CAPACITORES

García Sánchez Jhogan Brandon

Instituto Politécnico Nacional
Escuela Superior de Física y Matemáticas
Laboratorio de Física 3FM1C
P-4
Ciudad de México, México
I. RESUMEN medidas experimentalmente y las registradas en cargas
observando finalmente que las mediciones caían en el
Se estudio experimentalmente el capacitor de placas
rango registrado en los libros. Los objetivos fueron
paralelas y la constante dieléctrica de los materiales y del
cumplidos casi en su totalidad, pero se consiguió el
vacío. Para ello se aprendió a manejar el puente de
conocimiento del manejo de la fuente de impedancias y se
impedancia realizando mediciones de resistencias y de
entendió el comportamiento de la capacitancia.
capacitores teniendo cuidado en estos últimos si es que se
trataban de capacitores electrolíticos. Se utilizó un II. INTRODUCCIÓN
capacitor de placas paralelas al cual se le suministro una
Puente de Wheatstone
diferencia de potencial y se midió la carga en las placas.
Se realizaron múltiples mediciones haciendo variar el El puente ideado por Samuel H. Christie y luego mejorado
voltaje. Una vez hecho se realizó una grafica de la carga por Sir Charles Wheatstone es muy útil para medir
en función del voltaje obteniendo una relación lineal por pequeñas variaciones en las resistencias. Este circuito se
lo que se ajustó por mínimos cuadrados a una recta conoce como puente de Wheatstone. Este arreglo
𝐶
obteniendo la función 𝑄(𝑉) = 2.212 ⋅ 10−10 [𝑣 ] 𝑉 + experimental se puede usar para medir impedancias,
6.212 ⋅ 10−11 [𝐶] , donde la pendiente de la recta es la capacidades e inductancias.
capacitancia. Calculando la capacitancia promedio
directamente con formula se obtuvo un error del 0.58%.
Otra parte de la practica consistió en medir la capacitancia
del capacitor de placas paralelas separando las placas una
distancia de 2 mm. Se repitió la medición incrementando
la separación con aumentos de 2 mm hasta llegar a un
máximo de 2 cm. Se graficó la capacitancia en función de
la distancia y se encontró una relación lineal en una escala
logarítmica por lo que se ajustó por mínimos cuadrados a
una recta y transformando la escala logarítmica a decimal
se obtuvo finalmente la curva de ajuste 𝐶(𝑑′ ) = 3.46 ⋅ Figura 1. Puente de Wheatstone [1]
10−12 [𝐹 𝑚] 𝑑′−0.64 donde 3.46 ⋅ 10−12 = 𝐴𝜖0 con 𝐴 el
área de las placas del capacitor. Se obtuvo Entre los puntos C y D existe un instrumento de medición
𝐹 (amperímetro o galvanómetro). Una de las resistencias
experimentalmente que 𝜖0 = 6.78 ⋅ 10−11 𝑚, el error fue de
puede variar (𝑅1 ≡ 𝑅𝑥 ) mientras que el resto se mantiene
más del 100% debido a problemas con el capacitor y
constante ( 𝑅2 , 𝑅3 , 𝑅4 ) . Si el galvanómetro mide una
pequeños desperfectos, así como condiciones ambientales.
corriente nula entre los puntos C y D entonces los
Finalmente se calculó la constante dieléctrica 𝜖 de algunas potenciales eléctricos entre estos puntos son iguales por lo
placas midiendo la capacitancia del capacitor con las que se tiene la relación 𝑖1 = 𝑖4 y 𝑖2 = 𝑖3, por consiguiente
placas entre medio de las placas del capacitor. Una vez [1]
realizada la medición, se volvió a repetir, pero sin las
placas y conservando la distancia de separación. 𝑖1 𝑅𝑥 = 𝑖2 𝑅2 ; 𝑖1 𝑅4 = 𝑖2 𝑅3 (1)
Dividiendo ambas capacitancias medidas se obtuvo 𝜖 . Si se divide miembro a miembro ambas expresiones, se
Consultando en fuentes se comparó las constantes obtiene que
 𝑅𝑥 𝑅2 Objetivos de la practica
=
𝑅4 𝑅3
Con la práctica se pretende lograr un buen manejo del
Reacomodando para un mejor manejo se obtiene puente de impedancias para realizar una buena lectura de
finalmente resistencias, capacitores e inductores. También se
pretende estudiar la capacitancia del capacitor de placas
𝑅𝑥 𝑅3 = 𝑅2 𝑅4 (2) paralelas en función de la diferencia de potencial aplicada
y la distancia de separación de las placas. Agregado a lo
anterior se desea calcular de una manera experimental la
Capacitor constante dieléctrica del vacío 𝜖0 . También se pretende
Un capacitor es un sistema formado por dos conductores calcular la constante dieléctrica de diferentes materiales y
compararlas con el vacío.
cercanos que tienen una carga 𝑄 de diferente signo. La
capacitancia se define como el valor absoluto de la carga
III. METODOLOGÍA
de las placas entre la diferencia de potencial 𝑉.
Primera parte
𝑄
𝐶=𝑉 (2)
Para entender el funcionamiento de un puente de
En particular para un capacitor de placas planas paralelas
impedancia se utilizaron 10 capacitores y 10 resistencias
se tiene que
𝑉 diferentes para medir su capacitancia y resistencia
𝐸=𝑑 (3)
respectivamente.
Donde 𝑑 es la distancia de separación entre las placas del
capacitor. También, para una distribución de carga
uniforme se cumple que [2]
𝜎 𝑄
𝐸= = (4)
𝜖0 𝜖0𝐴

