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IEC 61215-2

Edición 1.0 2016-03

NORMA
INTERNACIONAL

Versión en español

Módulos fotovoltaicos (FV) para uso terrestre - Cualificación del diseño y


homologación -
Parte 2: Procedimientos de ensayo

Terrestrial photovoltaic (PV) modules - Design qualification and type approval -


Part 2: Test procedures

Modules photovoltaïques (PV) pour applications terrestres - Qualification de la


conception et homologation -
Partie 2: Procédures d'essai

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Edición 1.0 2016-03

NORMA
INTERNACIONAL

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Módulos fotovoltaicos (FV) para uso terrestre - Cualificación del diseño y


homologación -
Parte 2: Procedimientos de ensayo

Terrestrial photovoltaic (PV) modules - Design qualification and type approval -


Part 2: Test procedures

Modules photovoltaïques (PV) pour applications terrestres - Qualification de la


conception et homologation -
Partie 2: Procédures d'essai

COMISIÓN
ELECTROTÉCNICA
INTERNACIONAL

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Índice

Prólogo ...................................................................................................................................................7

Introducción .........................................................................................................................................9

1 Objeto y campo de aplicación..................................................................................... 10

2 Normas para consulta ................................................................................................... 10

3 Términos y definiciones............................................................................................... 11

4 Procedimientos de ensayo .......................................................................................... 13


4.1 Inspección visual (MQT 01) ........................................................................................ 13
4.1.1 Objeto.................................................................................................................................. 13
4.1.2 Procedimiento ................................................................................................................. 13
4.1.3 Requisitos .......................................................................................................................... 13
4.2 Determinación de la potencia máxima (MQT 02)............................................... 13
4.2.1 Objeto.................................................................................................................................. 13
4.2.2 Aparatos ............................................................................................................................. 13
4.2.3 Procedimiento ................................................................................................................. 14
4.3 Ensayo de aislamiento (MQT 03) .............................................................................. 14
4.3.1 Objeto.................................................................................................................................. 14
4.3.2 Aparatos ............................................................................................................................. 14
4.3.3 Condiciones de ensayo.................................................................................................. 14
4.3.4 Procedimiento ................................................................................................................. 14
4.3.5 Requisitos de ensayo ..................................................................................................... 15
4.4 Medición de los coeficientes de temperatura (MQT 04) .................................. 15
4.5 Medición de la temperatura nominal de operación del módulo
(NMOT, Nominal Module Operating Temperature) (MQT 05)......................... 15
4.5.1 Generalidades .................................................................................................................. 15
4.5.2 Principio ............................................................................................................................ 16
4.5.3 Procedimiento de ensayo ............................................................................................ 17
4.6 Comportamiento en CEM y NMOT (MQT 06) ........................................................ 17
4.6.1 Objeto.................................................................................................................................. 17
4.6.2 Aparatos ............................................................................................................................. 17
4.6.3 Procedimiento ................................................................................................................. 18
4.7 Comportamiento a baja irradiancia (MQT 07) .................................................... 18
4.7.1 Objeto.................................................................................................................................. 18
4.7.2 Aparatos ............................................................................................................................. 18
4.7.3 Procedimiento ................................................................................................................. 19
4.8 Ensayo de exposición en exterior (MQT 08) ......................................................... 19
4.8.1 Objeto.................................................................................................................................. 19
4.8.2 Aparatos ............................................................................................................................. 19
4.8.3 Procedimiento ................................................................................................................. 19
4.8.4 Mediciones finales.......................................................................................................... 20
4.8.5 Requisitos .......................................................................................................................... 20
4.9 Ensayo de resistencia a la formación de puntos calientes (MQT 09) .......... 20
4.9.1 Objeto.................................................................................................................................. 20
4.9.2 Efecto del punto caliente ............................................................................................. 20
4.9.3 Clasificación de la interconexión de las células .................................................. 21
4.9.4 Aparatos ............................................................................................................................. 23

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4.9.5 Procedimiento ................................................................................................................. 23


4.9.6 Mediciones finales.......................................................................................................... 33
4.9.7 Requisitos .......................................................................................................................... 33
4.10 Ensayo de preacondicionamiento con UV (MQT 10) ......................................... 34
4.10.1 Objeto.................................................................................................................................. 34
4.10.2 Aparatos ............................................................................................................................. 34
4.10.3 Procedimiento ................................................................................................................. 34
4.10.4 Mediciones finales.......................................................................................................... 35
4.10.5 Requisitos .......................................................................................................................... 35
4.11 Ensayo de ciclos térmicos (MQT 11)........................................................................ 35
4.11.1 Objeto.................................................................................................................................. 35
4.11.2 Aparatos ............................................................................................................................. 35
4.11.3 Procedimiento ................................................................................................................. 36
4.11.4 Mediciones finales.......................................................................................................... 37
4.11.5 Requisitos .......................................................................................................................... 37
4.12 Ensayo de humedad-congelación (MQT 12) ......................................................... 37
4.12.1 Objeto.................................................................................................................................. 37
4.12.2 Aparatos ............................................................................................................................. 37
4.12.3 Procedimiento ................................................................................................................. 37
4.12.4 Mediciones finales.......................................................................................................... 38
4.12.5 Requisitos .......................................................................................................................... 38
4.13 Ensayo de calor húmedo (MQT 13) .......................................................................... 39
4.13.1 Objeto.................................................................................................................................. 39
4.13.2 Procedimiento ................................................................................................................. 39
4.13.3 Mediciones finales.......................................................................................................... 39
4.13.4 Requisitos .......................................................................................................................... 39
4.14 Ensayo de robustez de los terminales (MQT 14) ................................................ 39
4.14.1 Objeto.................................................................................................................................. 39
4.14.2 Fijación de la caja de montaje superficial (MQT 14,1) ...................................... 39
4.14.3 Ensayo de anclaje de los cables (MQT 14.2) ......................................................... 40
4.15 Ensayo de corriente de fugas en medio húmedo (MQT15) ............................. 44
4.15.1 Objeto.................................................................................................................................. 44
4.15.2 Aparatos ............................................................................................................................. 44
4.15.3 Procedimiento ................................................................................................................. 45
4.15.4 Requisitos .......................................................................................................................... 45
4.16 Ensayo de carga mecánica estática (MQT 16) ...................................................... 45
4.16.1 Objeto.................................................................................................................................. 45
4.16.2 Aparatos ............................................................................................................................. 46
4.16.3 Procedimiento ................................................................................................................. 46
4.16.4 Mediciones finales.......................................................................................................... 47
4.16.5 Requisitos .......................................................................................................................... 47
4.17 Ensayo de granizo (MQT 17) ...................................................................................... 47
4.17.1 Objeto.................................................................................................................................. 47
4.17.2 Aparatos ............................................................................................................................. 47
4.17.3 Procedimiento ................................................................................................................. 49
4.17.4 Mediciones finales.......................................................................................................... 50
4.17.5 Requisitos .......................................................................................................................... 50
4.18 Ensayo de diodos de paso (MQT 18) ........................................................................ 52
4.18.1 Ensayo térmico de diodos de paso (MQT 18.1) ................................................... 52
4.18.2 Ensayo de operatividad del diodo de paso (MQT 18.2) .................................... 54
4.19 Estabilización (MQT 19)............................................................................................... 55
4.19.1 Generalidades .................................................................................................................. 55

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4.19.2 Definición del criterio de estabilización ................................................................ 55


4.19.3 Procedimientos de estabilización inducida por luz ........................................... 56
4.19.4 Otros procedimientos de estabilización ................................................................ 57
4.19.5 Estabilización inicial (MQT 19.1).............................................................................. 58
4.19.6 Estabilización final (MQT 19.2) ................................................................................. 58

Figura 1 – Caso S, conexión en serie con diodo de paso opcional .................................. 21


Figura 2 – caso PS, conexión paralelo-serie con diodo de paso opcional .................... 22
Figura 3 – caso SP, conexión serie-paralelo con diodo de paso opcional .................... 22
Figura 4 – Características I-V de un módulo con distintas células totalmente
sombreadas ....................................................................................................................................... 24
Figura 5 – Características I-V del módulo con la célula de ensayo sombreada
en distintos grados.......................................................................................................................... 26
Figura 6 – efecto de punto caliente en un módulo de película delgada MLI con
células conectadas en serie.......................................................................................................... 27
Figura 7 – Características I-V del módulo con diferentes células sombreadas
totalmente. El diseño del módulo incluye diodos de paso ............................................... 29
Figura 8 – Características I-V del módulo con la célula de ensayo sombreada
en distintos grados con un módulo de diseño que incluye diodos de paso ................ 31
Figura 9 – Ensayo de ciclos térmicos – Perfil de temperaturas y corriente
aplicada ............................................................................................................................................... 36
Figura 10 – Ciclo de humedad-congelación – Perfil de temperatura y
humedad ............................................................................................................................................. 38
Figura 11 – a) Disposición típica para el ensayo de tracción del anclaje de los
cables para ensayo de componentes de la Norma IEC 62790. b) Disposición
típica esquemática para el ensayo de tracción del anclaje de los cables en la
caja de conexión montada en el módulo FV ........................................................................... 42
Figura 12 – Disposición típica para el ensayo de torsión ................................................. 43
Figura 13 – Equipo para el ensayo de granizo ...................................................................... 48
Figura 14 –Localización de los puntos de impacto del ensayo de granizo:
arriba para tecnologías basadas en oblea/célula, abajo para tecnologías de
lámina delgada procesadas monolíticamente ...................................................................... 51
Figura 15 – Ensayo térmico de diodo de paso ....................................................................... 53

Tabla 1 – Fuerzas de tracción para el ensayo de anclaje de los cables ........................ 41


Tabla 2 – Valores para el ensayo de torsión .......................................................................... 41
Tabla 3 – Masas de las bolas de hielo y velocidades de ensayo ...................................... 49
Tabla 4 – Localización de los impactos .................................................................................... 50

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COMISIÓN ELECTROTÉCNICA INTERNACIONAL

______________

Módulos fotovoltaicos (FV) para uso terrestre


Cualificación del diseño y homologación
Parte 2: Procedimientos de ensayo

______________

Prólogo

1) IEC (Comisión Electrotécnica Internacional) es una organización mundial para la normalización, que comprende todos
los comités electrotécnicos nacionales (Comités Nacionales de IEC). El objetivo de IEC es promover la cooperación
internacional sobre todas las cuestiones relativas a la normalización en los campos eléctrico y electrónico. Para este fin
y también para otras actividades, IEC publica Normas Internacionales, Especificaciones Técnicas, Informes Técnicos,
Especificaciones Disponibles al Público (PAS) y Guías (de aquí en adelante "Publicaciones IEC"). Su elaboración se confía
a los comités técnicos; cualquier Comité Nacional de IEC que esté interesado en el tema objeto de la norma puede
participar en su elaboración. Organizaciones internacionales gubernamentales y no gubernamentales relacionadas con
IEC también participan en la elaboración. IEC colabora estrechamente con la Organización Internacional de
Normalización (ISO), de acuerdo con las condiciones determinadas por acuerdo entre ambas.

2) Las decisiones formales o acuerdos de IEC sobre materias técnicas, expresan en la medida de lo posible, un consenso
internacional de opinión sobre los temas relativos a cada comité técnico en los que existe representación de todos los
Comités Nacionales interesados.

3) Los documentos producidos tienen la forma de recomendaciones para uso internacional y se aceptan en este sentido
por los Comités Nacionales mientras se hacen todos los esfuerzos razonables para asegurar que el contenido técnico de
las publicaciones IEC es preciso, IEC no puede ser responsable de la manera en que se usan o de cualquier mal
interpretación por parte del usuario.

4) Con el fin de promover la unificación internacional, los Comités Nacionales de IEC se comprometen a aplicar de forma
transparente las Publicaciones IEC, en la medida de lo posible en sus publicaciones nacionales y regionales. Cualquier
divergencia entre la Publicación IEC y la correspondiente publicación nacional o regional debe indicarse de forma clara
en esta última.

5) IEC no proporciona certificados de conformidad. Los organismos de certificación independientes proporcionan


servicios de evaluación de la conformidad y, en ciertas áreas, acceso a las marcas de conformidad de IEC. IEC no se hace
responsable de los servicios realizados por organismos de certificación independientes.

6) Todos los usuarios deberían asegurarse de que tienen la última edición de esta publicación.

7) No se debe adjudicar responsabilidad a IEC o sus directores, empleados, auxiliares o agentes, incluyendo expertos
individuales y miembros de sus comités técnicos y comités nacionales de IEC por cualquier daño personal, daño a la
propiedad u otro daño de cualquier naturaleza, directo o indirecto, o por costes (incluyendo costes legales) y gastos
derivados de la publicación, uso o confianza de esta publicación IEC o cualquier otra publicación IEC.

8) Se debe prestar atención a las normas para consulta citadas en esta publicación. La utilización de las publicaciones
referenciadas es indispensable para la correcta aplicación de esta publicación.

9) Se debe prestar atención a la posibilidad de que algunos de los elementos de esta Publicación IEC puedan ser objeto de
derechos de patente. No se podrá hacer responsable a IEC de identificar alguno o todos esos derechos de patente.

La Norma IEC 61215-2 ha sido elaborada por el comité técnico 82 de IEC: Sistemas de conversión
fotovoltaica de la energía solar.

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Esta primera edición de la Norma IEC 61215-2 anula y sustituye a la segunda edición de la Norma
IEC 61215 (2005) y a parte de la segunda edición de la Norma IEC 61646 (2008) y constituye una
revisión técnica.

Los principales cambios técnicos significativos con respecto a esas ediciones anteriores son los
siguientes:

La norma incluye los procedimientos de ensayo – formalmente el capítulo 10 – de la edición anterior.


Se hicieron revisiones a los apartados NMOT (sustituye NOCT – MQT 05), mediciones de rendimiento
(MQT 06), robustez de terminales (MQT 14) y estabilización (MQT 19).

El texto de esta norma se basa en los documentos siguientes:

FDIS Informe de voto


82/1048/FDIS 82/1076/RVD

El informe de voto indicado en la tabla anterior ofrece toda la información sobre la votación para la
aprobación de esta norma.

En la página web de IEC puede encontrarse una lista de todas las partes de la serie de Normas
IEC 61215, bajo el título general Módulos fotovoltaicos (FV) para uso terrestre. Cualificación del diseño y
homologación.

Esta norma ha sido elaborada de acuerdo con las Directivas ISO/IEC, Parte 2.

El comité ha decidido que el contenido de esta norma (la norma base y sus modificaciones)
permanezca vigente hasta la fecha de mantenimiento indicada en la página web de IEC
"http://webstore.iec.ch" en los datos relativos a la norma específica. En esa fecha, la norma será

– confirmada;

– anulada;

– reemplazada por una edición revisada; o

– modificada.

El contenido del corrigendum de marzo de 2018 se ha incluido en esta edición.

IMPORTANTE  El logo "norma con color" en la portada de esta norma indica que contiene
colores que se consideran útiles para la adecuada comprensión de su contendido. Por ello, los
usuarios deberían imprimir esta norma utilizando una impresora a color.

