Universidad Central de Venezuela

Facultad de Ingeniería
Escuela Básica
Análisis Instrumental

Caracas, 19 de agosto 2020

Tarea II/V de espectroscopia Alumno: Scarlay Gutierrez

A la fecha usted debería poder responder las siguientes preguntas.

Tiene hasta el viernes 26/08 a las 12m para hacerlo. Tomando en cuenta
que ustedes son un alumnado serio y que si se copian el daño se lo hacen
ustedes mismos en su proceso de adquirir conocimiento, a partir de ahora
pueden enviar sus tares en Word por whatsapp, pero también debe ser
enviada en electrónico al correo olydominguez@gmail.com.
Su puntualidad en la entrega de la tarea es responsabilidad suya.
Sea breve conciso y concreto. Si va a utilizar lápiz por favor utilice un lápiz
oscuro, HB o más oscuro en su defecto boligrafo. Recuerde que su
profesora es miope y se acerca a la 3ra edad, no le malgaste los ojos
intentando leer sus respuestas. Si pudo consultar alguna información en la
web para su respuesta por favor ponga la referencia.

1) Se requiere caracterizar el desgaste causado por deslizamiento de piezas de aluminio

recubierto con níquel-fósforo. Para ello se diseñó un experimento donde se ejecuta el
deslizamiento de la pieza a través de un cilindro de acero inoxidable, de mayor dureza que
la pieza en evaluación, durante un tiempo definido. Luego del experimento usted cuenta
con 300mg del material para evaluarlo superficialmente mediante la(s) técnica (s) escogida
por Usted. Describa la preparación que debe dar a la muestra a fin de evaluar
a) el cambio en la estructura superficial de la pieza
La técnica escogida es SEM donde las muestras destinadas para esta técnica han
de cumplir dos condiciones: deben estar secas y ser conductoras. En este caso no
es necesario hacerle un tratamiento conductor porque el Ni-P de la muestra está
cubierto por una fina capa de aluminio que es lo que le aporta el carácter
conductor.
b) Si se generaron poros en la superficie de la pieza
Se usará la técnica SEM. Como se explicó anteriormente la muestra no necesita
una preparación porque esta seca y tiene un carácter conductor
c) el contenido puntual de Ni-P
En este caso se utilizará EDS (espectroscopia de dispersión de rayos X por
dispersión de energía) ya que es utilizado para la caracterización química
puntual, sus capacidades de la caracterización son debidas al principio
fundamental que cada elemento de la tabla periódica tiene una estructura
electrónica única y así una respuesta única a las ondas electromagnética. Para el
uso de esta técnica las muestras deben estar sólidas y libres de humedad, en este
caso no se necesita un tratamiento previo de la muestra
6 puntos

El polvillo generado por el roce también es recolectado y evaluado con la técnica

escogida por usted, tal que se determina:
 i. la concentración total de transferencia del recubrimiento de Ni-P que se espera
esté alrededor de 5ppb
La técnica será ICP-MS ya que este equipamiento permite analizar
prácticamente todos los elementos de la tabla periódica, con la ventaja de que
tiene la capacidad de detectarlos en cantidades muy pequeñas, denominadas
trazas y ultratrazas, llegando a cuantificar partes por billón (ppb) y hasta partes
por trillón (ppt). Requiere tratamiento previo (fusión a altas temperaturas con
ácido bórico )

ii. la existencia de alúmina en una de sus fases cristalinas.

La técnica será la espectroscopia de rayos x para determinar la presencia de
alúmina ya que cada sustancia cristalina presenta su propio espectro de
difracción
Para el uso de esta técnica las muestras deben estar sólidas y libres de humedad,
en este caso no se necesita un tratamiento previo de la muestra

iii. La distribución de tamaño de las partículas de Ni-P generadas que pueden estar
entre micras y decimas de nanomentros.
En este caso la técnica Microscópica electrónica de transmisión (MET) permite
conocer el estudio de las estructuras moleculares hasta átomos con un poder de
resolución de 0.2 nm la cuales se pueden observar en la muestra. La preparación
previa de la muestra consiste en el adelgazamiento iónico que consiste en el
bombardeo de iones de argón para modificar la superficie de una muestra
retirando materia

6 puntos

Justifique su respuesta en cada caso y describa si la muestra requiere de un

tratamiento específico antes de ser sometida al análisis que escogió.

