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Resistividad de Terreno PDF
Resistividad de Terreno PDF
Unidad II
RESISTIVIDAD DEL
TERRENO
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Contenido
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Resumen
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DistriLuz
RESISTIVIDADES TÍPICAS
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Naturalezadelterreno resistividad
Ohmios-m
Terreno pantanoso Hasta 30
Limo 20 a 100
Humos 10 a 150
Turba Húmeda 5 a 100
Arcilla Plástica 50
Margas y arcillas compactas 100 a 200
Margas de jurásico 30 a 40
Arena arcillosa 50 a 500
Arena silícea 200 a 3000
Suelo pedregoso cubierto de césped 300 a 500
Suelo pedregoso desnudo 1500 a 3000
Caliza blanda 100 a 300
Caliza compacta 1000 a 5000
Caliza agrietada 500 a 1000
Pizarra 50 a 300
Rocas de mica y cuarzo 800
Granito y gres procedentes de alteración 1500 a 10000
Granito y gres muy alterados 100 a 600
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Influencia en el comportamiento
eléctrico del suelo.
• La tierra representa generalmente un
mal conductor (gran contenido de oxido
de silicio y óxido de aluminio que son
altamente resistivos) pero gracias al
amplio volumen disponible, se puede
lograr a través de ella los niveles
conductivos necesarios para su
utilización auxiliar.
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Tipodesuelooag Valortípicode
Los suelos son buenos, ua Resistividad
regulares o malos (-m)
conductores de la Aguademar 2
electricidad en función de su
naturaleza. El análisis y Arcilla 40
conocimiento de esta
naturaleza es el primer paso Aguassubterráneas 50
para la instalación adecuada
Arena 2000
del sistema de puesta a
tierra. Granito 25000
Hielo 100000
La humedad
La resistividad que presenta un terreno
esta en relación directa a los porcentajes de
humedad contenida en él; es decir, depende de
su estado hidrométrico, al aumentar la
humedad disminuye la resistividad y al
disminuir la humedad aumenta la resistividad.
En todo caso siempre que se añade agua a un
terreno disminuye su resistividad respecto al
que tendría en seco.
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% Humedad
15% lsayas@softhome.net
DistriLuz
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La Temperatura
Rho (Ohm -m)
hielo
agua
Temp. ( ° C )
-20 -10 4 10 50 90 100
0°C lsayas@softhome.net
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Concentración De Sales
Rho (Ohm -m)
% de Sal
2%
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Infuencia de la compactación
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% Humedad
W1
W2
W3
Compactación
2%
Influencia De La
Estratificación
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Influencia De La
Estratificación
1 2
1
2
I I
1 2
1 2
I
I
DistriLuz
OTROS FACTORES
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DistriLuz
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MEDICIÓN DE LA
RESISTIVIDAD
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Un estrato superficial
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Un estrato subyacente
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SUPERFICIEDELSUELO
ESTRATO
SUPERFICIAL
TIERRA LIMOSA h1
O ARENOSA
CONGLOMERADO
ESTRATO
2 TIERRA FINA
PIEDRA MENUDA
SUBYACENTE Y GRUESA
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Finalidad de la medición de la
resistividad.
• Obtener la resistividad de cada estrato
o capa.
• Encontrar la profundidad de los estratos
o capa.
• Ubicación óptima de las instalaciones
de puesta a tierra.
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En la Fig. se puede 1 1 2
observar el flujo de
2
I I
dispersión de la corriente h
en un terreno de dos
estratos en la que se
indica los espesores que 1 2
1
I
2
respectiva resistividad.
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Componentes del
instrumento
• Fuente de potencia
• Dispositivos para eliminar corrientes
electrolíticas y de inducción.
• Sistema de medida
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Fuente de potencia
• Recomendable alterna o alterna pulsante,
capaz de vencer la resistencia propia del
circuito y del terreno, tensión entre 50 y 500
V. a una frecuencia diferente de 60 Hz.,
ejemplo 111Hz.
• Debido a la probabilidad de electrólisis no es
recomendable fuente de tensión continua.
• En el caso de instrumentos a batería deberá
disponer de rectificador estático DC/AC.
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Sistema de medida
Básicamente se conocen tres sistemas de medida:
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Ensayos tipos
Certificaciones de los siguientes ensayos tipos
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CONSIDERACIONES PARA LA
MEDICIÓN
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Precauciones para la
medición
Las mediciones deben efectuarse en épocas apropiadas en la sierra en estiaje
y en la costa en verano.
