La Escala de Inteligencia Stanford-Binet es una versión modificada de la Escala de

Inteligencia Binet-Simon. La escala de Binet-Simon fue creada por el psicólogo francés

Alfred Binet y su estudiante Theodore Simon (Fancher y Rutherford, 2012). Debido a los
cambios en las leyes de educación de la época, Binet había sido solicitado por una
comisión del gobierno para llegar a una forma de detectar niños con inteligencia muy por
debajo de la media y retraso mental (Fancher y Rutherford, 2012).
Para crear su prueba, Binet y Simon realizaron por primera vez una línea base de la
inteligencia (Fancher y Rutherford, 2012). Gran cantidad de niños se pusieron a prueba en
una amplia gama de medidas en un esfuerzo por descubrir un claro indicador de la
inteligencia (Fancher y Rutherford, 2012). Al no encontrar un solo identificador de la
inteligencia, los niños fueron comparados en cada categoría por edad (Fancher y
Rutherford, 2012). Los más altos niveles de rendimiento de los niños fueron ordenados por
edad y niveles comunes de logros considerando el nivel normal para esa edad (Fancher y
Rutherford, 2012). Debido a que este método de ensayo se limita a comparar la capacidad
de una persona para el nivel de la capacidad común de los de su edad, las prácticas
generales de la prueba se pueden transferir fácilmente para ser probadas en diferentes
poblaciones, aunque las medidas utilizadas son cambiadas (Fancher y Rutherford, 2012).