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Capacidad Proceso
Capacidad Proceso
CAPACIDAD DE PROCESO
Partes fuera de especificaciones
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CAPACIDAD DE PROCESO
El proceso se encuentre bajo control estadstico, es decir sin la influencia de fuerzas externas o
cambios repentinos. Si el proceso est fuera de control la media y/o la desviacin estndar del
proceso no son estables y, en consecuencia, su variabilidad ser mayor que la natural y la
capacidad potencial estar infravalorada, en este caso no es conveniente hacer un estudio de
capacidad.
Se recolectan suficientes datos durante el estudio de habilidad para minimizar el error de
muestreo para los ndices de habilidad. Si los datos se componen de menos de 100 valores,
entonces deben calcularse los lmites de confianza inferiores.
Los datos se recolectan durante un periodo suficientemente largo para asegurar que las
condiciones del proceso presentes durante el estudio sean representativos de las condiciones
actuales y futuras.
El parmetro analizado en el estudio sigue una distribucin de probabilidad normal, de otra
manera, los porcentajes de los productos asociados con los ndices de capacidad son
incorrectos.
Variacin a Largo Plazo(Zlt) Los datos son recogidos durante un periodo de tiempo
suficientemente largo y en condiciones suficientemente diversas para que sea probable que
contenga algunos cambios de proceso y otras causas especiales. Aqu todas las familias de
variacin exhiben su contribucin en la variacin del proceso general.
J.M. Juran, Anlisis y planeacin de la Calidad, Tercera Edicin Mc. Graw Hill, Pp.404
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CAPACIDAD DE PROCESO
Z st
Z LT
dnde:
Zst = variacin a corto plazo.
nom = Valor nominal u objetivo
Zlt = variacin a largo plazo.
Z shift.- A largo plazo los procesos tienen un desplazamiento natural de 1.5 desviaciones estndar.
Zlt = Zst-1.5shift
Clculo de la capacidad del proceso:
Para calcular la habilidad o capacidad potencial utilizamos la siguiente frmula:
Cp
LSE LIE
6S
donde:
Cp = capacidad potencial
LSE = lmite superior de especificaciones
LIE = lmite inferior de especificaciones
S
= desviacin estndar
El ndice Cp debe
ser 1 para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE, LSE)
Para calcular la ha
bilidad o capacidad real utilizamos la siguiente frmula:
C pk
menor Z I , Z S
3
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Cpk= debe de ser
Capacidad a partir de histogramas
Procedimiento:
1. Seleccionar un proceso especfico para realizar el estudio
2. Seleccionar las condiciones de operacin del proceso
3. Seleccionar un operador entrenado
4. El sistema de medicin debe tener habilidad (error R&R < 10%)
5. Cuidadosamente recolectar la informacin
6. Construir un histograma de frecuencia con los datos
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1.
CAPACIDAD DE PROCESO
7. Calcular la media y desviacin estndar del proceso
8. Calcular la capacidad del proceso.
Ejemplo 1:
Tenemos la siguiente serie de datos:
Agrupando los datos por intervalos de clase obtenemos los datos mostrados en la siguiente tabla:
El histograma es el siguiente:
35
30
25
20
15
F rec.
10
3 3 0 -3 4 9
Pgina 5
3 1 0 -3 2 9
2 9 0 -3 0 9
2 7 0 -2 8 9
2 5 0 -2 6 9
2 3 0 -2 4 9
2 1 0 -2 2 9
1 9 0 -2 0 9
1 7 0 -1 8 9
CAPACIDAD DE PROCESO
X 264.06
S = 32.02
Cp
Zi
Zs
LSE LIE
6S
330 264.06
32.02
200 264.06
32.02
330 200
192.2
2.06
2
Ventajas
1. Se puede observar el comportamiento del proceso sin tomar tantos datos como en el
histograma, 10 son suficientes
2. El proceso es ms sencillo ya que no hay que dividir el rango de la variable en intervalos de
clase como en el histograma.
3. Visualmente se puede observar la normalidad de los datos, si se apegan a la lnea de ajuste
4. Permite identificar la media y la desviacin estndar aproximada del proceso. As como la
fraccin defectiva, el porcentaje de datos entre cierto rango, el Cp y el Cpk.
Procedimiento
1. Se toman al menos n = 10 datos y se ordenan en forma ascendente, asignndoles una posicin
( j ) entre 1 y n.
2. Se calcula la probabilidad de cada posicin con la frmula siguiente:
Pj = (j - 0.5) / n
3. En el papel especial normal se grafica cada punto (X j, Pj)
4. Se ajusta una lnea recta que mejor aproxime los puntos
5. Si no hay desviaciones mayores de la lnea recta, se considera normal el proceso y se procede a
hacer las identificaciones:
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CAPACIDAD DE PROCESO
La media ser el punto en X correspondiente a P j = 0.5
La desviacin estndar es la diferencia en Xj correspondiente a Pj = 0.5 y Pj = 0.84
Ejemplo 2
.-Se tomaron los datos siguientes (Xj) ordenamos los datos y, clculamos la probabilidad de su
posicin (Pj)
Con ayuda del grfico podemos obtener la media, la desviacin estndar y el porcentaje de valores
que se encuentran fuera de especificaciones.
