Un breve estudio de la permitividad eléctrica
del aire y la constante dieléctrica para
diferentes materiales
Ramos Lopez Bryan.
Universidad Nacional de Ingeniería, Facultad de Ciencias, Laboratorio de Física Intermedia
Av. Túpac Amaru 210 – Rimac – Lima – Perú
Resumen---En el presente trabajo se
realizaron los cálculos y mediciones con
un sistema eléctrico conformado
principalmente por un capacitor pequeño
de 220nF , un capacitor de de placas planas
paralelas de dimensiones mayores al del
capacitor pequeño y de capacitancia
variable, fuente de voltaje , etc. Se
emplearon dos métodos independientes y
similares , cuya esencia de cada metodo
consiste en cargar el condensador grande
y , posteriormente, descargarlo en el
capacitor pequeño sucesivamente, con el
objetivo de calcular la permitividad
eléctrica en el aire 𝜺𝟎 para cada método, y
para refinar aún mas la estimación
experimental de 𝜺𝟎 se combinaron ambos
resultados mediante el método de la
medias ponderadas. Luego se colocaron
distintos materiales dieléctricos entre las
placas del capacitor grande y se calculó la
carga descargada en el capacitor pequeño,
respectivamente, para diferentes valores
de voltaje suministrado por la fuente de
alimentación. Ambos valores se
compararon con la carga descargada en el
capacitor pequeño pero sin material
dieléctrico en las placas del condensador
grande , para los mismos valores de voltaje
de la fuente alimentación , con el propósito
de calcular la constante dieléctrica de cada
material.
Abstract---In the present work the
calculations and measurements were
made with an electrical system consisting
mainly of a small capacitor of 220nF, a
capacitor of parallel flat plates of
dimensions greater than that of the small
capacitor and of variable capacitance,
voltage source, etc. Two independent and
similar methods were used, whose essence
of each method is to charge the large
capacitor and, subsequently, discharge it
in the small capacitor successively, with
the aim of calculating the electric
permittivity in the air 𝜺𝟎 for each method,
and to refine even plus the experimental
estimate of 𝜺𝟎 both results were combined
using the weighted average method.
Different dielectric materials were then
placed between the plates of the large
capacitor and the discharged load on the
small capacitor was calculated,
respectively, for different voltage values
supplied by the power supply. Both values
were compared with the charge
discharged in the small capacitor but
without dielectric material on the plates of
the large capacitor, for the same voltage
values of the power supply, with the
purpose of calculating the dielectric
constant of each material.
1
 I. INTRODUCCIÓN
En la actualidad es necesario evaluar la propiedades y características de los materiales
dieléctricos , para de esta manera elegir los materiales apropiados por cada necesidad
específica [1]. Entre estas propiedades se resalta la constante dieléctrica , el cual es una
propiedad macroscópica de todo material dieléctrico que nos da una medida de la
permitividad electrica relativa del material respecto al vacío [2] , y la permitividad eléctrica
, asu vez, es una medida cuantitativa de la influencia del campo eléctrico en el material [3].
La permitividad eléctrica en el vacío 𝜀0 es sumamente importante para el cálculo de la
constante dieléctrica del material .En [4] desarrollaron un metodo para calcular 𝜀0 , y
siguiendo esa metodología encontrar que 𝜀0 = 8.8 × 10−12 , el cual es cercano al valor
aceptado de 𝜀0 , [3]. Una manera de medir la constante dieléctrica del material es mediante
capacitores ,la configuración mas simple es la del sistema placa plana paralelas [4]. Para un
plato de plástico determinaron que su constante dieléctrica es 𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = 9.1. En
Fundamentos de electromagnetismo para ingeniería , David K. Cheng [3] , se anexa en forma
de tabla los valores de la constante dieléctrica del vidrio , dado por 4 ≤ 𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 ≤ 10.

II. OBJETIVOS Y MARCO TEÓRICO

OBJETIVOS
 Determinar la permitividad eléctrica del aire 𝜀0
 Determinar la constante dieléctrica “𝐾𝑝 ” de un plástico desconocido
 Determinar la permitividad eléctrica “𝜀𝑝 ” del plástico
 Determinar la constante dieléctrica “𝐾𝑣 ” y la permitividad eléctrica “𝜀𝑣 ”del vidrio

MARCO TEÓRICO
Capacitores
Un capacitor es un sistema de dos conductores dispuestos de tal manera que todas las líneas
de fuerza que salen de uno de ellos terminan en el otro [5]

Figura1
El conductor 1 esta encerrado por el
conductor 2.Todas las líneas de fuerza
que salen del uno llegan al dos. El
sistema es un capacitor. Fuente del
grafico [5]

Es importante notar en la figura 1 que el campo eléctrico entre las armaduras del capacitor no
tiene nada que ver con la carga 𝑄 ′ en la superficie externa de la armadura 2. En consecuencia,
la diferencia de potencial ∆𝑈 entre los conductores 1 y 2 depende solo de la carga 𝑄 de la
armadura interna. [5]

Se llama capacitancia( o capacidad) de un capacitor a la razón [3]

2
 𝑸
𝑪= (𝒆𝒄𝒖𝒂𝒄𝒊ó𝒏 𝟏)
∆𝑼
donde ∆𝑈 = 𝑈1 − 𝑈2 es la diferencia de potencial entre las armaduras del capacitor

Las cantidades 𝑄 y ∆𝑈 pueden expresarse en términos del campo eléctrico que hay entre los
conductores 1 y 2 [3]. Por lo tanto se puede escribir

∯ 𝜀𝐸⃗ . 𝑛∧ 𝑑𝑎 ∯ 𝜀𝐸⃗ . 𝑑𝑎
𝐶= 1 = 2
∫2 −𝐸⃗ . 𝑑𝑙 ∫1 𝐸⃗ . 𝑑𝑙

A la unidad de capacitancia (Coulumb/Voltio), se llama FARADIO. En caso de geometrías

arbitrarias resulta difícil encontrar la capacitancia por métodos analíticos, en tales casos es
mejor usar métodos experimentales o métodos aproximados. Pero en algunos casos de
geometría sencilla se puede hallar la capacitancia C en forma analítica sencilla

Capacitor plano de placas paralelas

Las placas poseen una area “A”, separadas una distancia “d”. El dieléctrico entre las placas es
lineal, isotropo y homogéneo de permitividad 𝜀. Suponiendo densidad superficial uniforme y
despreciando efectos de borde, entre ambas armaduras, se tiene , según [3]
𝑄 ∧
𝐸⃗ = 𝑛
𝜀𝐴
𝑸
Y por lo tanto ∆𝑼 = ( ) 𝒅 (𝒆𝒄𝒖𝒂𝒄𝒊ó𝒏 𝟐) [3]
𝜺𝑨
Reemplazando en la ecuación 1 , se tiene
𝜺𝑨
𝑪= (𝒆𝒄𝒖𝒂𝒄𝒊ó𝒏 𝟑) [𝟑]
𝒅
En la figura 2 se muestra la configuración geométrica de un sistema de capacitor plano de
placas paralelas

Figura 2: Capacitor de placas paralelas con densidad superficial “𝜎” . Fuente [6]
Permitividad
La permitividad es una constante eléctrica de un material que específica completamente su
comportamiento eléctrico [5].

