EVOLUCION DE LAS PROTECCIONES ELECTRICAS

Como en general es conocido por quienes han estudiado acerca de las protecciones
eléctricas, estas han evolucionado desde los albores de la explotación comercial de la energía
eléctrica de una manera notable.

Todo ello principalmente en el siglo XX.

Las primeras protecciones de las primeras décadas (hasta los años 20) consistían en
dispositivos mecánicos accionados por bobinas que constituían electroimanes, los cuales eran los
elementos que sensaban tanto corriente como tensión.

Es decir que, si bien se las denominaban electromecánicas, eran prácticamente

mecánicas.

En la década del 30 la evolución introdujo mecanismos de relojería no demasiado

refinados pero donde el accionamiento eléctrico a través de bobinas y relés comenzaron a
abundar.

Esto se acentuó en las décadas del 40 y 50 en que los mecanismos de relojería se tornaron
mas refinados y de una altísima calidad y precisión.

Luego para la década del 60 se introdujeron reactores y comparadores eléctricos a fines

de lograr el efecto de desplazamiento o compoundaje de las características de los relés de
impedancia, las cuales eran eminentemente circulares.

Toda ella constituyó la era de las protecciones electromecánicas.

Hacia fines de los años 70 y dur ante los 80 se produjo el desarrollo y advenimiento de las
protecciones estáticas.

En ellas la mayoría de los componentes que eran electromecánicos, tanto comparadores

como relés, se implementaron con dispositivos electrónicos (diodos y transistores discretos),
aplicándose compuertas lógicas y principios de control numérico o digital.

Esto trajo aparejado una disminución del tamaño de las protecciones.

Luego estas protecciones estáticas evolucionaron hacia la utilización de dispositivos

integrados y con ello su tamaño se fue reduciendo aún mas.

Tanto en las primeras generaciones de tecnología discreta como las de tecnología

integrada se logró una mayor versatilidad de las características de las distintas protecciones.

Existía una natural desconfianza hacia las protecciones estáticas de parte de los
especialistas en protecciones, dado que se pensaba que la probabilidad de falla de las mismas era
mayor que el de las protecciones electromecánicas, así como mas riesgosa la compatibilidad
electromagnética, es decir la posibilidad de que se produjeran accionamientos indeseados debido
a interferencias provenientes del cableado y campos presentes en las subestaciones o
instalaciones en las cuales se instalaban.

Ello no dejo de ser cierto en no pocos casos, pero la presión de los fabricantes así como la
mayor economía y la mencionada mayor versatilidad que se fueron obteniendo fueron
imponiendo la tecnología electrónica.
 Hacia los fines de la década del 80 y durante los años 90 se desarrollaron las
denominadas protecciones digitales, las cuales acentuando la utilización de la electrónica
integrada y de los microprocesadores, permitieron obtener protecciones mucho mas versátiles en
cuanto a características, grupos de ajustes y también incorporar funciones de listado de eventos,
oscilografía y localización de fallas, funciones estas últimas que anteriormente se cumplían con
dispositivos separados.

Hoy en día se habla de Sistemas de Protecciones digitales y, aún más, de Sistemas

operativos con la función de protección que constituirían Sistemas de Protecciones
Adaptativas.

Lo primero que se hizo con el advenimiento de los dispositivos electrónicos fue lo que
era dable esperar, es decir, partiendo de los conceptos teóricos de las protecciones
electromecánicas y las estáticas se diseñaron algoritmos de cálculo que, mediante un programa
de protección ejecutable por una computadora digital permitiera obtener las características de las
protecciones convencionales, así como las funciones adicionales de oscilografía y localización
de falla (estas últimas con algoritmos de ejecución mas lenta por su mayor precisión, pero que no
necesitan de una alta velocidad como es el caso de la función de protección).

Las posibilidades de evolución son los sistemas de protecciones adaptativas ya

mencionado, los que tienen la capacidad de acomodarse o producir modificaciones en el Sistema
Eléctrico de Potencia (SEP) ante una falla y la aparición de un transitorio de inestabilidad en el
mismo.

Es decir la protección está integrada al Sistema Operativo que debería reconfigurar al

SEP y a su vez las protecciones acomodarían sus ajustes al nuevo esquema de la red.

Por otra parte las protecciones también podrían adaptarse a moderados errores en
componentes tales como los transformadores de medida y de ese modo aumentar la confiabilidad
del sistema.

Todo ello es complejo y para lograrlo se debe tener en cuenta las condiciones operativas
y variables del SEP en cuanto a generación presente antes y después de la falla así como las
condiciones de carga.

En ello entran en consideración los sistemas de despacho de generación y de alivio de

carga por actuación de detección de variación de frecuencia.

Toda esta información debe ser procesada por un único computador el cual debe contar
con un sistema de comunicaciones muy confiable y veloz.

PROTECCIONES DIGITALES

INDICE

- Prólogo
- Desarrollo de protecciones digitales
- Arquitectura del relevador digital
- Estudio de filtros:
Introducción.
Algoritmos de filtrado digital
Algoritmo de Fourier
Algoritmo de la ecuación diferencial.
- Algoritmos de protección.
 PROLOGO

En el capítulo “Desarrollo de protecciones digitales” se muestran las razones que

motivaron el uso de computadoras digitales para el control, monitoreo y protección de los
Sistemas Eléctricos de Potencia.

Las razones técnicas y económicas que se destacan son: autochequeo y confiabilidad,

integración del sistema, flexibilidad, robustez y costo.

En el capítulo siguiente se hace una descripción de la arquitectura básica de un relé

digital comenzando con la adquisición de la información del medio exterior, esto es la
introducción de señales analógicas y digitales (o contactos de estado) y las etapas de filtrado
analógico (filtros antialiasing o antisolapamiento).

Como se verá más adelante, la velocidad de muestreo a emplear para el filtro digital está
relacionada con la frecuencia de corte del filtro antialiasing por medio del teorema de Nyquist.

Se hará la descripción funcional de un convertidor analógico digital concluyendo que el

rasgo característico del convertidor es la longitud de palabra expresada en bits.