Siendo 𝐴 el área de las placas del capacitor y 𝜖0 la

constante dieléctrica en el vacío. Despejando 𝑉 de (3) y Figura 2. Capacitores medidos en la parte 1.
sustituyendo (4) en (3)
Las mediciones se registraron en la tabla siguiente.
𝑞
𝑉 = 𝑑𝜖 Medición Resistencias [[Ω] Capacitores [F]
0𝐴
1 0.380 ⋅ 106 114.2 ⋅ 10−12
Sustituyendo el resultado anterior en (2) se obtiene 2 2.32 ⋅ 106 118.0 ⋅ 10−12
finalmente la expresión 3 7.41 ⋅ 106 11.40 ⋅ 10−12
4 0.80 ⋅ 103 115.8 ⋅ 10−12
𝑞 𝜖0 𝐴
𝐶= 𝑑𝑞 = 𝑑
(5) 5 77.6 ⋅ 103 42.70 ⋅ 10−12
𝜖0 𝐴 6 2.20 ⋅ 106 130.3 ⋅ 10−12
7 148.6 54.10 ⋅ 10−12
Si un dieléctrico llena el espacio entre las placas del 8 1.10 ⋅ 106 194.0 ⋅ 10−12
capacitor, la capacidad está dada por [1]
9 1.127 ⋅ 106 118.6 ⋅ 10−12
𝐴 10 0.98 ⋅ 106 110.3 ⋅ 10−12
𝐶𝐷 = 𝜖𝜖0 (6)
𝑑
Tabla 1. Mediciones de los capacitores y resistencias.
Dividiendo la expresión (6) entre (5) se obtiene la relación
𝐶𝐷
=𝜖 (7)
𝐶

Donde 𝜖 es la constante dieléctrica del material entre las

placas y depende del material y la temperatura.
Figura 2. Resistencias medidas en la parte 1.
Segunda parte N° d [m] C [F]
1 0.002 2.56 ⋅ 10−10
Se utilizó un capacitor de placas planas paralelas
2 0.004 1.37 ⋅ 10−10
conectado a un amplificador, un multímetro y una fuente
3 0.006 9.7 ⋅ 10−11
de C.D como se muestra en la figura 2. Se separaron las
4 0.008 7.6 ⋅ 10−11
placas una distancia 𝑑 y se aplicó, con la fuente, un voltaje
5 0.01 6.5 ⋅ 10−11
de 10 v para luego medir la carga en las placas con el
6 0.012 5.7 ⋅ 10−11
amplificador lineal. Esta medición se repitió haciendo 7 0.014 5.2 ⋅ 10−11
aumentos de 10 v hasta llegar a los 120 v. Los resultados 8 0.016 4.8 ⋅ 10−11
obtenidos se registraron en la tabla 1. 9 0.018 4.3 ⋅ 10−11
10 0.02 4.1 ⋅ 10−11

Tabla 3. Mediciones obtenidas de la parte 3.