Pj
0.84
0.5
Desv. Estndar
Fraccin
Defectiva
LIE
X Media
Xj
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CAPACIDAD DE PROCESO
?
?
?
?
?
Si las variaciones presentes son iguales, se dice que se tiene un proceso estable. La distribucin
ser predecible en el tiempo.
Prediccin
Tiempo
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CAPACIDAD DE PROCESO
R
S
(Para cartas de control X-R y X-S respectivamente)
d2
C4
Donde,
S = Desviacin estndar de la poblacin
d2 = Factor que depende del tamao del subgrupo en la carta de control X - R
C4 = dem al anterior para una carta X - S
En una carta por individuales, d2 se toma para n = 2 y Rango Medio = Suma rangos / (n -1)
Ejemplo 3 (carta X - R)
De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, despus de que el
proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes: x = 64.06 , R = 77.3
Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:
x media de medias
R
77.3
33.23
d 2 2.326
200 264.06
3 33.23
Ejemplo 4 (carta X - S)
De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, despus de que el
proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes: x 100, s 1.05
Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:
x 100
s
1.05
1.117
=
C4
.094
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CAPACIDAD DE PROCESO
El C pk
El C p
105 100
3 1.117
105 85
6 1.117
1.492
2.984
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CAPACIDAD DE PROCESO
El P value debe ser mayor a 0.05 para que los datos se distribuyan normalmente
Probability Plot of Datos
Normal
99.9
Mean
StDev
N
RJ
P-Value
99
95
Percent
90
269.3
30.72
100
0.994
>0.100
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
150
200
250
Datos
300
350
Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar que es
normal la distribucin.
Probability Plot of Datos
Normal - 95% CI
99.9
Mean
StDev
N
AD
P-Value
99
Percent
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
150
200
250
300
350
400
Datos
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269.3
30.72
100
0.317
0.533
CAPACIDAD DE PROCESO
USL
Within
Overall
Process Data
LSL
200.00000
Target
*
USL
330.00000
Sample Mean
269.25354
SampleN
100
StDev(Within)
30.83472
StDev(O verall)
30.80011
210
Observed Performance
PPM<LSL 10000.00
PPM>USL 30000.00
PPMTotal
40000.00
240
270
300
330
0.70
0.75
0.66
0.66
*
360
Interpretacin:
La desviacin estndar Within se determina en base al Rango medio y d2 (1.128 para n = 2), con
esta se determinan los ndices de capacidad potencial Cp y Cpk, as como el desempeo Within, lo
cual es adecuado para un proceso en control o normal.
La desviacin estndar Overall se determina con la desviacin estndar de todos los datos de la
muestra dividido entre el factor C4 = 4(n-1))/(4n 3), con esta desviacin estndar se determinan
los ndices de desempeo Pp y Ppk as como el desempeo Overall, no importando si el proceso
est en control o no, en este ltimo caso los valores no tienen significado prctico.
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CAPACIDAD DE PROCESO
I Chart
Capability Histogram
UCL=361.8
320
_
X=269.3
240
160
LCL=176.7
1
10
20
30
40
50
60
70
80
100
210
50
270
300
330
360
UCL=113.6
100
__
MR=34.8
LCL=0
1
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
Last 25 Observations
200
300
400
Capability Plot
Within
StDev 30.83472
Cp
0.70
Cpk
0.66
CCpk
0.70
300
Values
240
Moving Range
90
250
200
Within
Overall
O verall
StDev 30.80011
Pp
0.70
Ppk
0.66
Cpm
*
Specs
80
85
90
Observation
95
100
En este caso de la grfica de probabilidad normal, los datos siguen una distribucin normal.
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CAPACIDAD DE PROCESO
O verall Capability
Pp
*
PPL
*
PPU
0.85
Ppk
0.85
*
*
3.50000
0.82279
100
1.24929
0.88470
O bserved Performance
PPM<LSL
*
PPM>USL 10000
PPMTotal
10000
0.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
Pgina 14
3.0
3.5
CAPACIDAD DE PROCESO
El histograma no muestra evidencia de alguna discrepancia seria entre el modelo y los datos, ya
que la curva muestra buen ajuste. Sin embargo observamos que algunos datos caen fuera del
lmite superior de especificacin. Lo cual quiere decir que en algunos casos la deformacin ser
mayor a 3.5 mm.
El ndice Ppk y Ppu3 = 0.85 lo cual nos dice que el proceso no es capaz ya que 0.85<.1.33
Tambin observamos que PPM > USL 3,795 lo cual significa que aproximadamente 3,795 PPM
estarn fuera de los lmites de especificaciones.
Tambin se cuenta con la opcin Six Pack para esta opcin.
Los ndices Pp y Ppk son similares a los ndices Cp y Cpk , se refieren a la capacidad del proceso a largo
plazo.
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