Esta versión es una traducción al español de la versión oficial de la norma IEC. En caso de discrepancia
deberá consultarse la versión original.

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-9- IEC 61215-2 © IEC 2016

Introducción

La Parte 1 de esta serie de normas describe los requisitos (tanto generales como específicos de la
tecnología del dispositivo), mientras que las sub-partes de la Parte 1 definen las variaciones por
tecnología, y la Parte 2 define un conjunto de procedimientos de ensayo necesarios para la
cualificación del diseño y la homologación. Los procedimientos de ensayo descritos en la Parte 2 son
válidos para todas las tecnologías de dispositivo.

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IEC 61215-2 © IEC 2016 - 10 -

Módulos fotovoltaicos (FV) para uso terrestre


Cualificación del diseño y homologación
Parte 2: Procedimientos de ensayo

1 Objeto y campo de aplicación


Esta serie de normas internacionales establece los requisitos de IEC para la cualificación del diseño y
la homologación de módulos fotovoltaicos para uso terrestre adecuados para operación de larga
duración en climas al aire libre generales, como se define en la Norma IEC 60721-2-1. Esta parte de la
Norma IEC 61215 es aplicable a todos los tipos de módulos planos, tales como los módulos de silicio
cristalino o los módulos de lámina delgada.

Esta norma no es aplicable a módulos para luz solar concentrada, aunque puede ser utilizada para
módulos de baja concentración (de 1 a 3 soles). Para módulos de baja concentración, todos los ensayos
se llevan a cabo utilizando los niveles de corriente, tensión y potencia esperados en la concentración
de diseño.

El objeto de esta secuencia de ensayos es determinar las características eléctricas y térmicas del
módulo y mostrar, dentro de lo posible con las limitaciones razonables de coste y tiempo, que el
módulo es capaz de soportar exposiciones prolongadas en los climas generales al aire libre descritos
en el objeto y campo de aplicación. El tiempo de vida real esperado de los módulos así cualificados
dependerá de su diseño, de las condiciones ambientales y de las condiciones de trabajo en las que
estén operando.

2 Normas para consulta


Los documentos indicados a continuación, en su totalidad o en parte, son normas para consulta
indispensables para la aplicación de este documento. Para las referencias con fecha, solo se aplica la
edición citada. Para las referencias sin fecha se aplica la última edición (incluida cualquier
modificación de ésta).

IEC 60050, Vocabulario electrotécnico internacional (disponible en http://www.electropedia.org).

IEC 60068-1, Ensayos ambientales. Parte 1: Generalidades y guía.

IEC 60068-2-21, Ensayos ambientales. Parte 2-21: Ensayos. Ensayo U: Robustez de los terminales y de los
dispositivos de montaje incorporados.

IEC 60068-2-78, Ensayos ambientales. Parte 2-78: Ensayos. Ensayo Cab: Calor húmedo, ensayo continuo.

IEC 60721-2-1, Clasificación de las condiciones ambientales. Parte 2-1: Condiciones ambientales
presentes en la naturaleza. Temperatura y humedad.

IEC 60891, Dispositivos fotovoltaicos. Procedimiento de corrección con la temperatura y la irradiancia de


la característica I-V de dispositivos fotovoltaicos.

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- 11 - IEC 61215-2 © IEC 2016

IEC 60904-1, Dispositivos fotovoltaicos. Parte 1: Medida de la característica corriente-tensión de


dispositivos fotovoltaicos.

IEC 60904-2, Dispositivos fotovoltaicos. Parte 2: Requisitos de dispositivos solares de referencia.

IEC 60904-3, Dispositivos fotovoltaicos. Parte 3: Fundamentos de medida de dispositivos solares


fotovoltaicos (FV) de uso terrestre con datos de irradancia espectral de referencia.

IEC 60904-7, Dispositivos fotovoltaicos. Parte 7: Cálculo de la corrección por desacoplo espectral para
medidas de dispositivos fotovoltaicos.

IEC 60904-8, Dispositivos fotovoltaicos. Parte 8: Medida de la respuesta espectral de un dispositivo


fotovoltaico (FV).

IEC 60904-9, Dispositivos fotovoltaicos. Parte 9: Requisitos de funcionamiento para simuladores solares.

IEC 60904-10, Dispositivos fotovoltaicos. Parte 10: Métodos de medida de la linealidad.

IEC 61215-1, Módulos fotovoltaicos (PV) para uso terrestre. Cualificación del diseño y homologación.
Parte 1: Requisitos de ensayo.

IEC TS 61836, Solar photovoltaic energy systems. Terms, definitions and symbols.

IEC 61853-2, Ensayos de rendimiento de módulos fotovoltaicos (FV) y evaluación energética. Parte 2:
Medidas de respuesta espectral, ángulo de incidencia y temperatura de funcionamiento del módulo.1)

IEC 62790, Cajas de conexión para módulos fotovoltaicos. Requisitos de seguridad y ensayos.

ISO 868, Plásticos y ebonita. Determinación de la dureza de indentación por medio de un durómetro
(dureza Shore).

3 Términos y definiciones
Para los fines de este documento, se aplican los términos y definiciones incluidos en la Norma
IEC 60050 y en la Especificación Técnica IEC TS 61836, además de los siguientes.

3.1 exactitud <del instrumento de medición>:


Cualidad que caracteriza la capacidad de un instrumento de medición para proporcionar un valor
cercano al valor verdadero del mensurando [≈ VIM 5.18].

NOTA 1 Este término se utiliza en el enfoque de "verdadero valor".

NOTA 2 La exactitud es mejor cuando el valor indicado se aproxima más al correspondiente valor verdadero.

[FUENTE: IEC 60050-311:2001, 311-06-08]

3.2 dispositivo de control:


Sensor de irradiancia (por ejemplo, una célula de referencia o módulo) que se utiliza para detectar
desviaciones y otros problemas del simulador solar.

1) Pendiente de publicación.

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3.3 nivel de potencia de salida eléctricamente estable :


Estado del módulo FV en el que operará bajo exposición de luz solar natural a largo plazo en climas
generales al aire libre, tal como se define en la Norma IEC 60721-2-1.

3.4 repetibilidad <de los resultados de las mediciones>:


Buen grado de coincidencia entre los resultados de mediciones sucesivas de la misma magnitud,
realizadas bajo las mismas condiciones de medida, es decir:

– con el mismo procedimiento de medición;

– por el mismo observador;

– con los mismos instrumentos de medición;

– bajo las mismas condiciones;

– en el mismo laboratorio;

en intervalos relativamente cortos de tiempo [≈ VIM 3.6].

NOTA 1 Se define el concepto de "procedimiento de medición" en VIM 2.5.

[FUENTE: IEC 60050-311:2001, 311-06-06]

3.5 reproducibilidad <de las mediciones>:


Buen grado de coincidencia entre los resultados de las mediciones de una misma magnitud, realizadas
en diferentes condiciones de medida:

– principio de medición;

– método de medición;

– observador;

– instrumentos de medición;

– normas de referencia;

– laboratorio;

– en las condiciones de uso de los aparatos de medida diferentes de las habitualmente empleadas,

después de intervalos de tiempo relativamente largos comparados con la duración de una única
medida. [≈ VIM 3.7].
NOTA 1 Los conceptos de principio de medida y método de medida están respectivamente definidos en VIM 2.3 y VIM 2.4.

NOTA 2 El término "reproducibilidad" se aplica también al caso en el que solo se consideren algunas de las condiciones
anteriormente enumeradas, siempre que se indiquen cuáles.

[FUENTE: IEC 60050-311:2001, 311-06-07]

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- 13 - IEC 61215-2 © IEC 2016

4 Procedimientos de ensayo

4.1 Inspección visual (MQT 01)

4.1.1 Objeto
Detectar cualquier defecto visual en el módulo.

4.1.2 Procedimiento
Se inspecciona cuidadosamente cada módulo bajo una iluminación de no menos de 1 000 lux para las
condiciones y observaciones definidas en la Norma IEC 61215-1.

Se anotan y/o fotografían la naturaleza y la posición de grietas, burbujas, delaminaciones, etc., que
pueden empeorar y afectar el funcionamiento del módulo en ensayos posteriores.

4.1.3 Requisitos
No se permite ninguna evidencia de defectos visuales importantes, como se define en la Norma
IEC 61215-1.

4.2 Determinación de la potencia máxima (MQT 02)

4.2.1 Objeto
Determinar la potencia máxima del módulo después de la estabilización, así como antes y después de
los distintos ensayos de estrés ambientales. Para la determinación de la pérdida de potencia tras los
ensayos de estrés, la reproducibilidad del ensayo es un factor muy importante.

4.2.2 Aparatos
a) Una fuente de radiación (luz natural o un simulador solar de clase BBA, o mejor, de acuerdo con la
Norma IEC 60904-9).

b) Un dispositivo fotovoltaico de referencia de acuerdo con la Norma IEC 60904-2. Si se utiliza un


simulador de clase BBA o mejor, el dispositivo de referencia debe ser un módulo de referencia del
mismo tamaño, y con la misma tecnología de célula para que tenga la misma respuesta espectral.
Si no se dispone de un dispositivo de referencia con dichas características, se debe elegir una de
las dos opciones siguientes:

1) se debe utilizar un simulador solar de clase AAA; o

2) debe medirse la respuesta espectral del módulo según la Norma IEC 60904-8 y la distribución
espectral del simulador solar, y los datos del módulo deben corregirse según la Norma
IEC 60904-7.

c) Un soporte adecuado para la sujeción del dispositivo a ensayar y del dispositivo de referencia en
un plano normal al haz de radiación.

d) Aparato para medir una curva de I-V según la Norma IEC 60904-1.

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Para poder utilizarlo en un sistema de red interno, deberá disponer de la correspondiente licencia de AENOR
IEC 61215-2 © IEC 2016 - 14 -

4.2.3 Procedimiento
Se determina la característica de corriente-tensión del módulo de acuerdo con la Norma IEC 60904-1
en un conjunto específico de condiciones de irradiancia y temperatura (un intervalo recomendado es
una temperatura de la célula entre 25 °C y 50 °C y una irradiancia entre 700 W/m2 y 1 100 W/m2),
utilizando la luz solar natural o un simulador solar de clase BBA o mejor conforme a los
requerimientos de la Norma IEC 60904-9. En circunstancias especiales, si los módulos están diseñados
para funcionar en un intervalo diferente de condiciones, las características de corriente-tensión se
pueden medir con niveles de temperatura e irradiancia similares a las condiciones de operación
esperadas. Para los módulos lineales (según se definen en la Norma IEC 60904-10), las correcciones de
temperatura e irradiancia se pueden realizar de acuerdo con la Norma IEC 60891, con el fin de
comparar conjuntos de mediciones llevadas a cabo en el mismo módulo antes y después de los ensayos
ambientales. Para los módulos no lineales (según lo definido en la Norma IEC 60904-10) la medición
se realizará dentro del ±5% de la irradiancia especificada y dentro de ±2 °C de la temperatura
especificada. En cualquier caso, se debe hacer todo lo posible para asegurar que las mediciones de
potencia máxima se realizan en condiciones de operación similares, es decir, minimizar la magnitud de
la corrección haciendo todas las mediciones de potencia máxima de un mismo módulo
aproximadamente a la misma temperatura e irradiancia.

4.3 Ensayo de aislamiento (MQT 03)

4.3.1 Objeto
Determinar si el módulo está o no suficientemente bien aislado entre las partes activas y las partes
accesibles.

4.3.2 Aparatos
a) Fuente de tensión en corriente continua (c.c.) con limitación de intensidad capaz de aplicar 500 V
o 1 000 V más dos veces la tensión máxima del sistema del módulo (Norma IEC 61215-1).

b) Un instrumento para medir la resistencia de aislamiento.

4.3.3 Condiciones de ensayo


Los ensayos deben realizarse en módulos a la temperatura ambiente de la atmósfera envolvente
(véase la Norma IEC 60068-1) y a una humedad relativa que no exceda el 75%.

4.3.4 Procedimiento
a) Se cortocircuitan los terminales de salida del módulo y se conectan al terminal positivo de un
aparato medidor del aislamiento en corriente continua con limitación de intensidad.

b) Se conectan las partes metálicas expuestas del módulo al terminal negativo del aparato. Si el
módulo no tiene marco o si el marco es mal conductor eléctrico, se envuelve una lámina
conductora alrededor de los bordes. Se cubren todas las superficies de material polímero del
módulo (cara frontal y posterior, caja de conexiones) con lámina conductora. Se conectan todas
las partes cubiertas con lámina conductora también al terminal negativo del aparato de medida.

Algunas tecnologías de módulo pueden ser sensibles a la polarización estática, si el módulo se


mantiene en tensión positiva con el marco. En este caso, la conexión del aparato de medida se
realizará de la manera opuesta. Si procede, el fabricante debe proporcionar la información con
respecto a la sensibilidad a la polarización estática.

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c) Se aumenta la tensión aplicada por el aparato de medida, a un ritmo que no exceda 500 V/s, hasta
un valor de 1 000 V más dos veces la tensión máxima del sistema (Norma IEC 61215-1). Si la
tensión máxima del sistema no excede 50 V, la tensión aplicada debe ser 500 V. Manténgase la
tensión en este valor durante 1 min.

d) Se reduce la tensión aplicada hasta cero y se cortocircuitan los terminales del equipo de medida
para descargar la tensión creada en el módulo.

e) Se elimina el cortocircuito.

f) Se aumenta la tensión proporcionada por el equipo de medida a un ritmo que no exceda 500 V/s
hasta 500 V, o hasta la tensión máxima del sistema para el módulo, si ésta fuera mayor que ese
valor. Se mantiene esta tensión durante 2 min. A continuación se mide la resistencia de
aislamiento.

g) Se reduce la tensión aplicada a cero y se cortocircuitan los terminales del equipo de ensayo, para
descargar la tensión creada en el módulo.

h) Se elimina el cortocircuito y se desconecta el equipo de ensayo del módulo.

4.3.5 Requisitos de ensayo


a) Ninguna ruptura dieléctrica o arborescencia eléctrica superficial durante el paso 4.3.4 c);

b) Para módulos con un área menor que 0,1 m2, la resistencia de aislamiento no debe ser inferior a
400 M.

c) Para módulos con un área mayor que 0,1 m², el producto de la resistencia de aislamiento medida
por el área del módulo no debe ser inferior a 40 M·m2.

4.4 Medición de los coeficientes de temperatura (MQT 04)


Se determinan los coeficientes de temperatura de la intensidad de corriente (), la tensión () y la
potencia máxima () a partir de mediciones realizadas sobre el módulo según se especifica en la
Norma IEC 60891. Los coeficientes así determinados son válidos para la irradiancia a la que se hayan
realizado las mediciones. Véase la Norma IEC 60904-10 para la evaluación de los coeficientes de
temperatura del módulo a distintos niveles de irradiancia.

NOTA Para los módulos lineales, según la Norma IEC 60904-10, los coeficientes de temperatura son válidos en un intervalo
de irradiancia de ±30% del considerado.

