Ejemplo DMAIC 6sigma

6
Proyecto 6 Sigma
Cajuela CD 338
(Altura en Z)
Definicin del proyecto
Descripcin del proceso

El proceso de ensamble de cajuela consta de 2 maquinas circulares y una prensa las cuales las maquinas circulares pre-ensamblan el
producto y la prensa forma en su totalidad el ensamble completo del producto
Donde:
MG-2582-1 Realiza el ensamble de Buje y parte 1 y 2
MG-2582-2 Realiza el embujado y remachado parte carrocera
MG-0051: Ensamble final de la cajuela
MG-051/1
MG-2582-1
MG-2582-2
5 PERSONAS / TURNO

Descripcin del proceso
La descripcin de cada maquina esta compuesta de la siguiente manera:

MG-2582-1 Ensamble del buje en parte 1 y parte 2, es operada por 1 persona y tiene una capacidad de 225 pz/hr al
100% de eficiencia; es una maquina de plato circular con 6 nidos ( fases ) para el proceso
MG-2582-2 Coloca buje y ensambla parte carrocera as como la colocacin en forma manual del tope amortiguador
y guardapolvo; tiene una capacidad de 287 pz/hr al 100% de eficiencia y es operada por 1 persona; es una maquina
de plato circular con 6 nidos ( fases ) para el proceso
MG-051/1 Realiza el ensamble final de la cajuela con una capacidad de 190 pz/hr al 100% de eficiencia con 1
persona operndola; es una prensa en la cual se colocan todos los sub ensambles y con una fuerza de Realiza el
remachado final logrando as el ensamble final
MAPEO PROCESO
ENSAMBLE DE BUJE EN
PARTE 1
INSPECCION RECIBO
ENSAMBLE DE TOPE Y
PERNO ESFERICO EN
PARTE CAJUELA
INSPECCION RECIBO
ENSAMBLE DE BUJE EN
PARTE 2
INSPECCION RECIBO
ENSAMBLE DE
GUARDAPOLVO EN
PARTE CARROCERIA
INSPECCION RECIBO
ENSAMBLE FINAL DE
BISAGRA CAJUELA
INSPECCION DE ALTURA
Z EN GAGE
ENSAMBLE DE BUJE Y
PERNO ESFERICO EN
PARTE CARROCERIA
CLIENTE
INSPECCION RECIBO

Descripcin de la pieza
# parte Cliente: 7E53- 5442700/1-AA

# Parte EDSCHA: 06180659003/413
Parte carrocera
Perno escalonado
Perno esfrico
Buje
Parte 1
Parte 2
Arandela
Tope amortiguador
Parte cajuela

Crticos de calidad
Las caractersticas criticas del cliente son:

Caracterstica
1. Altura en eje Z del slot parte
carrocera
Especificacin
47.78 +/- 1 mm
Forma de medicin
Gage LV00046-MEX
LV618059-2
47.78 1 mm
Definicin del problema

PARETO DE DEFECTIVO ENERO-FEBRERO 2007
PPM 10,384
Definicin del problema
6485
DEFECTO
SEM 1
Altura z baja
3701
Altura z alta
1542
No localiza perno en gage 1388
Cajuela floja pernos
5860
Con mov. Axial
16037
PRODUCC.
9535
SEM 2
5663
6922
1783
5873
105
10164
SEM 3
29024
21350
4919
2066
2656
11483
SEM 4
9144
23948
1655
3135
1568
11441
SEM 5
5944
24124
3671
3758
87
6362
SEM 6
62873
11003
36781
4244
2515
8747
SEM 7
8003
2515
1486
1143
457
El no cumplimiento con los requerimientos del cliente que especifican una altura en el eje Z de 47.78 +/- 1 mm. Y que
obliga a la lnea a realizar retrabajos que afectan a al productividad del proceso y a si ves afectan a lograr las metas de
calidad y entregas al cliente.
Definicin de salidas (Y) y entradas (X) al sistema

La salida del sistema (Y) ser el cumplimiento de los embarques al cliente cumpliendo las especificaciones requeridas en
base a los indicadores:
Y1. Altura en eje Z

Las entradas posibles (X) que causan el no cumplimiento de Y son:
X1. Dimetro de embujado parte Carrocera
X2. Espesor de embujado parte Carrocera
X3. Dimetro de embujado parte 1
X4. Espesor de embujado parte 1
X7. Altura de hombro de perno escalonado
X8. Ancho de hombro de perno escalonado
Objetivo del proyecto

Cumplir con la especificacin del cliente en altura en eje Z sin necesidad de retrabajar o reinspeccionar ( GP12) asegurando la calidad y las entregas a tiempo.
Definicin EAT ( Equipo de Apoyo Tcnico)

rea
Produccin
Nombre
J. Zamarrn
Gerente de produccin
H. Nabor
Ingeniero de manufactura
C. A. Morales
Ingeniero de manufactura
A. Soto
Supervisor de produccin
Mantenimiento
D. Rodrguez
Calidad
A. Rodrguez
E. Salazar
G. Ruiz
Ingeniera
A. Rodrguez
Puesto
J. Noyola
Gerente de mantenimiento
Gerente de Calidad
Ingeniero de Calidad
Metrlogo
Gerente IPP
Ing. Ind. - Green, Belt
Medicin del proyecto
Definicin de Variables
La salida del sistema (Y) ser el cumplimiento de la especificacin que marca el dibujo en altura en el eje Z (47.78 +/- 1
mm.)
Variables continuas
Y1 Altura en Z
X1. Dimetro de embujado parte Carrocera
X2. Espesor de embujado parte Carrocera
X9. Distancia entre centros parte Carrocera
X10. Distancia entre centros parte 2
X11. Grado de deformacin parte 1 (0 5)

Y1. Altura en Z (Capacidad del sistema sin necesidad de retrabajo)
Analisis de Altura en Z
LSL
USL
P rocess D ata
LS L
-1.00000
Target
*
USL
1.00000
S ample M ean
-1.27810
S ample N
100
S tD ev (Within)
0.58505
S tD ev (O v erall)
0.56509
Within
Ov erall
P otential (Within) C apability
Cp
0.66
C PL
-0.18
C PU
1.51
C pk
-0.18
C C pk 0.66
O v erall C apability
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
-2.25
O bserv ed P erformance
P P M < LS L
910000.00
PPM > USL
40000.00
P P M Total
950000.00
E xp.
PPM
PPM
PPM
-1.50
Within P erformance
< LS L 682728.21
> USL
49.34
Total
682777.55
-0.75
0.00
0.75
E xp. O v erall P erformance

P P M < LS L 688686.99
PPM > USL
27.73
P P M Total
688714.72
1.50
0.69
-0.19
1.57
-0.19
*

Y1. Altura en Z (Lnea Base)
Summary for Altura en Z 1a prueba
Report 2: Process Capability for Altura en Z 1a prueba

Xbar and S C har t
A nderson-D arling N ormality Test

A -S quared
P -V alue <
-1.5
-1.0
-0.5
0.0
0.5
1.0
1.5
25.98
0.005
M ean
S tDev
V ariance
S kew ness
Kurtosis
N
-1.2781
0.5637
0.3177
4.0112
15.6872
100
-1.2
M inimum
1st Q uartile
M edian
3rd Q uartile
M aximum
-1.7300
-1.4600
-1.4400
-1.4100
1.4700
1.0
95% C onfidence Interv al for M ean

