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Y PRUEBAS
ELECTRICAS Y
ELECTRONICAS W. Bolton
54PACDIGITIZI
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7.03 rsez
259.0
KARE
marcombo
BOIXAREU EDITORES
Devolución
Devolución
UNSAM BC
Bs
3133
MEDICIONES Y PRUEBAS
ELÉCTRICAS Y ELECTRONICAS
VERSIDAD NACIONA
OE GRAL. SAN MARTIN
iSAETARIA GENERAL ACADEMICA
B}BLIOTECA
Amigo lector:
La obra que usted tiene en sus manos posee un gran valor.
En ella, su autor, havertidoconocimientos, erperiencia y mucho
trabajo. El editor ha procurado una presentación digna de s
contenido y estáponiendo todo su empeno y recursos para que
sea ampliamente difundida, a trwês de su red de comercia
lización.
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de lo contrario,
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contribuiria al lucro de quienes, consciente o
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te, se aprovechan ilegitimamente del esfuerzo del
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editorial, no
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solamente son prácticas ilegales, sinoque atentan
Creatiridad y contra la difusiÛn de la cltura.
PROMUEVALA CREATIVIDAD
RESPETE EL DERECHODEAUTOR
IUNIVERSIDAD NACIONAL DE
GENERAL SAN MARTIN
ESTANTE...........N
LIBRO No:.
No DE INVENTARIO.....
5450
BILL BOLTON
MEDICIONES
Y PRUEBAS
ELECTRICAS
Y ELECTRÓNICAS
SAAREE marcombo
BOIXAREUEDITORES
BARCELONA
621.54
G6343.¬ -0.31S2
Titulo de la obra original
Electrical and Electronic Measurement and Testing
C.2 Copyright by Longman Group UK Ltd, London
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Quedan rigurosamente prohibidas, sin la autorización escrita de los titulares del «Copyright»
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Europea.
ISBN: 84-267-1032-8
ISBN: 0-582-08967-0, Longman Group UK Ltd,
Depósito Legal: B-38.567-1995 London
Impreso en España
Printed in Spain
Composición, compaginación y filmación: Grafic-5. S.L. - Riera Blanca, 115 bis - Barceloue
Impresión: Vanguard Gràfic, S.A., Joan Miró, 17, 08930 Sant Adriàde Besós
Índice general
Prefacio XI
1
X Capítulo 1. Medida y test 1
Introducción
Métodos de medida 1
Test 2
Error 3
Fuentes de error 4
Estimacióny reducción de errores 6
Estadística de errores 7
Error probable 10
Suma de errores 12
Mejor línea recta 15
Haciendo las curvas rectas 19
Representación de datos 21
Problemas 23
103
Capítulo 7. Medidores digitales 103
Introducción 103
El voltímetro digital. 103
Conversión analógicoldigital 106
Convertidores analógicoldigitales 109
Prestaciones de los voltímetros y multímetros digitales
111
Problemas
113
Capítulo 8. Registradores 113
Introducción
Registradores de lectura directa 113
114
Registradores galvanométricos
Registrador galvanométrico ultravioleta 116
Comportamiento dinámico de los registradores galvanométricos 116
Registradores potenciométricos 123
Registradores X-Y 124
Registradores de cinta magnética 125
Almacenamiento en discos magnéticos 129
Problemas 129
237
Capítulo 15. Comprobación de circuitos digitales 237
Introducción 237
Sondas, inyectores y detectores 239
Pinzas lógicas ....
240
Comparadores lógicos 240
Análisis de firmas 242
Analizadores lógicos 245
Problemas
247
Capítulo 16. Instrumentos automáticos 247
Introducción ..... 248
Elcomprobador automático básico 248
Transferencia de información
251
Buses estándar
252
Interfaz de E/S
253
Un voltímetro programable 254
Problemas
Resolución
Margen y escala 292
Salida
292
Características de respuesta 292
Calibración 292
Interferencias y ruido 292
Fiabilidad 292
Coste 293
293
Apéndice B. Glosario de términos
295
Soluciones a los problemas 305
Índice alfabético 313
Prefacio
y prueba
Este libro es un estudio de los instrumentos y métodos de medida
(test) eléctricos y electrónicos con la intención de introducir al lector en:
fiabilidad
1 los conceptos de medida y prueba, incluyendo fuentes de error,
y estándares;
2 los términos utilizados en las especificaciones de prestaciones;
3. los principios del procesado de datos y su exposición;
4. los principios y características de los equipos de prueba básicos y especiali
zados -medidores analógicos, medidores digitales, registradores, puentes,
vatímetros, osciloscopios, contadores, fuentes de señal, circuitos de prueba
digitales e instrumentos automáticos;
5. los principios de los sistemas de medida -transductores, acondicionadores
de señal y procesado y transmisión de datos;
6. los principios de los procedimientos de prueba para comprobación manual
y automática.
Medida y test
Introducción
Eltérmino medida es utilizado para describir el acto de determinar el valor o
tamaño de alguna cantidad; por ejemplo, una corriente. El término test (sinónimo
de prueba o examnen) es utlizado si las medidas se toman para determinar tanto si
el producto cumple los estándares especificados como su calidad. Este capítulo es
una consideración de los tipos de medidas y tests eléctricos y electrónicos común
mente utilizados, fuentes de error que puedan aparecer, y el análisis estadístico de
los errores. Como tal es una introducción general a la medida y test; los capítulos
posteriores detallan las técnicas e instrumentos de medida eléctrica y electrónica
específicos.
Métodos de medida
Hay un número variado de formas de clasificar los métodos. Una forma usual
para las medidas cléctricas y electrónicas es la agrupación en las tres categorías si
guientes:
1. Medidas analógicas. La cantidad que estásiendo medida se controla conti
nuamente y el instrumento utilizado da una respuesta análoga a la cantidad, es de
cir, la magnitud de la salida del instrumento representa el tamaño de la cantidad
que estásiendo medida. Un movimiento de un galvanómetro de aguja es un ejem
plo de esta clase de instrumentos, la amplitud de la deflexión del ángulo de la
aguja está relacionada con la magnitud de la corriente que atraviesa el medidor.
2. Medidas comparadas. La cantidad que estásiendo medida se compara con
unos estándares y su valor se da cuando se ha obtenido la igualación. Un ejemplo
simple de esto es el método de sustitución para determinar resistencias. La co
rriente que pasa a través de una resistencia desconocida se compara con la que
pasa a través de una caja de resistencias estándar. La caja de resistencias se ajusta
hasta que la corriente es la misma (fig. 1.1). Otra forma de comparación es el mé
todo de cero, donde la diferencia entre la corriente desconocida yla conocida se
detecta y se reduce a cero. El método está basado, por tanto, en detectar la condi
y electrónicas
2 Mediciones vpruebaseléctricas
Estándar
Test
conforme con sus especifica
Eltest es asegurar que el producto resultante está desarrollo de un producto
el
ciones. La necesidad del test puede ocurrir durantemanufactura para controlar la
para confirmar las decisiones de diseño, durante la
que el producto cumple sus
calidad, en coordinación con el cliente para asegurarasegurar
especificaciones, y durante su vida operacional para que sus prestaciones
para diagnosticar fallos. En el
están en concordancia con las especificaciones y medida de parámetros -tales
caso de un sistema eléctrico, el test significa la características -tal como la sa
como la tensión en varios puntos del circuito- y
lida cuando la entrada es una señal de onda cuadrada-,poder y comprobación de que
incluidas en las especificaciones. Para realizar este test es
sus caídas estén
que permita realizar una
necesario que los sistemas bajo test tengan un diseño diseñado para
comprobación de forma fácil. El sistema mencionado necesita estar define como
comprobable se
el test, es decir, para su conprobabilidad. Un diseño comprobación de
aquel que incluye facilidades para permitir que se realice la
forma simple, eficiente y efectiva.
requiere una
Eltest manual necesita una persona para realizar el proceso. Esto varias partes
lectura del catálogo y de las instrucciones de test, el ensamblaje de
aplicandoy ajustando las
del equipo de test y el conexionado a la unidad bajo test, apropiados de los instru
entradas de señal de test, seleccionando los márgenes
especi
mentos, guardando los resultados, comparando éstos con los dados por las
ficaciones del test, interpretando los significados de la comparación, repitiendo la
realizando un informe
secuencia para cada uno de los tests requeridos y, entonces,
de los resultados del test. Eltest automáico, realizado por un equipo de test auro
máico (ATE), incluye conectar la unidad bajo test al sistema automático me
Medida y test 3
diante una interfaz que conecta los distintos puntos de la unidad bajo test al
equipo de test. La unidad de control en el equipo entonces realiza la secuencia de
test de acuerdo con un programa de test, conectando las señales a los
puntos apro
plados de test, y seleccionando y conectando los instrumentos
oportunos de me
dida. El test se realiza, las medidas se hacen y guardan y, entonces, la secuencia
automáticamente se repite en cada uno de los tests regueridos. Los resultados de
la comprobación son automáicamente comparados con los valores
programados, interpretados y el resultado indicadocomo un suceso pasao estándar pre
El test automático tiene la ventaja de reducir la demanda en la falla.
destreza de los
operadores de test, reduciendo la dependencia con el error humano, eliminando
variaciones interpretativas de los individuos que realizan el test, incrementando la
velocidad de comprobación, permitiendo la utilización de
test, ofreciendo la oportunidad de un detallado mayor de loscomplejos
datos de
sistemas de
test
sibilidad de un autotest automático. Tiene la desventaja de requerir unos y la po
ros de programación con gran destreza para planear y ingenie
test, la necesidad de identificar anteriormente todas las programar el sistema de
necesidades del test y po
sibles fallos para introducir el sistema en operación, relativa
cambios en los requisitos de test, la necesidad de una complejainflexibilidad
a los
interfaz
ATE y la unidad bajo test, mayor complejidad que un sistema manual y posibleel entre
mente menos fiable y con un coste inicial mucho más alto. A pesar de que los
ATE tengan este coste inicial más alto que los sistemas manuales, el crecimiento
de la velocidad de test y la reducción en los costes de
que el coste efectivo del equipo disminuya a medida queproducción pueden hacer
se tengan más
para comprobar. unidades
Error
error
porcentaje de error = x 100% [2]
valor verdadero
La precisión oexactitud de una medida es el grado en que difiere del valor ver
dadero, es decir, el grado de incertidumbre. La precisión se da frecuentemente
como un porcentaje del valor verdadero, es decir,
(valor medido - valor verdadero)
precisión = x 100% 3)
valor verdadero
4 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Por tanto, una precisión delt 1%o signilica que el valor medido estaráincluidoa
tre + o - 1% del valor verdadero.
En el caso de algunos componentes e instrumentos sus desviacioncs desdc .
valor especificado están garantizados para incluirse en un cierto porcentaje de
este valor Las desviaciones en este caso son, entonces, referidas al
límite de prror
o tolerancia.
De este modo, una resistencia nominal de 100 S2
puede ser marcadacomo gue
tiene una toleranciade ± 10%. Esto significa que la
lor cualquiera incluido en el 10% de 100 Q, es decir,resistencia puede tener un va
desde 90 hasta 110 Q. EJl.
mite de error o tolerancia da el peor caso posible de error que puede
suceder.
Eiemplo 1. ¿Cuál es el error si un voltímetro da una lectura de 10,1 V cuando el verdadero valor
es de 10,5 V?
Fuentes de error
Los errores en general pueden ser clasificados como errores aleatorios Siste
máticos, sin embargo hay un grupo de errores que deben ser descritos como erro
res humanos. Los errores aleatorios son aquelios que varían de forma impredeci
ble entre lecturas sucesivas de la misma cantidad, variando en magnitud y siendo
positivos o negativos. Los errores sistemáticos son errores que permanecen cons
tantes con repetidas medidas. Los errores humnanos son fallos realizados por las
personas al utilizar los instrumentos y tomar las lecturas.
Una medida se dice que es precisa (o mejor, exacta) cuando los errores aleato
rios, sistemáticos yhumanos son pequeños. La precisión es como acercar el valor
medido en relación con el valor verdadero. Una medida se dice que es precisa
cuando los errores aleatorios son pequeños, sin tener en cuenta ni si los errores
sistemáticos ni los humanos son pequeños. Un resultado precisO se consigue
cuando, repitiendo una medida, sólo se encuentran pequeñas variaciones. Puesto
que los errores aleatorios a menudo aparecen debido a que los técnicos tienen que
el valor
realizar una lectura leyendo las escalas del instrumento y estimando
indica a me
cuando el punto estáentre dos divisiones de la escala, la precisión se
la escala de lectura. Por
nudo como la facilidad de realizar esa estimación de
es, comúnmente, más
tanto, un instrumento que tenga más graduaciones que otro
preciso.
Las siguientes son fuentes comunes de error aleatorio:
1 Errores operativos. Son errores que aparecen porque un operador estáto
mando medidas. No hay fallos pero se producen errores debidos asituaciones que
operadores. Se in
inducen pequeñas variaciones en las lecturas percibidas por los de
cluyen los errores en la lecturade la posición del indicador (aguja) en la escala
Medida y test 5
Aguja
Escala
1. Errores de fabricación. Estos errores son los que resultan del proceso de
fabricación del instrumento y de los componentes utilizados. Son originados por
causas tales como la tolerancia en las dimensiones de los componentes y en loS va
lores de los componentes eléctricos utilizados.
2. Errores de equipo. Se producen debido a un fallo en el instrumento que
realiza una calibración incorrecta.
3. Errores de cero. Se originan al posicionar incorrectamente el cero del ins
trumento, lo que producirá una lectura del instrumento más alta o más baja sobre
su escala correcta.
4. Errores de calibración. Una incorrecta calibración da por resultado, por
ejemplo, que el instrumento tenga una lectura más alta o más baja en toda la es
cala.
Mediciones y pruebas eléctricas y electróricas
Estadística de errores
Los errores aleatorios se analizarán con una repetición de
tidad particular dando un abanico de valores. Los métodos medidas de una can
utilizados para encontrar el valor má probable e indicar estadísticos pueden ser
el error probable con
cualquier medida.
La técnica más frecuentemente utilizada para llegar al valor
una serie de medidas de alguna cantidad sometida a errores más probable de
aleatorios es la
minación de la media aritmética. Esta es la suma de todos los resultados x, X,deter
dividido por el número n de resultados considerados. etc.,
Ex
media aritmética =
n [4]
Elmayor número de lecturas más fiable serála media y la mayoría de
los errores
aleatorios serán promediados. Con un gran número de resultados la media se hará
completamente fiable, con todos los errores aleatorios promediados. Tal media.
en ocasiones, recibe el nombre de media verdadera o mejor valor.
La media aritmética no da ninguna indicación del abanico de
resultados acerca
de la media, es decir, el tamaño de los errores aleatorios. En la figura 1.3 se
mues
tran dos tipos de resultados que dan la misma media aritmética pero en uno de
ellos el abanico es más ancho alrededor de la media que en el otro. El valor medio
de una colección de resultados es más ajustado al valor verdadero si el abanico de
resultados es más pequeño.
Media
El término desviación se utiliza para cuantificar cómo se apartan los valores in.
dividuales de la media. Por tanto, para una medida de x,
desviación =x-x (S]
con Tsiendo el valor medio. La desviación desde la media puede ser un valor posi
tivo o negativo. Una medida del abanico de resultados se da, entonces, mediante
la desviación media. Esto significa la media de las desviaciones, ignorando los sig
nos de cada desviación.
E(x,-x)? [7]
o=
n
ser sumadas, el
Como las desviaciones se han elevado todas al cuadrado antes de
+. Una medida más
signo de todas las desviaciones se hace automáticamente
n. Sin
aproximada de la variación de la media se da utilizando (n - 1) en lugar de
embargo, si nes grande la diferencia entre (n- 1) yn no es significativa.
al valor medio ver
más
Elvalor medio de una serie de medidas se aproximará
dispersión del abanico
dadero, si el número de lecturas en la serie es grande y la
contigüidad de estos resultados, por tanto, depende
de resultados es pequeña. La la
del número de medidas n en serie y de la desviación estándar de esta serie de
error estándar de
medidas. Esto se ha representado por un términoconocido como
la media a, donde
E(x-)
a= [8]
yn n(n -1)
Mediday test 9
Tabla 1.1
99,1 +0,1
99,0 0,0
98,7 -0,3
99,4 +0,4
98,8 -0,.2
99,0 0,0
Bjemplo 3. Repitiendo las medidas de capacidad utilizando un puente se obtienen los siguientes
resultados:
Tabla 1.2
Error probable
Consideremos las medidas de cierta cantidad que han dado los siguientes e
sultados. para 16 medidas:
6
5
Número 4
de veces
3 Número
que se da
el valor 2 de veces
que se da
el valor
Número
de veces
que se da
el valor
Valores de medida
Ejemplo4. Las medidas de la resistencia de un lote de resistencias dan los siguientes valores:
100,1 2 101,0 2 100,6 S 99,5 2 99,0 2
Asumiendo que solamente hay errores aleatorios, ¿cuál es a) la media aritmética, b) la desviación
estándar yc) la probabilidad de error?
Respuesta. La tabla 1.3 muestra los pasos para determinar la media aritmética, las desviaciones y
la desviación estándar. La media aritmética es 100,0 2 yla desviación estándar 0,58 2. Por tanto, el
error probable es + 0,6745 x 0,58 2 - ± 0,39 2. Por tanto, si se considera una de las resistencias, hay
un S0% de probabilidad de que tenga un valor incluido en 0,39 2 de la media.
12 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Tabla 1.3
Resistencia (S2) Desviación (2)
(Desviación en Q)?
100.1 + 0,1
101,0 + 1,0 0,01
100,6 1,00
+0,6
99,5 -0,5
0,36
99,0 0,25
- 1,0
100,0 1,00
0,0
99,5 0,00
-0,5
100,4 0,25
+0,4
99,8 0,16
-0,2
100,1 0,04
+0,1
0,01
Ex, = 1000,0
E (x, - I=3,08
Ex, = 100,0
n-1
-= 0,58
Suma de errores
Una cantidad debe ser determinada como el resultado de los cálculos realiza
dos con los resultados de un número de medidas, cada una de las cuales tiene al
gún error asociado. Por ejemplo, considerar la combinación de dos resistencias en
serie cuando una es de 100 ± 10 2 y la otra de 50 ± 5 Q. Las resistencias estarán,
por tanto, entre 90y 110 2 y entre 45 y 55 2. EI peor caso posible de combinar las
resistencias será cuando ambas estén en sus mínimos valores o ambas en sus máxi
mos valores. Entonces la combinación de resistencias es de 90+ 45 2y 110 +55 2.
Lacombinación de resistencias estaráentre 135 y 165 2. En ausencia de error la
combinación de resistencias debería ser 100 + 50 = 150 Q. Por tanto, el error de
combinar las resistencias es de t 152. Esto es justo la sumade los errores en las
dos resistencias por separado, es decir, + 10 ± 5 = t15 Q. Esto representa el peor
error que podría ocurrir en el caso de que ambas resistencias tuvieran su valor
Medida y test 13
máximoo su valor mínimo. Un error más probable sería menor que esta cantidad
(ver ecuación [10]).
Si la cantidad X se obtiene por la suma de los resultados de la medida de dos
cantidades A y B, entonces en ausencia de errores en las medidas
X=A + B
t AX=t AA± AB
X= AB
AB AA
X
x100 = +| B
-x 100 +
A [11]
El porcentaje de error en X es la suma de los
das. Este es el peor caso posible cuando ambosporcentajes de errores en las medi
términos realista sus
lores yel mismo signo en el mismo instante. Un error más poseen es máximos va
AX AB\2
=t
B [12]
Laanterior deducción puede ser utilizada para determinar los
las medidas se errores cuando
combinan de otras maneras. Cuando el resultado se obtiene por:
1. Suma de medidas: suma de errores para obtener el peor
caso posible. Un
error más realista viene dado por
AX =# (AA)² + (AB)
2 Resta de medidas: suma de errores para obtener el peor caso posible. Un
error más realista viene dado por
AX =+ /(AA) +(AB)
3. Multiplicación de medidas: suma de porcentajes de errores para obtener el
porcentaje de error total. Un error más realista es
AX AB\2
=t
X B
porcentaje de error de la
5. La medida como una potencia: multiplicando el error total. Un error más
medida por la potencia para obtener el porcentaje de
realista es
nAB \2
AX
=t
X
Ejemplo 6. La potcncia disipada por una resistencia viene dada por P= es VI. ¿Cuál será el peor
si el error en la medida de la tensión V de t 4% y la resisten
caso posible de error en lapotencia
cia tienc una tolerancia de t10%?
porcen
Respuesta. El porcentaje de error en el término V es cl doble que en V,es decir t 8%. El
taje de error en Pes la suma de los errores en V2 yR,o sea es t 18%.
Valor predicho
Y Error en
el valor
medido
m =
nE(ry)- ErEy
nE(r)-(Er)? [14)
yla intersección ccon el eje y por
C=
Ey(Er')- ErE(xy)
n~(n) - (Zr)? [15]
}y - mEy
C= [16]
(a) (b)
Fig. 1.9 Lineas de regresión: (a) predicción de ya partir de x, (b) predicción de xa partir de y
Medida y test 17
0
(a) (b)
Fig. 1.10 Correlación perfecta: (a) r= +1, (b) r= -1
(1/n)E[(* -)(y - )]
r= [18]
medida:
5
X=1,y = 2; x =2, y= 4;x = 3, y =
Esto se puede obtener utilizando las ecuaciones (14] y[15]. En la tabla 1.4 se mucstran
Respuesta.
cálculo. Así, para n = 3
los pasos para el
nE(ry) - ErEy 3x 25 -6 x 11
= 1,5
M = 3x 14- 36
nE(r)-(Ex)?
11 x 14 -6x 25
Ey(Er)- ErE(xy) 0.67
C=
nE() -(Er)? 3x 14- 36
la ecuación
Por tanto, la mejor línea tiene
y= 1,5x +0,67
Tabla 1.4
2 1
4 8
3 5 15
Ex'= 14
Ex=6 Ey = 11 Exy = 25
Tabla 1.5
(x-x) (y-y)
(r-)? y-) (y-F)2
+1,7
1
-1,0 1,0 -1,7 2.89 0.0
2 4 0,0 0,0 -0,3 0,09 +1,3
3
+1,0 1,0 +1,3 1,69
£ -6 E=+3.0
E-11 E=4.67
I=2 E-2.0
ù= 3,7
o, =1,0 E, = 2,34
Medida y test 19
Una línea recta entre dos cantidades y yx tiene una ecuación de la forma
log y = 2 log x
Así, si log y se dibuja en función de log x, el gráfico es una línea recta con pen
diente 2 (fig. 1.12b). Si tenemos una serie de medidas que pensamos que pueden
seguir la relación y = x, es más fácil ver si es este el caso utilizando un gráfico del
tipo logy en función de log x, en lugar de dibujar y en función de x. Nada nos im
100
4 80
7
60
50
40
2 30
1
20
2 X 10
(a)
5
4
8
10 -
6 7
5
4
4
2 2
0 1 2 3
1,0
4 X 1 2 3 4 X
(a) (b)
Fig. 1.13 y= 2, (a) ejes de gráfico lineal-lineal, (b) ejes de gráfico log-lineal
Por tanto, eligiendo la forma de las divisiones en los ejes del papel gráfico, las
relaciones que son curvas pueden transformarse para conseguir líneas rectas.
Ejemplo9. Las medidas de la corriente que circula por una resistencia y de la diferencia de poten
cial en sus terminales da los siguientes resultados:
Corriente (mA) 100 200 300 400
Reptesentación de datos
X X,%
x,%
(a) (b) X
x,%
X
x,%
(e)
(d)
Frecuencia
Valor
(c) (f)
Fig. 1.15 (a) Gráfico lineal, (b) diagrama de puntos, (c) dibujo de
barras, (e) gráfico de pastel, () histograma contornos, (d) gráfico de
mero de líneas mostrando cómo yvaría con x para una multitud de diferentes va
lores de z. Hay, por tanto, tres cantidades variables continuamente.
4. Gráficos de barras (fig. 1.15d). Comparan los valores de una variable con
tinua en un determinado número de situaciones; por ejemplo, el precio de los or
denadores comparando diferentes fabricantes. Las barras pueden ser dibujadas
vertical u horizontalmente, la longitud de las barras representa el tamaño de la va
riable. En algunos casos las barras pueden ser dibujadas en la forma de variable;
por ejemplo, ordenadores de diferente altura para representar el precio.
5. Gráficos de pastel (fig. 1.15e). Estos muestran las partes que completan
una entidad cuando hay sólo una variable; el área del pastel circular representa el
100% y el área de cada pedazo representa el porcentaje de contribución de cada
ítem.
6. Histogramas (fig. 1.15). Los histogramas son diagramas de barras donde
la longitud de las barras representa la frecuencia con que algún valor o margen de
valores sucede. es decir, hay sólo una cantidad variable continua.
Ejemplo 10. Elija una forma de representación gráfica para las siguientes series de datos:
Elporcentaje de resistencias producidas por una máquina dentro de las siguientes toleran
cias:2%, 5%, 10% y mayor del 10%.
b) Los valores de las resistencias producidas por una máquina durante un periodo de 10 minu
105.
c) La variación de la media de las resistencias de un lote de resistencias con respecto al
tiernpo.
Mediduy test 23
Respuestu. a) Puesto quc sólo varía cl valor de la resistencia, y elderesultado se expresa como un
porccntajc, un bucn método para la representación son los gráficos pastel.
Aquí sólo hay una variable, la resistencia, y necesita una representación de la distribución
un histograma.
e los valorcs de las resistencias. Así pues, se puedc utilizar tiempo, Así pues no
resistencia y el
C) Aquí hay dos cantidades variables continuamente,dela puntos.
diagrama
dría utilizarse una rcpresentación de líncas o un
Problemas
1 Explicar cuál es cl significado de errores aleatorios y errores sistemáticos y dar ejemplos de
cada uno.
) Un amperímetro se utiliza para medir una corriente y obtiene comO medida 120 mA cuando la
verdadera corricnte es de 125 mA. ¿Cuál es a) el error y b) el porcentaje de error?
3. Diferenciar cntre precisión y exactitud.
4 Las medidasde la resistencia durante un periodo de tiempo dan los siguientes resultados:
10,16 2 10,15 S2 10,14 2 10,05 2 10,00 S2 9,99 2
:Cuál cs a) la media aritmética, b) la desviación media y c) la desviación estándar de la resistencia en
ese periodo de tiempo?
S. Las medidas de tensión en un periodo de tiempo dan los siguientes resultados:
7.0 V 8.5 V 9,0 V 9,0 V 10,0 V 10,5 V
La relación entre el periodo y la longitud del péndulo viene dada por la fórmula l= kT". Demostrar
que esta ley es válida mediante la utilización de un gráfico en gue se obtenga una línea recta. Además,
determinar los valores de k yn.
22. La resistencia de una sección uniforme de un cable viene dada por R = pUAdonde p es la
constante de resistividad para un material dado, L es la longitud del cable y A es el área de la sección.
Si A = d', donde d es el diámetro del cable, ¿cuáles deben ser los ejes de la representación para
Medida y test 25
conseguir una línea recta para a) la resistencia en función del diámetro y b) la resistencia en función de
la longitud?
23. Elija una forma de representar lo siguiente:
Capitulo 2
Características
funcionales
Introducción
Especificaciones
iay muchos términos utilizados para definir las especificaciones; los siguientes
son algunos de ellos. Otros se introducirán en posteriores puntos del libro y un
glosario de estos términos se da en el apéndice Bdel final del libro. Los términos
pueden Ser incluidos en tres categorías: aquellos que están relacionados con el di
ol elnstrumento, los relacionados con la sensibilidad y la precisión y aquellos
que conciernen a la calibración.
Los térnminos de diseño son los siguientes:
1. Instrumentos indicadores. Instrumnentos de medida en los cuales el valor de
la cantidad medida se visualiza indicándola, por ejemplo, por la posición de una
28 Mediciones ypruebas eléctricas y electrónicas
Lectura
Subamortiguación
Lectura
Sobreamortiguación
Amortiguación critica
cambio en la salida
sensibilidad =
cambio en la entrada
Error t
de cero
Cantidad a medir Cantidad a medir
Fig. 2.4 Deriva de la sensibilidad Fig. 2.5 Efecto de la deriva del cero
fraccional:
o como porcentaje del error
valor medido valor real
X 100%
porcentaje de error valor real
Relación verdadera
Error
Lectura
Lectura Decremento
Relación
lineal
supuesta Incremento
Cantidad a medir
Cantidad a medir
Error de no linealidad Fig. 2.7 Error de histéresis
Fig. 2.6
eléctricas y electrónicas
32
Mediciones y pruebas
11, Error de histéresis. Los instrumentos pueden dar diferentes lecturas, y
en consecuencia errores, para el mismo valor de una cantidad medida depen-
diendo de si la lectura se ha realizado incrementándose continuamente o decre-
histéresie ..
montándose de la misma manera (ig. 2.7). Esto se conoce como
cojinetes v me
sucede como resultado de cosas tales com0 el rozamiento de
miento lentode engranajes del instrumento. El error de histéresis es la diferenin
incre
entre el valor medido que se ha obtenido cuando la cantidad medida se ha
mentado vcuando ha decrecido ese valor. La histéresis se expresa, a menudo. en
términos de la máxima histéresis como un porcentaje de la desviación a fondo de
escala:
error de histéresis máximo
histéresis = X 100%
desviación a fondo de escala
profundidad y
1. Dimensiones y peso. Son usualmente la altura, la anchura, la
el peso de un instrumento. el instru
2. Temperatura de funcionamiento. Margen de temperaturas en quedadas indi
mento puede ser utilizadoy se obtiene una precisión, estabilidad, etc.,
cadas en la lista de especificaciones. instru
3. Impedancia de salida. Impedancia entre los terminales de salida del ca
mento. Tiene un significado particular en relación con los efectos de carga (ver
pítulo 3 para obtener más detalles).
4. Potencia de entrada. Es la potencia eléctrica de entrada requerida para el
funcionamiento del instrumento.
