Patrón de difracción de Rayos-X de nanopartı́culas

de cobre.
Carlos Corona A01656002, Diego González A00571829,
Laura Vera A01173457, Marco Briceño A00824768
Tecnológico de Monterrey, Campus Monterrey

Abstract.
Este documento es un tratado sobre la difracción teórica de una muestra cristalina de cobre.
Dicha muestra tiene un tipo de celda unitaria FCC, usándolo como modelo de partida para
poder encontrar los ángulos de difracción, ası́ como las intensidades para los distintos planos.
Se encontraron los ángulos e intensidades.

1. Introducción
Para que la radiación electromagnética sea difractada, la distancia entre rejilla del objetivo debe
ser del mismo orden que la longitud de onda, por lo que el espacio interatómico de los cristales
es apropiado para ser tratada con rayos X, mediante la técnica de difracción de rayos X (XRD).
Esto tiene utilidad a la hora de obtener información acerca de sus parámetros estructurales como
el tamaño del grano, cristalinidad, deformación y defectos del cristal.[1]

Considerando que un átomo es capaz de dispersar los Rayos-X, si muchos átomos se encuen-
tran juntos puede existir interferencia entre las ondas difractadas.[2] La interferencia constructiva
del haz monocromático de rayos X dispersado por la muestra en ciertos ángulos generan los picos
de difracción, y la distribución de los átomos dentro de la red es la que determina las intensi-
dades máximas, por lo que el patrón de difracción generado es análogo a una huella dactilar del
material de las muestra.[1]

Debido al desarrollo de esta técnica y a la tecnologı́a, la XRD se ha hecho de uso dentro de la

farmacéutica, ciencia forense, microelectrónica, generación de energı́a, tencologı́a aeroespacial,
etc. Actualmente se usa dentro de la ciencia de materiales, facilitando el progreso cientı́fico.[3]

En esta practica haremos uso del XRD para poder estudiar la estructura cristalina del cobre,
encontrando sus picos de difracción.

2. El problema
El cobre ha sido estudiado extensivamente, podemos encontrar una vasta cantidad de bibliografı́a
acerca de su estructura cristalina (ver Suryanarayana et y referencias). Para este proyecto
reproducirán el patrón de difracción del cobre (Cu) con una estructura cúbica centrada en
las caras (fcc) y un parámetro de red de 0.3625 nm. El patrón puede ser obtenido mediante
computaciones numéricas del factor de intensidad. Especı́ficamente, tienen que encontrar los
picos del patrón de difracción que son bien conocidos y son presentados dentro de la tabla 1.
Linea hkl θ
1 111 21.60
2 200 25.15
3 220 36.95
4 311 44.82
5 222 47.41
Table 1. Rasgos de picos observados

3. Desarrollo
Para poder encontrar los picos de intensidad ,debido a los planos cristralográficos, que se crean
en una difracción de Rayos-X fue necesario, primero, poder encontrar el factor de estructura del
átomo de Cobre, el cual se define como:
n
X
F (hkl) = fj e(2πi[hx+ky+lz]) (1)
j=1

Podemos observar que el factor de estructura es función de los ı́ndices de Miller, identificados
por los ı́ndices hkl. Además, contiene también el factor de dispersión atómica, fj , que nos
dice la magnitud en cuanto a la dispersión ejercida por un átomo al cual le incide una onda
electromagnética. Matemáticamente se puede obsevar como la Transformada de Fourier de la
función de densidad espacial ρ(r) del átomo, es decir, es una descripción de la forma atómica en
el espacio recı́proco.
Z ∞
fj = ρ(r)eik·r dr (2)
0
Este factor puede ser aproximado mediante una función numérica, que es la siguiente:
4 2 !
q
X 
fj = ai exp −bi +c (3)
i=1
4π
En donde los valores de ai , bi y c se obtienen de manera experimental, siendo c = 1.191 , a y
b con los sigueientes valores:
i ai bi
1 13.338 3.5828
2 7.1676 0.247
3 5.6158 11.3966
4 1.6735 64.8126
Table 2. Valores paramétricos

Una vez calculado el factor de dispersión, podemos encontrar nuestro factor de estructura, el
cual es importante porque su módulo cuadrado es proporcional a la intensidad de los picos en
la difracción de Rayos-X en función de los ı́ndices de Miller (hkl).

I(hkl) ∝ |F (hkl)|2 (4)

4. Resultados
Se pudo calcular, en primera instancia, la distancia interplanar, d:
a
dhkl = √ (5)
h2
+ k 2 + l2
Además, se pudo hacer el cálculo del factor de dispersión atómica, fj y se graficó el
comportamiento, donde pudimos observar que cuando θ = 0 el fj = Z = 29, es decir, el
número atómico del elemento a estudiar.

Figure 1. Factor de dispersión atómica

Ası́ pues, obtuvimos los ángulos para estos planos de la muestra utilizando la siguiente
ecuación:
λ
 
θhkl = arcsen (6)
2dhkl
En Matlab se pudo representar, de forma numérica, los picos correspondientes a los planos
cristalográficos [1 1 1], [2 0 0], [2 2 0], [3 1 1] y [2 2 2], los cuales están representados en la figura
2.