-1.3899
-1.4400
0.4949
Mean
-1.8
LCL=-2.063
2
-1.40
-1.35
-1.30
-1.25
-1.20
-1.15
12
14
16
18
20
_
S=0.550
0.5
0.0
LCL=0
2
10
12
Subgroup
P otential ( ST ) C apability
0.6548
P rocess Tolerance
-1.75516
14
16
18
20
A ctual (LT ) C apability

P rocess Tolerance
1.75516
S pecifications
-1.45
10
UCL=1.149
-1
Median
M ean
S tDev
Z.U S L
Z.LS L
Z.Bench
Z.S hift
P .U S L
P .LS L
P .Total
Yield
DPMO
Cp
C pk
C C pk
Pp
P pk
-1.4200
95% C onfidence Interv al for S tDev
95% Confidence Intervals
_
_
X=-1.278
-1.1663
95% C onfidence Interv al for M edian
C apability Indices
UCL=-0.493
-0.6
-2.97338
0.417177
-1
S pecifications
Data S ource:
Time S pan:
Data Trace:
ST
LT
0
0.585
1.71
1.71
1.36
1.85
0.0437026
0.0437026
0.0874053
91.26
87405.3
0.57
-0.16
0.57
*
*
-1.2781
0.565
4.03
-0.49
-0.49
1.85
0.0000277
0.688687
0.688715
31.13
688714.7
*
*
*
0.59
-0.16

Y1. Altura en Z ( Lnea Base )
POBRE
Report 1: Executive Summary

USL
-0.75
-1.50
1.50
0.75
0.00
P otential (S T)
A ctual (LT)
Date:
Reported by :
P roject:
Department:
P rocess:
C haracteristic:
U nits:
U pper S pec:
Low er S pec:
N ominal:
O pportunity :
1000000
10000
100
1
26/03/07
J. N oy ola
A ltura Z C D-338
P roduccion
C ajuela C D 338
A ltura en Z
Pz
1
-1
Process Benchmarks
S igma
(Z.Bench)
DP M O
10
12
14
16
18
20
Nuestro proceso tiene:

Z shifth= 1.35
Z st= 1.36
Por lo tanto estamos en la categora C
A ctual (LT)
P otential (S T)
-0.49
1.36
2.0
Zshift
CONTROL
LS L
-2.25
2.5
Process Demographics
Process Performance
87405.3
1.5
1.0
0.5
BUENA
POBRE
688714.7
Zst
5 6
BUENA
TECNOLOGIA
A: Control pobre tecnologa inadecuada
B: Se debe controlar mejor el proceso, la tecnologa es inaceptable.
C: Buen control del proceso, tecnologa inadecuada
D: Clase mundial

X1. Dimetro de embujado parte Carrocera (Capacidad del sistema sin necesidad de retrabajo)
Analisis de proceso de enbujado parte carroceria (10.45 - 10.60)
LSL
USL
P rocess D ata
LS L
10.45000
Target
*
USL
10.60000
S ample M ean
10.44844
S ample N
45
S tD ev (Within)
0.06026
S tD ev (O v erall)
0.05807
Within
Ov erall
Cp
0.48
C PL
-0.01
C PU
0.98
C pk
-0.01
C C pk 0.48
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
10.35 10.40 10.45 10.50 10.55 10.60 10.65

P P M < LS L
644444.44
PPM > USL
22222.22
P P M Total
666666.67
E xp.
PPM
PPM
PPM
Within P erformance
< LS L
510296.59
> USL
5953.58
Total
516250.17

P P M < LS L 510684.73
PPM > USL
4530.98
P P M Total
515215.71
0.50
-0.01
1.01
-0.01
*
X1. Dimetro de embujado parte Carrocera (Lnea Base)

Summary for Diametro Parte carroseria
Report 2: Process Capability for Diametro Parte carroseria

I and M R C har t
10.35
10.40
10.45
10.50
10.55
10.60
A -S quared
P -V alue <
1.74
0.005
10.7
M ean
S tDev
V ariance
S kew ness
Kurtosis
N
10.448
0.058
0.003
1.59028
4.35508
45
10.5
M inimum
1st Q uartile
M edian
3rd Q uartile
M aximum
10.65
10.345
10.420
10.435
10.470
10.670
_
X=10.4484
10.3
LCL=10.2706
4
16
20
24
28
32
LCL=0
4
12
16
20
24
28
Observation
32
40
P rocess Tolerance
10.2742
0.073
10.6227
10.6
10.45
S pecifications
S pecifications
10.47
I-MR Chart of Proceso de enbujado parte carroseia
Individual V alue
10.7
10.6
U B=10.6
_
X=10.525
10.5
LB=10.45
10.4
1
10.3
4
12
M oving Range
16
0.24
20
24
O bser vation
28
32
36
40
44
U C L=0.2185
0.18
0.12
__
M R=0.0669
0.06
0.00
LC L=0
4
12
44
P rocess Tolerance
Median
10.46
36
M ean
S tDev
Z.U S L
Z.LS L
Z.Bench
Z.S hift
P .U S L
P .LS L
P .Total
Yield
DPMO
Cp
C pk
C C pk
Pp
P pk
10.445
0.048
10.45
44
0.0
10.45
10.44
40
__
MR=0.0669
Mean
10.43
36
UCL=0.2185
10.466
10.425
10.42
12
0.1
0.2

10.431
C apability Indices
UCL=10.6263
16
20
24
O bser vation
28
32
36
40
44
10.6
Data S ource:
Time S pan:
Data Trace:
ST
LT
10.525
*
*
*
1.46
1.50
*
*
0.0718911
92.81
71891.1
*
*
*
*
*
10.4484
0.058
2.61
-0.03
-0.04
1.50
0.0045310
0.510685
0.515216
48.48
515215.7
*
*
*
0.43
-0.01

X1. Dimetro de embujado parte Carrocera ( Lnea Base )
POBRE

USL
10.40
10.50
10.45
10.55
10.60
D ate:
Reported by :
P roject:
D epartment:
P rocess:
C haracteristic:
U nits:
U pper S pec:
Low er S pec:
N ominal:
O pportunity :
10.65
A ctual (LT)
26/03/07
J. N oy ola
A ltura Z C ajuela C D 338
P roduccion
C ajuela C D 338
Diametro de E nbujado
C ajuela
10.6
10.45
1000000
Process Benchmarks
100000
10000
1000
S igma
(Z.Bench)
100
A ctual (LT)
P otential (S T)
-0.04
1.46
DP M O
1
10
15
20
25
30
35
40
45

Z shifth= 1.50
Z st= 1.46
Zshift
515215.7
71891.1
1.5
1.0
0.5
BUENA
POBRE
10
1
2.0
CONTROL
LS L
10.35
2.5
Process Performance
Zst
5 6
BUENA
TECNOLOGIA
D: Clase mundial