5. Relación señallruido. Larelación señal/ruido es la relación entre el nivel de
señal Vy el nivel de ruido generado V, internamente. Usualmente se expresa en
decibelios, es decir,
relación señal/ruido en decibelios = 20 log (V,/N)
Ver la próxima sección para una explicación de la unidad decibelio y el capítulo 3
para una discusión más detallada del ruido y otros términos indicados.
6. Tiempo de respuesta. Tiempo que transcurre desde que hay un cambio en
la cantidad medida hasta que el instrumento responde totalmente a este cambio.
7. Ancho de banda. Las lecturas dadas para una entrada constante en un ins
trumento generalmente dependerán de la frecuencia de la entrada. Así, por ejem
plo, en un instrumento con aguja indicadora ésta se ajusta para mantenerse con
los cambios de señal cuando la frecuencia crece. El término ancho de banda se uti
liza para dar una indicación del margen de frecuencias en que cl instrumento se
puede utilizar. El ancho de banda se puede definir como el margen de frecuencias
para las que las lecturas dadas por un instrumento no sean menores de un 70,7%
de su valor de pico 9 (fig. 2.8). El 70,7% de es 0//2. Una forma alternativa de
expresarlo es que el ancho de banda es el margen de frecuencias para las que las
lecturas estén incluidas dentro de los 3dB de su valor de pico. Un cambio de 3dB
significa una lectura que cambia en un factor de 1//2.
valor
cambio en decibelios = 20 log 20 log
valor máximo
Salida
Ancho de banda
Frecuencia
¿Cuál serála precisión de la lectura obtenida cuando el medidor se utiliza para medir a) una ten
sión de c.c. de 5 V en la escala de 10 V, b) una tensión de c.a. de 5 V en la escala de 30 V, c) una co
rriente en c.a. de 5 mA en la escala de 10 mA, d) una resistencia de 50 k2 en la escala de 0-200 kQ?
Tener en cuenta que la escala de resistencias no es lineal y tiene marcas de escala, para todos los
márgenes, de 0-2000 con una marca de centro de escala a 20.
de 5 mVy
Ejemplo 3. Un amplificador operacional se ha especificado con una tensión de offset
una rapidez de respuesta de 13 V/us. Explicar elsignificado de estos datos.
producirse cuando
Respuesta. La tensión de offset es la salida, en este caso de 5 mV, que puede en que
hay un cero en la entrada del amplificador. Larapidez de respuesta es la máxima velocidad
la salida puede cambiar. Por tanto, si la entrada de señal estaba cambiando con una rapidez mayor
de 13 V/us la salida no podría seguirla. Por tanto, si había un cambio abrupto en la entrada la mejor
re
salida del amplificador podría hacer este cambio a una velocidad de 13 V/us, y se produciría un
traso.
el
Ejemplo 4. Un registrador se especifica teniendo una sensibilidad de 0,010 mm/uA. ¿Cuál será
movimiento de la pluma del registrador para una entrada de 1 mA?
Decibelios
Por tanto. 6 dB significa que una potencia es superior en cuatro veces (cl entero más próyinsg).
otra.
10 log N = - 13
log N = -1,3
N= 1013 0,05
Especificaciones estándar
Clase:
0,05 0,1 0,2 0,3 0,5 1,0 15 2,5 5,0
Precisión (%)
±0,05 t0,1 +0,2 t0,3 t0,5 + 1,0 ±1,5 + 2,5 +5,0
Asi, cuando los fabricantes señalan que un instrumento es BS89:1970 clase 0,5
quieren decir que posee una precisión de ± 0,5% de su valor de referencia, bajo
las condiciones especificadas en la citada norma.
eléctricas y electrónicas
Mediciones y pruebas
Ejemplo 7. BS89:11970 especifica que el menor límite de la escala cfectiva de un medidor magnc-
toeléctrico es 1/10 del valor de referencia. La escala efectiva se define como aquella parte de la cs-
cala sobre la cual las medidas se pueden realizar con la precisión especificada. Por tanto, si un la-
bricante de instrumentos en sus especificaciones indica que la cscala del instrunmento cs 10 Acon la
no Rs89:1970 clase 1,0, ¿qué se puede indicar acerca de la precisión del instrumento
Pecnuesta. Usando los datos dadoS anteriormente para la precisión de los instrumentoeoe
bRO 970. la precisión especificada es +1.0% del valor de referencia. Tomando éste como la des.
oión afondo de escala, entonces la precisión es ± 0,l A. Esta precisión, sin cmbargo, solamente
marca de 1À
de la
es aplicable en 1/10 de 10 A, es decir, alrededor
Estándares de calidad
9. Todos los equipos han de ser rotulados para mostrar su condición de cali
bración y cualquier tipode limitación de uso.
10. Cualquier instrumento que ha fallado o sea sospechoso o que se sepa que
esté fuera de calibración será retirado del uso y etiquetado visiblemente para pre
venir cualquier accidente casual. manipulaciones.
11. Los dispositivos ajustables deben ser sellados para evitar
Problemas
siguiente información:
1. Un oscilador tiene como parte de sus especificaciones la
Unregistador gráfico indica quc tiene una repetibilidad del 0,05%. ¿Qu significa csto)
o 1ln voltímetro digital se ha cspecificado con una resolución de 1 uv en su escala de 10
¿Quésipnifica csto?
10. ¿Cuál es la ganancia de potencia en decibelios cuando la potencia de entrada de un
de 5 mWyla potencia de salida de 25 mW? sistema es
1 ¿Cuál es la relación de ganancia cn potencia correspondiente aun decibelio de ganancia x
potencia de (a) +10 dB, (b) -5 dB?
12. Las especificaciones de British Standards para transformadores de tensión BS3941:197s indi
Can gue cl error en tensión no debcría exceder de los valores dados cn la tabla para cualquicr
baio las condicioncs de cspccificación de utilización como puede ser cualquier tensión entre un tensión
80% v
un 120% de la tensión indicada. Latabla incluyc la siguicnte información:
Fuentes de error
Introducción
Este capítulo trata de las fuentes de error y su influencia en las medidas eléc
tricas,en particular las dos fuentes de error más importantes, las de carga y las de
ruido. Los errores de carga son errores sistemáticos producidos por la inserción
del instrumento de medida en la posición en la que se ha de realizar la medida. El
efecto de la carga no se limita a circuitos eléctricos, sino a muchos instrumentos
cuando se van a utilizar para realizar medidas. Así, por ejemplo, poniendo un ter
mómetro «frío» en un líquido caliente para medir su temperatura, cambiará la
temperatura del líquido. Ruidoes el término utilizado para las señales no desea
das que son recogidas por un instrumento y dan como resultado errores aleato
rios.
Carga
Cuando los instrumentos cléctricos se conectan en los circuitos, a menudo
cambian las condiciones que existían en los circuitos antes de su inclusión. Así,
concctando un amperímetro a un circuito eléctrico para medir la corriente varía
la resistencia del circuito y, por tanto, varía la corriente. Elacto de realizar la me
dida ha modificado la corriente que se mide. Por tanto, por ejemplo, si un cir
cuito (fig. 3.1) tenía una resistencia total R, la corriente del circuito I es VIR.
Ahora insertando un amperímetro con una resistencia R, resulta que la resisten
Cla total del circuito será(R+R.) y, en consecuencia, la corriente del circuito será
L, donde
I,=
R+ R,
Zn Carga
A
En
(a) (b)
Fig. 3.2
Circuito equivalente Thévenin
Fig. 3.1 Efecto de incluir un amperímetro
Eth
Z, + ZL
Fuentes de error 43
es 1Z y así
La diferencia de potencialen los terminales de la carga, V,
V= IZ = ETA (2]
Zn + Z
el de cambiar la diferencia
Elefecto de conectar la carga en la red es, por tanto,
V se aprOxi
de potencial entre los terminales A y B desde Eh a V. El valor de
mará aET, Cuando Z sea mucho más grande que Zh: conecta a un circuito con
Por tanto, cuando un voltímetro de resistencia R, se
indicada por
una resistencia equivalente Thévenin de RTh, entonces la lectura V,
el instrumento es
Vn= Eh
Rm (3|
Rm + Rh
donde E, es la tensión equivalente Thévenin del circuito, es decir, la tensión an
tes de conectar el medidor. Así pues, el efecto de conectar el voltímetro entre los
terminales de la red es el de producir un error de (Vm- Er) y, por tanto, utili
zando la ecuación [2]
error = ETh
R,n
ETh = Eh Rm (4]
R, + Rh Rm + RTh
El porcentaje de error es
error
porcentaje de error = X 100%
ETh
Rn
X 100%= RTh X 100%
R, + RTh R,, + RTh
Por tanto, cuanto mayor sea la resistencia del voltímetro en comparación con la
resistencia de Thévenin de la red, menor seráel error.
Ejemplo 1. Un voltímetro con una resistencia de 1M2 se utiliza para determinar la diferencia de
potencial entre dos terminales cuando la resistencia equivalente Thévenin del circuito entre esos
terminales es 2 MQ. ¿Cuál es el porcentaje de error que resulta al realizar la medida?
Respuesta. Utilizando la ecuación (5)
Carga de un potenciómetro
Un potenciómetro consiste en una resistencia continua a lo largo de la cual
puede desplazarse un contacto (fig. 3.3). Una diferencia de potencial fija aplicada
entre los extremos de la resistencia continua da como resultado una diferencia de
potencial variable entre el contacto deslizante y un extremo de la resistencia con.
tinua: la cantidad a la salida está, entonces, indicada por la posición del cursor alo
largo de la resistencia continua. En la figura, el cursor del potenciómetro está a
una distancia x desde uno de los extremos del potenciómetro, cuya longitud total
es L. Si el potenciómetro tiene una resistencia uniforme por unidad de longitud
entonces la tensión en circuito abierto entre los terminales A y B es (xlL)V, La
tensión en circuito abierto es, de esta forma, proporcional a x y el potenciómetro
puede definirse como lineal.
Salida
d.p.
Tensión
fija
A
Salida
B X
ETh = (x/L)V,
Resistencia
de potenciómetro R,
A
V, Rm
B
(a
(c)
(L- x)(AJL)
A
x(RJL)
Fig. 3.4 Potenciómetro con carga; (a) circuito, (b) cálculo
(b) de R (c) circuito equivalente Thévenin
(RJR)(x/L)[1 - («/L)] + 1
Esto puede escribirse como
d(error) =
V.(RIRL)[(2x/L?) - (3r/L')) =0
dx
Ruido
generalmente, para señales no deseadas que se han
Eltérminoruido se
utiliza,
interfieren con la señal a medir y, por tanto,
medidae
introducido en el sistema de Hay dos tipos de ruido, la interferenciaque es
incrementan los errores
aleatorios.
eléctricos y magnéticos externos y el cir
entre campos que capta la
interferencia
debida a una interacciónmedida (por ejemplo, el circuito
aleatorio que es de
cuito del sistema de cercanos), y el ruido
alimentaciónmás portadores de carga en os
desde los circuitos dealeatorio de los electrones y otros físicas básicas de los com
bido al movimiento característica de las propiedades
Componentes y es una
ponentes del sistema.
Ruido aleatorio
tanto, la máxima potencia de ruido que una fuente de ruido térmico puede su
Por
ministrar a la carga es
['z 4kRTð;-f) = kTð; -f) [12)
máxima potencia R
circuito equiva
resistencias ruidosas en serie, entonces el tension
Cuando tenemos dos figura 3.8e incluirádos generadores de và
muestra en la completamente aleatoria,
lente será como se generadorproducirátensión no se
eficaz en serie. Cada instantánea. Por tanto, la tensión total
tension
y magnitud dos generadores deresistencia
riando en frecuencia, fase
simple suma aritmética de los
resistor de
podráobtener con la habrá ocurrido con un solo
La tensión total seráaquella que
según la ecuación 10), es
(R}+R2).Por tanto, la tensión,
Tð; -f)
V, =/4k(R, + R)
Así pues
[4kR,Tð;-5)]= Vn + V¥z
V, =[4k, T(ð; -f)] +
Fuentes de error 49
Libre de ruido
Carga libre
R de ruido
V.
Rsistencia Equivalente
ruidosa
Ejemplo 3. ¿Cuál seráa) la tensión de ruido térmico generado y b) la máxima potencia del ruido
termico transferida a una carga por una resistencia de 1 M2 a una temperatura de 20°C, si el ancho
de banda de ruido efectivo es de 10
MHz?
Respuesta. a) La tensión de ruido viene dada por la ecuación [10] como
Vm = y4kRTC, -f) = 4 X 1,38 × 10 x 10 x 293 X10 X10 = 0,40 mV
b) La máxima potencia del ruido térmico viene dada por la
ecuación [12] como
potencia = kTð;-f) = 1.38 x 10 >X 293 × l0 × 10^ = 4,0 x 10l W
50 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Relación señal/ruido
V.
relación S/R = 10 log = 20 log [14)
Factor de ruido
y entonces él
Un instrumento puede tener una entrada de señal con ruido
mismo introduce ruido adicional. Lasalida del instrumento, por tanto, contendrá
EI
el ruido resultante de esa señal de entrada y el introducido por el instrumento.
de la
factor de ruido o cifra de ruido (abreviadarmente en inglés NF) es una medida
cantidad de ruido introducida por el instrumento y que se expresa como la degra
dación de la relación S/R introducida por el instrumento. El factor de ruido viene
dado por
(S/R)ent [15]
NF =
(S/R),al
o si se expresa en decibelios como cifra de ruido
NF = 10 1og
(S/R)ent [16]
(S/R),al
donde (S/R)n, es la relación señal/ruido a la entrada y (S/R).a es la misma relación
a la salida.
Interferencias
Instrumento
Cable de conexión de medida
Señal
de entrada
Bucle de masa
Cable apantallado
Fuente apantallada Instrumento apantallado
Fuente Instrumento
de seHal de medida
de entrada
Señal
de entrada Instrumento
Impedancia de medida
de entrada
Ruido
en modo
normal
Bajo
Ruido
en modo Impedancia a tierra
Común
Pantalla
Señal
de entrada
Chasis a tierra
cada extremo del resistor (fig. 3.14). Si ambas uniones están a la misma tempera
tura, las dos ff.ee.mm. termoeléctricas se cancelarán; sin embargo, si hay una dife
rencia de temperaturas entre los extremos, no se producirá la cancelación.
Instrumentos inteligentes
Un instrumento se llama inteligente si incluye un microprocesador; sin ese ele
mento, el instrumento se llama mudo. Con un instrumento inteligente las medidas
se hacen de la misma forma que con uno mudo, pero la diferencia está en que el
primero puede realizar cálculos, combinar medidas desde distintas fuentes, tomar
decisiones basadas en una secuencia o número de medidas, manipular la informa
ción e iniciar acciones.
Los instrumentos inteligentes pueden ser utilizados para reducir los errores
dieatori0S y sistemáticos. Por tanto, como se ha descrito en este capítulo, pueden
utilizarse para pròmediar y reducir los efectos del ruido aleatorio. Si hay un efecto
de carga, el instrumento inteligente puede corregir fácilmente el valor medido.
Puede también controlar la temperatura, u otras condiciones ambientales, y corre
gir el valor medido por los cambios en tales condiciones. También pueden reali
se otras correcciones, por ejemplo, para derivas y no linealidades, y la calibra
Cion se puede ejecutar automáticamente.
Uniones
500 Q
1ka 1ks2
|1k2
Fig. 3.15
5. ¿Cuál serála tensión de ruido térmico generado por una resistencia de 100 ks2 a una tempera
tura de 18°C, si el ancho de banda efectivo es de 10 MHz?
6. Determinar para un ancho de banda de 100 kHz, la tensión de ruido térmico producida por (a)
una resistencia de 20k2, b) una resistencia de 50 k2 yc) las dos resistencias en serie, si la temperatura
es de 17°C?
7. Explicar cómo se produce el ruido térmico y por qué se llama «ruido blanco». ¿Cómo cambiará
el ruido si la temperatura de la resistencia se incrementa desde 0 a 25°C?
si la tensión de la
8 Determinar la relación señal/ruido para una señal de entrada de un sistema,
1 uVr.m.s.
señal en los terminales es de 10 mV r.m.s. v la tensión de ruido es de
para un amplificador que tiene una señal de ruido de
9 ¿Cuál es la relación señal/ruido con una señal de 20mV r.ms.!?
banda entre 1 y 10 kHz
20 nV/ Hz r.m.s., cuando opera en un ancho de inductivo producen interfe
acoplamiento capacitivo y b) el acoplamiento
10. Explicar cómo a) el sistema pueden reducir tales interferencias.
de medida, e indicar cómo se
rencias al introducirse en un los bucles de masa pueden
bucle de masa. Explicar cómo
11. Explicar cuál es el significado de un único punto de tierra en el sistema.
existir con un sistema siempre y cuando haya modo normal y ruido en modo común? Explicar cómo Se
en
12. ¿Cuál es la diferencia entre ruido
pueden reducir.
Capítulo 4
Fiabilidad
Introducción
Fiabilidad y probabilidad
LaJiabilidad de un producto se define como la probabilidad de que operara en
un determinado nivel de prestaciones para un periodo determinado, bajo las con-
diclones ambientales especificadas, El producto puede incumbir a los componen
les
unlizados en el sistema de medida (por ejemplo, componentes eléctricos ta
como
resistencias, oComponentes mecánicos tales como muelles, módulos tales
Como amplificadores) al Sistema como un todo. El nivel de prestaciones especifi-
cado debe tener
nivel una precisión de +1%: paralos sistemas que estén fuera de este
puede considerarse que tienen fallo en las especificaciones. Las condiciones
ambientales
de para las que la fiabilidad estáespecificada deben contener un margen
tos tlímites,
emperatlaurasgarantía
entre los 10 ylos 30°C. Cuando el producto se utiliza fuera de es-
del fabricante, sobre la fiabilidad del producto, no es válida.
cada Consideremos
la fiabilidad de una bombilla eléctrica. No es posible decir que
bombillaporque
Esto sucede tendrá una vida de, por ejemplo, 1.000 horas yentonces se fundirá.
Son los materiales utilizados en la fabricación de la bombilla no
Se perfectolass, pero tienennounasson ciertas
utilizan en que
tolerancias; también las condiciones
bombillas siempre idénticas. Habrá, por tanto, una serie de
58 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
variaciones aleatorias entre
bombilas.
Portodo esto, la
billas no se puede especificar en términos vida operativa de
probabilidades. absolutos,
pero se puede las bom-
base a las posibilidades o
Por tanto, habrá
1.000 horas, y mucho más altaantes de 900 horas, una alta una baja predecir en
de que la bombilla se funda
cuando se pasa de las
Posibilidad, o probabilidad, es la probabilidadprobabi
1.000 horas. entre l900idady
lanzafrecuencia,
suceso Ocurre. Si una moneda se alo
ocruz (asumiendo que la al aire, no es largo del tiempo, en
moneda no está posible predecir si saldráque un
y
encontramos que salen 3 caras, la trucada).de la moneda se lanza 10 cara
Si
moneda se lanza 20
Si la moneda se veces pueden sal1rfrecuencia
12 caras, con una caras será 3/10 = 0,3. veces
las
Si la
lanza 100 veces, se frecuencia de 12/20= 06
se lanza 1.000 pueden obtener 47 caras, con una
de 0.47. Si la
moneda
con una
frecuencia de 0,51. La veces, entonces podríamos obtener frecuencia 510 caras.
constante de 0,50 cuando la moneda frecuencia de las caras tiende a
una
A lo largo del se frecuencia
la frecuencia se lanza aire el suficiente número de veces.
al
tiempo,
babilidad de que salga cara es de 0,50. puede decir que es 0,50. Por tanto, la pro
La probabilidad de que
sucede porque cada vez quesalga cara al lanzar una
se lanza una moneda moneda es de 0,5 o 1/2. Esto
caer la moneda a tierra y, por tanto, la hay dos posibles opciones al
es 1/2. La
probabilidad de que al lanzarprobabilidad
una
de que salga la opción 1 de 2
es decir 1. La moneda salga o cara o cruz es 2 de 2,
ocurrir.
probabilidad 1es la certeza. La
probabilidad 0 significa que nunca
Si tratamos un gran número de
elementos No y
lido Nque cumplen alguna especificación, entoncesdespués
de un tiempo t han sa
el estado de la fiabilidad en el
tiempo t es
N
fiabilidad =
No
Ejemplo 1. ¿Cuál es la fiabilidad de una bombilla eléctrica para 1.000 horas de funcionamiento si,
1.000, se ha encontrado que 50 fallan en ese tiempo?
para un lote de
Usando la ecuación (1], tenemos
Respuesta.
950
fiabilidad = 0,95
N 1.000
Encontramos que hay un 95% de posibilidades de que una bombilla eléctrica esté funcionando des-
horas.
pués de 1.000
Fallo
N,
MTBF = (4]
N,
El término coeficiente de fallo 2, puede utilizarse para promediar el número de
lalos por unidad de tiempo para un elemento, reparando cada vez los fallos. Por
anto, si sobre un tiempo hay N, fallos, entonces el coeficiente de fallo es N/. Si
enemos N elementos comprobádos en un tiempo , con los elementos fallidos
endo dereparados y retornándolos al servicio, yocurren N, fallos, entonces el coefi
ciente fallo por elemento es:
N
Nt
Así pues
1
= [6)
MTBF
La tabla 4.1
medio entre muestra algunos valores típicos de los coeficientes de fallo y tiempo
fallos para componentes.
60 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Tabla 4.1 Coeficientes de fallo y MTBF
Coeficiente de fallo
10MTBF
Componente X 106 por hora
horas
Lámpara de filamento 5
Condensador electrolítico 1.5 0,2
Condensador de papel 1 0,7
Transistor de silicio (> 1W) 0,8
1
Resistencia de carbón 1,3
0,5 2
Resistencia de hilo
0,1 10
Condensador de pelicula de plástico 0,1
Transistor de silicio (< 1 W) 10
0,08
Diodo semiconductor 12,5
0,05 20
Conexión de soldadura 0,01 100
Conexión arrollada 0,001 1000
MTTF =
N
Disponibilidad
sucesoesta
un medir
El tiempo medio entre fallos da el promedio de tiempo
en que Podemos
queun
disponible entre fallos. Cuando falla se repara. Esto lleva tiempo. total en
del tiemp
el tiemp0 medio de reparación (MTTR). La fracción
elemento estádisponible es, por tanto,
Fiabilidad 61
MTBF
disponibilidad = [8]
MTBF + MTTR
Como MTBE = 1/2, donde es el coeficiente de fallo, esta ecuación puede escri
birse también como
1
disponibilidad = (9]
1+2 X MTTR
Eiemplo 3. Un sistema tiene un tiempo medio entre fallos de 6.000 horas y un tiempo medio de
reparación de 5 horas. ¿Cuál es la disponibilidad?
Los siguientes datos pueden ser considerados como una típica colección de fa
llos,en horas, para un producto:
1, 1, 1, 2, 2, 3. 20, 40, 50, 70, 100, 104, 105, 105, 105
Coeficiente
de fallo
No N
In N-In NÍ = -
y. de esta forma, el número de elementos correctos varía con el tiempo como
N= Ng exp(- 2) [10)
Doe tanto. el número de elementos correctos varía
tiempo. Lafiabilidad es N/Ng, así pues exponencialmente con el
No fiabilidad
Fiabilidad
Fig. 4.2
el tiemp0 Variación de la fiabilidad y no fiabilidad con 0 Tiempo
(64
Mediciones y pruebas eléctricas y
electrónicas
Fiabilidad de un sistema
Con los
si uno de lossistemas que contienen varios
componentes componentes,
el
billas en serie. Cuando unafalla. Es una situación semejante sistema completo
a la conexión fala
de bom
pueden relacionarse como unafalla, todas las bombillas se apagan. Tales sistemas
uno de los elementos con su colección de elementos en serie
(fig. 4.3) con cada
propia,
Elsistema completo falla si
e
independiente,
fiabilidad.
lidad del sistema completo uno de los elementos falla. Para
los elementos falle. necesitamos encontrar la probabilidad establecer la fiahi.
de que uno de
La probabilidad de
obtener cara
que una de tres monedas lanzadas seacon una moneda es 1/2. La probabilidad de
se obtiene considerando todas las cara es 7 X (1/2) X (1/2) X (1/2) o 7/8. Esto
nedas. Sólo una de las combinaciones posibles formas en que se pueden lanzar las mo
no
no obtener fallo es 1/8, es decir 1/2 × 1/2 ×tiene cara. Por tanto, la probabilidad de
1/2.
R,= R, x R, x R, [13]
donde R, Ry R3 son las fiabilidades de cada elemento.
La fiabilidad del sistema R, puede expresarse en términos del coeficiente de
fallo del sistema 2, como
R, = exp(-)
Así pues como R, =exp (-), R, =exp (-) y R3 = exp (-at), entonces
exp (- 1,) =exp ( - ) xexp (-,i) X exp (-st) = exp - (4, + + ha)l
Por tanto
2, = t ht [14)
elementos en serie es la suma de los cOe
Elcoeficiente de fallo de un sistema con
ficientes de fallo de los elementos que lo constituyen.
con un coeficiente de fallo de 1siXel0fa-
EJemplo 5. Un sistema contiene 20 circuitos integrados, trabaje 10.000 horas sin fallo,
por hora cada uno. Cuál es la probabilidad de que el sistema
llo de cualquier clemento dcl circuito lo haráfallar?
el Sis-
coeficiente de fallo para 106
Respuesta. El sistema consta en 20 clementos en serie. Por tanto, el y esto es 20 × 1X
tema es la suma de los coeficientes de fallo de cada circuito (ecuación [14),
Fiabilidad 65
R.
A, R
Fig. 4.3 Elementos en serie Fig. 4.4 Elementos en paralelo
por hora. La probabilidad de que el sistema trabaje 10.000 horas sin fallo es la fiabilidad en ese
tiempo. Viene dada por la ecuación (11]como
Elementos en paralelo
Si se conectan varias bombillas en paralelo, el fallo de una de ellas no hace fa
llar el sistema completo, al contrario de la conexión en serie. Una conexión en pa
ralelo de elementos en cualquier sistema significa que hay un elemento alternativo
en paralelo con los otros (fig. 4.4) y el sistema falla completamente sólo cuando
todos los elementos fallan. Donde es esencial que un sistema no falle (por ejem
plo, los sistemas de alimentación de un avión) se pueden instalar dobles
si uno de los sistemas falla, todavía está el otro para trabajar. La sistemas y
mas en paralelo se conoce como redundancia.
conexión de siste
Para los elementos en paralelo, la probabilidad de fallo es la probabilidad de
que ambos fallos ocurran simultáneamente. La
probabilidad de esto es como el
lanzamiento de dos monedas y considerar la probabilidad de que las dos caigan de
cara. Las diferentes combinaciones de las dos
monedas son
CX CC XX XC
Problemas
1. ¿Cuál es la fiabilidad después de un millón de horas para una resistencia de pclícula de carbón.
sidespués de comprobar 10.000 en ese tiempo, se han encontrado cuatro fallos?
2. Si la fiabilidad de un componente es 0,9, ¿cuál es su no fiabilidad?
3. En un sistema de medida se encuentra que sobre un periodo de 1.000 horas ha fallado cuatro
veces, siendo reparado en cada fallo. ¿Cuál es a) el coeficiente de fallo y b) el tiempo medio entre fa
llos?
4. El coeficiente de fallo de un componente es de 0,04 × 10 por hora. ¿Cuál es el tiempo mcdio
entre fallos?
5. Un sistema tiene un tiempo medio entre fallos de 2.000 horas y un tiempo medio de reparación
de 4 horas. ¿Cuál es su disponibilidad?
6. Un sistema tiene un tiempo medio entre fallos estimado de 10.000 horas. ¿Cuál es la probabili:
dad de que siga trabajando después de a) 100 horas, b) 5.000 horas, c) 10.000 horas y d) 50.000 horas?
7. Un sistema tiene un coeficiente de fallo constante de 2,0 x 10 por hora. ¿Cuál será la fiabili
dad después de 10.000 horas?
8. Un sistema contiene 20 resistencias, cada una de ellas tiene un coeficiente de fallo de 1 x 10
por hora, y23 puntos de soldadura, cada uno con un coeficiente de fallo de 10 × 10% por hora. ¿Cuál
es la probabilidad de que el sistema trabaje 10.000 horas sin fallos si el fallo de cualquiera de las resis
tencias o puntos de soldadura darácomoresultado un fallo en el sistema?
9. Un sistema estáconstituido por tres módulos, el tiempo medio entre fallos para cada uno de los
tres individualmente es de 20.000 horas, 50.000 horas y 80.000 horas, respectivamente. ¿Cuál será la
fiabilidad del sistema después de 10.000 horas, si el fallo de cualquier módulo hará falar el sistema
completo?
10. Un avión tiene una unidad de alimentación consistente en dos sistemas idénticos operando s
multáneamente en paralelo. Si cada uno tiene un coeficicnte de fallo de 3 x 10 por hora, ¿euál es la
fiabilidad después de 1.000 horas si podemos asumir que el coeficiente de fallo es constante?
11. Un sistema de comunicación tiene dos sistemas idénticos trabajando en paralelo simultánea
mente. Si cada uno tiene un coeficiente de fallo de 1 x 10 por hora, ¿cuál es la fiabilidad del sistema
después de 100 horas, si se puede asumir que el coeficiente de fallo es constante?
12.
Un sistema de iluminación consiste en cuatro bombillas idénticas en paralelo. Si la fiabilidad
de una bombilla después de 1.000 horas es 0,90, ¿cuál es la fiabilidad del sistema?
