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A hard-bake process is used in conjunction with photolithography in semiconductor manufacturing. We wish to establish
statistical control of the flow width of the resist in this process using and R charts. Twenty-five samples each of size five
wafers, have been taken when we think the process is in control. The interval of time between samples or subgroups is one
hour. The flow width measurement data (in x microns) from these samples are shown in Table:
Sample Number
1
2
3
4
5
Sample Number
1
2
3
4
5
1.4969
1
1.3235
1.41
1.67
1.46
1.69
14
1.4951
1.4036
1.5893
1.6458
1.4314
1.36
1.61
1.47
1.61
15
1.3589
1.2863
1.5996
1.2497
1.5471
1.4284
1.49
1.49
1.43
1.57
16
1.5747
1.5301
1.5171
1.1839
1.8662
1.5028
1.64
1.38
1.28
1.55
17
1.368
1.7269
1.3957
1.5014
1.4449
1.5604
1.27
1.53
1.44
1.64
18
1.4163
1.3864
1.3057
1.621
1.5573
1.5955
1.55
1.36
1.33
1.42
19
1.5796
1.4185
1.6541
1.5116
1.7247
1.6274
1.51
1.84
1.42
1.51
20
1.7106
1.4412
1.2361
1.382
1.7601
1.419
1.43
1.66
1.61
1.55
21
1.4371
1.5051
1.3485
1.567
1.488
1.3884
1.73
1.54
1.52
1.37
22
1.4738
1.5936
1.6583
1.4973
1.472
10
1.4039
1.67
1.51
1.46
1.52
23
1.5917
1.4333
1.5551
1.5295
1.6866
11
1.4158
1.77
1.43
1.59
1.42
24
1.6399
1.5243
1.5705
1.5563
1.553
12
1.5821
1.34
1.58
1.39
1.76
25
1.5797
1.3663
1.624
1.3732
1.6887
13
1.2856
1.41
1.44
1.64
1.19
1.7
LCS=1.6931
1.6
__
X=1.5058
1.5
1.4
LCI =1.3184
1.3
1
11
13
Muestra
15
17
19
21
23
25
Rango de la muestra
LCS=0.6868
0.60
0.45
_
R=0.3248
0.30
0.15
0.00
LCI =0
1
11
13
Muestra
15
17
19
21
23
25
1.7
LCS=1.6931
1.6
__
X=1.5058
1.5
1.4
LCI =1.3184
1.3
Desv.Est. de la muestra
11
13
Muestra
15
17
19
21
23
25
0.3
LCS=0.2742
0.2
_
S=0.1313
0.1
0.0
LCI =0
1
11
13
Muestra
15
17
19
21
23
25
Las graficas de control muestra un proceso estable, no se encuentra alguna condicin que explique algn patrn fuera de
control. Para la grfica de rangos el punto 16 se detecta al borde del lmite superior, se recomienda hacer una prueba x barra
s
Ejercicio 1:
A process is to be monitored with standard values m = 10 and s = 2.5. The sample size is n = 2.
A) Find the center line and control limits for the chart.
B) Find the center line and control limits for the R chart.
C) Find the center line and control limits for the s chart.
Ejercicio 2:
En una fbrica de bolsas de plstico un aspecto importante de calidad es la dimensin de las bolsas.
En una fase del proceso una mquina debe cortar automticamente las bolsas, la medida ideal es 30
cm, con una tolerancia de 0.5 cm. Para asegurar que las dimensiones de la bolsa son correctas, de
vez en cuando el operador mide una bolsa y dependiendo de tal medida decide ajustar o no la
mquina. Conteste:
B) Una carta de control podra ser de utilidad para ayudar al trabajador a hacer los
ajustes? Cul? Explique.
Si, la Carta X-R, porque este proceso se lleva acabo para variables que se aplican a procesos
masivos, en donde en forma peridica se obtiene un subgrupo de productos, se miden y se calcula
la media y el rango R para registrarlos en la carta correspondiente.
C) Los lmites de control en esta carta deben ser las especificaciones de la bolsa
para que as el trabajador pueda reaccionar cuando los cortes se salen de las
especificaciones?
S, porque los lmites nos dan a conocer el rango del proceso y las especificaciones lo cual
nos indica que si en el proceso por alguna razn el proceso no cumple con los limites eso
demostrara que el proceso no es estable.
D) Explique cmo hara el muestreo y el tamao de muestra para la carta que
considere apropiada.
Ejercicio 3:
En una industria alimenticia se quiere garantizar que la concentracin mnima de grasa de un producto sea de
1.8%. En la tabla 7.6 se muestran los datos obtenidos para un estudio inicial, con tamao de subgrupo de 4.
