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Askelandphulenotes Ch03printable
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MATERIALES
1
Objectivos del Captulo 3
Estudiar la clasificacin de los
materiales basado en los arreglos
atmicos y inicos.
2
Contenido
3.1 Orden de corto alcance Vs. orden de
largo alcance.
3.2 Materiales amorfos, principios y
tecnologa de aplicacin
3.3 Redes, celdas unitarias, bases y
estructuras cristalinas
3.4 Tranformaciones alotrpicas o polimorfas
3.5 Puntos, direcciones y planos en la celda
unitaria.
3.6 Sitios intersticiales.
3.7 Estructuras cristalinas de los materiales
inicos.
3.8 Estructuras covalentes
3
Seccion 3.1
Orden de corto alcance Vs. Orden
de largo alcance
SRO Un material tiene orden de corto alcance si el
arreglo espacial de los tomos solo se extiende a su
vecindad .
LRO El arreglo tomico espacial abarca escalas de
longitud mayores a 100 nm, formando un patron regular
y repetitivo.
Condensado de Bose-Einstein (BEC) Predijeron la
existencia de este estado de la materia, donde un grupo
de tomos enfriados a temperaturas muy bajas (justo
arriba de 0 K, mediante lseres y trampas magnticas,
tiene el mismo estado cuntico fundamental. Uno de sus
usos podra ser lseres atmicos
4
Figura 3.1 Niveles de
ordenamiento tomico
en los materiales:
(a)Los gases
monotomicos inertes
no tienen
ordenamiento regular
de tomos. (b y c)
algunos materiales
que incluyen vapor de
agua, nitrogeno
gaseoso, silicio
amorfo y vidrios de
silicato, tienen orden
de corto alcance. (d)
Metales,aleaciones y
muchas cermicas, as
como polmeros,
tienen ordenamiento
regular de tomos o
iones que se extiende
a travs del material.
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson Learning
5
Figura 3.2 Tetraedro
bsico de Si-O en el
vidrio de silicio.
6
Figura 3.3 Arreglo
tetradrico de los
enlaces C-H en el
polietileno.
7
Figura 3.4 (a) Fotografa de un
monocristal de silicio. (b)
Micrografa de un acero
inoxidable policristalino, donde
se ven los granos y los lmites de
grano (Cortesia de los Dr. M. Hua,
Dr. I. Garcia, y Dr. A.J. Deardo.)
8
Figura 3.5 Pantalla de cristal lquido, estos materiales
son amorfos en un estado y sufren cristalizacin
localizada como respuesta a un campo elctrico externo
se usan mucho en las pantallas de cristal lquido (LCD).
(Cortesia de Nick Koudis/PhotoDisc/Getty Images.)
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(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson
Learning
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Seccin 3.2
Materiales amorfos: Principios y
aplicaciones tecnolgicas
Materiales amorfos
Vidrios
Vitroceramicas
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(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson Learning
Figura 3.9 (b) Esquema del proceso de formado por soplado y
estirado para fabricar una botella de dos litros de PET
(tereftalato de polietileno) a partir de una pre forma. El
esfuerzo inducido en la cristalizacin causa la formacin de
cristales pequeos que contribuyen a reforzar el resto de la
matriz amorfa.
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(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson
Learning
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Figura 3.11 Los
catorce tipos de
redes de Bravais,
agrupados en
siete sistemas
cristalinos. En las
figuras 3.12 y 3.16
se muestra la
celda unitaria real
para un sistema
hexagonal.
15
Tabla 3.1 Caractersticas de los siete sistemas cristalinos
16
Figura 3.12
Definicin de
los parmetros
de la red y su
aplicacin en
los sistemas
cristalinos
cbico,
ortorrmbico y
hexagonal.
17
Figura 3.13 (a)
Ilustracin de la
distribucin de los
tomos en caras y
vrtices. (b) Los
modelos de celdas
unitarias cbica
simple (SC), cbica
centrada en el
cuerpo (BCC), y
cbica centrada en
las caras (FCC)
asumiendo que hay
un solo tomo por
punto de red.
