SC2 2023 Lab1 Schoninger Diaz

UNIVERSIDAD NACIONAL DE MISIONES

FACULTAD DE INGENIERÍA
Carrera:
INGENIERÍA ELECTRÓNICA
Asignatura:
Sistema de Control 2
LABORATORIO N°1:
MUESTREO DE SEÑALES EN TIEMPO CONTINUO
ANÁLISIS DE LA SELECCIÓN DE LA FRECUENCIA DE

MUESTREO DE SEÑALES CON THD ELEVADO.
Autores:
● SCHÖNINGER, Maximiliano Sebastián.
● DÍAZ, Joaquín Eduardo.
Docentes a cargo:
● Ing. Fernando Botterón.
● Ing. Gabriel Y. Aguirre.
● Sr. Juan Gabriel Rojas.
● Sr. Joaquín Javier Pelinski.
Oberá, Misiones, 12/09/2023

Introducción
En un sistema de control digital, las señales tomadas de un proceso físico son normalmente
señales que están en tiempo continuo. Es por esta razón que en todos los sistemas que involucren un
control digital, se haga uso de un proceso de muestreo de la señal analógica para colocar esta misma en
forma de secuencias numéricas en el procesador digital. Esta operación sustituye a la señal de tiempo
continuo por una secuencia de valores en puntos discretos del tiempo, espaciados por un tiempo llamado
periodo de muestreo. Es predecible que cuanto menor sea el periodo de muestreo, la reproducción de la
señal digital será más fiel a la señal analógica original. Es decir, que cuanto más alta es la frecuencia de
muestreo en comparación a la componente más alta de frecuencia en la señal de tiempo continuo, las
características de amplitud se pueden preservar en la envolvente de la misma.
Debido a lo expuesto anteriormente, en este laboratorio se realiza el proceso de muestreo digital para las
diferentes señales. Se analizará, en el dominio del tiempo y de la frecuencia, el efecto que produce la
selección de una determinada frecuencia de muestreo. Estas señales son adquiridas con un módulo
adquisidor de datos analógicos, para luego procesarlas y analizarlas en una computadora digital.
Esquemas y equipos utilizados.

La Figura 1 indica el circuito utilizado para los ensayos de este laboratorio, en la cual se observa un
rectificador a diodos de onda completa, con filtro pasa bajos capacitivo y una carga resistiva fija que
permita drenar una corriente alterna (CA) apreciable en la entrada del rectificador. Para poder adquirir
esta corriente CA, se mide la caída de tensión proporcional sobre un resistor de potencia de 1 Ω. El
rectificador es alimentado por un autotransformador de tensión de salida variable, y éste se conecta a la
red eléctrica a través de un transformador aislador de relación de tensión unitaria; este último evita
inconvenientes en la adquisición de las señales indicadas en el circuito.
1
Figura 1: Circuito eléctrico empleado en el ensayo.

Para realizar los ensayos de este laboratorio se utilizará el siguiente equipamiento:
● Osciloscopio de almacenamiento digital Rigol.
● Transformador de aislación 220/220 Vca.
● PC con software de análisis Matlab.
● Placa de adquisición de señales NI USB-6009.
● Variac monofásico.
● Rectificador monofásico de onda completa con filtro capacitivo.
● Resistencias de potencia cementadas para la carga del rectificador:
○ 1 x 470 Ω/20W.
○ 1 x 1 Ω/10W.
○ 4 x 470 Ω/20W.
● Multímetro digital.
● Cable de alimentación para el osciloscopio sin terminal de tierra.
● Cables banana-cocodrilo y cocodrilo-cocodrilo.
● Pendrive para almacenar los datos obtenidos en el osciloscopio.
● VI de adquisición (Virtual Instrument) para software LabVIEW 8.5 y script de Matlab para
análisis de los datos obtenidos.
2
Metodología
Ensayo 1: Tensión sinusoidal de entrada al rectificador (V1).

