UNIVERSIDAD NACIONAL DEL COMAHUE

DEPARTAMENTO DE GEOLOGÍA Y PETRÓLEO

CÁTEDRA DE MINERALOGÍA

CONTRIBUCIÓN DIDÁCTICA
MÉTODOS DE ANÁLISIS MINERALÓGICO

DIFRACCIÓN DE RAYOS X

Los rayos X forman parte del espectro de radiaciones electromagnéticas, en la

porción correspondiente a longitudes de onda comprendidas entre 0,02 y 100 Å (fig
1). La radiación X se produce cuando un haz de electrones de energía suficiente
impacta sobre átomos de un elemento dado, los cuales emitirán un tipo de energía X
así llamada cuando fue descubierta por Röentgen en 1895, a raíz de las incógnitas
que existían acerca de su naturaleza y características.

Figura 1: Espectro electromagnético.

Los rayos X se pueden producir también irradiando sobre un elemento rayos X

primarios generándose rayos X secundarios. A este fenómeno se lo llama
fluorescencia de rayos X.

TUBOS DE RAYOS X

La construcción de los tubos generadores de rayos X se ha ido perfeccionando con

el tiempo desde los antiguos tubos de gas que usó Röentgen. Estos consistían en un
tubo de vidrio evacuado, es decir con escaso gas contenido. El cátodo era de
aluminio de forma parabólica y el ánodo de platino o wolframio-aluminio. Al crearse
el campo eléctrico en el tubo los escasos átomos ionizados del gas y los electrones
libres son acelerados al ánodo y al cátodo. Luego de bombardear el cátodo los iones
positivos tienden a extraer electrones del mismo, los que entonces se dirigen al
ánodo (rayos catódicos). Luego de ser impactado, el ánodo produce rayos X. Cuanto
mayor sea el número atómico de los átomos bombardeados, más intensos serán los
rayos X producidos.
Actualmente los tubos de rayos X son sellados y con alto vacío. El cátodo es un
filamento de wolframio que es calentado por el paso de una corriente y por ello emite
electrones (emisión termoiónica). Para acelerar esa corriente electrónica producida
se le aplica una diferencia de potencial grande y su impacto sobre el ánodo generará
los rayos X. La cantidad de electrones emitidos por el cátodo sólo depende de la
temperatura del filamento. El tipo de rayos X generado, es decir su longitud de onda,
depende del metal usado como ánodo y el voltaje aplicado.

ESPECTRO CONTINUO

Los rayos X se producen cuando el voltaje aplicado supera un mínimo; a partir de allí
se produce el llamado espectro continuo de rayos X, que contiene todas las
longitudes de onda dentro de un rango. La intensidad de las longitudes de onda
mínimas decrecen. Los límites de la longitud de onda de la radiación y la distribución
de la longitud de onda varían con la intensidad del voltaje aplicado (Fig 2 a).
Al aumentar el voltaje aparecerá una radiación característica sobre el espectro
continuo, que es generalmente más intensa que este último. Se trata de varias
longitudes de onda aisladas que son características del elemento usado como
ánodo. Cada longitud de onda corresponde a las emisiones de un orbital
determinado del átomo (Fig. 2 b).

Figura 2: a) espectro continuo de rayos X; b) radiación Kα y Kβ característica de cada

elemento.

El origen cuántico de la radiación característica es evidente por el hecho que las

líneas de una determinada longitud de onda para un elemento aparecen sólo cuando
el voltaje aplicado excede un valor mínimo. Este voltaje mínimo corresponde a la
energía requerida para eyectar un electrón de las capas “K” de los respectivos
átomos, dejando entonces a esos electrones en estado excitado. Luego de la
excitación de la capa “K”, un electrón de la capa externa puede caer en la vacante
dejada en “K”, acompañado de una simultánea emisión de radiación característica,
en este caso una de las líneas de la serie “K”. Si un electrón “L” llena la vacante de
“K” se emite una radiación Kα, si en lugar de ello lo hace un electrón de “M” se emite
una radiación Kβ; de la misma manera transiciones electrónicas de capas externas a
huecos en “L” producen líneas de la serie L.
Para los métodos de difracción de rayos X se usa radiación X monocromática
(generalmente Kα) la cual se logra por medio de filtros o cristales monocromadores.
Los elementos más usados para la producción de rayos X de uso en cristalografía
son los que tiene Kα entre 0,56 y 2,29 Å (plata, molibdeno, cobre, níquel, cobalto,
hierro y cromo) por ser éste el rango de los espaciados interatómicos en los
cristales.