Figure 2. Picos de intensidad del Cobre

 Ası́ pues, aún falta explicar uno de los detalles más grandes que tenemos: ¿Por qué motivo
se escogieron esos planos? Lo justificaremos muy fácil de la siguiente manera. Partamos de la
siguiente propiedad matemática: en = (−1)n , con cualquier n entera. Ahora bien, para el caso
de una celda FCC, conocemos que tiene 4 átomos en su interior, los cuales podemos colocar en
las siguientes coordenadas de la celda: (0,0,0), (1/2,1/2,0), (1/2,0,1/2), y (0,1/2,1/2). Ahora
pues, si sustituimos dichos valores de los átomos enh la ecuación 1, que en este caso corresponden
i
a las cordenadas x, y y z; conseguimos que F = f 1 + eπi(h+k) + eπi(h+l) + eπi(k+l) . Por lo que
para el caso de una combinación de ı́ndices pares y nones tendremos que F = 0, y en el caso de
solo pares o solo nones, tendremos que F = 4f , que es lo que sucede para los planos graficados.

5. Conclusión
La utilización y conocimiento de la difracción de un material es una cuestión muy importante
para el avance tecnológico, debido a que estos nos ayudan a determinar de una manera más
poderosa las propiedades de dicho material. Ası́ pues creemos que la obtención numérica de un
problema es un gran alivio para la comprensión conceptual y matemática.
Concluimos con que la realización de este trabajo ha ampliado bastante nuestros
conocimientos al respecto, dándonos un mejor panorama respecto a la cristalografı́a. Finalmente,
es importante mencionar que la realización del código fue algo de reto, pero con el uso correcto
de las aproximaciones numéricas dadas en las referencias se ha conseguido el objetivo.

6. Anexo: Códigos de Matlab

Para la obtención del patrón de difracción:

1 close all
2 clc
3 clear all
4

5 lamb = 0 . 1 5 4 1 ; %l o n g i t u d de onda de Rayos−X

6 N = 6; % N m e r o de p l a n o s h k l
7 hkl = [1 1 1;2 0 0;2 2 0;3 1 1;2 2 2;3 3 1 ] ;
8 f o r i = 1 : 1 :N
9

10 Phkl ( i ) = sum ( h k l ( i , : ) . ˆ 2 ) ;
11

12 end
13

14

15 a0 = 0 . 3 6 2 5 ; %parametro r e t i c u l a r
16

17 f o r i = 1 : 1 :N
18

19 d ( i ) = a0 / ( s q r t ( Phkl ( i ) ) ) ;
20

21 end
22

23 f o r i = 1 : 1 :N
24

25 th ( i )= a s i n d ( lamb / ( 2 ∗ d ( i ) ) ) ;
26
27 th2 ( i )= 2∗ th ( i ) ;
28

29 end
30

31 f o r i = 1 : 1 :N
32

33 Qf ( i )= s i n d ( th2 ( i ) ) /lamb ;
34

35 end
36

37 f o r i = 1 : 1 :N
38

39 q ( i ) = 4∗ p i ∗Qf ( i ) ;
40

41 end
42

43 TH = l i n s p a c e ( 0 , 1 0 , 1 0 1 ) ;
44

45 Q = 4∗ p i ∗ s i n d (TH) /lamb ;
46

47

48 a0 = [ 1 3 . 3 3 8 7 . 1 6 7 6 5 . 6 1 5 8 1 . 6 7 3 5 ] ;
49 b0 = [ 3 . 5 8 2 8 0 . 2 4 7 1 1 . 3 9 6 6 6 4 . 8 1 2 6 ] ;
50 c0 = 1 . 1 9 1 ;
51 f ( 1 : l e n g t h (Q) ) = 0 ;
52

53 f o r i = 1 : l e n g t h (Q)
54 f ( i ) = sum ( a0 . ∗ exp(−b0 ∗ (Q( i ) . / ( 4 ∗ p i ) ) . ˆ 2 ) )+c0 ;
55 end
56

57 figure
58 p l o t (Q, f , ’ k ’ )
59

60 TH2 = l i n s p a c e ( 0 , 1 0 0 , 1 0 1 ) ;
61 s z = s i z e (TH2) ;
62 Diff = zeros ( sz ) ;
63 Diff (44) = f (44) ;
64 Diff (51) = f (51) ;
65 Diff (75) = f (75) ;
66 Diff (90) = f (90) ;
67 Diff (95) = f (95) ;
68

69 D i f f = D i f f / ( norm ( D i f f ) ) ;
70

71

72 figure
73 p l o t (TH2, D i f f , ’ k ’ )
Referencias
[1] A. A. Bunaciu, E. gabriela Udriştioiu y H. Y. AboulEnein, X-Ray Diffraction: Instrumentation and
Applications, Critical reviews in analytical chemistry 45, 289-299 (2015).

[2] C. Suryanarayana and M. G. Norton, X-Ray Diffraction: A practical Approach, (Springer US,1998).

[3] I. L. Shul’pina e I. A. Prokhorov, X-ray diffraction topography for materials science, Crystallography Reports
2012 57:5 57, 661-669 (2012).

[4] N. W. Ashcroft and N. D. Mermin, Solid State Physics (Cengage Learning,2011), Chap. 6.

[5] T. Theivasanthi, M. Alagar, X-Ray Diffraction Studies of Copper Nanopowder, arXiv:1003.6068 (2010).