En este ensayo se realizó la adquisición de la forma de onda de la tensión que alimenta al circuito indicado
en la Figura 1. Inicialmente para la carga RL = 4x470 Ω/20W (en paralelo).
Se verificaron las conexiones del circuito de la Figura 1. Luego con el cursor del variac en la posición
correspondiente a la mínima tensión de salida, se energizó el circuito, modificando lentamente la salida
del variac hasta alcanzar una tensión eficaz de 7 V (medida realizada con el multímetro y el osciloscopio)
para alcanzar un valor de pico próximo a los 10 V. Seguidamente, con el osciloscopio medimos la tensión
V1 y almacenamos en el pendrive la imagen simultánea visualizada de la forma de onda en el tiempo, y
del espectro en la frecuencia, presentado por la FFT. A continuación, se cortó la energía del circuito sin
modificar la tensión de salida del variac, se desconectó el osciloscopio y se conectó la placa adquisidora
de señales. Por último, se volvió a energizar el circuito y se obtuvieron las respectivas señales para
distintas frecuencias de muestreo.
A. 𝑓𝑚 = 2 ∗ 𝑓 = 100 𝐻𝑧 y 1000 muestras por canal.
B. 𝑓𝑚 = 4 ∗ 𝑓 = 200 𝐻𝑧 y 1000 muestras por canal.
C. 𝑓𝑚 = 10 ∗ 𝑓 = 500 𝐻𝑧 y 1000 muestras por canal.
D. 𝑓𝑚 = 200 ∗ 𝑓 = 10 𝑘𝐻𝑧 y 1000 muestras por canal.
Donde, f = frecuencia fundamental de la señal (considerando la frecuencia de la red 𝑓 = 50 𝐻𝑧).
Ensayo 2: Corriente alterna drenada de la red (V2).

En este ensayo se realizó la adquisición de la forma de onda correspondiente a la diferencia de potencial
en bornes de la resistencia R1 (1Ω/10W), proporcional a la corriente drenada de la red por el rectificador
monofásico a diodos con filtro capacitivo, de la Figura 1. Se realizaron los mismos pasos que en el ensayo
1, con la misma configuración, únicamente se modificó la tensión de salida del variac, que en este caso
debía ser de 45 V eficaz.
Se obtuvieron las imágenes de la forma de onda en el tiempo y la FFT con el osciloscopio, como así
también las imágenes y datos con la placa adquisidora de señal para distintas frecuencias de muestreo.
3
C. 𝑓𝑚 = 200 ∗ 𝑓 = 10 𝑘𝐻𝑧 y 1000 muestras por canal.

Donde, f = frecuencia fundamental de la señal (considerando la frecuencia de la red 𝑓 = 50 𝐻𝑧).
Ensayo 3: Tensión continua de salida rectificada y filtrada (V3).