X2. Espesor de embujado parte Carrocera (Capacidad del sistema sin necesidad de retrabajo)
Analisis de parte carroseria Espesor (5.8 - 6.1)
LSL
USL
P rocess D ata
LS L
5.80000
Target
*
USL
6.10000
S ample M ean
5.92444
S ample N
45
S tD ev (Within)
0.04672
S tD ev (O v erall) 0.04616
Within
Ov erall
Cp
1.25
C PL
1.03
C PU
1.46
C pk
1.03
C C pk 1.25
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
5.80
P P M < LS L 0.00
P P M > U S L 0.00
P P M Total
0.00
5.85
5.90
E xp. Within P erformance

P P M < LS L 3862.13
PPM > USL
85.64
P P M Total
3947.77
5.95
6.00
6.05

P P M < LS L 3512.24
PPM > USL
71.52
P P M Total
3583.76
6.10
1.26
1.05
1.48
1.05
*
X2. Espesor de embujado parte Carrocera (Lnea Base)

I-MR Chart of Espesor parte carroseria
Report 2: Process Capability for Espesor parte carroseria

I and M R C har t
Individual V alue
U C L=6.0818
C apability Indices
UCL=6.0562
6.05
6.0
_
X=5.9244
6.00
5.9
_
X=5.95
5.95
5.8
5.90
LCL=5.7927
4
12
16
20
24
28
32
36
40
44
0.2
5.85
UCL=0.1619
LC L=5.8182
4
12
16
20
24
O bser vation
28
32
40
44
0.1
__
MR=0.0495
0.0
0.20
M oving Range
36
LCL=0
12
16
20
24
28
Observation
U C L=0.1619
0.15
0.10
32
5.8
LC L=0
4
12
16
20
24
O bser vation
28
32
36
40
6.1
S pecifications
6.06294
5.8
6.1
S pecifications
44
Summary for Espesor parte carroseria

5.85
5.90
5.95
A -S quared
P -V alue
0.36
0.438
M ean
S tD ev
V ariance
S kew ness
Kurtosis
N
5.9244
0.0459
0.0021
0.068830
-0.404676
45
M inimum
1st Q uartile
M edian
3rd Q uartile
M aximum
6.00
5.8200
5.8900
5.9200
5.9650
6.0200

5.9107
5.9382

5.9100
0.0380
Mean
Median
5.910
5.915
5.920
5.925
5.930
5.9346
5.935
5.940
44
P rocess Tolerance
5.78595
__
M R=0.0495
0.00
40
P rocess Tolerance
0.05
36
M ean
S tDev
Z.U S L
Z.LS L
Z.Bench
Z.S hift
P .U S L
P .LS L
P .Total
Yield
DPMO
Cp
C pk
C C pk
Pp
P pk
0.0580
Data S ource:
Time S pan:
Data Trace:
ST
LT
5.95
*
*
*
4.19
1.50
*
*
0.0000140
100.00
14.0
*
*
*
*
*
5.92444
0.046
3.80
2.70
2.69
1.50
0.0000715
0.0035122
0.0035838
99.64
3583.8
*
*
*
1.08
0.90

X2. Espesor de embujado parte Carrocera ( Lnea Base )
Process Performance
POBRE
2.5
USL
5.80
5.85
5.90
5.95
6.00
6.05
6.10
A ctual (LT)
D ate:
Reported by :
P roject:
D epartment:
P rocess:
C haracteristic:
U nits:
U pper S pec:
Low er S pec:
N ominal:
O pportunity :
1000000
10000
100
1
26/03/07
J. N oy ola
A ltura Z C ajuela C D 338
P roduccion
C ajuela C D 338
E spesor de E nbujado
C ajuela
6.1
5.8
Process Benchmarks
S igma
(Z.Bench)
A ctual (LT)
P otential (S T)
2.69
4.19
2.0
Zshift
CONTROL
LS L
1.0
10
15
20
25
30
35
40
45

Z shifth= 1.50
Z st= 4.19
14.0
0.5
BUENA
3583.8
1.5
POBRE
DP M O
Zst
5 6
BUENA
TECNOLOGIA
D: Clase mundial

X3. Dimetro de embujado parte 1 (Capacidad del sistema sin necesidad de retrabajo)
Analisis de Diametro Parte 1 ( 10.45 - 10.60 )
LSL
USL
P rocess D ata
LS L
10.45000
Target
*
USL
10.60000
S ample M ean
10.49520
S ample N
50
S tD ev (Within)
0.04087
S tD ev (O v erall)
0.06123
Within
Ov erall
Cp
0.71
C PL
0.43
C PU
1.00
C pk
0.43
C C pk 0.71
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
10.32
P P M < LS L
200000.00
PPM > USL
20000.00
P P M Total
220000.00
E xp.
PPM
PPM
PPM
10.40
Within P erformance
< LS L
134403.34
> USL
5174.80
Total
139578.14
10.48
10.56

P P M < LS L 230200.32
PPM > USL
43489.88
P P M Total
273690.19
10.64
0.48
0.29
0.66
0.29
*
X3. Dimetro de embujado parte 1 (Lnea Base)
Report 2: Process Capability for Espesor Parte 1
I-MR Chart of Diametro Parte 1
Xbar and S C har t
Individual V alue
10.6
10.5
6.15
_
X=10.525
6.00
LB=10.45
5.85
C apability Indices
UCL=6.1089
_
_
X=5.9412
LCL=5.7735
10.4
10
0.16
15
20
25
30
O bser vation
35
40
45
50
10
_
S=0.1175
0.0
LCL=0
1
5
6
Subgroup
U C L=0.1240
0.12
0.08
0.04
__
M R=0.0380
0.00
LC L=0
15
20
25
30
O bser vation
35
40
45
5.57511
5.57227
6.1
6.31013
5.8
S pecifications
50
10.40
10.48
A -S quared
P -V alue <
1.29
0.005
M ean
S tD ev
V ariance
S kew ness
Kurtosis
N
10.495
0.061
0.004
-0.948180
0.798194
50
M inimum
1st Q uartile
M edian
3rd Q uartile
M aximum
10.56
10.320
10.460
10.515
10.540
10.610

10.478
10.513

10.480
0.051
Mean
Median
10.48
10.49
10.50
10.51
10.523
10.52
10.53
6.1
S pecifications
Summary for Diametro Parte 1
10.32
10
M ean
S tDev
Z.U S L
Z.LS L
Z.Bench
Z.S hift
P .U S L
P .LS L
P .Total
Yield
DPMO
Cp
C pk
C C pk
Pp
P pk
P rocess Tolerance
6.32489
5.8
P rocess Tolerance
10
0.1
0.2
UCL=0.2454
10.3
M oving Range
U B=10.6
0.076
Data S ource:
Time S pan:
Data Trace:
ST
LT
5.95
0.125
1.20
1.20
0.74
-0.02
0.115002
0.115002
0.230005
77.00
230004.6
0.40
0.38
0.40
*
*
5.9412
0.123
1.29
1.15
0.76
-0.02
0.0983012
0.125448
0.223749
77.63
223749.0
*
*
*
0.41
0.38