Cuarta parte
Figura 4. Montaje de la segunda parte [3]. Se utilizaron placas de diferentes materiales y una por una
se colocó entre las placas del capacitor con una separación
N° V [v] Q [C] igual al espesor 𝑠 de la placa para luego medir la
1 10 2.3 ⋅ 10−9 capacitancia 𝐶𝐷 . Una vez realizada la medición se retiró la
placa y, conservando la misma distancia de separación
2 20 4.5 ⋅ 10−9
dejada por la placa, se volvió a realizar la medición de la
3 30 6.6 ⋅ 10−9
capacitancia 𝐶 . Con las mediciones se llenó la tabla
4 40 8.9 ⋅ 10−9 siguiente
5 50 1.09 ⋅ 10−8
6 60 1.35 ⋅ 10−8 Material 𝐶𝐷 [F] 𝐶 [F] 𝑠 [m]
Acrílico 0.218 ⋅ 10−9 0.089 ⋅ 10−9 6.8 ⋅ 10−3
7 70 1.57 ⋅ 10−8
Seluron 0.69 ⋅ 10−9 0.22 ⋅ 10−9 2.0 ⋅ 10−3
8 80 1.79 ⋅ 10−8 Madera 0.16 ⋅ 10−9 0.073 ⋅ 10−9 6.3 ⋅ 10−3
9 90 2.02 ⋅ 10−8 Vidrio 0.61 ⋅ 10−9 0.115 ⋅ 10−9 4.8 ⋅ 10−3
10 100 2.18 ⋅ 10−8 Asbesto 0.628 ⋅ 10−9 0.076 ⋅ 10−9 7.0 ⋅ 10−3
11 110 2.43 ⋅ 10−8
Tabla 4. Mediciones obtenidas de la parte 4.
12 120 2.67 ⋅ 10−8

Tabla 2. Mediciones realizadas en la parte 2. IV. ANÁLISIS DE RESULTADOS

Tercera parte Segunda parte
Acoplando el puente de impedancia al capacitor de placas Se graficó 𝑄 en función de 𝑉 y se observó un
paralelas con una separación 𝑑′ inicial de 2 mm y se midió comportamiento lineal por lo que se ajustó, por medio de
la capacitancia. Se hizo variar 𝑑′ con aumentos de 2 mm mínimos cuadrados [4] a una recta. La función se ajustó a
hasta llegar a una separación máxima de 20 mm. la recta
Finalmente se midió el diámetro 𝐷 de las placas del
𝐶
capacitor. 𝑄(𝑉) = 2.212 ⋅ 10−10 [𝑣 ] 𝑉 + 6.212 ⋅ 10−11 [𝐶] (9)

Figura 5. Instrumentos para la parte 3.

Grafica 1. Ajuste lineal encontrado para la parte 2.
Por la expresión (2) sabemos que
𝐶
𝐶 = 2.212 ⋅ 10−10
𝑣
Se realizó el cálculo de la capacitancia para cada medición
realizada y se obtuvo el promedio.

𝐶
N° V [v] Q [C] 𝐶 [ ]
𝑣
1 10 2.3 ⋅ 10−9 2.30 ⋅ 10−10
2 20 4.5 ⋅ 10−9 2.25 ⋅ 10−10 Grafica 3. 𝐶(𝑑′ ) en escala logarítmica.
3 30 6.6 ⋅ 10−9 2.20 ⋅ 10−10
Para poder realizar el ajuste por mínimos cuadrados se
4 40 8.9 ⋅ 10−9 2.22 ⋅ 10−10
obtuvieron los siguientes datos
5 50 1.09 ⋅ 10−8 2.18 ⋅ 10−10
6 60 1.35 ⋅ 10−8 2.25 ⋅ 10−10 N° 𝑢 = log (𝑑′ ) 𝑣 = log (𝐶) 𝑢⋅𝑣
7 70 1.57 ⋅ 10−8 2.24 ⋅ 10−10 1 -2.69 -9.59 25.88
2 -2.39 -9.86 23.65
8 80 1.79 ⋅ 10−8 2.23 ⋅ 10−10
3 -2.21 -10.01 22.24
9 90 2.02 ⋅ 10−8 2.24 ⋅ 10−10 4 -2.09 -10.11 21.21
10 100 2.18 ⋅ 10−8 2.18 ⋅ 10−10 5 -2.00 -10.18 20.37
11 110 2.43 ⋅ 10−8 2.20 ⋅ 10−10 6 -1.92 -10.24 19.67
12 120 2.67 ⋅ 10−8 2.22 ⋅ 10−10 7 -1.85 -10.28 19.06
8 -1.79 -10.31 18.53
Tabla 5. Cálculo de la capacitancia para cada medición. 9 -1.74 -10.36 18.08
∑12
1 𝐶𝑛 𝐶
𝐶̅ = = 2.225 ⋅ 10−10 10 -1.69 -10.38 17.64
12 𝑣
Tabla 6. Obtención de datos para el ajuste exponencial.
Calculando el error entre ambas capacitancias se tiene