4.5 Medición de la temperatura nominal de operación del módulo (NMOT, Nominal


Module Operating Temperature) (MQT 05)

4.5.1 Generalidades
La potencia de los módulos FV depende de la temperatura de la célula. La temperatura de la célula se
ve afectada principalmente por la temperatura ambiente, la irradiancia solar y la velocidad del viento.

NMOT se define como la temperatura media en equilibrio de la unión de la célula, correspondiente a


un módulo montado en una estructura abierta y operando cerca del punto de máxima potencia en el
siguiente ambiente de referencia normalizado, (SER, Standard Reference Environment):

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– ángulo de inclinación: (37 ± 5)°

– irradiancia total: 800 W/m²

– temperatura ambiente 20 °C

– velocidad del viento 1 m/s

– carga eléctrica Una carga resistiva de valor tal que el módulo funcione cerca de su punto
de máxima potencia en condiciones estándar de medida (CEM), o un
seguidor del punto de máxima potencia (MPPT) electrónico.

NOTA La temperatura NMOT es similar a la anterior temperatura de operación nominal (TONC), excepto que se mide con el
módulo en condición de potencia máxima, en lugar de en circuito abierto. En condiciones de potencia máxima la
energía (eléctrica) se retira del módulo y, por lo tanto, se disipa menos energía térmica a través del módulo que en
circuito abierto. Por lo tanto, la temperatura NMOT es típicamente algunos grados más baja que la TONC anterior.

La NMOT puede ser utilizada por el diseñador del sistema como indicativo de la temperatura a la que
operará el módulo en una instalación, y es, por tanto, un parámetro útil en la comparación del
comportamiento de diferentes diseños de módulos. Sin embargo, la temperatura real de operación en
cada instante se ve afectada por la estructura de sujeción, la distancia al suelo, la irradiancia, la
velocidad del viento, la temperatura ambiente, la temperatura del cielo y las reflexiones y emisiones
del suelo y objetos cercanos. Para estimaciones precisas de funcionamiento deben tenerse en cuenta
estos factores.

En el caso de los módulos no diseñados para su montaje en estructura abierta, el método se puede
utilizar para determinar la temperatura media en equilibrio de la unión de la célula en las condiciones
SRE, con el módulo montado según recomienda el fabricante.

4.5.2 Principio
Este método está basado en la adquisición de datos reales de la temperatura del módulo en un
intervalo de condiciones ambientales que incluyan las condiciones SRE. Los datos se presentan de
forma que permitan la interpolación precisa y reproducible del valor de la NMOT.

La temperatura de la unión de la célula solar (TJ) es fundamentalmente una función de la temperatura


ambiente (Tamb), la velocidad media del viento (v) y la irradiancia solar total (G) incidente en la
superficie activa del módulo. La diferencia de temperaturas (TJ - Tamb) es, en gran medida,
independiente de la temperatura ambiente y es, en esencia, linealmente proporcional a la irradiancia
para niveles superiores a 400 W/m2.

La temperatura del módulo se modela por: TJ - Tamb = G / (u0 - u1 v)

El coeficiente u0 describe la influencia de la irradiancia y u1 el impacto del viento.

El valor NMOT para TJ se determina a partir de la fórmula del modelo anterior utilizando Tamb = 20 °C,
la irradiancia G de 800 W/m² y una velocidad de viento v de 1 m/s.

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4.5.3 Procedimiento de ensayo


Los datos para el cálculo de la temperatura NMOT deben obtenerse mediante el método descrito en la
Norma IEC 61853-2 (método para la determinación de la temperatura nominal de operación del
módulo).

NOTA Este ensayo puede llevarse a cabo simultáneamente al ensayo de exposición en exterior descrito en el apartado 4.8.

4.6 Comportamiento en CEM y NMOT (MQT 06)

4.6.1 Objeto
Determinar cómo varía el funcionamiento eléctrico del módulo con la carga en condiciones estándar
de medida, CEM (1 000 W/m2, temperatura de la célula 25 °C, y distribución espectral de irradiancia
solar de referencia según la Norma IEC 60904-3), y en condiciones de la NMOT (irradiancia de
800 W/m2, temperatura ambiente de 20 °C y distribución espectral de irradiancia solar de referencia
según la Norma IEC 60904-3). La medición en CEM se utiliza para verificar la información de la placa
de identificación del módulo.

4.6.2 Aparatos
a) Una fuente de radiación (luz natural o un simulador solar de clase BBA o mejor, de acuerdo con la
Norma IEC 60904-9).

b) Un dispositivo fotovoltaico de referencia de acuerdo con la Norma IEC 60904-2. Si se utiliza un


simulador de clase BBA o mejor, el dispositivo de referencia debe ser un módulo de referencia del
mismo tamaño, y con la misma tecnología de célula para que tenga la misma respuesta espectral.
Si no se dispone de un dispositivo de referencia con dichas características, se debe elegir una de
las dos opciones siguientes:

1) se debe utilizar un simulador solar de clase AAA; o

2) debe medirse la respuesta espectral del módulo según la Norma IEC 60904-8 y la distribución
espectral del simulador solar, y los datos del módulo deben corregirse según la Norma
IEC 60904-7.

c) Un soporte adecuado para la sujeción del dispositivo a ensayar y del dispositivo de referencia, en
un plano normal al haz de radiación.

d) Un medio para monitorizar la temperatura del dispositivo a ensayar y el dispositivo de referencia,


con una precisión de ±1 °C y una repetibilidad de ±0,5 °C.

e) Equipo para medir una curva de I-V según la Norma IEC 60904-1.

f) Si fuera necesario, el equipo para cambiar la temperatura del dispositivo bajo ensayo a la
temperatura NMOT definida en el apartado 4.5.

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4.6.3 Procedimiento

4.6.3.1 Medición en CEM (MQT 06.1)


Se mantiene el módulo a (25 ± 2) °C y se traza su característica corriente-tensión a una irradiancia de
(1 000 ± 100) W/m2 (medida con un dispositivo de referencia apropiado), de acuerdo con la Norma
IEC 60904-1, utilizando la luz solar natural, o un simulador de clase BBA o mejor conforme a los
requisitos de la Norma IEC 60904-9.

La temperatura del módulo en exterior (25 ± 2) °C puede corregirse a 25 °C mediante los coeficientes
de temperatura y la serie de Normas IEC 60904 y la Norma IEC 60891.

4.6.3.2 Medición en condiciones NMOT (MQT 06.2)


Se calienta el módulo uniformemente a (NMOT ± 2) °C y se traza la característica corriente-tensión
bajo una irradiación de (800 ± 80) W/m2 (medida con un dispositivo de referencia apropiado), de
acuerdo con la Norma IEC 60904-1, utilizando luz solar natural o un simulador de clase BBA o mejor
conforme a los requisitos de la Norma IEC 60904-9.

La temperatura del módulo en exterior (NMOT ± 2) °C puede corregirse a NMOT mediante los
coeficientes de temperatura, la serie de normas IEC 60904 y la Norma IEC 60891.

En los apartados 4.6.3.1 y 4.6.3.2, si el dispositivo de referencia no coincide espectralmente con el


módulo de ensayo, se utiliza la Norma IEC 60904-7 para calcular la corrección por desajuste espectral.

4.7 Comportamiento a baja irradiancia (MQT 07)

4.7.1 Objeto
Determinar cómo varía el funcionamiento eléctrico del módulo con carga y a 25 °C, bajo una
irradiancia de 200 W/m2 (medida por un dispositivo de referencia adecuado), según la Norma
IEC 60904-1, utilizando la luz solar natural o un simulador de clase BBA o mejor conforme a los
requisitos de la Norma IEC 60904-9.

4.7.2 Aparatos
a) Una fuente de radiación (luz natural o un simulador solar de clase BBA o mejor, de acuerdo con la
Norma IEC 60904-9).

b) El equipo necesario para variar la irradiancia hasta 200 W/m² sin afectar la distribución espectral
relativa de irradiancia y la uniformidad espacial, de acuerdo con la Norma IEC 60904-10.

c) Un dispositivo fotovoltaico de referencia de acuerdo con la Norma IEC 60904-2. Si se utiliza un


simulador de clase BBA o mejor, el dispositivo de referencia debe ser un módulo de referencia del
mismo tamaño, y con la misma tecnología de célula para que tenga la misma respuesta espectral.
Si no se dispone de un dispositivo de referencia con estas características, se debe elegir una de las
dos opciones siguientes:

1) se debe utilizar un simulador solar de clase AAA; o

2) debe medirse la respuesta espectral del módulo según la Norma IEC 60904-8 y la distribución
espectral del simulador solar, y los datos del módulo deben corregirse según la Norma
IEC 60904-7.

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d) Un soporte adecuado para la sujeción del dispositivo a ensayar y del dispositivo de referencia en
un plano normal al haz de radiación.

e) Un medio para monitorizar la temperatura del dispositivo a ensayar y el dispositivo de referencia


con una precisión de ±1 °C y una repetibilidad de ±0,5 °C.

f) Equipo para medir la curva de I-V según la Norma IEC 60904-1.

4.7.3 Procedimiento
Determínese la característica de corriente-tensión del módulo a (25 ± 2) °C bajo una irradiancia de
(200 ± 20) W/m2 controlada por un dispositivo de referencia apropiado, de acuerdo con la Norma
IEC 60904-1 utilizando luz solar natural o un simulador solar de clase BBA o mejor conforme a los
requerimientos de la Norma IEC 60904-9. La irradiancia debe reducirse al valor especificado
utilizando filtros neutros o alguna otra técnica que no afecte a la distribución espectral de la
irradiancia (síganse las indicaciones de la Norma IEC 60904-10 para reducir la irradiancia sin cambiar
la distribución espectral).

La temperatura del módulo fuera del intervalo (25 ± 2) °C puede corregirse a 25 °C mediante los
coeficientes de temperatura, la serie de normas IEC 60904 y la Norma IEC 60891.

4.8 Ensayo de exposición en exterior (MQT 08)

4.8.1 Objeto
Realizar una evaluación preliminar de la capacidad del módulo a soportar la exposición a las
condiciones exteriores y detectar los efectos de degradación sinérgica que no puedan detectarse
mediante los ensayos de laboratorio.

4.8.2 Aparatos
a) Una estructura de soporte abierta para sujetar el(los) módulo(s) de ensayo y el monitor de
irradiación solar de la manera especificada. El bastidor debe estar diseñado para minimizar la
conducción de calor de los módulos e interferir lo mínimo posible con la radiación de calor libre
de sus superficies frontales y traseras.

En el caso de los módulos no diseñados para el montaje en estructura abierta, el(los) módulo(s)
de ensayo se montará(n) según recomiende el fabricante.

b) Un monitor de irradiación solar con precisión de ±5%, montado en el plano del (de los) módulo(s)
a no más de 0,3 m de la estructura de ensayos.

c) Los medios para montar el módulo, según lo recomendado por el fabricante, en el mismo plano
que el monitor de irradiación.

d) Una carga resistiva de tamaño tal que haga que el módulo funcione cerca de su punto de máxima
potencia, o un seguidor solar del punto de potencia máxima (MPPT) electrónico.

4.8.3 Procedimiento
a) El (los) módulo(s) de ensayo deben colocarse con una inclinación de valor igual a la latitud local
±5°. Se anota el ángulo de inclinación del módulo de ensayo en el informe de ensayo.

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b) Se fija la carga o el seguidor solar electrónico del punto de potencia máxima al módulo y se monta
éste en el exterior, siguiendo las recomendaciones del fabricante y en el mismo plano que el
medidor de irradiación. Se deben instalar antes de la realización de los ensayos todos los
dispositivos de protección del efecto de punto caliente recomendados por el fabricante.

c) Se expone el módulo a una irradiación acumulada de al menos 60 kWh/m², medida con el


monitor, bajo las condiciones conformes a ambientes exteriores generales, según se definen en la
Norma IEC 60721-2-1.

La exposición en exterior y la determinación de la temperatura NMOT se pueden realizar


simultáneamente en el mismo módulo. En tal caso se sigue el procedimiento de montaje de la Norma
IEC 61853-2.

4.8.4 Mediciones finales


Se repiten los ensayos MQT 01 y MQT 15.

4.8.5 Requisitos
a) No debe haber evidencia de defectos visuales importantes, según se definen en la Norma
IEC 61215-1.

b) La corriente de fuga en medio húmedo debe cumplir los mismos requisitos que en las mediciones
iniciales.

4.9 Ensayo de resistencia a la formación de puntos calientes (MQT 09)

4.9.1 Objeto
Determinar la capacidad del módulo a resistir los efectos de calentamiento por puntos calientes, como
pueden ser una soldadura fundida o el deterioro del encapsulado. Estos defectos podrían provocarlos
células rotas o desacopladas, un sombreado parcial o la suciedad superficial. Si bien la temperatura
absoluta y la pérdida relativa de potencia no son criterios de este ensayo, se utilizan las condiciones
más severas de punto caliente para asegurar la seguridad del diseño.

4.9.2 Efecto del punto caliente


El efecto de punto caliente se produce en un módulo si su intensidad de corriente de operación excede
la intensidad de cortocircuito (Isc) reducida de una de sus células o de un grupo de células. Cuando se
produce esta condición, la célula, o grupo de células afectadas, es forzada a trabajar en polarización
inversa y debe disipar potencia, lo que puede causar un sobrecalentamiento.

Si la disipación de energía es lo suficientemente alta o está suficientemente localizada, la(s) célula(s)


con polarización inversa puede(n) sobrecalentarse, lo que resulta en – dependiendo de la tecnología –
fusión de la soldadura, deterioro del encapsulante de la parte frontal y/o posterior, rotura del
superestrato, el substrato y/o el frente y/o contrachapado, agrietamiento del superestrato, substrato
y/o vidrio de la cubierta. El uso correcto de los diodos de paso puede evitar que ocurran daños por
puntos calientes.

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Las características inversas de las células fotovoltaicas pueden ser muy diferentes. Las células pueden
tener una resistencia paralelo alta, lo que origina una limitación por tensión del funcionamiento en
polarización inversa, o una resistencia paralelo baja, lo que origina una limitación por corriente del
funcionamiento en polarización inversa. Cada uno de estos dos tipos de células puede sufrir problemas
de punto caliente, pero de diferente forma.

Células con baja resistencia paralelo:

• Las peores condiciones de sombreado ocurren cuando se sombrea toda la célula o una gran fracción
de ella.

• A menudo las células tienen una baja resistencia paralelo porque tienen fugas de corriente locales.
En esos casos, el calentamiento por puntos calientes ocurre porque una gran cantidad de corriente
fluye en un área pequeña. Debido a que este es un fenómeno local, se produce una alta dispersión
en el rendimiento de este tipo de células. Las células con la resistencia paralelo más baja tienen una
alta probabilidad de alcanzar temperaturas excesivamente altas en polarización inversa.

• Debido a que el calentamiento está localizado, los fallos por efecto de punto caliente en las células
con resistencia paralela baja suceden rápidamente.