X3. Dimetro de embujado parte 1 ( Lnea Base )
Process Performance
5.60
2.5
USL
5.76
5.92
6.08
A ctual (LT)
Date:
Reported by :
P roject:
Department:
P rocess:
C haracteristic:
U nits:
U pper S pec:
Low er S pec:
N ominal:
O pportunity :
6.24
P otential (S T)
26/03/07
J.N oy ola
A ltura Z C D 338
P roduccion
C ajuela C D 338
A ltura en Z
C ajuela
6.1
5.8
2.0
Zshift
CONTROL
LS L
POBRE
Process Benchmarks
10000
1000
S igma
(Z.Bench)
100
1.0
DP M O
1
1
10

Z shifth= 0.90
Z st= 0.74
0.5
A ctual (LT)
P otential (S T)
0.76
0.74
BUENA
223749.0
230004.6
POBRE
10
1.5
1000000
100000
Zst
5 6
BUENA
TECNOLOGIA
D: Clase mundial

X4. Espesor de embujado parte 1 (Capacidad del sistema sin necesidad de retrabajo)
Analisis de espesor Parte 1 ( 5.8 - 6.1 )
LSL
USL
P rocess D ata
LS L
5.80000
Target
*
USL
6.10000
S ample M ean
5.94120
S ample N
50
S tD ev (Within)
0.12496
Within
Ov erall
Cp
0.47
C PL
0.44
C PU
0.49
C pk
0.44
C C pk 0.47
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
5.60
P P M < LS L
40000.00
P P M > U S L 120000.00
P P M Total
160000.00
E xp.
PPM
PPM
PPM
5.76
Within P erformance
< LS L
129253.55
> U S L 101905.69
Total
231159.24
5.92
6.08

P P M < LS L 125447.80
PPM > USL
98301.17
P P M Total
223748.97
6.24
0.47
0.45
0.50
0.45
*
X4. Espesor de embujado parte 1 (Lnea Base)
I-MR Chart of Espesor Parte 1
Xbar and S C har t
Individual V alue
6.25
C apability Indices
6.15
UCL=6.1089
U B=6.1
6.00
_
X=5.95
6.00
5.85
LB=5.8
5.75
_
_
X=5.9412
LCL=5.7735
1
10
UCL=0.2454
5.50
0.2
15
20
25
30
O bser vation
35
40
45
50
_
S=0.1175
0.1
0.0
0.8
M oving Range
10
LCL=0
1
0.6
U C L=0.5361
5
6
Subgroup
0.4
__
M R=0.1641
0.0
LC L=0
5
10
15
20
25
30
O bser vation
35
40
45
5.57511
10
P rocess Tolerance
6.32489
5.8
P rocess Tolerance
0.2
5.57227
6.1
6.31013
5.8
S pecifications
6.1
S pecifications
50
Summary for Espesor Parte 1

5.60
5.76
5.92
6.08
A -S quared
P -V alue <
1.29
0.005
M ean
S tD ev
V ariance
S kew ness
Kurtosis
N
5.9412
0.1224
0.0150
-0.31290
2.06973
50
M inimum
1st Q uartile
M edian
3rd Q uartile
M aximum
6.24
5.5100
5.8800
5.9150
6.0375
6.2200

5.9064
5.9760

5.9000
0.1022
Mean
Median
5.90
5.92
5.94
5.9433
5.96
5.98
M ean
S tDev
Z.U S L
Z.LS L
Z.Bench
Z.S hift
P .U S L
P .LS L
P .Total
Yield
DPMO
Cp
C pk
C C pk
Pp
P pk
0.1525
Data S ource:
Time S pan:
Data Trace:
ST
LT
5.95
0.125
1.20
1.20
0.74
-0.02
0.115002
0.115002
0.230005
77.00
230004.6
0.40
0.38
0.40
*
*
5.9412
0.123
1.29
1.15
0.76
-0.02
0.0983012
0.125448
0.223749
77.63
223749.0
*
*
*
0.41
0.38

X4. Espesor de embujado parte 1 ( Lnea Base )
Process Performance
10.40
2.5
USL
10.48
10.56
A ctual (LT)
10.64
P otential (S T)
D ate:
Reported by :
P roject:
D epartment:
P rocess:
C haracteristic:
U nits:
U pper S pec:
Low er S pec:
N ominal:
O pportunity :
26/03/07
J.N oy ola
A ltura Z C D 338
P roduccion
C ajuela C D 338
D iametro de enbujado
C ajuela
10.6
10.45
2.0
Zshift
CONTROL
LS L
10.32
POBRE
Process Benchmarks
10000
1000
S igma
(Z.Bench)
100
A ctual (LT)
P otential (S T)
0.60
1.50
1.0
DP M O
1
1
10

Z shifth= 0.00
Z st= 1.50
273690.2
66525.0
0.5
BUENA
POBRE
10
1.5
1000000
100000
Zst
5 6
BUENA
TECNOLOGIA
D: Clase mundial

X5. Dimetro de embujado parte 2 (Capacidad del sistema sin necesidad de retrabajo)
Analisis de Diametro parte 2 (10.45 - 10.60)
LSL
USL
P rocess D ata
LS L
10.45000
Target
*
USL
10.60000
S ample M ean
10.48600
S ample N
50
S tD ev (Within)
0.03334
S tD ev (O v erall)
0.03842
Within
Ov erall
Cp
0.87
C PL
0.42
C PU
1.33
C pk
0.42
C C pk 0.87
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
10.35
P P M < LS L
140000.00
PPM > USL
0.00
P P M Total
140000.00
E xp.
PPM
PPM
PPM
10.40
Within P erformance
< LS L
140146.66
> USL
314.34
Total
140461.01
10.45
10.50
10.55

P P M < LS L 174385.49
PPM > USL
1503.16
P P M Total
175888.66
10.60
0.76
0.36
1.15
0.36
*
X5. Dimetro de embujado parte 2 (Lnea Base)

Summary for Diametro Parte 2
Report 2: Process Capability for Diametro Parte 2

Xbar and S C har t
10.35
10.40
10.45
10.50
A -S quared
P -V alue <
2.11
0.005
M ean
S tD ev
V ariance
S kew ness
Kurtosis
N
10.486
0.038
0.001
-1.02440
1.46797
50
M inimum
1st Q uartile
M edian
3rd Q uartile
M aximum
10.55
LCL=10.4413
10.44
1
5
6
Subgroup
10.425
10.50
10.3707
10.6
10.6013
10.45
S pecifications
10.51
I-MR Chart of Diametro Parte 2
Individual V alue
10.6
U B=10.6
_
X=10.525
10.5
LB=10.45
1
10.4
M oving Range
0.16
10
15
20
25
30
O bser vation
35
40
45
50
0.12
U C L=0.1060
0.08
__
M R=0.0324
0.04
0.00
LC L=0
5
10
15
20
25
30
O bser vation
35
40
10
M ean
S tDev
Z.U S L
Z.LS L
Z.Bench
Z.S hift
P .U S L
P .LS L
P .Total
Yield
DPMO
Cp
C pk
C C pk
Pp
P pk
P rocess Tolerance
10.625
S pecifications
Median
P rocess Tolerance
10.45
10.49
10
LCL=0
1
Mean
10.48
0.000
10.510
0.048
_
S=0.03134