𝐶̅ − 𝐶 También se calcularon las sumatorias de las variables

𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = | | ⋅ 100% = 0.58% que se encuentran en la tabla 6.
𝐶̅

Tercera parte ∑𝑢 ∑ 𝑢2 ∑ 𝑢𝑣 ∑𝑣
Se graficó 𝐶 en función de 𝑑′ y se vio un comportamiento 206.38 20.42 101.37 42.65
exponencial por lo que se volvió a graficar en una escala
Tabla 7. Sumatorias necesarias para el ajuste.
logarítmica encontrando una relación lineal por lo que la
recta de ajuste es de la forma
Con los datos obtenidos se resolvió el siguiente sistema de
log 𝐶 = n log 𝑑′ + log 𝑎 ecuaciones [4]

Donde 𝑎 = 𝜖0 𝐴 con 𝐴 el área de las placas del capacitor. ∑ 𝑣 = 𝑛 ∑ 𝑢 + 𝑛 log 𝑎

{
∑ 𝑢𝑣 = 𝑛 ∑ 𝑢2 + log 𝑎 ∑ 𝑢

Se encontró que 𝑛 = −0.64 y log 𝑎 = −11.46

Por tanto, la recta de ajuste está dada por
F
log 𝐶 = −0.64 [𝑚] log 𝑑′ − 11.46 [𝐹] (10)

Encontrando 𝑎
Grafica 2. 𝐶(𝑑′ ) en escala decimal.
 𝑎 = 10−11.46 = 3.46 ⋅ 10−12 Investigando en diversas fuentes [1][5] se encontraron los
valores reales 𝜖′ de los materiales (a 23 °C). Se realizó la
Aplicando leyes de logaritmos a la expresión de la recta siguiente tabla comparando los valores experimentales
de ajuste y aplicando la función exponencial se obtiene con los reales
finalmente la curva de ajuste
Material 𝜖 𝜖′
𝐶(𝑑′ ) = 3.46 ⋅ 10−12 [𝐹 𝑚] 𝑑′−0.64 (11) Acrílico 2.44 3 a 3.7
Seluron 3.13 ---
Madera 2.19 2a8
Vidrio 5.30 5 a 10
Asbesto 8.26 6a9

Tabla 9. Comparación de las constantes dieléctricas.