3
La permitividad del vacío “𝜀0 ” es el cociente del campo de desplazamiento eléctrico y el campo
eléctrico. Entonces 𝜀0 = 8.85. 10−12 𝐹/𝑚 = 8.85. 10−12 𝐶 2 /𝑁𝑚2 [3]

La permitividad de un material se da normalmente en relación con la del vacío 𝜀0 ,

denominándose permitividad relativa K (también llamada constante dieléctrica) [5]. La
permitividad absoluta 𝜀 se calcula multiplicando la permitividad relativa por la del vacío

𝜺 = 𝑲𝜺𝟎 (𝒆𝒄𝒖𝒂𝒄𝒊ó𝒏 𝟒) [𝟓]

Dieléctricos
Tratemos de entender en términos atómicos, lo que ocurre cuando se coloca un dieléctrico en
un campo eléctrico [2]. Hay dos posibilidades:

Las moléculas de algunos dieléctricos, como el agua, tienen momentos de dipolo eléctrico
permanentes. En materiales de esa clase (llamados polares) los momentos de dipolo eléctrico
𝑝 tienden a alinearse bajo la acción de un campo eléctrico externo; como se muestra en la
figura 3. Debido a que las moléculas están en constante agitación térmica, el grado de
alineamiento no será completo y se incrementara al aumentar el campo eléctrico aplicado o al
disminuir la temperatura.

Ya sea que las moléculas tengan momentos de dipolo eléctrico permanente o no, los
adquieren por inducción cuando se colocan en un campo eléctrico.El campo eléctrico externo
tiende a separar la carga negativa de la positiva en el átomo o en la molécula. Este momento
de dipolo electrico inducido existe solo cuando hay un campo eléctrico (para intensidades de
campo normales) y al crearse se forma ya alineado con el campo eléctrico.

Consideremos un condensador de armaduras paralelas que tiene una carga fija 𝑞 y que no esta
conectado con una batería (figura 4.b), para producir un campo eléctrico externo uniforme ,
⃗⃗⃗⃗
𝐸0 , en el cual colocamos una placa de dielectrico .El efecto conjugado de alineamiento e
inducción es separar ligeramente el centro de carga la positiva de toda la placa con respecto
al centro de la carga negativa. La placa , en conjunto, aun cuando permanece electricamente
neutro , se polariza, como la figura 3. El efecto neto es una acumulación de carga positiva en la
cara derecha del bloque, y de carga negativa en la cara izquierda; dentro del bloque no
aparece ninguna carga en exceso en ningún elemento de volumen dado. Ya que la placa en
conjunto permanece neutra, la carga superficial inducida positiva debe ser de igual magnitud
que la carga superficial inducida negativa.

Figura 3:
(a) Moléculas con un momento de dipolo
permanente, mostrando su orientación
irregular cuando no hay un campo
eléctrico externo.Fuente [2]
(b) Al aplicar un campo eléctrico se
produce un alineamiento parcial de los
dipolo la agitación térmica impide un
alineamiento completo. Fuente [2]

4
Condensadores de armaduras paralelas con dielectrico
Michael Faraday en 1837 fue el primero que investigo el efecto de llenar el espacio entre las
armaduras con un dielectrico, digamos de mica o aceite. [ 2]En propias palabras de Faraday se
planteo la cuestion:

Supongase que A es una placa metalica electrizada suspendida en el aire y B y C dos placas
exactamente similares, colocadas paralelamente a la placa A y una a cada lado, a distancias
iguales y aisladas; entonces A introducira igualmente hacia B y hacia C (esto es, apareceran
cargas iguales en esas placas). Si en esta posicion de las placas se introduce entre A y C algun
otro dielectrico que no sea aire, como goma. ¿Quedara igual la induccion entre ellas? ¿La
relacion de C y B a A que dara inalterada, no obstante la diferencia de los dielectricos
interpuestos entre las placas?

Faraday llego al siguiente razonamiento con el cual contesto esta pregunta [2], para ello
construyo dos condensadores identicos, en uno de los cuales coloco un dielectrico, el otro
condensador lo dejo con aire a la presion normal. Cuando ambos condensadores se cargaron
hasta obtenerse la misma diferencia de potencial, Faraday encontro experimentalmente que la
carga en el que contenia el dielectrico era mayor que la carga en el otro ... ver figura 4.a.
𝑸
Ya que para la misma V, Q es mayor, cuando hay un dielectrico, se deduce de la relacion 𝑪 = 𝑽
que la capacidad de un condensador aumenta si se coloca un dielectrico entre las armaduras.
La relacion de la capacidad con dielectrico a la capacidad sin el se llama constante dielectrica K
del material.

(a)

Figura 4:
(a) La bateria B comunica la misma diferencia de potencial a cada condensador el que esta
a la derecha tiene una carga mayor. Fuente [8]
(b) Ambos condensadores tienen la misma carga, el de la derecha tiene una diferencia de
potencial menor, como lo indican las lecturas del medidor.Ademas,el nuevo voltaje del
condensador con dielectrico es 𝑽𝒅 . Fuente [8]

5
En vez de conservar los dos condensadores a la misma diferencia de potencial, podemos
aplicarles la misma carga, como se ilustra en la figura 4.b

El experimento muestra entonces que la diferencia de potencial 𝑽𝒅 entre las placas del
condensador de la derecha es menor que la del condensador de la izquierda en un factor 1/k ,
[2] osea:
𝑽𝟎
𝑽𝒅 = (𝒆𝒄𝒖𝒂𝒄𝒊𝒐𝒏 𝟓)
𝒌
𝑸
Llegamos una vez mas a la conclusion , a partir de la relacion 1, 𝑪 = 𝑽
, de que el efecto del
dielectrico es aumentar la capacidad en un factor k [2]
𝒌𝜺𝟎 𝑨
𝑪= (𝒆𝒄𝒖𝒂𝒄𝒊𝒐𝒏 𝟔)
𝒅

La ecuacion 3 es un caso especial de esta relacion que se obtiene al poner k=1 y que
corresponde al caso de vacio entre las armaduras. Los experimentos ponen de manifiesto que
la capacidad de todos los tipos de condensadores aumenta en un factor k, si el espacio entre
las placas se llena con un dielectrico [2]

Tabla N1: Propiedades de algunos dielectricos. Datos tomados de [3]

Material constante dielectrica

Vacio 1.00000
Aire 1.00054
Papel 3.5
Mica rubi 5.4
Ambar 2.7
Porcelana 6.5
Cuarzo fundido 3.8
Polietileno 2.3
Poliestireno 2.6
Teflon 2.1
Vidrio 5.4-10.0

III. DESCRIPCION DE LOS MATERIALES Y DE LOS EQUIPOS DE

TRABAJO
Los equipos utilizados fueron

 Fuente de voltaje: Esta fuente permite cargar el capacitor plano.Su voltaje varia de 0
...±10𝑘𝑣, y su intensidad de corriente es 2mA.
 Capacitor plano (d=260mm): En este capacitor se almacenara las cargas al aplicar una
diferencia de potencial generado por la fuente de alto voltaje.

6
 Plato plastico(283*283 mm): Se usa como material dielectrico colocado entre las
placas y se calculo su valor de constante dielectrica.
 Capacitor 220nF/250V: Se usa para descargar el capacitor plano.
 Amplificador universal de medicion: Mide el voltaje en el condensador pequeño y
transfiere la carga almacenada por el capacitor plano.
 Voltimetro: Instrumento con el que se mide la diferencia de potencial generada en el
capacitor pequeño.
 Cable con alta resistencia (𝟏𝟎𝑴𝛀): Se utilizo entre la fuente de alto voltaje y el
capacitor, tiene buena proteccion para su manipulacion.