18
Ejemplo 3.1 Determinacin de la cantidad de puntos
de red en sistemas cristalinos cbicos
Calcule los puntos red por celda en los sistemas cristalinos
cbicos. Si solo hay un tomo en cada punto de red, calcule la
cantidad de tomos por celda unitaria.
SOLUCION
En la celda unitaria SC : puntos de red / celda unitaria = (8
vrtices)1/8 = 1
En BCC : puntos de red / celda unitaria
= (8 vrtices)1/8 + (1 centro)(1) = 2
En FCC : Puntos de red / celda unitaria
= (8 vrtices)1/8 + (6 caras)(1/2) = 4
Como se supone que solamente hay un tomo en cada punto
de red, la cantidad de tomos por celda unitaria sera 1, 2, y
4,para las celdas unitarias cbica simple, cbica centrada en el
cuerpo y cbica centrada en las caras, respectivamente.
19
Ejemplo 3.2
Determinacin de la relacin entre el radio
atmico y los parmetros de red.
20
Ejemplo 3.2 SOLUCION
De la figura 3.14, vemos que los tomos se tocan a lo
largo de la arista del cubo en las estructuras SC.
a0 2r
En BCC , Los tomos se tocan a lo largo de la diagonal del
cuerpo, que tiene una longitud a03, hay 4 radios
4r
a0
3
En FCC , Los tomos se tocan a lo largo de la diagonal
de la cara del cubo, su longitud es a02 y hay 4 radios
4r
a0
2
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(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson
Learning
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Ejemplo 3.3: Clculo del factor de empaquetamiento
Calcular el factor de empaquetamiento de una celda FCC
SOLUCION
Hay 4 puntos de red por celda, si hay un tomo por punto de red,
tambin hay 4 tomos por celda. El volumen es 4r3/3 y el
volumen de la celda unitaria es :
3
a 4 3
(4 atoms/cel. )( r )
0
Factor empaquet. 3
a0
3
23
Ejemplo 3.4
Determine la densidad del hierro BCC
El hierro BCC , tiene un parmetro de red de 0.2866 nm.
SOLUCION
Atoms/cel = 2, a0 = 0.2866 nm = 2.866 10-8 cm
masa a. = 55.847 g/mol
Volumen = (2.866 10-8 cm)3 = 23.54 10-24 cm3/cell
3
Avogadro NA = 6.02
a10
0 23 atoms/mol
(23.54 10 24 )(6.02 10 23 )
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Tabla 3.2 Propiedades de la estructura Cristalina de algunos
metales
26
Seccin 3.4
Transformaciones alotrpicas o
polimorfas
Alotrpicas Los elementos que tienen mas de una
estructura cristalina se llaman alotrpicos. Este trmino
suele reservarse para los elementos puros, donde el
efecto de la presin o la temperatura hace que cambie la
estructura.
Poliformismo Se emplea el mismo concepto pero para
materiales compuestos.
27
Figura 3.17 Los sensores de oxgeno
gaseoso que se usan en automviles y
otras aplicaciones se basan en
composiciones de zirconia estabilizada.
(Cortesa de Bosch Robert Bosch GmbH.)
28
Ejemplo 3.5
Clculo de cambios de Volumen en
polimorfos de zirconia
Calcular el cambio de volumen porcentual cuando la
zirconia pasa de una estructura tetragonal a una
estructura monoclinica.[9] la constante de red para
estructuras unitarias monoclinicas son: a = 5.156, b =
5.191, y c = 5.304 , respectivamente. El ngulo de la
celda monoclinica es 98.9. Para la celda tetragonal las
constantes de red son: a = 5.094 y c = 5.304 ,
respectivamente. [10] durante la transformacin se
expande o se contrae la zirconia? Cuales son los efectos
de esta transformacin sobre las propiedades mecnicas
de la cermica de la zirconia?
29
Ejemplo 3.5 SOLUCION
El volumen de una celda unitaria tetragonal
V = a2c = (5.094)2 (5.304) = 134.33 3.