Otro aspecto a tratar es la ubicación jerarquizada de las protecciones digitales en una

subestación comandada por computadoras.

El capítulo “Estudio de filtros” nos introduce a la problemática del cálculo de parámetros

a partir de las señales muestreadas del Sistema Eléctrico de Potencia.

Se presentan dos clasificaciones posibles de filtros digitales y se introduce el concepto de

“ventana de datos”, cuya longitud tiene implicancias directas en la respuesta en frecuencia de los
algoritmos presentados, y éstos son: el algoritmo de Fourier y el de la ecuación diferencial.

La respuesta en frecuencia del algoritmo surge de considerar a la fórmula recursiva del

filtro como la función transferencia del filtro, o sea la relación entre la amplitud de la onda de
salida y la amplitud de la onda de entrada.

Esto es de gran utilidad para determinar la capacidad que tiene el filtro para atenuar
componentes de frecuencia indeseables.

Se incluye n las bases matemáticas de dichos filtros.

En el capítulo “Algoritmos de protección” se presentan las tendencias que existen hoy en

día en Protecciones Digitales.

También se dan los lineamientos generales para protección digital de transformadores,

generadores, motores, barras y líneas de transmisión.

Posteriormente se exponen las especificaciones de medio ambiente, en especial las

referidas a la compatibilidad electromagnética con el medio ambiente.
 Desarrollo de protecciones digitales.

Las protecciones digitales tuvieron su origen en los intentos por investigar que funciones
de protección de los Sistemas Eléctricos de Potencia se podían realizar con una computadora
digital.
Durante los años 60 las computadoras eran lentas aunque se comenzaron a utilizar para
cálculos de cortocircuitos, problemas de estabilidad, etc.
La evolución de las computadoras en años posteriores fue tan rápida que los sofisticados
algoritmos utilizados en relés digitales han encontrado soluciones de compromiso entre
velocidad, precisión de cálculo y costos accesibles.
En la actualidad un relé digital permite realizar las diferentes funciones de protección,
monitoreo, oscilografía, así como control de un Sistema Eléctrico de Potencia.

Ventajas de los relevadores digitales

Costo: al principio un relé digital costaba entre 10 y 20 veces más que un relé
convencional o analógico.
Actualmente el costo de un relé digital, incluido el software es aproximadamente el
mismo que el de los relés convencionales y aun menor.
Auto-chequeo y confiabilidad: el relevador digital puede ser programado para monitorear
algunos subsistemas de hardware propios y así detectar cualquier mal funcionamiento y en caso
de detectarse el mismo en falla, se desconecta y envía una señal de alarma al control central para
iniciar el armado del respaldo de la protección afectada.
Según determinadas opiniones este es un argumento muy importante a favor de los
dispositivos digitales. De acuerdo a otras opiniones estos autochequeos traen mas posibilidades
de fallas, al ser mas complejos.
Mejoramiento de los sistemas de protecciones: En un sistema de protecciones, además de
los relés tenemos transformadores de medida (tensión y corriente), funciones de monitoreo,
oscilografía, alarma, y aparatos de maniobra (seccionadores e interruptores).
Los relés digitales pueden aceptar señales obtenidas de transductores no convencionales
como por ejemplo TT y TC no convencionales, debido a su bajo consumo. Además puede
incorporarse a su software las funciones de monitoreo y alarma y con algoritmos de cálculo mas
lentos que los de protección realizar las funciones de oscilografía y localización de fallas.
Todas las señales analógicas y digitales pueden llegar o salir de los relevadores a través
de fibras ópticas, para las cuales la compatibilidad electromagnética, es decir su inmunidad a
interferencias de ese tipo es prácticamente absoluta, siendo ello beneficioso para la transmisión
de un punto a otro de una subestación.
Sin el uso de relés digitales sería imposible utilizar fibras ópticas.
Los relés digitales también permiten su monitoreo, cambio de ajustes y obtención de
listados de eventos y oscilogramas desde un centro de control a miles de kilómetros de distancia
de su emplazamiento.
Flexibilidad de funciones y adaptabilidad: la amplia gama de funciones que, a través del
software se pueden implementar en los relés digitales los hace altamente adaptables a diversas
condiciones del servicio.
Robustez: Los relevadores digitales pueden robustecerse (toughen) como para estar en
condiciones de funcionar confiablemente en ambientes (environments) de alto nivel de
interferencia electromagnética, altas y bajas temperaturas y humedad, como las que se pueden
llegar a dar en una subestación.
 Arquitectura de un relevador digital

En el esquema de siguiente Figura 1, se ven los principales subsistemas que conforman

un relé digital. Estos podrán variar de acuerdo a la complejidad del sistema de protección.
_____________________________________________________________________
 
 PLAYA DE MANIOBRAS 
 Corrientes Entradas Salidas 
 y tensiones Contactos D/I Contactos D/O 
____________________________________________________________________
  ↑ Comunicaciones
   ↑ ↑
↓ ↓   
________________ ________________ ________________  
       
 Filtrado de señal   Filtrado de señal  Acondicionamiento  
_______________ _______________ _______________   
    
    
↓ ↓ ↓  
________________ ________________ _________________  
    Salida   RS232
Acondicionamiento Acondicionamiento  digital   
_______________ _______________ ________________   
  ↑  
    
↓    
________________ ____________   ____________⊥___ 
A/D-Muestreo,   Reloj para     Salida  
Almacenamiento → muestreo    ----→ paralelo  
_______________ ___________    _______________  
    
 ↓   
 _________________________⊥____⊥ ____________⊥___
    Salida 
 --→  P R O C E S A D O R ----------→ serie 
_______________________________←----- _______________
↑ ↑ ↑ ↑ 
_____________⊥__    
 Fuente de     ____________
 Energía   _____ _______ 
_______________    
_____⊥_____ _____⊥_____ _____⊥_____ _____⊥_____
      
 R A M   R O M   E P R O M   M. Magn. 
__________ __________ ___________ ___________

Figura 1: Arquitectura básica de un relé digital.

