República Bolivariana de Venezuela

Ministerio del Poder Popular para la Educación

Instituto Universitario de tecnología
«Antonio José de Sucre»
Independencia _ Yaracuy

Instrumentación y
diagnóstico de fallas

Bachiller:
Alis D Oropeza P
C.V: 27.166.384
Escuela: #80
Profesor:
Jose Tiamo

Independencia, enero 2021

 Tabla Contenido
Introducción........................................................................................................3

Los instrumentos y diagnósticos de fallas...........................................................4

Las causas principales de fallas en los circuitos lógicos digitales......................4

Las fallas en los circuitos integrados y como corregir las problemáticas...........6

Procedimientos para la solución de problemas.................................................10

Instrumento de prueba y diagnóstico................................................................11

Conclusión.........................................................................................................13

Bibliografía........................................................................................................14
 Introducción

Tanto los ingenieros como los técnicos en electrónica, deben estar en capacidad
de diagnosticar y reparar equipos electrónicos, en el presente documento se
describen los tipos de fallas que ocurren en los circuitos electrónicos, y se
describen los métodos para implementar pruebas que permitan detectar y localizar
fallas.
Existen básicamente dos categorías de reparación de equipo defectuoso. En
primer lugar, están aquellas situaciones en las cuales un prototipo experimental,
recién construido, no parece funcionar de acuerdo a lo esperado. Por otro lado, la
segunda categoría hace referencia a aquellos equipos que habiendo estado
operando normal durante algún tiempo, han presentado fallas en su
funcionamiento.
Independientemente de las circunstancias, el objetivo, en ambos casos, es
conseguir que la unidad defectuosa opere de acuerdo a lo esperado el menor
tiempo posible. En muchos ambientes operativos, la pérdida de pieza crítica de
equipo puede significar la interrupción de un proceso productivo costoso, por lo
cual la velocidad es un parámetro esencial en la reparación del equipo.
Las operaciones de diagnóstico y de reparación de fallas requieren que la
persona lleve a cabo posea los conocimientos y experiencia necesarios. Lo
anterior incluye conocer los modos usuales de fallas de los equipos de prueba que
pueden resultar de utilidad en una situación particular, además de los
procedimientos normales para efectuar las reparaciones necesarias. En lo que
sigue, se cubren en algún detalle los anteriores requisitos.
 Los instrumentos y diagnósticos de fallas

Los ingenieros como los técnicos deben estar en la capacidad de poder detectar
fallas que ocurren en circuitos electrónicos e implantan pruebas para detectar y
localizar las fallas.
Existen dos categorías de reparación de equipos defectuosos:
 Primero están aquellas situaciones en las cuales prototipo experimental,
recién construido, no parece funcionar de acuerdo a lo esperado.
 Segundo hace referencia a los equipos que habiendo estado operando
normal durante algún tiempo, han presentado fallas en su funcionamiento.
El objetivo de estas dos categorías es conseguir hacer funcionar el equipo de
acuerdo a lo esperado en el menor tiempo posible.

Las causas principales de fallas en los circuitos lógicos digitales

Pueden existir muchas causas que provoque falla, entre las más comunes
tenemos:
Problemas de Operario: Ocurren debido al uso incorrecto por parte de la
persona que utiliza el equipo. Uno de los motivos es la falta de conocimiento
adecuado del funcionamiento del equipo, que en ocasiones lleva a suponer que
opera incorrectamente., cuando en realidad no existen problemas de
funcionamiento como tal. Tales situaciones son de ocurrencia frecuente y debe ser
una de las primeras instancia que se verifiquen.

Errores en la construcción: Bajo esta categoría se agrupan todos aquellos

problemas relacionados con el diseño y la implementación de la primera unidad o
prototipo.