En este ensayo se realizó la adquisición de la forma de onda correspondiente a la ondulación (ripple) de
la tensión continúa, rectificada y filtrada (de salida del rectificador monofásico a diodos con filtro
capacitivo) de la Figura 1, con diferentes estados de carga, manteniendo constante en cada caso el número
de muestras. Los diferentes estados de carga se realizaron para variar la amplitud de la ondulación de la
tensión rectificada y con esto producir una variación en la magnitud de los componentes del espectro de
armónicos de la señal.
Inicialmente se utilizaron cuatro resistencias de carga, en paralelo, de 470 Ω x 20 W c/u; y por último se
varió la carga colocando una sola resistencia de carga de 470 Ω x 20 W. Se verificaron las conexiones
del circuito de la Figura 1. Luego con el cursor del variac en la posición correspondiente a la mínima
tensión de salida, se energizo el circuito, modificando lentamente la salida del variac hasta alcanzar una
tensión eficaz de 7 V (medida realizada con el multímetro y el osciloscopio) para alcanzar un valor de
pico próximo a los 10 V. A continuación, con el osciloscopio medimos la tensión en bornes de la carga
RL y almacenamos en el pendrive la imagen simultánea visualizada de la forma de onda en el tiempo, y
del espectro en la frecuencia, presentado por la FFT. Por último, se cortó la energía del circuito sin
modificar la tensión de salida del variac, se desconectó el osciloscopio y se conectó la placa adquisidora
de señales, luego se volvió a energizar el circuito y se obtuvieron un conjuntos de señales para distintas
frecuencias de muestreo.
C. 𝑓𝑚 = 100 ∗ 𝑓 = 10 𝑘𝐻𝑧 y 1000 muestras por canal.
Donde, f = frecuencia fundamental de la señal (𝑓 = 100 𝐻𝑧).
Si bien, la consigna del laboratorio para este ensayo indicaba utilizar otras frecuencias de muestreo, se
utilizaron las mencionadas anteriormente por error, al no contemplar que la frecuencia de salida del
rectificador de onda completa es el doble de la frecuencia de la senoidal de entrada.
4
Resultados:
En esta sección se mostrarán los resultados obtenidos en cada ensayo realizado, como así también los
resultados obtenidos en simulación con los softwares MATLAB y PSIM.
Ensayo 1: Tensión sinusoidal de entrada al rectificador (V1).
A continuación, se presentan los resultados obtenidos, visualizando la señal de entrada, antes del
rectificador:
Figura 2: Respuesta temporal de la señal de entrada y respuesta de la FFT de la señal de entrada.
En la Figura 2 se puede observar la señal de entrada, adquirida con el osciloscopio, con forma de onda
senoidal y una amplitud de aproximadamente 10 Vp, tensión equivalente a los 7 Vrms requeridos por
consigna. También se observa la FFT de la señal de entrada, la cual presenta su armónico fundamental
en 50 Hz con una amplitud de aproximadamente 7 Vrms.
5
Figura 3: Esquema eléctrico del circuito ensayado.
Figura 4: Tensión de entrada.
Figura 5: FFT de la señal de entrada en RMS.
En las Figuras 4 y 5, se verifica lo visto en el osciloscopio (Figura 2). Se observa que el armónico
fundamental de la señal de entrada se encuentra aproximadamente en 50 Hz, concentrando allí la mayor
parte de su energía.
6
A continuación, se presenta la simulación de la señal V1 muestreada para diferentes frecuencias de

muestreo y también se muestra la FFT correspondiente.
Muestreo a 100 Hz:
Figura 6: Señal de entrada muestreada a 100 Hz.
Figura 7: FFT de la señal muestreada a 100 Hz.
En la Figura 6 se observa el resultado de muestrear la señal senoidal con retenedor ZOH a una frecuencia
de muestreo de 100 Hz. Debido a la baja tasa de muestreo se pierde mucha información de la señal de
entrada y como resultado se obtiene una onda cuadrada, con una amplitud muy pequeña a comparación
de los 10 Vp de la entrada senoidal. En la Figura 7 se muestra la FFT de la señal obtenida a partir del
retenedor ZOH, donde se aprecia que gran parte de la energía se concentra en la frecuencia fundamental
de 50 Hz, pero también aparecen sucesivos armónicos que se repiten y van disminuyendo su amplitud
cada 100 Hz.
7
(a) (b)
(c) (d)
Figura 8: a) Señal reconstruida en software Matlab;(b) Ampliación de la señal de señal reconstruida;
(c) Muestras del periodo de la señal; (d) Espectro en frecuencia de la señal muestreada.
En la Figura 8(a) se observa la señal de entrada reconstruida para una frecuencia de muestreo de 100 Hz.
Dicha señal tiene esa forma debido al efecto de Aliasing o solapamiento que se genera cuando se
muestrea digitalmente a una frecuencia inapropiada. En la Figura 8(b) se observa la señal reconstruida
con cierta ampliación de la misma para ver claramente que la forma de onda resultante es una señal
triangular. En la Figura 8(c) se observan las muestras obtenidas en un periodo de la señal senoidal. En la
Figura 8(d) se observa como toda la energía se concentra en la frecuencia fundamental de 50 Hz.
En este caso no es posible calcular la THD debido a que solo se encuentra la componente fundamental
de la señal y por lo tanto THD=0%.
8
Muestreo a 200 Hz:
(a) (b)
9
(c) (d)
En la Figura 11(a) se observa la señal de entrada reconstruida para una frecuencia de muestreo de 200
Hz. Dicha señal tiene esa forma debido al efecto de Aliasing o solapamiento que se genera cuando se
muestrea digitalmente a una frecuencia inapropiada. En la Figura 11(b) se observa la señal reconstruida
con cierta ampliación de la misma para ver claramente que la forma de onda resultante es una señal
triangular. En la Figura 11(c) se observan las muestras obtenidas en un periodo de la señal senoidal. En
la Figura 11(d) se observa como toda la energía se concentra en la frecuencia fundamental de 50 Hz.
En este caso tampoco es posible calcular la THD y por lo tanto THD=0%.
Muestreo a 500 Hz:
10