LEY DE BRAGG

A través de los primeros experimentos realizados sobre cristales, Max Von Laue y
luego W.L. Bragg dedujeron las condiciones necesarias para que luego de incidir
sobre un cristal, un haz de rayos X produjera una mancha en la placa fotográfica.
Los rayos X, a diferencia de la luz ordinaria, cuando inciden sobre un cristal no son
reflejados por un plano cristalino dado, sino que la difracción de los rayos X
(“reflexión”) se produce sobre una familia de planos, cuando para la longitud de onda
usada se cumpla (Fig. 3):

Figura 3: Esquema de difracción de rayos X.

n. λ = 2.d. sen θ (LEY DE BRAGG)

Donde:
n = número entero.
λ = longitud de onda.
d = distancia entre los planos paralelos sucesivos
θ = ángulo de incidencia y reflexión de los rayos X sobre el plano considerado.

Al incidir un haz de rayos X sobre un cristal lo penetra y la reflexión que se producirá

será consecuencia de las infinitas reflexiones en la casi infinita familia de planos
paralelos. Sabemos que estos planos atómicos paralelos que constituyen una familia
en un cristal son equidistantes. Si todas las reflexiones (o difracciones) individuales
en cada plano de la familia están en fase, la “reflexión” será suficientemente intensa.
Los rayos X se reflejan con un ángulo θ igual al de incidencia (Fig.2). Las ondas
reflejadas en el plano p recorren un camino ABC más corto que las reflejadas en p1
(DEF). Para que las dos ondas reflejadas estén en fase la diferencia de recorrido
entre ABC y DEF deben ser un número entero de longitudes de onda, es decir:

G E + EH = n λ

Por otro lado BE es igual al espaciado “d”, en el triángulo GBE:

d . sen θ = GE
En el triángulo HBE:

d . sen θ = EH

Por lo tanto para una reflexión en fase:

GE + EH = d . sen θ = n . λ
Se deduce de esta fórmula que usando rayos X de una determinada longitud de
onda, para un espaciado dado, se producirán reflexiones solamente cuando los
ángulos satisfagan la ecuación de Bragg.

MÉTODOS DE ESTUDIO DE CRISTALES POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X

La comprobación de la geometría de las redes cristalinas de los minerales fue

posible a a partir del uso de los rayos X. Anteriormente sólo se podía suponer o
inferir por la simetría cristalina externa las características de la estructura interna de
los cristales. El uso de los rayos X ha permitido determinar la simetría interna de los
cristales estableciéndose la posición de sus átomos y las distancias entre los planos
sucesivos de un cristal. Dado que la longitud de onda de los rayos X es del mismo
orden que las distancias interatómicas entre los cristales, éstos últimos actúan como
una red de difracción tridimensional cuyos espectros pueden ser registrados. Los
espectros serán característicos de cada sustancia cristalina, adoptando un diseño
que dependerá de la estructura cristalina analizada. Cada sustancia cristalina
(natural o artificial) tendrá entonces una radiografía propia que la identificará, lo cual
nos permitirá, según el método usado, obtener distintos datos que darán información
sobre su simetría cristalina interna y a través de ella la identificación del compuesto
natural o artificial de que se trate.
Los métodos experimentales de difracción de rayos X más utilizados son los
siguientes:

Información
Método Radiación Muestra Detector
suministrada
Película
Laue Policromática Monocristal Simetría cristalina
fotográfica

Giratorio u Película Parámetros

Monocromática Monocristal
oscilante fotográfica cristalinos
Simetría cristalina
(grupo espacial)

Parámetros
cristalinos
Película
Weissemberg Monocromática Monocristal
fotográfica Intensidades
difractadas
(estructuras
cristalinas)

Identificación
 Simetría cristalina
(grupo espacial)

Parámetros
cristalinos
Película
Precesión Monocromática Monocristal
fotográfica Intensidades
difractadas
(estructuras
cristalinas)

Identificación
Simetría cristalina
(grupo espacial)

Parámetros
cristalinos
Difractómetro
Contador
de Monocromática Monocristal
electrónico Intensidades
monocristal
difractadas
(estructuras
cristalinas)

Identificación
Parámetros
Debye- Película cristalinos
Monocromática Polvo cristalino
Scherrer fotográfica
Identificación
Parámetros
cristalinos