 El procesador: es esencial para la organización del relé. Tiene como función la
ejecución de los programas del relé y de su comunicación con los periféricos.
Memorias: Dispone de varios tipos según las necesidades.
RAM: Mantiene los datos muestreados conforme son extraídos y procesados. Además
cumple las funciones de almacenamiento de datos durante el proceso de cálculo según el
algoritmo del relevador.
ROM: almacena los programas y algoritmos permanentemente. En algunos casos los
programas pueden ejecutarse en ROM y en otros deben ser copiados por la RAM, teniendo lugar
la ejecución del cálculo en la RAM.
EPROM : se utiliza para almacenar ciertos parámetros como así también ajustes del relé.
No debe borrarse si se desconecta la fuente de alimentación.
Debería ser usada como archivo de datos intermedios, guardando tablas de valores de
falla, etc. Aquí el factor costo juega un rol importante.
M. Magn. : Memoria magnética.

Entradas analógicas: estas entradas constituyen la información de las corrientes y

tensiones sobre la base de las cuales el relé deberá arrancar y, sobre la base de cálculos según el
algoritmo correspondiente, decidir si hay falla que deban despejar los interruptores asociados.

Para ello deben convertirse las señales a los niveles adecuados de tensión para su
posterior digitalización. Esta función la cumple el CAD≡Conversor Analógico Digital
(ADC≡Analog to Digital Converter), cuyas entradas normalmente no superan los ± 10V a fondo
de escala.

En caso que en el proyecto se utilicen transformadores de tensión y corriente

convencionales, la conexión de los relés digitales a los secundarios de dichos transformadores se
hace en la forma indicada en la Figura 2.

a) b)

c)
Figura 2: Reducción de niveles de tensión y corriente de señales que ingresan a los relés
a): conexión directa al secundario del T.I. principal.
b): conexión usando T.I. auxiliar.
c): conexión a T.T. y divisor resistivo.
 Para lograr los niveles de tensión adecuados es necesario previamente determinar los
posibles valores de las variables.

Como se verá mas adelante es necesario emplear filtros especiales.

Entradas Digitales: las señales digitales son las señales de contactos de estado (posición
de seccionadores, interruptores, etc.). Cuando estas señales provengan de muy lejos es necesario
emplear opto-acopladores, para aislar al relé de las interferencias electromagnéticas que se
pudiesen inducir en los conductores, si no se utilizan fibras ópticas.

Filtros de señales analógicas: sea x(t) una señal de banda limitada, donde fm es la mayor
frecuencia presente en su espectro.

Supongamos que los valores de x(t) se deban determinar a intervalos regulares

Ts = 1 / fs ≤ 1 / 2fm, es decir, la señal debe muestrearse regularmente cada Ts o aun mas
frecuentemente.

En tal caso, de acuerdo al Teorema de Nyquist, estas muestras determinan unívocamente

la señal y ésta podrá ser reconstituida sin error a partir de ellas (Fig. 3).

Figura 3: Efecto del muestreo a diferentes velocidades.

La señal x(t) puede reconstituirse con precisión mediante la transmisión de las muestras a
través de un filtro pasabajos que tiene respuesta plana por lo menos hasta fm y una frecuencia de
corte fc ≤ fs – fm (Fig. 4).
Ganancia

0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 550 600 650 Frecuencia
↑ ↑ ↑
fm fc fs

fm = mayor frecuencia presente en el espectro de la señal a muestrear que se desea conservar.

fc = frecuencia de corte del filtro pasabajos.
fs = frecuencia de muestreo.

Tienen una respuesta plana por lo menos hasta fm y una frecuencia de corte fc
Tal que: fc = (fs – fm) / 2 + fm
375 = (500 – 250) / 2 + 250 = 375

Figura 4: filtros anti-aliasing.

Donde fs = 1/Ts, es la frecuencia de muestreo (sampling frequency).

Ts es el tiempo o intervalo de muestreo.

El teorema de Nyquist exige que la fs sea suficiente para que se tomen por lo menos dos
muestras en le tiempo correspondiente a un período de la componente de espectral de mas alta
frecuencia de la señal x(t).

Si fs fuese menor que la frecuencia de Nyquist, o sea menor que fm, aparece el efecto
denominado “aliasing” (solapamiento), que es cuando a la salida del filtro pasabajos no se
obtiene la señal original.

Un filtro anti-aliasing es un filtro analógico pasabajos diseñado para convenir la elección

específica de una frecuencia de muestreo fs.

El filtro puede efectuarse con elementos pasivos R y C o elementos activos por medio de
amplificadores operacionales (Figura 5).
Figura 5: Filtros antialiasing

a) Trazo continuo: característica ideal del filtro con frecuencia de corte fc.
b) Filtro con elementos activos.
c) Comparación entre filtros de 2do orden.
 Salidas digitales: dan al procesador la posibilidad de tener el control de contactos
(microrelés o reed-relays) y salidas electrónicas (triacs, SCR’s).

Aquí surge una ventaja respecto de los relés convencionales, ya que en estos cada función
tiene asociado un conjunto de salidas. Para modificar esta asignación es necesario modificar el
cableado interno del relé.

En los relés digitales el ingeniero en protecciones puede modificar la asignación de

contactos a las distintas funciones del relé con solo modificar el software.

Conversor Analógico Digital (CAD): su función es representar un nivel de tensión

analógico en su equivalente representación digital (Fig. 6).

Figura 6: Conversor Analógico Digital (CAD)

Cuando la salida del comparador es positiva, el registro de salida del CAD se
incrementa, cuando es negativa se decrementa.

En el esquema observamos un amplificador de ganancia ajustable cuya salida concurre,

junto con la salida de un Conversor Digital Analógico (CDA), a la entrada de un comparador.

El CDA genera una función rampa (señal analógica) que será función de los pulsos
entregados por un generador patrón de pulsos. Por cada pulso la señal rampa incrementará un
escalón de cierto valor discreto en volts.

Dichos pulsos serán contados por el contador, el cual detendrá la cuenta al igualarse la
salida del CDA con la magnitud analógica que se desea muestrear. La cuenta al momento del
muestreo será una conversión al sistema binario del valor de la magnitud muestreada y se
almacenará en el registro de salida del CAD.