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Métodos de medida de la
resistividad
• Por el tipo de fuente:
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Métodos de medición de resistividad
• Método de Lee
• Método de Schlumberger-Palme
• Método de Frank Wenner (1915)
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Recomendación práctica
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2 V
I 1・
・・ ・・ ・
1 r4 ・ ・
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Configuración de Wenner
Para esta
configuración, los
cuatro electrodos
se colocan en
una línea recta,
con igual
separación y
profundidad de
penetración en el
terreno.
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C–P–P–
C 1=2 a R1
P–C–C–P
C–C–P–P 2=6 a R2
P–P–C–C
C–P–C–P 3=3 a R3
P–C–P-C
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I -I
V
a=20L a=20L a=20L
L
c1 p1 p2 c2
a 2 a R m
a: Separación entre electrodos de exploración.
L: Profundidad de enterramiento del electrodo de referencia.
a:Resistividad aparente.
R=V/A resistencia medida.
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Medición de parámetros
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a 2 a R m
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Configuración de Schlumberger
Para esta configuración los
cuatro electrodos se colocan también en
línea recta, manteniendo la separación
entre electrodos centrales o de
potencial (a) constante; mientras que
los electrodos exteriores varían su
separación a partir de los electrodos
interiores, a distancias múltiplos (na) de I
la separación base de los electrodos V
centrales (a). CPPC
La ecuación fundamental para este caso
1122
naana
es:
asch = R.n(n+1) a
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RECOMENDACIÓN
PRÁCTICA
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Parámetros de Diseño –
Medida Indirecta.
Considerando idénticas restricciones de
espacio útil, se puede aplicar la medida
de la resistencia de dispersión (R) de un
electrodo
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de diseño en valor
ESTRATO SUAVE
equivalente. Esta 1m
PENETRACIONFACIL
alternativa muchas
veces no se posibilita
por la dificultad del ESTRATO DURO
PENETRACIONDIFICIL
clavado.
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i = 1,10 Ri
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Despliegue de medidas
indirectas
Procedimiento y Ejemplo
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• Suelo homogéneo
El valor de la resistividad aparente medida para cualquier separación entre
los electrodos se va a mantener constante y coincide con el valor de la
resistividad del suelo.
1 a = Suelo homogéneo
1
2
2 > 1
Punto de inflexión
<
3 2 1
2
1
a (m)
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INTERPRETACIÓN DE RESULTADOS
a a
2 1
2 1 1 2
1 2
a a
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INTERPRETACIÓN DE RESULTADOS
• Suelo estratificado de tres capas
En el modelo de tres capas, existen cuatro tipos posibles de combinaciones
donde se puede observar que las curvas correspondientes a este modelo
poseen puntos de inflexión. En general, una curva de n capas puede tener
2(n-1) tipos de combinaciones y (n – 1) puntos de inflexión.
a a
1
1
1 2 3 1 2 3
a (b) a
(a)
a a
1 2 3
1 1 2 3
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(c) a
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INTERPRETACIÓN MEDIANTE
CURVAS PATRÓN
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INTERPRETACIÓN MEDIANTE
CURVAS PATRÓN
Consiste en comparar los gráficos obtenidos en las
mediciones de campo con curvas patrón. En la práctica,
existen curvas patrón para las configuraciones de Wenner y
Schlumberger, siendo más utilizadas las primeras, cuya
familia de curvas ha sido obtenida a partir de la ecuación de
Tagg.
A :RESISTIVIDAD APARENTE, DETERMINADA
POR EL MÉTODO
DE W ENNER (OHMIOS – METRO)
1 :RESISTIVIDAD DE LA PRIMERA CAPA
Ecuación deTagg (OHMIOS – METRO)
2 :RESISTIVIDAD DE LA SEGUNDA CAPA
・ ・ (OHMIOS – METRO)
n00・ ・ H :PROFUNDIDAD DE LA PRIMERA CAPA
a ・ Kn Kn ・ (METROS)
14 ・ 2 ・ A :ESPACIAMIENTO ENTRE ELECTRODOS
1
2
n1 ・ ・ 2nH ・ ・ 2nH ・ ・ USADO EN EL MÉTODO
1・ ・ 4・ ・ de W enner (metros)
・ ・・ A ・ ・ A ・ ・・
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K : Factor de reflexión K
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Ploteo de datos obtenidos
Grafico de campo
a(m) 1 2 4 8 12
a(m) 1 2 4 8 12
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Procedimiento:
1=3600 -m
h1=3,0 m
K= 2/ 1=1/12
2=3600/12=300-m
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Curvas patrón
resistividad Vs.
distancia de
separación
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Resultados de
mediciones de
resistividad en
subestaciones y
torres de AT
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