En la Figura 12 se observa como aumenta notablemente la fidelidad de la señal al aumentar la frecuencia
de muestreo a una frecuencia diez veces mayor a la frecuencia fundamental. En la Figura 13 se observa
como la mayor parte de la energía de la señal se encuentra a los 50 Hz. Además, se reduce la cantidad de
armónicos respecto al caso anterior.
(a) (b)
(c) (d)
11
Hz. En la Figura 14(b) se observa la señal reconstruida con cierta ampliación de la misma para ver
claramente que la forma de onda resultante es una señal aproximadamente senoidal. En la Figura 14(c)
se observan las muestras obtenidas en un periodo de la señal senoidal. En la Figura 14(d) se observa
como toda la energía se concentra en la frecuencia fundamental de 50 Hz. Del análisis realizado a partir
de las simulaciones resulta un TDH del 2.96%.
Muestreo a 10 kHz:
Figura 15: Señal de entrada muestreada a 10 kHz.
Figura 16: FFT de la señal muestreada a 10 kHz.
(a)
12
(b) (c)
Figura 17: a) Señal reconstruida en software Matlab;(b) Muestras del periodo de la señal; (c) Espectro
en frecuencia de la señal muestreada.
kHz, se puede apreciar que la señal reconstruida es idéntica a la señal original. En la Figura 17(b) se
observan las muestras obtenidas en un periodo de la señal senoidal. En la Figura 17(c) se observa cómo
casi toda la energía se concentra en la frecuencia fundamental de 50 Hz. Del análisis realizado a partir
de las simulaciones resulta un TDH de 3.34.
Ensayo 2: Corriente alterna drenada de la red (V2).
Figura 18: Respuesta temporal de la señal de entrada junto a su FFT.
En la figura 18 se observa la forma de onda de la tensión en bornes de la resistencia R1=1Ω, la cual es

proporcional a la corriente que circula por la misma, por lo tanto, la forma de onda será la misma, tiene
13
una amplitud de 3,98 Vpp aproximadamente. También se observa la FFT de la señal, dicha señal tiene
una amplitud de aproximadamente 500mV eficaces, en la frecuencia fundamental (50 Hz) de la señal,
además, se pueden apreciar varios armónicos, que van disminuyendo en amplitud cada 100 Hz.
Figura 20: Tensión sobre R1 en función del tiempo.
Figura 21: FFT de la señal de tensión V2.
14
En las Figuras 20 y 21, se verifica lo visto en el osciloscopio (Figura 18). Se observa que el armónico
fundamental de la señal de entrada se encuentra aproximadamente en 50 Hz, concentrando allí la mayor
parte de su energía.
A continuación, se presenta la simulación de la señal de entrada muestreada para diferentes frecuencias
de muestreo y también se muestra la FFT correspondiente.
Muestreo a 250 Hz:
Figura 22: Señal V2 muestreada a 250 Hz.
(a) (b)
15
(c) (d)
(c) Muestras del periodo de la señal; (d) Espectro en frecuencia de la señal muestreada
En la Figura 22 se observa el resultado de muestrear la señal con un retenedor ZOH a una frecuencia de
250 Hz. Se aprecia que al muestrear a una frecuencia cinco veces mayor a la frecuencia fundamental de
la señal original, se consigue una señal con una notable fidelidad a la original. En la Figura 23 se muestra
la FFT, donde se aprecia que gran parte de la energía se concentra en los primeros armónicos,
principalmente en 50 Hz, pero también aparecen pequeños armónicos que se repiten cada 100 Hz y van
disminuyendo su amplitud acorde aumenta la frecuencia.
En la Figura 24(a) se observa la señal V2 reconstruida para una frecuencia de muestreo de 250 Hz. Dicha
señal tiene esa forma debido al efecto de Aliasing o solapamiento que se genera cuando se muestrea
digitalmente a una frecuencia inapropiada. En la Figura 24(b) se observa la señal reconstruida con cierta
ampliación de la misma para ver claramente que la forma de onda resultante es una señal triangular. En
la Figura 24(c) se observan las muestras obtenidas en un periodo de la señal original. En la Figura 24(d)
se observa como toda la energía se concentra en la frecuencia fundamental de 50 Hz. En este caso el
porcentaje de THD calculado es del 13.87%.
16
Muestreo a 500 Hz:

En la Figura 25 se observa como mejora notablemente la fidelidad de la señal reconstruida, al aumentar
la frecuencia de muestreo a 10 veces la frecuencia fundamental. Con respecto a la FFT (Figura 26) se
observa como la mayor parte de la energía se concentra en 50 Hz, y se reducen la cantidad de armónicos.
(a) (b)
17
(c) (d)
(c) Muestras del periodo de la señal; (d) Espectro en frecuencia de la señal muestreada
En la Figura 27(a) se observa la señal V2 reconstruida para una frecuencia de muestreo de 500 Hz. En la
Figura 27(b) se observa la señal reconstruida con cierta ampliación de la misma para ver claramente la
forma de onda resultante. Se puede apreciar que la forma de la señal ya coincide en gran medida con la
señal obtenida en el osciloscopio. En la Figura 27(c) se observan las muestras obtenidas en un periodo
de la señal original. En la Figura 27(d) se observa como toda la energía se concentra en la frecuencia
fundamental de 50 Hz. En este caso, la THD calculada resulta alrededor del 62,91%.
Muestreo a 10kHz:
Figura 28: Señal V2 muestreada a 10 kHz.
18

En la Figura 28, se observa como para una frecuencia de muestreo de 10 kHz la señal reconstruida es
prácticamente igual a la señal original. Con respecto a la FFT, en la Figura 29 se aprecia que la señal
solamente cuenta con tres armónicos con energía relevante, concentrándose la mayor energía en los 50Hz.
(a)
(b) (c)
Figura 30: a) Señal reconstruida en software Matlab;(b) Muestras del periodo de la señal; (c) Espectro
en frecuencia de la señal muestreada.
19
En la Figura 30(a) se observa la señal V2 reconstruida para una frecuencia de muestreo de 10 kHz. Se
puede apreciar que la forma de la señal coincide completamente con la señal obtenida en el osciloscopio.
En la Figura 30(b) se observan las muestras obtenidas en un periodo de la señal original. En la Figura
30(d) se observa como la mayor parte de la energía se concentra en la frecuencia fundamental de 50 Hz.
Sin embargo, la señal reconstruida esta compuesta por diversos armónicos. En este caso, la THD
calculada resulta alrededor del 94.79%.
Ensayo 3: Tensión continua de salida rectificada y filtrada (V3) con RL=4x470 Ω (paralelo).
Figura 31: Forma de onda obtenida a la salida del rectificador y señal de FFT.
En la Figura 31 se observa que la frecuencia fundamental está situada en 0 Hz, debido a que estamos
trabajando con una señal continua. También se aprecian otros picos, el de mayor energía se encuentra en
la frecuencia de 100 Hz, que resulta ser la frecuencia fundamental, dado que la señal bajo análisis se
encuentra luego del rectificador de onda completa.
20
(a)
(b)
Figura 33: Tensión en bornes de carga (V3).
Figura 34: FFT de la tensión en bornes de carga (V3).
21
En las Figuras 33(a) y 33(b), se verifica lo visto en el osciloscopio (Figura 31). De la Figura 34 se observa
que el armónico fundamental de la señal de entrada se encuentra aproximadamente en 0 Hz, concentrando
allí la mayor parte de su energía, además, se aprecia el armónico presente a los 100 Hz, como se mencionó
anteriormente.
Muestreo a 200 Hz:
22
(a) (b)
(c) (d)
200 Hz. Debido a la baja tasa de muestreo se produce Aliasing y se pierde información de la señal. En la
Figura 36 se muestra la FFT, donde se aprecia que casi toda la energía se encuentra principalmente en
0Hz y un poco en 100Hz, dado que se trata de una señal de corriente continua con cierto ripple de 100 Hz
de frecuencia.