Capitulo 5
Unidades y patrones
Introducción
Medir significa encontrar una cantidad como múltiplo de alguna otra cantidad
Gja: esta cantidad fija se conoce como unidad. La medición, por tanto, requiere un
Sistema de unidades que sea preciso, seguro y fácil de utilizar. Para asegurar que,
entodo el mundo, se utilizan las mismas unidades para los mismos valores, es ne
cesario tener unas definiciones estrictas de unidades y definir cómo se pueden rea
lizar las calibraciones de los sistemas de medida. Tales referencias se conocen
como patrones o estándares. En las aplicaciones diarias, las medidas se realizan
utilizando instrumentos que han sido calibrados con patrones locales que, a su
vez, se han comparado con patrones situados en un escalón más elevado, que ..., y
así se llega a los patrones nacionales que tienen que estar de acuerdo con las espe
cificaciones internacionales. Lacalibración es un término utilizado para la compa
ración de un sistema de medida frente a los patrones, cuando el sistema está en un
ambiente en concordancia con el que se ha definido para la realización del patrón.
Unidades
En 1960la 11." Conférence Générale des Poids et Mesures adoptóel Système
International d'Unités como sistema internacional de unidades. Este sistema se
conoce como el sistema SI. Posteriores reuniones han modificado el sistema y han
dispuesto siete unidades básicas: masa en kilogramos, longitud en metros, tiempo
en segundos, corriente en amperios, temperatura en grados kelvin, intensidad lu
minosa en candelas y cantidad de sustancia en moles. De estas unidades básicas se
derivan todas las demás. Originalmente, las unidades se basaban en patrones ma
teriales: por ejemplo, la unidad de longitud estaba basada en una barra de metal
de longitud estándar frente a lacual se calibraban los otros patrones. Sin embargo,
con la excepción de la unidad de masa, las unidades se basan, en la actualidad, en
fenómenos físicos en lugar de patrones materiales. Así, por ejemplo, la longitud se
basa en la distancia recorrida por la luz durante un intervalo de ticmpo. Basar las
unidades en los fenómenos físicos posibilita a los laboratorios de cualquier lugar
del mundo la realización de unidades sin necesidad de calibración
frente a otro
patrón. Las definiciones de las unidades básicas son las siguientes:
y clectrónicas
68 Mediciones v pruebas cléctricas
se define como la masa de una alcación cilíndrien
Masa. EIkilogramo (kg) altura y diámetro, conservado en el Internatio
(90% platino-10% iridio) de igual Sèvres, Francia. Duplicados de cste
Measures de
nal Bureau of Weights andpaíses. rccorrido
otros
trón se conservan en se define como la longitud dcl camino
2. Lon gitud. Elmetro
(m)
intervalo de tiempo de 1/299.792.458 de un
durante un
por la luz en el vacío
perio
gundo.
segundo (s) se define como la duración de 9.192.631.770
3 Tiempo. El
radiación emitida por el átomo de cesio-133 bajo unas con.
dos de oscilación de la
diciones de resonancia precisas. se define como la corriente constante aue si en
4. Corriente. El
amperio (A) sección
conductores rectos y paralelos de longitud infinita, de se pro
mantiene en dos vacío,
entre ellos de un metro en el
despreciable ysituados a una distancia fuerza igual a 2 X 10 newton por
metro de
duciría entre estos conductores una
agua
longitud. define como la temperatura a la que el tri
5. Temperatura. El kelvin (K) se punto
en equilibrio (se conoce como
líquida, sólida y en forma de vapor están
ple) y es 273,16 K. La candela (cd) se define como la intensidad
lumi
Intensidad luminosa.
6
dirección dada, de una fuente específica que emite radiación mono
nosa, en una que tiene una intensidad radiante de
cromática de frecuencia 540 × 102 Hz yángulo sólido).
de
1/683 vatios por estereorradián (unidad define comno la cantidad de sustan
7. Cantidad de sustancia. El mol (mol) se
como átomos hay en 0,012 kg de un
cia que contiene tantas entidades elementales
isótopo de carbono-12.
Patrones eléctricos
Unidad en función
Nombre de la unidad de las unidades primarias
Magnitud
Unidades mecánicas ms-2
metro/segundo?
Aceleración radián/segundo? rad s2
Aceleración angular rad s-1
Frecuencia angular radián/segundo
rad s-1
Velocidad angular radián/segundo
metro? m?
Superficie kilogramo/metro kg m3
Densidad m² kg s?= N m
julio J
Energía newton N m kg s-2
Fuerza hercio Hz
Frecuencia m² kg s=Js
vatio W
Potencia pascal Pa kg ms?= N m2
Presión ms
metro/segundo
Velocidad kg m² s? = Nm
newton metro
Par metro3 m
Volumen
Bobinas fijas
Bobina Bobina
móvil Fuerza Fuerza móvil
Vidrio
Solución
de sulfuro
cádmico
AV= htI2e
Cristales
Cristales de sulfuro
de sulfuro cádmico
cádmico
Amalgama
de cadmio
Mercurio
y mercurio
para re
como patrones primarios nacionales
Las resistencias patrón se utilizan las que el material utilizado para este hilo
sistencia. Son resistencias de hilo, en están especialmente elegidos para as3
estabili-
los métodos usados para montar el hilo una
sumergidas en aceite. Tienen resistencias
rar la estabilidad. Las resistencias están valores absolutos de las
dad del orden de 1 parte en 10 por año. Los Campbell. la cual tiene una induc
inductancia de de las bobi-
patrón se controlan mediante la medidas geométricas
tancia mutua que se puede determinar mediante determinar el valor de
la
nas de la inductancia. Se puede utilizar un puente para Otra forma de puente puede,
resistencia patrón en función de la inducción mutua.
de la resistencia en función de le
también, ser utilizada para determinar el valor
capacidad de un condensador estándar.
Unidades y patrones 71
mediante múl
patrones prinarios se fabrican condensa
patrón como
Los condensadores suspendidas en un dieléctrico gaseoso. Los pa
tiples placas intercaladas utilizados como patrones secundarios. Los
conden
tienden a ser condensador calculable. Es un
dores de plata-mica un
controlan mediante precisión absoluta
trones primarios se puede calcular con una
que la capacidad se
sador especial en el10.
de pocas partes en
Referibilidad
Patrón primario
Organización nacional
de normalización
Patrón secundario
Laboratorios de patrones
Patrón de trabajo
|Laboratorio de instrumentos
de la Empresa
Instrumentos de trabajo
Fig. 5.4 Representación de una referibilidad simple
electrónicas
72 Mediciones y prucbas eléctricas y
4. Cualquier limitación en la
util1zación del cquipo quc se obtenpa d t.
bración. calibración.
5. La fecha de
el certificado.
6. Laautoridad que proporciona
Problemas
y (b) unidades secundarias.
de (a) unidades primarias basada
1. Explicar el significado entre una unidad patrón cn maleriales y una unidad no,
2. Explicar la diferencia ventajas de cada una.
y las
sada en fenómenos físicos referibilidad referibilidad nars.
Explicar qué es la e ilustrar la respucsta indicando la posible
3.
un centro docente.
amperímetro de una empresa o
Capitulo 6
Medidores analógicos
Introducción
Criterios funcionales
Señal
Valor
máx.
Señal
Valor Tiempo
máx. Valor
máx.
Tiempo (a)
Valor
máx.
(a) (Señal)?
Tiempo
(b) Tiempo (b)
Fig. 6.1 Forma de onda senoidal
Fig. 6.2 Forma de onda cuadrada
Medidores analógicos 75
(máx. valor)
factor de forma = = 1,00 [11]
(máx. valor)
Aguja
Muelle
Escala
Imán
permanente N
F
R
Bobina
8 RE
Pivote Núcleo de
Medidor de bobina móvil y cojinete hierro dulce Ejo
Fig. 6.3 de rotación
K, NBA
K, Km
La corriente requerida para dar una desviación a fondo de escala con el med:
dor de bobina móvil básico está, generalmente, en la escala de 10 A a
20 mA.
Los shunts son resistencias conectadas en paralelo con el medidor para cambiar
escala de corriente (fig. 6.4). Cuando los componentes estân en paralelo, entonces
la diferencia de potencial en los terminales de cada componente es la misma vla
corriente total que entra en el montaje es igual a la suma de las corrientes que cir.
culan por cada componente. Si I,es la corriente a fondo de escala para el medido.
básico entonces, utilizando la ley de Ohm (V = IR), la diferencia de potencial en
los terminales del medidor es I,R, donde Res la resistencia del medidor. Si Ies
la corriente total del montaje, es decir, la corriente que se ha de medir, entonces
como I es la suma de la corriente através del medidor ya través del shunt. la co.
rriente a través del shunt es
Por tanto, utilizando la ley de Ohm (V = IR), la diferencia de potencial en los ter
minales del shunt es
(1-1)R, =1,R,
I(R, + R) [15]
R,
Por tanto, (R, + R,)JR,es el factor de escala que ha cambiado la escala del me
didor.
Mientras un instrumento multiescala puede realizarse con el intercambio de a
resistencia en el circuitodel shunt a partir de una selección de resistencias, como
en la figura 6.5, otra posibilidad es el shunt universal (fig. 6.6), también llamado
shunt Ayrton. Con el interruptor en la posición A, como muestra la figura 6.0, K1
es el shunt del medidor, mientras que R, yRg están en serie con él y, en conse
Interruptor
de selección
BJemplo 3. Calcular los valores de las resistencias utilizadas en un shunt universal para un mcdi
or de tres escalas, El medidor básico tiene una desviación a fondo de escala de 1.0 mA y una resis
tencia de 50 2, ynecesita escalas de 10 mA, 100 mA y1,0 A.
Respuesta. El circuito para el shunt universal es el mostrado en la figura 6.6. La máxima escala
será con una sola resistencia haciendo de shunt del medidor yla mínima escala serácuando estén las
tres resistencias. Esto sucede porque la máxima escala 0curre cuando la resistencia más pequeña
80 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
hace de shunt del medidor yasí sólo una pequc'a fracción de la corriente pasa a través del g
dor.
Para R. haciendo de shunt del medidor y R: y R, en seric conél (interruptor cn la posiciÑn A d.
la figura 6.6), utilizando la ecuación [16]
(-1)R, = 1,(R, + R, + R)
(1,0 0,001) R, = 0,001 (50 + R, + R)
999 R, = 50 + R, + Ra
|19)
Para R, v R, haciendo de shunt del medidor y R, en serie con él (interruptor en la posición B de la
figura 6.6). la ecuación [17]da
(-1) (R, + R) = 1(R, + R)
(0,100- 0,001)(R, + R,) =0,001 (50 + R,)
99 (R, + R) = 50 + R, (20)
Para R,. R, y R, haciendo de shunt del medidor y ninguna resistencia en serie con él(interruptor en
la posición Cde la figura 6.6), la ecuación [18] da
(I-1) (R,+ Ry +Rg) =1R,
(0,010 -0,001) (R, + R, + R;) = 0,001 x 50
9 (R, + R, + R;) = 50 (21]
Ahora tenemos un sistema de tres ecuaciones [19). (20] y (21]. Si multilicamos la ccuación (21] por
11 obtenemos
99 R, + 99 R, + 99 R, = 550
y así
99 R + 99 R, = 550 99 Ra
111 da
Así pues, R; = 5,0 Q. Multiplicando la ecuación [21]por
999 R, + 999 R, + 999 R, = 5550
Vasí
V= IRm +1R
y así
(a)
(b)
Fig. 6.8 Multiplicador multiescala: (a) independiente, (b) cadena
Ejemplo 4. Un medidor de bobina móvil da una desviación a fondo de escala de 1,0 m¢ ytiene
una resistencia de 80 S2. ¿Cuáles la resistencia del multiplicador requerida para convertir este ins
trumento en un medidor que dé una desviación afondo de escala de 10V?
Respuesta. Utilizando la ecuación (22]
V= 1,(Rm +R) = 10 = 1,0 x 10 (Rm +80)
Así pues, R = 9920 2.
La bobina del medidor se realiza con un hilo de cobre y, por tanto, si hay un
subida en la temperatura
cambio en la temperatura, su resistencia cambia. Una una lectura más baja.
incremento en la resistencia y, de esta manera,
produce un
la tensión del muelle que sucede
Esto se compensa, parcialmente, por la caída en
embargo, el medidor realiza una lectura
Cuando se incrementa la temperatura. Sin incremento de temperatura. Para redu
más baja alrededor de un 0,2% por °C de Cua
resistencia en serie con la bobina, lareali-
CiT este efecto, a menudo, se conecta una usualmente,
se conoce como resistencia compensadora. Esta resistencia está, cambia muy poco Con
zada de hilo de manganina, un material que cuya resistencia
superior a
alrededor de tres vecestemperatura,
la temperatura, y el valor de la resistencia es
de la bobina. El cambio en la resistencia producido por el cambioel deefecto del cam-
por tanto, es un pequeño porcentaje de la resistencia total y, así, reduce.
bio de temperatura producido por la corriente a través del medidor se figura 6.9.
en la
Donde hay un shunt, el montaje se realiza como se muestra Con el
incre-
Con el shunt hecho de hilo de cobre. su resistencia se incrementará
Medidores analógicos 83
S=
donde Iae
nativa paraes la corriente que da una desviación de fondo de escala. Hay una alter
expresar esta definición que es una forma usual de expresar la sensi-
bilidad para
R, entonces la
los medidores de bobina móvil. Si el medidor tiene una resistencia
Lar.R, así pues diferencia de potencial de la desviación a fondo de escala, Vare es
R
S= [24)
Vafe
electrónicas
84 Mediciones y pruebas eléctricas y
a menudo para la
sensibilidad es S2/V.
utilizada
Por esta razón, la unidad
puede ser considerada una medida del tamaño del
La relación ohmio/voltio la carga (ver capítulo 3)cuando un
voltíme.
como resultado de
error que ocurrirá porcentajc de error intro
utiliza para medir tensiones. El
tro de bobina móvil se util1za en un circuito que
ducido cuando un medidor con una resistencia R,, se
Thévenin R, es (ecuación (5], capítulo 3)
tiene una resistencia equivalente
RTh X 100%
porcentaje de error =
R, + Ryh
error. Un voltíme
mayor sea la resistencia del medidor, menor seráel ohmio/voltio infi.
Así, cuanto valor
resistencia infinita y, por tanto, un afectaría a la resistencia
tro ideal tendría una conectara a un circuito no
nito. Tal voltímetro, cuando se error de carga. Un valor ohmio/voltio menor sip
del circuito y, así, no
produciría lo cual pro
menor resistencia del voltímetro utilizado para una medida,
nifica una
duciráun mayor error de carga.
como
bobina móvil tiene una resistencia de 40 S2. Cuando se utiliza es
Ejemplo 5. Un medidor de a fondo de
resistencia multiplicadora de 200 ksl, se obtiene una desviación
voltímetro con una
sensibilidad del instrumento?
cala de 300 V. ;Cuál es la
con una
que se produciría utilizando un voltímetro
Ejemplo 6. ¿Cuál es el porcentaje de errorescala de 50 V, la tensión en un circuito que tiene una
sensibilidad de 1.000 Vpara medir. con la
resistencia de Thévenin de 10 k2?
50 V es 50 k2. Por tanto, utilizando la ecua
Respuesta. La resistencia del medidor en su escala de
ción dada anteriormente,
10
porcentaje de error =
RTh X 100% =
X 100%=-17%
Rem + RTA 50 + 10
= 1,11 g
2/2
Elvalor eficaz I,ns es, por tanto, 1,11 veces el valor promedio Ia yla escala del ins
trumento se calibra en esa base. Si la entrada no es senoidal, entonces la escala da
un error cuantificado por la relación I,md distinto de 1.11. Esta relación se co
noce como factor de forma F. El error es, por tanto,
Tiempo
Corriente
rectificada
Tiempo
V=
2/2
ns 0,90 V.rms
95 10
=
100 Rm + 10
I=
R+ R, +R. (26]
Larelación entre la corriente y la
del óhmetro da una escala de resistencia R no es lineal y, así pues, el circuito
resistencias no lineal
sistencias que corresponde a la lectura de corriente con
el cero de la escala de re
a fondo de escala. Los puntos
de escala están muy cercanos para
resistencias bajas y, de esta manera, no es muy
adecuado para realizar las medidas.
Ajuste de cero
R,
E
Fig. 6.11 Óhmetro tipo serie Fig. 6.12 Ohmetro tipo shunt
y así
E
lafe
R+R,
actúa
desconocida se conecta entonces en paralelo con el medidor y
Laresistencia medidor ahora
y parte de la corriente que tendría que pasar por el
como shunt,
a través de la resistencia. Por tanto, la resistencia Rm del medidor en para-
pasa
por
lelo con R viene dada
1 1 1
+
Ksm R R,
Rsm=
RRg
R+ R,
,=I- RR
Así pues
ER [27)
RR, + R (R, + R)
clectrónicas
Mediciones y pruebas elécricas y
La lectura del medidor. por tanto, depende del valor de la resistencia desconocida
R. Esta forma de óhmetro es particularmente útil para resistencias baias
Eiemplo 10. Un óhmetro tipo serie utiliza un medidor de bobina móvil con una resistencia
0 ovna desviación a fondo de cscala de 1.0 mA. Si la batería del óhmctro tiene una fem
0V.:cuál será cl valor de la resistencia en seric del meidor para el ajuste de cero ycl shunt te
guerido para el mcdidor si la lectura amedia escala del óhmetro es de 1.000 2?
Respuesta. Cuando los terminales del óhmetro están en cortocireuito para dar la lectura de resis.
tencia cero. es decir, la corriente a fondo de cscala, cntonces
Ampli
ficador c.c.
Ampli
ficador C.C.
Fig. 6.14 Circuito para escala de corriente
continua
Ampli
ficador c.c.
Ampli Ampli
|ficador C.c. ficador C.C.
a (b)
Fig. 6.16 Voltimetro electrónico de respuesta de pico
sador para cargarlo hasta el valor de pico de la tensión (ig. 6.16). Este valor de
pico, entonces, se amplifica. El tipo de respuesta eficaz da una salida que es una
medida del valor eficaz de la tensión de la onda, independientemente de su forma
de onda. Una clase de estos instrumentos tiene un termopar que da una salida re
lacionada con la temperatura de una resistencia. Como el calor desarrollado por la
resistencia es proporcional a la potencia disipada en la misma (V2IR), la salida del
termopar es una medida del valor promedio del cuadrado de la tensión. Entonces,
se amplifica la salida del termopar por un amplificador de c.c. y proporciona una
salida que es una medida del valor eficaz de la tensión de entrada (fig. 6.17). EI
efecto de la no linealidad en la respuesta de la medida del termopar puede cance
larse por una no linealidad similar en la respuesta de otro termopar en el circuito
de realimentación del amplificador. Una alternativa del voltímetro de respuesta
eficaz (fig. 6.18) incluye circuitos para rectificar la tensión de entrada, entonces se
eleva al cuadrado la tensión, se promedia sobre un ciclo y, entonces, se toma la
raíz cuadrada y se alimenta al medidor de bobina móvil. Los voltímetros electróni
V
cos tienen, típicamente, desviaciones a fondo de escala desde alrededor de 100
hasta 1.000 V, con impedancias de entrada de alrededor de 10 MQ, pueden utili
varía alre
zarse con frecuencias desde los 20 Hz hasta los 100 MHz, y la precisión
dedor de + 2-5% dependiendo de la escala y de la frecuencia.
Termopar
de medida
Ampli
lficador c.a. Ampli
ficador c.c.
Termopar
de compensación
Fuente
de corriente Ampli
Constante ficador c.c.
Resistencia
desconocida Voltímetro electrónico
Espejo en Colimador
Fig. 6.20 suspensión en
Galvanómetro de punto luminoso el galvanómetro
Escala
Muelle
donde k, es una constante de los muelles. En el equilibrio k,0= kly, por tanto,
e= (k/k,)I [29]
Escala
Muelle Lámina móv1l
de hierro dulce
Varilla móvil
de hierro dulce Lámina móvil
Fig. 6.22 Medidor de hierro móvil del Fig. 6.23 Medidor de hierro móvil
tipo de repulsión del tipo de repulsión
electrónicas
96 Mediciones y pruebas eléctricas y
Pistón
Fig. 6.24 Amortiguación por aire
Ejemplo 11. Un medidor de hierro móvil tiene una desviación a fondo de escala de 1,0 A. ;Cuál
serála lectura de corriente a mitad de escala?
Respuesta. Como la deflexión o desviación es proporcional al cuadrado de la corriente, la lectura
a mitad de escala vendrá dada por
Omnid Inid
Oafe
lafe = 0,71 A
ner diversas escalas de corriente. Como la fuerza del campo magnético producido
por la corriente a través de la bobina depende del producto del número de espiras
y de la corriente, con una corriente más pequeña, se requiere un mayor número
de espiras paraobtener el mismo campo magnético y llegar a fondo de escala. Por
lanto, para la medida de pequeñas corrientes, el medidor necesita un gran número
de espiras y, en consecuencia, una resistencia relativamente alta.
La escala del medidor de hierro móvil cuando se utiliza como voltímetro
puede ampliarse conectando resistencias no inductivas en serie y, cuando se utiliza
con tensiones alternas, con un transformador de tensión.
Típicamente, los medidores de hierro móvil tienen escalas con una desviación
a fondo de escala de entre 0,1 y 30 A, sin shunts, pueden utilizarse tanto
para co
rriente continua como alterna y tienen una precisión de alrededor de t 0,5% de
desviación a fondo de escala. Los errores se producen por cambios en la
tura, traduciéndose en cambios en la resistencia de la bobina y en la tempera
dad del hierro. Cuando se utiliza para c.c., el permeabili
instrumento da una indicación baja
de un lento incremento de la corriente y una indicación alta de un
lento
miento de la corriente; esto se debe a la curva de histéresis magnética deldecreci
hierro
utilizado para las varillas o las paletas. El instrumento puede utilizarse para
hasta una frecuencia de alrededor de 100 Hz; sin embargo, si la forma de c.a.
es senoidal se pueden producir errores. onda no
Como voltímetro, el medidor de hierro móvil tiene una
mente baja, del orden de 50 S2/V, una mínima desviación aimpedancia relativa
fondo de escala de
cerca de 50 V. También puede ser utilizado para la medida de
y alternas. tensiones continuas
Medidor de ternmopar
Cuando una corriente circula por una resistencia de hilo, disipa potencia y la
temperaturade la resistencia se incrementa. El medidor de
termopar utiliza un
electrónicas
98 Mediciones y pruebas eléctricas y
termopar para dar una medida de la temperatura de la resistencia (fig. 6.25). La
salida del termopar puede controlarse mediante un medidor de bobina móvil.
Como el efecto de calentamiento de la corriente es proporcional al cuadrado
Corriente a través de la resistencia o ala diferencia de potencial en sus terminales.
el instrumento puede utilizarse para tensiones o corrientes alternas. El instru:
forma de ond
mento mide el valor eficaz verdadero, indiferentemente de la
nuede utilizarse desde 10 Hz hasta tanto como 50 MHz. El principal uso del ins
trumentoes la medida de corrientes de muy altas frecuencias. La escala no es li.
neal con desviaciones a fondo de escala entre cerca de 2 y 50 mA, utilizándose se
ries de resistencias para tensiones. El instrumento es frágil con una baja capacidad
de sobrecarga.
Lámina
J+Q móvil
Resistencia de hilo
Termopar
+O
Suspensión Muelle
Fig. 6.25 Medidor de termopar Cajas
fijas
Lámina móvil
Medidores electrostáticos
Electrodinamómnetro
Escala
Muelle
Bobina móvil
Bobinas fijas Fig. 6.27 Electrodinamómetro
Con las bobinas móvily fijas conectadas en serie (fig. 6.28a), la corriente a tra
vés de las bobinas fijas es la misma que a través de la bobina móvil, es decir.
I=, Entonces elángulo que gira la bobina móvil es proporcional al cuadrado de
la corriente. El instrumento se puede utilizar para medidas tanto de c.c. como de
C.a., dando valores eficaces independientemente de la forma de onda. Se utiliza
para corrientes cuya desviación a fondo de escala sea de entre 5 y 100 mA. Para
eléctricas y electrónicas
Medicionesy pruebas
100
Bobina móvil
Bobinas fijas
001 00
Shunt
(b)
(a)
básico, (b) con un shunt
Fig. 6.28 Medida de corriente: (a) circuito
conecta a un
mayores, hasta cerca de 20 A, la bobina móvil se
corrientes continuas Para mayores corrientes alternas se tiene
(fig. 6.28b).
shunt con baja resistencia corriente con el amperímetro. EIinstrumento se
transformador de serie ypuede
que utilizar un con la adición de una resistencia en dando valores
voltímetro
puede convertir en continuas como alternas hasta 2
kHz,
tensiones una escala
utilizarse tanto para la forma de onda. El instrumento tiene
eficaces
independientemente de
bobina móvil y tiene un consumo de po
que un medidor de como vatímetro
no lineal, es más caro de los principales usos del instrumento es trabajo del ins
tencia más alto. Uno extraños pueden afectar al
Campos magnéticos encierra en un apantalla
(ver capítulo 10).consecuencia, el sistema de bobinas se
trumento y, en
miento magnético.
Problemas requie
se han reemplazado por otros que
los muelles del medidor?
medidor de bobina móvil, estoa la calibración
1. Alreparar un deflexión. ¿Cómo afectará
para convertir un medidor de
par para cualquier multiplicadores requeridos
ren eldoble de valores de los shunts y losescala de 1,0 mAyde resistencia S0 2en:
2. Calcular los
desviación a fondo de
bobina móvil con una
escala de 200 mA.
con una desviación a fondo de
a) Un
miliamperímetro fondo de escala de 5 A.
con una desviación a V.
b) Un
amperímetro fondo de escala de 1,0
voltímetro con una desviación a de 20 V.
c) Un fondo de escala
con una desviación a corriente continua
d) Un voltímetro escalas de
para un amperímetro para resistencia de 50 S2 yda
(Ayrton) utilizado tiene una
3. Diseñar un shunt universal
medidor de bobina móvil uA.
y 10 A. El escala de 50
de 100mA, 1,0A escala de 1,0 mA. desviación a fondo de escalas
desviación a fondo de de 1 k2 y da una proporcione las
tiene una resistencia universal (Ayrton) que
4. Un medidor resistencias requeridas para un shunt escalas de
tensión
y da
¿Cuáles son las voltímetro multiescala con de 50S2 y.
y 1A?
de 10mA, 100 mA circuito que se pueda utilizar como utilizado tiene una resistencia lec-
Diseñar un móvil
5.
100 V. El medidor de bobina kQ da una
continua de 1,0, 10 y de 10
mA.. multiplicadora máxima
desviación a fondo de escala de 1,0 una resistencia
una bobina móvil consensibilidad?
6 Un voltímetro de es su
escala de 1V. ¿Cuál
tura a fondo de
Medidores analógicos 101
7. Un voltímctro de bobina móyil tiene una sensibilidad de 20.000 SNV y se utiliza en una escala
Thévenin de
de 50 V para la medida de tensiones en un circuito que tiene una resistencia equivalente
30 k2. iCuálserá cl porcentaje de error de carga producido?
8. Un voltímetrode bobina móvil utiliza un mecanismo indicador de 50 Ay es usado cn una es
2 MS2 en un circuito que
cala de 100 V para medir la tensión entre los terminales de una resistencia de
tiene una resistencia total de 4 MS2. ¿Cuál seráel porcentajc de error en la lectura como consecuencia
de la carga?
corriente a fondo de escala
9. Un óhmetro tipo serie utiliza un medidor de bobina móvil con una
que tiene una f.e.m. de 2,5V. ¿Cuál serán los valo
de 1,0mA y una resistencia de 50 Qcon una batería escala, es decir, la lectura de re
desviación a fondo de
res de las resistencias utilizadas para dar una resistencia a mitad de la escala es de
sistencia cero, y el shunt del medidor necesario si la lectura de la
500 Q?
de pico y respuesta eficaz de
10. Explicar cómo las lecturas de respuesta promediada, respuesta senoidal.
de señal
los voltímetros electrónicos serán diferentes para una entrada fondo de escala de 10 A. ¿Cuál será la co
11. Un medidor de hierro móvil da una desviación a
de escala?
rriente para las lecturas de cuarto de escala y de mitad
12. Comparar las prestaciones características de los medidores de bobina móvil, hierro móvil y
termopar.
pueden verse afectados por un error en la forma de
13. Explicar por qué los medidores de c.a.
onda. corrientes
pueden se utilizados para la medida de (a)
14. Sugerir, dando razones, medidores que una alta precisión, pero
de 1A donde no se requiere
de alta frecuencia, (b) corrientes alternas de cerca a ± 1%, (d) una corriente al
con una precisión cercana
el coste es esencial, (c) una corriente en c.c. cercana a ± 5%.
terna de alrededor de 1 mA a 50 Hz con una precisión
Capítulo 7
Medidores digitales
Introducción
Elvoltímetro digital
Elvoltímetro digital puede ser considerado básicamente como un convertidor
analógico/digital conectado a un contador y a una unidad de visualización (fig.
7.1). Latensión que se quiere medir,una cantidad analógica, se muestrea en algún
instante de tiempo y se convierte mediante el convertidor A/D en una señal digi
tal, es decir, una serie de impulsos con el número de impulsos indicando el tamaño
de la tensión analógica. Estos impulsos se cuentan por el contador (ver capítulo
12) y se representan como una serie de dígitos.