Fallas en el suministro de potencia: Es una de la falla más frecuente, proviene

de la fuente de potencia. En esta parte se manejan corrientes y voltaje apreciables,
además de temperaturas elevadas, los componentes de la fuente están sujetos a
esfuerzos eléctricos y térmicos que pueden conducir a fallas en sus componentes.
Cuando la fuente de potencia esta averiada, el equipo deja de operar por completo.
Estos problemas son de fácil diagnóstico y reparación. Por lo general, deben
buscarse primero en los reguladores de voltaje defectuoso, diodos rectificadores
abiertos o en corto, condensadores de filtrado dañados y por último, el
transformador defectuoso.

Falla de componentes del circuito: Una de las causas más frecuentes de fallas
en equipos digitales proviene de la fuente de potencia. Debido a que en esta parte
del equipo se manejan corrientes y voltajes apreciables, además de temperaturas
elevadas, los componentes de la fuente de potencia están sujetos a esfuerzo
eléctrico y térmico que pueden conducir a fallas en sus componentes. Cuando la
fuente de potencia esta averiada, el equipo deja de operar por completo.
Estos problemas son de fácil diagnóstico y reparación. Por lo general, deben
buscarse primero reguladores de voltaje defectuoso, diodos rectificadores abiertos
o en corto, condensadores del filtrado dañados y por último el transformador
defectuoso.

Problemas de temporización: Es uno de los problemas más difícil de

diagnosticar se relaciona con la correcta temporización de los circuitos.
Parámetros como la frecuencia del reloj, los retrasos de propagación y otras
características relacionadas, son de mucha importancia para la adecuada operación
de los equipos digitales.

Problemas debidos a Ruidos: El ruido eléctrico es una fuente potencial

importante de problemas en los circuitos digitales. Ruido: Es toda señal extraña
que dentro del equipo puede ser causa de operación incorrecta. Las señales de
ruido pueden provenir de transitorios en las líneas de corriente alterna o de campo
magnético o eléctrico originados en equipos aledaños, así como de interferencias
debidas a transmisiones de radio o de televisión.
 También es factible que exista ruido generado internamente, el cual puede
provenir de suministro de potencia mal filtrados o de componentes mecánicos
defectuosos que ocasionen contactos deficientes o intermitentes.

Efectos ambientales: A esta clase pertenecen todos aquellos problemas

derivados del efecto ambiente en el que opera el equipo. Por ejemplo, es posible
que la temperatura del recinto o sitio donde se ubica el equipo exceda los límites
permisibles fijados por el fabricante. Por otra parte, la acumulación de grasas,
polvo, químicos o abrasivos en el aire puede ocasionar fallas de funcionamiento.
Las vibraciones excesivas también puede ser causa frecuente de problemas. Todo
lo anterior puede introducir defectos mecánicos tales como corrosión de
conectores, alambres quebrados o contactos de interruptores con exceso de
acumuladores que impiden su accionamiento normal.

Problemas mecánicos: Son todos aquellos que surgen debido a desperfectos en

componentes de tipo mecánico tales como: Interruptores, conectores, relevos y
otros. Esto por lo general, son mucho más susceptibles de aparecer que la falla
misma de componentes electrónicos, tales como los circuitos integrados.

Las fallas en los circuitos integrados y como corregir las problemáticas

Los componentes electrónicos tienen una amplia gama de formas en que

pueden fallar. Estos se pueden clasificar de varias formas, como por tiempo o por
causa. Las fallas pueden ser causadas por exceso de temperatura, exceso de
corriente o voltaje, radiación ionizante, choque mecánico, estrés o impacto y
muchas otras causas. En los dispositivos semiconductores, los problemas en el
paquete del dispositivo pueden causar fallas debido a contaminación, tensión
mecánica del dispositivo o circuitos abiertos o cortocircuitos.
Las fallas ocurren con mayor frecuencia cerca del comienzo y cerca del final
de la vida útil de las piezas, lo que da como resultado el gráfico de curva de la
bañera de la función de riesgo. Los procedimientos Burn-in se utilizan para
detectar fallas tempranas. En los dispositivos semiconductores, las estructuras
parásitas, irrelevantes para el funcionamiento normal, se vuelven importantes en
el contexto de fallas; pueden ser tanto una fuente como una protección contra
fallas.
Las aplicaciones como los sistemas aeroespaciales, los sistemas de soporte
vital, las telecomunicaciones, las señales ferroviarias y las computadoras utilizan
una gran cantidad de componentes electrónicos individuales. El análisis de las
propiedades estadísticas de las fallas puede brindar orientación en los diseños para
establecer un nivel dado de confiabilidad.
Por ejemplo, la capacidad de manejo de potencia de una resistencia puede
reducirse considerablemente cuando se aplica en aeronaves de gran altitud para
obtener una vida útil adecuada. Una falla repentina de apertura por falla puede
causar múltiples fallas secundarias si es rápida y el circuito contiene una
inductancia; esto provoca grandes picos de voltaje, que pueden superar los 500
voltios. Por tanto, una metalización rota en un chip puede provocar daños
secundarios por sobretensión. Las fallas más comunes son las siguientes:

Fallas por encapsulados: Una gran parte de las fallas de los componentes
electrónicos están relacionadas con el encapsulado. El encapsulado, como barrera
entre las piezas electrónicas y el medio ambiente, es muy susceptible a los
factores ambientales. La expansión térmica produce tensiones mecánicas que
pueden causar fatiga del material, especialmente cuando los coeficientes de
expansión térmica de los materiales son diferentes.
La humedad y los productos químicos agresivos pueden provocar la corrosión
de los materiales del encapsulado y las terminales, potencialmente rompiéndolos y
dañando las partes internas, lo que lleva a fallas eléctricas. Exceder el rango de
temperatura ambiental permitido puede causar un sobreesfuerzo de las uniones de
los cables, rompiendo las conexiones, agrietando los troqueles de semiconductores
o causando grietas en el encapsulado. La humedad y el consiguiente
calentamiento a alta temperatura también pueden causar grietas, así como daños
mecánicos o golpes.
 Fallas en los contactos: Los contactos eléctricos exhiben una resistencia de
contacto ubicua, cuya magnitud está determinada por la estructura de la superficie
y la composición de las capas superficiales. Idealmente, la resistencia de contacto
debería ser baja y estable, sin embargo, la presión de contacto débil, la vibración
mecánica, la corrosión y la formación de capas y contactos de óxido pasivador
pueden alterar la resistencia de contacto de manera significativa, lo que lleva a un
calentamiento de la resistencia y falla del circuito.

Fallas en placas de circuito impreso: Las placas de circuito impreso (PCB) son
vulnerables a las influencias ambientales; por ejemplo, las pistas son propensas a
la corrosión y pueden grabarse incorrectamente dejando corto circuitos parciales,
mientras que las vías pueden estar insuficientemente recubiertas o llenas de
soldadura. Las pistas pueden agrietarse bajo cargas mecánicas, lo que a menudo
da como resultado un funcionamiento de poco confiable del PCB. Los residuos de
fundente de soldadura pueden facilitar la corrosión; los de otros materiales los de
otros materiales pueden causar fugas eléctricas en el PCB.
Los compuestos covalentes polares pueden atraer la humedad como agentes
anti-estáticos, formando una fina capa de humedad conductora entre las pistas;
Los compuestos iónicos como los cloruros tienden a facilitar la corrosión. Los
iones de metales alcalinos pueden migrar a través de los encapsulados de plástico
e influir en el funcionamiento de los semiconductores. Los residuos de
hidrocarburos clorados pueden hidrolizarse y liberar cloruros corrosivos; estos son
problemas que ocurren después de años. Las moléculas polares pueden disipar
energía de alta frecuencia, provocando pérdidas dieléctricas parásitas.
A continuación vamos a ver una serie de fallas y como solucionar las mismas:

 Tener la polarización invertida en algún dispositivo.

Solución: Conectar de forma correcta la polarización, esto se puede checar con
el multímetro o algún diagrama.
  No conectar algún puente entre los componentes o dispositivos y no
permitir el funcionamiento del circuito.
Solución: Checar los diagramas y ubicar los puntos donde se conecta cada
puente por consiguiente ver cuál es el puente que hace falta.

