caso de los puntos que salgan por debajo del límite inferior de control, no se deben
eliminar porque significaría que tienen menor cantidad de defectos de lo esperado, y
eso sería un aspecto positivo.

Fórmulas de cálculo corregidas

Línea central:

Límite superior de control: LCS=Co+3 √ Co

Límite inferior de control: LCI =Co−3 √ Co

INTERPRETACIÓN DE LOS LÍMITES DE CONTROL DE LA CARTA C

Si luego de calcular los límites tenemos que LCS=10, C=6.4 y LCI=0, entonces la
interpretación sería: “se espera que el número de defectos por producto varíe entre 0 y
10, con un promedio de 6.4”.
Si el proceso hubiese estado en estado de control, es decir sin puntos fuera de los
límites, entonces se tendría un proceso estable pero malo, o en otras palabras, un
proceso estable e incapaz.
Como las cantidades de defectos son relativamente altas, se requiere recomendar un
plan de acción que reduzca esta problemática.

EJEMPLO
En una fábrica de muebles se inspecciona a detalle el acabado
de las mesas cuando
2
Ing. Eva Cornejo Paredes
UCSM EPII Guía de Prácticas 10 de Control de Procesos

salen del departamento de laca. La cantidad de defectos que son encontrados en

cada mesa son registrados con el fin de conocer y mejorar el proceso. En la tabla se
muestran los defectos encontrados en las últimas 25 mesas.
Carta C
Mesa defectos :c LSC LC LIC
1 7 14.180 6.520 0.000
2 5 14.180 6.520 0.000
3 10 14.180 6.520 0.000
4 2 14.180 6.520 0.000
5 6 14.180 6.520 0.000
LCS :14.18
6 5 14.180 6.520 LC
0.000 :6.52
7 4 14.180 6.520 LCI
0.000 :-1.14 = 0.0
8 9 14.180 6.520 0.000
9 7 14.180 6.520 0.000
10 5 14.180 6.520 0.000
Interpretación:
11 6 14.180 6.520 0.000
12 7 14.180 6.520 0.000
El proceso se
13 8 14.180 6.520 0.000encuentra en control,
14 4 14.180 6.520 0.000estable ya que no hay
15 5 14.180 6.520 0.000puntos fuera del límite
superior ni ningún
16 12 14.180 6.520 0.000
patrón especial, y se
17 8 14.180 6.520 0.000espera que el número
18 10 14.180 6.520 0.000de defectos por
producto varíe entre 0
19 4 14.180 6.520 0.000
y 14.18, con un
20 7 14.180 6.520 0.000promedio de 6.52.
21 3 14.180 6.520 0.000
22 10 14.180 6.520 0.000
23 6 14.180 6.520 0.000
24 6 14.180 6.520 0.000
25 7 14.180 6.520 0.000
163

16
GRAFICO c
14
12 defectos :c

10 LC
Defectos

8 LICi
6
4
2
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
Mesas

2. GRÁFICO U: Número promedio de defectos por unidad.

2
Ing. Eva Cornejo Paredes
UCSM EPII Guía de Prácticas 10 de Control de Procesos

El gráfico U se utiliza para el mismo tipo de problemas que el gráfico C, pero en aquellos casos
en que no se puede tomar una unidad del mismo tamaño para controlar el número de defectos.
Cuando el tamaño del subgrupo no es constante, se usa la carta u, en la cual se analiza la
variación del número promedio de defectos por artículo o unidad, en lugar del total de
defectos en el subgrupo. Así, en esta carta, un subgrupo lo forman varias unidades.

En el gráfico U se colocan igualmente el número de defectos por unidad, pero ahora no tiene
porqué ser un valor entero. La distribución de referencia en la cual está basado el gráfico U
puede ser calculada a través de la ley Poisson.

LÍMITES DE CONTROL EN LA CARTA U

Donde:

Cuando n no es el mismo en todos los subgrupos, entonces se sustituye por el tamaño

promedio de subgrupo, n promedio, para obtener gráficos con limites constantes. La ventaja de
usar un n promedio es que la interpretación es más simple y directa. La desventaja es que en
ocasiones no detecta cambios, o al revés, que detecte cuando en realidad no lo hay. Algunos
autores proponen usar límites promedio cuando los n no discrepen más de 20% entre sí. Otra
alternativa es obtener una carta con límites variables, en la que para cada subgrupo se
calculan sus límites en función del tamaño del subgrupo ni y con éstos se evalúa el proceso
para tal subgrupo.

INTERPRETACIÓN DE LOS LÍMITES DE CONTROL EN LA CARTA U

En la carta u se grafica el número promedio de defectos por unidad. Por ejemplo, se espera
que se encuentren entre 0.38 y 1.69 defectos por pieza con un promedio de 1.04.
Lo que prosigue es seguir monitoreando el proceso mediante la carta de control para identificar
y eliminar causas especiales de variación.