Conversión analógico/digital
Los convertidores analógicoldigitales (A/D) convierten una señal analógica
con un tamañolamplitud que varía continuamente, en una forma digital que es un
número discreto de niveles. Esto es como coger una altura que varía continua
mente y convertirla en los escalones de una escalera; entonces la altura serán los
escalones. Una altura analógica de, digamos, 5 metros debe ser representada por
electrónicas
104 Mediciones y pruebas eléctricas y
0+1=1
1+1= 10
0,0 0
0,1 1
0,2 1
0,3 0 0 1 1
0,4 1
0,5 0 1 0 1
0,6 0 1 1
0,7 0 1 1 1
0,8 1 0
0,9 1 0 1
1,0 0 1
1,1 1 0 1 1
1,2 1 1
1,3 1 1 1
1,4 1 1 1
1,5 1 1 1 1
Convertidores analógico/digitales
analógico/digitales, siendo los más comu
Hay varias formas de convertidores rampa, doble rampa y tensión-frecuen
nes el de aproximaciones sucesivas, flash, y rampa son ejemplos de los que pue
cia. Los de aproximaciones sucesivas, flash muestreo; ellos proporcionan el valor
de
den conocerse como convertidores A/D en que la señal es muestreada. Los
instante
digital equivalente a la tensión en el
ejemplos de convertidores A/D integra
de doble rampay tensión-frecuencia son tensión sobre un tiempo de medida fijo.
dores en los que se promedia el valor de
para dar una medida, pero tie
Los convertidores de este tipo tardan más tiempo
nen mejor rechazo al ruido. toma una muestra de la tensión ana
En el tipo de aproximaciones sucesivas se tensión que crece en incrementos
lógica de entrada y, después, se compara con laentrada (fig. 7.3). Este crecimiento
hasta que se llega al valor total de la tensión de una secuencia regular de
incremental de tensión se produce por un reloj que emite
señal analógica mediante un conver
impulsOs que se cuentan y convierten en una compara con la tensión de
resultante se
tidor digital/analógico. La señal analógica impulsos del reloj para
entraday cuando crece al nivel superior, se detienen los equivalente digital de la
contador es el
leer el contador y, por tanto, la lectura del medidor de &bits tendráun tiempo
tensión de entrada analógica. Típicamente, un de muestreo típica es del or
frecuencia
de conversión de unos 10 us; por tanto, la
Entrada
analógica
Comparador
Convertidor
D/A
Señal
analógica
Comparador
Comienzo
Generador
de rampa
Entrada
analógica
Entrada de Comparador
Con 0 V
referencia
Integrador
Lógica para
Contador conmutación Reloj
y control
de contador
El tipo de doble rampa(fig. 7.5) tiene una entrada de tensión analógica inte
grada sobre un tiempo , igual a un ciclo de la frecuencia de línea. Para una en
trada de tensión constante, en los terminales del condensador del integrador se
produce una tensión que aumenta uniformemente. Al final del tiempo un inte
rruptor desconecta la tensión analógica del integrador, quedando el condensador
cargado. Como i = dgldt = qlt para un régimen constante de carga, la carga i, en
el condensador es it, = Vint/R. Entonces se conecta a la entrada del integrador una
tensión analógica negativa de referencia constante. Después se mide el tiempo t,
hasta que la salida del integrador llega a cero, es decir, cuando VetlR es igual a
V,/R (fig.7.6). Por tanto, el tiempo t, es una medida de vi. Esta clase de conver
tidor A/D tiene la ventaja del rechazo al ruido y a la señal de la frecuencia de lí
nea pero, como integra la señal durante un ciclo de la frecuencia de la red, tiene
Tiempo
\Pequeñal
V.
Salida
del integrador
Grande
Entrada
analógica Convertidor
tensión Contador
frecuencia
(a)
Integrador
HE Comparador
Vin
A
Vret
Generador
de impulsos
(b
Fig. 7.7 (a) Convertidor A/D de tensión-frecuencia, (b) convertidor tensión-frecuencia
Respuesta. Una rampa de 1V/ms significa que tardará 5 ms en llegar a la tensión de entrada de
5V. Así pues, durante ese tiempo cl reloj producirá 5 x 10x 100 x10 =s00 impulsos.
Amplificador/
Tensión atenuador
en c.c. de c.c.
Tensión Atenuador
en C.a. C.a. a C.C.
Corriente
C.c./c.a.
Control
ordenador
Resistencia
B Rs
Problemas
1 ¿Cuáles son las principales ventajas que los instrumentos digitales tienen sobre los instrumen
tos analógicos?
2. ¿Cuál es la resolución de un convertidor analógico/digital que tiene una longitud de palabra de
12 bits si la escala de la señal analógica de
entrada es de 100 V?
3. ¿Cuál es el porcentaje de resolución de un convertidor A/D de 10 bits?
4. Comparar las prestaciones de las siguientes clases de convertidores
maciones sucesivas, flash, rampa, doble rampa, tensión-írecuencia. analógicoldigitales: aproxi
S. Un convertidor A/D de rampa tienc un generador de
diente de 1V/ms y cl reloj trabaja a una frecuencia de 50 kHz. rampa
que da una rampa con una pen
señal de entrada de 10 V? ¿Cuál serála cuenta producida por una
6
¿Cuáles el tiempo de conversión de un convertidor A/D de aproximaciones sucesivas de &bits
si tiene un reloj trabajando a l
MHz?
112
Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
7. Para las siguientes situaciones,
voltímetro digital: sugerir la clase de convertidor A/D que se requeriría para el
a) Un instrumento barato de uso general, donde no se requiera alta
versión. precisión, ni rapidez de con
b) Un voltímetro para utilizar con
c) Un voltímetro que pueda ser señales que cambian muy rápidamente.
probabilidad de interferencias debido utilizado con el mínimo error en situaciones donde
a la frecuencia de línea. hubiera alta
8 La especificación de un voltímetro digital establece que es un medidor de 3/, dígitos. ¿Qu sip
nifica esto?
9 ¿Cuál es
el más pequeño cambio de tensión que puede ser
3'7, dígitos con una escala de 0 a 100 V? determinado con un voltímctro de
Capítulo 8
Registradores
Introducción
Gráfico
Pluma
Traza
realiza sobre un arco oun círculo. El resultado del gráfico es, por tanto, de difícil
lectura y su interpolación es complicada. Existen problemas particulares al deter
las líneas radia
minar los valores para trazas cercanas al centro del gráfico donde
variables distin
les están muy juntas. Se puede realizar un registro de hasta cuatro
la señal afondo
tas; la precisión ronda, generalmente, t 0,5% de la desviación de
de escala.
Registradores galvanométricos
Imán
Para tales ángulos el error debido a la no linealidad es menor que 0,5%. Sin em
bargo, un gran problema es el hecho que la pluma se mueve cn un arco en
de en una línea recta. Por tanto, para realizar el gráfico se utiliza el papel lugar
neo (fig. 8.3). Sin embargo, hay dificultades de interpolación para los curvilí
las líneas curvadas. puntos entre
Una forma alternativa de registrador de «pluma» que utiliza papel
rectilíneo
en lugar del papel curvilíneo es el registrador de filo de cuchilla. Una versión de
éste utiliza un estilete caldeado, sustituyendo la pluma de tinta, y un papel
que se mueve sobre un filo de cuchilla (fig. 8.4). EI papel debe térmico
estar
con productos químicos que muestren un cambio marcado de color impregnado
en contacto con el estilete caliente o que el estilete
cuando estén
queme la capa superticial sen
sible al calor que cubre el papel. La utilización del filo de cuchilla evita el
curvo, pero la relación no lineal entre el desplazamiento y todavía existe. Latrazo lon
gitud del trazo y producido en el papel por la desviación es
y=R tg 0 [21
El error de no linealidad es ligeramente más grande que en el registrador de
pluma. Si las desviaciones se restringen a menos de 10°, cl error es menor
del 1%.
Normalmente, con los registradores galvanométricos de pluma o de filo de cu
chilla se realiza una amplificación electrónica de la seHal de entrada.
Esto conduce
unas sensibilidades que están, generalmente, rondando 1 cm de
de la pluma por milivoltio. resistencias de entrada de alrededor dedesplazamiento
Cno de banda desde c.c. a unos 50 Hz y unas precisiones del orden de 10± k2, un an
viación a fondo de escala. 2% de desS
y electrónicas
Mediciones vpruebas eléctricas
116
Estilete
Suspensión
Gráfico Espejo
Filo de cuchilla
YImm
Muelle
Lámpara UV
registradores galvanométricos
Comportamiento dinámico de los repentina
atraviesa un galvanómetro de bobina varíaentonces la
Cuando la corriente que llamado entrada en escalón,
hasta algún valor I
mente desde el cero la corriente:
bobina experimenta un par que es proporcional a
corriente / = KI
par debido a la
Registradores 117
donde K, es una constante del conjunto de la bobina y delimán. K, tiene un valor
NAB. donde Nes el número de espiras dede la bobina, Aes el área de la sección
transversal de la bobina y Bla densidad flujo que forma un ángulo recto con la
ina (ver capítulo 6). Este par se opone al par de torsión de la suspensión de
la bobina. El par es proporcional al ángulo que la bobina ha girado:
b/2
bi2
Rrn
()
Fig. 8.6
Circuito equivalente Thévenin Fig. 8.7 Bobina movil
118 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Lacorriente que atraviesa la bobina, la hace girar. Pero el giro de una bob:
en un campo magnético produce una f.e.m. en la bobina. Para una longitud L del
conductor (fig. 8.7) moviéndose con una velocidad lineal v, en ángulo recto Con el
campo magnético de densidad de flujo B, se induce una f.e.m. E que es
E= BLv
Tal conductor es el lado vertical de la bobina del galvanómetro. Este lado vertical
se mueve en un camino circular de radio '/zb, donde b es la anchura de la
na. La velocidad angular de tal rotación se convierte en una velocidad lineal v
mediante v = rw donde r es el radio del camino. Así pues, v = /bo. Por tanto
E-'%BLbo. Como hay dos lados y Nespiras, E = NBLbo. Como el área de la
bobina A= Lb, entonces
E= NBAQ =K,o
K de
+
K,0 K,VTh
dt J(R7, + R)) dt J J(RT, + R)
describe el movimiento de la
Estaes una ecuación diferencial de segundo orden y
bobinadel galvanómetro.
Cuando el registrador galvanométrico se detiene totalmente y proporciona la
consiguiente, tanto
lectura, no hay aceleración angularovelocidad angular y, por
d'eldr como d0/dt son cero. Así pues
K,0 K,V
J J(RTH + R,)
Registradores 119
tanto, la sensibilidad de tensión en estado
Por estacionario será
sensibilidad de tensión K,
(8]
VTh K,(RT, + R)
La ecuación diferencial describe el comportamiento del sistema que tiene una
frecuencia natural de oscilación ,, donde
factor de amortiguación = K
2 (KJ)(Ry, +R,) [10]
Factor de amortiguación
0,4
0,7
1,0
Valor
esperado ., 1,5
Tiempo
dependicndo del
La tigura 8.8 muestra cómo es la respuesta del galvanómetro entrada. El factor
factor de amortiguación cuando hay un escalón de corriente ala considerada
oguación expresa la amortiguación como una fracción de la factor de
tiene un
oo amortiguación crítica, es decir, la amortiguación crítica la bobina del gal
Iguación de 1,0. Esta amortiguación crítica sucede cuando
cambiando a la desviación definitiva
ero responde a un escalón de entrada
6.8 es la desVla
SObrepasar el valor esperado en el mínimo tiempo. En la figuraamortiguación
factor de de
o indicada por el factor de amortiguación 1,0. Un
acomodarse a él; la bobina en
OS de 1,0sobrepasa el valor esperado antes de
factor de amortiguación de 0.7 0,4 el
tonces se Conoce com0 subamortiguada. Con uncercano al 25%, con uno de es
es
porcentaje que sobrepasa el valor esperado
de un 5%. La tabla 8.1 muestra el porcentaje en que se sobrepasa el
valor espe-
Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
120
Tabla 8.1 Factor de rebasamiento y amortiguación
Factor de amortiguación Porcentaje de rebasamiento
1,00 0,0
0,91 0,1
0,82 1,2
0,72 4,0
0,62 8,4
0,50 16,5
0,40 25,0
10 Factor de amortiguación
0,1
(0/0,)
Log 0,4
0,7
1,0
1,0
1,5
0,1
factor de amortiguación = K
2 (K,J)(R, + R,)
Así pues, sin la resistencia extra de 100 2.
K
0,6 =
2 (KJ)160 +60)
Con la resistencia extra de 100 S2,
factor de amortiguación = K;
2(K,J)(260 +60)
Así pues, dividiendo estas dos ecuaciones,
factor de amortiguación 160 + 60
0,6 260 + 60
K,
sensibilidad =
K,(R, + R,)
Sin la
resistencia extra,
K,
sensibilidad sin R =
K,(160 + 60)
Con la
resistencia extra,
K,
sensibilidad con R =
K,(260 +60)
Asipues, dividiendo estas dos
ecuaciones,
sensibilidad con R 160 + 60
sensibilidad =
K,
K,(Rr, + R,)
Así pues, para la resistencia en serie
sensibilidad nueva RTh + R, 180
R 100 100
05 VTh K,(50+80)
Registradores 123
sensibilidad nueva es
v asf la
sensibilidad inicial = K,
K,(100 +80)
entonces, la sensibilidad nucva es 0,5 X 180/130=0,69 veces la sensibilidad iinicial.
Registradores potenciométricos
Entrada desde
un transductor
o C.C. o
Servomotor
Potenciómetro
Plumal
Gráfico
Fig. 8.10 Registrador potenciométrico
124 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
luma ydel transductor. Esta señal se utiliza para hacer trabajar un servomotor
e controla el movimiento de la pluma a lo largo del gráfico. Por tanto, la plun
termina moviéndose a una posición en la que no existe diferencia entre la so
la pluma y la del transductor.
Los registradores potenciométricos tienen, típicamente, unas resistencias da
entrada más altas yprecisiones más grandes (alrededor de t 0,1% de lectura a
fondo de escala) que los registradores galvanométricos, pero una respuesta consi
derablemente más lenta. Los tiempos de respuesta son, típicamente, del orden de
1-2 sy, así, el ancho de banda es sólode c.c. a 1o2 Hz. Pueden utilizarse. real.
mente, sólo para c.c. o señales que cambien muy lentamente. Debido al roza.
miento, se requiere una mínima corriente para conseguir mover el motor. Por
tanto, hay errores debidos a la no respuesta del registrador a pequeñas señales del
transductor. Estos errores son conocidos como banda muerta. Así, para un mar
gen de 5 mV, elerror de banda muerta es de alrededor de + 0,015 mV.
Registradores X-Y
Movimiento Y
Movimiento X
Corrionte de grabación
-Núcleo ferromagnetico
Entrehierro no magnético
Capa magnótica
grabación magnetica
Fig. 8.12 Fundamentos de un cabezal de
126 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Densidad de flujo
Densidad de flujo Con polarización
remanente
remanente de c.c.
Corriente Corricnte
Señal,
polarización
modulada
Sin polarización en amplitud
(a)
Polarización
(b)
Fig. 8.13 Efecto de (a) polarización de c.C., (b) polarización de c.a.
V
Jongitud de onda registrada = [11]
f
dp
=0,, sen ot;
dt
Por tanto, la salida del cabezal es proporcional a o,, cos , donde o = 2 xf, fes
la frecuencia, y O,, el flujo máximo. Por tanto, la salida del cabezal depende no
sólo del flujo registrado en la cinta, sino también de la frecuencia. Para prevenir
esto, se utiliza una ecualización de la amplitud. Se utiliza un amplificador que
tenga una función de transferencia que decrezca cuando la frecuencia aumente, de
tal modo que alimentando la salida del cabezal reproductor a través de él, se ob
tenga una salida lineal (fig. 8.14).
Una consecuencia de que la salida del cabezal reproductor sea proporcional a
la frecuencia es que para frecuencias muy bajas, la salida debe ser muy pequeña y
se requiere una amplificación de ecualización muy alta. Esto también amplifica
el ruido captado por el cabezal reproductor. Una consecuencia de esto es que hay
un límite de frecuencia inferior para que el registrador pueda utilizarse. General
mente, el límite es de alrededor de 100 Hz.
La explicación anterior es lo que se conoce como registro directo. Con él se de
termina directamente, desde una señal de entrada, el flujo magnético registrado
en la cinta. Una alternativa a esto es la modulación en frecuencia, en la que la fre
cuencia de la portadora varía en concordancia con las fluctuaciones de la señal de
entrada. Por tanto, la señal de entrada se modula en frecuencia antes de introdu
Cirse en el cabezal de registro. Ya que la portadora de frecuencia es de muchos ki
lohercios, los problemas que había con las bajas frecuencias no están presentes.
Por tanto, el registro de modulación en frecuencia puede ser utilizado desde 0 Hz,
es decir, C.c. Sin embargo, el límite superior de frecuencias es menor que para el
Sistema de registro directo. Típicamente, alrededor de una tercera parte de la por
tadora de frecuencia, es decir, en la región de 2 a 80 kHz. La modulación en fre
cuencia tiende a dar mejor relación señal/ruido que cl registro directo. Particular
mente importante en la modulación en freccuencia es la necesidad de mantener la
128 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Valor positivo
Densidad de saturación
de flujo remanente
Salida de la cabeza
reproductora
Corriente
Salida
resultante
Tensión después de la
amplificación
Caracteristica
del amplificador Valor negativo
de saturación
Frecuencia
Fig. 8.15 Valores de flujo de saturación
Fig. 8.14 Ecualización de amplitud
tiene un en
límite para un registrador de cinta magnética que
frecuencia
Ejemplo 3. ¿Cuál es la la velocidad de la cinta es de 95,5
mm/s?
anchura de 5 um y
trehierro de una longitud
registrada = v/f con la mínima
Utilizando la ecuación [11], la longitud de onda la máxima frecuencia es
Respuesta. anchura de entrehierro.
Entonces,
la
de onda registrada igual a
95,5 × 10-3
máxima frecuencia =
= 19,1 kHz
SX 106
trabajar en modo di
cinta magnética ofrece, en opción, que puede quiere re
Ejemplo 4. Un registrador modulada. Oué modo habráque utilizar si la señal que se
de
recto o mediante frecuencia frecuencia de 200 kHz?
es (a) lentamente variable y (b) una señal de alta
gistrar
Registradores 129
Bit registrado
Flujo
registrado 1 1 1
-
Valor positivo
de saturación
Tiermpo
Valor negativo
de saturación
Tensión
reproducida
A Tiempo
b), Elmodo de frecuencia modulada tiene un ancho de banda que sólo se puede extender
hasta alrededor de 80 kHz, mientras que el modo de registro directo puede llegar a frecuencias mu
cho más altas. La elección será, por tanto, el modo de registro directo.
Problemas
1. Los siguientes datos pueden aparecer en las especificaciones de los registradores. Explicar su
significado.
a) Un servorregistrador de bucle cerrado
130
Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
b) Un registrador UV
Número de canales: 6
Arrastre del gráfico: 0,16 mm/s, 0,4 mm/s, 1,6 mm/s, 4 mm/s, 10 mm/s, 25
250 mm/s mm/s, 100 mm/s
c) Un servorregistrador electrónico
Tiempo de respuesta máximo: 2 s
Banda muerta de ± 0,3% del margen máximo
d) Un registrador de cinta magnética
Con registro/reproducción directa:
Tabla 8.2
Velocidad de la cinta en mm/s Banda de señal en Hz
1.524 300-300.000
762 200-150.000
381 100-75.000
190,5 100-37.500
95,5 100-18.750
47,6 100-9.300
23,8 100-4.650
Medidas de componentes
Introducción
Componente
que se quiere Red on Detector
medir puente
(a)
Método de amperimetro-voltímetro (b)
Fig. 9.2
una relación entre medidas, es decir, VII. La precisión de este método depende de
la precisión de los medidores utilizados y del efecto de carga del voltímetro (ver
capítulo 3). El amperímetro mide no sólo la corriente a través de la resistencia.
sino también la corriente que circula por el voltímetro. Laalta resistencia relativa
del voltímetro respecto a la resistencia medida, hace que una pequeña fracción de
del
corriente pase a través de él y, así, la mayor parte de la lectura de corriente
amperímetro es la corriente que atraviesa la resistencia. LOS errores de carga se
minimizan si se utilizan, en las medidas de bajas resistencias, voltímetros de alta
resistencia. Un circuito alternativo es conectar el voltímetrO tanto a la resistencia
como al amperímetro (fig. 9.2b). Entonces, el amperímetro mide la corriente a
través de la resistencia y la lectura del voltímetro encontraráel verdadero valor de
ésta. Si la resistencia desconocida es grande comparada con la resistencia del am
perímetro, entonces la lectura de tensión está muy cerca del valor verdadero. Por
tanto, este circuito es mejor para la medida de resistencias altas.
Ejemplo 1. Despreciando los efectos de carga, ¿cuál es la precisión con que una resistencia puede
medirse por el método de amperímetro-voltímetro si el amperímetro y el voltímetro tienen una
precisión de t 5%?
Respuesta. Ver el capítulo 1para una aclaración sobre la suma de errores. El porcentaje de error
en la resistencia serálasuma del porcentaje de error en la corriente y en la tensión, es decirt 10%.
Sin embargo, csto representa el pcor error posible; un valor más realista para el error es (ver capí
tulo 1, ecuación [12)
AX
\2
-=t
X
C.C. o
Fig. 9.3 El puente de Wheatstone
También significa que la diferencia de potencial entre R2, es decir, VBc, debe ser
igual que entre R4, es decir, Vpc. Como no hay corriente a través de BD, entonces
la corriente a través de R, debe ser I, ya través de R debe ser ,. Por tanto
LR, = 1,R,
Así pues
1,R =1,R =(I,R/R4)R,
RË R;
R, Ra
1x (1.002,1 1.000,3)
cambio en R,= = 0,018 2
100
Por tanto, un cambio de 0,018 2 en R,se determina por un cambio de 1,8 2 en Rg.
R R3
V, = Van-VAn = V. R, + R2
(2]
R+ R4
Si R, es la resistencia desconocida, entonces la relación entre su valor y la diferen
cia de potencial de salida V, es una relación no lineal. Cuando V, es cero, esta
ccuación es idéntica a la ccuación de equilibrio [1|.
Un cambio en la resistencia de R, a R, + &R, da un cambio en la salida de V, a
V, + V,así pues
R, + SR, R3
V,+ öV, =V. R, + `R, + Rz R3 + Ra
Como V, antes del cambio de la resistencia estádada por la ecuación (2], enton
ces
V,6R
SV, = [3)
R, + R,
Bajo tales condiciones el cambio en la diferencia de potencial de salida oV, es prO
porcional al cambio en la resistencia ôR,. El autocalentamiento limita el valor
de la tensión de fuente V; y,en consecuencia, el valor del cambio de la tensión de
salida.
Con el puente, la tensión de salida es la pequeña diferencia entre dos tensiones
grandes, es decir, aquellas entre ByD. Un amplificador se puede utilizar para am
plificar esta diferencia de tensión e, idealmente, la amplificación debería ser pro
porcional a la diferencia de tensión y no depender de los valores de las dos tensio
nes. El amplificador necesita una elevada relación de rechazo en modo común
(CMMR), siendo la señal en modo común el valor promediado de las dos tensio
nes en By D. Por esta razón, se utilizan los amplificadores diferenciales.
El análisis anterior se ha realizado con una tensión de circuito abierto entre B
y Dy sería cierto, únicamente, en el caso de utilizar un voltímetro de muy alta re
SIstencia. Sin embargo, si hay un galvanómetro de resistencia Rç entre los dos
Puntos, entonces habrá una corriente G. Esta corriente puede ser determinada
con el circuito equivalente Thévenin (fig. 9.4). La tensión Thévenin Vn,es laten
sión en circuito abierto V, obtenida anteriormente (ecuación (2). Por tanto,
electrónicas
136 Mediciones y pruebas eléctricas y
RË R3
Vn= V, [4)
R, + R2 R + Ra
R,R, RR4
RTh R+ R
+
Ra+ R
Vo
o C.C. o
Fig. 9.4 Circuito equivalente Thévenin
Vs
Ejemplo 3. Un termómetro de resistencia de platino tiene una resistencia a 0°C de 100 2y forma
con
parte de un brazo de un puente de Wheatstone. A esta temperatura el puente estáequilibrado
cada uno de los otros brazos con 100 2 de resistencia. Elcoeficiente de temperatura de resistencia
del platino es 0,0039°C-'. Cuál serála tensión de salida por °Cde cambio de temperatura, si cl ins
trumento utilizado para medirlo puede asumirse que tiene una resistencia infinita y la fuente de
tensión, con una resistencia despreciable, para el puente es de 6,0 V? La variación de resistencia
del termómetro de resistencia de platino puede ser representada por R, = Ro(l+a). donde k, es la
resistencia a la temperatura , Ry a 0°C y aes el coeficiente de temperatura de resistencia.
Medidas de componentes 137
Como esta resistencia es pequeña comparada con los 100 2 yla carga entre los terminales de salida
es cfectivamente infinita, entonces se puede utilizar la ecuación aproximada [3] que deriva de la
tensión en circuito abierto. Por tanto,
Eiemplo 4. Para el puente de Wheatstone mostrado en la figura 9.5, ¿cuál será la corriente en
desequilibrio a través del galvanómetro? La fuente de c.c. debe considerarse con una resistencia
despreciable.
so,1/ lG
500 S2
A )100n B
50 S) s001
4V
C.C.
Fig. 9.5
Respuesta. El circuito cquivalente Thévenin para el puente se muestra cen la figura 9.6. La resis
tencia equivalente Thévenin viene dada por la ecuación (5|como
50,1 50
V=4 = 6,61 x 104V
50,1 + 500 S0 + 500
138 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
500 2 500 S2
A 50 2
50,1 2
B
VTn 100 2
Fig. 9.6
Así pues, la corriente lo a través del galvanómetro viene dada por la ecuación (6] como
6,61 × 104
lG= -=3,46 X 10A
Rz; + RG 90,99 + 100
2 3
V.
-O C.C.
Fig. 9.7 Compensación para conductores
en la resistencia del conductor ocurren igualmente en los dos brazos del puente y
se cancelarán si R, y R, son del mismo valor.
El extensímetro de resistencia eléctrica es otro transductor con el que se
realiza la compensación de los efectos de la temperatura. El extensímetro cam
bia la resistencia según la deformación aplicada. Desgraciadamente también
cambia la resistencia si la temperatura cambia. Una forma de eliminar los
efectos de temperatura es utilizar un extensímetro ficticio. Este es idéntico a uno
bajo deformación, el extensímetro activo, pero no está sujeto a deformación.
Sin embargo, estáa la misma temperatura que el extensímetro activo. Por tanto,
un cambio de temperatura causaráen ambos extensímetros un cambio de resis
tencia en la misma cantidad. El extensímetro activo se monta en un brazo del
puente de Wheatstone y el extensímetro ficticio en otro brazo, de tal manera
que los efectos de temperatura produzcan cambios de resistencia que se anulen
(fig. 9.8).
Los extensímetros se utilizan, a menudo, como transductores secundarios, es
decir, para convertir la salida del transductor inicial en una forma más útil. Por
ejemplo, un indicador de presiones sufre una deformación elástica como resultado
de fuerzas y esta deformación elástica puede convertirse en un cambio de resisten
Cia por extensímetros conectados al indicador. En tal situación, los efectos de tem
peratura en los extensímetros tienen que estar compensados. Aunque se podrían
uilizar extensímetros ficticios, una solución mejor es utilizar cuatro extensíme
tros, Dos de ellos están conectados al indicador de presiones de tal forma que es
140 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Extensimetro activo
Extensimetro
Extensíme
tro ficticio ficticio
Extensimetro
activo
-o C.C. O
En tracción En compresión
En En
En tracción
En tracción compresión
compresión
-0C.C.
Indicador de presiones
activos
Fig. 9.9 Puente extensométrico de cuatro brazos
Una modificación del puente de Wheatstone que puede ser utilizada para la
medida de resistencias de pequeño valor, inferiores a 1 2, es el puente doble de
Kelvin. Con las pequeñas resistencias es necesario obtener una definición precisa
de la resiste ncia medida mediante resistencias de cuatro terminales (fig. 9.10). Dos
de estos terminales definen los puntos entre los que se suministra la corriente y los
otros dos terminales determinan ladiferencia de potencial. La figura 9.11muestra
el montaje del puente doble de Kelvin. RË es la resistencia que se quiere medir y
R,es una resistencia estándar de aproximadamente el mismo valor. La resistencia
del conector que une las dos resistencias R, y R, es r. Las resistencias R,R,, r,y
Fa, son, R;y r; o Ryy r, variables con la relación entre sus resistencias según
R;
(8]
R4
Corriente
H.
Diferencia de potencial
Fig. 9.10 Resistencia de cuatro terminales Fig. 9.11 Puente doble de Kelvin
Utilizando la transformación delta estrella, la parte delta del puente puede trans
formarse cn estrella para dar el circuito equivalente mostrado en la figura 9.12,
Con
R, = R,R, Rzr4r
R4 r3 +r4 +r
RzR, R3
R4 r; +r4 +r R4 [9]
RzR,
R, = [10]
R4
R2
Ejemplo 5. Un puente doble de Kelvin, como el de la figura 9.11, se utiliza con R/R, = rlr, En el
equilibrio, RË = 100 S2, R, = 9,7 2 y R, = 0,1 2. ¿Cuáles el valor de la resistencia R,?
Respuesta. Como RJR, = ryr, la ecuación [10] puede usarse para la condición de equilibrio. Por
tanto.
Soporte aislado
R,
Resistencia
Resistencia
de pérdidas Rg de pérdidas R,
Placa de metal
Punto de protección
Fig. 9.13 Resistencia de tres terminales
A Detector
oC.a. o
Fig. 9.14 Puente protegido Fig. 9.15 Puente de c.a. básico
144 Mediciones y pruebas eléctricas y clectrónicas
Puente de c.a.
Z0, =I,Z20:
[11]
[12]
es decir, la suma de los ángulos de fase de los brazos opuestos debe ser la misma.
Medidas de componentes 145
,o anterior representación de las
impedancias se conoce como
Unanotación alternativa es la representación de impedancias comonotación polar.
la suma de un
órmino real y un término complejo, es decir, R + jX donde R es la resistencia
V os la
reactancia. El módulo de la impedancia seráVR' + Xy la fase ¢es arc tg
YIR Con esta forma de representación la ecuación (11]pasa a ser
RË+jX, R, +jX,
R+ jX, [14]
R, +jX4
Esta ecuación puede ser reescrita para dar la suma de un número real y un nú
mero imaginario en cada lado de la igualdad. Para dos números complejos una
igualdad significa que tanto su parte real como su parte imaginaria deben ser igua
les. Por tanto, esta será la notación compleja de la condición de equilibrio.
Hay muchas variaciones del puente de c.a. básico; las siguientes son algunas de
las más comunes con la interpretación de las condiciones anteriores para el equili
brio de cada uno de los puentes.