Figura 5: Capacitor de placas

paralelas.Fabricado por PHYWE [4] Figura 6: Amplificador universal de
medicion. Fabricado por PHYWE [4]

Figura 8: Placa de plastico hecho por Figura 7: Fuente de alto voltaje.Fabricado

PHYWE [4] por PHYWE [4]

IV. PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL

1. Se fijo el voltaje en la fuente a 20 kv para cargar el capacitor plano.
2. Luego se realiza las conexiones de la fuente alto voltaje con el capacitor plano, tal y
como se indica en la figura 9, asimismo el amplificador con el multimetro digital
3. Se fija la distancia de separacion entre las placas, siempre evitando que estas choquen,
se carga el capacitor plano y para esta misma distancia se procedio a descargarlo

7
 mediante el amplificador universal con la finalidad de que la carga se transfiera al
capacitor de 220 nF
4. Se midio el voltaje 𝑉𝑚 en el capacitor de 220 nF utilizando un multimetro digital
5. Luego con el valor obtenido, y conociendo el valor de capacidad, se calculo la carga
6. Para el mismo valor de voltaje en la fuente y variando la distancia de separacion, entre
las placas paralelas, se repitio los pasos 3,4 y 5
7. Se fijo la distancia en d=2mm y se varia el voltaje de la fuente y se repitio tambien los
pasos 3,4 y 5.
8. Se coloca la placa de material dielectrico y se ajusto dicha placa entre el capacitor plano
y se midio la separacion entre las caras del capacitor plano a d=10mm
9. Manteniendo fija esta distancia de separacion, se varia el voltaje de la fuente hasta un
valor en el que se empiece a observar un chispeo entre las placas, se repitieron los pasos
3,4 y 5
10. Se retira la placa de plastico y para esa distancia (d=10mm) se varia el voltaje de la fuente
11. Para cada valor valor de voltaje se repitio los pasos 3,4 y 5
12. Se coloca un vidrio y se ajusta entre las placas del capacitor plano y se midio la
separacion entre las placas (d=0.15mm)
13. Manteniendo fija esa distancia de separacion se varia el voltaje y se toma nota. Se
repiten los pasos 3,4 y 5
14. Se retira el vidrio y para esa distancia se varia el voltaje de la fuente
15. Para cada valor de voltaje diferente se repitio elos pasos 3,4 y 5

Figura 10: Configuracion instrumental final del experimento. Fuente [4]

V. PRESENTACION DE LOS DATOS OBTENIDOS

Se empezo con la situacion cuando no hay ningun tipo de dielectrico entre las placas
paralelas del capacitor plano.Como punto de partida del experimento ,y dado las condiciones
ya mencionados,se fijo el valor del voltaje de la fuente 𝑉𝑓 y variando la distancia d entre las
placas paralelas del capacitor, se midio el voltaje en el capacitor pequeño 𝑉𝑚 para cada valor
de d.Los datos experimentales que se obtuvieron fueron lo siguiente:

8
 Tabla N2: Medicion de 𝑽𝒎 para cada valor de “d”, siendo “𝑽𝒇 ” constante

𝑽𝒇 = (𝟐. 𝟎 ± 𝟎. 𝟏)𝒌𝑽

(𝑑 ± 0.05)𝑚𝑚 (𝑉𝑚 ± 0.01)𝑉

4.00 1.32
6.00 0.94
8.00 0.82
10.00 0.67
12.00 0.59
14.00 0.57
16.00 0.49

Luego, se fijo la distancia de separacion d y se vario el voltaje de la fuente, en base a estas

condiciones , se midio el voltaje en el capacitor pequeño.

Tabla N3: Medicion de 𝑽𝒎 para cada valor de “𝑽𝒇 ”, siendo “d” constante

𝒅 = (𝟐. 𝟎𝟎 ± 𝟎. 𝟎𝟓)𝒎𝒎

(𝑉𝑓 ± 0.1)𝑘𝑉 (𝑉𝑚 ± 0.01)𝑉

0.5 0.71
1.0 1.27
1.5 1.59
2.0 2.34
2.5 2.80
3.0 3.14
3.5 3.94
4.0 4.21

En la segunda parte , se coloco el material de plastico entre las caras del capacitor plano y se
mide su separacion, d=10mm. Se vario el voltaje de fuente y se mide el voltaje en el capacitor
pequeño. Luego, se retiro el material dielectrico y para esa misma separacion se mide el valor
de voltaje en el capacitor pequeño.

9
Tabla N4: Medicion de 𝑽𝒎 ,con material dielectrico (plastico) y aire entre las placas
del capacitor plano, para cada valor distinto de 𝑽𝒇

𝒅 = (𝟏𝟎 ± 𝟎. 𝟎𝟓)𝒎𝒎

plastico aire
(𝑉𝑓 ± 0.1)𝑘𝑉 (𝑉𝑚 ± 0.01)𝑉 (𝑉𝑚 ± 0.01)𝑉
0.5 0.69 0.20
1.0 1.01 0.35
1.5 1.24 0.53
2.0 1.69 0.68
2.5 2.17 0.87
3.0 2.62 0.99
3.2 2.92 1.07
3.5 3.08 1.20
3.8 3.38 1.23
4.0 3.64 1.32

Para finalizar, se coloco la placa de vidrio entre las caras del capacitor plano y se mide su
separacion, d=0.15mm. Se vario el voltaje de la fuente y se mide el voltaje en el capacitor
pequeño. Se retira el vidrio y para esa misma separacion se mide el valor de voltaje en el
capacitor pequeño.

Tabla N5: Medicion de 𝑽𝒎 ,con material dielectrico (vidrio) y aire entre las placas
del capacitor plano, para cada valor distinto de 𝑽𝒇

𝒅 = (𝟎. 𝟏𝟓 ± 𝟎. 𝟎𝟓)𝒎𝒎

vidrio aire
(𝑉𝑓 ± 0.1)𝑘𝑉 (𝑉𝑚 ± 0.01)𝑉 (𝑉𝑚 ± 0.01)𝑉
0.2 2.42 0.34
0.4 3.91 0.36
0.6 6.79 0.69
0.8 7.38 0.89
1.0 8.35 0.97
1.2 10.42 1.19
1.4 10.76 1.44
1.6 10.76 1.51
1.8 10.76 1.93
2.0 10.76 1.94

10
 VI. ANALISIS DE DATOS Y DISCUSIONES DEL EXPERIMENTO
Antes de empezar con el tratamiento de los datos experimentales, desarrollaremos una
expresion que relacione la carga total suministrado por la fuente de voltaje al condensador de
placas paralelas con la capacitancia y el voltaje sobre el capacitor pequeño.Luego, utilizaremos
esta relacion que nos permita encontrar una expresion para el calculo de la permitividad
electrica en el vacio.

Carga en el capacitor de placas paralelas (𝑸𝒕𝒐𝒕𝒂𝒍 )

Mediante la fuente de alto voltaje 𝑉𝑓 se carga el capacitor de placas paralelas 𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙

𝑉𝑓 𝐶1 , 𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 Usando la ecuacion 1:

𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙
𝐶1 =
𝑉𝑓

Luego de cargar el capacitor de placas paralelas se conecta en paralelo al capacitor pequeño 𝐶2

𝑄1 , 𝐶1 𝑄2 , 𝐶2 Las cargas se distribuyen de tal manera que

obtengan una misma diferencia de
potencial 𝑉𝑚

𝑄1 𝑄2 𝑄2
𝑉𝑚 = = … . (𝛼) , 𝑄1 = 𝑉𝑚 . 𝐶1 = 𝐶1 . … (𝛽)
𝐶1 𝐶2 𝐶2
Por conservacion de la carga obtenemos:

𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝑄1 + 𝑄2
𝐶1
𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝑄 + 𝑄2
𝐶2 2
𝐶1
𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝑄2 (1 + )
𝐶2
𝐴𝜀0
Usando la ecuacion 3 𝐶1 = 𝑦 𝐴 = 5.31 × 10−2 𝑚2
𝑑
𝐶2
Por tablas teoricas [3] 𝜀0 = 8.85 × 10−12
𝑁𝑚2

Si consideramos una una d pequeño , a lo mas de 16mm

⇒ 𝐶1 = 1.17 × 10−9 𝐹 𝑦 𝐶2 = 220 × 10−9 𝐹

𝐶1
Por lo tanto : 𝐶2
~5.34 × 10−3 ≈ 0 , entonces

11
 𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝑄2
Al medir la diferencia de potencial en el capacitor de 220nF se obtiene la carga del capacitor 𝐶1
𝑄2
𝑉𝑚 = ⇒ 𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝑄2 = 𝑉𝑚 × 𝐶2
𝐶2
∴ 𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝐶2 × 𝑉𝑚 … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 7)
De la ecuacion 3:

𝐴𝜀0 𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙
𝐶1 = =
𝑑 𝑉𝑓
Se obtiene
𝜀0 × 𝐴
𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝑉𝑓 × … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛8)
𝑑
Como parte del procesamiento de datos y analisis , empezamos con los datos obtenidos de la
tabla 2 . Utilizando la ecuacion 7 se obtuvo la medida de 𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 , siendo 𝑉𝑓 = 2.0𝑘𝑉 para todo
el proceso.Por otro lado, de las medidas de d , se computo facilmente los valores de 1/d para
cada valor de d. Estos valores calculados se muestran en la tabla 6.