La cuestión técnica principal es cómo identificar las células con resistencia paralelo más baja y,
posteriormente, cómo determinar el peor caso de sombreado para esas células. Este proceso es
dependiente de la tecnología y se aborda en las partes específicas de la tecnología de esta norma.

Células con alta resistencia paralelo:

• Las condiciones de sombreado del caso peor ocurren cuando la célula se sombrea parcialmente.

• La tensión de ruptura y las altas temperaturas se alcanzan más lentamente. Es necesario que el
sombreado permanezca en el lugar durante algún tiempo para crear el peor caso de calentamiento
de punto caliente.

4.9.3 Clasificación de la interconexión de las células


Caso S: Conexión en serie de todas las células en una sola cadena. Véase la figura 1.

Figura 1 – Caso S, conexión en serie con diodo de paso opcional

Caso PS: Conexión paralelo-serie, es decir, conexión en serie de (S) bloques, donde cada bloque
consiste en una conexión paralelo de cierto número (P) de células. Véase la figura 2.

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Figura 2 – caso PS, conexión paralelo-serie con diodo de paso opcional

Caso SP: Conexión serie-paralelo paralela, es decir, una conexión paralela de (P) bloques, donde
cada bloque consiste en una conexión serie de un cierto número de (S) células. Véase la
figura 3.

Figura 3 – caso SP, conexión serie-paralelo con diodo de paso opcional

Cada configuración requiere un procedimiento particular de ensayo del efecto de punto caliente.

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4.9.4 Aparatos
a) Fuente de radiación: Luz solar natural o simulador solar continuo de clase BBB o mejor conforme
a la Norma IEC 60904-9 con una irradiancia de 800 W/m2 a 1 100 W/m2.

b) Trazador de curvas I-V de módulos.

c) Equipo para la medición de intensidad de corriente.

d) Cubiertas opacas para sombrear las células de ensayo según se indica en las partes específicas
para cada tecnología de la Norma IEC 61215.

e) Un detector de temperatura apropiado (preferiblemente una cámara IR) para medir y registrar las
temperaturas del módulo.

f) Equipo para registrar niveles de irradiancia, irradiación integrada y temperatura ambiente.

Opcionalmente, para seleccionar las células más sensibles al calentamiento por efecto de punto
caliente, puede utilizarse un simulador pulsado de clase BBB o mejor conforme a la Norma
IEC 60904-9, con una irradiancia entre 800 W/m2 y 1 000 W/m2 para para medir el comportamiento
de las curvas I-V.

4.9.5 Procedimiento

4.9.5.1 Generalidades
Dependiendo de la tecnología de célula fotovoltaica y del proceso de fabricación, existen dos
procedimientos diferentes. MQT 09.1 es típicamente aplicable a las tecnologías basadas en oblea, como
la de silicio cristalino estándar. Para las tecnologías de lámina delgada monolíticamente integradas
más comunes (CdTe, CIGS, a-si), se aplica el procedimiento MQT 09.2.

4.9.5.2 Procedimiento para tecnologías basadas en obleas (wafer-based technologies, WBT)


MQT 09.1
Si los diodos de paso son extraíbles, las células con fugas de corriente locales pueden identificarse
mediante la polarización inversa de la cadena de células y la utilización de la cámara IR para detectar
los puntos calientes. Si el circuito del módulo es accesible, puede monitorizarse directamente el flujo
de corriente a través de la célula sombreada. Si los módulos fotovoltaicos a ensayar no tienen diodos
extraíbles o circuitos eléctricos accesibles, se puede utilizar el siguiente método no intrusivo.

El método se basa en tomar un conjunto de curvas I-V del módulo con cada una de sus células
sombreadas de una en una. La figura 4 muestra el conjunto resultante de curvas I-V para una muestra
de módulo. Se considera la curva con la corriente de salida más alta en el punto donde el diodo se
activa tras sombrear la célula con la resistencia paralelo más baja. Se considera la curva con la
corriente de fugas más baja en el punto donde el diodo se activa tras sombrear la célula con la
resistencia paralelo más alta.

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Figura 4 – Características I-V de un módulo con distintas células totalmente sombreadas

Se utiliza el procedimiento siguiente para identificar las células sensibles al efecto de punto caliente:

a) Se expone el módulo sin sombrear a la fuente de radiación, a una irradiancia entre 800 W/m2 y
1 000 W/m2. Esto se puede hacer usando:

• Un simulador pulsado. La temperatura del módulo estará próxima a la temperatura ambiente


(25 ± 5) °C.

• Un simulador continuo. La temperatura del módulo debe estabilizarse dentro de ±5 °C antes de


comenzar las mediciones.

• Luz solar. La temperatura del módulo debe estabilizarse dentro de ±5 °C antes de comenzar las
mediciones.

Después de lograr la estabilización térmica, se mide la característica I-V del módulo y se determina la
intensidad de corriente en el punto de máxima potencia, o corriente de máxima potencia, IMP1
(funcionamiento inicial PMP1).

b) Se sombrean las células completamente de una en una, se mide la curva I-V resultante en cada
caso y se prepara un conjunto de curvas como los de la figura 4.

NOTA Para el caso SP la deformación de la curva I-V del módulo se agrega a la curva I-V parcial de la sección paralela
totalmente iluminada, y por lo tanto no inicia en Voc.

c) Se selecciona la célula adyacente al borde que tenga la resistencia paralelo más baja, la que tiene
la mayor corriente de fuga.

d) Se seleccionan las dos células que tienen las resistencias paralelo más bajas (adicionalmente a la
célula del punto c), las que tienen las mayores corrientes de fuga.

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e) Se selecciona la célula con la resistencia paralelo más alta.

f) Procedimiento de ensayo de células:

Para cada una de las células seleccionadas, se determina la peor condición de sombreado por uno de
los métodos siguientes.

1) Si el circuito de la célula es accesible, se cortocircuita el módulo y se conecta el equipo de


medición de corriente de modo que mida solamente la corriente a través de la cadena de la
célula bajo ensayo. Se expone el módulo a una irradiancia continua de entre 800 W/m2 y
1 000 W/m2. Se sombrea cada una de las células de ensayo y se determina qué nivel de
sombra resulta cuando la corriente a través de la célula sombreada es igual a la IMP1 sin
sombrear determinada en el punto a). Este es el peor caso de sombreado para esa célula.

2) Si el circuito de la célula no es accesible, se toma un conjunto de curvas I-V con cada una de
las células de ensayo sombreadas en distintos grados, como se muestra en la figura 5. Se
determina el peor caso de sombreado, que ocurre cuando la corriente a través de la célula
sombreada (el punto donde el diodo de paso se activa) coincide con la IMP1 original sin
sombrear determinada en el punto a), como sucede en la curva c) de la figura 5.

3) Se sombrea 100% y de una en una cada una de las células de ensayo seleccionadas y se mide
la temperatura de la célula. Se disminuye el sombreado en un 10%. Si la temperatura
disminuye, el sombreado del 100% produce el peor caso. Si la temperatura aumenta o
permanece igual, se continúa disminuyendo el sombreado en un 10% cada vez, hasta que la
temperatura disminuya. Entonces se vuelve al caso anterior y se utiliza el nivel de sombreado
anterior como la peor condición de sombreado.

4) Para el caso SP, si el diodo de paso no se activa cuando la célula seleccionada está
completamente sombreada, la peor condición de punto caliente se obtiene sombreando
completamente la célula. Si el diodo de derivación se activa cuando la célula seleccionada está
completamente sombreada, se usa el procedimiento dado, bien en el punto f)2), bien en el
punto f)3), para determinar la peor condición de sombreado.

5) Se considera la célula seleccionada en el punto c). Se utiliza la cámara IR para determinar el


punto más caliente en la célula al sombrearla al 100%. Se sombrea la célula en la peor
condición según se determina en los puntos del f)1) al f)4). Se cortocircuita el módulo. Si es
posible, se asegura que este punto más caliente está dentro del área iluminada.

g) Se sombrea cada célula seleccionada en la peor condición como se determina en el punto f).

h) Se cortocircuita el módulo. Se expone el módulo a (1 000 ± 100) W/m2. Este ensayo debe
realizarse a una temperatura del módulo en el intervalo (50 ± 10) °C.

i) Se mantiene la peor condición de sombreado determinada en el punto f) durante 1 h para cada


una de las células seleccionadas. Si la temperatura de la célula sombreada sigue aumentando
después de transcurrida 1 h, se continúa durante un tiempo de exposición total de 5 h.

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Figura 5 – Características I-V del módulo con la célula de ensayo sombreada en distintos grados

4.9.5.3 Procedimiento para tecnologías de lámina delgada monolíticamente integradas (MLI,


Monolithically Integrated) MQT 09.2

4.9.5.3.1 Generalidades
El ensayo de punto caliente se lleva a cabo con el módulo expuesto a una irradiancia de
(1 000 ±100) W/m2.

NOTA Normalmente no se incluyen diodos de paso en el circuito de interconexión de las células de lámina delgada MLI
conectadas en serie. Por lo tanto, la tensión inversa de las células sombreadas no está limitada y la tensión del módulo
puede forzar a un grupo de células a la polarización inversa.

El comportamiento eléctrico de un módulo de lámina delgada MLI puede verse afectado


negativamente incluso por un sombreado de corta duración. Se debe tener cuidado de diferenciar
claramente los efectos causados durante el establecimiento de la condición peor de sombreado y los
ensayos de resistencia al efecto de punto caliente. Los valores de Pmáx.1, Pmáx.2 y Pmáx.3 se miden con este
fin.

4.9.5.3.2 Caso S
La figura 6 ilustra el efecto de punto caliente en un módulo de película delgada MLI formado por una
conexión en serie de células, al estar un número diferente de células totalmente sombreadas. La
cantidad de energía disipada en las células sombreadas es igual al producto de la corriente del módulo
por la tensión inversa desarrollada a través del grupo de células sombreadas. Para cualquier nivel de
irradiancia, se disipa la potencia máxima cuando la tensión inversa a través de las células sombreadas
es igual a la tensión generada por las células iluminadas restantes en el módulo (peor condición de
sombreado). Este es el caso si la corriente de cortocircuito del módulo sombreado se iguala a la
corriente de potencia máxima del módulo no sombreado.

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NOTA En este ejemplo la peor condición de sombreado se alcanza sombreando 4 células al mismo tiempo.

Figura 6 – efecto de punto caliente en un módulo de película delgada MLI


con células conectadas en serie

Los pasos descritos en los puntos de a) al g) se realizan mejor con un simulador pulsado o no continuo
que con un simulador continuo, o con iluminación solar natural. Al determinar el tamaño y la ubicación
del área sombreada, el uso de una fuente de luz no continua minimiza el potencial de daño al módulo
antes de la exposición prolongada en los pasos descritos en los puntos i), j), k).

a) Con un simulador pulsado o no continuo y con la temperatura del módulo cercana a la


temperatura ambiente (25 ± 5) °C, se expone el módulo sin sombrear a una irradiancia total entre
800 W/m2 y 1 000 W/m2. Opcionalmente, se puede utilizar un simulador continuo o luz solar,
siempre que la temperatura del módulo esté estabilizada en ±5 °C antes de comenzar las
mediciones. Cuando se logra la estabilización térmica, se mide la característica I-V del módulo y se
determina el intervalo de corriente de máxima potencia (Imín. < I < Imáx.) donde P > 0,99 . (La
potencia del módulo medida después del preacondicionamiento).

b) Se cortocircuita el módulo y se monitoriza la corriente de cortocircuito.

c) Empezando por el borde del módulo, se utiliza una cubierta opaca para sombrear completamente
una célula. Se mueve la cubierta en paralelo a la disposición de las células y se va aumentando el
área sombreada del módulo (número de células sombreadas) hasta que la corriente de
cortocircuito caiga dentro del intervalo de corriente de máxima potencia del módulo no
sombreado. En esas condiciones, se disipa la potencia máxima dentro del grupo seleccionado de
células (véase la figura 6).

d) Se mueve lentamente a través del módulo una cubierta opaca (de las dimensiones encontradas en
el punto c) y se monitoriza la corriente de cortocircuito del módulo. Si en una posición
determinada la corriente de cortocircuito cae fuera del intervalo de corriente de potencia máxima
del módulo sin sombrear, se reduce el tamaño de la cubierta en pequeños incrementos hasta que
se alcance de nuevo el valor de la corriente de máxima potencia. Durante este proceso, la
irradiancia no debe cambiar en más de ±2%.

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e) La anchura final de la cubierta la determina el área mínima de sombreado que resulta en la peor
condición de sombreado. Esta es el área sombreada que debe usarse para el ensayo de punto
caliente.

f) Se retira la cubierta y se inspecciona visualmente el módulo.

NOTA El funcionamiento de las células en los pasos c y d) en polarización inversa puede causar la ruptura de la unión y
conducir a manchas visibles irregularmente esparcidas por la superficie del módulo. Estos defectos pueden
causar una degradación en la potencia máxima de salida.

g) Se vuelve a medir la característica I-V del módulo y se determina la potencia máxima Pmáx.2.

h) Se coloca la cubierta en el área del módulo y se cortocircuita.

i) Se expone el módulo a la fuente radiante continua a una irradiancia de (1 000 ± 100) W/m2 Esto
se puede hacer usando:

• Un simulador continuo. La temperatura del módulo debe estabilizarse dentro de ±5 °C antes de


comenzar las mediciones.

• Luz solar. La temperatura del módulo debe estabilizarse dentro de ±5 °C antes de comenzar las
mediciones.

Este ensayo se debe realizar a una temperatura de módulo en el intervalo (50 ± 10) °C. Se anota el
valor de Isc y se mantiene el módulo en la condición de máxima disipación de potencia. Si fuera
necesario, se reajusta la sombra para mantener la Isc en el nivel determinado en el punto a).

j) Se mantienen estas condiciones para un tiempo total de exposición de 1 h.

k) Al final del ensayo de resistencia, se determina el área más caliente en las células sombreadas,
mediante una cámara IR o un detector apropiado de temperatura.

4.9.5.3.3 Caso SP
La figura 3 ilustra una disposición serie-paralelo, es decir, una conexión en paralelo de P cadenas, cada
una de ellas con S células en serie.

Si los diodos de paso son extraíbles, las células con fugas de corriente locales pueden identificarse
mediante la polarización inversa de la cadena de la célula y con ayuda de una cámara IR para detectar
los puntos calientes. Si el circuito del módulo es accesible, el flujo de corriente a través de la célula
sombreada puede monitorizarse directamente. Sin embargo, hoy en día muchos módulos fotovoltaicos
no tienen diodos extraíbles ni circuitos eléctricos accesibles. Por lo tanto, se necesita un método no
intrusivo que se pueda utilizar en esos módulos.

El método se basa en tomar un conjunto de curvas I-V para un módulo con cada una de sus células
sombreadas de una en una. La figura 7 muestra el conjunto resultante de curvas I-V para un una
muestra de un módulo. Se considera la curva con la corriente de fugas más alta en el punto donde el
diodo se activa tras sombrear la célula con la resistencia paralelo más baja. Se considera la curva con la
corriente de fugas más baja en el punto donde el diodo se activa tras sombrear la célula con la
resistencia paralelo más alta.

