En una fábrica se ensamblan artículos electrónicos y al final del proceso se hace una inspecc

muestreo para detectar defectos relativamente menores. En la tabla 8.4 se presenta el núme
defectos observados en muestreos realizados en 24 lotes consecutivos de piezas electrónic
número de piezas inspeccionadas en cada lote es variable, por lo que no es apropiado aplicar
c. Es mejor analizar el número promedio de defecto por pieza, ui, mediante la carta u.

LOTE TAMAÑO MUESTRA DEFECTOS U¡ LCS

1 20 17 0.85 1.70
2 20 24 1.2 1.70
3 20 16 0.8 1.70
4 20 26 1.3 1.70
5 15 15 1 1.70
6 15 15 1 1.70
7 15 20 1.33 1.70
8 25 18 0.72 1.70
9 25 26 1.04 1.70
10 25 10 0.4 1.70
11 25 25 1 1.70
12 30 21 0.7 1.70
13 30 40 1.33 1.70
14 30 24 0.8 1.70
15 30 46 1.53 1.70
16 30 32 1.07 1.70
17 30 30 1 1.70
18 30 34 1.13 1.70
19 15 11 0.73 1.70
20 15 14 0.93 1.70
21 15 30 2 1.70
22 15 17 1.13 1.70
23 15 18 1.2 1.70
24 15 20 1.33 1.70
TOTALES 525 549

Conclusión
En la presente grafica se logra notar una gran variación y
gracias a ello el proceso no trabajo de una manera indicada ya
que se obtiene el lote 21 sobrepasando el limite superior.
 so se hace una inspección por
8.4 se presenta el número de
vos de piezas electrónicas. El
no es apropiado aplicar la carta
ui, mediante la carta u.

0.04780408 0.21864145
U LCI
1.05 0.39 549
= = 1.05
1.05 0.39 525
1.05 0.39
1.05 0.39
1.05 0.39 1.05
= 1.05 + 3 = 1.70
1.05 0.39 21.875
1.05 0.39
1.05 0.39
1.05 0.39 Linea C. = 1.05
1.05 0.39
1.05 0.39
1.05 0.39
1.05 0.39 1.05
1.05 - 3 = 0.39
1.05 0.39 = 21.875
1.05 0.39
1.05 0.39 Chart Title
1.05 0.39
2.5
1.05 0.39
1.05 0.39
1.05 0.39 2
1.05 0.39
1.05 0.39 1.5
1.05 0.39
1.05 0.39
1

0.5

0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21

U¡ LCS U LCI
le

3 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24

U LCI