Intensidades
Difractómetro Contador difractadas
Monocromática Polvo cristalino
de polvo electrónico (Análisis
cuantitativo de
fases cristalinas)

Identificación

- Método del polvo cristalino

El método del polvo cristalino presenta características muy interesantes para su

utilización; es el único procedimiento de DRX que permite abordar el estudio
cristalográfico de las especies que no se presentan, o no es posible obtener, en
forma de monocristales. La desorientación relativa existente entre los numerosos
cristalitos que componen la muestra hace que en los diagramas de difracción quede
reflejada, tanto cualitativa como cuantitativamente, la identificación de las fases
cristalinas de la muestra.
En este método la muestra se pulveriza lo más finamente posible de forma que esté
constituida idealmente por partículas cristalinas en cualquier orientación. Para
asegurar la orientación totalmente al azar de estas pequeñas partículas con respecto
al haz incidente la muestra localizada en la cámara de polvo generalmente se hace
girar en el haz de rayos X durante la exposición.
En la cámara de polvo

un haz monocromático de rayos X pasa a través de un colimador dentro de un

cilindro de metal en el centro del cual se encuentra la muestra de polvo. Los haces
difractados al incidir sobre la muestra se registran en una delgada película
fotográfica localizada en el interior de la pared del cilindro. Cuando el haz
monocromático incide sobre la muestra se producen al mismo tiempo todas las
difracciones posibles. Para cada conjunto de planos atómicos (hkl) con su
característico espaciado dhkl existen numerosas partículas con una orientación tal
que forman el ángulo apropiado con respecto al rayo incidente capaz de satisfacer la
ley de Bragg.
Los máximos de difracción de un conjunto de planos determinados forman 2 conos
simétricos cuyo eje coincide con el haz incidente. El ángulo entre el haz no
difractado y los haces difractados que constituyen los conos es de y valores enteros
n, dando lugar a conjuntos diferentes de conos de haces difractados. La intersección
de cada cono de haces difractados con la película fotográfica produce dos arcos
simétricos con respecto a dos centros que representan el lugar de entrada y salida
del haz de rayos X de la cámara.
Cuando la película se despliega se observa una serie de arcos concéntricos y
simétricos con respecto a los dos orificios.

Con la cámara de polvo es posible registrar reflexiones de ángulos de hasta 180º.

Los conos de ángulos pequeños coinciden con el centro del orificio de salida y
representan los índices hkl más sencillos y los mayores espaciados. Los arcos
aumentan de radio conforme el ángulo del cono es mayor, hasta que es 90º
momento en el que el arco se convierte en una línea recta. Ángulos mayores de 90º
quedan representados como arcos concéntricos en el orificio de entrada de los rayos
X.

Aunque la mayoría de los cristales de la muestra no producen difracción

normalmente hay los suficientes cristales orientados correctamente como para que
la intensidad de la difracción sea lo bastante importante como para quedar
registrada en la película. De esta forma habrá siempre una línea representante de
cada familia de planos de la red cristalina. Una vez obtenida la fotografía de polvo es
necesario determinar el valor del ángulo de cada una de las líneas presentes
teniendo en cuenta que el radio de la película fotográfica es R y la distancia entre 2
arcos simétricos es D mediante la relación

S/2

Una vez calculados todos los valores de  para los que se ha producido la difracción
y mediante la ecuación de Bragg se determinan los espaciados correspondiente a
cada familia de planos. Para ello se toma n como 1 y d se considera que es una
reflexión de primer orden dada la dificultad de establecer el orden de una
determinada reflexión. Cuando se ha indexado el diagrama de polvo es decir se han
asignado los índices hkl para cada par de líneas de difracción pueden determinarse
los parámetros de la celda a partir de los espaciados.
La mayor aplicación del método del polvo es la identificación mineral, para la cual no
es necesario conocer la estructura o simetría del mineral.

El difractómetro de polvo de rayos X utiliza la radiación monocromática y una

muestra en polvo y registra la información de las reflexiones mediante una traza de
tinta sobre una cinta de papel o mediante recuento electrónico que puede ser
almacenado en un ordenador. La muestra finamente pulverizada se extiende sobre
un porta de vidrio y se aglomera. El porta gira según la trayectoria del haz de rayos
X al mismo tiempo que el detector gira a su alrededor para captar las señales de los
haces difractados. El detector no registra todas las reflexiones a la vez en una
película sino que mantiene un orden para recibir por separado cada máximo de
difracción.
El resultado es un diagrama de picos registrados en un papel en el que se puede
leer el ángulo 2

Cada pico de este difractograma corresponde a una distancia entre planos atómicos,
por esta razón cada sustancia mineral tiene su propio diagrama de polvo
característico y diferente del de cualquier otra.