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NOTA 1 El número de células sombreadas dependerá de la tecnología de célula, del rendimiento y del número de células en
serie (aquí el módulo contiene ~ 200 células con 2 diodos de paso).

NOTA 2 Las oscilaciones en las curvas "4 células" y "6 células" son resultado de manchas diminutas que se han creado en el
módulo. Este fenómeno dependerá también de la tecnología de célula.

Figura 7 – Características I-V del módulo con diferentes células sombreadas totalmente.
El diseño del módulo incluye diodos de paso

4.9.5.3.4 Caso SP con circuito de célula y protección interna contra polarización inversa
inaccesibles
Si un módulo del tipo serie-paralelo (Caso SP) tiene inaccesibles los circuitos de las células y los diodos
de paso internos o no puede anularse cualquier medio equivalente de protección contra polarización
inversa, debe usarse el siguiente método para seleccionar la(s) célula(s) a sombrear y para determinar
la peor condición de sombreado.

a) Se expone el módulo sin sombrear a la fuente de radiación, a una irradiancia entre 800 W/m2 y
1 000 W/m2. Esto se puede hacer usando:

• Un simulador pulsado. La temperatura del módulo será próxima a la temperatura ambiente


(25 ± 5) °C.

• Un simulador continuo. La temperatura del módulo debe estabilizarse dentro de ±5 °C antes de


comenzar las mediciones.

• Luz solar. La temperatura del módulo debe estabilizarse dentro de ±5 °C antes de comenzar las
mediciones.

Después de lograr la estabilización térmica, se mide la característica I-V del módulo y se


determina la intensidad de corriente en el punto de máxima potencia, o corriente de máxima
potencia, IMP1 y la potencia máxima Pmáx.1.

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b) Se sombrean las células completamente de una en una, se mide la curva I-V resultante en cada
caso y se prepara un conjunto de curvas como los de la figura 7.

Para el caso SP, la deformación de la curva I-V del módulo se agrega a la curva I-V parcial de la
sección paralela totalmente iluminada, y por lo tanto no inicia en Voc.

c) Se selecciona la célula adyacente al borde que tiene la resistencia paralelo más baja, la que tiene la
mayor corriente de fuga.

d) Se seleccionan las dos células que tienen las resistencias paralelo más bajas (adicionalmente a la
célula del punto c), las que tienen las mayores corrientes de fuga.

e) Se selecciona la célula con la resistencia paralelo más alta.

f) Para cada una de las células seleccionadas, se determina la peor condición de sombreado por uno
de los siguientes métodos:

• Se toma un conjunto de curvas I-V con cada una de las células de ensayo sombreadas en
distintos grados, como se muestra en la figura 8. Se determina el peor caso de sombreado, que
ocurre cuando la corriente a través de la célula sombreada (el punto donde el diodo de paso se
activa) coincide con la IMP1 original sin sombrear determinada en el punto a), como sucede en la
curva c) de la figura 5.

• Se expone el módulo sin sombrear a la fuente de radiación, a una irradiancia entre 800 W/m2 y
1 000 W/m2. Se sombrean al 100%, y de una en una, cada una de las células de ensayo
seleccionadas y se mide la temperatura de la célula con la cámara IR. Se disminuye el
sombreado en un 10%. Si la temperatura disminuye, el sombreado del 100% produce el peor
caso. Si la temperatura aumenta o permanece igual, continúe disminuyendo el sombreado en
un 10% cada vez, hasta que la temperatura disminuya. Entonces se utiliza el nivel de
sombreado anterior como la peor condición de sombreado.

g) Se considera la célula seleccionada en el punto c). Se utiliza la cámara IR para determinar el punto
más caliente en la célula al sombrearla al 100 %. Se sombrea la célula en la peor condición según
se determina en el punto f). Se cortocircuita el módulo. Si es posible, se asegura que este punto
más caliente está dentro del área iluminada.

h) Se expone el módulo a (1 000 ± 100) W/m2. Este ensayo debe realizarse a una temperatura del
módulo en el intervalo de (50 ± 10) °C.

i) Se mantiene esta condición durante un tiempo de exposición de 1 h.

j) Al final del periodo, se determina el área más caliente de la célula sombreada, usando una cámara
IR o un detector apropiado de temperatura.

k) Se repiten los pasos de los puntos f) al j) para las otras 2 células seleccionadas en el punto d).

l) Se selecciona la célula del paso e). Se sombrea la célula en la condición del peor caso, como se
determina en el punto f). Se cortocircuita el módulo.

m) Se expone el módulo de nuevo a (1 000 ± 100) W/m2. Este ensayo debe realizarse a una
temperatura del módulo en el intervalo de (50 ± 10) °C.

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n) Se mantiene esta condición durante un tiempo de exposición de 1 h y se monitoriza la


temperatura de la célula sombreada. Si la temperatura de la célula sombreada sigue aumentando
al final del periodo de 1 h, se continúa hasta un tiempo total de exposición de 5 h.

o) Al final del periodo, se determina el área más caliente de la célula sombreada, usando cuna
cámara IR o un detector apropiado de temperatura.

Figura 8 – Características I-V del módulo con la célula de ensayo sombreada en distintos grados
con un módulo de diseño que incluye diodos de paso

4.9.5.3.5 Caso SP con circuito de células inaccesible y sin protección contra polarización
inversa
Si un módulo del tipo serie-paralelo (Caso SP) tiene inaccesibles los circuitos de las células, pero no
contiene diodos de paso internos ni medios equivalentes de protección contra polarización inversa, se
debe usar el siguiente método para seleccionar las células a sombrear y para determinar la peor
condición de sombreado.

Los pasos descritos en los puntos del a) al i) se realizan mejor utilizando un simulador pulsado o no
continuo que con un simulador continuo o con iluminación solar natural. Al determinar el tamaño y la
ubicación del área sombreada, el uso de una fuente de luz no continua minimiza el potencial de daño al
módulo antes de la exposición prolongada en los pasos descritos en los puntos j, k), l).

a) Se utiliza un simulador pulsado. La temperatura del módulo será próxima a la temperatura


ambiente (25 ± 5) °C. Se expone el módulo sin sombrear a la fuente de radiación, a una irradiancia
entre 800 W/m2 y 1 000 W/m2. Opcionalmente, se puede utilizar un simulador continuo o luz
solar, siempre que la temperatura del módulo esté estabilizada en ±5 °C antes de comenzar las
mediciones.

b) Cuando se logra la estabilización térmica, se mide la característica I-V del módulo y se determina
el intervalo de corriente máxima de la energía (Imín. < I < Imáx.) donde P > 0,99 · Pmáx.1.

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c) Se calcula el intervalo de valores de corriente de potencia máxima a aplicar I (*) de acuerdo con la
siguiente fórmula:

Imín. / p + Isc · (p – 1) / p < I (*) < Imáx. / p + Isc · (p – 1) / p

donde

p es el número de ramas en paralelo que tiene el módulo.

d) Se cortocircuita el módulo y se monitoriza la corriente de cortocircuito.

e) Empezando por el borde del módulo, se utiliza una cubierta opaca para sombrear completamente
una célula. Se mueve la cubierta en paralelo a la disposición de las células y se va aumentando el
área sombreada del módulo (número de células sombreadas) hasta que la corriente de
cortocircuito caiga dentro del intervalo de corriente de máxima potencia I (*) del módulo no
sombreado. En esas condiciones, se disipa la potencia máxima dentro del grupo seleccionado de
células.

f) Se corta la cubierta opaca al tamaño que se ha determinado experimentalmente.

g) Se mueve la cubierta opaca lentamente a través del módulo mientras se monitoriza la corriente de
cortocircuito del módulo. Si en una posición determinada la corriente de cortocircuito cae fuera
del intervalo de corriente de potencia máxima I (*) del módulo sin sombrear, se corta el tamaño
de la cubierta en pequeños incrementos de una célula hasta que se alcance de nuevo el valor de la
corriente de máxima potencia. Durante este proceso, la irradiancia no debe cambiar en más de
±2%.

h) Se vuelve a medir la característica I-V del módulo y se determina la potencia máxima Pmáx.2.

i) Se coloca la cubierta en el área candidata del módulo y se cortocircuita.

j) Se expone el módulo a la fuente radiante continua a una irradiancia de (1 000 ± 100) W/m². Esto
se puede hacer usando:

• Un simulador continuo. La temperatura del módulo debe estabilizarse dentro de ±5 °C antes de


comenzar las mediciones.

• Luz solar. La temperatura del módulo debe estabilizarse dentro de ±5 °C antes de comenzar las
mediciones.

Este ensayo se debe realizar a una temperatura de módulo en el intervalo (50 ± 10) °C.

k) Se monitoriza el valor de Isc y se mantiene al módulo en la condición de máxima disipación de


potencia, asegurando que la Isc esté en el intervalo I (*) determinado en el punto c). Si fuera
necesario, se reajusta la sombra para mantener la Isc dentro de este intervalo I (*).

l) Se mantienen estas condiciones para un tiempo total de exposición de 1 h.

m) Al final del ensayo, se determina el área más caliente en las células sombreadas mediante una
cámara IR o un detector apropiado de temperatura.

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4.9.5.3.6 Caso PS
a) Se expone el módulo sin sombrear a la fuente de radiación, a una irradiancia entre 800 W/m2 y
1 000 W/m2. Esto se puede hacer usando:

• Un simulador pulsado. La temperatura del módulo estará próxima a la temperatura ambiente


(25 ± 5) °C.

• Un simulador continuo. La temperatura del módulo debe estabilizarse dentro de ±5 °C antes


de comenzar las mediciones.

• Luz solar. La temperatura del módulo debe estabilizarse dentro de ±5 °C antes de comenzar
las mediciones.

Después de lograr la estabilización térmica, se mide la característica I-V del módulo y se


determina la potencia máxima Pmáx.1.

b) Se expone el módulo a una fuente de radiación que suministre una irradiancia total de
(1 000 ± 100) W/m2 a la superficie del módulo.

c) Se cortocircuita el módulo y se sombrea aleatoriamente al menos el 10% de los bloques paralelos


en el módulo, se sombrea un área del bloque en aumento hasta que se alcance la temperatura
máxima, medida con la cámara IR u otro medio apropiado.

d) Se vuelve a medir la característica I-V del módulo sin sombrear y se determina la potencia máxima
Pmáx.2.

e) Se aplica la sombra determinada en el paso c) y se mantienen estas condiciones durante un


tiempo de exposición total de 1 h.

Al final del ensayo de resistencia, se determina el área más caliente en las células sombreadas usando
una cámara IR o un detector apropiado de temperatura.

4.9.6 Mediciones finales


Se repiten los ensayos MQT 01, MQT 02, MQT 03 y MQT 15.

4.9.7 Requisitos
a) No se permiten evidencias de defectos visuales importantes, tal como se definen en la Norma
IEC 61215-1, en particular señales de soldadura fundida, aberturas en la carcasa, delaminaciones
y marcas de quemaduras. Si hay evidencia de daños serios pero no calificables como defectos
visuales importantes, se repite el ensayo en 2 células adicionales. Si no hay daño visual alrededor
de ninguna de estas dos células, el tipo de módulo pasa el ensayo de resistencia al efecto de punto
caliente

b) Se comprueba que el módulo muestra las características eléctricas de un dispositivo fotovoltaico


funcional. El ensayo MQT 02 no constituye una exigencia de aceptación/rechazo (Puerta) de la
pérdida de potencia.

c) La resistencia de aislamiento debe cumplir los mismos requisitos que en las mediciones iniciales.

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d) La corriente de fuga en medio húmedo debe cumplir los mismos requisitos que en las mediciones
iniciales.

e) En el informe de ensayo se indicará cualquier daño resultante de la determinación del peor caso
de sombreado.

4.10 Ensayo de preacondicionamiento con UV (MQT 10)

4.10.1 Objeto
Preacondicionar el módulo con radiación ultravioleta (UV) antes de los ensayos de ciclos térmicos/
humedad-congelación para identificar aquellos materiales y adhesivos que son susceptibles de
degradación por UV.

4.10.2 Aparatos
a) Una cámara de ensayos con control de temperatura con una ventana o accesorios para una fuente
de luz UV y el/los módulo(s) bajo ensayo. La cámara debe ser capaz de mantener la temperatura
del módulo a (60 ± 5) °C.

b) Un medio para controlar la temperatura del módulo con una precisión de ±2,0 °C y una
repetibilidad de ±5 °C. Los sensores de temperatura deben estar fijados a la parte frontal o
posterior del módulo, cerca del centro, sin obstruir la luz UV incidente en las células activas del
módulo. Si se ensaya más de un módulo simultáneamente, será suficiente registrar la temperatura
de una muestra significativa.

c) Instrumentación capaz de medir la irradiación de la luz UV producida por la fuente de luz UV en el


plano de ensayo del(de los) módulo(s), dentro de los intervalos de longitud de onda de 280 nm a
320 nm y de 320 nm a 400 nm, con una incertidumbre de ±15% o mejor.

d) Una fuente de luz UV capaz de producir radiación UV con una uniformidad de irradiancia de ±15%
sobre el plano de ensayo del(de los) módulo(s) sin irradiancia apreciable a longitudes de onda
inferiores a 280 nm y capaz de suministrar la irradiación necesaria en las diferentes regiones de
interés definidas en el apartado 4.10.3.

e) En el caso de fuentes luminosas con un contenido espectral despreciable en el intervalo visible, el


módulo debe permanecer en cortocircuito. Alternativamente, el módulo puede conectarse a una
carga de valor tal que haga que el módulo funcione cerca del punto de máxima potencia. Esto se
recomienda para fuentes luminosas que emitan una fracción significativa de luz visible, con las
que el módulo exhibe una potencia igual o superior al 20% de su potencia medida en CEM.

4.10.3 Procedimiento
a) Mediante el radiómetro calibrado se mide la irradiancia en el plano de ensayo del módulo y se
verifica que a longitudes de onda entre 280 nm y 400 nm no excede 250 W/m2 (es decir, en torno
a cinco veces el nivel en la luz solar natural) y que tiene una uniformidad de ±15% sobre el plano
de ensayo.

b) Dependiendo del aparato utilizado según se define en el punto 4.10.2 e), se cortocircuita el
módulo o se le conecta a una carga resistiva, y se monta en el plano de ensayo en la posición
seleccionada en el punto a), normal al haz de radiación UV. Se verifica que la temperatura del
módulo es de (60 ± 5) °C.

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c) Se expone(n) el(los) módulo(s) a una irradiación UV total de 15 kWh/m² en el intervalo de


longitudes de onda entre 280 nm y 400 nm, con al menos un 3%, pero no más de un 10%, en el
intervalo de longitudes de onda entre 280 nm y 320 nm, mientras se mantiene la temperatura del
módulo dentro del intervalo prescrito.

4.10.4 Mediciones finales


Se repiten los ensayos de los apartados MQT 01 y MQT 15.