EJEMPLO
En una fábrica de textiles se inspecciona a detalle el acabado de los fardos de tela en rollos
cuando salen del departamento de estampados. La cantidad de defectos que son encontrados
en cada fardo son registrados con el fin de conocer y mejorar el proceso. En la tabla se muestran
los defectos encontrados en los últimos 24 fardos. Pero hay fardos de diferentes medidas,
algunos son de 12 m2, otros de 20m2, de 24 m2, y otros de 48 m2. Por lo que se requiere usar la
carta u para calcular la cantidad promedio de defectos por metro cuadrado:

Tamaño de Defectos Defectos

LSC LC LIC 2
Ing. Eva Cornejo Paredes
UCSM EPII Guía de Prácticas 10 de Control de Procesos

por
(metros2) : fardo metro2
ni ci ui= ci / ni
1 24 9 0.38 1.266 0.745 0.224 U Promedio
2 24 14 0.58 1.266 0.745 0.224 0.7449
3 24 13 0.54 1.266 0.745 0.224
4 24 11 0.46 1.266 0.745 0.224 n prom
5 12 4 0.33 1.266 0.745 0.224 24.6667 =promedio(ni)
6 12 9 0.75 1.266 0.745 0.224
7 12 12 1.17 1.266 0.745 0.224 Limites de control U:
8 12 9 1.50 1.266 0.745 0.224 LSC 1.128
9 12 10 2.17 1.266 0.745 0.224 LC 0.644
10 12 10 0.83 1.266 0.745 0.224 LIC 0.159
11 48 25 0.52 1.266 0.745 0.224
12 48 21 0.44 1.266 0.745 0.224
13 48 40 0.83 1.266 0.745 0.224 El proceso se encuentra
en control, ya que no
14 48 24 0.50 1.266 0.745 0.224
hay puntos fuera del
15 48 30 0.63 1.266 0.745 0.224 límite superior, ni
16 48 32 0.67 1.266 0.745 0.224 patrones especiales, y
se espera que el número
17 20 20 1.00 1.266 0.745 0.224
promedio de defectos
18 20 14 1.25 1.266 0.745 0.224 por m2 varíe entre 0,16
19 20 11 0.55 1.266 0.745 0.224 y 1.13, con un
promedio de 0.64.
20 20 14 0.70 1.266 0.745 0.224
21 20 20 1.00 1.266 0.745 0.224
22 12 13 1.08 1.266 0.745 0.224
23 12 9 1.50 1.266 0.745 0.224
24 12 7 1.67 1.266 0.745 0.224
592 441

1.20 GRAFICO u
1.00

0.80
ui= ci / ni

0.60 LC

LIC
0.40

0.20

0.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24

2
Ing. Eva Cornejo Paredes
UCSM EPII Guía de Prácticas 10 de Control de Procesos

A C T I V I D A D E S D E L A P R Á C T I C A

Pregunta Nro. 1
En una fábrica de mascarillas se inspecciona a detalle el acabado de cada mascarilla cuando sale
del departamento de costura. La cantidad de defectos que son encontrados en cada mascarilla es
registrada con el fin de conocer y mejorar el proceso. En la tabla se muestran los defectos
encontrados en las últimas 24 mascarillas.

Mesa defectos :c Mesa defectos :c

1 9 13 7
2 12 14 12
3 6 15 4
4 14 16 8
5 12 17 10
6 9 18 5
7 11 19 14
8 13 20 1
9 14 21 5
10 4 22 8
11 9 23 5
12 12 24 0

a) Calcule la carta de control C, y defina los límites de control para dicha carta.
b) Graficar
c) ¿El proceso es razonablemente estable?
d) Corregir si es necesario.
e) Indicar los nuevos límites de control
f) Interpretar los límites de control
g) ¿se podría analizar estos datos mediante una carta p? Argumente.

Pregunta Nro. 2

En una compañía telefónica se ha llevado el registro de quejas de los clientes desde hace 15
semanas con el número de clientes atendidos por semana, los datos se muestran en la tabla:

2
Ing. Eva Cornejo Paredes
UCSM EPII Guía de Prácticas 10 de Control de Procesos

Cantidad de clientes por

Semana semana Quejas por semana
1 114 11
2 153 15
3 115 5
4 174 14
5 157 16
6 219 11
7 149 10
8 147 9
9 131 10
10 91 10
11 112 10
12 158 11
13 244 30
14 111 11
15 120 11

Se pide:

a) Calcule la carta de control U, y defina los límites de control para dicha carta.
b) Graficar
c) ¿El proceso es razonablemente estable?
d) Corregir si es necesario.
e) Indicar los nuevos límites de control
f) Interpretar los límites de control. ¿Considera que la calidad en el Banco es buena? Explicar.
g) ¿se podría analizar estos datos mediante una carta p? Argumente.

Pregunta Nro. 3

En el problema anterior tome en cuenta sólo el número de quejas y analícelas mediante una carta
de control c.

Se pide:

a) Calcule la carta de control C, y defina los límites de control para dicha carta
b) Grafique la carta C
c) ¿La estabilidad del proceso es aceptable?. Asumir que NO hay causas atribuibles.
d) Corregir si es necesario.
e) Indicar los nuevos límites de control
f) Interpretar los límites de control. ¿Considera que la calidad en el Banco es buena? Explicar.
g) ¿Obtiene los mismos resultados que con la carta U? ¿Cuál de las dos cartas, C o U, sería la
más adecuado para este caso? Explique por qué.

2
Ing. Eva Cornejo Paredes
UCSM EPII Guía de Prácticas 10 de Control de Procesos

 REFERENCIAS BIBLIOGRÁFICAS

 Montgomery, D. 2005. Control Estadístico de la Calidad. Ed. LIMUSA WILEY

 CALLE, C. 1995. El control analítico, la calidad total y la excelencia humana.

 Gutiérrez Pulido, Control Estadístico de la Calidad y Seis Sigma

 Duncan, Acheson. Control de calidad y estadística industrial. Editorial Alfaomega 1989.

 Heinz Kohler. Estadística para negocios y economía. Editorial CECSA 1999

 Besterfield, Dale H. Control de la calidad. Pearson Educación 1994

DOCUMENTOS ADJUNTO

Ninguno

2
Ing. Eva Cornejo Paredes