1) Utilizando los valores de 2θ obtenidos, se los convierte por medio de una tabla de
conversión de espaciados “d” dados en Å, para la radiación que se haya usado, en
este caso Cu Kα, según la fórmula de Bragg. Actualmente, el software adosado al
equipo los transforma automáticamente.
2) Una vez efectuado esto, se toman los espaciados de las tres reflexiones más
intensas, ordenados en forma creciente de sus intensidades.
3) Se comparan los espaciados calculados así como sus intensidades con los
recogidos en fichas preparadas por el Joint Committee on Powder Diffraction
Standars (JCPDS) hasta identificar el mineral que coincida con estas
características. Existen diferentes manuales de búsqueda: a) solo con los valores de
"d" y b) fases inorgánicas (por composición química, por nombres de minerales, por
grupos de minerales, cementos, ecplosivos, etc..).
La identificación de las especies minerales se puede realizar también con la
búsqueda automática del software MDI-JADE.
4) En el libro índice junto a cada mineral se encuentra un número que corresponde a
una ficha completa con las características del mineral, debiendo todas las
reflexiones del mineral problema coincidir con ella (teniendo en cuenta los errores
admisibles por la lectura del operador) para así asegurar que se trata del mineral
identificado.

Ficha JCPDS de identificación de un mineral.

MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA

Introducción

Los microscopios electrónicos llevan casi 50 años disponibles comercialmente

y existen en la actualidad en todo el mundo varias decenas de miles, siendo
utilizados en muy diferentes campos. El primer microscopio electrónico fue un
microscopio de transmisión, sin embargo fue el microscopio de barrido el que
realmente revolucionó la microscopía electrónica. Actualmente existe toda una
familia de microscopios electrónicos surgidos tras las numerosas investigaciones
llevadas a cabo en los últimos veinte años. Estos aparatos combinan la posibilidad
de obtener imágenes de gran resolución con el análisis químico de pequeñas áreas
del material, por ello se ha incrementado notablemente el campo de aplicación de
esta técnica. Dado el gran abanico de posibilidades es necesario conocer las
ventajas e inconvenientes de cada uno de los microscopios para así decidir cuál es
el más apropiado para nuestros objetivos (geología, biología, medicina, tecnología,
etc.).

Generalidades

El límite de resolución de un microscopio óptico viene determinado por la

longitud de onda de la luz con la que se ilumina el obtejo. El límite de resolución
puede disminuirse si emplea una radiación con una menor longitud de onda (l). La
longitud de onda efectiva de un haz de electrones fuertemente acelerados es
muchos órdenes de magnitud menor que la de la luz visible e incluso que la de la luz
ultravioleta (0.004 nm a 100 kV frente a los 800-200nm de la luz). La ventaja que
tienen los electrones sobre otras partículas de pequeña l es que los electrones son
fácilmente acelerados mediante una diferencia de potencial y además es posible, al
estar cargados, modificar su trayectoria en presencia de campos eléctricos o
magnéticos.
En microscopía electrónica se trabaja siempre en el vacío. Esto se debe a que
como se opera con electrones que viajan con una trayectoria prefijada desde la
fuente hasta su destino es imprescindible que esta trayectoria no sea desviada por la
presencia de átomos o moléculas que no sean las de la muestra a analizar. Por ello
la columna debe estar lo más libre posible de moléculas de gas, esto se consigue
con potentes bombas de vacío. Las presiones a las que se trabaja oscilan entre los
10-7 y los 10-10 bares, es decir, se reduce la presión por debajo de una millonésima
parte de la presión atmosférica.
La interacción de los electrones incidentes con la muestra produce una serie
de radiaciones secundarias: electrones secundarios, electrones retrodispersados,
electrones transmitidos, radiación X, electrones Auger, catodoluminiscencia y
energía absorbida (por la muestra). La utilización de una u otra nos permite obtener
distintas informaciones sobre la muestra.