0.032
0.025
10.497
10.480
UCL=0.06547
0.050
10.47
_
_
X=10.486
10.48
10.360
10.458
10.500
10.510
10.570
10.475
C apability Indices
UCL=10.5307
10.52
45
50
10.6
Data S ource:
Time S pan:
Data Trace:
ST
LT
10.525
0.033
2.25
2.25
1.97
1.04
0.0122469
0.0122469
0.0244939
97.55
24493.9
0.75
0.36
0.75
*
*
10.486
0.038
2.97
0.94
0.93
1.04
0.0015032
0.174385
0.175889
82.41
175888.7
*
*
*
0.65
0.31

X5. Dimetro de embujado parte 2 ( Lnea Base )
POBRE

Process Performance
10.40
USL
10.45
10.50
A ctual (LT)
10.55
10.60
P otential (S T)
D ate:
Reported by :
P roject:
D epartment:
P rocess:
C haracteristic:
U nits:
U pper S pec:
Low er S pec:
N ominal:
O pportunity :
26/03/07
Joel N oy ola
C ajuela C D 338
P roduccion
C ajuela C D 338
D iametro de enbujado
C ajuela
10.6
10.45
1000000
Process Benchmarks
100000
10000
1000
S igma
(Z.Bench)
100
A ctual (LT)
P otential (S T)
0.93
1.97
DP M O
1
Zshift
175888.7
24493.9
1.5
1.0
0.5
BUENA
POBRE
10
1
2.0
CONTROL
10.35
2.5
LS L
Zst
5 6
BUENA
TECNOLOGIA
10

Z shifth= 1.05
Z st= 1.97

D: Clase mundial

X6. Espesor de embujado parte 2 (Capacidad del sistema sin necesidad de retrabajo)
Analisis de espesor parte 2 (5.8 - 6.10)
LSL
USL
P rocess D ata
LS L
5.80000
Target
*
USL
6.10000
S ample M ean
5.81440
S ample N
50
S tD ev (Within)
0.11077
Within
Ov erall
Cp
0.53
C PL
0.05
C PU
1.00
C pk
0.05
C C pk 0.53
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
5.6
P P M < LS L
400000.00
PPM > USL
20000.00
P P M Total
420000.00
E xp.
PPM
PPM
PPM
5.8
Within P erformance
< LS L
448284.44
> USL
4964.80
Total
453249.24
6.0
6.2
6.4

P P M < LS L 447546.83
PPM > USL
4458.01
P P M Total
452004.84
0.53
0.05
1.02
0.05
*
X6. Espesor de embujado parte 2 (Lnea Base)

Summary for Espesor Parte 2

Xbar and S C har t
5.8
6.0
6.2
A -S quared
P -V alue <
4.18
0.005
M ean
S tDev
V ariance
S kew ness
Kurtosis
N
5.8144
0.1086
0.0118
4.5481
27.5988
50
M inimum
1st Q uartile
M edian
3rd Q uartile
M aximum
6.4
5.9
5.7
LCL=5.6658
1
0.0908
_
S=0.1041
0.00
LCL=0
1
5
6
Subgroup
5.8453
5.61768
0.1354
P rocess Tolerance
6.28232
5.48678
6.1
S pecifications
5.84
I-MR Chart of Espesor Parte 2

1
6.4
Individual V alue
5.83
6.2
6.0
U B=6.1
_
X=5.95
5.8
LB=5.8
1
5.6
5
10
15
20
25
30
O bser vation
0.8
M oving Range
5.82
6.14202
5.8
S pecifications
5.81
35
40
45
50
1
1
0.6
0.4
U C L=0.3301
0.2
__
M R=0.1010
0.0
LC L=0
5
10
10
P rocess Tolerance
Median
5.80
M ean
S tDev
Z.U S L
Z.LS L
Z.Bench
Z.S hift
P .U S L
P .LS L
P .Total
Yield
DPMO
Cp
C pk
C C pk
Pp
P pk
5.8300
5.8
5.79
10
UCL=0.2175
Mean
5.78
0.15
0.30
5.6600
5.7600
5.8100
5.8500
6.4700

5.7767
_
_
X=5.8144
5.8

5.7835
C apability Indices
UCL=5.9630
15
20
25
30
O bser vation
35
40
45
50
6.1
Data S ource:
Time S pan:
Data Trace:
ST
LT
5.95
0.111
1.35
1.35
0.93
0.81
0.0878468
0.0878468
0.175694
82.43
175693.5
0.45
0.04
0.45
*
*
5.8144
0.109
2.62
0.13
0.12
0.81
0.0044580
0.447547
0.452005
54.80
452004.8
*
*
*
0.46
0.04

X6. Espesor de embujado parte 2 ( Lnea Base )
Process Performance
5.6
2.5
USL
5.8
6.0
6.2
A ctual (LT)
Date:
Reported by :
P roject:
Department:
P rocess:
C haracteristic:
U nits:
U pper S pec:
Low er S pec:
N ominal:
O pportunity :
6.4
P otential (S T)
26/03/07
Joel N oy ola
C ajuela C D 338
P roduccion
C ajuela C D 338
E spesor de enbujado
C ajuela
6.1
5.8
2.0
Zshift
CONTROL
LS L
POBRE
Process Benchmarks
10000
1000
S igma
(Z.Bench)
100
A ctual (LT)
P otential (S T)
0.12
0.93
10
DP M O
1
1
10

Z shifth= 0.81
Z st= 0.93
452004.8
175693.5
1.5
1.0
1000000
100000
0.5
BUENA
POBRE
Zst
5 6
BUENA
TECNOLOGIA
D: Clase mundial
Analisis de altura de perno (6.12 +0.05 - 0.0)

LSL USL
P rocess D ata
LS L
6.12000
Target
*
USL
6.17000
S ample M ean
6.07385
S ample N
205
S tD ev (Within)
0.07606
Within
Ov erall
Cp
0.13
C PL
-0.24
C PU
0.49
C pk
-0.24
C C pk 0.13
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
5.6
P P M < LS L
731707.32
PPM > USL
78048.78
P P M Total
809756.10
E xp.
PPM
PPM
PPM
5.7
5.8
Within P erformance
< LS L 727981.64
> U S L 103095.82
Total
831077.46
5.9
6.0
6.1

P P M < LS L 733143.38
PPM > USL
97372.82
P P M Total
830516.20
6.2
0.13
-0.24
0.50
-0.24
*
Analisis de Ancho de perno (10.45 +0.1 - 0.0)

LSL
USL
P rocess D ata
LS L
10.45000
Target
*
USL
10.55000
S ample M ean
10.53898
S ample N
205
S tD ev (Within)
0.01514
S tD ev (O v erall)
0.01485
Within
Ov erall
Cp
1.28
C PL
2.28
C PU
0.28
C pk
0.28
C C pk 1.28
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
10.46 10.48 10.50 10.52 10.54 10.56 10.58

P P M < LS L
0.00
P P M > U S L 73170.73
P P M Total
73170.73
E xp.
PPM
PPM
PPM
Within P erformance
< LS L
0.00
> U S L 233264.05
Total
233264.05