Ejemplo 6. Para el puente de c.a. mostrado en la figura 9.15, las impedancias son Z= 100 80°
Q, Z,= 200 S2 y Z4= 400 Z 30° 2. ¿Cuál es el valor de Z, en el equilibrio?
Respuesta. Los productos de los módulos de los brazos opuestos deben ser iguales. Por tanto,
reactancia
Q= [16]
resistencia
Puente de Maxwell-Wien
la
Elpuente de Maxwell-Wien (fig. 9.16) se utiliza para la determinación de
inductancia y la resistencia de los inductores y es utilizado, sobre todo, para
Para escribir la
aquellos que tienen un factor Q medio, es decir, entre 1 y10.
ecuación de equilibrio, el primer paso es escribir cada impedancia en notación
paralelo con un con
compleja. Por tanto, como Z, consiste en una resistencia en
densador
1 1
-+joC;
R
R,
Z=
1+ joC,R,
es un inductor que tiene
LyZ3 son resistencias puras con Z, = R, y Z, = Ra. Z, que deben determi-
tanto resistencia como inductancia, siendo estas cantidades las
narse. Por tanto,
Z, = Ry t joL4
Medidas de componentes 147
Z2
Z3
Z,=
RR(1 + joC,R)
R4 + joLy =
R,
Para las partes reales,tenemos una condición de equilibrio de
R,R3
R,= [17]
R,
Para las partes imaginarias
L4 = RzR;Ci [18]
Las condiciones de equilibrio son independientes de la frecuencia de la fuente
del puente de c.a. El puente se utiliza ampliamente para la determinación de la re
SIstencia en serie R vla inductancia L de un inductor. Usualmente, el procedi
miento consiste en ajustar R. para obtener el mejor equilibrio, entonces se
retoca
y Rz de nuevo hasta que se logra la condición final de equilibrio. EI factor Q
para el inductor es
R4 oR,R,Ci=
R,RJR, oR,C1
|19)
148 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Ejemplo 7. Un puente de Maxwell con una fucnte de c.a. de 1 kHz se utiliza para determinar la
inductancia en serie con una resistencia de un inductor. En el cquilibrio, losbrazos del puente son
AB con 2,0 uF en paralelo con 10 kS, BC con 200 2, CD con el inductor, y DA con 300 2. ¿Cuál es
la inductancia, la resistencia en serie y el factor Q del inductor?
Respuesta. Utilizando las ecuaciones [17], [18] y (19]
RR, 200 × 300
R, = = 6,0 Q
R, 10× 10
Puente de Hay
Z4 = Ry + joLs
Z
Z
Z,=
RzR,
R4 + joLs =
R-(j/oCi)
La jR4
R4R, + +joLR, -= R,Rg
C
Igualando los términos reales, da
LA
RR + -= R,Rg (20]
C
oR,R, 1
[24|
Q= oRC1
R4 R,R,R;C;
150 Mediciones y pruebas eléctricas y electronicas
Respuesta. Elfactor Q del inductor viene dado por la ecuación (24] como
1
Q= = 16,8
oC,R 2Tt X 1.000 X 0,1 × 10x 95
Por tanto, se puede utilizar la ecuación simplificada para el equilibrio. Así pues, utilizando la ccua
ción (26]
L,= RR,C, = 900 x 500 X0,1 x 10=45 mH
Puente de Owen
El puente de Owen (fig. 9.18) se utiliza como puente de alta precisión para la
de la inductancia y la resistencia de inductores. Escribiendo cada impe
medida
dancia en la forma compleja, se tiene
1
Z,=
joC1
Z= R;
1
Z, = Rz + = R3
joC,
Z4 = Ry+ joLs
Medidas de componentes 151
impedancias
Así pues,en el equilibrio de
Z,Z,
Z4=
Z
C;R2
R,+ jol, =joC;Ra|R = joC,R,R, +
R4=
C;Ry [27]
C
A2
RA C
Z
Z,Z,
Z,=
R3
R4 R, -
R,
R4 =
RzRz
R
(29]
[301
Respuesta. Uilizando la ecuación
CzR, S00 X 10-12 × 7 × 10
C,= -= 350 pF
R 10 × 10
RR 10 X 10x 160
R4= = 229 Q
R. 7× 10
Puente de Wien
C4 = (R/R)C,
1+ oR;C [35]
R4=
R,(1 +aR;C})
oRR, Ct (36]
D= oCR,
[37|
R2
CA
Puente de Schering
El puente
de Schering (fig. 9.22) se utiliza para la medida de condensadores ense
términos de una capacidad pura en serie con una resistencia y, generalmente,
condensadores con factores de disipación muy bajos. Las condiciones
utiliza para
se derivan de la misma manera que para los puentes anteriores, yson
de equilibrio
R,C [38]
CA=
R3
R,C;
R4= [39)
D= oCR [40]
Eiemplo 10. Un puente de Schering tiene una 20 fuente de c.a. de 10 kHz y, en el equilibrio, los bray
serie
10pF y R, 2. ¿Cuáles la capacidad, la resistencia en
20s tienen R, 1.050 S2, C, 205 pF; C;brazo?
el factorde disipación en el cuarto
N, V,
N, V,
Puentes transformadores
kN,
I,=
ylacorriente I, a través de Z, es
kN,
h=
Z
Para que no haya corriente a través del detector, I, debe ser igual a b, así pues
Ni N,
N,
N,
[41]
N,R,
R, = [42]
N,
Para medidas de capacidad, Z, puede ser un condensador desconocido con capaci
dad C, y una resistencia en paralelo R,, y Z, un condensador estándar C, con una
resistencia variable en paralelo R,. Por tanto
1 1
+joC, =
1+ joC,R,
R, R,
1 1
+ jC, = 1+jC,R,
R, R,
Asi pues, en el equilibrio, la ecuación [42]puede escribirse como
1
y así
1+joC,, 1+ joC,R,
R, R.
158 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
N,R,
R,= [43)
N
1 1 1 1
R, joL, R,
1 1
-joC,
R,
Elsigno menos en la ecuación anterior aparece al realizar la conexión inversa. Por
tanto, la ecuación de equilibrio [42] puede escribirse como
1 N, 1
Z N,
1 j
R, oL,
Así pues, igualando los términos imaginarios
1 NzacC,
N,
NË [45]
N,aC,
Igualando los términos reales
NR, [46]
R, =
N,
Medidas de componentes 159
L,=: N
=0,10 H
NyaC, (2 T X 10) × 2,50 × 109
NR,
R, = = 180 S2
N,
Medidor de Q
Q= [48]
aCR
donde a, es la frecuencia de resonancia. La corriente de resonancia Io en el cir
cuito, se determina solamente por la resistencia del circuito R y, por tanto, es VJR.
Medidas de componentes 161
Vc
Fig. 9.28 Circuito resonante serie
La tensión en los terminales del condensador es, por tanto, el factor Q multipli
cado por V, Lamedida de esta tensión es la base del medidor de O.
La figura 9.29 muestra una configuración básica de un circuito medidor de O.
Un oscilador pasa la corriente a través de una resistencia muy baja, del orden de
0.02 2,que estáen el circuito resonante. La diferencia de potencial en los termi
nales de esta resistencia actúa como fuente de tensión V, con una resistencia in
terna muy baja. Esta fuente es un circuito serie RLC que puede sintonizarse a la
frecuencia de resonancia mediante un condensador variable; el circuito mostrado
en la figura 9.29 es un montaje adecuado para la medida de inductancias. La ten
sión en los terminales del condensador variable Ve se mide mediante unvoltímetro
electrónico que tiene una escala que proporciona directamente los valores del fac
tor Q. Sin embargo, Vc es sólo el valor de Qcuando V, sea 1. Por tanto, los valores
dados se han de multiplicar por el factor indicado por el medidor utilizado para
medir V,. Este es, usualmente, un medidor de termopar y tiene una escala que da el
factor por el cual elvalor de Ve debe ser multiplicado. La inductancia del inductor
desconocido se puede determinar por el hecho de que, en condiciones de resonan
cia, la reactancia del inductor es igual a la reactancia del condensador. Por tanto,
1
[50]
aC
Inductor desconocido
L,
Oscilador
Resistencia
muy pequeña
Fig. 9.29 Circuito de medidor Q
162 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Así pues, conociendo el valor del condensador variable y la frecuencia de Poe
nancia, se puede calcular la inductancia. Se asume que la única inductancia siestet
cativa en el circuito es la correspondiente al inductor. Esta es una aproximacik
razonable si la inductancia que se quiere medir es grande. La resistencia del in
ductor puede ser determinada en función del factor Q del circuito, ya que ella
constituye, virtualmente, toda la resistencia del circuito en serie:
1
aL = -= QR, (51|
1
,=
aC;R
Oscilador Vc
impedancias
Fig. 9.30 Medida de pequeñas
Medidas de componentes 163
Qi0C-CG)
Q,= [54)
Ce-C,e.
Por tanto, las ecuaciones [52]. [53] y (54] pueden utilizarse para determinar la ca
pacidad, la resistencia de pérdidas y el factor Q del condensador desconocido.
Si el componente desconocido es un pequeño inductor en lugar de un gran
condensador, entonces se puede proceder de forma similar, sintonizando el cir
cuito del inductor desconocido cortocircuitado ydespués con él en el circuito. En
tonces
C;-Co
L,= [5S]
R,= [56]
Vs R C
Oscilador
RQla,Ci
R+ Q/a,C
Rl1
a,CR, + 21
(58]
R,= a,C(e,-Q)
1
f=
2 nVLC
a C. Como éstos puede
e es la capacidad total del circuito debida a C, y
Considerarse que están, efectivamente, en paralelo, entonces
1
f=
2nVL(C, +C)
ajustando
La obtiene otra vez la resonancia
frecuencia
el condensadorse variable.
sitúa entonces
Si ésteen
2f y se
tiene un valor de C, entonces
1
2f =
2 nVL(C, + C)
166 Mediciones v pruebas eléctricas y electrónicas
Por tanto
2 1
Ejemplo 13. Un inductor se quiere medir con un montaje en serie de un medidor de Q. Se obtiene
la resonancia a una frecuencia de 2 MHz, con el condensador variable ajustado a 500 pF. Con una
frecuencia de resonancia de 4 MHz se obtiene un valor para el condensador variable de 120 pF.
¿Cuál es la autocapacidad del inductor?
Respuesta. Utilizando la ecuación [61]
dnnde kes una constante, de hecho, la diferencia de potencial por unidad de lon
ud del potenciómetro. Esto puede determinarse repitiendo la operación de
equilibrado con una pila patrón de f.e.m. E,. Entonces
E, = kL,
Batería f.e.m. E
de trabajo
desconocida
Potenciómetro
O
Potenciómetro
longitudes de equili
(fig. 9.34). La relación de las resistencias es la relación de las
brio.
Puentes automáticos
Problemas
resistencia puede medirse utilizando el
1. Despreciando la carga, estimar la precisión con que unatienen unas precisiones de ± 1%.
método de amperímetro-voltímetro, si los medidores utilizados
para la medida de
2. Explicar por qué, cuando utilizamos el método de amperímetro-voltímetro
resistencias, se desea un voltímetro de alta resistencia si se quiere obtener una precisión razonable.
método de amperime
3. ¿Qué factores limitan la precisión con que se mide una resistencia con el
tro-voltímetro?
2 en el brazo
4. Un puente de Wheatstone de c.c. tiene resistencias de 20 Q en el brazo BC. 500
CD5.y200 Slen el braz0 AD. ¿Cuál será la resistencia en el brazo AB siel puente está equilibrad
Un puente de Wheatstone de c.c. tiene una fuente de 6.0 V conectada entre los puntos A y
¿Cuál será la diferencia de potencial entre los puntos B y D cuando las resistencias en los brazos
puente sonAB 10 S2. BC20, CD 60 2y AD 312?
6. Un puente de Wheatstone de c.c. tiene una fuente de 5,0V conectada entre los puntosdelAgalva-
un galvanómetro de resistencia 50 2 entre los puntos By D. ¿Cuál será la corriente a través
nómetro cuando las resistencias de los brazos del puente son AB 120 2, BC 120 2, CD 120 S2)
120.1 2?
7. Un pucnte de Wheatstone tiene una fuente de tensión de 5 Vy una resistencia interna d está
ciable y un galvanómetro de sensibilidad de corriente de 5 mm/uA y resistencia 100 2. EI puente
200 2.
inic1almente cquilibrado
DA 100 2 ;Cuál será lacuando las oresistencias
deflexión desviación de brazos
los por
dada el son AB 1.000 cuando
galvanómetro 2, BC 2.000 S2 , CD en el
la resistencia
brazo BCcambia cn 5 SQ?
Medidas de componentes 169
Medida de potenciayenergía
Introducción
Esta potencia se conoce, a menudo, como potencia verdadera, con el cos o llamado
jactor de potencia. Cuando la corriente se retrasa con respecto a la tensión, el fac
ten
tor de potencia se dice que es en retardo y cuando la corriente adelanta a la
Sion, se conoce como en adelanto. El producto de los valores eficaces de la co
rriente y la diferencia de potencial se conoce como potencia aparente o producto
voltio-amperio. Por tanto, la ecuación [1] puede escribirse como
potencia verdadera = potencia aparente X cos o (2]
Bobina fija
Bobina móvil
Bobina fija
Potencia
aparente V/
Potencia
reactiva
Potencia real
Fig. 10.1 Tri£ngulo de potencia Fig. 10.2 Vatímetro para una carga monofásica
Vatímetro monofásico
6. Básicamente, el instrU
El principio del dinamómetro se estudió en el capítulo
magnético producido por un par
mento consiste en una bobina móvil en un campo
amperímetro o voltímetro las bobinas fi
de bobinas fijas. Cuando se utiliza como
utiliza para medir disipación de poten
jas y móvil se conectan en serie. Cuandosese conectan en serie con la carga del cir
cia(fig. 10.2) las bobinas estacionarias corriente.
a la
medir y, así, el campo magnético producido es proporcional con la carga
CUito a resistencia en serie, se conecta en
paralelo
La bobina móvil, con una medida de la diferencia de potencial en
através de ella es una pro
y, así, la corriente la deflexión angular de la bobina
móvil es
terminales de la carga. Como deflexión angu
los
de corrientes en las bobinas móvil y fija, la Teóri
porcional al producto diferencia de potencial.
proporcional al producto de la corriente y lainstantánea, pero la inercia del
lar es responde a la potencia potencia.
camente, el instrumento instrumento lo sea al promedio de
Sistema hace que la respuesta
del (fig. 10.3). En la ti
formas a un circuitopotencial
conectarse de dos en los ter
Elvatímetro puede una medida de la diferencia de
gura 10.3a la bobina móvil
da
carga, midiendo las bobinas fijas justamente la
minales de las bobinas fijascarga. y de la 10.3b, la diferencia de potencial es.
En la figura es aquella
corriente que atraviesa laestáen los terminales de la carga y la corriente carga, R,, la resis
Justamente, aquella que móvil y la carga. SiI, es la corriente de entonces con el
que atraviesa la
bobina
R,la resistencia de las bobinas fijas, la caída de po
móvil y debido a
tencia de la bobina lectura alta de potencia vatímetr
dará una I;R, y con (b) el
Circuito (a) el vatímetro de las bobinas fijas, es decir, atraviesa la bobina mo
en los terminales corriente que
lencial potencia debido a la lectura alta. Elerror se
dará unalectura alta de ambos casos el vatímetro daráuna
En
Vil, es decir, V}IR.
Medida de potencia y energia 173
Bobina fija
Bobina fija Bobina móvil
Bobina móvil
Alimentación Carga
Alimentación Carga
(a) (b)
Fig. 10.3 Conexiones del vatímetro
minimiza siel circuito (a) se utiliza para cargas con bajas corrientes y altas tensio
nes y el (b) para cargas con altas corrientes y bajas tensiones.
Este error puede solucionarse utilizando un vatímetro compensado (fig. 10.4).
Con tal medidor, cada una de las bobinas fijas tienen dos arrollamicntos con el
mismo número de vueltas. Un arrollamiento utiliza un hilo grueso y transporta la
corriente de carga; el otro es de hilo más delgado y se conccta en serie con la bo
bina móvil y, por tanto, transporta la misma corriente que esa bobina. Esta co
rriente de la bobina de tensión está, sin embargo, en la dirccción opuesta a la
corriente de carga que atraviesa las bobinas fijas y cancela la proporción de flujo
magnético debido a la corriente de la bobina de tensión. Por tanto, el vatímetro
indica la potencia correcla.
Los vatímetros se pueden utilizar para medidas de potencia tanto en C.c.
en c.a. hasta alrededor de 2 o 3 kHz, no estando afectados por la forma de la
como
de la tensión o la corriente. Pueden utilizarse para tensiones hasta 300 V y
onda
co
rrientes de 20 A, con una precisión de alrededor de t 0,1 a 0,5% de la desviación a
fondo de escala.
Bobina móvil
CargY
Alimentación
en el mismo vástago, pero con un ángulo recto entre cllas (fig, 10.5). Üna de las
bobinas tiene un inductor en seric con ella y se conccta entre los terminales de la
carea: la otratience una resistencia en serie y también se conectaentre los termina
les de la carga. Las corrientes en las dos bobinas son iguales cn módulo, pero des.
plazadas en el tiempo 90°. Las bobinas fijas se concctan en serie con la línca de la
fuente y, así, responden a la corriente de línca.
Retraso Adelanto
Bobinas cruzadas
0,9, 0.9
0.840,8
2
Bobina fija Bobina fija
Alimentación |Carga
bobinas cruzadas
Fig. 10.5 Medidor del factor de potencia de
serie con el
potencia de 1, la corriente en la bobina móvil en otra bobina
Para un factor de la
fase con la corriente de línea y la corriente en planopa
inductor (1) estará en
Consecuentemente, la bobina 1 girará hastael corriente
(2) estará desfasada 90°. bobinas fijas. Para un factor de potencia de 0, la
corriente de
ralelo que contiene a las resistencia (2) estaráen fase con la consecuen
en serie con la En
tendráun desfase de 90°.Para otro factor
en la bobina móvil bobina (1)
en la otra bobinas fijas.
línea y la corriente hasta el plano paralelo con las posición intermedia y, por
girará alguna
cia,la bobina 2 deflexión de las bobinas seráenpotencia. La deflexión del vástago
de potencia, la factor de que señala
obtendrá una medida del quedapatente mediante una agujapotencia; en
tanto, se factor de
están montadas las bobinas da lecturas directas del adelanto del factor de
donde escala. La escala retraso y el
una indicándose el
elresultado en la lectura es 1,
central
la posición uno uotro lado de la escala.
potencia hacia
k,k,vi
Valor
k,v medio vi
Desmulti
plicación Multiplicador Promediador Visualizador
de entrada
k,i
Fig. 10.6 Vatímetro electrónico
Vatímetro trifásico
la
Cuando hay una carga equilibrada con un sistema trifásico, es posible medircarga
potencia total consumida con la utilización de un vatímetro simple. Con una
cada ele
equilibrada, la potencia total es la suma de la potencia consumida por hacer ta
mento de carga. La figura 10.7 muestra cómo utilizar un vatímetro para
total
les medidas con una carga equilibrada conectada en estrella. La potencia
consumida por la carga es, por tanto, tres veces la lecturadel instrumento.
Bobina de corriente
Bobina de tensión
Lm
vatimetros
Fig. 10.7 Medida de potencia con una Fig. 10.8 Método de los tres
carga equilibrada
176
Mediciones ypruebas eléctricas y clectrónicas
R.
R
Vos'
Vas
Vas
30°
B
-Ves
Y
P Diagrama de
fasores con un
Fig. 10.10 potencia
factor de
retraso en el
vatimetros
dos
Método de los
Fig. 10.9
Medida de potenciay energia 177
La tensión Vyn es Vys - Vns y se indica en la figura 10.11. Para un sistema equili-
o1enemos,por tanto, un ángulo de fase de 30° entre Vyn y Vys ycomo el án
entonces
gulo de fase entre Vys e y es o,
P, = VI, cos(30° + )
=V (0,87 cos - 0,5 sen ) (S]
Por tanto, lasuma de las lecturas de los vatímetros es, utilizando las ecuaciones (4)
y(5),
P, + P, = V, I, (0,87 cos + 0,5 sen + 0,87 cos -0,5 sen )
=/3 V, cos ¢ [6]
30
Vys
Sta es la potencia total que debería ser consumida por una carga equilibrada. Por
tanto,
potencia total = P, + P [7]
es decir, la suma de las dos lecturas de los medidores es la potencia total consu-
mida.
La
nes [4] ydiferencia
[5],
entre las dos lecturas de los vatímetros es, utilizando las ccuacio-
i-P= V, , (0.,87 cos o+ 0.5 sen 0,87 cos + 0,5 sen 0)
= V, l,sen
178 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Q=V3L, V, sen o
Por tanto,
Q= 3 (P, -P)
El valor del factor de potencia cos puede obtenerse como sigue. Dividiendo
la ecuación 8|por la ecuación 6], se obtiene
tg ¢ P -P
[10]
V3 P, + P;
Pero como cos² +sen' =1, en consecuencia, cuando se divide por cos´
1
1+ tg² =
cos² ¢
Así pues
P -P 1
1+3
P + P2 cos
1
[11]
cOs =
(Pi- P)]2
(P, + P)
las dos lecturas de
cos puede, por tanto, obtenerse con
EIfactor de potencia
los vatímetros.
sistema de carga
mnedir la potenciaconsumida por un kW y- 30 kW.
utilizan para
medidor dio lecturas de 50
Ejemplo 1. Dos vatímetros se figura 10.9). EI
(como en la
equilibrado con tres hilosconsumida y el factor de potencia?
¿Cuáles la potencia
total medidores (ecuación [7]).
suma de las lecturas de los ecuación [1]
potencia total consumida es la
factor de potencia viene dado por la
Respuesta. La 30 = 20 kW. EI
tanto, la potencia total es 50 -
Por
Como
=0.14
1
2
cOs = (50 + 30)
|2
(P - P) (50 30)
(P, + P)
Medida de potenciayenergía 179
Medidor de vatios-hora
Freno
Amagnético
Cobre
Disco rotativo
de aluminio
Bobinas de corriente
Bobinas de corriente
Medidor de vatios-hora
Fig. 10.12
180
Mediciones y pruebas cléctricas yelectrónicas
donde k, es una constante y N el número de
En el equilibrio, los pares
generados y de frenado revoluciones por unidad de tiempo
son iguales y, por tanto,
ky = k, VI cos
La velocidad de rotación del disco es, por tanto,
la potencia verdadera. El eje del disco se conecta proporcional a VIcos , es decir
tador mecánico que da, por tanto, una cantidad mediante un engranaje a un con
proporcional a los vatios-hora,
Problemas
1. Explicar cómo el electrodinamómetro se puede utilizar como
2. Explicar el vatímetro.
principio del vatímetro compensado y por qué es necesaria tal
3. Un vatímetro
lectura a media escala? electrodinamométrico da a fondo de escala una lectura de compensación.
100 W. ¿Cuál serála
4. Se utilizan dos
vatímetros para medir la potencia consumida por un sistema equilibrado de
carga de tres hilos (como en la figura 10.9). Los medidores dan lecturas de 7 kW y 3 kW. Encontrar la
potencia total consumida y el factor de potencia.
5. Describir los principios de operación del contador eléctrico
minar la cantidad de energía eléctrica consumida en cualquier hogar.doméstico que se utiliza para deter
6. Un vatímetro electrónico incluye en sus
600 ms. Explicar el significado de este término.
especificaciones el término régimen conversión de
Capitulo 1l
Osciloscopios
Introducción
electrónicos nor
Elosciloscopio de rayos catódicos es uno de los instrumentos
malmente más utilizados. Trabaja basándose en el principio de un haz electrónico
fósforo de un tubo de ravos
que «pinta» sobre una pantalla con recubrimiento de
catódicos. La pantalla tiene la forma de un gráfico bidimensional que muestra
cómo la señal varía con el tiempo o con alguna otra señal. El osciloscopio es, esen
cialmente, una forma particular de voltímetro. Sin embargo, componentes adicio
nales hacen posible la utilización del osciloscopio como algo más que un voltíme
tro con pantalla.
Este capítulo considera las configuraciones típicas de los osciloscopios y sus
subsistemas, además de realizar una indicación de los tipos de medidas para los
que pueden utilizarse. Los osciloscopios pueden dividirse en dos categorías princi
pales: osciloscopios en tiempo real y en tiempo no real. Los osciloscopios de
uempo real muestran en sus pantallas qué está sucediendo en ese instante en al
rá
gun circuito y se restringen, generalmente, a la observación de formas de onda
pidas yrepetitivas. Los osciloscopios que no trabajan en tiempo real permiten la
OOservación de formas de onda no repetitivas almacenando los datos de la forma
e Onda Omuestreándola y reconstruyendo posteriormente la forma de onda.
El osciloscopio básico
Un Osciloscopio básico se puede representar como una serie de subsistemas in-
terconectados, como en la figura 11.1. Estos subsistemas son:
1. El sistema de visualización, es decir, el tubo de rayos catódicos que con-
vierte las señales de deflexión vertical yhorizontal en desplazamiento de un punto
tluorescente en la de deflexión vertical, que es una entrada que produce una defle-
2. El sistema pantalla.
xión en la
pantalla en la dirección vertical.
182
Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Subsistema de defiexión vertical
Voltios/div.
Posición vertical
Entrada
vertical -
Atenuador
calibrado Amplificador
vertical
Tubo de rayos
catódicos
Entrada Generador
de disparo Disparador de base
|Amplificador
externo de tiempos horizontal
Entrada Tiempo/div.
horizontal o Posición horizontal
externa
Subsistema de deflexión horizontal
A todos los circuitos
Fuente de
alimentación
Placas de deflexión Y
Cátodo
Control de brillo Placas de deflexión X
Filamento
Lente electrónica
Pantalla
Ánodo acelerador
Bobinas de deflexión X
Vacío Ánodo
preacelerador
Bobinas para
la deflexión Capa conductora
magnética
Bobinas de deflexión Y
puede desviarse en
dor, ánodo y lente se conoce como cañón electrónico. El haz
dirección vertical () mediante una diferencia de potencial aplicada entre las pla
deflexión X
cas de deflexión Y. Una diferencia de potencial entre las placas de
originará la deflexión horizontal (X). En algunos tubos de rayos catódicos, el haz
de
Se desvía mediante entradas Yy X que se aplican a bobinas situadas a cada uno
los lados del tubo y, así, el haz se desvía como resultado de sus campos magneti
Cos. El sistema de deflexión electrostática se limita a proporcionar deflexiones de
detlexIones
unos 40°, mientras que el sistema de deflexión magnética puede daradicional.
hasta unos 110°. Tras la deflexión a veces hay un sistema acelerador Tal
aveleraciÑn postdeflexión se utiliza porque con un sistema de deflexión electrosta
cd de alta sensibilidad se reguiere que la velocidad de los electrones sea baja al
Pasar entre las placas. Sin embargo. para obtener un punto brillante en la pantald,
eS necesario que los electrones tengan altas velocidades. Iuz
Josjoro utilizado como material de recubrimiento de la pantalla emite
rápidamente al recibir el
fósfo golpeado por los electrones, La luz responde excitación del fós-
impacto del haz electrónico; la luz emitida durante la deja de incidir so-
foro se como fluorescencia. Cuando el haz
electrónico
bre el conoce de tiempo antes de
fóstoro, la luz continúa emitiéndose durante un periodo
Caer a cero, esta luZ se tiempo que tarda la luz en
conoce como fosforescencia. El conoce como tiempo de
caer a algún valor especificado desde su valor inicial se ex-
desde el principio de la
desvanecimiento
citación fósforo
del
o persistencia. El tiempo
hastatiemp0
de persistencia se llama 90%
transcurrido
de la máxima intensidad más el tiemp0
alcanzarde elescritura. Para que una pantalla dé una repre-
refresquc mediante
Sentación
el
que el fósforo se
libre de fluctuaciones es necesario su tiempo de desvanecimiento. Por
bombardeo
tanto,
una
de electrones antes del final de
una persistencia corta del fósforo requierepersistencia
recuente que
un refresco más del fósforo
elevada
persistencia prolongada. Sin embargo. una
184 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Tabla 11.1
Características de fósforos utilizados normalmente
Color de Persistencia Luminancia Velocidad
al nivel 10%
Fósforo fluorescencia relativa de escritura
(ms) (%) relativa (%)
P1 amarillo-verde 95 50 20
Comentario
P4 blanco 120 50 40
Sustituido principalmen
te por P31
P7 azul* Pantallas TV
1.500 35 75
P11 azul
Pantallas de retardo pro
P31 amarillo-verde
20 15 100 longado
32 100 50
Fotográfico
P7 tiene un color Uso general
fluorescente de azul que gira a
fosforescencia amarillo-verde.
Una señal aplicada en las placas de deflexión Yhace que el haz electrónico, y
por tanto el punto en la pantalla, se mueva arriba y abajo en la dirección vertical.
El subsistema de deflexión vertical consiste en un selector de entrada, un atenua
dor conmutable, un preamplificador, el amplificador principal yuna línea de re
tardo (fig. 11.3). Elselector de entrada pasa la señal de entrada al atenuador y po
sibilita que una señal de entrada de c.c. pase directamente al atenuador, mientras
bloquea
que una señal de entrada de c.a. pasa a través de un condensador que la
para cambiar
cualquier componente de c.c. El atenuador conmutable se utiliza sensibi
y, así, obtener diferentes
magnitud de la señal alimentada al amplificador constante en todas las configura
lidades de deflexión, Se necesita dar una carga
frecuencias. La impedancia de entrada
ciones y una atenuación igual en todas las capacidad de alrededor de 10-100 pF.
es, típicamente, de 1MQ con un shunt de
proporcionar una ganancia constante. Estos,
Los amplificadores se utilizan para producen sensibilidades que, para un oscilos
junto con el atenuador conmutable,
Línea de retardo
Entrada
C.C. Atenuador Preamplificador Amplificador Tubo de
conmutable
rayos
C.a. catódicos
Sobreimpulso
regimen
100F
de 808 90%
tensión
60
la
de 40
%
20
10%
Fig. 11.4 Tiempo
0.35/(15 x 10°) = 23 x 10 s
es decir, 23 ns.