La longitud de palabra (es decir, cantidad de bits que maneja el CAD) dará como
consecuencia la resolución o grado de precisión con que éste representará en forma digital a la
señal analógica a su salida.
 Por ejemplo: para una palabra de 12 bits y para un nivel analógico de 10V:

b11 b10 b9 b8 b7 b6 b5 b4 b3 b2 b1 b0
0111 1111 1111 / base=2 = 2047 / base=10
1000 0000 0000 / base=2 = 2048 / base=10

Por lo tanto cada nivel o escalón de la función rampa será:

1 bit = 10 volts = 4,882 mvolts

2048

Reiterando, esto significa que cada bit origina un cambio de 4,882 mV en la salida del
CDA y dará el grado de resolución con que la señal rampa igualará a la señal a muestrear.

La cuantificación del error estará dada por:

Q = 2-N * U

N = subíndice del bit mas significativo (MSB).

U = valor máximo de la tensión de entrada a muestrear.
Q = cuantificación del error.

Desde luego que el relé requiere varias entradas, por lo tanto es necesario hacer varias
conversiones para cada instante de muestreo.

Así si medimos x = x(t) e y = y( t) cada una obtenible en el tiempo tx y ty , los dos fasores
difieren en fase en el ángulo θ = (t x – ty )

T = período de la fundamental

Conocidos (t x – ty ) se conoce θ, desfasaje inherente al método de muestreo.

Existen varios métodos posibles de muestrear más de una entrada analógica. En la figura
7 se aprecian esquemas en bloques.
 c)

Figura 7

En la figura 7a, un único CAD está alimentado por un Multiplexor analógico que
funciona como llave que selecciona la magnitud a muestrear, por lo tanto la conversión y
transmisión al procesador de cada muestra debe ser muy rápida.
En la figura 7b el muestreo y almacenamiento se produce en cada canal de entrada. Se
requiere que las muestras se mantengan al mismo tiempo de ser procesadas.
Tanto en uno como otro caso el sincronizador determina el barrido o scanning de las
señales el cual debe ser compatible con el tiempo Ts determinado por el teorema de Nyquist.
En la figura 7c se observa otra alternativa y consiste en la utilización de varios CAD’s
(uno por cada señal a muestrear), lo cual encarece al relevador.

La tendencia es el desarrollo de CAD’s de alta velocidad de multiplexado sin circuitos de

muestreo y almacenamiento (Fig. 7a).

Cabe resaltar que el muestreo simultaneo es prácticamente imposible, pudiéndose

aproximar un muestreo no simultaneo a uno simultaneo.

Interpolación: Es posible dados xk valores de x = f(t), obtener mas valores de x = f(t) por
interpolación, aunque esto requiera de mayor tiempo real de cómputos (Fig. 8).

Figura 8: Las muestras xk = (x1, x2,----- xn) se obtuvieron en tk = (t1, t2,----- tn) y se desean
obtener valores de x para tk’ = tk + ∆T.

Para interpolación lineal: xk’ = xk + (xk+1 - xk ) ∆T

tk+1 - tk

∆x = tg. α = xk+1 - xk
∆T tk+1 - tk
 Estructura jerárquica de una subestación comandada por computadoras
Una arquitectura jerarquizada eficientemente asegura un lógico y ordenado flujo de datos
a través del sistema que a continuación pasamos a analizar. Para tal fin nos basamos en el
diagrama de bloques de la siguiente figura 9:

Bloque 1 – Unidades adquisidoras de datos: (DAU = Data Aquisition Units) están

localizadas fuera de la Sala de Control, en los lugares que se desea colectar los datos.
Bloque 2 – Grupo de Protección: formado por el relé digital para la protección de líneas,
barras, transformadores, etc., mas todo el hardware y software asociado para cumplir la función
específica de protección.
Bloque 3 – Canales de fibra óptica: sirven de vínculo de comunicación entre las DAU y
el Grupo de protección.
Bloque 4 – Colector de datos en serie: interconecta los grupos de protección con la
computadora de la subestación.
Bloque 5 – Computadora de la subestación: realiza la función de control del Sistema.
Bloque 6 – Canales de microondas y/o pares telefónicos: transmiten señales de
monitoreo, control, así como otras desde y hacia el Centro de Control del Sistema Eléctrico de
Potencia.
 Teoría de operación del sistema

Los algoritmos de una protección digital usan un conjunto de muestras de señales de

tensión y corriente, obtenidas a partir de transformadores de tensión y corriente conectados en las
zonas a proteger.

Estas muestras se toman a intervalos de tiempo de aproximadamente 1 milisegundo.

Todos los grupos de protección envían la señal de muestreo a una frecuencia precisa a su
DAU a través del correspondiente vínculo de datos (Figura 10), así el muestreo de las diferentes
DAU está sincronizado.

La DAU inmediatamente muestrea y almacena valores analógicos y entradas de contactos

de estado que luego transmite al grupo de protección.

Figura 10: Adquisición de datos

 La información es almacenada en memoria y se procesa con ayuda de los programas de
protección. Si una falla se localiza dentro de la zona de protección, el programa se protección
enviará señales de disparo a los interruptores asociados con la falla.

Además se envía información a la Computadora de estación que generará mensajes de

eventos, oscilogramas con los datos colectados durante la falla, puesta al día de la base de datos,
etc.
La computadora de estación permite operaciones locales para iniciar acciones manuales y
transmite mensajes al operador remoto.

Veamos mas en detalle las funciones de cada bloque:

Unidad adquisidora de datos: la DAU recibe mensajes de muestreo desde el grupo de

protección, controla el flujo de datos desde los aparatos de potencia, muestrea y mantiene señales
analógicas, convierte señales analógicas a la forma digital, etc.

Está compuesta por los siguientes subsistemas funcionales:

Controlador de comunicaciones.
Interface de entradas analógicas.
Interface de salidas digitales.
Interface eléctrica/óptica (E/O)

Esto último se emplea en caso de comunicarse con el grupo de protección a través de

fibras ópticas.