4.10.5 Requisitos
a) Ninguna evidencia de defectos visuales importantes, según se define en la Norma IEC 61215-1.

b) La corriente de fuga en medio húmedo debe cumplir los mismos requisitos que en las mediciones
iniciales.

4.11 Ensayo de ciclos térmicos (MQT 11)

4.11.1 Objeto
Determinar la capacidad del módulo a resistir desequilibrios térmicos, fatigas u otras tensiones
causados por repetidos cambios de temperatura.

4.11.2 Aparatos
a) Cámara climática con control automático de temperatura con los medios para hacer circular el
aire en su interior, y los medios para minimizar la condensación sobre el módulo durante el
ensayo, capaz de someter a uno o más módulos al ciclo térmico de la figura 9.

b) Medios para el montaje o la sujeción del(de los) módulo(s) en la cámara que permitan la libre
circulación del aire circundante. Su conducción térmica debe ser baja, de forma que, a efectos
prácticos, el(los) módulo(s) esté(n) aislado(s) térmicamente.

c) Instrumentación de medición con una precisión de ±2,0 °C y una repetibilidad de ±0,5 °C para
medir y registrar la temperatura del (de los) módulo(s).

d) Medios para aplicar una intensidad de corriente continua. El valor de la intensidad está definida
en las partes específicas para cada tecnología de esta norma.

e) Medios para monitorizar el flujo de la corriente a través de cada módulo durante el ensayo.

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Figura 9 – Ensayo de ciclos térmicos – Perfil de temperaturas y corriente aplicada

4.11.3 Procedimiento
a) Se sitúa un sensor de temperatura adecuado sobre la cara frontal o posterior del módulo, cerca
del centro. Si se ensaya más de un módulo simultáneamente, será suficiente registrar la
temperatura de una muestra significativa.

b) Se instala(n) el(los) módulo(s) a temperatura ambiente en la cámara.

c) Se conecta el equipo de monitorización de la temperatura al(a los) sensor(es). Se conecta cada


módulo con la fuente de corriente correspondiente, conectando el terminal positivo del módulo al
terminal positivo de la fuente, y el segundo terminal en consecuencia. Durante el ensayo de ciclos
térmicos, se fija la corriente durante el periodo de calentamiento al valor de intensidad
especificado según la tecnología en el apartado 4.11.2, para temperatura entre -40 °C a 80 °C.
Durante el enfriamiento, la fase de permanencia de -40 °C y las temperaturas por encima de 80 °C,
la corriente continua se reducirá a no más del 1,0% de la corriente de máxima potencia en CEM
para medir la continuidad. Si la temperatura sube demasiado rápido (a más de 100 °C/h) desde la
temperatura más baja, se puede retrasar el arranque del flujo de corriente hasta alcanzar la
temperatura de -20 °C.

d) Se cierra la cámara y se somete(n) el(los) módulo(s) al ciclado de temperaturas de módulo entre


(-40 ± 2) °C y (+85 ± 2) °C, de acuerdo con el perfil de la figura 9. El ritmo de variación de la
temperatura entre los extremos bajo y alto no debe exceder 100 °C/h y la temperatura del módulo
debe mantenerse estable en cada extremo durante un período de al menos 10 min. La duración
del ciclo no debe exceder 6 h, a menos que el módulo tenga una capacidad de calor tan alta que se
requiera un ciclo más largo. El número de ciclos será el indicado en las secuencias
correspondientes de la figura 1 de la Norma IEC 61215-1:2016. La circulación de aire alrededor
del(de los) módulo(s) tiene que asegurar que cada módulo experimenta el ciclo de temperaturas
indicado en el perfil.

e) Durante el ensayo, se registra la temperatura del módulo y se monitoriza el flujo de corriente a


través del(de los) módulo(s).

NOTA En un módulo con circuitos en paralelo, un circuito abierto en una rama provocará una discontinuidad en la tensión,
pero no hará que llegue a cero.

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- 37 - IEC 61215-2 © IEC 2016

4.11.4 Mediciones finales


Después de un tiempo de recuperación de 1 h a temperatura de (23 ± 5) °C y con una humedad relativa
inferior al 75%, en condiciones de cortocircuito, se repiten los ensayos MQT 01 y MQT 15.

4.11.5 Requisitos
a) No debe producirse interrupción de la corriente durante el ensayo; en el caso de un módulo con
circuitos paralelos, una discontinuidad en el flujo de corriente indica una interrupción del flujo en
uno de los circuitos paralelos.

b) No debe haber evidencia de defectos visuales importantes, según se definen en la Norma


IEC 61215-1.

c) La corriente de fuga en medio húmedo debe cumplir los mismos requisitos que en las mediciones
iniciales.

4.12 Ensayo de humedad-congelación (MQT 12)

4.12.1 Objeto
El objeto de este ensayo es determinar la capacidad del módulo a resistir los efectos de altas
temperaturas y humedad seguidas de temperaturas bajo cero. Este ensayo no es de choque térmico.

4.12.2 Aparatos
a) Cámara climática con control automático de temperatura y humedad, capaz de someter uno o más
módulos al ciclo de humedad-congelación especificado en la figura 10.

b) Medios para montar o sujetar el(los) módulo(s) en la cámara, de forma que se permita la libre
circulación del aire circundante. La conducción térmica del montaje o sujeción debe ser baja, de
forma que, a efectos prácticos, el(los) módulo(s) esté(n) aislado(s) térmicamente.

c) Instrumentación para medir y registrar la temperatura del (de los) módulo(s) con una precisión
de ±2,0 °C y una repetibilidad de ±0,5 °C.

d) Medios para monitorizar la continuidad del circuito interno de cada módulo durante todo el
ensayo.

4.12.3 Procedimiento
a) Se sitúa un sensor de temperatura adecuado sobre la cara frontal o posterior del módulo, cerca
del centro. Si se ensaya más de un módulo simultáneamente, será suficiente registrar la
temperatura de una muestra significativa.

b) Se instala el(los) módulo(s) a temperatura ambiente en la cámara climática.

c) Se conecta el equipo de monitorización de la temperatura al(a los) sensor(es). Se conecta cada


módulo con la fuente de corriente correspondiente, conectando el terminal positivo del módulo al
terminal positivo de la fuente, y el segundo terminal en consecuencia. Durante el ensayo de
humedad-congelación se fija la intensidad de corriente continua a no más del 0,5% de la corriente
de potencia máxima medida en CEM.

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d) Después de cerrar la cámara, se somete el (los) módulo (s) al número de ciclos definido en la
secuencia C de la figura 1 de la Norma IEC 61215-1:2016, de acuerdo con el perfil de la figura 10.
Las temperaturas máxima y mínima deben permanecer dentro de ±2 °C de los niveles
especificados y la humedad relativa dentro de ±5 % del valor especificado cuando la temperatura
alcanza su valor máximo de 85 °C. La circulación de aire alrededor del (de los) módulo (s) tiene
que asegurar que cada módulo experimenta el ciclo de temperaturas indicado en el perfil.

e) Durante todo el ensayo se registra la temperatura del módulo y se monitoriza la corriente y la


tensión a través del módulo.

4.12.4 Mediciones finales


Después de un tiempo de recuperación de entre 2 h y 4 h, a temperatura de (23 ± 5) °C, una humedad
relativa inferior al 75%, y en condiciones de cortocircuito, se repiten los ensayos MQT 01 y MQT 15.

4.12.5 Requisitos
a) No debe producirse interrupción de la corriente o discontinuidad en la tensión durante el ensayo;
en el caso de un módulo con circuitos paralelos, una discontinuidad en el flujo de corriente indica
una interrupción del flujo en uno de los circuitos paralelos.

b) No debe haber evidencia de defectos visuales importantes, según se definen en la Norma


IEC 61215-1.

c) La corriente de fuga en medio húmedo debe cumplir los mismos requisitos que en las mediciones
iniciales.

Figura 10 – Ciclo de humedad-congelación – Perfil de temperatura y humedad

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- 39 - IEC 61215-2 © IEC 2016

4.13 Ensayo de calor húmedo (MQT 13)

4.13.1 Objeto
Determinar la capacidad del módulo a resistir los efectos a largo plazo de la penetración de humedad.

4.13.2 Procedimiento
En ensayo debe realizarse de acuerdo con la Norma IEC 60068-2-78 con las condiciones siguientes:
Severidades:
Son aplicables las siguientes severidades:
Temperatura de ensayo: 85 °C ± 2 °C
Humedad relativa: 85% ± 5%

Duración del ensayo: 1 000  h 48


0

4.13.3 Mediciones finales


Después de un tiempo de recuperación de entre 2 h y 4 h a (23 ± 5) °C y una humedad relativa inferior
al 75% en condiciones de circuito abierto, se repite el ensayo MQT 01 y MQT 15.

4.13.4 Requisitos
a) No debe haber evidencia de defectos visuales importantes, según se definen en la Norma
IEC 61215-1.

b) El ensayo de corriente de fugas del módulo mojado debe cumplir los mismos requisitos que en las
mediciones iniciales.

4.14 Ensayo de robustez de los terminales (MQT 14)

4.14.1 Objeto
Determinar que los terminales, la fijación de los terminales, y las fijaciones de los cables al cuerpo del
módulo resisten tensiones mecánicas como las que se pueden producir en el montaje o la
manipulación normales de los módulos. El ensayo del apartado 4.14.2 (MQT 14,1) y el del apartado en
4.14.3 (MQT 14.2) deben realizarse en la Secuencia C después del ensayo MQT 12, según se indica en el
diagrama de ensayos de la Norma IEC 61215-1.

4.14.2 Fijación de la caja de montaje superficial (MQT 14,1)

4.14.2.1 Aparatos
Medios para la aplicación de una fuerza de 40 N en el centro del objeto de ensayo. Hay que evitar que
se apliquen pares a la caja de conexiones.

Se debe asegurar que aplicar la fuerza a la caja de conexiones no menoscabará sus funciones.

4.14.2.2 Procedimiento
El ensayo debe realizarse entre 2 h y 4 h después de completar el ensayo MQT 12.

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Se debe aplicar gradualmente una fuerza de 40 N durante (10 ± 1) s (de acuerdo con la Norma
IEC 60068-2-21) en cada dirección paralela a la superficie de montaje paralela a los bordes del
módulo, en pasos de 90°.

Se debe aplicar gradualmente una fuerza de 40 N durante (10 ± 1) s sin tirones, en una dirección
perpendicular a la superficie de montaje.

La fuerza de tracción debe aplicarse en el punto central de la caja.

4.14.2.3 Mediciones finales


Se repiten los ensayos MQT 01 y MQT 15.

4.14.2.4 Requisitos
Durante el ensayo no debe haber desplazamiento de la caja de conexiones en la superficie de montaje
que perjudique las características de aislamiento.

a) No debe haber evidencia de defectos visuales importantes, según se definen en la Norma


IEC 61215-1.

b) El ensayo de corriente de fugas en medio húmedo debe cumplir los mismos requisitos que en las
mediciones iniciales.

4.14.3 Ensayo de anclaje de los cables (MQT 14.2)

4.14.3.1 Generalidades
Este ensayo puede omitirse si la caja de conexiones ha sido cualificada según la Norma IEC 62790.

4.14.3.2 Procedimiento y aparatos

4.14.3.2.1 Cajas de conexiones para los cables especificados por el fabricante


Para las cajas de conexiones diseñadas para usarse con los cables especificados por el fabricante, los
ensayos deben realizarse los con cables suministrados por el fabricante.

a) Ensayo de tracción

Debe marcarse el cable sin carga para que cualquier desplazamiento en relación con el prensaestopas
pueda detectarse fácilmente.

Se tira del cable durante 1 s, 50 veces, sin tirones en la dirección del eje con la fuerza correspondiente
que se especifica en la tabla 1. Véase la figura 11.

Al final del ensayo de tracción, se retira la fuerza del mandril de ensayo. A continuación, se mide el
desplazamiento del cable a la salida de la caja de conexiones.

b) Ensayo de torsión

Después del ensayo de tracción, debe montarse la muestra de ensayo en el aparato de ensayos de
torsión. Véase la figura 12.

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Debe marcarse el cable sin carga para que cualquier torsión en relación con el prensaestopas pueda
detectarse fácilmente y, a continuación, se debe aplicar un par de torsión según se especifica en la
tabla 2, durante 1 min.

Durante el ensayo, el giro o torsión del cable en el prensaestopas o en cualquier otro anclaje del cable,
no debe exceder 45°. El cable debe estar sujeto en su posición por el anclaje del cable.

Tabla 1 – Fuerzas de tracción para el ensayo de anclaje de los cables

Diámetro del cable


Espesor mínimo de la vaina del
Con aislamiento si Fuerza de tracción
mandril
procede
mm N mm
<4 30 1a
>4a8 30 1
> 8 a 11 42 2
> 11 a 16 55 2
> 16 a 23 70 2
> 23 a 31 80 2
> 31 a 43 90 2
> 43 a 55 100 2
> 55 115 2
a Para diámetros de cable de hasta 4 mm, puede utilizarse un mandril no metálico adecuado.

Tabla 2 – Valores para el ensayo de torsión

Diámetro del cable


Espesor mínimo de la vaina del
Con aislamiento si Par de torsión
mandril
procede
mm Nm mm
<4 0,10 1
>4a8 0,10 1
> 8 a 11 0,15 2
> 11 a 16 0,35 2
> 16 a 23 0,60 2
> 23 a 31 0,80 2
> 31 a 43 0,90 2
> 43 a 55 1,00 2
> 55 1,20 2

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a)

b)

Figura 11 – a) Disposición típica para el ensayo de tracción del anclaje de los cables para
ensayo de componentes de la Norma IEC 62790. b) Disposición típica esquemática para el
ensayo de tracción del anclaje de los cables en la caja de conexión montada en el módulo FV

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Si el ensayo se realiza con el cable del fabricante, el dispositivo para asegurar el cable debe estar tan cerca como sea posible
de la placa de sujeción del cable a la caja de conexión.

Figura 12 – Disposición típica para el ensayo de torsión

4.14.3.2.2 Cajas de conexiones para usarse con cables genéricos


Debe fijarse a la muestra un mandril de ensayos equivalente al valor mínimo del intervalo de agarre
del prensaestopas del cable, según se especifique por el fabricante o proveedor, con un espesor de
vaina como se especifica en la tabla 1.

Debe marcarse el mandril de ensayo sin carga para que cualquier desplazamiento en relación con el
prensaestopas pueda detectarse fácilmente.

Se tira del mandril de ensayo durante 1 s, 50 veces, sin tirones, en la dirección del eje, con la fuerza
correspondiente que se especifica en la tabla 1. Véase la figura 11.

Al final del ensayo de tracción, retire la fuerza del mandril de ensayo. A continuación, se mide el
desplazamiento del cable a la salida de la caja de conexiones.

A menos que se especifique lo contrario, los mandriles de ensayo deben estar constituidos por una
varilla metálica con una vaina elastómera con una dureza de 70 Shore D ± 10, según la Norma ISO 868,
y el espesor especificado en la tabla 1 o la tabla 2. El mandril de ensayo completo debe tener una
tolerancia de ±0,2 mm para mandriles de hasta 16 mm de diámetro, y de ±0,3 mm para mandriles con
diámetros superiores a 16 mm. La forma debe ser circular o tener un perfil que simule la dimensión
exterior del cable según lo especificado por el fabricante o proveedor.