Tensión
Tiempo
Tonsión
de ontrada Tiempo
Impulso del
circuito de disparo
Tiempo
Tensión de base
de tiempos
Tiempo
Tiempo de espera
Fig. 11.6 Disparo
Sondas de osciloscopio
hunque las entradas del osciloscopio pueden conectarse al circuito a medir
mediante un simple trozo de cable, esto tiene la desventaja de que se introducen
interferenci
cuito debidoas y también que puede perturbar el funcionamiento normal del cir-
a la osciloscopio. Esta carga es, típicamente,
del orden de 1 MS2 carga impuesta por el
Con un shunt de 10-100 pF. Utilizando cable coaxial para hacer
las conexiones se puede proteger contra la captación de señales de interferencia.
pero no se evita el problema de carga. En realidad, la capacidad extra del cable
Coaxial incrementa la carga capacitiva. Un cable de baja capacidad de 1l mde lon-
gitud puede añadir alrededor de 60 pF y producir una capacidad de entrada del
orden
la de 100 pF o más. Tal capacidad tiene unareactancia tan baja como 160
2 si
frecuencia es de 10 MHz y, así, los efectos de carga pueden ser muy significati-
vos. Es deseable,
particularmente para medidas en altas frecuencias, que la carga
capacitiva sea
Para evitarmenor de 20 pF. se utilizan las sondas de osciloscopio. Sus requeri-
esoS problemas,
mientoS SOn:
188
Mediciones v pruchas clécricas v clectrónicas
I.
iransmitir una precisa representación dc la senal del circuito
punta de la sonda a la entrada del desde Ia
2. osciloscopio:
evitar que cl osciloscopio cargue
secuentemente. produzca errores de carga:indebidamente fucnte de señaly, con.
la
Entrada Cable
Cabeza Salida hacia
de la sonda Terminación
el CRO
Cabeza de la sonda
Entrada al
Punta Cable coaxial CRO COaxial
de la sonda
(a)
9 MQ Capacidad
del cable
C 1MO
(b)
total en la entrada es C + Co. Esto tiene una reactancia de 1/ o(C. + C,) y. así, de
bemos tener
1/oC
1/o(C + Co)
9 Ce + Co [3]
1
Condensador
de compensación
compensación
Fig. 11.9 Sonda 10 a 1 con condensador de
190
Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
barse observando una onda cuadrada de entrada en la sonda. Cuando las capaci
dades están correctamente configuradas, la onda cuadrada tienc csquinas cuadra
das (fig. 11.10b). Si (C, + C + C,) es menor de 9C, entonces las esquinas de la
onda cuadrada se redondean (fig. 11.10a); si son mayores, las esquinas muestran
un sobreimpulso (fig. 11.10c).
Las sondas activas tienden a tener un pequeño amplificador que utiliza transis
tores de efecto de campo introducidos en la cabeza de la sonda. Esto posibilita
que la sonda y el osciloscopio presenten una alta impedancia frente a la fuente de
señal de entrada, típicamente de alrededor de 10 M2 con un shunt de 0,5 pF y las
hace muy úiles cuando se necesita una longitud de cable muy grande. Sin em
bargo, los transistores de efecto de campo limitan el margen dinámico de la señal
de entrada que puede estar limitado entre 0,5 y 5 V. El término margen dinámico,
en este contexto, significa la máxima señal pico a pico que se puede aceptar. Para
ampliar este margen, se añaden atenuadores de 10a l y de 100 a 1.
Eiemplo 2. Una sonda de 10 a 1tiene un cable coaxial con una capacidad de 60 pF y se conecla a
un osciloscopio con una impedancia de entrada de 1M2 en paralelo con 30 pF. ¿Cuál debería ser
la resistencia y la capacidad en la cabeza de la sonda si no hay condensador de compensación y hay
que realizar una compensación correcta?
una com
Respuesta. La capacidad total en la entrada del osciloscopio es de 60 + 30 = 90 pF. Para Así pues,
veces la capacidad de la cabeza de la sonda.
pensación correcta, esto debería ser nueve resisten
ser nueve veces la
ésta debe de ser de 10 pF. La resistencia de la cabeza de la sonda debe
debería ser de 9 M2.
cia de entrada del osciloscopio y. por tanto,
Osciloscopios 191
Cable portador
Fig. 11.11 Sonda de corriente de corriente
Canal 1
Atenuador Amplificador Linea de retardo
vertical
preamplificador
Canal 2 Atenuador Amplificador Línea de retardo
vertical Tubo de rayos
preampificador catódicos
Externa Disparador
Generador
de la bose
Amplificador
horizontal
de tiempos
Red
Canal 1 Atenuador
preamplificador
Interruptor Amplificador
electrónico vertical Linea de retardo
Canal 2 Atenuador
Externa
Generador
Disparador de la base Amplificador
de tiempos horizontal
Red
Osciloscopio de muestreo
El osciloscopio de muestreo no trabaja con la señal de entrada en tiempo real,
pero toma muestras de las señales de entrada en diferentes partes de su forma de
onda en ciclos sucesivos y, entonces, junta estas partes para formar una represen
tación de la forma de onda completa. Esta técnica posibilita tratar señales de alta
velocidady dar un gran ancho de banda, hasta alrededor de 20 GHZ. Hay, sin em
bargo, la desventaja de que la forma de onda debe ser repetitiva.
La figura 11.14 muestra un diagrama de bloques de un osciloscopiode mues
treo. La señal de entrada se aplica al disparador, se retarda, y a continuación se
muestrea mediante la puerta de muestreo. Entonces se almacena la muestra en
una memoria capacitiva que alimenta a las placas verticales del tubo de rayos
catódicos, produciéndose en la pantalla un punto correspondienteal valor mues
treado de la entrada. En el siguiente ciclo de la señal de entrada, se produce un
impulso de disparo en el mismo punto de la forma de onda de entrada, pero la
muestra tomada se retarda cierto intervalo de tiempo. Por tanto, la siguiente
Borrado
Control z
Toma de muestras
Señal de
entrada
Impulsos
de disparo
Tensión
de escalón
Tensiones
de rampa
Tiempos
de muestreo |h
y control Z
Vidrio
Deflexión Y
Deflexión X
Fósforo
Malla de memoria
Malla colectora
Colimador
CaDón de electrones
proyector
CaDón de electrones
de escritura
Base
Disparodor de tiempos JAmplificador
(a)
(b)
(c)
(a) Sin interpolación, (b) interpola
Fig. 11.19 senoidal
ción lineal, (c) interpolación
Entrada 1 Memoris
Atenuador Amplificador
analbgica
Multiplexor Comvertidor
AD
Entrada 2 Atenuador Amplificador Memoria
analógica
Tubo de rayos
catódicos
un gráfico, del mismo modo que lo haría un registrador gráfico con una
y el papel moviéndose a una velocidad constante de derecha a pluma fija
la «pluma» en este caso en el borde derecho de la izquierda, estando
tación atraviesa la pantalla y los nuevos datos van pantalla. Por tanto, la represen
cho de la misma. En el modo de refresco, los datos apareciendo por el lado dere
se actualizan en cada barrido de disparo. En el almacenados y la visualización
modo simple, la entrada se captura
como un solo punto de disparo. En el modo de
gela en un instante determinado. La base de retención, la representación se con
de cristal y, así, es más precisa tiempos se genera mediante un reloj
(típicamente del orden de 0,01%) que en los osCi
Oscopios analógicos (en los que, típicamente, ronda el 1-2%) y también más esta
Oe. La resolución de los osciloscopios digitales la
determina el convertidor analó
gico/digital. Un convertidor A/D de &bits da una resolución
un convertidor A/D de 12 bits es de 1 de 1parte en 256, en
parte en 4.096. Un osciloscopio analógico,
típicamente, tiene una resolución de alrededor de 1 mm de desplazamiento de
tala y esto es, por
forma de onda con un tanto, de 1 parte en 50. Para obtener una visualización de
durante el osciloscopio digital se requieren alrededor de 10 muestras
subida vienetiempo de subida de la señal. Esto significa que el máximo tiempo de
determinado por la frecuencia de muestreo,, siendo
10
máximo tiempo de subida = (4)
frecuencia de muest reo
Por tanto, para
ejemplo, 100 ns representar
se necesita
una forma de onda con un tiempo de subida de. por
una frecuencia de muestreo de 100 MHz. La frecuen-
198 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
cia de muestreo de los convertidores A/D, por tanto, limitan cl ancho de banda
de poder opcrar en
del instrumento. Los osciloscopios analógicos tienen la ventajaescritura.
anchos de banda más elevados y con mayores velocidades de
(a) (b)
(c) (d)
Fig. 11.22 Figuras de Lissajous con la relación de frecuencia (a) 1a 1, (b) 2 a 1, (c) 3 a 1,
() 3 a 2
X
(a) (b) (c)
Fig. 11.23 Diferencia de fase: (a) 0°, (b) 90°, (c) en general
Respuesta. Elnúmero de las divisiones verticales entre los picos es 5,0 y, así, la tensión en las pla
cas Y es 10 × 2= 20 V. La tensión en la punta de la sonda es, por tanto, 200 V. Elnúmero de divi
siones horizontales para un ciclo de la forma de onda es de 4,0 y, por tanto, el tiempo para un ciclo
es de 40 us. Así pues, la frecuencia es de 1/40 X 10 = 25 kHz.
Ejemplo 4. ¿Cuál es la relación de frecuencias entre las frecuencias dadas en la figura de Lissajous
mostrada en la figura 11.25?
que atravesaría una lí
Respuesta. Elnúmero de bucles horizontales, es decir, el número de bucles número de bucles que
bucles verticales, es decir, el
nea horizontal imaginaria, es de 3. El número de
atravesaría una línea vertical imaginaria, es de 1. Por tanto, la entrada vertical de frecuencia es tres
hecho, el dibujo mostrado es del tipo que ocurre
veces la entrada horizontal de frecuencia. De frecuencias
dos de alrededor de 15°.
cuando hay una diferencia de fase entre las
Fig. 11.25
Fig. 11.24
Osciloscopios 201
Problemas
Fig. 11.26
202
Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Fig. 11.27
12. Losiguiente es parte de las especificaciones de un osciloscopio de doble traza. Explicar cl sig
nificado de la información en relación con las medidas que se pueden realizar con cl instrumento.
Sistema vertical: dos canales de entrada
Ancho de banda (-3dB):
acoplamiento en c.c.: de c.c. a 15 MHz
acoplamiento en c.a.: de 8 Hz a 1S MHz
tiempo de subida: 24 ns
Sensibilidad de deflexión: S mV/div. a 20 V/div., en 12 pasos calibrados
Precisión de medida en tensión:±5%
Impedancia de entrada: 1 M2 más 40 pF (aprox.)
Tensión de entrada máxima: 500 V en c.c. o de pico en c.a.
Modos de trabajo: canales 1 y 2 troceados o alternos, canal 2
Sistema horizontal
Velocidades de barrido: 0,2 s/div.a 0,2 us/div., en 19 pasos calibrados, ampliación x 5
Velocidad de barrido máxima: 40 ns/div.
Precisión en la medida de tiempo: ± 5%, con ampliación ± 7%
Entrada externa:
Ancho de banda (-3 dB):
acoplamiento en c.c.: de c.c. a 2 MHz
acoplamiento en c.a.: de 10Hza 2 MHz
Sensibilidad: 1V/div.
Impedancia de entrada: 270 k2 más 30 pF
Sistema de disparo
Fuentes: canal2 interno, externo, red
pendiente positiva o negativa
Nivel de disparo: cualquier punto en la
Polaridad: positiva o negativa
Ancho de banda: 15 MHz
Pantalla
Fósforo: P31
Modulación Z: amplitud de 15 V, acoplado en c.c.
Capitulo 12
Contadores
Introducción
El contador básico
Respuesta. Notar que la represcntación del analizador de espectros cstá dando una cscala vertical
en decibelios con notación logarítmica. Tomando logaritmos de la ccuación anterior, da
log (4/m) =og (potencia de la portadora) - log (potencia de la banda lateral)
Por tanto
Convertidor
Mermoria
Entrada Filtro de
de señal
Amplificador paso bajo
NUOción AD
de registro
temporal
Procesador de Pantalla
transformada
Memoria de
frecuencia
Instrumento
Fuente Filtro
de señal de hendidura 2
Pantalla
Amplificador
Fig. 14. 12 Analizador de distorsión armónica
THD = VH X 100%
V,
Ejemplo 4. Un analizador de espectro indica que la salida de un amplificador contiene las siguien
tes señales: fundamental V, =1,0 V, segundo armónico V, = 0,02v, tercer armónico V, =0,005 V.
¿Cuáles (a) el porcentaje de distorsión armónica de segundo armónico y (b) el porcentaje de la dis
torsión armónica total?
Respuesta.
(a) Utilizando la ecuación [5), el porcentaje de distorsión debido al segundo armónico es
(0,02/1,0) x 100% = 2%.
(b) La distorsión debida al tercer armónico es (0,005/1,0) × 100% = 0,5%. Por tanto, utilizando la
ecuación (6], la distorsión armónica total es
Medidas de ruido
To + T,
F= (11]
To
Las cifras de ruido se miden, normalmente, inyectando potencia de ruido
desde una fuente de ruido, a dos temperaturas diferentes, en el dispositivo que se
quiere medir y se mide la salida a esas dos temperaturas. Si la potencia de ruido
de salida es No cuando la fuente de ruido está a una temperatura estándar To y Ni
Cuando su temperatura es T, entonces
No = K (To + T)
N, = K (T + T)
La relación entre N, y No se Conoce como factor Ydel sistema bajo test. Por tanto
Y=
N T +T,
No To + T,
Fuente
Medidor
Sistema de valor
de ruido bajo test eficaz
verdadero
Fig. 14.13 Medida de ruido
Problemas
-10 -10
-20 -20
-30 -30
40 40
-50 50
60 -60
-70 dB 70dB
Fig. 14.15
Fig. 14.14
Comprobación
de circuitos digitales
Introducción
Sondas, inyectores y
ma dda lógica es un
detectores
forma pluma,
de dispositivo manual que no es caro (fig. 15.1), liene
cidosrcuito en que se conecte la para
y se utiliza
puntadeterminar
de la sonda.el nivelUnoslógico
indicadores luminosos,
en cualquier punto didel
o-
emi
Sonda
la para
s ores
está
de luz
en un nivel (LED), en el cuerpo de laUnsonda indican cuándo la punta de la
conmutador posibilita configurar-
los lógico alto o bajo.
SOnda
para laestán diferent
en el es niveles lógicos tales como TTLo CMOS. Los circuitos de la
interior de la misma con un cable en su parte posterior utilizado
conexión ala
fuente de c.c. del circuito bajo test.
238 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Punta
Conmutador de selección
de la sonda Lámparas de indicación de logica
del estado lógico
Alto O O Bajo
Para conectar
a lafuente de C.C.
del circuito bajo test
Fig. 15.1
Sonda lógica
La figura 15.2
que va a la sonda muestra los
se alimenta elementos
del
a través de un circuito básico de la sonda. La señal
tensiones al detector de umbral. Este se circuito de protección contra sobre.
diante un conmutador para TTL o configura en los niveles apropiados me
el estado se CMOS. Cuando se detecta el nivel de umbral.
introduce en una memoria
tiene encendido el indicador hasta apropiada. Esta
que se pone a cero la retiene estado y man
el
memoria y puesta a cero memoria. Los circuitos de
en la que impulsos con funcionan como una unidad de prolongación de impulsos
dido el indicador hasta anchuras tan bajas como 10 ns pueden
50 o 100 ms, siendo éste el mantener encen
impulso y la puesta a cero. Un tren de impulsos con una tiempo entre la recepcióÑn del
dedor de 100 Hz causará que ambos frecuencia menor de alre
indicadores
pulsos anchos u ondas cuadradas superiores a 100 Hz parpadeen a unos 10 Hz. Los im
los indicadores. causarán un menor brillo de
Algunas sondas sólo disponen de una lámpara indicadora, indicando el estado
lógico alto cuando luce y el estado lógico bajo cuando no luce. Un circuito abier
to o una entrada que esté entre los niveles umbrales producirá una luz a
brillo. medio
El inyector o pulsador lógico (fig. 15.3) es un generador de impulsos manual
también en forma de pluma, que actúa como una fuente de señal para la compr0
Puesta a cero
automática
Punta Protección
Detector
de la sonda contra sobre de umbral
tensiones
Bajo Memoria Controlador Indicador
para bajo de indicador bajo
Puesta a cero
automática Sonda lógica
Fig. 15.2
Comprobación de circuitos digitales 239
Conmutador
Indicador
de impulso Interruptor
de impulso
de selección
de lógica
Para conectar
a la fuente de alimentación
Fig. 15.3 Inyector lógico de c.c. del circuito bajo test
Pinzas lógicas
dispositivo que se conecta a uncircuito nie
Ona pinza lógica (fig. 15.4) es un del CI. La pinza lógica
grado (CI) y hace contacto con cada una de laslaspatillas
diferentes patillas, extrayendo
tiene su propia red lógica para distinguir entre
Controlador Indicador
Detector
de umbral de indicador
Patillas
lógicas Indicador
Red Detector Controlador
lógica de indicador
de umbral
Pinza logica
Fig. 15.4
etc.
240 Mediciones y pruebas eléctricasy electrónicas
Su potencia desde las patillas adecuadas. El
tra mediante un LED para cada patilla.
estado lógico de cada patilla se me
Comparadores lógicos
Elcomparador lógico comprueba los CI
mismo tipo. El estado lógico comparándolos con un CIbueno del
de una patilla del CI bajo prueba se
del CI bueno y el test se repite en todas las compara con la
patillas. Si los estados lógicos son igua
les, entonces no hay señal de salida y el indicador LED no
se enciende. Si, sin em
bargo, los estados son diferentes, entonces el LED se ilumina
en la patilla. La figura 15.5 muestra la indicando un fallo
configuración básica del comparador; por
simplicidad, el diagrama sólo muestra la comparación de una de las patillas del CI
bajo prueba. Montajes similares se realizan para cada una de las patillas.
tilla de entrada del CI bajo test se conecta en paralelo con la patilla Cada pa
diente de CI de referencia y, así, correspon
ambas reciben las mismas señales. La salida de
una patilla de CI bajo test se compara entonces con la patilla del CI de referencia
mediante una puerta O-EXCLUSIVA que da una salida cuando las dos son dife
rentes. Elprolongador de impulsos se utiliza para extender la duración de la señal
alimentada al indicador de tal manera que los impulsos de duración muy corta ac
túen en el indicador durante un tiempo suficiente.
Análisis de firmas
Patilla de entrada
Patilla de salida
00010101 J1101010
00010101
11011011
01101101
01101101
1001110 10100011 11111111
10100011 Puerta enclavada
(b)
(al
Fig. 15.6 Señales de nodo: (a) correcta, (b) con una puerta enclavada
15.6a podrían tener las señales de entrada y de los nodos mostradas. Sin
la figura un fallo, por ejemplo, por quedarse una puerta encla-
embargo, se puede originar
estado 1. EI resultado podría ser que las señales de los no-
estado 0o en
vada en resultado de que una
dos se convertirían en las mostradas en la tigura 15.6b, como es identificar
el problema
de las puertas se ha enclavado en el estado1. Por tanto,
identificar si hay un fa
si la secuencia de impulsos en un nodo es la correcta. Para
forma más fácil
llo, la secuencia de impulsos en un nodo ha de convertirse en una
de
mente identificable. Esto implica comprimir el código de designación binaria
dígitos
los impulsos en una forma más compacta tal como un pequeño número de
hexadecimales. Esta medida comprimida de la secuencia de impulsos se conoce
como firma. Entonces, puede compararse más fácilmente con la esperada y, así,
identificar los posibles fallos.
firmas. Los
La figura 15.7 muestra la configuración básica de un analizador de
Impulsos de comienzo y final se utilizan para especificar la ventana durante la que
se observará la lectura de la sonda. Esta lectura se compara, entonces, con un relo]
ysedetermina el estado lógico en algún punto de los impulsos de reloj. por ejem
Plo, en el flanco de subida (fig. 15.8). EI resultado de esto es una muestra de datos
se alimentadea 16
uid Secuencia un registro de desplazamiento de 16 bits el cual la convierte en
bits. Esta conversión sitúa los datos en un formato ideal que
un sIS
Tad una firma corta para el sistema de error que diferiráde la que da salida
error.
due esté libre de fallos. incluso cuando bava un único bit derepresentación de La
desde el La representación
4 dígitos.registro de 16 bits, entonces, tiende a para
se comprime
de 4 dígitos
dar una
utilizar notación hexadecimal.
Esto significa una cifra en base 16, es decir, hexadecimal. La tabla 15.1 muestra los
muestreado
códigos
de,
de compresión de datos utilizados con este sistema. Un dato llamadas
por ejemplo, 1000110101010001 tiene cuatro secuencias de 4 bits,
1000, 1101, 0101 yO001, y éstas formarán la representación8DS1.
Comienzo
Final. -Relo
Reloj
Impulso
de comienzo
Impulso
de final
Datos
de entrada
Datos
de muestreo 1 10 Fig. 15.8 Muestreo de datos
1 1
0 1 2
0 1 1 3
0 1
1 1 5
1 1 0 6
1 7
1
1 0 1 A
1 8
1 1 C
1 1 D
1 1 1
1 1 1 1 F
Analizadores lógicos
simultáneamente el nivel lógico e
Elanalizador lógico se utiliza para registrar
test. Típicamente, esto puede significar 8, 16, 32,
muchos puntos de la unidad bajo
como canales. Los datos no son continuamente re
48 o mnás entradas, conocidas
muestreo viene determinada por el re
gistrados sino muestreados; la velocidad de del impulso de reloj. Los dalos
ejemplo, en cada flanco de subida
loj y se da, por una memoria. Con unacantidadopel"
muestreados son almacenados de forma digital en gran
alta se puede obtener canales y un
ción multicanal y una velocidad de mnuestreo
de información que se almacena en memoria. 320 Con, por ejemplo, 16
obtener mill ones de muestras pol
reloj trabajando a 20 MHz, se pueden memoria se llena pronto. Por estara-
almacenan
gundo. De este modo aunque haya una gran los datos sólo se
zón, se utiliza un disparo selectivo de manera que
Comprobación de circuitos digitales 243
parala zZona detrabajo que interesa. El disparo se realiza mediante una secuencia
predeterminada, es decir, cuando la
palabras de datos señal de entrada desde
de entrada particular sea igual ala palabra de datos introducida en el teclado por
una
operador.EItérmino palabra se utiiliza para designar una colección de números
binarios.
el El pre- y postdisparo se utilizan para almacenar datos inmediatamente
después de la palabra
indicada. Un mayor refinamiento puede ser el dis-
antes o utiliza más de una palabra de disparoy todas ellas se
múltiple, es decir, se
paro
antes de la captura de datos. Otra posibilidad es el disparo de even-
deben recibir cuando se requiere una secuencia de palabras antes de capturar
tos secuenciales,
los datos.
muestra el diagrama de bloques básico de un analizador lógico.
La figura 15.9
entrada se conectan al analizador através cápsulas (pods). Éstas
Las señales de
Son módulos de
interfaz que se han diseñado para proporcionar las conexiones
test, para captar la señal sin
eléctricas ymecánicas necesarias al dispositivo bajointerferencia
interferencias de acoplamiento, es decir, señales de de otras líneas de
entenderlo. Las en
entrada, y convertir el dato de forma que el analizador pueda configura
tradas de datos a las cápsulas se comparan frente a un nivel umbral que a un dis
1. Los datos están entonces sujetos
el estado lógico 0 y el estado lógicoidentificación de código y secuencia. El nivel
paro selectivo en una memoria de
se controlan me
umbral, y la memoria de identificación de código y secuencia
unidad de control. Esta coordina to
diante una entrada de teclado conectada a la
los datos requeridos en memoria y
das las operaciones del instrumento, almacenaadecuado, en la pantalla de un tubo
los pasa para su visualización, en el formato
Teclado
Nivel
umbral
Pantallade
Memoria de
Memoria visualización
Unidad de visualización
identificación
de control
de código y
secuencia
Reloj
Selector
de reloj
Reloj Analizadorlógico
interno Fig.15.9
244 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Reloj
Glitch,I
Datos de
entrada
Visualización
del analizador
en modo
de muestreo
Visualización
del analizador
«Glitches»
en modo
de enclavamiento
Fig. 15.10
Comprobación de circuitos digitales 245
Problemas
lógica puede utilizarse para determinar el estado lógico en un punto
Explicar cómo una sonda
digital.
de un circuito
seguidor de corriente utiliza con un inyector para reseguir una fuga a tierra en un cir-
2. Un
la punta del seguidor de corriente toca la punta
del inyector, el LED delIseguidor
cuito digital. Cuando punta del seguidor se mueve a lo largo de la rama A del circuito, la luz se anaca
ilumina., Cuando la fuga a tierra?
C:ando se mueve a lo largo de la rama B continúa iluminado. ¿Cuál es la rama con
básico de un comparador lógico.
3. Explicar el modo de funcionamiento un circuito y los principios del análisis
4. Explicar cuál es el significado de la firma en un nodo de
de firmas.
5. Explicar cómo se puede utilizar un analizador lógico para detectar «glitches».
6. Explicar las diferencias entre (a) modo de operación síncronoy asíncrono y (b) disparo por
palabra, palabras múltiples y disparo de eventos secuencial, para un analizador lógico.
Capitulo 16
Instrumentos automáticos
Introducción
Señales Lecturas
Señales respuesta Observación
estímulo
Instrumentos evaluación
Fuente
de señal Unidad demedida
bajo test
de test
testbåsico
Sistemade
Fig. 16.1
248 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
dos. Los resultados del test se comparan, entonces,
automáticamente con uneese
lores preprogramados estándar, se interpretan yse indica si el dispositivo bajo test
es válido o no.
Dispositivos
de
medida
Memoria de
Fuentes programa
de señal
Linoas individuales
(b)
etc. individuales, (b) un bus
(a)
Interconexión mediante (a) líneas
Fig. 16.3
electrónicas
250
Mediciones y pruebas eléctricas y
+01101001
(a) (b)
Fig. 16.4 Transferencia de información en (a) paralelo, (b) serie
tiene la ventain
esta línea. Este método es más lento que el método paralelo, pero
en cortas distancie
de ser más barato. Los buses paralelos tienden a utilizarse utilizan para largas dis.
hasta alrededor de 2 m, mientras que los buses en serie se
tancias.
de ambas líneas, serie y para
La información puede ser transmitida a lo largo síncrona
transmisión implica que los datos
lela, de forma síncrona o asíncrona. La
impulso de reloj. Con la transmisión en
son transmitidos en sincronización con un largo de una de las líneas, y los datos
paralelo un impulso de reloj se transmite a lo sólo pueden llegar al mismo
los datos válidos
a través de las otras líneas. Como la entrada del disposi
tiempo que este impulso, un impulso de reloj de llegada en
certifica que las llegadas en las otras líneas paralelas son datos
tivo de recepción tiene impulsos de sincronización de
reloj y,
válidos. La transmisión asíncrona no dispositivo receptor certificando que se
que enviarse una señal al (handshake).
por tanto, tiene se llama control de
transferencia
envían los datos válidos. Esta señal utilizado
receptor y
para eldispositivo de transte
(listener) es, a menudo,
El término oyente recepción del control
(talker) para el dispositivo transmisor. La los datos listos para
la
emisor el emisor tiene que
rencia por el oyente indica, por tanto, que responde indicando emisor,
transmisión. Cuando el dispositivo receptor., el oyente, dispositivo
transmisor, el
palabra
entonces el tanto, la
está preparado para recibir los datos, por
aceptar datos y, estas señalesse en-
sabe que el receptor está en un estado para en paralelo,
de datos.
transmitir. Con la transmisión de las líneas
de datos se puede individuales, separadas asíncronacon
vían através de las líneas paralelas transmiten de forma queindi-
serie, los datos normalmente se y final
Con el bus
sus propios bits de comienzo flanco de bajada
de
cada palabra transferida que incluya espera el todos los bits la trans-
can el principio yel fin de una palabra. datos El receptor que no medidade
serie. Ya
un bit de comienzo antes de aceptar los no es posible dar una porse-
transferidos conoce
feridos son datos (los bits de comienzo yfinal),
número de bits que Por
se
velocidad de transferencia de datos Como el de datos
se da lo segundo.
gundo. En lugar de la velocidad de transferencia
un bit
transferido por
como velocidad en baudios, siendo un baudio
tanto,
1
tiempo de un bit
velocidad en baudios =
Instrumentos automáticos 251
Busesestándar
Gestión
de bus IFC
ATN
SRO
-REN
Controlador Emisor
Y receptor Receptor Emisor
Interfaz de E/S
Un voltímetro programable
Entrada Convertidor
Referencia
Unidad Ampico analógico/
de entrada digital
de limite
Convertidor
CACC
Interfaz
de entrada
Controlador
de entrada
Conexión
óptica
Contador Reloj
Busde direcciones
Pantal a Memoria
intermedia
Circuito
controlador
Memorie
intermedia
RAM
Bus
de datos
ROA
Micro
-
Crcuto
contrataNo
Teco
Voltímetrodigitalprogramable
Fig. 16.6
254
Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Foto
transistor
LED
Fig. 16.7
Conector óptico
en la figura, desde una interfaz de bus estándar con
algún otro
ria de acceso aleatorio (RAM) es la memoria
temporal sistema. La
los datos de medición durante el proceso. La memoria deutilizada para memo-
sólo lectur alImacenares
la memoria permanente que se utiliza para almacenar los datos
funcionamiento del instrumento.