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
GRASA
1.88
1.93
1.92
1.89
1.95
2
1.95
1.87
1.96
1.99
1.93
1.97
1.95
1.89
1.93
1.95
1.93
1.98
1.92
1.93
1.98
1.89
1.9
1.9
1.9
1.94
1.97
1.96
1.98
2.01
SUBGRUPO
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
1.88
1.94
1.98
1.94
1.93
1.89
1.85
2.04
1.88
2.02
GRASA
1.93
1.95
1.88
1.97
1.91
1.98
1.93
1.82
2
1.98
1.95
1.98
1.93
1.88
1.91
1.9
1.94
1.92
1.97
1.94
2.00
LCS=1.9936
1.95
__
X=1.9336
1.90
LCI =1.8737
1
11
Muestra
13
15
17
19
Rango de la muestra
0.20
LCS=0.1877
0.15
0.10
_
R=0.0823
0.05
0.00
LCI =0
1
11
Muestra
13
15
17
19
1.9
1.89
1.88
1.92
1.96
1.92
1.95
1.95
1.99
1.96
1.93
1.9
1.9
1.96
1.93
1.91
1.9
1.94
1.95
1.88
Procesar datos
LEI
1.8
O bjetivo
1.8
LES
*
Media de la muestra 1.93362
Nmero de muestra
80
Desv.Est. (Dentro)
0.039952
Desv.Est. (General)
0.0408221
*
1.09
*
1.09
0.00
Los grficos nos muestran que el proceso es parcialmente adecuado ms sin embargo requiere. de
control un tanto estricto.
Ejercicio 4:
Consider the data in Table of inside Diameter Measurements (mm) on Automobile Engine Piston Rings , which is a
modification of the piston-ring data. Note that the sample sizes vary from n = 3 to n = 5. We wish to establish statistical
control of Diameter Measurements in this process using and s charts
Sample
Numbe
r
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
Observations
74.03
73.99
5
73.98
8
74.00
2
73.99
2
74.00
9
73.99
5
73.98
5
74.00
8
73.99
8
73.99
4
74.00
4
73.98
3
74.00
2
73.99
2
74.02
4
73.99
6
74.00
7
73.99
4
74.00
6
74.00
3
73.99
5
74
74.01
9
74.00
1
74.02
1
73.99
3
74.01
5
73.99
7
73.99
4
73.99
3
74.00
9
73.99
73.99
8
74
73.99
4
74.00
7
73.99
8
74.00
2
73.99
2
74.00
8
Sample
Numbe
r
14
15
74.00
5
74.01
5
73.98
9
73.98
5
74
74.00
2
74.00
9
74.01
4
74.01
5
74.00
5
74.00
7
73.99
5
74
73.98
8
16
17
18
19
20
21
22
73.99
5
73.99
23
73.99
6
25
24
Observations
74.00
6
74.01
2
74
73.99
4
74.00
6
73.98
4
74
73.98
2
74.00
4
74.01
74.01
5
73.98
2
73.96
7
74.01
4
73.98
4
74.01
2
74.01
74.00
2
74.01
74.00
1
73.99
9
73.98
9
74.00
8
73.98
4
73.99
4
73.99
8
74.00
5
73.98
6
74.01
8
74.00
3
74.01
3
74.01
5
73.99
73.99
73.99
3
73.99
5
74
73.98
4
73.99
8
74.00
5
74.00
3
74.00
5
73.99
6
74.00
5
74.00
6
74.00
9
74
73.99
6
74.00
9
74.01
4
74.01
74.01
7
74.01
3
74
73.99
7
74.02
LCS=74.01460
74.01
_
_
X=74.00075
74.00
73.99
LCI=73.98691
73.98
Desv.Est. de la muestra
11
13
Muestra
15
17
19
21
23
25
LCS=0.02027
0.020
0.015
_
S=0.00970
0.010
0.005
0.000
LCI=0
1
11
13
Muestra
15
17
19
21
23
25
Ejercicio 5:
The data shown in Table Bearing Diameter Data are x and R values for 24 samples of size n 5
taken from a process
producing bearings. The measurements are made on the inside diameter of the bearing, with only the last three
decimals recorded (i.e., 34.5 should be 0.50345).
Sample
Number
Sample
Number
1
2
3
4
5
6
34.5
34.2
31.6
31.5
35
34.1
3
4
4
4
5
6
Sample
Number
7
8
9
10
11
12
32.6
33.8
34.8
33.6
31.9
38.6
4
3
7
8
3
9
13
14
15
16
17
18
Sample
Number
R
35.4
34
37.1
34.9
33.5
31.7
8
6
5
7
4
3
19
20
21
22
23
24
R
34
35.1
33.7
32.8
33.5
34.2
8
4
2
1
3
2
A) Set up and R charts on this process. Does the process seem to be in statistical
control? If necessary, revise the trial control limits.
