Erazo Rosas José Eduardo María Elena del Refugio Química del estado sólido. Grupo 1.

Villafuerte y Castrejón.

DIFRACCIÓN DE RAYOS X (MÉTODO DE POLVOS).

PROBLEMAS
 Conocer el modo de operación, obtención y manejo de datos de un difractómetro
de rayos X para polvos.
 Interpretar los datos del difractograma de rayos X obtenido para la identificación de
una muestra problema utilizando el método Hanawalt.
 Asignar índices de Miller de una substancia cúbica dada.

PROCEDIMIENTO

1. Calcule las distancias interplanares de las muestras asignadas sabiendo que kCu=
1.5418 Å.

2. Identifique las substancias asignadas de acuerdo al método Hanawalt.

CUESTIONARIO

1. Señale en un esquema las partes principales de que consta un difractómetro de rayos

X para polvos.

Placa bloqueadora de
emisiones.
Lentes condensadoras y filtradores
para rayos X. Ventanilla de Berilio para liberación
de rayos X.

Fuente de rayos X.

Plataforma móvil de muestras.

Detector de rayos X.
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2. Describa la forma de preparar la muestra.

Las muestras para una difracción deben ser pulverizadas y deben estar
completamente libres de humedad, se les monta en una plataforma de vidrio con un
hueco cuadrado poco profundo (generalmente 0.5 o 1 mm) en el centro, a veces puede
ser una superficie esmerilada para evitar que la muestra caiga con el movimiento, la
muestra debe abarcar una superficie de una pulgada cuadrada para poder dar la lectura
más clara posible.

3. Anote el nombre químico de la muestra problema y su fórmula química.

El difractograma que me fue proporcionado pertenece al Óxido de Magnesio de

fórmula MgO.

4. Proponga los veinte primeros índices de Miller posibles para una red cúbica tipo P.

(100) (200) (220) (310) (320) (410) (330)

(110) (210) (300) (311) (321) (322) (331)
(111) (211) (221) (222) (400) (411)

5. Proponga los ocho primeros índices de Miller posibles para una red cúbica tipo I.

(110) (200) (211) (220) (310) (222) (321) (400)

6. Proponga los ocho primeros índices de Miller posibles para una red cúbica tipo F.

(111) (200) (220) (311) (222) (400) (331) (420)

a) Ordene los 3 grupos de índices de Miller anteriores en orden ascendente de la suma de

sus cuadrados y colóquelos en la siguiente tabla:

hkl hkl hkl h2+k2+l2

Tipo de P I F
red
(100) ~ ~ 1
(110) (110) ~ 2
(111) ~ (111) 3
(200) (200) (200) 4
(210) ~ ~ 5
(211) (211) ~ 6
(220) (220) (220) 8
(300) ~ ~ 9
(310) (310) ~ 10
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(311) ~ (311) 11
(222) (222) (222) 12
(320) ~ ~ 13
(321) (321) ~ 14
(400) (400) (400) 16
(410) ~ ~ 17
(411) ~ ~ 18
(331) ~ (331) 19
~ (420) 20

 Datos obtenidos del difractograma:

2θ d I/I°
43 2.1016 100
62.33 1.4884 43.03
37 2.4275 11.69
78.5 1.2174 11.11
74.66 1.27 5.85

 Datos obtenidos de la ficha del compuesto:

dÅ I/I° hkl
2.431 10 111
2.106 100 200
1.489 52 220
1.270 4 311
1.216 12 222
1.0533 5 400
0.9665 2 331
0.9419 17 420
0.8600 15 422
0.8109 3 511

1. Indique el valor del parámetro de red ao, para la substancia cúbica identificada y su tipo
de red de Bravais.

Con los datos de las tablas anteriores podemos calcular que el parámetro de celda del
compuesto es de 4.21 Å. Si consideramos que los índices de Miller reportados para este
compuesto son todos pares (considerando a cero como par) o todos impares podemos
deducir que se trata de una celda cúbica centrada en las caras, de hecho se trata de una
estructura tipo cloruro de sodio.
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2. Calcule la densidad Dx de la substancia cúbica identificada.

Consideramos que se trata de una estructura tipo NaCl, por lo tanto el número de
átomos por celda es de 4 de cada elemento. El peso molecular del Mg es de 24.31 g/mol
y el del O es de 16 g/mol.
El volumen de la celda es a3 por lo tanto V= (4.21 x 10-8 cm)3 = 7.4618 x 10-23 cm3.

( )

APLICACIONES

Indique aplicaciones específicas del método de difracción de rayos X de polvos.

 Determinación de la estructura de los materiales, esto se hace gracias a la

recopilación de información que ha permitido tener una gran cantidad de patrones
de difracción.
 Determinación de las composiciones y de los elementos presentes en una
estructura que se somete a estudio, esto se logra realizando análisis cuantitativo y
cualitativos de las estructuras que se someten a estudio.
 Determinación de los cambios de fases en las estructuras, este tipo de análisis se
realiza por medio de difractómetros o cámaras en los cuales se puede someter el
material a cambios de temperatura, lo cual permite realizar análisis a diferentes
temperaturas.
 Determinación de esfuerzos residuales. Se realiza estudiando patrones de
difracción del material es estudio y comparándolos con aquellos en los que se
presentan esfuerzos residuales con el fin de detectar cambios en la morfología de
los planos que producen difracción.