Tabla N6: Calculo de 𝑸𝒕𝒐𝒕𝒂𝒍 y 1/d para cada valor de 𝑽𝒎 y d , respectivamente

(calculo de 𝜺𝟎 )

Para 𝑽𝒇 = (𝟐. 𝟎 ± 𝟎. 𝟏)𝒌𝑽

d(mm) 𝑉𝑚 (𝑉) 1/d(1/m) 𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 (𝑛𝐶)

4 1.32 250 290.4
6 0.94 167 206.8
8 0.82 125 180.4
10 0.67 100 146.7
12 0.59 83.3 129.8
14 0.57 71.4 125.0
16 0.49 62.5 108.9

Para estos valores obtenidos (1/d y 𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 ) se grafico 𝑄𝑡𝑜𝑡𝑎𝑙 vs 1/d ,luego se hizo un ajuste
lineal para esos mismos valores , con el proposito de obtener experimentalmente la pendiente
de la recta , el cual esta dado por la ecuacion 8

𝑚𝑡𝑒𝑜𝑟𝑖𝑐𝑜 = 𝑉𝑓 ∗ 𝜀0 ∗ 𝐴 … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 9)

12
 Grafico 1:
Q vs 1/d de los datos de la tabla 6

De la grafica 1 se obtiene la pendiente 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙

𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 = 0.9465 × 10−9

Al reemplazar en la ecuacion 9 el valor de la pendiente calculado experimentalmente,y

considerando los valores de 𝑉𝑓 = 2.0𝑘𝑉 y 𝐴 = 0.0531𝑚2, se obtiene el valor de 𝜀0 :
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 𝐶
𝜀𝑜 = = 8.912 × 10−12 𝑝𝑎𝑟𝑎 𝑉𝑓 = 2.0𝑘𝑉
𝐴 × 𝑉𝑓 𝑚. 𝑉

El valor calculado de 𝜀0 corresponde al mejor valor para 𝜀0 que se puede obtener en base a
los datos experimentales obtenidos del laboratorio, no al valor exacto ya que toda medida
esta asociado a una incertidumbre;solo quedaria por cuantificar la incertidumbre asociado a su
medida, y en base a eso podremos decidir si el valor calculado de 𝜀0 , con su respectiva
incertidumbre, estaria de acorde con el valor teorico de 𝜀0 .
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙
En virtud de la relacion 𝜀0 = 𝐴×𝑉𝑓
, la incertidumbre 𝛿𝜀0 de 𝜀0 se determina mediante
la propagacion de errores de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 , 𝑦 𝐴, 𝑉𝑓 tal como lo indica [7]

2 2
Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 𝛿𝐴 2 ∆𝑉𝑓
∆𝜀0 = 𝜀0 √( ) +( ) +( )
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 𝐴 𝑉𝑓

La incertidumbre de 𝑉𝑓 se conoce, el cual es ∆𝑉𝑓 = 0.1kV.En cambio , la incertidumbre de

A, 𝛿𝐴 no se especifica directamente en PHYWE [4], pero si se indica el valor de su diametro con

13
 𝜋𝐷 2
su respectiva incertidumbre 𝐷 = (260 ± 0.05)mm , y dado que A= 4
, mediante
−5 2
propagacion de errores se obtiene que 𝛿𝐴 =2.04× 10 𝑚

El valor de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 que se determino experimentalmente mediante ajuste por minimos

cuadrados [7] corresponde a su mejor valor, sin embargo desconocemos de su
incertidumbre,Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 . De la grafica 1 se observa que los datos experimentales son
muy cercanos a la recta de minimos cuadrados , esto nos sugiere que Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 ≈ 0.Esto
es sumamente razonable ya que el factor de correlacion [7], 𝑅 2 ≈ 1 , por lo cual nos garantiza
con buena precision el comportamiento lineal

Asi,con Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 ≈ 0 y los valores de 𝛿𝐴 y ∆𝑉𝑓 , la expresion para ∆𝜀0 se reduce a

2
𝛿𝐴 2 ∆𝑉𝑓
∆𝜀0 = 𝜀0 √( ) + ( )
𝐴 𝑉𝑓
𝐶
Y a partir de esta ∆𝜀0 = 0.4456 × 10−12 𝑚.𝑉

Por lo tanto
𝐶
𝜀𝑜 = (8.912 ± 0.4456) × 10−12 … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 10)
𝑚. 𝑉
𝐶
lo que concuerda satisfactoriamente con el valor aceptado, igual a 8.854 × 10−12 𝑚.𝑉, segun
[3]

Adviertase que la distancia “d” entre las placas debia ser muy pequeño, teniendo cuidado que
no se toquen, ya que con otras medidas de “d” mas separadas el campo electrico entre las
placas del condensador paralelo deja de ser paralelo en los extremos, y por tanto las
ecuaciones empleadas en el analisis para la determinacion de 𝜀𝑜 , con “d” variable no serian
aplicables.

Cambiando las condiciones del experimento, es decir 𝑉𝑓 y mantendiendo fijo la distancia de

separacion entre las placas del condensador plano con un valor de d=2mm, se tomaron
medidas de 𝑉𝑓 𝑦 𝑉𝑚 , los cuales se registraron en la tabla 3. A partir de la ecuacion 7 se calculo
carga Q .Estos valores calculados se muestran en la tabla 7

Tabla N7: Calculo de Q para una distancia d=2mm

𝒅 = (𝟐. 𝟎𝟎 ± 𝟎. 𝟎𝟓)𝒎𝒎

𝑉𝑓 (𝑘𝑉) 𝑉𝑚 (𝑉) 𝑄(𝑛𝐶)

0.5 0.71 156.2
1.0 1.27 279.4
1.5 1.59 349.8
2.0 2.34 514.8
2.5 2.80 616.0
3.0 3.14 690.8
3.5 3.94 866.8
4.0 4.21 926.2

14
Para estos valores se grafica Q vs 𝑉𝑓 , y se relaciona la pendiente que se obtiene
𝜀0 ×𝐴
experimentalmente con la ecuacion 8, 𝑚𝑡𝑒𝑜𝑟𝑖𝑐𝑜 =
𝑑

Grafico 2:
Q vs Vf para los
datos de la tabla 7

Considerando la ecuacion 8 y la pendiente de la grafica 2 , se puede calcular el valor de 𝜀0 :

𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 × 𝑑
𝜀0 = 𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 = 225.03; 𝐴 = 0.0531𝑚2 ; 𝑑 = 0.2 × 10−2 𝑚
𝐴
𝐶
Por lo tanto: 𝜀0 = 8.47571 × 10−12 𝑚𝑉 𝑝𝑎𝑟𝑎 𝑑 = 2𝑚𝑚