 No conocer la configuración del dispositivo y conectarlo de forma

equivocada, por ejemplo en una compuerta.
Solución: Investigar dicha configuración y encontrar la correcta para conocer
entradas, salidas y polarización.

 El dispositivo en uso se encuentre quemado o inservible.

Solución: Con ayuda del multímetro detectar el dispositivo quemado y
sustituirlo.

 Dañar los componentes por estática y dejarlos inservibles.

Solución: Algunos componentes sufren efectos cuando son impuestos a estática
y dejan de funcionar, a estos componentes hay que tratarlos con sumo cuidado y
evitar tocarlos con las manos.

 Colocar alguna resistencia con un valor inadecuado en el circuito.

Solución: Para saber el valor de las resistencias que se necesiten, hay que
realizar cálculos, así como conocer su código de colores y evitar conectar una con
un valor sobre o por debajo de lo que se requiere.

 Conectar de forma incorrecta componentes en paralelo o en serie.

Solución: Conocer la forma correcta para conectar los componentes ya sean en
paralelo o en serie, tanto de forma práctica como teórica y evitar tal error.
 Colocar un componente equivocado por ejemplo conectar una compuerta
OR cuando se requiere una XOR.
Solución: Detectar que es o cual es la función que se requiere tener en el
circuito y colocar el componente que cumpla con la misma.
  Dejar el circuito abierto.
Solución: Fijarse que el diagrama concuerde con el armado del circuito y el
mismo este cerrado para cumplir con esa función.

Procedimientos para la solución de problemas

La reparación de equipos electrónicos puede resumirse cuatro (4) sencillos

pasos:
 Recolección de Datos
 Localizar el problema
 Efectuar la reparación
 Probar para la verificación la operación correcta.

Recolección de Datos: Es aquella en la cual se hace acopio de toda la

información pertinente al equipo bajo observación. Por ejemplo, lo primero que
debe hacerse es obtener la documentación, en la cual se incluye tanto los
diagramas esquemáticos circuitales así como los manuales de servicio,
información de calibración y similares.

Localizar el problema: Es por lo general es lo más difícil, el grado de dificultad

y la cantidad de tiempo que esta fase del problema consuma, dependen de la
complejidad del equipo y la naturaleza del daño. Los siguientes pasos pueden
ayudar a desarrollar un método sistemático para localizar la avería:

1. Verifique lo obvio y sencillo primero que todo, como fusible, tomas,

interruptores, etc.
2. Corra los programas de diagnóstico si los hay.
3. Utilice sus sentidos, mirando, oliendo y tocando en busca de temperaturas
anormales, elementos quemados, etc.
4. Verifique que los niveles de AC y DC sean correctos.
 5. Cerciorase de la existencia del reloj.
6. Utilice métodos de rastreo de señal.
7. Ensaye sustituciones sencillas de componentes o de tarjetas en cuanto sea
posible.
8. Lleve a cabo pruebas y verificaciones, estáticas o dinámicas. La prueba
estática requiere de la deshabilitación del reloj del sistema, con lo cual todos los
niveles lógicos estabilizan a un valor constante. A partir de esto, entonces es
posible, utilizando puntas lógicas o un voltímetro, observar los niveles lógicos
presentes en el circuito. Algunos sistemas permiten, no solamente deshabilitar el
reloj, sino también la sustitución de este por un pulsador manual para obligar al
sistema operar paso a paso. Las pruebas dinámicas, por su parte se llevan a cabo
con el reloj en operación normal y requiere del uso de un osciloscopio, de una
punta lógica o de un analizador lógico.