V. DISCUSIÓN
Primera parte
Se encontraron capacitores y resistencias inservibles.
Grafica 4. Ajuste exponencial encontrado por mínimos cuadrados. Hubo resistencias que, pese a tener el mismo código de
colores, al medirla con el puente de impedancia mostraban
Po la expresión (5) sabemos que
valores diferentes. Estas diferencias se pueden deber al
3.46 ⋅ 10−12 𝐹 𝑚 = 𝜖0 𝐴 oxido que presentaban las terminales de la resistencia.
Esto se volvió a observar en los capacitores, también se
Calculando el área de las placas del capacitor observó la variedad de capacitores que hay. A la hora de
𝐷 2 0.255 2 medir capacitancia de capacitores electrolíticos se tuvo
𝐴 = 𝜋𝑟 2 = 𝜋 ( ) = 𝜋 ( 𝑚) = 0.051 𝑚 2 mayor cuidado debido a la polaridad del capacitor y no
2 2
causar algún incidente.
Calculando 𝜖0 obtenemos finalmente
Segunda parte
−12 [𝐹
3.46 ⋅ 10 𝑚] 𝐹
𝜖0 = 2
= 6.78 ⋅ 10−11 Comparando el resultado de la capacitancia obtenida por
0.051 [𝑚 ] 𝑚
medio del ajuste y el campo promedio calculado
Comparando con el valor real de 𝜖0 ′ = 8.85 ⋅ 10−12 𝑚 [3]
𝐹 directamente con la expresión (2) se obtuvo un error
menos al 1% por lo que se obtuvieron unas buenas
y obteniendo el error con el valor experimental. mediciones. Para un análisis más riguroso se podría
𝜖0 ′ − 𝜖0 realizar la medición de la capacitancia con ayuda del
𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = | | ⋅ 100% = 666.10% puente de impedancias y comparar con el obtenido por
𝜖0 ′
medio del ajuste.
Cuarta parte
Tercera parte
Usando la expresión (7) se calculó la constante dieléctrica
Para la tercera parte se obtuvo un valor del exponente de
de los materiales de las placas.
𝑑′ igual a −0.64 cuando el valor teórico esperado debía
𝐶𝐷 ser de −1. Esta diferencia se debe a pequeños defectos del
Material 𝐶𝐷 [F] 𝐶 [F] 𝜖=
𝐶 capacitor de placas paralelas además de posibles
Acrílico 0.218 ⋅ 10−9 0.089 ⋅ 10−9 2.44 afectaciones por la temperatura y humedad del ambiente.
Seluron 0.69 ⋅ 10−9 0.22 ⋅ 10−9 3.13 También debido a esos defectos la estimación de la
Madera 0.16 ⋅ 10−9 0.073 ⋅ 10−9 2.19 constante 𝜖0 tuvo un error de más del 100% al ser
Vidrio 0.61 ⋅ 10−9 0.115 ⋅ 10−9 5.30 comparado con el valor real. Para tener un mejor ajuste es
Asbesto 0.628 ⋅ 10−9 0.076 ⋅ 10−9 8.26 recomendable hacer mediciones de la capacitancia
variando la distancia de separación de las placas 1 mm.
Tabla 8. Constante dieléctrica de las placas obtenidas
experimentalmente.
Cuarta parte
De igual manera, los defectos del capacitor hacen que su
capacitancia se vea afectada. Debido a que no se contaba
con una mayor información del material de las placas, no
se pudo encontrar un valor exacto de la constante
dieléctrica para poder compararla con el obtenido
experimentalmente ya que dependiendo del tipo de
madera, vidrio, asbesto o acrílico su constante dieléctrica
puede varias. Sin embargo, las constantes calculadas caían
dentro del rango registrado en tablas. Para el caso del
seluron no se pudo encontrar referencias sobre dicho
material, pero dado que las mediciones anteriores cayeron
en sus respectivos rangos, se puede considerar como
correcta su constante dieléctrica.
VI. CONCLUSIÓN
Los objetivos se cumplieron casi en su totalidad. Se
aprendió el funcionamiento del puente de impedancias y
la correcta forma de realizar mediciones con él. Se logró
estudiar la capacitancia realizando el ajuste de la gráfica
de 𝑄(𝑣) . No se logró calcular el valor de 𝜖0 debido a
detalles en el funcionamiento del capacitor. Se obtuvo un
valor aproximado del exponente 𝑛 de 𝑑′.
Las constantes dieléctricas del material de las placas se
pudieron calcular satisfactoriamente al encontrarse dentro
del rango registrado en libros. Para mayor exactitud se
necesita saber más detalles de los materiales de las placas.
VII. BIBLIOGRAFÍA

[1] Salvador. Gil. (2016) Experimentos de física. De bajo

costo usando TIC’s. Editorial UNSAM. Buenos Aires,
Argentina. Pp 310-311, 345-346.

[2] Hayt. H. William. (2006) Teoría Electromagnética.

Mc. Grawl Hill. 4ta edición. Pp 149-151.

[3] Manual de laboratorio.

[4] Murray. R. Spiegel. (2014). Estadística. México. Mc.

Grawl Hill. 4ta edición. Pp 316-320.

[5] Sears, Zemansky, Young. (2013) Física Universitaria.

Editorial Fondo Educativo Interamericano.