Tipos de microscopios

La base de la microscopía electrónica es la utilización como fuente de luz de un haz

de electrones acelerados y su focalización sobre la superficie de la muestra
mediante unas lentes condensadoras. Existen diferentes tipos de microscopios
electrónicos, pero dos son los más conocidos y empleados: el "Transmission
electron microscope (TEM)" o microscopio electrónico de transmisión y el "Scanning
electron microscope (SEM)" o microscopio electrónico de barrido. Ambos difieren
mucho en los principios de funcionamiento así como en los resultados que se
obtienen con su uso. Existe además una combinación de los dos anteriores, el
STEM con el que se analiza una muestra delgada barriendo su superficie.
Otros microscopios electrónicos menos conocidos son:
El microscopio de emisión de iones (FIM) que permite observar la estructura
atómica de la superficie de algunas muestras (energías de enlace de átomos
absorbidos, corrosión de superficies metálicas, imperfecciones cristalinas de algunos
metales).
El microscopio efecto túnel (STM) con el que se obtiene una imagen
topográfica a escala atómica (reconstrucción de numerosas superficies de
materiales de gran interés tecnológico).

MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA

Microscopio electrónico de transmisión (TEM)

Los microscopios electrónicos más sencillos constan de dos lentes

formadoras de la imagen de forma muy parecida a los microscopios ópticos
convencionales. La iluminación proviene de un cañón de electrones emitidos por un
filamento de W o LaB6. Los electrones son acelerados al aplicar un potencial
negativo (100 kV - 1000 kV) y focalizados mediante dos lentes condensadoras
sobre una muestra delgada, transparente a los electrones.
Después de pasar a través de la muestra los electrones son recogidos y
focalizados por la lente objetivo dentro de una imagen intermedia ampliada. La
imagen es ampliada aún más gracias a las lentes proyectoras, las cuales controlan
la ampliación de la imagen en la pantalla fluorescente. La imagen final se proyecta
sobre una pantalla fluorescente o una película fotográfica.
Un TEM de dos lentes puede llegar a aumentar la imagen alrededor de 1000
veces. El poder de resolución podría llegar hasta 5 nm siempre y cuando se
consiguiera aumentos de ´50.000 lo que es posible utilizando un vidrio de aumento
sobre la imagen fluorescente en el microscopio, o un incremento fotográfico de la
imagen registrada en la película.
 Los microscopios de gran resolución (tres lentes generadoras de imagen) son
capaces de ampliar la imagen hasta 500.000 veces y tienen poderes de resolución
de unas fracciones de nm. Normalmente poseen aumentos de entre ´1000 -
´200.000 ó de ´2500 - ´500.000.

Modos de formación de la imagen: existen diferentes modos de formación de la

imagen en un microscopio de transmisión: si la imagen se forma a partir del haz
transmitido, que no ha sufrido dispersión, entonces la imagen del objeto es oscura
sobre un fondo brillante. Si, por el contrario, se utilizan los electrones dispersados en
este caso la imagen aparece brillante sobre un fondo oscuro. Por ello estas dos
técnicas se denominan formación de imagen en campo claro y en campo oscuro
respectivamente, la primera es la más utilizada.
Por otra parte con este microscopio se puede obtener un diagrama de
difracción de la muestra, lo que nos aporta una valiosa información sobre la
estructura cristalina de la misma. Esto es posible si hacemos incidir el haz de
electrones sobre un cristal con un ángulo capaz de satisfacer la ley de Bragg para
una determinada distancia entre planos atómicos d hkl. Ya que la longitud de onda de
los electrones es muy pequeña ese ángulo también lo es por lo que el haz debe
incidir prácticamente paralelo a los planos reticulares. El diagrama de difracción está
formado por los puntos de corte de los haces difractados y transmitido con el plano
de la pantalla. Representa, por tanto, la sección de la red recíproca del cristal en el
plano normal al haz de electrones.
 La posibilidad de combinar la difracción de electrones con los distintos modos
de formación de la imagen hace del microscopio de transmisión una de la mejores
herramientas en el estudio de la red cristalina y sus defectos. Se utiliza
fundamentalmente en dos campos: el de las Ciencias de Materiales en el que
analizan semiconductores, metales, aleaciones, aislantes, cerámicas, etc. y en el
campo de la Biología en el que se estudian bacterias, virus, macromoléculas, tejidos,
etc.
 1. Sección de fibras de asbesto
2. Precipitación doble de Al

3. Defectos en un semiconductor
4. Defectos reticulares

MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA

Microscopio electrónico de barido (SEM)