Instrumento de prueba y diagnóstico

Dependiendo de la complejidad del equipo defectuoso y de la clase de pruebas

que sea necesario llevar a cabo, es importante escoger adecuadamente el equipo o
instrumento de prueba que permita las verificaciones pertinentes. Los más
utilizados son:

El multímetro: Es también conocido como VOM (Voltios, Ohmios,

Miliamperímetro), aunque en la actualidad hay multímetros con capacidad de
medir muchas otras magnitudes. (Capacitancia, frecuencia, temperatura, etc.). Hay
dos tipos de multímetros: los analógicos y los digitales. Los multímetros
analógicos son fáciles de identificar por una aguja que al moverse sobre una
escala indica del valor de la magnitud medida.
Los multímetros digitales se identifican principalmente por un panel numérico
para leer los valores medidos, la ausencia de la escala que es común en los
analógicos. Lo que sí tienen es un selector de función y un selector de escala
(algunos no tienen selector de escala pues el VOM la determina
automáticamente). Algunos tienen en un solo selector central. El selector de
funciones sirve para escoger el tipo de medida que se realizará.
La función de este instrumento permite la verificación de las fuentes de voltaje
tanto alternas como directas. La opción de medición de resistencias, por su parte,
permite la verificación de fusible, pines de conexión, alambres abiertos, valores de
resistencia, condensadores en corto, etc. Su desventaja que solo permite prueba
estática.

Punta Lógica: La punta lógica o sonda digital, es un indicador de presencia de

pulso alto, bajo, tren de pulsos o alta impedancia (salidas desconectadas). En
conjunto con un inyector de señales y un detector de corriente, la punta lógica
integra el equipo de medición básico para los circuitos digitales.

Osciloscopio: El osciloscopio es un instrumento que permite visualizar

fenómenos transitorios así como formas de ondas en circuitos eléctricos y
electrónicos. Por ejemplo en el caso de los televisores, las formas de las ondas
encontradas de los distintos puntos de los circuitos están bien definidas, y
mediante su análisis podemos diagnosticar con facilidad cuáles son los problemas
del funcionamiento. Los osciloscopios son de los instrumentos más versátiles que
existen y los utilizan desde técnicos de reparación de televisores hasta médicos.
Un osciloscopio puede medir un gran número de fenómenos, provisto del
transductor adecuado (un elemento que convierte una magnitud física en señal
eléctrica) será capaz de darnos el valor de una presión, ritmo cardiaco, potencia de
sonido, nivel de vibraciones en un coche, etc. Es importante que el osciloscopio
utilizado permita la visualización de señales de por lo menos 4,5 ciclos por
segundo, lo que permite la verificación de etapas de video, barrido vertical y
horizontal y hasta de fuentes de alimentación.
 Conclusión

Se han presentado en el trabajo algunas ideas relacionadas con el diagnostico

de y correcciones de averías en equipos electrónicos. Adicionalmente, se ha hecho
un resumen de los diferentes instrumentos de pruebas a disposición del ingeniero
o técnico para efectos de diagnosticar problemas en equipos que deben ser
reparados en su fase normal de funcionamiento de campo.
Dependiendo de la complejidad del equipo defectuoso y de la clase de pruebas
que sea necesario llevar a cabo, es importante escoger adecuadamente el equipo o
instrumento de prueba que permita las verificaciones pertinentes. Los más
utilizados son: El multímetro, Punta Lógica y Osciloscopio.
Por ultimo pero no menos importante hay que mencionar a los componentes
electrónicos los cuales tienen una amplia gama de formas en que pueden fallar,
estos se pueden clasificar de varias formas, como por tiempo o por causa. Las
fallas pueden ser causadas por exceso de temperatura, exceso de corriente o
voltaje, radiación ionizante, choque mecánico, estrés o impacto y muchas otras
causas. En los dispositivos semiconductores, los problemas en el paquete del
dispositivo pueden causar fallas debido a contaminación, tensión mecánica del
dispositivo o circuitos abiertos o cortocircuitos.
 Bibliografía

 https://www.monografias.com/trabajos19/diagnostico-de-

fallas/diagnostico-de-fallas.shtml#conclu

 https://es.slideshare.net/oncehex/fallas-en-circuitos

 https://es.slideshare.net/Jomicast/fallos-en-los-circuitos-integrados-

digitales

 https://www.monografias.com/docs/20-causas-de-fallas-electr

%C3%B3nicas-comunes-en-F3FDRJUPC8G2Y

 https://es.scribd.com/document/325202447/Fallas-en-Circuitos