P P M < LS L
0.00
P P M > U S L 228948.68
P P M Total
228948.68
1.31
2.33
0.29
0.29
*
En base a los resultados de la lnea base se concluye y en vista que todos los anlisis arrojaron el concepto C, es necesario
lo siguiente:
1. Establecer cuales variables X son significativas en mi resultante Y
2. Establecer plan de accion para controlar:
a) Proceso de embujado dentro de especificacin
b) Plan de contingencia para el uso de pernos dentro de especificaciones
3. Realizar DOE para el establecimiento de las variables a controlar que afectan mi Y
Anlisis del proyecto

Las variables que se analizan que influyen en la variable Y son :
X1. Distancia entre centros parte Carrocera (106.4 106.6)

X2. Dimetro de embujado parte 1 (10.45 10.6)
X3. Distancia entre centros parte 2 (215.4 216.4)
X4. Ancho de hombro de perno escalonado (10.45 10.55)
X5. Grado de deformacin parte 1 (0 5)
Se establece un diseo de experimentos DDE Fraccionado

DOE

DOE Anlisis de componentes Parte 1 Retrabajada
Capabilida parte 1 (altura) Retrabajada
Capabilida parte 1 (Diametro 12,0 + 0.1) Retrabajada

LSL
LSL
USL
P rocess D ata
LS L
12,00000
Target
*
USL
12,10000
S ample M ean
12,14857
S ample N
35
S tDev (Within)
0,01206
S tDev (O v erall)
0,01249
Within
Ov erall
Cp
1,61
C PL
4,78
C PU
-1,56
C pk
-1,56
C C pk 1,61
USL
P rocess D ata
LS L
5,31000
Target
*
USL
6,31000
S ample M ean
6,23543
S ample N
35
S tDev (Within)
0,07874
S tDev (O v erall) 0,08567
Within
Overall
Cp
2,47
C PL
4,56
C PU
0,37
C pk
0,37
C C pk 2,47
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
12,00
P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 1000000,00
P P M Total
1000000,00
E xp.
PPM
PPM
PPM
12,03
12,06
Within P erformance
< LS L
0,00
> U S L 999971,83
Total
999971,83
12,09
12,12
12,15
5,44
12,18
P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 142857,14
P P M Total
142857,14

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 999949,48
P P M Total
999949,48
Capabilida parte 1 (Diametro 8 + 0.1) Retrabajada

LSL
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
1,55
4,62
-1,51
-1,51
*
5,60
5,76
Within P erformance
< LS L
0,00
> U S L 171798,82
Total
171798,82
5,92
6,08
6,24
6,40

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 192014,29
P P M Total
192014,29
Capabilida parte 1 (Diametro 12,0 + 0.1) Retrabajada
USL
P rocess D ata
LS L
8,00000
Target
*
USL
8,10000
S ample M ean
8,07040
S ample N
35
S tDev (Within)
0,01522
E xp.
PPM
PPM
PPM
LSL
Within
Ov erall
Cp
1,28
C PL
1,80
C PU
0,76
C pk
0,76
C C pk 1,28
USL
P rocess D ata
LS L
12,00000
Target
*
USL
12,10000
S ample M ean
12,14857
S ample N
35
S tDev (Within)
0,01206
S tDev (O v erall)
0,01249
Within
Ov erall
Cp
1,61
C PL
4,78
C PU
-1,56
C pk
-1,56
C C pk 1,61
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
8,00
P P M < LS L 0,00
P P M > U S L 0,00
P P M Total
0,00
8,02

P P M < LS L
1,86
P P M > U S L 25864,20
P P M Total
25866,06
8,04
8,06
8,08

P P M < LS L
8,34
P P M > U S L 35133,52
P P M Total
35141,86
2,27
4,20
0,34
0,34
*
1,19
1,67
0,70
0,70
*
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
8,10
12,00
P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 1000000,00
P P M Total
1000000,00
E xp.
PPM
PPM
PPM
12,03
12,06
Within P erformance
< LS L
0,00
> U S L 999971,83
Total
999971,83
12,09
12,12
12,15

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 999949,48
P P M Total
999949,48
12,18
1,55
4,62
-1,51
-1,51
*

DOE Anlisis de componentes Parte 1 sin retrabajo
Distancia entre centros ( 145,2 +/- 0.05) sin retrabajar
LSL
Altura de centros sin retrabajar
USL
P rocess Data
LS L
144,70000
Target
*
USL
145,70000
S ample M ean
145,03400
S ample N
30
S tDev (Within)
0,04502
S tDev (O v erall)
0,04516
LSL
Within
Ov erall
Cp
4,31
C PL
2,88
C PU
5,75
C pk
2,88
C C pk 4,31
USL
P rocess D ata
LS L
5,00000
Target
*
USL
6,00000
S ample M ean
5,16867
S ample N
30
S tDev (Within)
0,09184
Within
Ov erall
Cp
2,11
C PL
0,71
C PU
3,52
C pk
0,71
C C pk 2,11
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm

P P M < LS L 0,00
P P M > U S L 0,00
P P M Total
0,00
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
Blanket
144,75 144,90 145,05 145,20 145,35 145,50 145,65

P P M < LS L 0,00
P P M > U S L 0,00
P P M Total
0,00
4,30
2,87
5,73
2,87
*

P P M < LS L 0,00
P P M > U S L 0,00
P P M Total
0,00
4,95
P P M < LS L
33333,33
PPM > USL
0,00
P P M Total
33333,33
5,10
Diametro (8 + 0.1) sin retrabajar

LSL
5,25

P P M < LS L
33133,84
PPM > USL
0,00
P P M Total
33133,84
5,40
5,55
5,70
5,85
USL
LSL
Within
Ov erall
Cp
1,73
C PL
1,98
C PU
1,48
C pk
1,48
C C pk 1,73
USL
P rocess D ata
LS L
12,00000
Target
*
USL
12,10000
S ample M ean
12,14567
S ample N
30
S tDev (Within)
0,02000
S tDev (O v erall)
0,02258
Within
Ov erall
Cp
0,97
C PL
2,83
C PU
-0,89
C pk
-0,89
C C pk 0,97
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
8,00
8,02

P P M < LS L
0,16
P P M > U S L 71,73
P P M Total
71,89
8,04
8,06
8,08

P P M < LS L
0,03
P P M > U S L 27,27
P P M Total
27,30
6,00

P P M < LS L 42101,37
PPM > USL
0,00
P P M Total
42101,37
Diametro (12 + 0.1) sin retrabajar
P rocess D ata
LS L
8,00000
Target
*
USL
8,10000
S ample M ean
8,05733
S ample N
30
S tDev (Within)
0,01122
P P M < LS L 0,00
P P M > U S L 0,00
P P M Total
0,00
1,99
0,67
3,31
0,67
*
1,84
2,11
1,57
1,57
*
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
8,10
12,00
P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 900000,00
P P M Total
900000,00
E xp.
PPM
PPM
PPM
12,03
12,06
Within P erformance
< LS L
0,00
> U S L 988802,22
Total
988802,22
12,09
12,12
12,15

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 978421,82
P P M Total
978421,82
12,18
0,86
2,50
-0,79
-0,79
*