Después del ensayo de tracción, debe montarse la muestra de ensayo en el aparato de ensayos de
torsión. Véase la figura 12.

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Debe marcarse el cable sin carga para que cualquier torsión en relación con el prensaestopas pueda
detectarse fácilmente y, a continuación, se debe aplicar un torque según se especifica en la tabla 2,
durante 1 min.

Durante el ensayo, el giro o torsión del cable en el prensaestopas o en cualquier otro anclaje del cable,
no debe exceder 45°. El cable mantenerse sujeto en su posición por el anclaje del cable.

El ensayo de torsión se debe realizar con un mandril de ensayo equivalente al valor máximo del
intervalo de anclaje del prensaestopas del cable, según especifica el fabricante o proveedor, con un par
de torsión para el diámetro de cable máximo apropiado como se especifica en la tabla 2.

4.14.3.3 Mediciones finales


Se repiten los ensayos MQT 01, MQT 03 y MQT 15.

4.14.3.4 Requisitos
a) No existen evidencias de defectos visuales importantes, tal como se definen en la norma
IEC 61215-1.

b) La resistencia de aislamiento debe cumplir los mismos requisitos que en las mediciones iniciales.

c) La corriente de fuga en medio húmedo debe cumplir los mismos requisitos que en las mediciones
iniciales.

d) El desplazamiento del cable a la salida de la caja de conexiones no debe exceder 2 mm.

4.15 Ensayo de corriente de fugas en medio húmedo (MQT15)

4.15.1 Objeto
Evaluar el aislamiento del módulo en operación estando mojado y verificar que la humedad de la
lluvia, niebla, rocío o nieve derretida no entra en las partes activas del circuito del módulo, donde
podría causar corrosión, una derivación a masa o un riesgo para la seguridad.

4.15.2 Aparatos
a) Cubeta poco profunda o tanque del tamaño suficiente que permita colocar el módulo con marco
dentro de la solución, en posición plana y horizontal. Debe contener agua, o una solución acuosa
de agente humectante, suficiente para mojar las superficies del módulo bajo ensayo y cumplir los
requerimientos siguientes:

Resistividad: 3 500 /cm o inferior

Temperatura de la solución: (22 ± 2) °C

La profundidad de la solución debe ser suficiente para cubrir todas las superficies, a excepción de las
entradas de las cajas de conexiones no diseñadas para ser sumergidas.

b) Equipo de pulverización conteniendo la misma solución, si la caja de conexiones no se va a


sumergir.

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c) Fuente de tensión a corriente continua con limitación de corriente, capaz de aplicar 500 V o la
tensión máxima del sistema asignada para el módulo, la que sea mayor.

d) Instrumento para medición de la resistencia de aislamiento.

4.15.3 Procedimiento
Todas las conexiones deben ser representativas de la instalación real de cableado recomendada y
deben tomarse las precauciones necesarias para asegurar que las corrientes de fuga no provienen del
cableado de la instrumentación fijada al módulo.

a) Se sumerge el módulo en la cubeta con la disolución requerida hasta una profundidad suficiente
para cubrir todas las superficies, excepto las entradas de las cajas de conexión no diseñadas para
ser sumergidas. Si no se sumergen, las entradas de cable de las cajas deben pulverizarse
totalmente con la solución. Si el módulo está provisto de un conector de acoplamiento, éste debe
rociarse durante el ensayo.

b) Se conectan los terminales de salida del módulo en cortocircuito al terminal positivo del equipo de
ensayo. Se conecta la solución líquida de ensayo al terminal negativo del equipo de ensayo,
mediante un conductor metálico apropiado.

Algunas tecnologías de módulo pueden ser sensibles a la polarización estática si el chasis del módulo
se mantiene a una tensión positiva. En ese caso, la conexión del equipo de ensayo se aplicará en el
sentido contrario. Si procede, el fabricante debe suministrar la información relativa a la sensibilidad a
la polarización estática.

c) Se aumenta la tensión aplicada por el equipo de ensayo a un ritmo que no exceda 500 V/s hasta
500 V o la tensión máxima del sistema para el módulo, la que sea más elevada. Se mantiene la
tensión a este valor durante 2 min. A continuación se determina la resistencia de aislamiento.

d) Se reduce la tensión aplicada hasta cero y se cortocircuitan los terminales del equipo de ensayo
para descargar la tensión producida en el módulo.

e) Se asegura que la solución utilizada del módulo esté bien enjuagada antes de continuar con el
ensayo.

4.15.4 Requisitos
– Para módulos con un área inferior a 0,1 m², la resistencia de aislamiento no debe ser inferior a
400 M.

– Para módulos con un área superior a 0,1 m², el producto de la resistencia de aislamiento medida
por el área del módulo no debe ser inferior a 40 M·m².

4.16 Ensayo de carga mecánica estática (MQT 16)

4.16.1 Objeto
El objeto de este ensayo es determinar la capacidad del módulo para soportar una carga estática
mínima.

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Pueden aplicarse exigencias adicionales para algunas instalaciones y climas.

El ensayo MQT 16 verifica las cargas de ensayo mínimas. La determinación de la carga mínima de
diseño posible, por ejemplo, en el ensayo de ruptura de una construcción, no es parte de esta norma.
La carga de diseño mínima dependerá de la construcción, las normas aplicables y la ubicación o el
clima, y podría requerir de mayores tasas de muestreo y de otros factores de seguridad m.

MQT 16 verifica la carga de diseño definido por el fabricante. La carga de ensayo se define como:

Carga de ensayo = m  carga de diseño

donde m es como mínimo  1,5. El mínimo requerido de carga de diseño para esta norma es 1 600 Pa,
lo que supone una carga de ensayo mínima de 2 400 Pa.

El fabricante puede especificar una o más valores de cargas de diseño para cargas positivas (hacia
abajo) y negativas (hacia arriba), así como un valor de m superior para ciertas aplicaciones. La(s)
carga(s) de diseño y el valor m deben especificarse en la documentación del fabricante para cada
método de montaje.

EJEMPLO El fabricante especifica las cargas de diseño siguientes: positiva 3 600 Pa y negativa 2 400 Pa, con
m = 1,5. La secuencia de ensayo contendrá 3 ciclos, cada uno realizado con 5 400 Pa de carga
positiva y 3 600 Pa de carga negativa.

Cada módulo sometido al ensayo 16 MQT debe ensayarse preliminarmente según la secuencia E de la
Norma IEC 61215-1.

NOTA Las cargas no homogéneas de nieve no están cubiertas por este ensayo. Está en desarrollo una norma para este tipo de
cargas (Norma IEC 62938).

4.16.2 Aparatos
a) Un soporte de ensayo rígido que permita montar los módulos boca arriba o boca abajo. El soporte
de ensayo debe permitir que el módulo se desvíe libremente durante la aplicación de la carga,
dentro de las limitaciones del método de montaje indicado por el fabricante.

b) Instrumentación para monitorizar la continuidad eléctrica del módulo durante el ensayo.

c) Pesos apropiados o medios de presión que permitan aplicar la carga de forma gradual y uniforme.

d) Las condiciones ambientales para la realización de los ensayos son (25 ± 5) °C.

NOTA Como la mayoría de adhesivos actuará peor a temperaturas elevadas, la temperatura ambiente se considera la mejor
condición para el ensayo.

4.16.3 Procedimiento
a) Se equipa el módulo de tal forma que la continuidad eléctrica del circuito interno pueda
monitorizarse continuamente durante el ensayo.

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b) Se monta el módulo en una estructura rígida usando el método prescrito por el fabricante,
incluidos los medios de montaje (clips/abrazaderas y cualquier tipo de sujeción) y los raíles del
soporte subyacente. Si hay diferentes posibilidades, cada método de montaje necesita evaluarse
por separado. Para todos los métodos de montaje, se monta el módulo de forma que la distancia
entre los puntos de fijación sea el menos favorable, que típicamente se corresponde con la
máxima distancia. Se espera a que los módulos se equilibren durante al menos 2 h después del
ensayo MQT 13 antes de aplicarles la carga.

c) Se aplica la carga de ensayo sobre la superficie frontal, gradualmente y uniformemente. La


uniformidad de la carga necesita ser mejor de ±5% sobre la superficie del módulo. Se mantiene
esta carga durante 1 h.

NOTA La carga de ensayo puede aplicarse neumáticamente, o por medio de pesos que cubran la totalidad de la
superficie.

d) Se aplica el mismo procedimiento del punto c) sobre la superficie posterior del módulo o
aplicando una carga de elevación en la superficie frontal.

e) Se repiten los pasos c) y d) hasta un total de tres ciclos.

4.16.4 Mediciones finales


Se repiten los ensayos MQT 01 y MQT 15.

4.16.5 Requisitos
a) No debe producirse ningún fallo de circuito abierto intermitente durante el ensayo.

b) No debe haber evidencia de defectos visuales importantes, según se definen en la Norma


IEC 61215-1.

c) La resistencia de aislamiento en medio húmedo debe cumplir los mismos requisitos que en las
mediciones iniciales.

4.17 Ensayo de granizo (MQT 17)

4.17.1 Objeto
Verificar que el módulo es capaz de resistir el impacto del granizo.

4.17.2 Aparatos
a) Moldes de un material adecuado para moldear bolas de hielo del diámetro requerido. El mínimo
exigido es un diámetro de 25 mm. Para lugares propensos al granizo, pueden requerirse bolas de
hielo más grandes para los ensayos que se enumeran en la tabla 3. El informe de ensayos debe
indicar el diámetro de la bola de hielo y qué velocidad se ha utilizado para el ensayo de granizo.

b) Un congelador, controlado a (-10 ± 5) °C.

c) Un recipiente de almacenaje para conservar las bolas de hielo a la temperatura de (-4 ± 2) °C.

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d) Un lanzador capaz de propulsar una bola de hielo a la velocidad especificada, dentro de ±5%, de
forma que golpee el módulo en el lugar de impacto especificado. La trayectoria de la bola de hielo
desde el lanzador hasta el módulo puede ser horizontal, vertical o tener un ángulo intermedio,
siempre que se cumplan las condiciones de ensayo requeridas.

e) Un soporte rígido para sujetar el módulo de ensayo por el método indicado por el fabricante, con
la superficie de impacto perpendicular a la trayectoria de la bola proyectada.

f) Una balanza para determinar la masa de una bola de hielo con una precisión de ±2%.

g) Un instrumento para medir la velocidad de la bola de hielo con una precisión de ±2%. El sensor de
velocidad no debe estar a más de 1 m de la superficie del módulo de ensayo.

Como ejemplo, la figura 13 muestra en forma de esquema un aparato adecuado que comprende un
lanzador neumático horizontal, un soporte vertical de módulo y un medidor de velocidad que mide
electrónicamente el tiempo que tarda la bola de hielo en atravesar la distancia entre dos haces de luz.
Éste es sólo un ejemplo, ya que se han utilizado con éxito otros aparatos incluyendo los lanzadores con
honda y los dispositivos de resorte.

Figura 13 – Equipo para el ensayo de granizo

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Tabla 3 – Masas de las bolas de hielo y velocidades de ensayo

Velocidad de Velocidad de
Diámetro Masa Diámetro Masa
ensayo ensayo
mm g m/s mm g m/s
25 7,53 23,0 55 80,2 33,9
35 20,7 27,2 65 132,0 36,7
45 43,9 30,7 75 203,0 39,5

4.17.3 Procedimiento
a) Utilizando los moldes y el congelador, se hace un número suficiente de bolas de hielo del tamaño
requerido para el ensayo, incluyendo algunas para los ajustes preliminares del lanzador.

b) Se examina cada de ellas revisando fisuras, tamaño y masa. Una bola aceptable debe cumplir los
criterios siguientes:

– no tiene fisuras visibles a simple vista;

– su diámetro está dentro del ±5% del valor requerido;

– su masa está dentro del ±5% del valor nominal apropiado, según la tabla 3.

c) Se sitúan las bolas en el contenedor de almacenaje y se dejan ahí durante al menos 1 h antes de su
uso.

d) Se verifica que todas las superficies del lanzador susceptibles de entrar en contacto con las bolas
de hielo se encuentran próximas a la temperatura ambiente.

e) Se efectúan disparos de prueba a un objetivo simulado, según el punto g) abajo descrito, y se


ajusta el lanzador hasta que la velocidad de la bola de hielo, medida con un sensor de velocidad en
la posición prescrita, esté dentro del ±5% del valor apropiado de la velocidad del ensayo de
granizo de la tabla 4.

f) Se instala el módulo a temperatura ambiente en la estructura de soporte prescrita, con la


superficie de impacto normal a la trayectoria de la bola de hielo.

g) Se toma una bola de hielo del contenedor de almacenaje y se sitúa en el lanzador. Se apunta al
primer punto de impacto especificado en la tabla 4 y se dispara. El tiempo transcurrido entre la
extracción de la bola de hielo del contenedor y el impacto sobre el módulo no debe sobrepasar los
60 s.

h) Se inspecciona el módulo en el área del impacto en busca de signos de daño y se toma nota de
cualquier efecto visible del impacto. Son aceptables errores de hasta 10 mm respecto a la posición
especificada.

i) Si el módulo no ha resultado dañado, se repiten los puntos g) y h) para cada una de las
localizaciones de impacto de la tabla 4, según se ilustra en la figura 14.

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Tabla 4 – Localización de los impactos

Disparo nº Localización
Una esquina de la ventana del módulo, a no más de 1 radio de bola de hielo de distancia del
1
marco del módulo
Un borde del módulo, a no más de 1 radio de bola de hielo de distancia del marco del
2
módulo
Sobre el circuito, cerca de interconexiones (es decir, interconexiones de células y cintas
3,4
conectoras)
5,6 Sobre los bordes del circuito (por ejemplo células individuales)
Sobre la ventana del módulo, a no más de 1 radio de bola de hielo de distancia de uno de los
7,8
puntos en los que se fija el módulo a la estructura de soporte
Sobre la ventana del módulo, en los puntos más alejados de los puntos seleccionados
9,10
anteriormente
Cualquier punto que pueda resultar especialmente vulnerable al impacto de granizo, como
11
sobre la caja de conexiones

4.17.4 Mediciones finales


Se repiten los ensayos MQT 01 y MQT 15.

4.17.5 Requisitos
a) No debe haber evidencia de defectos visuales importantes, según se definen en la Norma
IEC 61215-1.

b) La resistencia de aislamiento en medio húmedo debe cumplir los mismos requisitos que en las
mediciones iniciales.

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Figura 14 –Localización de los puntos de impacto del ensayo de granizo: arriba para
tecnologías basadas en oblea/célula, abajo para tecnologías de lámina delgada procesadas
monolíticamente

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4.18 Ensayo de diodos de paso (MQT 18)

4.18.1 Ensayo térmico de diodos de paso (MQT 18.1)

4.18.1.1 Objeto
Evaluar la adecuación del diseño térmico y la fiabilidad relativa a largo plazo de los diodos de paso,
utilizados para limitar los efectos nocivos de la susceptibilidad del módulo al efecto de punto caliente.