(ROM)
necesarios para el
Los instrumentos programables tienen la ventaja de
versátiles que pueden procesar medidas y dar resultados ser unos
de una dispositivos más
no programables. La forma
gue mediante la utilización de más simple
mática es factible; por ejemplo,instrumentos
cada vez que se calibración autn.
conecta el
un proceso de calibración. Sinembargo, tanto el diagnósticoinstrumento
de fallos
se realiza
com0 la re.
paración pueden ser más problemáticos que en los
instrumentos no programables.
Problemas
1. Explicar la diferencia entre la
ydesventajas de cada una de ellas. transmisión de datos en paralelo y en serie e indicar las ventajas
2. Explicar cuál es el
significado de control de transferencia.
3. Explicar las funciones de las tres
líneas utilizadas para control de
JEEE-488. transferencia con el bus
4. ¿Cuáles son las ventajas de
utilizar un bus
5. Con la transmisión asíncrona de datos en estándar?
que muestrear la línea de datos y serie, ¿cómo sabe el dispositivo receptor cuándo tiene
obtener los datos válidos?
0. Describir y explicar las funciones de los
test. elementos constitutivos de un sistema automático oe
Capítulo I7
Sistemas
de instrumentación
Introducción
adquisición de datos tienden a compo
Los sistemas de instrumentación para la
utilizan para realizar unamedida y vË
nerse de varios componentes que, juntos, seEstos componentes son un dispositivo
sualizar o registrar el resultado (fig. 17.1). y la convierte en un formato adecua
de entrada, que recibe la señal de entrada
acondiciona la señal. El término acondicio
do para el siguiente componente, que
namiento de señal se utiliza vagamente, a menudo, para describir el acondiciona
de acondicionamiento de señal cuando el
miento y el procesado de señal. Se habla un cambio de resistencia a un cambio
tormato de la señal cambia, por ejemplo, de
la señal se convierte a un tamaño
de tensión, siendo el procesado de señal cuando formato. El acondicionamiento y
adecuado, o a veces se amplifica, sin cambiar su tal modo que pueda ope
procesado de señal se utiliza para modificar la señal de
a en un tercer componente que escomola pantalla o el registrador. Los dispositivos
sensores, detectores, captadores, Sondas
de entrada se conocen, a menudo,
capítulo realiza una breve explicación
as irecuentemente, transductores. Este
de los transductores. acondicionadores de señal y transmision de datos
Transductores eléctricos
dispositivos de en-
El término transductor eléctrico puede utilizarse para los quiere
trada de los desde la entrada de la variable que sees como
sistemas
medir, dan una
de medida que, de un transductor
salida eléctrica. Una definición estricta un sistema en energía o
oinformación desde
componente que convierte energía
Cantidad
que se quiere
medir Pantalla
Acondicionador
Dispositivo de señal
de entrada
sistema de medida
Fig. 17.1 Forma general de un
256 Mediciones ypruebas eléctricasyelectrónicas
información para otro sistema. Por ejemplo, Con un sistema de med:a
temperaturas, una bobina de resistencia puede ser utilizada
resistencia de la bobina depende de su como un termómetro
de resistencia. La
un cambio en la temperatura producirá un
cambio en la
información acerca de la temperatura de un cuerpo caliente se
temperatura,
resistencia. Asípor tantola
pues,
transforma en in-
formación en forma de resistencia. Este cambio de resistencia puede
en un cambio de corriente o de
acondicionador de
diferencia de potencial mediante un
señal, yla salida ser representada puente de
Convertirse
Wheatstone, el Como una co-
riente de desequilibrio. Tal transductor se conoce como dispositivo
pasivo ya queel
él mismo no genera una potencia eléctrica. Un dispositivo activo es aquel donde
transductor es él mismouna fuente de potencia eléctrica. Un ejemplo de esto
termopar. Como consecuencia del efecto termoeléctrico, se genera una fe m wolk
cionada con la temperatura que se quiere medir.
En muchos casos, la conversión puede realizarse en más de una etapa Acf
un indicador de presiones utilizado para la medida de una fuerza consistirá en
un cilindro que se deforma elásticamente por la acción de la fuerza, detectán:
dose la deformación por extensímetros de resistencia eléctrica que dan un
cambio de resistencia cuando existe una deformación (fig. 9.9). Un puente de
Wheatstone puede utilizarse, entonces, para convertir los cambios de resistencia
en corriente o diferencias de potencial y, así, producir una visualización en un
medidor.
Para dar una idea de la gama de dispositivos transductores y de los principios
físicos implicados, la tabla 17.1y la figura 17.2 muestran algunos ejemplos de las
formas más comunes de transductores que realizan la conversión a magnitudes
eléctricas.
Respuesta
= 0,13 2
Cambio en la resistencia = RG Xdeformación =120 x 2,1 X 0,000S
400°C
entreOy sise
Ejemplo 3. Un termopar de hierro-constantan temperaturas a 100°C
se utiliza para medir
¿Cuál será el error de no linealidad fondo de escalama V,fe.m.a
como porcentaje de la lectura a 5,268
asume una relación lineal entre la f.e.m. 100°C=
y la temperatura? F.e.m. a
400°C =21,846 mV.
Sistemas de instrumentación 257
una rclación lincal, entonccs la f.e.m. a
Si cshabía
fle.m. a400°C, 100°C que
decir, S5,4615 mV. Fsta es la f.e.m. cuando asumimos debería ser un lineal
el termopar
Respuesla. cuartoindica
de la
00°C. La f.c.m. actual cs de 5,268 mV a 100°Cy, así, hay un error de-0,1935 mV. Como un por-
ondo de escala, se ticne
centaje de la lectura a
0,1935
crror= X 100 =-0,89%
21,846
Selección de transductores
Hav cuatro cuestiones basicas que se necesitan tener en cuenta antes de selec.
cionar un transductor:
aceleróme-
Piezoeléctrico (fig. 17.2k), sólo
Una f.e.m. se genera cuando una Utilizado en los manómetros peero
y
vibraciones,
fuerza se aplica a ciertos cristales, tros, medidas de choques dinámicas.
por ejemplo, el cuarzo. cuando se implican medidas
como un
Fotodiodos
Se produce una tensión en el ele fotodiodo se comporta caracteristi-
Sin iluminación un iluminación las corrienteen
mento de unión del semiconductor diodo convencional, con (fig. 17.20. La una me-
cuando la radiación incide sobre él. cas del diodo se desplazan utilizarse Como puedecor-
polarización inversa puedeiluminación. Se
fotodiodo cone
dida de la intensidad de la un
es
siderar que un fototransistor
amplificador.
tado a un transistor
Sistemas de instrumentación 259
Termistor
Termistor
Disco
Varilla
15
Resistencia
k2
10
Recubrimiento de vidrio
50 100 150
Temperatura °C Termistor
(a)
Perla
Diafragma Extensimetro
(b)
Fig. 17.2 Presion
medida de presión.
Transductores. (a) Termistores. (b) Extensimetros y como parte de un sistema de
260
Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
-O C.C.0
Potenciómetro
Flotador
Salida
Material fotoconductor
(c)
(d)
Diafragma como otrade
las placas del condensador
Placa ferromagnética
(e) Desplazamiento
Entrehierro
de aire
Placas de condensador
Materialferromagnético
. (g)
Camino del flujo Transductores.(C
de
medida
(Continuación). fotoconductora.
sistema
de (el
Fig. 17.2 un nivel
Potenciómetro utilizado con
Célula Indicador de
altura de líquido. (d) variable.
capacitivo. (nreluctancia
Manómetro Transductor de
capacitivo. (g)
Sistemas de instrumentación 261
Émbolo
Desplazamiento ‘
Bobina
secundaria B
(h) Desplazamiento f
Émbolo
Metal A Metal A
f.e.m.
Metal B
70
mV
omel-constantan
en 60 Cromel-alumel
termoeléctrica Hierro-constantan
50
oGonstantan
Cron
staots
40
f.e.m. Tungsteno-renio
30 Platino-platino/13%
rodio
ob
Termopar; características)
con distintos materiales. 500 1000 1500 2000
Temperetura °C
eléciricas y clectrónicas
Mediciones ypruebas
262
I|luminación
nula
Aumonto
de iluminación
platino-pla
res de metales básicos sontino/rodio 13% de
Tienen precisiones del relativamente baratOS
0 a 1.759°C y 8
pero se deterioran
termopares de
son
metales
nobles
R,
A,
V
R
El así, virtualmente
amplificador operacional tiene una
no circula corriente através del I punto X. impedancia alta y,
muy la corriente I, circulaa
Por consiguiente,
potencial
través de R,. ComoXes la tierra virtual como la diferencia deR, serávit-
através de R, es V,-V,la entonces, en los terminales de
tualmente - V,, Así pues diferencia de potencial
-V= l|R,
Vo R,
VË R valores
La relación los
R,
V
Vo
Fig. 17.5
Amplificador diferencial
Con algunos transductores y acondicionadores de señal, el nivel bajo de la se-
ñal de salida puede ser Superpuesto auna señal en modo común grande. Esta es,
por ejemplo, la situación del puente de Wheatstone donde la salida es una pe-
queña diferencia entre dos potenciales grandes. Utilizando el circuito amplifica-
dor
operacional
ñal en dado en la figura 17.5 resultaría una amplificación tanto de la se-
modo común superpuesta. Por esta razón,
un amplificador de instrumentación del transductor
como de la señaltoma la forma mostrada en la figura 17.6 con
la
túan
es
utilización
como de tres amplificadores
etapa de entrada
operacionales. Los amplificadores 1 y 2 ac-
de alta impedancia con respecto al amplificador 3 que
un
amplificador diferencial. La gaanancia diferencial es
R, + 2R,
ganancia =
R,
electrónicas
266 Mediciones y pruebas eléctricas y
Etapa de entrada Amplificador diferencial
R,
R
3
Entrada
Salida
V
Entrada
Vo señal
rde
linnealizador
Circuito
Fig. 17.7
Sistemas de instrumentación 267
nealizador. El circuito se diseña para tener una relación no lineal entre su entrada
salida de tal mnodo que cuando su entrada es no lineal, su salida es lineal. Esto
su
consigue con una selección adecuada de los componentes del bucle de reali-
y
Se
mentación.
La figura 17.7 muestra este circuito con un diodo en el bucle de realimenta-
ción. EI diodo tienc una característica no lineal yse obtiene una relación entre la
tensión de entrada Vy la tensión de salida V, de la forma
V,=CIn (V)
donde Ces una constante. Por tanto, el amplificador es no lineal. Sin embargo, si
la entrada V,se ha proporcionado por un transductor para su entrada donde
V,= Kea
con Ky a constantes. Entonces
V,=Cln (Kee)
=CIn (K) + Ca0 [5]
El resultado es una relación lineal entre la salida V, y la entrada del
transductor.
Jemplo 4. Un amplificador inversor tiene una resistencia de 1 MQ en la línea de entrada inver
Sora y una resistencia de
realimentación de 10 MQ. ;Cuál es la ganancia del amplificador?
Respuesta
Uilizando la ecuación 1)
ganancia =-
R-=-10
RË
Ejemplo
tros tienen5. un del puente
dor de factor de calibradoextensométrico de cuatro brazos activos de la figura 9.9, los extensime
de 2.,1 y una resistencia de 100 2. Cuando se utilizan con el indica
de 1,0 x presiones
105 en la
forma mostrada
los extensímetros de en la figura, al aplicar una carga se produce una deformación
La
tensión de enfuente
tación para el puente es compresión y de 0,3x 10 en los cxtensímetros de tracción.
para con respecto a las
de 10 V. ¡Cuál Iserá la relación de la resistencia de realimen
amplificar diferenciaresistencias
la de las dos entradas de un amplificador diferencial utilizado
de potencial de desequilibrio, si la carga produce una salida de 1mV?
miRespuest
ento a. cambio
de la
El en la
resistencia de un extensímnetro sujeto a compresión es un decreci-
resistencia yy viene dado por (ver
tabla 17.1)
Cambio en la resistencia = RGx deformación
=- 100 X 2.1 x 1.0 x 10-5
EÌ
de cambio en la
resistencia de
=-2,1 X 102
un extensímetro sujeto a tracción es un crecimiento en la resistenaa
268 Mediciones ypruebas eléctricas y electrónicas
Conversión analógico/digital
El
lógica procesado
a
de señal
formato digital puede incluir la conversión de una señal de entrada ana-
que pueda para una visualización
necesitarse antes de la visualización.digital
mente, dos elementos, Tal
o para cualquier procesado
normal-
un
elemento conversión incluye,
lógicoldigital
muestra de la(A/D)
señal
(fig. 17.8). El
de
muestreode y retención y retención
elemento muestreo y
un convertidor ana-
toma una
vertidor A/D la analógica yla mantiene el
que, cuando se transforme en una señal digital. tiempo suficientees para que el con-
se carga con la conecta en paralelo con laEsencialmente un condensador
entrada durante el tiemp0 de muestreo,
ción de la tensiónal analógica. Entonces,
conversión formato digital mantiene la muestra durante la dura-
(fig. 17.9).
Entrada
de señal analógica Muestreo
y retención Convertidor Salida
analógico/digitalde señal digital
Fig. 17.8 Conversión analógico/digital
Sistemas de instrumentación 269
Entrada
analógica Tiempo
Cambio
Retención
Tiempo
Muestreo
Salida Tiempo
Tiempode adquisición
Muestreo y retención
Fig. 17.9
especifica-
normalmente en las
adquisición es el
términos utilizados El tiempo de entrada, es de-
algunos retención.
Los siguientes son muestreo y valor de la
señal de tendrá
ciones de los dispositivos de alcanzar el dispositivo de bajo coste ten-
dispositivo para Un velocidad lo
tiempo que tardaelelcondensador en cargarse. 10 us. uno de alta que existe entre
cir, lo que tarda del orden de los de tiempo
lapso queda
condensador
un tiempo de adquisición apertura es el muestra y el una
El tiemp0 de retenerla mantenimiento sufriráuni-
drá de 25 ns o menos. da la orden para modo de valor por
el instante en que se analógica. La señal en el decrecimiento del convierte
entrada describir el retención se y
aislado de la
término es utilizado paraelemento de muestreo
y
convertidor A/D de 8 bits
caida; este disposi-
La salida desde el Un
convertidor A/D. alrededor de 20 ms, un un ele-
dad de tiempo. mediante el tiempo de transcurrido, con
en una señal digital conversión en un total A/D de & bits,
realizará un tanto, el tiempo un convertidor
bajo coste us. Por retención más orden de 10 us +20 ms.
lo hará en 5 muestreo y del conversión
tivo rápido salida digital
es total de grado en
mento de bajo coste dey producir unarápidamente, el tiempo muestreo y el
señal cambien de
para muestrear la que la velocidad
convertidor A/D tiene una sa-
analógicas determinar
Para señales importante al ellas. Siel de entrada analógica
pârámetro corresponderácon tratar una señal la
un se posible total T en que se realiza
que la señal digital para que
sea
durante el
tiempo
analógica con el tiemDo,
la
bits, entonces significativo
lida den
bit menosvelocidad de cambio de la señal
incluyendo el mnáxima deberá ser
Conversión, la slew rate,
respuesta o
llamada rapidez de 2-" V
máxima velocidad
270 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Ordenador
o cinta
Entradas Multiplexor Muestreo Convertidor magnética
o impresora
y retención A/D
de línea,
etc.
entradas, aunque
Típicamente, un registrador de datos puede tener de 20 a 100
Puede tener un
conectándolo a un ordenador se pueden manejar muchas más. 0,5
rapidez de respuesta de de
tiempo de muestreo yconversión de unos 10 us y una de la tensión
V/s. La rapidez de respuesta es la máxima velocidad de cambio 0,01 %
de alrededor de fondo
entrada que puede seguirse. La precisión es, típicamente. entrada a
de la entrada afondo de escala yla linealidad de t 0.005% de la puede
interferencia que
de escala. El término diafonía se utiliza para describir la otras entra-
suceder con la entrada resultado de la existencia de
das de señal.
muestreada como
1 1 I,1, o
(a)
(b)
Señales
digitales Señales analógicas
Señal digital
Problemas
situaciones:
1. Seleccionar, justificándolo, los transductores para las siguientes
Ganancia: de 1 a l.000
Ancho de banda: ganancia = 1, >2 MHZ; ganancia = 1.000, 40 kFz
Sistemas de instrumentación
275
en modo comín: ganancia = 1,70 dB mín.:
Relación de rechazo
ganancia =
entrada: diferencial, 3 x 10 2en 1.000, 100 dB mín.
Impedancia de en modo común, 6 X 100 paralelo con 2,0 pF:
2en
paralelo con 3,0 pF.
10. Explicar elsignificado de la rapidez de respuesta para un registrador de datos.
los factores que se tienen que considerar al
11. Explicarun transductor a un sistema de visualización. determinar
cómo se deberían
los datos
desde
parte de un sistema de control central de calor para
transmitir
12. Como en un
temperatura 20 puntos situados por partes del edificio.edificio,
diferentes Las
se propone un
control
de
marcado en la escala de 0 a 30°C con una
precisión requerida de t1°C. temperaturas han en
Proponer un sistema para po-
en un centro de control común todas las
der controlar temperaturas.
Capitulo 18
Procedimientos de test
Introducción
Eltest es realizar mediciones para averiguar si los productos cumplen con los
estándares y con la calidad especificados. El test puede realizarse durante el desa
rrollo de un producto para confirmar las decisiones de diseño, durante la manu
factura para controlar la calidad, en la aceptación por el cliente para asegurar que
el producto cumple las especificaciones, y durante su vida operativa para asegurar
que continúa con las prestaciones especificadas y para diagnosticar errores. Los
anteriores capítulos de este libro han tratado de los instrumentos de test, aquí se
considerarán los aspectos económicos y los procedimientos de test.
Frente a esto
hay que contraponer:
fallida, ya sea en el ciclo
1, Las Consecuencias en Coste de perder una unidad
ciclo.
de cualquier otro desistemas de test an-
teridiorsees.ñofabricación
2. El 0, posteriormente. en
fallida por
carecer
coste de recuperar una unidad
278 Mediciones y pruebas eléc1ricas y electrónicas
Comprobación manual
Lacomprobación manual implica una persona utilizando los instrumentos de
test para realizar medidas en una unidad y determinar si se estáoperando bajo es
pecificaciones y, si hay error, dónde estáéste. Una especificación de test para
comprobar que una unidad da las prestaciones requeridas debe incluir:
1. Sin alimentación, comprobación de continuidad y test de aislamiento. Para
ello se puede: comprobar que el terminal de salida negativo estáconectado al cha
sis, comprobar que el chasis está conectado al conector de tierra de la red, com
probar que la resistencia de aislamiento entre el conector de línea y la tierra del
chasis es mayor que, por ejemplo, 50 M2.
2. Con la unidad conectada a la tensión de red, realizar las medidas de ten
sión y de señal. Para ello se puede: comprobar que la salida desde la unidad tiene
los valores correctos y formas de señal para las distintas configuraciones de la uni
dad (también llamado test de prestaciones), medir la tensión en ciertos puntos
clave del circuito y comprobar que tiene los valores adecuados, comprobar la
incluir la
forma de señal en ciertos puntos clave del cirCuito. Estas medidas deben
utilización de un medidor multiescala y un osciloscopio.
3.Con la unidad conectada a la tensión de red, realizar un test de funciona
unidad cuando
miento real. Ello implica la comprobación de prestaciones de la
condiciones especitl
es puesta en marcha durante un periodo de tiempo con las
cadas.
| Osc1los
copio
(CRO)
Auto Fuente de
transformador
variable alimentación
Caroa
Fig. 18.1 Comprobación de una fuente de alimentación
Comprobar
respuesta un amplificador
en frecuencia yancho podría incluir
de banda, medidas dequeentrada,
impedancia serían impedancia
de la ganancia,de
salida, potencia de salida y distorsión. La medida de la ganancia de un amplifica-
dor se realiza,
amuestra
la el normalmente,
circuito. Con el generador
mediantede un
señal configurado
atenuador para
calibrado. dar
La lfigura
a frecuencia
18.2a
el cual se
requiere una ganancia determinadayel atenuador configurado a cero.
osvimientocilanotándose
carga,
altura
oscopide loa entrada
se utiliza salida del amplificador conectado ala
para representar la
del amplificador
la altura yel atenuador
de la traza. Entonces, se ajusta parareseguirá
el osciloscopio dar la elmismo-ma
del de traza en el La ganancia del amplificador es igual al valor
atenuador. osciloscopio.
El mismo
ganancia con la frecuencia de entrada y, por tanto, con el ancho de banda. La im-
montaje puede utilizarse para determinar cómo varía la
280 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Oscilos
Copio
Generador
(CRO)
Atenuador
de señal calibrador Amplificador Carga
(a)
CRO
Generador
de señal |Amplificador
(b)
CRO
Generador
de señal Amplificador 8,
(c)
CRO
Generador
de señal |Amplificador
(d)
Fig. 18.2
Comprobando un amplificador: (a) ganancia. b) resistencia de enuo
resistencia de salida, (d) potencia de salida
analógicos
Localización de fallos en circuitos
que enfrentarse con un fallo tiene
Un ingeniero de mantenimiento que tiene
dos posibles caminos básicos para localizarlo: una comprobación aleatoriaopara
en cualquier orden, me
encontrar el bloque fallido comprobando los circuitos sigue una secuencia lógica plani
diante un procedimiento sistemático en el que se puede, ocasionalmente, pro
ficada de comprobación. El procedimientoelaleatorio
ducir un resultado más rápidamente que sistemático, pero la mayoría de las
sistemático puede basarse ya sea
veces consumirá más tiempo. El procedimiento
de la unidad bajo test. El proce
en datos de fiabilidad o en la estructura funcional los bloques de circuitos y com
dimiento por fiabilidad incluye la comprobación de
los menos fiables los que se com
Ponentes en la secuencia de su fiabilidad, siendo
conocimiento de las fiabilidades de los bloques
Prueban primero. Esto reguiere un sin embargo, estar justamente basado en
y componentes de la unidad. Esto debe.
sobre el comportamiento de gran
experiencia del ingeniero de mantenimiento más probable que un oO
umero de unidades v el conocimiento de cuándo será
gue x falle primero. El procedimiento sistemático más ampliamente uunzado
para encontrar fallos está, sin embargo, basado en la inyección de señal yrequiere
las funciones de
un conocimiento de la estructura funcional de la unidad, es decir,
los diferentes bloques nodos del
La constituyentes. señales en las entradas o
inyección de señal implica lasintroducir
salidas u otros nodos. Para
mantener la canti
circuito 3ontrolar las señales en técnica de parti-
dad de controles al mínimo se realiza el proceso conocido comosubunidades. Se in-
ción cuando la unidad bajo test se compone de un número de Si se encuentra un
unidad.
yecta la salida de la
una señal a la entrada y se controla per-
medio camino. Esto
error de una subunidad a segunda
mite entonces
se controla la salida o en la
que el fallo sea diagnosticado en la primera media unidad
entonces en su
subuni-
comprueba
mediaa unidad.
dad
se
La media unidad con el errordeterminando la subunidad
fallida. Por
medio camino. De esta forma se va comprobación
secuencia de
ejemplser:o, con la
debe unidad ilustrada en la figura 18.3
la
la salida cn el punto de
1.
Con una señal aplicada ala entrada, se comprueba
test 4. Esto da una respuesta fallida.
282 Mediciones y pruebas eléctricas yelectrónicas
Puntos de test
1 2 3 4
Entrada
A B D Salida
B A
(a) (b)
Fig. 18.4 (a) Divergencia, (b) convergencia
Procedimientos de test 283
básicas de los
Las «herramientas» ingenieros de test son los
tenimiento ylas guías de localización de fallos manuales de man-
comosuministradas
instrumentos por el
la
unidad bajo test, e
tubos de rayos catódicos y
tales fabricante
medidores
multiescala,
de
oscilosco-
piosde generadores de señal. En algunos casos,
queriránjnstrumentos más especializados. se re-
1
-+V
3
Entrada A B C D
Pream Pream Contro Ampl1
plificador plificador lador ficador
Altavoz
Fig. 18.5
A
Entradas Salida
Fig. 18.6 Puerta NO-O de dos entradas
Ahora se considera un sistema mnás complejo, por ejemplo, uno que consiste
en tres puertas NO-Y con convergencia (fig. 18.7). La tabla de verdad para esta
configuración es
Entrada A01001101
Entrada B00101011
Entrada C00010111
Salida 00101 111
Se considera ahora un fallo que resulta de que la entrada B queda bloqueada a U.
Se requiere un test que determinarácuándo la entrada B está en estado lógico I.
entrada blo-
Una posibilidad es utilizar la entrada A=1, B=1, C= 0, ya que la
queada daría entonces una salida de Oen contra del valor 1 correcto. ma-
Las herramientas básicas de los ingenieros de test para la coomprobación
comprobador
nual de los sistemas digitales son el inyector («pulsador») lógico yel
lógico.
Entrada A
1
Entrada B 3
Salida
2 Sistema convergente
Entrada C Fig. 18.7
Procedimientos de test 285
Eltest que se requiere es aquel que distinga entre las salidas dadas cuando la entrada
Respuesta. bloqueada a 0. Por tanto, si Ase pone a 1 entonces con Ba 0la
de fallos ycuando está
Aestá libre
salida correcta será 1 y la salida incorrecta será 0. Alternativamentc, si se pone a Aa l entonces
la salida correcta será 0
yla incorrecta 1. Se puede utilizar cualquiera de los dos.
con Ba l
Comprobación automática
ATE:
Hay tres configuraciones básicas para los
componentes de
1. Comprobación de los componentes en circuito donde lossuponiéndose que
una unidad son comprobados uno a uno para encontrar fallos,
la unidad es co
si todos los componentes cumplen las especificaciones entonces
rrecta.
2. El test funcional donde la unidad se alimenta con señales y se realizan me
didas para verificar el funcionamiento correcto de la unidad.
3 Eltest combinacional que combina la comprobación de componentes en
circuito y el test funcional.
El test combinacional es mucho más caro que el test funcional y tiende aser
mas car que la comprobación de los componentes en circuito. Esta requiere una
plattna multicontacto individual para cada tipo de placa y. por lanto, es una inter
conecto
ucno màs cara que la que se requiere con el test funcional donde los
Tes laterales o de borde pueden utilizarse para las entradas y salidas de la placa en
cOnjunto. La platina multicontacto es una matriz de patillas (fig. l8.8), cada una
de las cuales está localizada en la posición correcta para hacer contacto con un
el circuito. Las patillas deben utilizarse para inyectar señalesen el circuito
CCDirlas y detectarlas. Lacomprobación en circuito tiene la ventaja de aslar el
lallo producido, pero no comprueba las prestaciones de los componentes tra
Componentes
Por tanto,
R,V,
R,=
Vo
Platina multicontacto
(a)
Nodo protegido
X
V
(b)
El test funcional implica aplicar señales de test a, por ejemplo, una PCB y de
terminar si el circuito como un todo está trabajando correctamente. Por ejemplo,
si el circuito que se comprueba es una puerta NO-0 de tres entradas, entonces la
tabla de verdad para esta puerta indica
Entrada A01001 101
Entrada B00101011
Entrada C00010111
Salida 11111 110
Por tanto, hay ocho plantillas de test de entrada que se pueden aplicar yse con
trola la salida para comprobar si la puerta está funcionando correctamente. Por
tanto, el proceso de test consiste en la aplicación de los sucesivos juegos de valores
en las entradas del circuito y observar las salidas resultantes, por ejemplo, entra
das A = 0, B = 0, C= 0para dar una salida de 1. Sin embargo, la mayoría de los
circuitos son considerablemente más complejos y la tabla de verdad para el cir
cuito como un todo, no sólo es muy difícil de determinar sino que incluye un gran
número de plantillas de test. Por esta razón, los ordenadores se utilizan muy a me
nudo para generar estas plantillas.
Autotest
Problemas
1. Una compañía X realiza la comprobación solamente cn el producto final ytiene una relación
de rechazo del 15%. Reparar esto es muy costoso. La dirccción desde hace muchos años ha conside
rado que realizar comprobaciones en fases anteriores de la producción podría ser muy caro. Dar argu
mentos que indiquen que es más económico comprobar los productos en ctapas anteriores a la inal.
2. Para alguna unidad, por ejemplo, una fuente de alimentación, pensar las especificaciones para
un test manual e indicar los instrumentos de test requeridos. Necesita saber cómo opera la unidad ysuS
distintos elementos constituyentes.
3. Especificar los métodos de medida que pucden utilizarse cn la comprobación de un amplifica
dor para determinar (a) la ganancia, (b) la distorsión. (c) la impedancia de entrada y() la respuesta
en frccuencia.
t Para el amplificador de transistor de una etapa mostrado en la figura 18.10, pensar una plani
cación de test, basada en medidas en los tres puntos de test marcados para las tensiones entre ellos y
masa. para fallos en cada resistencia que resultan en un circuito abierto. Debe cxtender las considera
9V
Puntos de test
a
0V
Fig. 18.10
290 Mediciones y pruebas eléctricas yelectrónicas
ciones de este problema teniendo cn cuenta los efectos de todos los posibles fallos, comprobando cl re
sultado de la planificación de test cn cl laboratorio.
5. Explicar la diferencia cntre cl|1test cn circuito y cl test funcional y dar una lista de lus
desventajas de cada uno.
6. Pensar un test para una puerta NO-0 de tres entradas que pucda detectar
ventajas y
está bloqueada al estado lógico 0. cuándo una cntrnda
7. Pensar un test para una pucrta NO-Y de tres cntradas que pueda detcctar
estábloqueada al estado lógico 1. cuándo una entrada
8. Para alguna unidad electrónica, tal como una impresora láscr, prescntar los
ven contra de la inclusión del autotest. argumentos cn pro
Apéndice A
El entorno
Precisión
medida?
7 iCuál es la precisión que se necesita en la
¿Se requiere la misma precisión sobre todo el
margen de medidas?
Þ.
electrónicas
292
Medicionesy pruebaseléctricas y
Resolución
Margeny escala
Salida
Características de respuesta
Calibración
calibra-
18. ¿Se requiere una gran manteniendo el instrumento su
ción durante largos periodos de estabilidad
19. ¿Cuánto tiempotiene que tiempo?
pasar entre las distintas calibraciones?