DOE Anlisis de componentes Parte 2
Capabilidad parte 2 Diametro 1

LSL
USL
P rocess D ata
LS L
12,00000
Target
*
USL
12,10000
S ample M ean
12,07120
S ample N
50
S tDev (Within)
0,00848
S tDev (O v erall)
0,00923
LSL
Within
Ov erall
Cp
2,29
C PL
3,26
C PU
1,32
C pk
1,32
C C pk 2,29
USL
P rocess D ata
LS L
12,00000
Target
*
USL
12,10000
S ample M ean
12,08460
S ample N
50
S tDev (Within)
0,00970
S tDev (O v erall)
0,01040
Within
Ov erall
Cp
2,00
C PL
3,39
C PU
0,62
C pk
0,62
C C pk 2,00
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
12,00
P P M < LS L 0,00
P P M > U S L 0,00
P P M Total
0,00
12,02

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 341,10
P P M Total
341,10
12,04
12,06
12,08
2,10
3,00
1,21
1,21
*
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
12,10
12,00

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 898,75
P P M Total
898,75
P P M < LS L 0,00
P P M > U S L 0,00
P P M Total
0,00
12,02
12,04

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 56261,18
P P M Total
56261,18

LSL
USL
P rocess D ata
LS L
12,00000
Target
*
USL
12,10000
S ample M ean
12,07120
S ample N
50
S tDev (Within)
0,00848
S tDev (O v erall)
0,00923
Within
Ov erall
Cp
2,29
C PL
3,26
C PU
1,32
C pk
1,32
C C pk 2,29
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
12,00
P P M < LS L 0,00
P P M > U S L 0,00
P P M Total
0,00
12,02

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 341,10
P P M Total
341,10
12,04
12,06
12,08

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 898,75
P P M Total
898,75
12,10
2,10
3,00
1,21
1,21
*
12,06
12,08

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 69258,06
P P M Total
69258,06
12,10
1,87
3,16
0,58
0,58
*

DOE Anlisis de componentes Parte Carrocera
Capabilidad Parte carrocera (distancia entre centros)
LSL
USL
P rocess Data
LS L
106,40000
Target
*
USL
106,60000
S ample M ean
106,56246
S ample N
65
S tDev (Within)
0,04582
S tDev (O v erall)
0,04648
Within
Ov erall
Cp
0,85
C PL
1,38
C PU
0,32
C pk
0,32
C C pk 0,85
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
106,40 106,44 106,48 106,52 106,56 106,60 106,64

P P M < LS L
0,00
P P M > U S L 246153,85
P P M Total
246153,85
E xp.
PPM
PPM
PPM
Within P erformance
< LS L
195,73
> U S L 206310,68
Total
206506,41

P P M < LS L
236,96
P P M > U S L 209667,43
P P M Total
209904,38
0,84
1,36
0,31
0,31
*

DOE Anlisis de componentes Parte Carrocera
Enbujado Parte carroceria
Enbujado Parte 1 sin retrabajar
LSL
USL
P rocess D ata
LS L
10.45000
Target
*
USL
10.60000
S ample M ean
10.46267
S ample N
30
S tDev (Within)
0.03868
S tDev (O v erall)
0.04229
LSL
Within
Ov erall
Cp
0.75
C PL
0.13
C PU
1.38
C pk
0.13
C C pk 0.75
USL
P rocess D ata
LS L
10.45000
Target
*
USL
10.60000
S ample M ean
10.57167
S ample N
30
S tDev (Within)
0.01499
S tDev (O v erall)
0.02087
Within
Ov erall
Cp
1.94
C PL
3.15
C PU
0.73
C pk
0.73
C C pk 1.94
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
10.40
P P M < LS L
300000.00
PPM > USL
0.00
P P M Total
300000.00
E xp.
PPM
PPM
PPM
10.45
Within P erformance
< LS L
371642.13
> USL
191.98
Total
371834.11
10.50
10.55
0.69
0.12
1.26
0.12
*
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
10.60
10.47

P P M < LS L
382281.12
PPM > USL
582.82
P P M Total
382863.94
P P M < LS L
0.00
P P M > U S L 66666.67
P P M Total
66666.67
Enbujado Parte 2 embujado 2

LSL
10.50

P P M < LS L
0.00
P P M > U S L 29349.33
P P M Total
29349.33
10.56
10.59
10.62

P P M < LS L
0.00
P P M > U S L 87305.67
P P M Total
87305.67
Enbujado Parte carroceria
USL
P rocess D ata
LS L
10.45000
Target
*
USL
10.60000
S ample M ean
10.53567
S ample N
60
S tDev (Within)
0.02886
S tDev (O v erall)
0.04450
10.53
LSL
Within
Ov erall
Cp
1.01
C PL
1.15
C PU
0.87
C pk
0.87
C C pk 1.01
USL
P rocess D ata
LS L
10.45000
Target
*
USL
10.60000
S ample M ean
10.46267
S ample N
30
S tDev (Within)
0.03868
S tDev (O v erall)
0.04229
Within
Ov erall
Cp
0.75
C PL
0.13
C PU
1.38
C pk
0.13
C C pk 0.75
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
10.40
P P M < LS L
50000.00
PPM > USL
0.00
P P M Total
50000.00
10.45

P P M < LS L
1496.10
P P M > U S L 12897.28
P P M Total
14393.38
10.50
10.55
0.65
0.75
0.56
0.56
*
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
10.60

P P M < LS L
27121.54
PPM > USL
74153.11
P P M Total
101274.65
1.40
2.26
0.53
0.53
*
10.40
P P M < LS L
300000.00
PPM > USL
0.00
P P M Total
300000.00
E xp.
PPM
PPM
PPM
10.45
Within P erformance
< LS L
371642.13
> USL
191.98
Total
371834.11
10.50
10.55

P P M < LS L
382281.12
PPM > USL
582.82
P P M Total
382863.94
10.60
0.69
0.12
1.26
0.12
*

DOE Resultados

DOE Resultados
Altura en Z ( +/- 1)
LSL
USL
P rocess D ata
LS L
-1.00000
Target
*
USL
1.00000
S ample M ean
-0.26000
S ample N
32
S tD ev (Within)
1.28250
S tD ev (O v erall)
1.25996
Within
Ov erall
Cp
0.30
C PL
0.22
C PU
0.38
C pk
0.22
C C pk 0.30
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
-3
P P M < LS L
437500.00
P P M > U S L 187500.00
P P M Total
625000.00
E xp.
PPM
PPM
PPM
-2
-1
Within P erformance
< LS L
281971.12
> U S L 162938.50
Total
444909.62

P P M < LS L
278495.09
P P M > U S L 158648.50
P P M Total
437143.59
Altura en Z Retrabajadas (+/-1)

LSL
0.31
0.23
0.39
0.23
*
Altura en Z sin Retrabajado (+/-1)
USL
LSL
P rocess D ata
LS L
-1.00000
Target
*
USL
1.00000
S ample M ean
0.82188
S ample N
16
S tD ev (Within)
0.87192
S tD ev (O v erall)
0.81925
Within
Ov erall
Cp
0.45
C PL
0.81
C PU
0.08
C pk
0.08
C C pk 0.45
USL
P rocess D ata
LS L
-1.00000
Target
*
USL
1.00000
S ample M ean
-1.34188
S ample N
16
S tD ev (Within)
0.28142
S tD ev (O v erall)
0.29155
Within
Ov erall
Cp
1.38
C PL
-0.47
C PU
3.23
C pk
-0.47
C C pk 1.38
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
-1.0 -0.5
P P M < LS L
0.00
P P M > U S L 375000.00
P P M Total
375000.00
E xp.
PPM
PPM
PPM
0.0
Within P erformance
< LS L
18331.92
> U S L 419063.62
Total
437395.54
0.5
1.0
1.5
2.0