Grupos de protección: está compuesta por un grupo de microprocesadores, memorias y

controladores de comunicación.

Esos elementos se conectan a un bus de datos paralelo común en una configuración de

multiprocesamiento.

Desempeña estas funciones:

- Inicia la petición de muestreo.
- Recibe valores muestra de tensiones y corrientes, además de entradas de contactos de
estado enviadas desde la DAU.
- Ejecuta cálculos para determinar la localización de la falla.
- Monitoreo y control del estado de interruptores y seccionadores.
- Genera secuencia de eventos y mensajes de alarmas.
- Graba los valores instantáneos de tensión y corriente durante la falla y los transmite al
computador de estación para hacer oscilogramas.

Vínculo de datos: permite el traspaso de datos entre grupos de protección y la

computadora de estación; periódicamente la computadora verifica a cada grupo de protección.

Este vínculo actúa como medio de comunicación entre grupos de protección en

situaciones de protección de respaldo.
 Sistema stand alone o de relé único

El sistema de relé único es un subsistema del Sistema de protecciones integrado descripto

anteriormente.

Está compuesto por un único grupo de protección con su DAU asociada, brindando solo
una de estas funciones: protección de barras, transformadores o líneas, complementadas por
ciertas funciones auxiliares de protección como por ejemplo monitoreo y control de
interruptores, recierre automático, etc.

Es posible que la DAU esté en la playa de maniobras o dentro de la sala de control como
se indica en la figura 11 siguiente:
 Estudio de filtro digitales

Introducción

Para lograr una mayor comprensión de los filtros digitales, veamos el diagrama de la
figura 12.

señales analógicas señales digitales

MED: transformadores de tensión y de corriente.

F.A.: filtros analógicos.
MUX: multiplexado analógico.
A/D: convertidor analógico digital.
F.D.: filtros digitales.
A.P.: algoritmo de protección.
S: Salidas.

Figura 12: Esquema de procesamiento de señales.

En esta parte del trabajo centraremos la atención en los algoritmos de filtrado digital,
también llamados filtros digitales.

Estos algoritmos permiten calcular parámetros de interés a partir de muestras tomadas a

las señales de tensión y corriente que se presentan en el Sistema Eléctrico de Potencia.

A modo de ejemplo, digamos que una protección distanciométrica (relé de impedancia),

se basa en la evaluación de la impedancia aparente presentada al relé por el Sistema Eléctrico y
su comparación con una característica interna en el plano X-R, cuya conformación se ha
determinado en función de cómo es “vista” la impedancia de falla desde el lugar de instalación
del relé, de la máxima resistencia de falla esperada, del lugar de carga estable, de las oscilaciones
de potencia que se pueden presentar el Sistema Eléctrico de Potencia, etc.

Cuando se habla de “impedancia aparente”, se toma en consideración la armónica de

frecuencia fundamental del sistema.
 La interpretación es relativamente sencilla si las ondas de tensión y corriente muestreadas
de la red son sinusoidales puras de esa frecuencia fundamental.

Ahora bien, las ondas de tensión y corriente están fuertemente “contaminadas”,

particularmente en los momentos iniciales luego de producida la falla. Esa contaminación
consiste en transitorios del tipo exponencial, armónicos superiores, etc.

El problema de la contaminación es resuelto en buena parte de los casos por filtros

digitales cuyo objeto es obtener las componentes real e imaginaria de los fasores de tensión y
corriente de frecuencia fundamental.

Luego de obtenidas estas componentes, la impedancia se calcula siguiendo las

metodologías empleadas en los relés convencionales analógicos, pero en este caso en forma de
cálculo digital.

Una forma es:

Û = Vc + j Vs Î = Ic + j Is

Z = Û
Î

Ra = Vc * I c + Vs * Is
Ic2 + Is2

Xa = Vc * Ic - Vs * Is
Ic2 + Is2

Será necesario implementar 4 filtros digitales para calcular Vc, Vs, Ic e Is.

La elección de determinado filtro digital para el ejemplo, depende de la eficiencia de los

algoritmos propuestos para tal función y esa eficiencia está relacionada con la velocidad y
exactitud.

La velocidad del algoritmo se refiere al tiempo real necesario de ejecución en el

microprocesador y la exactitud se refiere a los errores que se producen en la estimación de
impedancia debido a la presencia de transitorios exponenciales, armónicos superiores, etc., en las
señales muestreadas.

Aceptemos por el momento que si se desea mayor velocidad, se pierde exactitud y

viceversa, y que la presencia de determinados armónicos en las ondas de tensión y corriente
durante la falla, difiere notablemente de acuerdo a la estructura de la red.

No se puede decir nada en términos absolutos sobre la aplicación de cada algoritmo en

una función específica.

Habrá que estudiar caso por caso la combinación de necesidad de velocidad – exactitud –
configuración del Sistema Eléctrico de Potencia.
 CLASIFICACIÓN DE ALGORITMOS DE FILTRADO DIGITAL

- Algoritmos no recursivos: las estimaciones se realizan a partir de un conjunto de

muestras afectadas por coeficientes y sumas.

- Algoritmos recursivos: la estimación de una variable en un instante dado depende de la

muestra medida en ese instante y de las estimaciones de esa variable en instantes
anteriores.

Se puede hacer otra clasificación:

- Algoritmos que se basan en la forma de onda: P. Ej. Algoritmos de Fourier.

- Algoritmos que se basan en el modelo del sistema: P. Ej. Algoritmos de la ecuación

diferencial.

Algoritmos de filtrado digital

Para ilustrar algunas características comunes a los algoritmos basados en la forma de

onda se puede asumir:

y(t) = Yc cos ωo t + Ys sen ωo t (1)

Donde:

y(t) = valor instantáneo de la señal a muestrear (tensiones y corrientes).

ωo = frecuencia fundamental del sistema eléctrico en rad/seg.
yk = k-ésimo valor muestreado de y(t).
∆t = intervalo fijo entre muestras.
θ = ángulo de frecuencia fundamental entre muestras: θ = ωo ∆t
Yc = componente coseno de la señal a muestrear.
Ys = componente seno de la señal a muestrear.