En la Figura 37(a) se observa la señal V3 reconstruida para una frecuencia de muestreo de 200 Hz. Se
puede apreciar que la señal reconstruida resulta en una onda triangular. En la Figura 37(c) se observan
las muestras obtenidas en un periodo de la señal original. En la Figura 37(d) se observa cómo casi toda
la energía se concentra en la frecuencia fundamental de 0 Hz. En este caso no es posible calcular la THD
debido a que solo se encuentra la componente fundamental de la señal y por lo tanto THD=0%.
23
Muestreo a 500 Hz:
(a) (b)
24
(c) (d)
500 Hz. Recordando que la frecuencia fundamental es el doble de la senoidal de entrada al salir del
rectificador de onda completa. Se puede apreciar que al muestrear a una frecuencia cinco veces mayor a
la frecuencia fundamental, se obtienen una señal con una buena fidelidad respecto a la señal original, sin
excesivas muestras. Inclusive es notorio la forma del ripple en la reconstrucción de la señal. En la Figura
39 se muestra la FFT, donde se aprecia que casi toda la energía se encuentra principalmente en 0 Hz y un
poco en 100 Hz, dado que se trata de una señal de corriente continua con cierto ripple de 100 Hz de
frecuencia.
puede observar que en líneas generales la señal es reconstruida correctamente. En la Figura 40(c) se
observan las muestras obtenidas en un periodo de la señal original. En la Figura 40(d) se observa como
toda la energía se concentra en la frecuencia fundamental de 0 Hz. En este caso el cálculo de la THD
resulta del 44.94%.
25
Muestreo a 10 kHz:
(a)
26
(b) (c)
Figura 43: a) Señal reconstruida en software Matlab;
(b) Muestras del periodo de la señal; (c) Espectro en frecuencia de la señal muestreada.
10 kHz. Recordando que la frecuencia fundamental es el doble de la senoidal de entrada al salir del
rectificador de onda completa. Se puede apreciar que al muestrear a una frecuencia cien veces mayor a la
frecuencia fundamental, se obtienen una señal idéntica a la señal original. En la Figura 42 se muestra la
FFT, donde se aprecia que casi toda la energía se encuentra principalmente en 0 Hz y un poco en 100 Hz,
dado que se trata de una señal de corriente continua con cierto ripple de 100 Hz de frecuencia.
puede observar que la señal es reconstruida de forma idéntica a la original. En la Figura 43(b) se observan
las muestras obtenidas en un periodo de la señal original. En la Figura 43(c) se observa como toda la
energía se concentra en la frecuencia fundamental de 0 Hz.
En este caso el cálculo de la THD resulta del 37.88%.
27
Ensayo 3: Tensión continua de salida rectificada y filtrada (V3) con RL=470 Ω.
Figura 44: Forma de onda obtenida a la salida del rectificador y señal de FFT.
En la Figura 44 se observa que la frecuencia fundamental está situada en 0 Hz, debido a que estamos
trabajando con una señal continua. También se aprecian otros picos, el de mayor energía se encuentra en
la frecuencia de 100 Hz, que resulta ser la frecuencia fundamental, dado que la señal bajo análisis se
encuentra luego del rectificador de onda completa.
28
(a)
(b)
Figura 46: Tensión en bornes de carga (V3).
Figura 47: FFT de la tensión en bornes de carga (V3).
En las Figuras 46(a) y 46(b), se verifica lo visto en el osciloscopio (Figura 44). De la Figura 47 se observa
que el armónico fundamental de la señal de entrada se encuentra aproximadamente en 0 Hz, concentrando
allí la mayor parte de su energía, además, se aprecia el armónico presente a los 100 Hz, como se mencionó
anteriormente.
29
Muestreo a 200 Hz:

200 Hz. Debido a la baja tasa de muestreo se pierde información de la señal. En la Figura 49 se muestra
la FFT, donde se aprecia que casi toda la energía se encuentra principalmente en 0 Hz y un poco en 100Hz,
(a) (b)
30
(c) (d)
puede apreciar que la señal reconstruida, para una frecuencia de muestreo del doble de la frecuencia
fundamental resulta en una onda triangular. En la Figura 50(c) se observan las muestras obtenidas en un
periodo de la señal original. En la Figura 50(d) se observa cómo casi toda la energía se concentra en la
frecuencia fundamental de 0 Hz. En este caso no es posible calcular la THD debido a que solo se
encuentra la componente fundamental de la señal y por lo tanto THD=0%.
Muestreo a 500 Hz:
31
(a) (b)
(c) (c)
500 Hz. Recordando que la frecuencia fundamental es el doble de la senoidal de entrada al salir del
32
rectificador de onda completa. Se puede apreciar que al muestrear a una frecuencia cinco veces mayor a
la frecuencia fundamental, se obtienen una señal con una buena fidelidad respecto a la señal original, sin
excesivas muestras. En la Figura 52 se muestra la FFT, donde se aprecia que casi toda la energía se
encuentra principalmente en 0 Hz y un poco en 100 Hz, dado que se trata de una señal de corriente
continua con cierto ripple de 100 Hz de frecuencia.
En la Figura 53(a) se observa la señal V3 reconstruida para una frecuencia de muestreo de 500 Hz. En la
Figura 53(c) se observan las muestras obtenidas en un periodo de la señal original. En la Figura 53(d) se
observa como toda la energía se concentra en la frecuencia fundamental de 0 Hz.
En este caso el cálculo de la THD resulta del 36.17%.
Muestreo a 10 kHz:
33
(a)
(b) (c)
Figura 56: a) Señal reconstruida en software Matlab;
(b) Muestras del periodo de la señal; (c) Espectro en frecuencia de la señal muestreada.
10 kHz. Recordando que la frecuencia fundamental es el doble de la senoidal de entrada al salir del
rectificador de onda completa. Se puede apreciar que al muestrear a una frecuencia cien veces mayor a la
frecuencia fundamental, se obtienen una señal idéntica a la señal original. En la Figura 55 se muestra la
FFT, donde se aprecia que casi toda la energía se encuentra principalmente en 0 Hz y un poco en 100 Hz,
puede observar que la señal es reconstruida de forma idéntica a la original. En la Figura 56(b) se observan
las muestras obtenidas en un periodo de la señal original. En la Figura 56(c) se observa como toda la
34
energía se concentra en la frecuencia fundamental de 0 Hz. En este caso el cálculo de la THD resulta del
36.63%.
35
Conclusiones.
Realizados los ensayos de este laboratorio, se logró identificar la importancia de una correcta selección
de la frecuencia de muestreo para diferentes tipos de señales. Resaltando la relación de compromiso entre
cantidad de muestras necesarias para el control de un determinado sistema y la velocidad del
procesamiento de dichas muestras.
Para señales con altos valores de TDH debemos considerar el aporte de un mayor número de armónicos
para la selección de la frecuencia de muestreo para que la señal reconstruida sea lo más parecida a la
original. Cuanto más alto sea el THD, mayor es la frecuencia necesaria para realizar el proceso de
muestreo. Por lo tanto, a medida que la frecuencia de muestreo se incrementa, el THD en la mayoría de
las situaciones aumenta, ya que mejora la calidad y semejanza de la onda reconstruida respecto a la
original.
36

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MUESTREO DE SEÑALES EN TIEMPO CONTINUO

ANÁLISIS DE LA SELECCIÓN DE LA FRECUENCIA DE

Oberá, Misiones, 12/09/2023

Esquemas y equipos utilizados.

