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Informe de Laboratorio

Materiales en Ingeniera
Prctica I

Pablo Andrs Guevara Palacio
Facultad de Ingeniera
Universidad de Antioquia
Medelln, Colombia
paguepa1216@hotmail.com
Julian Camilo Nuez Guisao
Facultad de Ingeniera
Universidad de Antioquia
Medelln, Colombia
juliann1010@gmail.com


Resumen
La radiacin electromagntica es un fenmeno muy interesante que
presenta una dualidad onda-partcula, la cual tiene diversas
aplicaciones dependiendo de cmo se utilice. En esta prctica, se
aprovecharn las propiedades ondulatorias de la radiacin, tales como
la frecuencia y la longitud de onda, para determinar las distancias
interatmicas de algunos compuestos que presentan redes cristalinas.

I. INTRODUCCIN

Para lograr determinar la distancia interatmica en una red
cristalina, se examinar el patrn de difraccin que describe el
haz de luz al pasar por la estructura; por lo tanto, no se puede
utilizar radiacin con cualquier longitud de onda, slo se
permiten longitudes de onda que sean comparables con la
distancia interatmica de los compuestos. En promedio, la
distancia de separacin es del orden de los ngstrms
(

), por lo tanto se debe utilizar radiacin


electromagntica con un valor longitud de onda aproximado,
el tipo de radiacin que cumple con esta propiedad se conoce
como rayos X.

II. MARCO TERICO
A. Rayos X
Los rayos-X son un tipo de radiacin electromagntica que
tiene una alta energa y longitudes de onda muy cortas, las
longitudes de onda son del orden de espacios atmicos de los
slidos. Cuando un haz de rayos-X incide sobre un material
slido, una porcin de este rayo se dispersar en todas las
direcciones por los electrones asociados a cada tomo o in
que est dentro del camino del haz.




B. Difraccin de Rayos X
La interaccin entre el vector elctrico de la radiacin X y los
electrones de la materia por la que pasa da lugar a una
dispersin de los rayos. Cuando los rayos X son dispersados
por el entorno ordenado de un cristal, tienen lugar
interferencias (tanto constructivas como destructivas) entre los
rayos dispersados, ya que las distancias entre los centros de
dispersin son del mismo orden de magnitud que la longitud
de onda de la radiacin. El resultado es la difraccin.


C. Ley de Bragg
Los hermanos William Lawrence Bragg y William Henry
Bragg quienes descubrieron que los slidos cristalinos son
capaces de producir patrones sorprendentes de rayos-X
reflejados de los slidos cristalinos, patrones que no se dan en
los lquidos, encontrando que estos patrones, a ciertas
longitudes de onda y ngulos de incidencia de los rayos-X
sobre la superficie cristalina, producan picos intensos de
radiacin reflejada, lo cual fue explicado como el resultado de
un proceso de difraccin que se produce al ser reflejados los
haces incidentes de rayos-X por varias capas de planos
discretos de tomos del cristal separadas por una distancia fija,
proceso conocido hoy como la difraccin de Bragg.




Cuando un rayo X alcanza la superficie de un cristal a
cualquier ngulo , una porcin es dispersada por la capa de
tomos de la superficie. La porcin no dispersada penetra en
la segunda capa de tomos donde otra vez una fraccin es
dispersada y la que queda pasa a la tercera capa. El efecto
acumulativo de esta dispersin desde los centros regularmente
espaciados del cristal es la difraccin del haz.


D. Espectro atmico de Rayos X

En la regin de los rayos X hay suficiente energa para
producir cambios en el estado electrnico (transiciones entre
orbitales, lo que contrasta con la regin ptica, donde la
prdida de energa es a menudo debida a los cambios en el
estado de rotacin o los grados de libertad vibracionales). Por
ejemplo, en la regin ultraligera de los rayos X (por debajo de
aproximadamente 1 k eV), las excitaciones de los campos
cristalinos dan lugar a la prdida de energa.

Podemos pensar en el proceso fotn-dentro-fotn-fuera como
un evento de dispersin. Cuando la energa del rayo X
corresponde a la energa de enlace de un nivel electrnico
bsico, este proceso de dispersin potencia su resonancia en
muchos rdenes de magnitud. Este tipo de espectrometra de
emisin de rayos X se conoce a menudo como dispersin
inelstica resonante de rayos X (RIXS).

Debido a la amplia separacin de energas orbitales de los
niveles bsicos, es posible seleccionar un determinado tomo
de inters. As, se puede obtener informacin valiosa sobre la
estructura electrnica local de sistemas complejos, y los
clculos tericos son relativamente sencillos de realizar.