Tanto Yc como Ys son números reales.

Si asumimos que se toman muestras en los instantes -∆t, 0 y ∆t.

y-1 = y(-∆t)
y0 = y(0) (2)
y1 = y(∆t)

Las muestras están relacionadas con las amplitudes Yc e Ys a través de:

y-1 = Yc cos θ - Ys sen θ

y0 = Yc (3)
y1 = Yc cos θ + Ys sen θ

Está claro que dos muestras son suficie ntes para determinar Yc e Ys si la señal se describe
por (1).

El uso de tres muestras es un intento por proveer de cierta inmunidad a armónicos

superiores o términos aleatorios.
 La solución de cuadrados mínimos da:

Y = ( ST * S )-1 * ST * y

 Yc   1 + 2 cos2 θ 0 -1  cos θ cos θ   y-1 

  =      y0 
 Ys   0 2 sen θ   sen θ
2
sen θ   y1 

Yc = y1 cos θ + y0 + y-1 cos θ

1 + 2 cos2 θ

Ys = y1 - y-1
2 sen θ

Si con k indicamos los cálculos relacionados con la muestra k-ésima:

Yc (k) = yk+1 cos θ + yk + yk-1 cos θ (7)

1 + 2 cos2 θ

Ys (k) = yk+1 - yk-1 (8)

2 sen θ

Y en la forma polar:
________________
Y  = √ (Yc (k) )2 + (Ys (k))2
(k)
(9)

ϕ(k) = arc tan Ys (k) (10)

Yc (k)

Este algoritmo tiene una “ventana de datos” de tres muestras. Cada muestra interviene en tres
cálculos sucesivos.
El microprocesador debe calcular (7) y (8) cada vez que se dispone de una nueva muestra.
La “ventana de datos” móvil se ve en la figura 13.
 Figura 13: movimiento de ventana de datos que incluye:
Tres muestras sobre una onda de tensión.
W1 : incluye muestras de pre- falla.
W2 y W3 : incluyen muestras de pre y post- falla.
W4 : incluye muestras de post- falla.
La frecuencia de muestreo es de 12 muestras por ciclo.

Se observa que la tensión decrece rápidamente en el instante de falla.

Las ecuaciones (7) y (8) producirán fasores correctos para ω1 y ω2 , mientras que para ω3
y ω4 no se puede definir una sinusoide pura, por lo tanto el fasor calculado carece de sentido.

El tiempo ∆t (tiempo de muestreo) determina el tiempo que tiene disponible el

microprocesador para completar los cálculos.

Por ejemplo para 50 Hz a una frecuencia de muestreo de 12 muestras por ciclo se dispone
de 1,67 mseg de tiempo de cálculo.

Claro está que para velocidades de muestreo de 64 muestras por ciclo el microprocesador
dispone 0,31 mseg y este tiempo impone el uso de microprocesadores mas rápidos.

Otro aspecto a considerar en la longitud de la ventana de datos.

Admitiendo que los resultados obtenidos cuando la ventana de datos contiene muestras de
pre y post falla no merecen confianza, es razonable esperar hasta que los resultados sean
confiables o sea cuando la ventana de datos contenga sólo datos de post falla, antes que el relé
tome decisiones.

Una ventana larga toma mucho tiempo en sobrepasar el instante de falla y queda claro
que las decisiones rápidas sólo pueden tomarse con una ventana corta.

Desafortunadamente, veremos mas adelante que la habilidad de un algoritmo en rechazar

señales de frecuencia no fundamental, es función de la longitud de la ventana de datos.

Esto se podrá observar en la respuesta en frecuencia del algoritmo de Fourier con

ventanas de datos de distinta longitud.

Podemos concluir que existe una inherente relación inversa entre la velocidad de la
protección y la precisión.

Mientras que el algoritmo representado por (7) y (8) permite calcular el fasor
correctamente si la ventana de datos tiene solo datos de post falla y la señal a muestrear es del
tipo (1), debemos reconocer que la señal a muestrear puede expresarse mas correctamente por:

y(t) = Yc cos ωo t + Ys sen ωo t + E (t) (11)

Donde: E (t) = señal de error.

Para poder evaluar correctamente la performance del relé es necesario comprender la

naturaleza de E (t).
 Si la ecuación (11) se generaliza para incluir un número de armónicas conocidas
incluyendo la fundamental, se llega a un problema de cálculo de coeficientes de aquellas
armónicas. La solución resultante abarca algunos algoritmos de relés digitales.

Entonces la señal a muestrear se escribe como:

y(t) = Σ N Yn Sn (t) + E(t) (12)

n=1

y(t) = Σ N Yn Sn (k ∆t) + E(t) (13)

n=1

Donde Sn (t) son datos conocidos e Yn son las incógnitas.

Una elección posible es:

S1 (t) = cos ωo t primera armónica
S2 (t) = sen ωo t primera armónica
S3 (t) = cos 2ωo t segunda armónica
S4 (t) = sen 2ωo t segunda armónica
* otras armónicas
* otras armónicas
SN (t) = e –(R/L)t el desvío (offset) exponencial.

El problema consiste en calcular coeficientes YN a partir de las mediciones Yk.

La solución de cuadrados mínimos es apropiada si planteamos el problema de la siguiente
forma:

 y1   S1 (∆t) S2 (∆t) SN (∆t)   Y1   E1 

 y2   S1 (2∆t) S2 (2∆t) SN (2∆t)  Y2   E2 
* =  * * * * *  +  *  (14)
*   * * *  * *  *  * 
 yk   S1 (k∆t) S2 (k∆t) SN (k∆t)  YN   EN 

o bien y=S.Y+E

Se trata de un sistema de k-ecuaciones con N incógnitas, donde k = N.

Asumiendo que el vector E tiene media nula y una matriz covarianza:

E . [ E . ET ] = W (16)

La solución de cuadrados mínimos ponderados es:

Y = ( ST W-1 S )-1 ST W-1 y (17)

Si se dispone de mayor información sobre el error se usa cuadrados mínimos.