30
Ejemplo 3.6 Diseo de un sensor para
medir el cambio de volumen
Para estudiar el comportamiento del hierro a temperaturas
elevadas, nos gustaria disear un instrumento que pueda
detectar , con exactitud del 1%, el cambio de volumen de un
cubo de hierro de 1-cm3 cuando se calienta pasando por su
temperatura de transformacin polimrfica. A 911oC, el
hierro es BCC, con un parmetro de red de 0.2863 nm. A
913oC, el hierro es FCC, con un parmetro de red de 0.3591
nm. Determine la exactitud que se requiere en el
instrumento medidor.
SOLUCION
El volumen de una celda unitaria del hierro BCC antes de
transformarlo es:
3
VBCC = a0 = (0.2863 nm)3 = 0.023467 nm3
31
Ejemplo 3.6 SOLUCION (Continuacin)
El volumen de una celda unitaria de hierro FCC :
VFCC = 3 = (0.3591 nm)3 = 0.046307 nm3
a0
Pero este es el volumen que ocupa 4 tomos de hierro en
FCC, en consecuencia se deben comparar 2 celdas BCC,
con un volumen de 2(0.023467) = 0.046934 nm3, con
cada celda FCC, El cambio porcentual de volumen
durante la transformacin es:
(0.046307 - 0.046934)
Cambio de volumen 100 1.34%
0.046934
El cubo de hierro de 1-cm3 se contrae a 1 - 0.0134
= 0.9866 cm3 despues de la transformacin;en
consecuencia, para asegurar una exactitud de 1% el
instrumento debe detectar un cambio de:
V = (0.01)(0.0134) = 0.000134 cm3
32
Seccin 3.5:Puntos, direcciones y
planos en la celda unitaria.
Indices de Miller - Es la notacin abreviada para
describir las direcciones y planos metalogrficos. Las
direcciones se denotan con corchetes [ ] y los planos con
parntesis ( ). Los nmeros negativos se representan con
una barra encima del nmero.
Direcciones de una forma o familia Grupo de
direcciones equivalentes forman familias, se usa los
parntesis especiales.
Distancia de repeticin. Es la distancia entre puntos de
la red a lo largo de la direccin.
Densidad lineal Es la cantidad de puntos de la red por
unidad de longitud, a lo largo de la direccin.
Fraccin de empaquetamiento Es la fraccin realmente
ocupada por tomos.
33
Figura 3.18 Coordenadas de puntos
seleccionados en la celda unitaria. El
nmero indica la distancia al origen,
en trminos de parmetros de red.
34
Ejemplo 3.7 Determinacin de Indices de
Miller de direcciones
Determine los ndices de Miller en las direcciones A,
B, y C en la figura 3.19.
35
Ejemplo 3.7 SOLUCION
Direccin A
1. Los puntos son 1, 0, 0, y 0, 0, 0
2. 1, 0, 0, -0, 0, 0 = 1, 0, 0
3. No hay fracciones que eliminar ni enteros que
reducir
4. [100]
Direccin B
1. Los puntos son 1, 1, 1 y 0, 0, 0
2. 1, 1, 1, -0, 0, 0 = 1, 1, 1
3. No hay fracciones que eliminar ni enteros que
reducir
4. [111]
Direccin C
1. Los puntos son 0, 0, 1 y 1/2, 1, 0
2. 0, 0, 1 -1/2, 1, 0 = -1/2, -1, 1
3. 2(-1/2, -1, 1) = -1, -2, 2
4. [ 1 22]
36
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37
Tabla 3.3 Direcciones de la familia 110 en sistemas cbicos
38
Figura 3.21
Determinacin
de la distancia
de repeticin,
densidad lineal
y fraccin de
empaquetamien
to para una
direccin [110]
en el cobre FCC.
