Conceptos básicos de metrología:

Operaciones metrológicas
Vocabulario Internacional de Metrología (VIM)
CEM (2012). 3era edición en español

52
 Operaciones metrológicas (VIM)

• Ajuste
Conjunto de operaciones realizadas sobre un instrumento de medida para
que proporcione indicaciones prescritas, correspondientes a valores dados de
la magnitud a medir.
- Por ejemplo: ajuste del cero de una balanza, ajuste del cero de un
blanco, ajuste de la posición de una escala para llevarla a un punto
determinado, entre otros.
- No todos los equipos o patrones pueden ser ajustados

53
 Operaciones metrológicas (VIM)

• Verificación
Aportación de evidencia objetiva de que un elemento dado satisface los
requisitos especificados.
- Debe existir un documento base para realizar la verificación (por
ejemplo: una norma, un reglamento, una especificación del fabricante,
entre otros).
- Los resultados de una verificación se expresan en un documento
denominado “certificado de verificación”.

54
 Operaciones metrológicas (VIM)

• Calibración
Operación que bajo condiciones especificadas establece, en una primera
etapa, una relación entre los valores y sus incertidumbres de medida
asociadas obtenidas a partir de los patrones de medida, y las
correspondientes indicaciones con sus incertidumbres asociadas y, en una
segunda etapa, utiliza esta información para establecer una relación que
permita obtener un resultado de medida a partir de una indicación.
- Debe existir un patrón de mayor jerarquía metrológica para realizar la
comparación.
- Los resultados de una calibración se expresan en un documento
denominado “certificado de calibración”.

55
 Operaciones metrológicas (VIM)

• Importancia de la calibración
- Equipos bajo control metrológico reducen costos y brinda confianza
en las actividades de producción industrial.
- El estado metrológico de los instrumentos puede variar por influencia
de muchos factores. Las calibraciones periódicas pueden evitar que
esto ocurra.
- Ayuda a caracterizar la repetibilidad y las especificaciones del método.
- Permite la transferencia y actualización de información metrológica.
- Justifica el reemplazo y actualización de instrumentos.

56
Conceptos básicos de metrología:
Trazabilidad metrológica
Vocabulario Internacional de Metrología (VIM)
CEM (2012). 3era edición en español

57
 Trazabilidad (VIM)

• Trazabilidad metrológica
Propiedad de un resultado de medida por la cual el resultado puede
relacionarse con una referencia mediante una cadena ininterrumpida y
documentada de calibraciones, cada una de las cuales contribuye a la
incertidumbre de medida.

Por lo tanto, es incorrecto afirmar que:

- Un instrumento es trazable.
- Un patrón es trazable.
- Se cuenta con trazabilidad a una institución.
58
 Trazabilidad (VIM)

BIPM •Procedimientos
•Ensayos
•Mediciones
•Controles
Laboratorio Metrológico Primario •Calibraciones
•Reportes

Laboratorio Secundario

Equipos de medición industriales

Producto 59
 Trazabilidad (VIM)

Patrón de
Patrón de
trabajo Patrón
referencia
secundario Patrón
primario

60
 Trazabilidad (VIM)

• Requisitos para la trazabilidad

- Cadena ininterrumpida de comparaciones: Debe abarcar desde las
mediciones hasta los patrones primarios. Si no es así, se dice que la
trazabilidad es incompleta o no existe.
- Incertidumbre: En cada nivel de la cadena de trazabilidad debe haber
sido estimada la incertidumbre y declarada en algún documento.
- Documentación: En cada nivel de la cadena de trazabilidad debe
existir un documento, por ejemplo, en un certificado de calibración,
que establezca el valor, error, corrección e incertidumbre, acorde con
los requisitos internacionales.

61
 Trazabilidad (VIM)

• Requisitos para la trazabilidad

- Unidades del Sistema Internacional: La trazabilidad debe estar
referida a patrones del S.I.
- Competencia: La trazabilidad debe ser dada por entes competentes,
es decir, por Laboratorios Nacionales de Metrología o Laboratorios
Secundarios Acreditados.
- Recalibración: Los equipos y patrones de medida deben ser
recalibrados a intervalos de tiempo adecuados. Si los equipos o
patrones no se recalibran, la trazabilidad se pierde.

62
Fin de los conceptos básicos
de metrología
¡Muchas Gracias!

63