ALGORITMOS DE FOURIER

Se trata de algoritmos de filtrado digital no recursivos y se dividen en:

- Algoritmo de Fourier con ventana de 1 ciclo.
- Algoritmo de Fourier con ventana de 1/2 ciclo.
 De la 2da. Clasificación, estos algoritmos se basan en la forma de onda de la señal
muestreada.

Algoritmo de Fourier con ventana de 1 ciclo

Admitiendo que W es múltiplo de la matriz unidad previamente el offset es eliminado por

un filtro analógico o por una parte del software, luego la ecuación (17) se simplifica.

Si sólo se incluyen en (14) la fundamental y armónicas, y usando un número par de

muestras abarcando un período completo (ventana de datos de longitud igual a un ciclo), la
ecuación (4) nos permite obtener la forma rectangular de la Transformada Discreta de Fourier
(TDF).

Con N muestras por ciclo, armónicas se podrán determinar (N – 1).

2
Usando las propiedades de ortogonalidad de senos y cosenos, los términos ijésimos de la
matriz (ST . S) son:
N
(ST . S)ij = ∑ Si . (k ∆t) . Sj . (k ∆t) (18)
K=1

= N/2 ; i= j
= 0 ; i≠ j

O sea una matriz diagonal.

Los componentes de frecuencia fundamental serán:

N
Yc = 2 ∑ yk . cos (kθ) (19)
N K=1
N
Ys = 2 ∑ yk . sen (kθ) (20)
N K=1

Y las armónicas p-ésimas serán:

N
(p)
Yc = 2 ∑ yk . cos (pkθ) (21)
N K=1
N
(p)
Ys = 2 ∑ yk . sen (pkθ) (22)
N K=1
Donde θ = 2π
N

La TDF permite calcular la fundamental y las armónicas de la señal muestreada. Este

cálculo depende de la velocidad de muestreo.

Con este algoritmo es posible calcular la 2da y 5ta armónica de las corrientes de fase de
un transformador trifásico para implementar las restricciones correspondientes a la protección
diferencial de transformador.

La figura 13 muestra la respuesta en frecuencia del algoritmo. Se observa que rechaza la

componente de continua.
 Algoritmo de Fourier con ventana de medio ciclo

Con un número par de muestras por medio ciclo, las ecuaciones (19) y (20) se
transforman en:
N/2
Yc = 4 ∑ yk . cos (kθ) (23)
N K=1
N/2
Ys = 4 ∑ yk . sen (kθ) (24)
N K=1

Ahora el límite de la sumatoria es N/2, siendo N el n° de muestras por ciclo.

Las armónicas p-ésimas serán: Donde θ = 2π

N/2 N
(p)
Yc = 4 ∑ yk . cos (pkθ) (25)
N K=1
N/2
(p)
Yc = 4 ∑ yk . sen (pkθ) (26)
N K=1

La respuesta en frecuencia del algoritmo se observa en la figura 13. Este algoritmo

rechaza los armónicos impares de frecuencia fundamental, pero pierde eficiencia en rechazar los
armónicos pares.

Figura 13: respuesta en frecuencia

a) algoritmo de Fourier con ventana de datos de un ciclo.
b) algoritmo de Fourier con ventana de datos de medio ciclo.

En caso de muestrear corrientes es necesario eliminar el offset con un filtro externo o

parte del software.
 Los algoritmos vistos hasta aquí se basan en la descripción de la forma de onda y pueden
ser utilizados en relés de impedancia.

Esos algoritmos calculan las componentes de frecuencia fundamental de las ondas de

tensión y corriente para calcular la impedancia de la línea fallada.

A continuación veremos el algoritmo de la ecuación diferencial que se basa en el modelo

del sistema eléctrico más bien en el modelo de la señal.

ALGORITMO DE LA ECUACIÓN DIFERENCIAL

Se trata de un algoritmo de filtrado digital no recursivo.

Si tomamos el modelo monofásico de la línea fallada que se ve en la figura 14.

Figura 14: modelo R-L de la línea fallada.

Podemos escribir la ecuación diferencial.

v(t) = R . i(t) + L . di(t) (27)

dt

Si medimos v(t) e i(t), podrá calcularse R y L y de aquí la distancia a la falla.

Dado que es difícil producir las derivadas de cantidades medidas, McInnes y Morrison
obtuvieron una ecuación mas conveniente sobre dos intervalos consecutivos: (t2, t1) y (t1, t0 ):

t1 t1
∫t0 v(t) dt = R . ∫t0 i(dt) . dt + L . [ i(t1) - i(t0) ] . dt (28)
t2 t2
∫t1 v(t) dt = R . ∫t1 i(dt) . dt + L . [ i(t2) - i(t1) ] . dt (29)

Las integrales (28) y (29) hay que aproximarlas a partir de los valores muestreados. Si las
muestras están igualmente espaciadas en ?t la regla del trapecio para la integración da:
t1
- ∫t2 v(t) dt = ∆t [v(t1) + v(t0)] = ∆t (v1 + v0)
2 2
Luego para tres muestras k, (k+1) y (k+2), podemos escribir:

 ∆t/2 (ik+1 + ik) (ik+1 - ik )   R   ∆t/2 (vk+1 + vk) 

 .  =   (31)
 ∆t/2 (ik+2 + ik+1) (ik+2 - ik+1)   L   ∆t/2 (vk+2 + vk+1) 
 Las tres muestras son suficientes para calcular el valor de R y L como:

R =  (vk+1 + vk) . (ik+2 - ik+1 ) - (vk+2 + vk+1) . (ik+1 - ik )  (32)

 (ik+1 + ik) . (ik+2 - ik+1) - (ik+2 + ik+1) . (ik+1 - ik) 

L = ∆t (ik+1 + ik) . (vk+2 + vk+1 ) - (ik+2 + ik+1) . (vk+1 + vk )  (33)

2 (ik+1 + ik) . (ik+2 - ik+1) - (ik+2 + ik+1) . (ik+1 - ik) 

La extensión del algoritmo de ventanas mas largas se puede hacer de distintas formas.