Figura 1. Espectro de rayos X
Tomado de: http://www.uv.es/inecfis/QPhVL/p5/p5_intro.html










III. EXPERIMENTACIN

Se procedi a hacer el montaje correspondiente para los
compuestos de Cloruro de Sodio y Fluoruro de Litio.
Siguiendo las instrucciones, se abri cuidadosamente la
cubierta plstica previa revisin de que el aparato no estuviera
emitiendo rayos X y se dej la muestra del compuesto. Se
ajustan los 30Kv recomendados, se gira el temporizador hasta
el lmite de 55 minutos. Se enciende el aparto para que caliente
durante aproximadamente 15 minutos.
Al cabo de este tiempo se activa el botn rojo para dar inicio a
la emisin de rayos X, se verifican los 80 miliamperios con
ayuda del multmetro y finalmente se procede a tomar las
medidas, cabe recordar que el proceso se repiti tal cual para
cada uno de los compuestos.
Se conecta el detector Geiger Mller a una fuente cuyo voltaje
ptimo de funcionamiento es de 420 V.
Al tabular los datos obtenidos tenemos:

Tabla 1. Datos para el Cloruro de Sodio
2 I (cps)
17 745
18 956
19 1041
20 984
21 956
22 1011
23 989
24 1038
25 910
26 952
27 902
28 849
29 1620
30 4094
31 1059
32 1240
33 13928
34 4539
35 659
36 581
37 584
38 517
39 457
40 423
41 367
42 354
43 312
44 306
45 303
46 305
47 282
48 292
49 279
50 268
51 308
52 279
53 262
54 293
55 283
56 268
57 266
58 287
59 253
60 1089
61 498
62 314
63 304
64 272
65 269
66 310
67 3020
68 1648
69 312
70 313
71 313
72 321
73 261
74 290
75 288
76 321
77 272
78 329
79 299
80 293
81 288
82 307
83 316
84 327
85 307
86 315
87 332
88 307
89 359
90 345
91 360
92 388
93 386
94 381
95 448
96 700
97 472
98 406
99 400
100 439
101 400
102 400
103 413
104 420
105 451
106 456
107 459
108 461
109 484
110 696
111 1586
112 579
113 483
114 417
115 522
116 488
117 508
118 521
119 524
120 532





Tabla 2. Datos para el Floruro de Litio
2 I (cps)
12 338
13 295
15 354
17 868
19 1590
21 2461
23 2572
25 2145
27 2220
29 2103
30 2054
32 2008
34 1984
36 2006
38 1818
40 1721
41 1659
42 1576
43 1508
44 1431
45 7222
45,4 8252
46 5083
47 1976
48 1679
49 4334
50 24031
51 10271
52 1403
53 1211
54 1076
55 1014
56 923
57 842
58 824
59 821
60 716
61 679
62 704
63 624
64 606
65 559
66 471
67 494
68 427
69 469
70 454
71 403
72 386
73 377
74 365
75 347
76 353
77 337
78 357
79 339
80 379
81 326
82 309
83 352
84 305
85 264
86 321
87 290
88 349
89 380
90 824
91 1717
92 593
93 424
94 388
95 384
96 374
97 443
98 411
99 439
100 454
101 558
102 3653
103 6463
104 1919
105 561
106 530
107 469
108 482
109 480
110 504
111 505
112 513
113 531
114 523
115 544
116 569
117 570
118 596
119 555
120 552
121 570
122 592
123 606
124 610
125 663
126 672
127 729
128 695
129 672


Con base en la informacin suministrada por las tablas 1 y 2 se
obtuvieron las siguientes grficas para cada compuesto.


Figura 2. Grfica de Cloruro de Sodio


Figura 3. Grfica del fluoruro de litio


IV. RESULTADOS

En este primer paso, se utilizar la ley de Bragg para verificar
las longitudes de onda

dadas por el fabricante del


emisor de rayos X.


De la ley de Bragg se obtiene:

(
()

) ()


Cloruro de sodio:

La distancia d se supondr conocida en principio, y en este
caso equivale a .

De acuerdo a la figura 1. se toman los valores de para los
cuales la interferencia es constructiva (picos en la grfica);
primero, se hallaran los valores

.

El primer pico para esta longitud de onda ( ) se da en
.

Reemplazando los datos en (1.1) se obtiene:



El segundo pico ( ), se da en
Se reemplazan los datos en (1.1) y se obtiene:



El tercer y ltimo pico visualizable en la grfica para

, se
da en .