20. ¿Se requiere un sistema de
21. ¿Cuáles son las calibración propio?
necesidades para la calibración?
Interferencias yruido
una
22. ¿La contrario, tiene
cantidad que se
conexión atierra? quiere medir es flotante o, por el reali-
23. va a
¿Hay
zar la medida? campos magnéticos o parásitos donde se
electrostáticoS
Criterios para la selección de instrumentos 293
Fiabilidad
Coste
coste en la selección del instru
30. ¿Existe algún tipo de limitaciones de
mento?
5
Apéndice B
Glosario de términos
Las siguientes definiciones son algunos de los términos más comúnmente utili
zados en las especificaciones de prestaciones de los instrumentos y sistemas de
medida.
Amortiguación. Un instrumento se dice que está amortiguado cuando la
amplitud de las oscilaciones libres del índice se reducen progresivamente o se
han suprimido completamente. El instrumento estásubamortiguado cuando
existen oscilaciones, críticamente amortiguado cuando el grado de amortigua
ción es justamente suficiente para evitar la oscilación y sobreamortiguado
cuando el grado de amortiguación es más que suficiente para evitar la oscilación.
Ver aperiódico.
Amplitud. La amplitud de un impulso se mide desde el nivel en el que dicho
impulso comienza, es decir., la línea base, hasta el valor esperado del impulso.
Ancho de banda. El ancho de banda puede ser definido comno el margen de
frecuencias para las cuales la función de transferencia no es menor de un 70,7%
de su valor de pico G, es decir, GIJ 2. Una definición alternativa para expresar
esto es que el ancho de banda es el margen de frecuencias para las cuales la fun
ción de transferencia está incluida en 3 dB (decibelios) de su valor de pico. El
cambio de 3 dB significa que la función de transferencia cambie en 1//2.
Anchura de inpulso. Es el tiempo que transcurre desde el punto de 50% de
la amplitud en el'lanco de subida hasta el punto de 50% de la amplitud en el
flanco de bajada.
Aperiódico. Un instrumento se dice que es aperiódico cuando el movimiento
de su índice está críticamente amortiguado o sobreamortiguado. Ver amortigua
ción.
Belio. Ver decibelio.
Bit. Es la abreviatura de dígito binario, 0o 1.
Caida. Es la cantidad en la que el valor de pico de un impulso decrece du
rante el mismo.
de la can
Calibración. Es el proceso de determinar la relación entre el valor del
posición del índice instru
ad que se quiere medir y la correspondiente
mento.
anchura del
Ciclo útil. Este término se utiliza para definir la relación de la
Impulso yel tiempo de ciclo del impulso o periodo.
y electrónicas
Mediciones y pruebas eléctricas
296
anchura del impulso
ciclo útil % = X 100%
periodo del impulso
Coeficiente de fallo. Es el promedio del número de fallos por elemento Por
unidad de tiempo. Por tanto, si Nelementos se comprueban durante un tiempo 1,
siendo reparados los elementos fallidos y puestos otra vez. en servicio. entonces si
durante ese tiempo hay N, fallos
coeficiente de fallo = N
Nt
desviación = x -
con x como valor medio. entre la
Desviación estándar. La desviación para una medida es la diferencia para to-
media y el valor de esa medida. La suma de las desviaciones al cuadrado
media delos
das las medidas obtenidas n, da la desviación
dividida por el número de medidas es la
cuadrados de las desviaciones. La raíz cuadrada de esta cantidad
estándaro.
NF= 10log
(SIR)ent
(SIR)sal
donde (S/R), es la relación de señal ruido a la entraday (S/R)l es la relación a la
salida.
Factor Q. Se define como
2T X máxima energía almacenada en un ciclo
Q=
energía disipada por ciclo
Esto puede mostrarse que es, para un condensador considerado como una ca
pacidad en serie con una resistencia, o para un inductor como una inductancia en
serie con una resistencia,
reactancia
Q=
resistencia
media aritmética
eDgO. Error constante que existe para todo el margen de sus mnedidas.
Slew rate. Ver rapidez de respuesta.
Sobreimpulso. Es la desviación por encima del valor normal del impulso in
mediatamente después del flanco de subida. Alternativamente, puede ser utili-
zado para describir la cantidad por la cual la aguja de un instrumento sobrepasa el
valor esperado cuando hay una entrada repentina en el instrumento.
Sobreoscilación. Es la oscilación que ocurre en la parte superior de un im
pulso justo después del flanco de subida.
Tasa de fallos. Ver coeficiente de fallo.
electrónicas
302 Mediciones y pruebas eléctricas y
Tomperatura de funcionamiento. Es el margen de temperaturas entre lae
el instrumento se puede utilizar para dar la preCISiOn, estabilidad, etc., esperad
Tiempode bajada del impulso. Es el tiempo requerido por un impulso
normal.
caer desde el 90 hastael 10 % de su amplitud
Tiempo de conversión. Es el tiempo que tarda un convertidor
analógicoldigi-
tal para generar una palabra digital completa cuando se le suministra una entra
analógica, o viceversa para un convertidor digital/analógico.
Tiempo de escritura. Este término se utiliza en los tubos de ravos catád:
para definir el tiempo transcurrido desde el comienzo de la excitación del fácf
hasta llegar al 90% de la máxima intensidad más el tiempo de persistencia (ver
tiempo de persistencia).
Tiempo de establecimiento. Es el tiempo requerido para que la sobreoscila
ción de un impulso decrezca a un porcentaje dado, usualmente entre el 1yel 5%
del sobreimpulso. Ver sobreoscilación y sobreimpulso.
Tiempo de persistencia. Este término se utiliza en los tubos de rayos catódi
cos para definir el tiempo que transcurre para que la pantalla de fósforo caiga a un
10% de su luminancia cuandolos electrones cesan de bombardearla.
Tiempode respuesta. Tiempo que transcurre desde que hay un cambio en la
cantidad que se quiere medir hasta que el instrumento de medida responda co
rrectamente al cambio.
Tiempo de subida. Este término se utiliza en los osciloscopios de rayos cató
dicos para el tiempo que tarda la deflexión en ir desde el 10hasta el 90% de su de
flexión finalcuando hay una entrada escalón.
Tiempo de subida del impulso. Es el tiempo requerido por un impulso para
subir desde el 10 hasta el 90% de su amplitud normal.
Tiempo medio de reparación (MTTR). Es el promedio de tiempo que se
toma parareparar un sistema.
Tiempo medio entre fallos (MTBF). SiN sistemas se comprueban durante un
tiempo t, con los elementos fallidos siendo reparados y puestos en servicio, enton
ces si durante ese tiempo hay N, fallos
N,
MTBF =
produzca
Tiempo medio sin fallos (MTTF). Promedio de tiempo para que seesimposi-
un fallo para un número de muestras de un suponiendo que
ble ono económico repararlas. Por tanto, siproducto,
Nelementos se comprueban y el
prome-
tiempo sin fallo para cada uno de ellos es t,, I,, I3,. , tN, entonces el tiempo
dio sin fallos es
MTTF=
N
Tolerancia. Ver límite de error. instru-
Umbral. Es el que el
mento responda y dévalor mínimo que debe tener
una lectura
una sefñal antes de
correcta.
Glosario de términos 303
Capítulo 2
1. (a) ±30 Hz;
2.. 5,0 (b) +30 kHz
3. (a) +±0,2 ms
3; (b) + 1,7
4.
5. 0,15°C
200 uV
306 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Capítulo 3
Capítulo 4
1 0,9996 o 99,96%
2. 0,10
3. (a) 0,004 por hora; (b) 250 horas
4 2,5 X 10' horas
5 0,998
6. (a) 0,99; (b) 0,61; (c) 0,37; (d) 0,0067
7. 0,98
8. 0.975
9. 0,44
10. 0,93
11. 0,9999
12. 0,9999
Soluciones a los problemas 307
Capítulo 5
1. Ver texto
mundial y la posibilidad de ser al
2.
Ver texto; considerar la realización anivel
macenada
Capítulo 6
reducen a la mitad
1. Todas las desviaciones se kQ
(c) 950 S; (d) 19.950
2. (a) 0,25 S2; (b) 0,010 2;0,4495
S; Q4
3. 0,00505 S2; 0,04545
4. 0,050 2;0,453 S2; 4,522 2multiplicador para cada escala es de 950 2; 9.9502:
5. La resistencia total del
99.9502
6. 10 k2/V
7. -2,9%
8. 33%
9. 492 2: 10 S2
10. L=0,64 I; I; 0,70 I,
11. 5,0 A:7,1 A
12. Ver texto
asume que es senoidal.
13. La escala que convierte a los valores eficaces se
termopar:; (b) medidor de hierro
14. Las sugerencias deben ser (a) medidor de bobina móvil; (d) medidor
móvilo medidor de hilo dilatable: (c) medidor de
electrónico
Capítulo 7
1. Ver texto
2 24,4 mV
3 0,098%
4. Ver teXto
500
6 8 us
dependiendo de la rapidez:
a) Kampa; (b) aproximaciones sucesivas o flash
(C) un convertidor A/D integrador, por ejemplo, de doble rampa
9. talla de 4 dígitos con el MSD que sólo pueda ser 0ol
0,1 V
308 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Capítulo 8
1. Ver texto
2. Por ejemplo, un gráfico rectilíneo para (b) (c)
mejor que uno curvilíneo para (a);
mayor sensibilidad y ancho de banda para
3. 0,5; X0,73
4. 60S en serie
5. (a) 0,22 rad/V; (b) 2,0; (c) 3,6 Hz
6. Por ejemplo, el tipo potenciométrico tiene mayor impedancia de entrada,
mayor precisión, pero la lectura es más lenta y sólo se puede utilizar en c.c.
7. Ver texto
8. Ver texto
Capítulo9
1 + 2% omás ajustadamente + 1,4%
2. Para minimizar la carga (ver capítulo 3)
3. Precisión de los medidores, carga
4 8,0 2
5. 0,044 V
6. 6,1 uA
7. 16,7 mm
8. Ver texto y figura 9.7
9. 0.23 V
10. 0,021 2
11. 400Z 80° S2
12. 20 S2; 20 mH
13. 49 mH; 18,4 S2
14. 2,4 uF; 0,83 k2
15. 0,2 uF; 55 2; 0,069
16.0,050 uF; 860 S2; 0,043
17. 9,6 mH; 20 2
18. Ver texto
19. Ver texto y figura 9.31
20. 7,3 pF
21. 160 pF;3,5 kSQ
Capítulo 10
1 Ver texto yfigura 10.2
2 Ver texto y figuras 10.3 y 10.4
3 50 W; una escala lineal
4. 10kW:0,82
Ver texto y figura 10.12
6. Vatímetro de muestreo; tiempo para tomar muestras
Soluciones a los problemas 309
Capítulo 11
Capítulo 12
1. 23,54 kHz
2 1en 1.000
3 Ver el texto en errores de conmutación
4. Ver texto
5 lparte en 999.999; 9,99999 MHz
6 t 0,00035%
1. +0,1%
8. Ver texto
Capítulo 13
nartiey y Colpitts de 10 kHz a 100 MHz. Wien hasta 1MHz, desplazamiento
1.
de fase hasta 10 MHz
2. Ver texto
3. 25%
4. Ver texto y figura 13.3
5. Ver texto y ecuación |3
6.
7
Ver texto y figura 13.4
er texto y figuras 13.7 v 13.8: directo mediante armónicos, indirecto me
diante un divisor con un bucle de enganche de fase.
310 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Capítulo 14
1. Ver texto yFig. 14.4
2. Ver texto
3. (a) 10 MHz;9,995 MHz; 10,005 MHz; (b)0.06
4. (a) 1 MHz; 0,995 MHz; 1,005 MHz; (b) 0,63
5. (a) 0,8%; (b) 1,7%
6. Ver texto
Capitulo 15
1 Ver texto
2. B
3. Ver texto y figura 15.5
4. Ver texto
5. Ver texto
6. Ver texto
Capítulo 16
1. Ver texto y figura 16.4; en serie - barato pero lento, en paralelo - rápido pero
caro
2. Ver texto
3 Ver texto; dato válido, no preparado para datos, dato no aceptado
4 Ver texto; simplificación o interconexión
5. Ver texto, bits de comienzoy final
6. Ver texto y figura 16.2
Capítulo 17
1. Por ejemplo, (a) termopar: (b) célula fotoconductora; (c) extensímetro de re
sistencia; (d) potenciómetro.
2. Ver texto
3. 0,059 V
4 5,25 × 105 V
5 2,49 × 10- F
6 0,05 mm
7 Eldiseño puede utilizar cuatroindicadores para el soporte del tanque
un puente de Wheatstone dando una lectura de desequilibrio forma
El volumen del flotador sumergido determina la fuerza ejercida yla
9.
delcontrapeso; la cantidad de deformación experimentada
Ver texto
10. Ver texto;máxima relación de cambio de señal que puede ser resuelta
Soluciones a los problemas 311
Capítulo 18
1. Ver texto
2. Considerar la continuidad, el aislamientoy el funcionamiento con la alimen
tación conectada
3 Ver texto
4 R, = 0; V=9V; V= Vy=0; R, = 0; V, por debajo de lo normal; V, y V; por
encima de lo normal; R, = 0, todas las señales por debajo de lo normal. Con
R =0oR3 =0 no hay salida, con R, =0 la salida estádistorsionada.
5 Ver texto
6. Abloqueada en 0, aplicar A= 1, B=C= 1cuando el error de salida sea l.
A bloqueada en 1, aplicar A =0, B =C= 0 cuando el error de salida sea 0.
8 Ver texto
Índice alfabético
Belio, 35,295
A
Bits, 104, 295
Acondicionamiento de señal, 263 Bucle de masa, 52
Acoplamiento capacitivo, 51 Bus, 249
-electromagnético, 51 en serie. 249
- inductivo, 51 estándar, 251
magnético, 51 IEEE-488, 251
Ajuste incorrecto,6 paralelo, 249
Aliasing, 196
Almacenamiento en discos magnéticos, 129
Amortiguación,28, 295 C
Amplificador de instrumentación, 265
diferencial, 53, 265 Caída, 269, 295
inversor, 264
Calibración, 32,67, 292, 295
no inversor, 265 Canal, 191
Cantidad a medir, 291
operacional, 263
- de sustancia, 68
Amplitud, 295
- del impulso, 214 Cápsulas, 243
Características de respuesta, 292
Análisis de firmas, 240
de señal, 221 funcionales, 27
Analizador de distorsión, 231 Carga, 41
armónica, 231 de un potenciómetro, 44
Ciclo de trabajo, 213
de espectro, 225 - útil, 213, 295
de frecuencia de barrido, 225 Cifra de ruido, 51, 233
-de onda, 223
Circuito de Colpitts, 212
heterodino, 224 de disparo, 186
de transformada de Fourier, 230
de Hartley, 212
Analizadores
Ancho de
lógicos, 242 de medidor Q, 161
banda, 33, 295 corriente continua, 91
Anchura del impulso, 214, 295 - paraescala decontinua, 91
de tensión
Ångulo plano, 68 resonante serie, 161
sólido, 68 comprobación, 237
Circuitos digitales,
Apantallamiento electrostático, 52 -equivalentes para R, Ly C, 145
Aperiódico,
ATN, 252
295 CMRR, 54,300
correlación, 17
Coeficiente de
Autocapacidad,
Autotest, 288
165 - de fallo,
59, 29%
61
en el tiempo,
resistencias, 168
Comparaciónde
Comparadores lógicos,240
B extensímetros, 140
Compensación con
conductores. 139
Banco de filtros paralelo, 225 -para
Comprobabilidad, 2, 296
Banda muerta, 124 Comprobación automática, 285
Base de tiempos, 186
314 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
Comprobación de ganancia, 280 Distorsión armónica total, 231
de potencia de salida, 280 Distribución de frecuencia, 10
de resistencia de entrada, 280 gausiana, 10
de salida, 280 normal, 10
de un amplificador, 280 Divergencia, 282
de una fuente de alimentación, 279 Doble rampa, 108
manual, 278
Comprobador automático, 248
Condensador calculable, 71 E
Condensadores patrón, 71
Conector óptico, 254 Economía del tecst, 277
Contador básico, 203
Ecualización de amplitud, 128
Contadores, 203
Control de transferencia, 250
Efecto Josephson, 70
Electrodinamómetro, 99
Convergencia, 282 Elemento de muestreo y retención, 268
Conversión analógicoldigital, 103, 105, 268 -linealizador, 266
Convertidor analógicoldigital, 106 Elementos en paralelo, 65
A/D de aproximaciones sucesivas, 106 Emisor, 250
de doble rampa, 108 Enésimo armónico, 222
de rampa, 107 Entorno,291
de tensión-frecuencia, 109 Entrada flotante, 54
de frecuencia heterodino, 205
EOI, 252
flash, 107 Error, 3, 30, 297
Corriente, 68 de cero, 5, 31
Coste, 293 -de cuantificación, 297
Criterios funcionales, 73 de disparo, 208
Cronogramas, 244 de histéresis, 32
de no linealidad, 31, 297
de paralaje, 5
D Errores aleatorios, 4, 297
ambientales, 5
DAV, 251 de aproximación, 6
Decibelios, 35, 296 de base de tiempos, 207
Deriva, 30, 296 de cálculo, 6
- de la sensibilidad, 29, 296 de calibración, 5
Deriva del cero, 30, 296 de carga, 6
Desviación, 8, 296
de conmutación, 207
cuadrática media, 8 de envejecimiento, 6
-estándar, 8. 296 de cquipo, 5
- de fabricación, 5
-media, 8, 296
de inserción, 6
Detector de corriente, 239
de lectura, 6
Detcctores, 237
Deutsches Institut für Normung, 37 de medida, 207
estocásticos, 5
Diafonía, 270, 297
humanos, 4
Diagrama de fasores, 176
Diagrama de puntos, 15, 21 operativos, 4
sistemáticos, 4, 297
Diagramas temporales, 244
Difercncia de fase, 200 Error estándar de la media, 8
-probable, 10, 11, 297
Dimensiones, 33 Escala, 28, 292, 297
Discriminación, 29, 297 Espacio muerto, 28, 297
Diseño, 27
Disparo, 186 Especificaciones, 27
Disponibilidad, 60, 297 estándar, 36
Dispositivo activo, 256 Espectro de amplitudes, 223
- pasivo, 256 de fases, 223
de frecuencias, 223
Distorsión armónica, 231
Indice alfabético 315
Estabilidad, 32, 297 H
7
Estadística de errores,
Estándares, 67, 297
británicos, 36 Handshake, 250
38 Hexadecimal, 242
-de calidad, errores, 6 Histéresis, 298
Estimación de Histograma, 10, 22
Exactitud, 3, 297
Exceso de ruido, 234
F IFC, 252
Factor de amortiguación, 120
Impedancia de salida, 33, 211,299
-de disipación, 146, 298 Impedancias parásitas con puentes de ca., 155
- de escala, 32, 298 Impulsos, 214
- de forma, 298 Inclinación, 299
- de potencia, 171
Indicadores, 113
en adelanto, 171 analógicos, 113
en retardo, 171 digitales, I13
-de rebasamiento, 120 Inductancia de Campbell, 70
Inductor, 165
-de ruido, 51, 232, 298 Institute of
Q, 298 Electrical and Electronics Engincers.
37
Fallo, 59
Fiabilidad, 32, 57, 293, 298 Instrumento, 27
de un sistema, 64 aperiódico, 28
con multiplicador. 81
Figuras de Lissajous, 198, 199 de doble traza, 191l
Filtros, 52
Firma, 241 de tipo de atracción,94
Floppy, 129 incorrecto, 6
Fósforo, 183 indicador, 27, 299
Fósforos, características de los, inteligente, 55
184 mudo,55
Frecuencia, 10
de muestreo, 29, 298 registrador, 28, 299
de Instrumentos automáticos, 247
repetición de impulsos, 215, 298 Intensidad luminosa, 68
-fundamental,
FSK, 272
222 Interfaz de E/S, 252
Fuentes de alimentación, 182 Interferencias, 46, 51, 292, 299
de error, 4, 41 International Electrotechnical Commission, 37
de señal, 211 Intervalo de escala, 299
total, 299
Inyectores, 237
Inyector lógico, 238
Galvanómetro
-
de punto
respuesta del, 119 luminoso, 93
Ganancia,
Generador
298de LED, 253
frecuencia de barrido, 215
de función, 211 Ley exponencial de la fiabilidad, 62
de impulsos, 213 Límite de error, 4, 299
de ondas Línea de regresión, l6
cuadradas,
Senoidales 213
e impulsos
Listener, 250
Localización de fallos en circuitos analógicos, 281
Generadores
-de
ruido,
de rectangulares, 214
48 función, 219
-digitales, 283
Glitches, 244
Gráñcos barras, 22
de
Longitud, 68
de escala, 28, 299
de pastel, 22 -de onda registrada, 126
lineales, 21 Longitudes de los bucles, $2
-de los cables, 52
316 Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas
M Mejor valor, 7
Método de amperimelro-voltímctro para resis
Margen, 28, 292, 299 tencias, 131
dinámico, 228, 299 de cero, 1
efectivo, 299 de los dos vatímetros, 176
Masa, 68 de los tres vatímetros, 175
Mecanismo d'Arsonval, 75 -de sustitución, 1
Media, 299 Módem, 272
aritmética, 7, 299 Modo alternado, 191
verdadera, 7 -asíncrono, 244
Medida, 1, 27 continuo, 196
- de altas impedancias, 164 -de enclavamiento, 244
de corriente, 100 de refresco, 197
de energía, 171 -de retención, 197
de frecuencia, 205 Modos de medida, 204
de intervalos de tiempo, 206 Modo simple, 197
del factor de potencia, 173 -síncrono, 244
de pequeñas impedancias, 162 troceado, 191
de periodo, 206 Modulación en frecuencia, 127
de potencia, 171 MTBF, 59,302
potencia con una carga equilibrada, 175 MTTF, 60, 302
exacta, 4 MTTR, 60, 302
,métodos de, 1 Muestreo de datos, 242
precisa, 4 Multímetro de bobina móvil, 90
Medidas analógicas, 1 -digital, 111
-comparadas, 1 Multímetros digitales, prestaciones, 109
con osciloscopios, 198 Multiplicadores,81
de componentes, 131
de ruido, 232
-digitales, 2 N
Medidor de bobina móvil, 76
efecto de la temperatura, 82 NDAC,251
de la escala de corriente, 78 Nivel de confianza, 11
de tensión, 81 NMRR, 54,300
medidas en c.a., 84 Nofiabilidad, 58, 299
óhmetro, 87 NRFD, 251
prestaciones, 86 NRZ, 128
principios, 75
-: sensibilidad, 83
de hierro móvil del tipo de atracción, 94
- de repulsión, 95
extensión de escala, 96 Offset, 31, 300
prestaciones, 97 de línea base, 214
principios, 94 Óhmetro, 87
de hilo dilatable, 97
tipo serie, 87
- de imán permanente ybobina móvil, 75 -shunt, 88
del factor de potencia de bobinas cruzadas, 173 Onda cuadrada, 74
de Q, 160
en diente de sierra, 186
de termopar, 97 -senoidal, 74
de vatios-hora, 179
Oscilador básico, 213
digital, 73, 103 de desplazamiento de fase, 212
lérmico, 97
Osciladores, 212
Medidores analógicos, 73
de vatios-hora, 172 Osciloscopio básico, 181
clectrostáticos, 98 -de almacenamiento digital multicanal, 197
Mejor línca recta, l5 Osciloscopios, 181
de almacenamiento, 193
Indice alfabético 317
Osciloscopios almacenamiento digital, 195 Puente de Wheatstone: tensión de
haz, 191 Puente de Wien, 154, 212 salida, 134
de doble
cntradas, 191 doble de Kelvin, 141
de dos
de memoria, 193 -equilibrado, 131
de muestrco, 192 -
extensométrico dc cuatro brazos activos, 140
Oyente, 250 protegido, 143
transformador de relación doble, 159
simple, 156
universal, 159
P Puentes, 131
automáticos, 168
Palabra, 104, 243, 300 -transformadores, I56
- binaria, 300
Pares trenzados, 52 Puerta NO-0 de dos entradas, 284
Patrones, 32, 67, 300 Pulsador lógico, 238
de referencia, 70
- de trabajo, 71, 300
R
eléctricos, 68
primarios, 69, 71, 300
secundarios, 71, 300 RAM. 254
Periodo, 221
Rapidez de respuesta, 34, 124,269, 270, 300
Persistencia, 183 Rechazo del ruido, 53
Peso, 33 Reducción de errores, 6
Pilas Weston de mercurio-cadmio, 70 Redundancia, 65
Referibilidad, 32, 71, 300
Pinzas lógicas, 239 Registrador de bucle cerrado, 123
Pistas, 129
-de filo de cuchilla. 115
Placas de deflexión X, 186
-Y, 184
-galvanométrico, 114
,comportamiento dinámico, I16
Planificación de comprobación en circuito, 286 120
funcional, 288 , respuesta en frecuencia,
ultravioleta, 116
de test manual, 278
Platina multicontacto, 248, 285 gráfico de lectura directa, 114
Pods, 243 ultravioleta, 116
Registradores, 113
Porcentaje de error, 3
Posibilidad, 58 analógicos, 113
Postimpulso, 214, 300 de cinta magnética, 125
Potencia aparente, 171 de datos, 270
113
de entrada, 33 de lectura directa,
reactiva, 171 digitales, 113
potenciométricos, l23
Precisión, 3, 29, 30, 291,300 -X-Y, 124
Preimpulso, 214, 300 Registro digital, 128
Primer armónico, 222 directo, 127
Probabilidad, 57, 58 sin retorno a
cero, 129
Procedimientos de test, 277 mano izquierda, 75
Regla de Fleming de lamínima, 16
Procesado de señal, 263 Regresión cuadrática modo común. 54. 300
PSK, 272
Puente de alta resistencia, 143 Relación de rechazo en
300
de c.a., 144 -normal, 54,
33, 50, 301
de capacidad en Relación señal/ruido,
en serie, 151 paralelo, 153 REN, 252
Repetibilidad,32, 301
de Hay, 148 Representaciónde
contornos, 21
de Maxwell-Wien, 146 de datos, 21
- de Owen, Reproducibilidad, 3.2, 301
150
de Schering, 155 Resistencia compensadora, 82
-de
Wheatstone, 132
equilibrado, 132
terminales, 143
- de tres terminales, 141
de cuatro
compensación, 138
318 Mediciones y pruebas eléctricas y clectrónicas
Resistencia patrón, 70 Sondas de corriente, 190
Resolución, 29, 104, 225, 292, 301 - de osciloscopio, 187
Respucstas a los problemas, 305 SOR, 252
Retraso, 301 Subsistcma de deflexión horizontal, 186
ROM, 254 vertical, 184
Ruido, 41, 46, 292, 301 Suma de crrores, 12
aleatorio, 46, 301
blanco, 47
T
de cuantificación, 301
de luctuación, 48 Tabla de estados, 244
de granalla, 47 Talker, 250
de Johnson, 46 Tasa de fallos, 301
en modo común, 53, 54, 301
normal, 53, 301
Técnica de comprobación por partición, 282
rosa, 48
de partición,281
térmico, 46 Temperatura, 68
de funcionamiento, 33, 302
Teorema de Fouricr, 221, 222
-de Thévenin, 42
Tercer armónico, 222
Test, 1,2
Salida, 292 automático, 2
Seguidor de corriente, 239 manual, 2
Segundo armónico, 222 THD, 231
Selección de instrumentos, criterios para, 291 Tiempo, 68
de transductores, 257 de adquisición, 269
Sensibilidad, 29, 82, 301 de apertura, 269
Señales senoidales, 222 de bajada, 214
Servorregistrador de bucle cerrado, 123 del impulso, 302
Sesgo, 31, 301 de conversión, 105, 302
Shunt Ayrton, 78 de desvanecimiento, 183
de instrumento, 78 de escritura, 183,302
universal, 78 de establecimiento, 215, 302
SI, 67 de persistencia, 302
Sin retorno a cero, 128 de respuesta, 33, 302
Sintetizador de frecuencia, 217 Tiempo de subida, 185, 214, 302
directo, 217 del impulso, 302
indirecto. 218 medio de reparación, 60, 302
Sistema convergente, 284 entre fallos, 59, 302
de deflexión horizontal, 182 sin fallo, 60, 302
vertical, 181 Tierra de Wagner, 155
-de medida potenciométrico, 166 -simple, 52
-de test,247 Tierras múltiples, 51
automático, 249 Tolerancia, 4, 302
-de visualización, 181, 67 Transductor, 255
Sistemas de adquisición de datos, 270 Transductores eléctricos, 255, 257
-de instrumentación, 255 Transferencia de información, 248
Sistema SI, 67 Transmisión asíncrona, 250
Slew rate, 34, 124, 269,301 -de datos, 270
Sobreimpulso, 185, 215, 301 de señales digitales, 271
Sobreoscilación, 215, 301 Transmisiones analógicas, 271
Sonda 10 a 1, 189 Transmisión síncrona, 250
10 a l con condensador de compensación, 189 Triángulo de potencia, 171
-lógica, 237 Tubo de almacenamiento bËestable, 193
pasiva de tensión, l88 - de memoria biestable, 194
Sondas, 237
de persistencia variable, 194
activas, 190 -de rayos catódicos, 182
Indice alfabético 319
Vatímetro, 171
compensado, 173
Umbral, 302 Conexiones del, 173
Unidades, 67 elcctrónico, 174
derivadas, 69 monofásico, 172
clctricas, 69 -trifásico, 175
magnéticas, 69 Velocidad en baudios, 250
mccánicas, 69 Voltímetro de respuesta de pico, 91
eficaz, 92
media, 91
digital, 103
303 -programable. 253
Valor de referencia, 30, 37, clcctrostático, 98
eficaz, 303
Valores binarios, 104 programable, 253
Voltímetros digitales, prestaciones, 109
-de flujo de saturación, 128 Voltímetro selectivo de frecuencias, 223
Valor real, 303
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