El valor calculado de 𝜀0 corresponde al mejor valor para 𝜀0 que se puede obtener en base a
los datos experimentales obtenidos del laboratorio, no al valor exacto ya que toda medida
esta asociado a una incertidumbre;solo quedaria por cuantificar la incertidumbre asociado a su
medida, y en base a eso podremos decidir si el valor calculado de 𝜀0 , con su respectiva
incertidumbre, estaria de acorde con el valor teorico de 𝜀0 .
𝑑×𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙
En virtud de la relacion 𝜀0 = 𝐴
, la incertidumbre 𝛿𝜀0 de 𝜀0 se determina
mediante la propagacion de errores de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 , 𝑑 𝑦 𝐴, tal como lo indica [7]

2
Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 𝛿𝑑 2 𝛿𝐴 2
∆𝜀0 = 𝜀0 √( ) +( ) +( )
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 𝑑 𝐴

La incertidumbre de 𝑑 se conoce, el cual es 𝛿𝑑 = 0.05mm.En cambio , la incertidumbre de

A, 𝛿𝐴 no se especifica directamente en PHYWE [4], pero si se indica el valor de su diametro con
𝜋𝐷 2
su respectiva incertidumbre 𝐷 = (260 ± 0.05)mm , y dado que A= 4
, mediante
−5 2
propagacion de errores se obtiene que 𝛿𝐴 =2.04× 10 𝑚

15
El valor de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 que se determino experimentalmente mediante ajuste por minimos
cuadrados corresponde a su mejor valor, sin embargo desconocemos de su
incertidumbre,Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 . De la grafica 2 se observa que los datos experimentales son
muy cercanos a la recta de minimos cuadrados [7] , esto nos sugiere que Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 ≈
0.Esto es sumamente razonable ya que el factor de correlacion [7], 𝑅 2 ≈ 1 , por lo cual nos
garantiza con buena precision el comportamiento lineal

Asi,con Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙 ≈ 0 y los valores de 𝛿𝐴 y 𝛿𝑑 , se obtiene finalmente que

𝛿𝐴 2 𝛿𝑑 2
∆𝜀0 = 𝜀0 √( ) + ( )
𝐴 𝑑
𝐶
Y a partir de esta ∆𝜀0 = 0.4738 × 10−12 𝑚.𝑉

𝐶
𝜀𝑜 = (8.475 ± 0.4738) × 10−12 … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 11)
𝑚. 𝑉
Dado que el valor aceptado de la permitividad electrica en el vacio es 𝜀𝑜 = 8.854 ×
𝐶
10−12 𝑚.𝑉 , segun [3], vemos que claramente se encuentra dentro del rango medido, (8.475 ±
0.4738) × 10−12

Ambas medidas, dados por relaciones 10 y 11, que se obtuvieron son distintas e
independientes , ya que se realizaron en distintas condiciones, pero al fin al cabo son medidas
confiables ya que en su rango de medida encaja el valor aceptable [3]. Naturalmente, surge la
cuestion de si se podria mejorar aun mas la estimacion de 𝜀𝑜 a partir de los valores de las las
relaciones 10 y 11. En efecto, [7] sugiere que combinemos ambas determinaciones utilizando
el metodo de las medias ponderadas , para asi obtener una mejor estimacion de 𝜀𝑜

La mejor estimacion de 𝜀𝑜 basado en las valores de las relaciones 10 y 11 viene dado por la
media ponderada, segun [7]

∑2𝑖=1 𝑤𝑖 𝜀𝑜 𝑖
𝜀𝑜 𝑚𝑝 =
∑ 𝑤𝑖

Donde 𝜀𝑜 1 = 8.912; 𝜀𝑜 2 = 8.475 𝑠𝑜𝑛 𝑙𝑎 𝑑𝑒𝑡𝑒𝑟𝑚𝑖𝑛𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛𝑒𝑠 𝑑𝑒 𝜀𝑜 𝑞𝑢𝑒 𝑠𝑒 𝑣𝑎𝑛 𝑎 𝑐𝑜𝑚𝑏𝑖𝑛𝑎𝑟

y 𝑤𝑖 es el peso de cada medicion de 𝜀𝑜 , el cual se define de la siguiente manera:
1
𝑤𝑖 = , 𝑒𝑛 𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 ∆𝜀𝑜 𝑖 𝑒𝑠 𝑠𝑢 𝑖𝑛𝑐𝑒𝑟𝑡𝑖𝑑𝑢𝑚𝑏𝑟𝑒 𝑐𝑜𝑟𝑟𝑒𝑠𝑝𝑜𝑛𝑑𝑖𝑒𝑛𝑡𝑒, 𝑝𝑎𝑟𝑎 𝑖 = 1,2
∆𝜀𝑜 𝑖 2

De las ecuaciones 10 y 11, los valores de ∆𝜀𝑜 𝑖 son

∆𝜀𝑜1 = 0.4456

∆𝜀𝑜 2 = 0.4738
1
Por lo tanto, los pesos correspondientes 𝑤𝑖 = ∆𝜀 2 son
𝑜𝑖

𝑤1 = 5.0362, 𝑤2 = 4.4546
La mejor estimacion de 𝜀𝑜 es la media ponderada 𝜀𝑜 𝑚𝑝 que ya se menciono anteriormente, y
es igual a:

16
 ∑2𝑖=1 𝑤𝑖 𝑥𝑖
𝜀𝑜 𝑚𝑝 =
∑ 𝑤𝑖

= 8.70689
La incertidumbre de 𝜀𝑜 𝑚𝑝 se puede calcular utilizando la propagacion de errores. La
incertidumbre en 𝜀𝑜 𝑚𝑝 es, segun [7]

1
∆𝜀𝑜 𝑚𝑝 =
√∑ 𝑤𝑖

Y es igual a

∆𝜀𝑜 𝑚𝑝 = 0.32459

Por consiguiente, nuestro mejor estimaciones de 𝜀𝑜 (convenientemente redondeado) es

𝐶
𝜀𝑜 = (8.707 ± 0.3246) × 10−12
𝑚. 𝑉
El cual concuerda muy satisfactoriamente con el valor aceptado de 𝜀𝑜 , igual a
𝐶
𝜀𝑜 = 8.854 × 10−12
𝑚. 𝑉
Ahora, colocaremos un material dielectrico entre las placas del capacitor plano, sea plastico o
vidrio. En presencia del dielectrico, se modifica la capacitancia 𝐶1 del capacitor de placas
planas paralelas, cuyo valor estaria dado por la ecuacion 6:
𝒌𝜺𝟎 𝑨
𝑪𝟏 =
𝒅
Y naturalmente se modifica la carga total suministrado por la fuente de voltaje al capacitor 𝐶1 .
Ya que la capacitancia es una caracteristica propia del capacitor, es decir, es independiente de
los valores de Q y V, entonces al reemplazar el nuevo valor de 𝐶1 en la ecuacion 3 se obtiene
una expresion para el valor de la nueva carga 𝑄𝑑𝑖𝑒𝑙𝑒𝑐𝑡𝑟𝑖𝑐𝑜 en presencia del dielectrico
𝑘𝜀0 𝐴
𝑄𝑑𝑖𝑒𝑙𝑒𝑐𝑡𝑟𝑖𝑐𝑜 = × 𝑉𝑓 … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 12)
𝑑
𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝑘: 𝑐𝑜𝑛𝑠𝑡𝑎𝑛𝑡𝑒 𝑑𝑖𝑒𝑙𝑒𝑐𝑡𝑟𝑖𝑐𝑎 𝑑𝑒𝑙 𝑚𝑎𝑡𝑒𝑟𝑖𝑎𝑙
Esta ecuacion es insuficiente para determinar el valor de k, ya que no se puede medir
directamente el valor de 𝑄𝑑𝑖𝑒𝑙𝑒𝑐𝑡𝑟𝑖𝑐𝑜 . Una manera alternativa de determinar indirectamente el
valor de 𝑄𝑑𝑖𝑒𝑙𝑒𝑐𝑡𝑟𝑖𝑐𝑜 es mediante la ecuacion 7, aplicado en esta situacion :

𝑄𝑑𝑖𝑒𝑙𝑒𝑐𝑡𝑟𝑖𝑐𝑜 = 𝐶2 × 𝑉𝑚
𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝐶2 𝑦 𝑉𝑚 : 𝑐𝑎𝑝𝑎𝑐𝑖𝑡𝑎𝑛𝑐𝑖𝑎 𝑦 𝑣𝑜𝑙𝑡𝑎𝑗𝑒 𝑠𝑜𝑏𝑟𝑒 𝑒𝑙 𝑐𝑎𝑝𝑎𝑐𝑖𝑡𝑜𝑟 𝑝𝑒𝑞𝑢𝑒ñ𝑜 (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 13)
Al retirar el dielectrico , la carga 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 del capacitor de placas planas paralelas se determinan
facilmente por la ecuacion ya conocida, ecuacion 7.