Grfico R
12
10
8
6
4
2
0
10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24
LCS R
LC R
LCI R
X barra
10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24
LCS X
LC X
LCI X
El proceso es inestable porque en la grafica de X hay puntos que sobrepasan los limites de control.
Ejercicio 6:
A high-voltage power supply should have a nominal output voltage of 350 V. A sample of four units is selected each day
and tested for process-control purposes. The data shown in Table Voltage Data give the difference between the
observed reading on each unit and the nominal voltage times ten; that is, xi (observed
Sample Number
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
x1 x2 x3 x4
6
10
7
8
9
12
16
7
9
15
9
4
8
9
10
11
10
5
7
16
10
6
10
6
7
10
8
10
8
10
15
11
5
13
13
10
9
4
12
13
Sample
Number
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
x1
x2 x3 x4
8
6
16
7
11
15
9
15
8
13
12
13
9
13
7
10
8
7
6
14
14
9
13
10
10
11
12
10
9
11
16
11
15
12
16
14
10
11
12
15
B) If specifications are at 350 V 5 V, what can you say about process capability?
LES=350+15=360
LEI=350-15=345
Cp=(360-345)/30=0.5
Proceso no adecuado, requiere modificaciones severas.
Ejercicio 7:
A TiW layer is deposited on a substrate using a sputtering tool. The table contains layer thickness measurements (in
Angstroms) on 20 subgroups of four substrates.
A) Set up and S control charts on this process. Is the process in control? Revise the
control limits as necessary.
0= 1
H
1= AL MENOS ES DIFERENTE
H
0.672
H0
Grfica de probabilidad de C2
Normal
99.9
Media
Desv.Est.
N
AD
Valor p
99
95
448.7
9.111
80
0.269
0.672
Porcentaje
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
420
430
440
450
460
470
480
C2
Objetivo
LES
Procesar datos
LEI
420
Objetivo
450
LES
480
Media de la muestra 448.688
Nmero de muestra 80
Desv.Est. (General)
9.11056
Desv.Est. (Dentro)
8.48241
General
Dentro de
Capacidad general
Pp
1.10
PPL
1.05
PPU 1.15
Ppk
1.05
Cpm 1.09
Capacidad (dentro de)
Cp
1.18
CPL
1.13
CPU 1.23
Cpk
1.13
420
Observado
0.00
0.00
0.00
430
Rendimiento
Esperado Largo
plazo
819.66
294.16
1113.82
440
450
460
470
480
Esperado Dentro de
359.80
111.48
471.28
Layer Subgroup
x1
x2
x3
x4
Layer Subgroup
x1
x2
x3
x4
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
459
443
457
469
443
444
445
446
444
432
449
440
444
463
457
456
449
455
452
463
435
442
449
453
445
456
450
449
457
463
450
442
444
438
454
457
445
452
440
443
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
445
456
459
441
460
453
451
422
444
450
452
457
445
465
453
444
460
431
446
450
453
436
441
438
457
451
450
437
448
454
438
457
447
450
438
435
457
429
467
454
Ejercicio 8:
Los datos de la tabla 7.10 representan los resultados obtenidos en un proceso. Como se aprecia, el tamao del
subgrupo es de n 1
0, y se tiene un total de 20 subgrupos. Conteste lo siguiente:
SUBGRUP
O
MEDICIONES
Media
53.6
12.7
8
10.3
7
12.6
8
38
50.2
11.17
75
60
61.9
53
58
31
47
9.55
10.6
1
50
48
41
50
46.8
7.63
46
47
44
38
54
51.7
58
39
41
58
28
67
9.15
14.7
9
50
39
40
51
47
61
60
46
68
66
58
42
50
52
35
65 20
42
75
36
65
24
65
62
33
48.7
11.11
10.2
8
19.8
7
13
14
15
16
17
52 58
62
55
53
44
52
41
46
61
52.4
7.04
44 50
53
61
54
59
54
55
32
50
51.2
8.26
35 47
60
59
64
48
52
55
64
49
53.3
9.02
50 58
44
48
37
46
43
66
51
52
49.5
8.14
45 52
56
61
47
76
44
66
43
38
52.8
18
40 72
25
67
47
33
54
42
50
40
11.91
14.4
8
19
52 52
42
60
52
35
42
37
58
65
20
50 23
37
48
52
48
33
39
60
77
50 41
21
52
55
45
62
55
28
51
60 44
61
61
53
36
60
45
71
57
69 53
65
63
54
35
37
66
55
39
4
5
40 67
64
46
53
64
43
39
48
46 60
75
55
56
59
60
73
45 50
57
45
35
61
35
7
8
46 56
48
43
30
56
62 59
52
47
68
61 79
49
55
10
27 62
51
11
58 55
12
46
54.8
53.5
48.8
53
47
49.5
Medi
a
46.7
10.11
15.0
6
50.92
11.63
A) Las celdas para la media y la desviacin estndar para los subgrupos 2 y 6 estn
vacas, calclelas.