Figura 1: Circuito eléctrico empleado en el ensayo.

Ensayo 1: Tensión sinusoidal de entrada al rectificador (V1).

Ensayo 2: Corriente alterna drenada de la red (V2).

C. 𝑓𝑚 = 200 ∗ 𝑓 = 10 𝑘𝐻𝑧 y 1000 muestras por canal.

Ensayo 3: Tensión continua de salida rectificada y filtrada (V3).

Ensayo 1: Tensión sinusoidal de entrada al rectificador (V1).

Figura 2: Respuesta temporal de la señal de entrada y respuesta de la FFT de la señal de entrada.

Figura 3: Esquema eléctrico del circuito ensayado.

Figura 4: Tensión de entrada.

Figura 5: FFT de la señal de entrada en RMS.

A continuación, se presenta la simulación de la señal V1 muestreada para diferentes frecuencias de

Muestreo a 100 Hz:

Figura 6: Señal de entrada muestreada a 100 Hz.

Figura 7: FFT de la señal muestreada a 100 Hz.

Muestreo a 200 Hz:

Figura 9: Señal de entrada muestreada a 200 Hz.

Figura 10: FFT de la señal muestreada a 200 Hz.

Muestreo a 500 Hz:

Figura 12: Señal de entrada muestreada a 500 Hz.

Figura 13: FFT de la señal muestreada a 500 Hz.

Figura 15: Señal de entrada muestreada a 10 kHz.

Figura 16: FFT de la señal muestreada a 10 kHz.

Ensayo 2: Corriente alterna drenada de la red (V2).

Figura 18: Respuesta temporal de la señal de entrada junto a su FFT.

En la figura 18 se observa la forma de onda de la tensión en bornes de la resistencia R1=1Ω, la cual es

Figura 19: Esquema eléctrico del circuito ensayado.

Figura 20: Tensión sobre R1 en función del tiempo.

Figura 21: FFT de la señal de tensión V2.

Muestreo a 250 Hz:

Figura 22: Señal V2 muestreada a 250 Hz.

Figura 23: FFT de la señal muestreada a 100 Hz.

Muestreo a 500 Hz:

Figura 25: Señal V2 muestreada a 500 Hz.

Figura 26: FFT de la señal muestreada a 500 Hz.

Figura 28: Señal V2 muestreada a 10 kHz.

Figura 29: FFT de la señal muestreada a 10 kHz.

Figura 32: Esquema eléctrico del circuito ensayado.

Figura 34: FFT de la tensión en bornes de carga (V3).

Muestreo a 200 Hz:

Figura 35: Señal V3 muestreada a 100 Hz.

Figura 36: FFT de la señal muestreada a 100 Hz.

Muestreo a 500 Hz:

Figura 38: Señal V3 muestreada a 500 Hz.

Figura 39: FFT de la señal muestreada a 500 Hz.

Figura 41: Señal V3 muestreada a 10 kHz.

Figura 42: FFT de la señal muestreada a 10 kHz.

Ensayo 3: Tensión continua de salida rectificada y filtrada (V3) con RL=470 Ω.

Figura 45: Esquema eléctrico del circuito ensayado.

Figura 47: FFT de la tensión en bornes de carga (V3).

Muestreo a 200 Hz:

Figura 48: Señal V3 muestreada a 100 Hz.

Figura 49: FFT de la señal muestreada a 100 Hz.

Muestreo a 500 Hz:

Figura 51: Señal V3 muestreada a 500 Hz.

Figura 52: FFT de la señal muestreada a 500 Hz.

Figura 54: Señal V3 muestreada a 10 kHz.

Figura 55: FFT de la señal muestreada a 10 kHz.