MICROSCOPÍA

ELECTRÓNICA DE
BARRIDO
JHON SEBASTIAN USECHE
12 DE NOVIEMBRE DE 2020
Un poco de historia.

Manfred von Ardenne (20 de

Primer microscopio electrónico enero de 1907 – 26 de mayo de
de barrido. 1997)
■ Antecedentes
■ Aportes.

Microscopio electrónico de
barrido.
Funcionamiento.

Diagrama de un MEB equipado con un detector de rayos X

"EDS" (de dispersión de energía)
Efectos producidos
■ Electrones secundarios
■ Electrones retrodispersados
■ Electrones Auger
■ Rayos X

Cabeza de hormiga, vista con un microscopio

electrónico de barrido.
Aplicaciones.

■ Geología
■ Estudio de Materiales
■ Metalurgia
■ Odontología
■ Paleontología
■ Control de calidad
■ Peritajes.
Imagen de microscopía electrónica de barrido de la configuración experimental que muestra las micro-sondas y las almohadillas de contacto
metálicas (izquierda), área ampliada de la región R1 que muestra los alambres de Pt cultivados mediante la técnica FIBID en un sustrato de SiO2
/ Si (arriba a la derecha), y el área ampliada de la región R2 que muestra una nanoplaqueta típica de GO-BPA con dimensiones laterales de
alrededor de 7 μm y un grosor t <100 nm, y contactos de Pt para realizar las mediciones eléctricas (abajo a la derecha). Las otras imágenes SEM
muestran ejemplos de los contactos eléctricos depositados sobre nanoplaquetas individuales de GO-BPA y sus dimensiones geométricas para
diferentes coberturas de óxidos medidas in situ mediante la técnica EDS.
Imagen SEM, dimensiones laterales de 20 µm con forma irregular y
espesor de 80 nm; Este comportamiento concuerda con la clasificación
estándar ISO reciente como
nanoplaqueta
Imagen SEM en nanoplaquetas GO-BPA sintetizadas a Tca =
773 K por DDT
método y sus medidas de espesor.
Bibliografía.
[1]. Prías-Barragán, J.J. & Gross, Katherine & Ariza-Calderón, H & Prieto, P. (2019).
TRANSPORT MECHANISMS STUDY IN GRAPHENE OXIDE MULTI-LAYERS
OBTAINED FROM BAMBOO AS SOURCE MATERIAL AND POS-SIBLE
APPLICATIONS IN ELECTRONIC. 1. 9. PhD Thesis
[2] Electron microprobe analysis: Merging of discoveries in physics, chemistry and
microscopy, p. 19, departamento de geología, universidad de Wisconsin-Madison

[3] Hitachi breaks SEM resolution barrier, www. labtechnologist.com, 10 de marzo

de 2005.