39
Ejemplo 3.8, Determinacin de los Indices
de Miller de planos
40
Ejemplo 3.8 SOLUCION
Plano A
1. x = 1, y = 1, z = 1
2.1/x = 1, 1/y = 1,1 /z = 1
3. No hay fracciones que eliminar
4. (111)
Plano B
1. El plano nunca cruza el plano z por lo que x = 1, y = 2, y
z=
2.1/x = 1, 1/y =1/2, 1/z = 0
3. Eliminar fracciones:
1/x = 2, 1/y = 1, 1/z = 0
4. (210)
Plano C
1. Se debe cambiar origen, por que el plano pasa 0, 0, 0.
Mover en direccin y, entonces, x = , y = -1, and z =
2.1/x = 0, 1/y = 1, 1/z = 0
3. No hay fracciones que eliminar.
4. (0 1 0)
41
Tabla 3.4 Planos de la familia {110} en los sistemas cbicos
42
Ejemplo 3.9 Clculo de la densidad planar
y la fraccin de empaquetamiento
43
Ejemplo 3.9 SOLUCION
44
Ejemplo 3.10 trazado de direccin y plano
Figura 3.24
Construccin
de a (a)una
direccin y (b)
un plano
dentro de una
celda unitaria
(para el
ejemplo 3.10)
45
Example 3.10 SOLUCION
a. Como sabemos que hay que moverse en la direccin
negativa, ubiquemos el origen en 0, +1, 0. La cola de
la direccin estar en el nuevo origen. Se determina un
segundo punto de la direccin avanzando +1 en la
direccin x, -2 en la direccin y, y +1 en la direccin z
(Figura 3.24(a)].
b. Para dibujar el [plano,
2 10] se determinan primero los
recprocos de los ndices para obtener las intercepciones:
x = 1/-2 = -1/2 y = 1/1 = 1 z = 1/0 =
Como el cruce en x esta en una direccin negativa y se
desea trazar el plano dentro de la celda unitaria, se
cambia el origen +1 en la direccin x hasta 1, 0, 0.
Entonces se puede ubicar la interceccin con x en - 1/2 y
con y en +1. El plano ser paralelo al eje Z [Figura
3.24(b)].
46
Figura 3.25 Indices de Miller-
Bravais en celdas unitarias
HCP usando un sistema
coordenado de 4 ejes. Los
planos identificados con A y
B y las direcciones
identificadas con C y D son
del ejemplo 3.11.
47
Figura 3.26 Direcciones comunes en la celda unitaria HCP
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson Learning
48
Ejemplo 3.11 Determinacin de los Indices
de Miller-Bravais para planos y direcciones
49
Ejemplo 3.11 SOLUCION
Plano A
1. a1 = a2 = a3 = , c = 1
2. 1/a1 = 1/a2 = 1/a3 = 0, 1/c = 1
3. No hay fracciones que simplificar
4. (0001)
Plano B
1. a1 = 1, a2 = 1, a3 = -1/2, c = 1
2. 1/a1 = 1, 1/a2 = 1, 1/a3 = -2, 1/c = 1
3. No hay fracciones que simplificar
4. (1121)
Direccin C
1. Dos puntos son 0, 0, 1 y 1, 0, 0.
2. 0, 0, 1, -1, 0, 0 = -1, 0, 1
3. No hay fracciones que eliminar ni enteros que
reducir.
4. [1 01] [2113]
50
Example 3.11 SOLUCION (Continuacin)
Direccin D
1. Dos puntos son 0, 1, 0 y 1, 0, 0.
2. 0, 1, 0, -1, 0, 0 = -1, 1, 0
3. No fracciones que eliminar ni enteros quereducir
4. [ 1 10] [ 1 100]
51
Tabla 3.5 Planos y direcciones compactas
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Figura 3.27 La
secuencia de
apilamientoABABAB
de planos
compactos produce
la estructura HCP.
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54
Seccin 3.6 Sitios Intersticiales
55
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson Learning
56
Ejemplo 3.12 Clculo de sitios octadricos
1 1 1 1
,0,0 ,1,0 ,0,1 ,1,1
2 2 2 2
1 1 1 1
0, ,0 1, ,0 1, ,1 0, ,1
2 2 2 2
1 1 1 1
0,0, 1,0, 1,1, 0,1,
2 2 2 2
57
Ejemplo 3.12 Continuacin
58
59
Ejemplo 3.13 Diseo de una pared
absorbente de radiacin
Se desea producir una pared absorvente de radiacin
formada por 10000 esferas de Pb, cada una de 3 cm de
dimetro, en arreglo FCC. Se decide que habra mejor
absorcin si se llenan con esferas mas pequeas los sitios
intersticiales. Disee el tamao de las esferas de Pb mas
pequeas y determine cuntas se necesitan.