P P M < LS L
13080.23
P P M > U S L 413939.21
P P M Total
427019.45
0.47
0.86
0.08
0.08
*
Pp
PPL
PPU
P pk
C pm
2.5
-2.0
P P M < LS L
875000.00
PPM > USL
0.00
P P M Total
875000.00
E xp.
PPM
PPM
PPM
-1.6
-1.2
Within P erformance
< LS L
887782.89
> USL
0.00
Total
887782.89
-0.8
-0.4
-0.0
0.4

P P M < LS L 879524.97
PPM > USL
0.00
P P M Total
879524.97
0.8
1.33
-0.46
3.12
-0.46
*

DOE Resultados
Main Effects Plot (data means) for Altura en Z
1.0
DC C arrocera
D. Parte 1
Interaction Plot (data means) for Altura en Z

10.45
DC. Parte 2
10.60
215.4
216.4
10.45
10.55
5
1
0.5
DC Carrocera
-1
Mean of Altura en Z
0.0
-0.5
D. Parte 1
-1.0
D. Parte 1
10.45
10.60
-1
106.4
1.0
DC Carrocera
106.4
106.6
106.6
10.45
Ancho de perno
10.60
215.4
216.4
Deformacion
DC. Parte 2
-1
0.5
0.0
Ancho de perno
-1
-0.5
-1.0
Deformacion
10.45
10.55
Cube Plot (data means) for Altura en Z

1.38
1.83
0.34
1.70
0.68
0.37
0.55
2.52
-0.45
0.30
-0.08
0.60
0.73
1.68
-0.01
-0.01
Deformacion
-1.47
-1.49
-1.47
-1.49
0
-1.47
-1.47
-1.21
-1.47
10.6
D. Parte 1
-1.47
-0.41
-1.48
-1.47
10.45
-1.30
216.4
DC. Parte 2
-0.96
215.4
106.4
DC Carrocera
106.6
10.45
Ancho de perno
10.55
-1.49
-1.35
DC.
Parte
2
215.4
216.4
Ancho
de
perno
10.45
10.55

DOE Resultados
Normal Probability Plot of the Standardized Effects
Pareto Chart of the Standardized Effects
(response is Altura en Z, Alpha = .05)
99
Effect Ty pe
Not Significant
Significant
95
90
80
BE
70
60
50
40
30
F actor
A
B
C
E
A
BE
Term
AE
AE
20
10
5
C
0
5
10
Standardized Effect
15
20
10
15
Standardized Effect
Residual Plots for Altura en Z

Normal Probability Plot of the Residuals
Residuals Versus the Fitted Values
99
0.5
90
Residual
-5
50
0.0
10
1
-0.8
-0.4
0.0
Residual
0.4
-0.5
0.8
Histogram of the Residuals
-2
-1
0
Fitted Value
Residuals Versus the Order of the Data
8
0.5
Residual
-10
Percent
F actor
A
B
C
E
N ame
D C C arrocera
D . P arte 1
D C . P arte 2
D eformacion
Frequency
Percent
(response is Altura en Z, Alpha = .05)
2.06
0.0
2
0
-0.4
-0.2
0.0
0.2
Residual
0.4
0.6
-0.5
8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30 32
Observation Order
20
N ame
D C C arrocera
D . P arte 1
D C . P arte 2
D eformacion
DOE Resultados
Variables significativas del proceso

P<0.05
El Modelo Explica el 95.28 % de la variacin de

respuesta
DOE Resultados
Donde:
X:
Y:
M:
D:
Z:
Distancia entre centros parte carrocera

Dimetro de embujado Parte 1
Distancia entre centros parte 2
Grado de deformacin
Altura en Z
Ecuacin del sistema
Z = 217.062 1.21875X 1.34167Y - 0.345M + 72.1586D 0.8225XD + 1.5067YD
DOE Resultados y conclusiones
En base a los resultados se concluye que la variable que afecta mas la altura en Z tomando en cuenta las variables de
los componentes es el grado de deformacin D, adems de controlar esta variable de proceso tenemos:
Ecuacin del sistema a controlar
D=
Z - 217.062 + 1.21875X + 1.34167Y + 0.345M
D = 6.0 mm.
72.1586 0.8225X + 1.5067Y
Implementacin del proyecto

Actividades para establecer la mejora del proceso
1. Incrementar altura de soporte de parte 1 6 mm.
2. Dimencionamiento de troquel
3. Ajuste de dimensiones de troquel
4. Prueba de implementacin
5. Medicin de implementacin
6. Ajuste del sistema

Ejemplo DMAIC 6sigma

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6

Definicin del proyecto

Descripcin del proceso

Definicin del proyecto

La descripcin de cada maquina esta compuesta de la siguiente manera:

Definicin del proyecto

# parte Cliente: 7E53- 5442700/1-AA

Definicin del proyecto

Las caractersticas criticas del cliente son:

Definicin del proyecto

Definicin del problema

Definicin del proyecto

Definicin del problema

Definicin del proyecto

Definicin de salidas (Y) y entradas (X) al sistema

Y1. Altura en eje Z

Definicin del proyecto

Objetivo del proyecto

Definicin del proyecto

Definicin EAT ( Equipo de Apoyo Tcnico)

Ing. Ind. - Green, Belt

Medicin del proyecto

Medicin del proyecto

E xp. O v erall P erformance

Medicin del proyecto

Report 2: Process Capability for Altura en Z 1a prueba

A nderson-D arling N ormality Test

95% C onfidence Interv al for M ean

A ctual (LT ) C apability

95% C onfidence Interv al for S tDev

95% Confidence Intervals

95% C onfidence Interv al for M edian

Medicin del proyecto

Report 1: Executive Summary

Nuestro proceso tiene:

Medicin del proyecto

10.35 10.40 10.45 10.50 10.55 10.60 10.65

E xp. O v erall P erformance

Medicin del proyecto

X1. Dimetro de embujado parte Carrocera (Lnea Base)

Report 2: Process Capability for Diametro Parte carroseria

A nderson-D arling N ormality Test

I-MR Chart of Proceso de enbujado parte carroseia

A ctual (LT ) C apability

95% C onfidence Interv al for S tDev

95% C onfidence Interv al for M edian

95% Confidence Intervals

95% C onfidence Interv al for M ean

Medicin del proyecto

Report 1: Executive Summary

Nuestro proceso tiene:

Medicin del proyecto

E xp. Within P erformance

E xp. O v erall P erformance

Medicin del proyecto

X2. Espesor de embujado parte Carrocera (Lnea Base)

Report 2: Process Capability for Espesor parte carroseria

Summary for Espesor parte carroseria

95% C onfidence Interv al for M ean

95% C onfidence Interv al for M edian

95% C onfidence Interv al for S tDev

95% Confidence Intervals

A ctual (LT ) C apability