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calibración y verificación de
equipos y herramientas
secar la muestra
en el horno
Tamizar
muestras según
NTP 400.012
reduccion de la muestra
original al 10%
hastaobtener 100
particulas.
ajustar abertura mas ajustar abertura mas ajustar la abertura mas grande del
grande del dispositivo grande del dispositivo a la longitud maxima de la
al ancho maximo de dispositivo, la particula, es larga cuando su espeso
la particula, es plana longitud maxima de la maxima se puede colocar atravez de la
si su espesor pasa particula, es larga ebertura mas pequeña
por la abertura mas cuando pasa por la
pequeña abertura mas
pequeña
clasificacion:
particula plana,
clasificacion:
particula alargada,
particula plana y
particula plana y
alargada, particula
alargada, particulas
ni plana ni alargada
que no cumplen las
anteriores
calcular el % de
particulas planas y
alargadas con
aproximacion de 1%
reporte de acuerdo al
metodo
METODO A: METODO B:
Nº de particulas Nº de particulas
ensayadas ensayadas
% de cada grupo % de particulas planas y
relacion de dimensiones alargadas para cada
usadas ensayo
relacion de dimensiones
usadas
FIN