Este ensayo está diseñado para determinar la temperatura característica de diodo y la temperatura de
la unión del diodo TJ máxima bajo condiciones de operación continua.

Si los diodos de paso no están accesibles en el tipo de módulo a ensayar, se puede preparar una
muestra especial para este ensayo. Esta muestra debe estar fabricada para proporcionar el mismo
ambiente térmico al diodo que en un módulo de producción estándar, y no tiene que ser un módulo
fotovoltaico activo. Se debe proceder entonces con el ensayo de forma normal. Esta muestra especial
se utilizará sólo para medir la temperatura del diodo de paso en los puntos del 4.18.1.3 c) al m). Se
debe exponer a 1,25 veces el valor de la corriente de cortocircuito en CEM en un módulo totalmente
funcional que se utilizará para hacer las mediciones finales de 4.18.1.4.

4.18.1.2 Aparatos
a) Los medios para calentar el módulo a una temperatura de (90 ± 5) °C.

b) Los medios para medir y registrar la temperatura del módulo con una precisión de ±2,0 °C y una
repetibilidad de ±0,5 °C.

c) Medios para medir el voltaje de la unión VD de los diodos de paso con una precisión del 2%.

d) Los medios para aplicar una intensidad de corriente igual a 1,25 veces la corriente de
cortocircuito en CEM del módulo bajo ensayo con una anchura de pulso no superior a 1 ms, y los
medios para monitorizar el flujo de corriente a través del módulo durante todo el ensayo.

4.18.1.3 Procedimiento
a) Se anulan eléctricamente todos los diodos de bloqueo incorporados en el módulo.

b) Se determina la intensidad de cortocircuito asignada del módulo en CEM a partir de su etiqueta o


su hoja de instrucciones.

c) Se conecta el hilo conductor para VD e ID en ambos terminales del diodo como se muestra en la
figura 15.

Si los diodos están embebidos, las conexiones se efectuarán por el fabricante del módulo antes de la
entrega del módulo.

Deberá tenerse cuidado de que los hilos no causen disipación de calor de la caja de conexiones ya que
podría llevar a una malinterpretación de los resultados del ensayo.

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Figura 15 – Ensayo térmico de diodo de paso

d) Se calienta el módulo y la caja de conexiones hasta (30 ± 2) °C.

e) Se aplica la corriente pulsada (anchura de pulso de 1 ms) igual a la intensidad de cortocircuito del
módulo medida en CEM y se mide la tensión directa VD1 de diodo.

f) Utilizando el mismo procedimiento, se mide la tensión VD2 a (50 ± 2) °C.

g) Utilizando el mismo procedimiento, se mide la tensión VD3 a (70 ± 2) °C.

h) Utilizando el mismo procedimiento, se mide la tensión VD4 a (90 ± 2) °C.

i) A continuación, se obtiene la característica de VD frente a TJ por una curva de ajuste de mínimos


cuadrados a partir de VD1, VD2, VD3 y VD4.

Se asume que TJ es la temperatura ambiente de la caja de conexiones para los pasos d) a i).

j) Se calienta el módulo a (75 ± 5) °C. Se aplica una corriente al módulo igual a la corriente de
cortocircuito Isc ± 2% del módulo medida en CEM. Después de 1 h se mide la tensión en directa de
cada uno de los diodos.

Si el módulo contiene un disipador térmico específicamente diseñado para reducir la temperatura de


operación del diodo, este ensayo puede realizarse a la temperatura que el disipador térmico alcanza
bajo las condiciones de 1 000 W/m2 y ambiente a (43 ± 3) °C con ausencia de viento, en vez de a 75 °C.

k) Utilizando la característica de VD frente a TJ obtenida en el punto i), se obtiene TJ de VD a


Tamb = 75 °C, ID = Isc del diodo durante el ensayo del paso j).

l) Se aumenta la corriente aplicada a 1,25 veces la intensidad de cortocircuito del módulo medida en
CEM, manteniendo la temperatura del módulo a (75 ± 5) °C.

m) Se mantiene el flujo de corriente durante 1 h.

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4.18.1.4 Mediciones finales


Se repiten los ensayos MQT 01, MQT 15 y MQT 18.2.

4.18.1.5 Requisitos
a) La temperatura de unión del diodo TJ determinada en el punto 4.18.1.3 k) no debe exceder la
temperatura de unión máxima para operación continua dada por el fabricante del diodo.
b) No debe haber evidencia de defectos visuales importantes, según se definen en la Norma
IEC 61215-1.

c) La corriente de fuga en medio húmedo debe cumplir los mismos requisitos que en las mediciones
iniciales.

d) El diodo debe seguir funcionando como tal después de la conclusión del ensayo según MQT 18.2.

4.18.2 Ensayo de operatividad del diodo de paso (MQT 18.2)

4.18.2.1 Objeto
El objeto de este ensayo es verificar que el (los) diodo(s) de paso de las muestras de ensayo
permanece(n) operativo(s) después de los ensayos MQT 09 y MQT 18.1. En el caso de módulos FV sin
diodos de paso, este ensayo puede omitirse.

4.18.2.2 Aparatos
Los medios para medir la curva corriente-tensión en 1 s, por ejemplo un trazador de curvas, con una
precisión de medición de la tensión y la corriente que debe ser de al menos 1% del valor de la lectura.

14.18.2.3 Procedimiento

4.18.2.3.1 Generalidades
El ensayo puede realizarse según cualquiera de los dos métodos siguientes.

4.18.2.3.2 Método A
°C. No debe iluminarse
la muestra durante el ensayo.

a) Se anulan eléctricamente todos los diodos de bloqueo incorporados en el módulo.

Algunos módulos tienen circuitos de diodos de paso superpuestos. En tal caso puede ser necesario
instalar un cable puente para asegurar que toda la corriente fluye a través de un diodo.

b) Se determina la intensidad de cortocircuito asignada del módulo en CEM a partir de su etiqueta.

c) Se conecta la salida positiva de la fuente de alimentación en c.c. del trazador de curvas I-V al
terminal negativo de la muestra de ensayo, y la salida negativa de la fuente de alimentación en c.c.
del trazador de curvas I-V al terminal positivo de la muestra de ensayo. Con esta configuración la
corriente debe pasar a través de las células solares en dirección inversa y a través del (de los)
diodo(s) en la dirección directa.

d) Se efectúa un barrido de corriente de 0 A 1,25  Isc y se registra la tensión.

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4.18.2.3.3 Método B
Las mediciones I-V sucesivas del módulo FV pueden realizarse conjuntamente con el ensayo de la
determinación de la máxima potencia (MQT 02) con partes de una cadena en el circuito de
interconexión completamente sombreadas para "activar" el diodo.

4.18.2.4 Requisitos

4.18.2.4.1 Método A
La tensión directa medida del (de los) diodo(s) (VFM, Measured Forward Voltage):

VFM = (N  VFM, asignada) ± 10%

donde

N es el número de diodos de paso;

VFM, asignada es la tensión directa de diodo, según se define en la hoja de datos del diodos para 25 °C.

4.18.2.4.2 Método B
El diodo de paso que pertenece a la cadena sombreada está funcionando adecuadamente si se observa
la curvatura característica en la curva I-V.

Ejemplo: un módulo FV de silicio cristalino con 60 células y tres cadenas protegidas cada una por un
diodo tendrá una potencia de hasta aproximadamente 2/3, si se sombrean células de una cadena.

4.19 Estabilización (MQT 19)

4.19.1 Generalidades
Todos módulos necesitan estabilizarse eléctricamente. Para ello, todos los módulos deben estar
expuestos a un procedimiento definido, y posteriormente debe medirse la potencia de salida
directamente. Este procedimiento y la medición de la potencia de salida deben repetirse hasta
comprobar que el módulo ha alcanzado un nivel de producción de energía eléctrica estable. Si se usa
luz para la estabilización, es preferible la irradiancia solar simulada a la luz natural.

4.19.2 Definición del criterio de estabilización


La siguiente fórmula debe tomarse como criterio para evaluar si un módulo ha alcanzado su potencia
eléctrica de salida estabilizada:

(Pmáx. – Pmín.) / Pmedia < x

donde x se define en las partes específicas de cada tecnología de esta norma.

Aquí, Pmáx., Pmín. y Pmedia se definen como los valores extremos de tres medidas consecutivas de la
potencia máxima de salida P1, P2 y P3, tomados de una secuencia de alternancia de pasos de
estabilización y medición, usando MQT 02. La potencia de salida en CEM se determina usando el
procedimiento del ensayo MQT 06.1.

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4.19.3 Procedimientos de estabilización inducida por luz

4.19.3.1 Aparatos para la estabilización en interior


a) Un simulador solar de clase CCC o mejor, conforme a la Norma IEC 60904-9.

b) Un dispositivo de referencia adecuado, con integrador, para monitorizar la irradiación.

c) Medios para montar los módulos, según lo recomendado por el fabricante, en el plano del
dispositivo de referencia.

d) Se utiliza el dispositivo de referencia para establecer la irradiancia entre 800 W/m2 y 1 000 W/m2.

e) Durante la exposición al simulador, las temperaturas del módulo deben permanecer en el


intervalo de (50 ± 10) °C. Todas las estabilizaciones posteriores deben hacerse a la misma
temperatura que la inicial dentro de ±2 °C.

f) Medios para la monitorización de la temperatura del módulo con una precisión de ±2,0 °C y una
repetibilidad de ±0.5 °C. El sensor de temperatura deberá instalarse en una posición
representativa para la temperatura promedio del módulo.

g) Una carga resistiva de valor tal que el módulo funcione cerca de su punto de máxima potencia, o
un seguidor del punto de máxima potencia (MPPT) electrónico.

4.19.3.2 Requisitos de exposición al aire libre para la estabilización


a) Un dispositivo de referencia adecuado, con integrador, para el control de la irradiación.

b) Los medios para montar los módulos, según lo recomendado por el fabricante, en el mismo plano
del dispositivo de referencia.

c) Sólo los valores de irradiancia por encima de 500 W/m2 contarán para la dosis de irradiación total
necesaria para verificar la estabilización. Los límites de temperatura se especifican en las partes
específicas de la tecnología.

d) Los medios para monitorizar la temperatura del módulo con una precisión de ±2,0 °C y una
repetibilidad de ±0,5 °C. El sensor de temperatura deberá instalarse en una posición
representativa para la temperatura promedio del módulo.

e) Una carga resistiva de tamaño tal que el módulo funcione cerca de su punto de máxima potencia, o
un seguidor del punto de máxima potencia (MPPT) electrónico.

Se recomienda un dispositivo de seguimiento del punto de máxima potencia, por ejemplo, un


microinversor.

4.19.3.3 Procedimiento
a) Se mide la potencia de salida de cada módulo con el procedimiento de determinación de la
potencia máxima (MQT 02) a una temperatura apropiada dentro del intervalo permisible, que
pueda reproducirse dentro de ±2 °C en las mediciones intermedias posteriores.

b) Se fija la carga a los módulos y se montan según lo recomendado por el fabricante en el plano de
ensayo del simulador, con el dispositivo de referencia.

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c) Se graban los niveles de irradiancia, irradiación integrada, temperatura y carga resistiva usada en
los módulos.

d) Se somete cada módulo a al menos dos intervalos de irradiación según se define en las partes
específicas de la tecnología del ensayo MQT 19 de esta norma, hasta que se estabilice el valor de la
potencia máxima. Se define la estabilización en el apartado 4.19.2.

e) La potencia de salida debe medirse según el ensayo MQT 02. El tiempo transcurrido entre la
exposición a la luz, incluidas las mediciones de MQT 02, y la determinación final de potencia
máxima de acuerdo a MQT 06.1 se especifica en la parte específica de la tecnología.

f) Deben realizarse mediciones intermedias de MQT 02 en intervalos de dosis de irradiación


integrada aproximadamente iguales. Las dosis mínimas se definen en las partes específicas de la
tecnología de esta norma. Todas las medidas intermedias de potencia máxima deben realizarse a
cualquier temperatura de módulo apropiada reproducida dentro de ±2 °C.

g) Se anota en el informe la irradiación integrada y todos los parámetros a los que se alcanza la
estabilidad. Para el procedimiento en exterior, si es aplicable, se indica el tipo de carga utilizada y
se muestran los perfiles de temperatura e irradiancia.

4.19.4 Otros procedimientos de estabilización


Pueden utilizarse otras técnicas de estabilización después de ser validadas. Se sabe que la aplicación
de corriente o tensión de polarización puede llevar a efectos similares en las células fotovoltaicas,
como es el caso para la exposición a la luz. Esos procedimientos de estabilización alternativos los
suministrará el fabricante.

Este apartado define el proceso de validación de un procedimiento de estabilización alternativo.

Pueden utilizarse procedimientos alternativos al de exposición a la luz, si se han validado de acuerdo


con este procedimiento. La validación debe hacerse con tres módulos. La validación debe realizarse en
la secuencia A como estabilización inicial. Se realiza lo siguiente para validar procedimientos
alternativos:

a) Se lleva a cabo el procedimiento alternativo.

b) Se mide MQT 06.1 después del tiempo mínimo y no más tarde del tiempo máximo especificados
en las partes específicas de la tecnología.

c) Se realiza el procedimiento de estabilización inducida por luz interior (4.19.3.1) de acuerdo a los
requisitos específicas de la tecnología.

d) Se mide MQT 06.1 después del tiempo mínimo y no más tarde del tiempo máximo especificados
en las partes específicas de la tecnología.

Un método alternativo se considera válido si las dos mediciones de MQT 06.1 de los puntos b) y d) se
encuentran dentro de un 2% para los tres módulos evaluados. Si un módulo no cumple con los
criterios de paso, no se valida el método.

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4.19.5 Estabilización inicial (MQT 19.1)


La estabilización inicial se lleva a cabo siguiendo el procedimiento y los requisitos definidas en el
ensayo MQT 19. La estabilización se alcanza si se cumple lo exigido en el apartado 4.19.2.

La estabilización inicial se realiza para verificar los valores especificados en la etiqueta del fabricante,
tal como se define en el criterio de paso en la Norma IEC 61215-1:2016, capítulo 7 (Puerta nº 1).

El número de módulos sometidos al ensayo MQT 19.1 se define en las partes específicas de la
tecnología de esta norma.

4.19.6 Estabilización final (MQT 19.2)


La estabilización final se realiza siguiendo el procedimiento y los requerimientos definidos en el
ensayo MQT 19. La estabilización se alcanza si se cumple lo exigido en el apartado 4.19.2.

La estabilización final se realiza para determinar la degradación del módulo durante el ensayo, como
se define en el criterio de paso en la IEC 61215-1:2016, capítulo 7 (Puerta nº 2).

Si no indica lo contrario, todos los módulos de las secuencias A, C, D y E tienen que someterse al
ensayo MQT 19.2.

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