Empezemos con el plastico, para ello se toma en cuenta las medidas de 𝑉𝑓 y 𝑉𝑚 registrados en
la tabla 4. Se calcula el valor de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 a partir de las ecuacion 13, para una distancia de
d=10mm , y de 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 con la ecuacion 7, para la misma distancia.

17
Tabla N8: Valores calculados de 𝑸𝒑𝒍𝒂𝒔𝒕𝒊𝒄𝒐 y 𝑸𝒂𝒊𝒓𝒆 para obtener los graficos de 𝑸 vs 𝑽𝒇
para d=10mm

𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 (𝑛𝐶) 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 (𝑛𝐶)

𝑉𝑓 (𝑘𝑉) 𝑉𝑚 (𝑉) 𝑉𝑚 (𝑉)
0.5 0.69 0.20 151.8 44
1.0 1.01 0.35 222.2 77
1.5 1.24 0.53 272.8 116.6
2.0 1.69 0.68 371.8 149.6
2.5 2.17 0.87 477.4 191.4
3.0 2.62 0.99 576.4 217.8
3.2 2.92 1.07 642.4 235.4
3.5 3.08 1.20 677.6 264.0
3.8 3.38 1.23 743.6 270.6
4.0 3.64 1.32 800.8 290.4

Con los valores obtenidos de carga, se grafica 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 vs 𝑉𝑓 y 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 vs 𝑉𝑓 , de donde se

obtendra las pendientes , 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 y 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 , respectivamente.

Grafica 3: 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 vs 𝑉𝑓 y 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 vs 𝑉𝑓 de los datos de la tabla 8

La ecuacion 8 representa teoricamente la relacion 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 vs 𝑉𝑓 , y la pendiente de esta recta

𝜀0 ×𝐴
esta dado por .Asi
𝑑

18
 𝜀0 × 𝐴 𝑛𝐶
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 = 𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 = 70.574
𝑑 𝑘𝑉
De manera similar,la ecuacion 12 nos da una expresion para la pendiente de la recta 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜
𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 𝜀0 𝐴
vs 𝑉𝑓 , el cual es .Asi
𝑑

𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 𝜀0 𝐴
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜=
𝑑
𝑛𝐶
𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = 188.75
𝑘𝑉
Entonces

𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜= 𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 × 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 … . . ( 𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 14)

Finalmente, redondeando convenientemente

𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = 2.67

El valor calculado de 𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 corresponde al mejor valor para 𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 que se puede
obtener en base al ajuste lineal por minimos cuadrados de los datos experimentales [7], sin
embargo nos faltaria cuantificar la incertidumbre asociada a su medida. De la ecuacion 14, se
observa que 𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 es una funcion tanto de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 , como de
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 . Por lo cual, la incertidumbre de 𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 se calcularia por propagacion de
errores de ambos valores .

De la grafica 3 se observa que los datos experimentales de 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 son muy cercanos a la recta
por minimos cuadrados que mejor los represente, esto nos sugiere que

Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 ≈ 0.

Aplicando la propagacion de errores [7] en la ecuacion 14, obtenemos que:

∆𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜
∆𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 15)
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒

Entonces , solo quedaria por determinar ∆𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜

Analizando nuevamente la grafica 3 , vemos que los datos de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 no son muy cercanos al
ajuste lineal, en consecuencia no podriamos suponer que Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 ≈ 0.

Dado que 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 es la pendiente de la recta de mejor ajuste , determinado a partir

de los datos experimentales de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 y 𝑉𝑓 , implica que Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 deberia
estar relacionado de algun modo de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 y 𝑉𝑓 y sus respectivas incertidumbres. Se
desconoce el valor de la incertidumbre de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 , sin embargo por tratarse de una medida
estadistica deberia de existir algun procedimiento estadistico con el cual se pueda calcular
dicha incertidumbre mediante el analisis de los datos experimentales. En [7] se analiza este
problema y se deduce una relacion para la incertidumbre de la pendiente de cualquier recta
por minimos cuadrados , el cual adaptado a nuestro problema en particular se expresa de la
siguiente manera

19
 2
∑(𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜,𝑖 − 21.798 − 188.75 × 𝑉𝑓,𝑖 )
∆𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 =√ … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛16)
𝑁−2
𝑒𝑛 𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒
1. 𝑁: 𝑐𝑎𝑛𝑡𝑖𝑑𝑎𝑑 𝑑𝑒 𝑑𝑎𝑡𝑜𝑠 𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙𝑒𝑠
2. 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜,𝑖 y 𝑉𝑓,𝑖 𝑠𝑜𝑛 𝑙𝑎𝑠 𝑚𝑒𝑑𝑖𝑑𝑎𝑠 𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙𝑒𝑠 𝑑𝑒 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 y 𝑉𝑓 , para 𝑖 = 1, 𝑁

Este procedimiento , segun [7], da buenos resultados siempre siempre en cuando sea
despreciable la incertidumbre de 𝑉𝑓 . Pero sabemos que ∆𝑉𝑓 no es despreciable, es mas se
conoce su valor, el cual es ∆𝑉𝑓 = 0.1𝑘𝑉.Entonces, en nuestro analisis de datos deberiamos
considerar la contribucion de incertidumbre dado por 𝑉𝑓 , y asi obtener una expresion mas
general que considere esta contribucion para ∆𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 .Nuevamente , en [7] se desarrolla un
tratamiento mas general para este problema.

Supongamos, en primer lugar, que nuestras mediciones de la variable 𝑉𝑓 estan sujetas a

incertidumbre, pero las de la variable 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 . Entonces segun [7], el error ∆𝑉𝑓 de 𝑉𝑓 , sin
error de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 , produce exactamente el mismo efecto que si no hubiera habido ningun
error de 𝑉𝑓 pero con un error de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 igual a

∆𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣) = 188.75 × ∆𝑉𝑓 … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 17)

Por tanto, el problema de ajustar una linea de puntos (𝑉𝑓 , 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 ) con incertidumbre iguales
de 𝑉𝑓 , pero sin incertidumbres de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 es equivalente al problema de incertidumbre de
𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣) iguales pero sin incertidumbre de 𝑉𝑓 .Ahor volvamos a la situacion original
donde ambas variables 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 y 𝑉𝑓 tengan incertidumbres considerables. La incertidumbre
de 𝑉𝑓 es equivalente a una incertidumbre de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 tal cual como se expresa en la ecuacion
16. Ademas, 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 ya esta sujeto a su propia incertidumbre dado por la ecuacion 15.Esta
dos incertidumbres son independientes, por lo cual se combinan en cuadratura [7] . Asi, el
problema original, con incertidumbres tanto de 𝑉𝑓 como de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 , se puede sustituir con
un problema equivalente en el que solo 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 tiene incertidumbre, dada por

2
∑(𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜,𝑖 − 21.798 − 188.75 × 𝑉𝑓,𝑖 ) 2
∆𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣) = √ + (188.75 × ∆𝑉𝑓 )
𝑁−2

Ingresando valores numericos da

∆𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣) = 30.28917𝑛𝐶 … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 18)

Despues de haber hallado la incertidumbre de 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 , dado por ∆𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣), de las
mediciones 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜,𝑖 , procedemos a calcular la incertidumbre de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 ,
pendiente de la recta lineal por minimos cuadrados de los puntos (𝑉𝑓 , 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 ) .

