Espectroscopia de
Fotoelectrones de
Rayos X (XPS)
Espectroscopias Electronicas
XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy
(Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X)
ESCA: Electron Spectroscopy for Chemical Analysis
Espectroscopías electrónicas
Proporcionan información sobre la distribución y población
de niveles de energía electrónicos del material.
Emitidos
Energía cinética de electrones
Incidentes / Dispersados
Relaxation Processes
Incident Electron beam Auger e-
80-300 keV emitted
Free Electron
Level
Conduction band Conduction band
Fermi Level
Valence band Valence band
2p L2, L3 X-ray
emitted
2s L1
1s K
Energy Loss Electron
The Atom and the X-Ray
X-Ray
Free electron
Valence electrons
proton
neutron
Core electrons electron
electron vacancy
The core electrons
respond very well to the
X-Ray energy
Rayos X sobre la superficie
e- s de la capa superior e-s de la capa inferior Superficie exterior
sin colisiones
e-s de la capa inferior
Royos X Superficie Interior
con colisiones
Capas de atomos
Ecuación
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XPS
Para cada elemento se tiene una energía de enlace
característica asociada con los orbítales atómicos
internos, es decir, cada elemento va a producir un
espectro con un conjunto de picos característico.
Esta técnica permite, a parte de una identificación
elemental, hacer un análisis cuantitativo de alguna
región de la muestra.
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Espectro XPS
Espectro XPS
XPS Spectrum
O 1s
O Auger
O debido a la
Fuente de Mg
C O 2s
Al
Al
Picos en un espectro XPS
Picos de Fotoemisión
Picos Auger
Picos debido a Satélites de Rayos-X
Picos Fantasmas de Rayos-X
Picos debido al “shake-up”
Picos por división de multiplete
Picos debido a perdidas de energía por
plasmones
Picos y bandas de Valencia
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Identificación de Picos
Identificar los picos C1s, O1s, C(KLL), O(KLL) ya que son los más
sobresalientes en un espectro XPS si las muestras no han sido
preparadas en forma in-situ.
Identifique las otras líneas intensa en el espectro (Utilice el manual de
XPS), realice una tabla con las posiciones en energía de los picos
menos intenso.
Tenga presente que puede haber interferencia de los picos más
intensos con algunos otros elementos, por ejemplo: para el C1s el
Ru3d; para el O1s el V2p y el Sb3d; para el O(KLL) el I(MNN) y
Cr(LMM); para el C(KLL) el Ru(MNN).
Identifique los picos de menor intensidad que asumiendo que estos
picos son los más intensos de elementos desconocidos. Los pequeños
picos que no se puedan identificar pueden ser picos satélites.
Observe que la separación debida a los doblete de spin sean las
correctas (para los picos p, d y f) y, que el cociente entre los dobletes
del pico p es sea de 1:2; de los d sea de 2:3; y de los f sea de 3:4.
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Identificación de picos XPS y Auger
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Corrimiento químico
El valor exacto de la energía de enlace de un fotoelectrón no
depende solamente de los niveles a los que ocurre la
fotoemisión sino de:
1) El estado formal de oxidación del átomo
2) El ambiente físico y químico local
Un cambio en 1) ó en 2) dará un pequeño corrimiento en la
posición del pico
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Corrimiento químico
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Deconvolución del pico principal
8000
8000
7000 GO C -O
C=C
C uentas por segundo
7000 C 1s 286.7eV
6000 284.5eV
6000
5000
Cuentas por segundo
5000 C=O
4000
4000 287.7eV
3000
3000
2000
2000
O -C=O
1000 289eV
1000
0
0
292 290 288 286 284 282 280
-1000
292 290 288 286 284 282 280 Energia de Enlace (eV)
Energia de Enlace (eV)
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Información química
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Factor de Sensibilidad
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Equipo XPS
Fuente de rayos X
Fuente de Iones
Analizador SIMS
Camara de introducción
de la muestra
Cámara para introducción de muestras
La muestra se introduce a través de
una cámara que está en contacto
con el ambiente exterior
La cámara se cierra y se bombea a
bajo vacío.
Después de la primera cámara se
introduce la muestra en la segunda
cámara en la que existe un entorno
UHV.
Cámara de introducción
Cámara de UHV
Como trabaja un equipo de XPS?
Un haz de rayos X monoenergético Se utiliza el entorno de ultra alto
emite fotoelectrones de la vacío para eliminar la contaminación
superficie de la muestra. excesiva del ambiente.
Energía de rayos-X que se utiliza en El analizador CMA mide la KE de los
un XPS: electrones emitidos.
Al Ka (1486.6eV) El espectro generado por el equipo
Mg Ka (1253.6 eV) proviene de la señal del analizador.
Las energías de enlace determinan
las posiciones de los picos y se
Los fotones penetran un identifican los elementos presentes
micrómetro de la superficie de en la muestra.
muestra
El espectro XPS contiene
información sólo de 10 - 100 Å de la
parte superior de la muestra.
Limitaciones
XPS no detecta Hidrógeno
Requieren ultra alto vacío.
Las muestras generalmente son sólidos.
Para muestras aislantes debe neutralizarse la
carga acumulada.
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¡¡¡GRACIAS !!!