Reemplazando nuevamente los datos en (1.1) y el resultado es:







Segn el fabricante, la longitud de onda

es

, por lo que se toma como resultado correcto a

;
su margen de error es:

|

|



Ahora, se proseguir a hallar experimentalmente los valores
de

.

El primer pico ( ) ocurre en , al reemplazar
los valores en (1.1) se obtiene:



El segundo pico ( ) se da en ; reemplazando
los valores en (1.1) se obtiene:



El tercer pico que se logra visualizer en figura 1. Sucede
cuando ; al reemplazar los valores en (1.1) se
obtiene:



El valor de

dado por el fabricante es de

, por lo que en este caso, se tomar como resultado


correcto a

que es el valor ms aproximado. El margen


de error para este valor es:

|

|



Para ambos casos se tiene una muy Buena aproximacin al
valor real, por lo que se puede confiar en la precision del
emisor de rayos X.

Ahora se proceder a hallar experimentalmente el valor de la
separacin interatmica en la red cristalina del cloruro de
sodio, para ello se utilizar la ley de Bragg de nuevo, pero
en esta ocasin, se tomar como conocida la longitud de
onda de los rayos X

, puesto que sta, fue la de menor


error experimental.

Al utilizar de nuevo la ley de Bragg, se puede hallar la
distancia interatmica:
Reemplazando y correspondiente a la longitud de onda
ms parecida en (1.2) se obtiene la siguiente distancia
interatmica:

()




Comparando la longitud hallada experimentalmente con la
terica se tiene un porcentaje de error calculado as:

|

|




Floruro de litio:

De nuevo, con el Floruro de litio, se hallarn las medidas de
las longitudes de onda

conociendo la distancia
interatmica, luego se compararn los resultados obtenidos,
con los dados por el fabricante.

Se hizo una consulta y se hall que la distancia interatmica
en la red cristalina del Floruro de litio es de . De
acuerdo a la Figura 2 se toman los valores de para los
cuales hay interferencia constructive (picos en la grfica de
intesidad vs. ) .

Para hallar

:

El primer pico ( ) ocurre en , reemplazando
los datos en (1.1) se obtiene:



El segundo pico ( ) ocurre en , nuevamente,
reemplazando los datos en (1.1) se obtiene:



El tecer pico visualizable en figura 2, ocurre en ;
reemplazando los datos una vez ms, se obtiene:



De las tres longitudes de onda halladas, la ms parecida a la
dada por el fabricante, es

con porcentaje de error:



|

|



Con lo que se concluye, que el resultado obtenido
experimentalmente es aceptable.

Se repite el procedimiento anterior para hallar

:

El primer pico ocurre en , con lo cual se obtiene:



El segundo pico segn la figura 2, ocurre en , y se
obtiene:



Finalmente, el ltimo pico visualizable ocurre en
, al final se obtiene:



La longitud de onda ms parecida a la dada por el fabricante
es

; con un porcentaje de error dado por:



|

|



Ahora, se prosigue a calcular la distancia interatmica en la
red cristalina del Floruro de Litio.

Reemplazando y correspondiente a la longitud de onda
ms parecida en (1.2) se obtiene la siguiente distancia
interatmica:


()




Comparando las distancias interatmicas experimental y
terica, se tiene un porcentaje de error calculado de la
siguiente manera:

|

|



V. CONCLUSIONES

- A la hora de utilizar la ley de Bragg, se tiene que
tener cuidado con la eleccin de la longitud de
onda adecuada, pues sta debe ser comparable con
la distancia interatmica que se quiere medir; de lo
contrario, no se conseguir un patrn de difraccin
apreciable.
- Los rayos X pueden ser perjudiciales para la salud
ya que, como se dijo anteriormente, su longitud de
onda es muy pequea y stas podran interactuar
con estructuras celulares y causar algn dao.
- Los picos en el espectro se deben a transiciones
entre niveles de energa, uno de ellos es entre
y y el otro desde hasta ,
es por esto que uno de los dos picos siempre es ms
grande que el otro.
REFERENCIAS

[1] http://la-mecanica-cuantica.blogspot.com/2009/08/la-espectroscopia-
de-rayos-x.html
[2] http://prof.usb.ve/hreveron/capitulo3.pdf
[3] http://rua.ua.es/dspace/bitstream/10045/8250/4/T6rayosX.pdf
[4] http://srv2.fis.puc.cl/mediawiki/index.php/Doblete_del_Sodio_(Fiz03
11)

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