Como 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 es una funcion bien definida de los puntos (𝑉𝑓 , 𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 ), la
incertidumbre en 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 se puede obtener mediante la propagacion de
errores , cuya resultado es [7]

𝑁
∆𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = ∆𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣)√ 2
𝑁 ∑ 𝑉𝑓,𝑖 2 − (∑ 𝑉𝑓,𝑖 )

20
Donde el valor de ∆𝑄𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣) esta dado por la ecuacion 17

De modo que la incertidumbre de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 es

∆𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = 8.34314
Reemplazando el valor obtenido en la ecuacion 15, finalmente podemos calcular la
incertidumbre de 𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜

∆𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = 0.118219

Por tanto, convenientemente redondeando, la magnitud de 𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 debe ser

𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = 2.67 ± 0.118

Ahora , utilizando la ecuacion 4 se calcula la permitividad electrica del plastico 𝜀𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜

𝜀𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = 𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 × 𝜀0
𝐶
𝑒𝑛 𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝜀𝑜 = 8.85 × 10−12 , 𝑠𝑒𝑔𝑢𝑛 [3]
𝑚𝑉
nos da
𝐶
𝜀𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = (2.36 ± 0.104) × 10−11
𝑚𝑉
Ahora analizemos la situacion en el que se coloca un pedazo de vidrio entre las placas paraleas
del capacitor plano.De manera similar a lo analizado y procesado anteriormente se empezo
por tomar medidas de 𝑉𝑓 y 𝑉𝑚 .Las ecuaciones que utilizaremos son las mismas que se
emplearon para el caso del plastico.Tomando en cuenta las medidas de 𝑉𝑓 y 𝑉𝑚 registrados en
la tabla 5 se calcula el valor de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 a partir de las ecuacion 13, para una distancia de
d=0.15mm , y de 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 con la ecuacion 7, para la misma distancia.

Tabla N9: Valores calculados de 𝑸𝒗𝒊𝒅𝒓𝒊𝒐 𝒚 𝑸𝒂𝒊𝒓𝒆 para graficar 𝑸 vs 𝑽𝒇

𝑉𝑓 (𝑘𝑉) 𝑉𝑚 (𝑉) 𝑉𝑚 (𝑉) 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 (𝑛𝐶) 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 (𝑛𝐶)

0.2 2.42 0.34 532.4 74.8
0.4 3.91 0.36 862.1 78.3
0.6 6.79 0.69 1493.8 152.5
0.8 7.38 0.89 1623.8 195.8
1.0 8.35 0.97 1837.0 213.4
1.2 10.42 1.19 2292.4 261.8
1.4 10.76 1.44 2367.2 316.8
1.6 10.76 1.51 2367.2 332.2
1.8 10.76 1.93 2367.2 424.6
2.0 10.76 1.94 2367.2 426.8

Con los valores obtenidos de carga, se grafica 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 vs 𝑉𝑓 y 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 vs 𝑉𝑓 .

21
 Grafica 4:
𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 vs 𝑉𝑓 y 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 vs 𝑉𝑓 de los datos de la tabla 9

Como se observa a partir de 1.4kV se mantiene la carga 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 constante asi que para fines de
calculo,y como nos interesa realizar un ajuste lineal, se graficara 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 vs 𝑉𝑓 y 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 vs 𝑉𝑓 en
la zona donde los puntos 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 sean variables, es decir para 𝑉𝑓 ≤ 1.4𝑘𝑉, de donde se
obtendra las pendientes , 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 y 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 , respectivamente

Grafica 5:
𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 vs 𝑉𝑓 y 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 vs 𝑉𝑓 de los datos de la tabla 9, para (𝑉𝑓 ≤ 1𝑘𝑉)

22
La ecuacion 8 representa teoricamente la relacion 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 vs 𝑉𝑓 , y la pendiente de esta recta
𝜀0 ×𝐴
esta dado por .Asi
𝑑
𝜀0 × 𝐴
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 = 𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 = 206.05
𝑑
De manera similar,la ecuacion 12 nos da una expresion para la pendiente de la recta 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 vs
𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 𝜀0 𝐴
𝑉𝑓 , el cual es .Asi
𝑑

𝑘 𝜀0 𝐴
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜= 𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜
𝑑
𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = 1555.03

Entonces

𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜= 𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 × 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 19)

Finalmente, convenientemente redondeando

𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 =7.6
El valor calculado de 𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 corresponde al mejor valor para 𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 que se puede obtener
en base al ajuste lineal por minimos cuadrados de los datos experimentales [7], sin embargo
nos faltaria cuantificar la incertidumbre asociada a su medida. De la ecuacion 19, se observa
que 𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 es una funcion tanto de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 , como de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 . Por lo
cual, la incertidumbre de 𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 se calcularia por propagacion de errores [7] de ambos
valores.

De la grafica 5 se observa que los datos experimentales de 𝑄𝑎𝑖𝑟𝑒 son muy cercanos a la recta
por minimos cuadrados que mejor los represente, esto nos sugiere que

Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒 ≈ 0.

Aplicando la propagacion de errores en la ecuacion 19, obtenemos que:

∆𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜
∆𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 20)
𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑎𝑖𝑟𝑒

Entonces , solo quedaria por determinar ∆𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜

Analizando nuevamente la grafica 5 , vemos que los datos de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 no son muy cercanos al
ajuste lineal, en consecuencia no podriamos suponer que Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 ≈ 0.

Dado que 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 es la pendiente de la recta de mejor ajuste , determinado a

partir de los datos experimentales de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 y 𝑉𝑓 , implica que Δ𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 deberia
estar relacionado de algun modo de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 y 𝑉𝑓 y sus respectivas incertidumbres. Se
desconoce el valor de la incertidumbre de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 , sin embargo por tratarse de una medida
estadistica deberia de existir algun procedimiento estadistico con el cual se pueda calcular
dicha incertidumbre mediante el analisis de los datos experimentales. En [7] se analiza este
problema y se deduce una relacion para la incertidumbre de la pendiente de cualquier recta

23
por minimos cuadrados , el cual adaptado a nuestro problema en particular se expresa de la
siguiente manera

∆𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = √∑(𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜,𝑖 − 328.65 − 1555.03 × 𝑉𝑓,𝑖 ) … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛21)

𝑁−2
𝑒𝑛 𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒

1. 𝑁: 𝑐𝑎𝑛𝑡𝑖𝑑𝑎𝑑 𝑑𝑒 𝑑𝑎𝑡𝑜𝑠 𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙𝑒𝑠 𝑒𝑛 𝑒𝑙 𝑟𝑎𝑛𝑔𝑜 𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝑉𝑓,𝑖 𝑒𝑠 𝑣𝑎𝑟𝑖𝑎𝑏𝑙𝑒

2. 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜,𝑖 y 𝑉𝑓,𝑖 𝑠𝑜𝑛 𝑙𝑎𝑠 𝑚𝑒𝑑𝑖𝑑𝑎𝑠 𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙𝑒𝑠 𝑑𝑒 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 y 𝑉𝑓

Este procedimiento , segun [7], da buenos resultados siempre siempre en cuando sea
despreciable la incertidumbre de 𝑉𝑓 . Pero sabemos que ∆𝑉𝑓 no es despreciable, es mas se
conoce su valor, el cual es ∆𝑉𝑓 = 0.1𝑘𝑉.Entonces, en nuestro analisis de datos deberiamos
considerar la contribucion de incertidumbre dado por 𝑉𝑓 , y asi obtener una expresion mas
general que considere esta contribucion para ∆𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 .Nuevamente , en [7] se desarrolla un
tratamiento mas general para este problema.