2. Las propiedades físicas y químicas de los sistemas nanométricos dependen en

gran medida del método de síntesis empleado para su obtención y del tipo de
estabilizante utilizado para evitar su coalescencia. En tal sentido, se sintetizaron
nanosistemas de paladio estabilizados con los hexaflorofosfato siguientes: 1-pentil-3-
metil-imazolio, 1-dodecil-3-metil-imidazolio, 1-pentil-4-picolinio y 1-dodecil-4-
picolinio, mediante el método de desplazamiento de ligando del complejo
tri(dibenzilidenacetonato)dipaladio(0) y por cronoamperometría de cloruro de paladio
(II) en presencia de los mismos líquidos iónicos. Los sistemas fueron caracterizados por
espectroscopia óptica de emisión con plasma inducido (ICP-OES), microscopía
electrónica de transmisión (HRTEM), microscopía de fuerza atómica (AFM) y
difracción de rayos-X (DRX).

a) Explique qué información se obtienen de cada técnica que se utilizó para

evaluar los nanosistemas en cuestión y como se debió tratar la muestra para
poder llevar a cabo el ensayo con cada técnica. 4 puntos
Espectroscopia óptica de emisión con plasma inducido (ICP-OES):

La técnica de plasma inducido es para determinar elementos y concentraciones. En este

caso permite determinar la cantidad de paladio al ser un metal de transición. Debe
tratarse inicialmente para eliminar impurezas y evitar interferencias químicas esto se
hace llevando la muestra a altas temperaturas y usando un reactivo.

Microscopía electrónica de transmisión (HRTEM)

Es una técnica para obtener imagen de la estructura cristalográfica de una muestra en

una escala atómica. En este caso en particular permite conocer la estructura molecular,
identificación de planos cristalinos y la distribución de paladio en el sistema
nanométrico. La muestra debe obtenerse directamente una lámina transparente al haz de
electrones

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

Permite el análisis superficial de muestras con resolución nanométrica, determinar la

topografía del compuesto, así como la distribución de fases cristalinas. Es necesario que
las muestras estén limpias y sean muy planas, con desniveles inferiores a 1 micra. La
muestra debe tener un diámetro máximo de 15 mm y un espesor de hasta 4mm

Difracción de rayos-X (DRX).

La difracción de rayos-X de polvo es una técnica muy potente capaz de evaluar

(identificar, cuantificar y/o estudiar) las fases cristalinas presentes en la muestra.
la muestra debe ser homogenizada o estar homogénea Requiere llevar la muestra a
cristales la muestra cristalina se muele hasta obtener un polvo fino y homogéneo. De
esta forma, los numerosos pequeños cristales están orientados en todas las direcciones
posibles; y, por tanto, cuando un haz de rayos X atraviesa el material, se puede esperar
que un número significativo de partículas estén orientadas de tal manera que cumplan la
condición de Bragg de la reflexión para todos los espacios interplanares posibles.

b) Proponga otras técnicas espectroscópicas que pudiesen dar mejores resultados

en cada caso. En caso de no haberlas justifique su respuesta. 2 puntos

 La técnica MET funciona de forma muy parecida que la HRTEM, pero la

técnica HRTEM es una valiosa herramienta ampliamente utilizada para el
estudio de nanoestructuras de materiales cristalinos como los semiconductores y
los metales por su alta resolución, se prefiere usar esta
 Al ser la AFM una técnica no conductora de caracterización superficial a nivel
micro y nanométrico se puede reemplazar por otras técnicas como la
microscopia de barrido, la SEM y la TEM, pero se prefiere la AFM porque tiene
grandes ventajas sobre las otras técnicas ya que no es destructiva, puede operar
prácticamente en cualquier ambiente y no hace falta ningún tratamiento de la
muestre para realizar el análisis.
 En caso de difracción de rayos-X (DRX) no hay otra técnica que pueda sustituir
esta y por lo tanto dar mejores resultados porque esta técnica es que trabaja en
sistemas cristalinos y no existe otra técnica que trabaje con dichos sistemas
La actividad catalítica en las reacciones de hidrogenación se llevó a cabo en autoclave,
bajo 200psi hidrógeno a 140ºC y 0,5h para el ciclohexeno y, 300psi de hidrógeno a
160ºC y 7h para el benceno. Todos los nanosistemas sintetizados por el método químico
son catalíticamente activos en la hidrogenación ambos sustratos. Los sistemas con
líquidos iónicos de cadenas más largas resultaron ser los catalizadores más eficientes.

c) Proponga una técnica espectroscópica que le permita determinar si hubo o no

hidrogenación del ciclohexeno. Justifique su respuesta. 2 puntos

La hidrogenación del ciclo hexano es la adición de hidrogeno al compuesto esto

generara un cambio en la estructura molecular por lo tanto una técnica
espectroscópica que permite determinar si hubo o no hidrogenación es la
Espectrometría de Masas ya que es una técnica microanalítica usada para identificar
compuestos desconocidos, cuantificar compuestos conocidos, para especificar la
estructura y propiedades químicas de las moléculas.