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UNIVERSIDAD CENTRAL DEL ECUADOR

FACULTAD DE INGENIERÍA EN GEOLOGÍA, MINAS, PETRÓLEOS Y AMBIENTAL


ESCUELA DE GEOLOGÍA
ANÁLISIS MINERALÓGICO
Arciniéga Frank, Janina Carrillo
INFORME DE LABORATORIO DE ANÁLISIS MINERALÓGICO
PRÁCTICA DE LABORATORIO Nº 6

TEMA: DIFRACCIÓN DE RAYOS X


1. OBJETIVOS
1.1. Objetivos Principal

Conocer el procedimiento para analizar muestras por el método de difracción


de rayos X.
1.2. Objetivos Específicos
 Conocer la técnica y manejo del equipo de difracción de rayos X, así como sus
aplicaciones.
 Identificar los tipos de muestras que pueden ser utilizadas para realizar análisis a
través de este método.
 Conocer las principales características del equipo de difracción de rayos X.
2. MATERIALES Y REACTIVOS

Difractómetro de rayos X Portaobjetos de teflón

Computadora, con software TOPAS Lámina de vidrio


3. FUNDAMENTO TEÓRICO
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ANÁLISIS MINERALÓGICO
Arciniéga Frank, Janina Carrillo
La difracción de rayos X puede sintetizarse un los fenómenos físicos que se produce
cuando un haz de rayos X interacciona con un sustancia cristalina, a determinada
longitud de onda, es ahí donde se genera una dispersión del haz de rayos X en
diferentes direcciones del espacio.
En la actualidad se han desarrollado diferentes técnicas y software que permiten l
identificación y análisis automático de diferentes muestras que son analizadas por
medio de un difracto metro de rayos X, puesto que es el único método que permite
hacer análisis mineralógico, porque su fundamento es la identificación cualitativa de la
composición mineralógica de una muestra cristalina, ya que todos los sólidos
cristalinos poseen su difractograma característico, tanto en su aspecto cualitativo
como cuantitativo. A través del software Topas, se pueden realizar medidas
cuantitativas del contenido de cierto mineral con un porcentaje de error de apenas 1%.

Fig. 1.- Pantalla de TOPAS, donde los picos altos indican valores de cierto minerales que coinciden con
valores guía para cada mineral.

Este método de análisis mineralógico tiene ciertas restricciones como el límite de


detección de un contenido mineral cuyo valor mínimo es del 1% por tanto no permite
realizar un análisis de traza de mineral, solo pueden realizarse ensayos en muestras
cristalinas sólidas, no húmedas y de preferencia pulverizadas.
El difractómetro de rayos X tiene 3 partes fundamentales que son:
1. Tubo generador
2. Detector
3. Generador de rayos X
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Tubo generador

Detector

Generador de
rayos X

4. PROCEDIMIENTO
I. Secar la muestra en la plancha térmica.
II. Determinar la humedad si es que la tuviera.
III. Moler la muestra en el molino vibratorio.
IV. Colocar en el porta muestras, con la ayuda de una lámina de vidrio esparcir
el materia.
V. Colocar la muestra en el cargador y cerrar la compuerta del difractómetro.
VI. Escoger el programa determinado para lectura del difractograma,
especificando el tipo de muestra que se ha colocado.
VII. Cuantificar el resultado a través del programa TOPAS
VIII. Registrar los datos en el registro de difractometría.

5. DISCUSIÓN

La difractometría de rayos X es una técnica analítica de referencia para el estudio de la


composición mineralógica de una amplia gama de materiales, inorgánicos u orgánicos,
tanto de origen natural como sintético. El patrón de difractometría de rayos X de una
sustancia se considera la “huella dactilar” de la sustancia. El material puede ser metal,
mineral, cerámico, vidrio, plástico, recubrimiento en capa fina, papel, fármacos o
prácticamente de cualquier tipo. Las muestras pueden estar en forma de polvo,
sólidos, pastillas y películas delgas. La forma y tamaño pueden ser muy variables.
Los nuevos equipos de difractómetro, requieren un sistema de enfriamiento, además
cuentan con un detector que permite amplificar la respuesta obtenida.
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Para el análisis de minerales a través de este método no se requiere grandes
cantidades de muestra, sin embargo es necesario pulverizar la muestra.
6. CONCLUSIONES
 El método de difracción por rayos X es el único método especializado en el
análisis cualitativo de contenido mineral, con un límite de detección de hasta
el 1%, pueden realizarse análisis cuantitativos a través de simulaciones
matemáticas que son muy cercanas a los valores reales, como el caso del
software TOPAS.
 El fundamento de esta técnica es la capacidad que tiene una haz rayos X para
tomar “huella digital” de un mineral, por tanto la muestra que se usa siempre
debe tener una estructura cristalina, la cual va a ser diferente y distintiva para
cada mineral.
 Existen diversos usos que se le da a esta técnica, en nuestro país, se solicita
este análisis especialmente en definición de contenido de cloruro de potasio
y/o baritina en la industria petrolera, para determinar la presencia de un
compuesto o la cantidad de cierto mineral en una muestra en la industria
agrícola, química, etc.
 El equipo de difracción de rayos X admite muestras sólidas, totalmente secas,
las mismas que pueden estar en forma de pastillas, pasta o pulverizadas.
7. REFERENCIAS

http://www.idaea.csic.es/index.php?
option=com_ogngrups&view=detall_grup&Itemid=98&cid=46&lang=es
https://www.upct.es/~minaeees/difraccion_rayosx.pdf
file:///C:/Users/Usuario/Downloads/PROCEDIMIENTO%20PARA%20ANALISIS
%20DE%20MUESTRAS%20POR%20DIFRACCION%20DE%20RAYOS%20X.pdf
https://www.upv.es/materiales/Fcm/Fcm03/pfcm3_4_1.html

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