Supongamos, en primer lugar, que nuestras mediciones de la variable 𝑉𝑓 estan sujetas a

incertidumbre, pero las de la variable 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 . Entonces segun [7], el error ∆𝑉𝑓 de 𝑉𝑓 , sin error
de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 , produce exactamente el mismo efecto que si no hubiera habido ningun error de 𝑉𝑓
pero con un error de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 igual a

∆𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣) = 1555.03 × ∆𝑉𝑓 … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 22)

Por tanto, el problema de ajustar una linea de puntos (𝑉𝑓 , 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 ) con incertidumbre iguales
de 𝑉𝑓 , pero sin incertidumbres de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 es equivalente al problema de incertidumbre de
𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣) iguales pero sin incertidumbre de 𝑉𝑓 .Ahor volvamos a la situacion original
donde ambas variables 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 y 𝑉𝑓 tengan incertidumbres considerables. La incertidumbre de
𝑉𝑓 es equivalente a una incertidumbre de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 tal cual como se expresa en la ecuacion 16.
Ademas, 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 ya esta sujeto a su propia incertidumbre dado por la ecuacion 15.Esta dos
incertidumbres son independientes, por lo cual se combinan en cuadratura [7]. Asi, el
problema original, con incertidumbres tanto de 𝑉𝑓 como de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 , se puede sustituir con un
problema equivalente en el que solo 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 tiene incertidumbre, dada por

2
∑(𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜,𝑖 − 328.65 − 1555.03 × 𝑉𝑓,𝑖 ) 2
∆𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣) = √ + (1555.03 × ∆𝑉𝑓 )
𝑁−2

Ingresando valores numericos da

∆𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣) = 213.38𝑛𝐶 … (𝑒𝑐𝑢𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 23)

Despues de haber hallado la incertidumbre de 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 , dado por ∆𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣), de las
mediciones 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜𝑖 , procedemos a calcular la incertidumbre de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 ,
pendiente de la recta lineal por minimos cuadrados de los puntos (𝑉𝑓 , 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 ) .

Como 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 es una funcion bien definida de los puntos (𝑉𝑓 , 𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 ), la
incertidumbre en 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 se puede obtener mediante la propagacion de errores ,
cuya resultado es [7]

24
 𝑁
∆𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = ∆𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣)√ 2
𝑁 ∑ 𝑉𝑓,𝑖 2 − (∑ 𝑉𝑓,𝑖 )

Donde el valor de ∆𝑄𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 (𝑒𝑞𝑢𝑖𝑣) esta dado por la ecuacion 23

De modo que la incertidumbre de 𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 es

∆𝑚𝑒𝑥𝑝𝑒𝑟𝑖𝑚𝑒𝑛𝑡𝑎𝑙,𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = 201.63
Reemplazando el valor obtenido en la ecuacion 20, finalmente podemos calcular la
incertidumbre de 𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜

∆𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = 0.9785

Por tanto, convenientemente redondeando, la magnitud de 𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 debe ser

𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = 7.6 ± 0.98

Ahora , utilizando la ecuacion 4 se calcula la permitividad electrica del plastico 𝜀𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜
𝐶
𝜀𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = 𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 × 𝜀0 𝑒𝑛 𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝜀𝑜 = 8.85 × 10−12 , 𝑠𝑒𝑔𝑢𝑛 [3]
𝑚𝑉
nos da
𝐶
𝜀𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = (6.73 ± 0.867) × 10−11
𝑚𝑉

VII CONCLUSIONES
 De la primera parte del experimento , en donde se tomaron medidas para el voltaje
del capacitor pequeño 𝑉𝑚 mediante dos procedimientos diferentes : siendo “d”
variable o “𝑉𝑓 ” variable ; se pudo determinar el valor de 𝜀0 para ambos metodos , los
𝐶 𝐶
cuales son (8.912 ± 0.4456) × 10−12 𝑚.𝑉, (8.475 ± 0.4738) × 10−12 𝑚.𝑉
respectivamente; valores que concuerdan satisfactoriamente con el valor aceptado de
𝐶
𝜀𝑜 = 8.854 × 10−12 . Asimismo, para precisar a un mas el valor experimental de
𝑚.𝑉
𝜀𝑜 se combinaron adecuadamente los valores experimentales ya determinados de 𝜀𝑜 ,
obteniendo una mejor estimacion de la permitividad electrica en el vacio,
𝐶
𝜀𝑜 = (8.707 ± 0.3246) × 10−12 𝑚.𝑉
 Se hallo la constante dielectrica del material plastico , 𝑘𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = 2.67 ± 0.118, y
segun la tabla 1 los valores que mas se le acercan son :
𝑘𝑝𝑜𝑙𝑖𝑒𝑡𝑖𝑙𝑒𝑛𝑜 = 2.3, 𝑘𝑝𝑜𝑙𝑖𝑒𝑠𝑡𝑖𝑟𝑒𝑛𝑜 = 2.6, 𝑘𝑎𝑚𝑏𝑎𝑟 = 2.7.
Por lo tanto, se concluye que lo mas probable es que sea poliestireno, o al menos
contenga una buena cantidad de esta .
 Se determino la permitividad electrica del plastico con su respectiva incertidumbre,
𝐶
𝜀𝑝𝑙𝑎𝑠𝑡𝑖𝑐𝑜 = (2.36 ± 0.104) × 10−11 𝑚𝑉 , el cual concuerda satisfactoriamente con el
valor aceptado de la permitividad electrica del poliestireno ,
𝐶
𝜀𝑝𝑜𝑙𝑖𝑒𝑠𝑡𝑖𝑟𝑒𝑛𝑜= 2.3 × 10−11
𝑚𝑉
25
  Se hallo la constante dielectrica del vidrio, 𝑘𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = 7.6 ± 0.98 , y segun la tabla 1 se
puede concluir que se encuentra dentro del rango permitido (5.4-10).
 Se determino la permitividad electrica del vidrio con su respectiva incertidumbre,
𝐶
𝜀𝑣𝑖𝑑𝑟𝑖𝑜 = (6.73 ± 0.867) × 10−11 𝑚𝑉

VIII. BIBLIOGRAFIA
[1] F . S . T . Milton y A. T. C . Ramiro (2011), “Analisis de comportamiento de medios
dielectricos ante las altas tensiones electricas” ( Tesis de pregrado), “Universidad de
Cuenca”, Cuenca, Ecuador,pp 18
[2]R. Resnik, D. Halliday, “Fisica Vol.2” , 3ra ed., Ed Continental, Mexico, 1994, pp 103-109
[3] D.K.Cheng, “Fundamentos de electromagnetismo para ingenieria”, 1ra ed., Ed Addison-
Wesley Iberoamericana,1997; p 9, p 107, pp 116-119, p 471
[4] PHYWE series of publications.(2017),Dielectric constant of different
materials,Germany. Recuperado de http://www.phywe-
es.com/index.php/fuseaction/download/lrn_file/versuchsanleitungen/P2420600/e/p2420600
e.pdf

[5] J.Reitz, F.Milford,R. Christy, “Fundamentos de la teoria electromagnetica”, 4to ed., Ed

Addison-Wesley Iberoamericana, 2001, pp 149-152
[6] Universidad de Antioquia.(2001), “Condensadores y
Dielectricos”,Antioquia,Colombia.Recuperado de
http://docencia.udea.edu.co/regionalizacion/irs-404/contenido/capitulo6.html

[7] J.R.Taylor, “Introduccion al analisis de errores”,2d ed, Ed Reverte, Barcelona, España,

2014, pp 80-82, pp 189-201, pp 223-229, pp 181-185
[8]G.Santiago,L.Perez,E.Sancho, “Capitulo 3:Los dielectricos y los campos”,Buenos Aires,
Argentina,2008,pp 3-4

26