Una posibilidad es hacer el intervalo (t2, t1 ) y (t1, t0 ) en (32) y (33) grandes. Si el

intervalo contiene un número de muestras, la aproximación trapezoidal de cada una de las
integrales contendrá sumas de ese número de muestras.

Otra posibilidad es hacer una integración sobre un intervalo de muestras adyacentes y

obtener un conjunto redundante de ecuaciones.

 ∆t/2 (ik+1 + ik) (ik+1 - ik )   R   ∆t/2 (vk+1 + vk) 

 .  =   (34)
 ∆t/2 (ik+2 + ik+1) (ik+2 - ik+1)   L   ∆t/2 (vk+2 + vk+1) 
 * *   * 
 * *   * 
 ∆t/2 (ik+N + ik+N-1) (ik+N - ik+N-1)  ∆t/2 (vk+N + vk+N)

N = N° de intervalo

Si es posible seleccionar el intervalo, puede adoptarse uno, de tal forma de rechazar

ciertos armónicos.
Supongamos una región del plano de impedancias correspondiente a la primera zona de
protección de la línea. Si el resultado de puntos calculados por (32) y (33) caen dentro de la
característica, el contador es incrementado en uno. Si cae fuera de la característica, el contador se
reduce en uno.
Con un umbral de cuatro en el contador por ejemplo, una señal de disparo no puede
concretarse sin que el contador llegue a cuatro. Se requiere un mínimo de seis muestras
consecutivas.
La longitud de la ventana se ha incrementado por el aumento de umbral del contador.
Interesa aumentar la longitud de la ventana de datos porque se mejora la precisión de los
cálculos.
Aunque ingenioso, el esquema del contador tiene dificultades para comparar algoritmos
con otras longitudes de ventana en términos de respuesta en frecuencia.
La respuesta f del algoritmo de la ecuación diferencial se observa en la figura 16.
Figura 16: respuesta en frecuencia del algoritmo dado por las ecuaciones (32) y (33 ).
(a) ventana de medio ciclo a 12 muestras por ciclo
(b) ventana de ciclo completo a 12 muestras por ciclo

La mayor ventaja de este algoritmo es que determina el valor correcto de R y L.

La exponencial (offset) satisface la ecuación diferencial y no necesita ser eliminada.

Las frecuencias no fundamentales que se originan en la tensión de post- falla contiene

armónicos debido al propio sistema.

Si la 1inea fallada puede ser modelada por un circuito R-L serie, luego la corriente
responderá a esas componentes de frecuencia no fundamental en la tensión (de acuerdo a la
ecuación diferencial) y no habrá errores en la estimación de R y L. El algoritmo no hace caso a
que varias frecuencias están presentes en las ondas de tensión y corriente.

Como la representación de R y L es correcta, las únicas fuentes error son las mediciones
de v(t) e i(t).

Estos errores se deben a los transductores, a los conversores analógico-digital y filtros

anti-aliasing.

Para examinar el efecto de dichos errores en las ondas de tensión y corriente por im(t) y
vm (t) respectivamente, donde:

im(t) = i(t) + Ei(t) (35)

vm (t) = v(t) + Ev (t) (36)

La corriente im(t) satisface la siguiente ecuación diferencial:

vm (t) = R . im(t) + L dim(t) + Ev (t) (37)

dt

La figura 15 muestra un circuito mas adecuado para estudiar el impacto de las señales de
frecuencia no fundamental en los algoritmos:

Figura 15 : modelo monofásico de la línea con capacidad en bornes del relé.

La fuente v(t) contiene la componente de frecuencia fundamental mas las componentes no

fundamentales.
Teniendo en cuenta que la corriente que mide el relé considerando el aporte de la
capacidad C es :

im(t) = [ i(t) - C dv ] (38)

dt
 Entonces la relación entre la tensión y la corriente será:

v(t) = R . i(t) + L di(t) + LC dv(t) + LC d2 v(t) (39)

dt dt dt2

Si se utilizan algoritmos recursivos, entonces los términos en dv(t) y d2 v(t)

pueden considerarse como errores. dt dt

La magnitud de estos términos es función de la localización de la falla y de las frecuencias

de v(t).
La dependencia con la localización de la falla es cuadrátrica, alcanzando un máximo para
una falla el final de la línea.
Para fallas el final de largas líneas de alta tensión, esos términos se hacen importantes
especialmente si hay presentes altas frecuencias.
Por otro lado, los términos RC y LC son pequeños para fallas cercanas en líneas de
menores tensiones.

Es posible integrar la ecuación (39) junto con (37) y (38). Se puede hacer escribiendo:

dv(t)  = vk - vk-1 (40)

dt tk ∆t

Luego es posible obtener una versión más elaborada de (38) y (39), considerando 4
intervalos consecutivos.

 ∆t/2 (ik+1 + ik) (ik+1 - ik ) - (vk+1 - vk) -1 (vk+1 - 2vk + vk-1)   R

   
 ∆t/2 (ik+2 + ik+1) (ik+2 - ik+1) - (vk+2 - vk+1) -1 (vk+2 - 2vk+1 + vk)   L 
 .   =
 ∆t/2 (ik+3 + ik+2) (ik+3 - ik+2) - (vk+3 - vk+2) -1 (vk+3 - 2vk+2 + vk+1)  RC
   
 ∆t/2 (ik+4 + ik+3) (ik+4 - ik+3) - (vk+4 - vk+3) -1 (vk+4 - 2vk+3 + vk+2)  LC

 ∆t/2 (vk+1 + vk) 

 
 ∆t/2 (vk+2 + vk+1) 
  (41)
 ∆t/2 (vk+3 + vk+2) 
 
 ∆t/2 (vk+4 + vk+3) 

 M11 M12   p   r1 
  .   =   Donde p es el vector parámetros R y L.
 M21 M22   Cp   r2  Luego el cálculo da:

R  -1 -1
-1
  = (M11 - M12 . M22 . M21) . (r1 - M12 . M22 . r2)
L 

Como se observa esta ecuación tiene una formidable cantidad de cálculos.