Principios básicos: en el microscopio electrónico de barrido se hace incidir un
delgado haz de electrones acelerados, con energías desde unos cientos de eV hasta
unas decenas de keV (50 KeV), sobre una muestra gruesa, opaca a los electrones.
Este haz se focaliza sobre la superficie de la muestra de forma que realiza un
barrido de la misma siguiendo una trayectoria de líneas paralelas.
De todas las formas de radiación resultantes de la interacción del haz
incidente y la muestra (ver fig. en la Introducción) hay dos realmente fundamentales
en el microscopio de barrido: los electrones secundarios y los electrones
retrodispersados. Los primeros son electrones de baja energía (decenas de eV) que
resultan de la emisión por parte de los átomos constituyentes de la muestra (los más
cercanos a la superficie) debido a la colisión con el haz incidente. Los electrones
retrodispersados sin embargo, son electrones del haz incidente que han
interaccionado (colisionado) con los átomos de la muestra y han sido reflejados. La
intensidad de ambas emisiones varía en función del ángulo que forma el haz
incidente con la superficie del material, es decir depende de la topografía de la
muestra.

La señal emitida por los electrones y radiación resultantes del impacto se

recoge mediante un detector y se amplifica para cada posición de la sonda. Las
variaciones en la intensidad de la señal que se producen conforme la sonda barre la
superficie de la muestra, se utilizan para variar la intensidad de la señal en un tubo
de rayos catódicos que se desplaza en sincronía con la sonda. De esta forma existe
una relación directa entre la posición del haz de electrones y la fluorescencia
producida en el tubo de rayos catódicos. El resultado es una imagen topográfica muy
ampliada de la muestra.
El aumento de la imagen producido por el microscopio de barrido resulta de la
relación entre las dimensiones de la imagen final y el área de la muestra que ha sido
barrida. Así, por ejemplo, si la sonda barre un área de 1 mm 2 de la muestra y la
imagen en la pantalla es de 100 mm 2, ésta ha sido ampliada 100 veces. Este
microscopio tiene un rango de aumentos que varía desde ´10 hasta ´200.000 con
una distancia focal de 35 mm. El poder de resolución del microscopio es
determinado directamente por el área mínima que la sonda es capaz de escanear. El
menor diámetro de la sonda con un número mínimo de electrones.
Si la muestra no es buena conductora se acostumbra a recubrirla con una
película conductora metálica o de carbono para evitar que ésta se cargue cuando
sea irradiada.
Modos de operación: si el microscopio dispone de varios sistemas de detección es
posible diferenciar entre energías electrónicas, principalmente entre la señal
producida por los electrones secundarios y la generada por los electrones
retrodispersados.
Con los electrones secundarios se obtiene una imagen de apariencia
tridimensional de la muestra:
 La intensidad de emisión de los electrones retrodispersados depende del
número atómico medio de los átomos de la muestra, así los átomos más pesados
producen mayor cantidad de electrones retrodispersados. Una imagen originada por
los electrones retrodispersados revela diferencias en la composición química por
diferencias de contraste:

El espectro de radiación X emitido por un mineral en el proceso puede ser

utilizado para hacer un microanálisis químico semicuantitativo mediante
espectrometría de dispersión de longitudes de onda. Los electrones incidentes
excitan los átomos de la muestra y provocan la emisión de rayos X cuya longitud de
onda (l) es característica de los elementos presentes en la muestra y cuya
intensidad para una determinada longitud de onda es proporcional a la
concentración relativa del elemento a esa l.
Normalmente se obtiene un análisis cualitativo de los constituyentes
mayoritarios y minoritarios de pequeñas áreas (1mm). Sin embargo, en muestras
planas y bien pulidas es posible hacer análisis cuantitativos al comparar la
intensidad de los rayos X a cualquier l con la producida en una muestra estándar
(patrón) de composición conocida. La precisión de un análisis cuantitativo
normalmente es mayor del ± 2% y los límites de detección están alrededor de las
100 ppm en análisis rutinarios, llegando a ser de 10 ppm en circunstancias
excepcionales.

Es preciso hacer una corrección (ZAF) en función de tres factores: número

atómico (Z), absorción (A) y fluorescencia (F) antes de extraer los resultados
cuantitativos.
En geología se usa habitualmente en micropaleontología, diagénesis y
determinación de texturas (en granos), y mineralogía.

