AMEF ESCRITORIO +

BIBLIOTECA

ANDREA LOAIZA PALACIO 85234

DIEGO TORRES OBREGON 92520
PARTE / FUNCIÓN

1. TORNILLOS DE SUJECIÓN
2. LAMPARA LED
3. TOMA DE ENERGIA
4. CORREDERAS TELESCOPICAS (CAJONES) (MODULO ESCRITORIO)
5. PLACA DE MADERA SUPERIOR ESCRITORIO
6. ANTIDESLISANTE ESCRITORIO
MODO POTENCIAL DE FALLA

1. RUPTURA / AFLOJAMIENTO DE TORNILLOS

2. NO ENCIENDE / ENCIENDE PARCIALMENTE
3. ENERGIZACIÓN NULA DE LOS DISPOSITIVOS
4. BLOQUEO / DEFORMACIÓN
5. DEFORMACIÓN / RUPTURA MADERA HUMEDA
6. RUPTURA / BAJA ADHERENCIA
EFECTOS POTENCIAL DE FALLA

1. INSATISFACCIÓN
2. CANSANCIO VISUAL
3. INSATISFACCIÓN
4. PERDIDA DE FUNCIONALIDAD ESCRITORIO
5. ACCIDENTE
6. ACCIDENTE
SEVERIDAD

1. 10 PELIGROSO SIN AVISO

2. 6 MODERADO
3. 8 MUY ALTO
4. 7 ALTO
5. 9 PELIGROSO CON AVISO
6. 7 ALTO
CAUSAS POTENCIALES

1. RESISTENCIA DEL MATERIAL ES BAJA

2. FLUCTUACIÓN DE POTENCIA / MALA CALIDAD EN CABLES Y
CONEXIONES / MALA CALIDAD EN LOS COMPONENTES DE
DISIPACIÓN.
3. MALAS CONEXIONES
4. BLOQUEO DEFORMACIÓN
5. HUMEDAD EN LA MADERA / MALA CALIDAD
6. NIVEL DE ADHERENCIA BAJO
OCURRENCIA

1. 7 1 EN 10
2. 4 1 EN 100
3. 6 1 EN 20
4. 6 1 EN 20
5. 5 1 EN 50
6. 6 1 EN 20
CONTROLES DE OCURRENCIA

1. Definir el torque aplicar / Definir el Tipo y Clase.

2. Emplear tubos led con durabilidad de 50000 horas
3. Test de funcionalidad
4. Definir tipo de rodamiento para la corredera telescopica
5. Definir niveles de % de Humedad en la placa
6. Definir niveles de Adherencia
DETECCIÓN

 7 MUY BAJA
 5 MODERADA
 5 MODERADA
 7 MUY BAJA
 10 CASI IMPOSIBLE
 7 MUY BAJA
NPR: NUMERO PRIORITARIO DE RIESGO
ACCIONES RECOMENDADAS

1. Emplear Materiales con informes de prueba verificados

2. Realizar muestreo de materiales / Verificación de Parámetros
3. Verification de Parametros
4. Establecer nivel de lubricación
5. Seguimiento de los parámetros clave de proceso
Simulacion de Pruebas de Resistencia
6. Seguimiento de los parámetros clave de proceso
Simulacion de Pruebas de Resistencia
BIBLIOGRAFIA

 https://leansolutions.co/conceptos-lean/lean-manufacturing/amef-analisis-de-modo-y-efecto-de-falla/