Subgrupo 2
Media = 54.8
Subgrupo 2
Media =47
LCS=61.84
60
55
__
X=50.92
50
45
40
LCI=40.00
1
11
13
15
17
19
Muestra
1
Desv.Est. de la muestra
20
LCS=19.22
15
_
S=11.20
10
5
LCI=3.18
1
11
13
15
17
19
Muestra
Se podra decir que es un proceso un tanto estable pero en las grficas se ve un punto que se
encuentra fuera de los lmites de control
Desv.Est. de la muestra
LCS=18.44
15
_
S=10.74
10
5
LCI=3.05
1
11
Muestra
13
15
17
19
S =11.63
EsEi 8020
=
=0.85
6
6 (11.63 )
LES
Procesar datos
LEI
20
Objetivo
*
LES
80
Media de la muestra 50.92
Nmero de muestra 200
Desv.Est. (General)
11.6293
Desv.Est. (Dentro)
11.6679
General
Dentro de
Capacidad general
Pp
0.86
PPL
0.89
PPU 0.83
Ppk
0.83
Cpm
*
Capacidad (dentro de)
Cp
0.86
CPL
0.88
CPU 0.83
Cpk 0.83
20
Observado
0.00
0.00
0.00
Rendimiento
Esperado Largo
plazo
3920.86
6199.37
10120.23
30
40
50
Esperado Dentro de
4024.58
6345.88
10370.47
60
70
80
Ejercicio 9:
En el departamento de sistemas se lleva un registro del tiempo de respuesta a solicitudes de servicio de clientes
internos. Los ltimos datos en horas y en el orden de ocurrencia se muestran a continuacin (el orden es por
rengln).
39
34
42
29
28
35
32
117
32
52
49
34
33
38
122
92
23
39
98
40
41
96
43
39
29
57
43
37
43
33
38
36
78
126
35
37
32
42
87
71
33
35
37
46
62
33
42
37
31
44
42
33
109
34
34
96
37
119
86
26
40
37
27
37
37
LCS=90.1
80
Rango mvil
70
60
50
40
__
MR=27.6
30
20
10
0
LCI=0
1
13
19
25
31
37
43
49
55
61
Observacin
LCS=123.3
120
Valor individual
100
80
60
_
X=49.9
40
20
0
-20
LCI=-23.4
-40
1
13
19
25
31
37
43
49
55
61
Observacin
Se espera que as mediciones individuales se encuentren entre (-23.4) igual a 0 y 123.3 con un
promedio de 49.9 en respuestas de llamada.
Media de la muestra
LCS=130.8
100
__
X=49.9
50
0
LCI=-30.9
-50
1
10
13
16
19
22
25
28
31
Muestra
Las pruebas se realizaron con tamaos de la muestra desiguales
Media 49.92
Desv.Est. 27.01
N
65
Frecuencia
25
20
15
10
20
40
60
80
100
120
C1
especial?
Que se tiene que ajustar el proceso a tiempos estndar y as lograr que la variacin del proceso se
menos.
Ejercicio 10:
En el departamento de capacitacin de una empresa se lleva un registro por alumno del porcentaje de asistencia
a cada evento de capacitacin. Con el total de alumnos que asisten a cada curso, se obtiene un promedio
general que se utiliza como evaluacin del curso. A continuacin se muestran los resultados de los ltimos 30
cursos (en el orden que se dieron):
74
82
72
79
67
75
65
72
71
85
76
70
76
70
73
76
79
69
61
71
74
74
74
77
78
80
78
78
70
78
99
83
79
70
69
76
77
88
75
Rango mvil
15
10
__
MR=6.54
5
LCI=0
1
13
17
21
25
29
33
37
41
Observacin
Valor individual
100
LCS=92.62
90
80
_
X=75.24
70
60
LCI=57.85
1
13
17
21
25
29
33
37
41
Observacin
LCS=21.36
20
Rango mvil
71
78
71
15
10
__
MR=6.54
5
0
LCI=0
1
13
17
21
25
29
33
37
41
Observacin
LCS x = ( X )( R ) A3
= 3.267*(6.54) = 57.85
Se espera que las mediciones se encuentren entre 57.85 y 92.62 con un promedio de 75.24 en
respuestas de llamada.
H) A su juicio, cules podran ser las causas comunes que contribuyen al nivel de
ausentismo observado?
Podra ser por la falta de capacitores, o porque los cursos no eran de su agrado.