Microsonda electrónica

Principios básicos: En los análisis de microsonda electrónica, el bombardeo de

electrones sobre la muestra genera de rayos X que son exhaustivamente
analizados. Así, con la longitud de onda o la intensidad de las líneas en el espectro
de rayos X, los elementos presentes pueden ser identificados y sus concentraciones
estimadas. El uso de un haz de electrones muy finamente focalizado consigue
seleccionar un área muy pequeña para ser analizada.
Los análisis cualitativos (identifican los elementos presentes) suponen la
grabación del espectro mediante un espectrómetro de rayos X, por encima del rango
de longitudes de onda o energías dentro de las cuales las líneas relevantes pueden
estar presentes. Las líneas son identificables por referencia a las tablas.
En los análisis cuantitativos, las intensidades de las líneas de rayos X del
espécimen son comparadas con aquellas originadas por estándares de composición
conocida. Las intensidades medidas requieren ciertas correcciones instrumentales,
incluyendo la eliminación del fondo, de la que es origen principalmente el "espectro
continuo" (fotones emitidos por electrones decelerados en colisiones con átomos).
La composición en el punto analizado es calculada a partir de las intensidades,
corregidas por la "matriz de correcciones", que tiene en cuenta los diferentes
factores que gobiernan la relación entre intensidad y composición. Esto es lo que se
aplica comúnmente en forma de correcciones ZAF (con factores de corrección
separados dependientes del número atómico, de la absorción y de la fluorescencia.
Modos de operación: Los electrones incidentes normalmente tienen una energía
cinética de 10-30 KeV (un eV es la energía asociada con un cambio de 1 voltio en el
potencial de un electrón), y penetra la muestra a una profundidad del orden de 1 µm,
extendiéndose lateralmente a una distancia similar. Esto impone un límite inferior
para el volumen analizado y por tanto para la resolución espacial. La mejora de la
resolución mediante la reducción de la energía del electrón es generalmente
impracticable ya que éstos deben poseer suficiente energía para conseguir una
excitación eficiente de rayos X.
En los análisis de microsonda, el espectro de rayos X es grabado con un
espectrómetro de dispersión de longitudes de onda (wavelength-dispersive
spectrometers, WDS), o de dispersión de energía (energy-dispersive spectrometers,
EDS). El primero utiliza un cristal difractor que actúa como un monocromador,
seleccionando una longitud de onda cada vez, dependiendo del ángulo de incidencia
de los rayos X. Muchos instrumentos tienen dos o más espectrómetros con cristales
que cubren diferentes rangos de longitudes de onda. Los espectrómetros de energía
dispersiva emplean detectores complementarios de rayos X en estado sólido y para
algunos objetivos han reemplazado a los WDS. Los EDS graban el espectro
completo simultáneamente, se analiza la altura del pulso electrónico para tipos de
pulsos producidos en el detector de acuerdo con la energía de los rayos X.
La platina portadora de muestras aloja normalmente varias muestras y
estándares. Las muestras son siempre redondas o rectangulares con dimensiones
típicas del orden de 2 o 3 cm. Los patrones pueden ser montados individualmente o
agrupados en soportes de tamaño normalizado. Se requiere que la muestras sean
gruesas y estén pulidas, y que sean situadas en un sitio plano. Lo normal es fijar el
foco del microscopio óptico acoplado y usar un fino ajuste de la platina en la
dirección z para enfocar. Esto asegura que la posición de la fuente de rayos X es
constante, lo cual es especialmente importante para espectrómetros de dispersión
de longitudes de onda. En la actualidad, mediante ordenadores se controla la
posición x e y, y los movimientos en z. Esto posibilita el análisis de un gran número
de puntos sin intervención del operador, usando coordenadas previamente
almacenadas.

Microsonda electrónica versus microscopio electrónico de barrido: la

microsonda electrónica posee muchas características comunes con el microscopio
de barrido. La diferencia fundamental es que en el microscopio de barrido tienen
prioridad la adquisición de imágenes topográficas de gran resolución sobre el
microanálisis mientras que en la microsonda ocurre todo lo contrario. Normalmente
las microsondas electrónicas poseen más de dos espectrómetros de rayos-X y un
control preciso de los movimientos para localizar las coordenadas concretas de
puntos previamente almacenados. Las muestras, planas y perfectamente pulidas, se
disponen siempre perpendiculares al haz incidente. Todo ello hace que con la
microsonda electrónica se consigan análisis cuantitativos más precisos que con la
microscopía electrónica de barrido con un espectrómetro de rayos X.