60
Ejemplo 3.13 SOLUCION
Para este diseo, podemos introducir esferas pequeas de
Pb que quepan exactamente en todos los sitios
intersticiales octadricos. Primero calculamos el dimetro
de los sitios octadrico entre las esferas de 3 cm de
dimetro:
Longitud AB = 2R + 2r =4R/ 2
r = 2 2 R-R = (2 2 -1)R
r/R = 0.414
61
Seccin 3.7
Estructuras cristalinas de los
materiales inicos
Se deben tener en cuenta los siguientes factores para
comprender las estructuras cristalinas de los slidos con
enlaces inicos:
Radios inicos
Neutralidad elctrica
Conexin entre poliedros de anion
Visualizacin de estructuras cristalinas en
computadoras.
62
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson
Learning
63
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson Learning
64
Ejemplo 3.14 Relacin de radios del KCl
SOLUCION
a. De tablas, rK+ = 0.133 nm y rCl- = 0.181 nm, entonces:
rK+/ rCl- = 0.133/0.181 = 0.735
Como 0.732 < 0.735 < 1.000, El nmero de coordinacin
de cada clase de ion es 8 y la estructura del CsCl es la mas
probable.
65
Ejemplo 3.14 continuacin de la SOLUCION
3 3
3
0.725
(0.363)
66
Ejemplo 3.15 Ilustracin de una estructura
cristalina y clculo de su densidad
67
Ejemplo 3.15 SOLUCION
Las masas atmicas son 24.312 y 16 g/mol para el
magnesio y oxgeno respectivamente. Los iones se tocan
a lo largo de la arista del cubo, entonces:
a0 = 2 rMg+2 + 2rO-2 = 2(0.066) + 2(0.132)
= 0.396 nm = 3.96 10-8 cm
68
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson Learning
69
Ejemplo 3.16 Clculo de la densidad
terica del GaAs
70
3.16 SOLUCION (Continuacin)
Cada mol de As (6.023 1023 atoms) tiene una masa de
74.9 g.
Entonces en 4 atomos de As se tiene:
(4 * 74.9/6.023 1023) g. Estos tomos ocupan un
volumen de (5.65 10-8)3 cm3.
71
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson
Learning
72
Learning
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson
74
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson Learning
Figura 3.37 Estructura del corindon de almina alfa (-AI203).
75
Seccin 3.8 Estructuras covalentes
76
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Figura 3.38 (a) Tetraedro y (b) Celda unitaria cbica del
diamante (DC) . Se produce esta estructura abierta por
los requerimientos del enlace covalente.
77
Ejemplo 3.17 Determinacin del factor de
empaquetamiento para el silicio cbico
tipo diamante.
Determine su factor de empaquetamiento.
Thomson Learning
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing /
Figura 3.39
Determinacin de la
relacin entre el
parmetro de red y el
radio atmico en una
celda cbica de
diamante. (para el
ejemplo 3.17).
78
Ejemplo 3.17 SOLUCION
3a 0 8r
4
(8 atoms/cel. )( r 3 )
Factor Enpaquetam iento 3
a03
4
(8)( r 3 )
3
(8r / 3 ) 3
0.34
Comparado con el valor de tablas es el mismo valor.
79
Ejemplo 3.18 Clculo del radio y la
densidad del silicio
La constante de red del silicio es 5.43 . Cual ser el radio y
la densidad del silicio?. La masa atmica del silicio es 28.1
gm/mol.
SOLUCION
Tenemos que a = 5.43 , remplazando en la ecuacin
tenemos que el radio del silicio es R = 1.176 .
3a0 8r
Si hay 8 tomos por cada celda unitaria entonces la densidad:
81
(c) 2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson Learning
82
Ejemplo 3.19 Clculo de la cantidad de tomos de
carbono e hidrgeno en el polietileno cristalino.
84
Figura 3.43 Interacciones
(a) Destructiva y
(b)Constructiva entre Rx y
el material cristalino. El
refuerzo, o interaccin
constructiva, sucede en
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85
Figura 3.44 Fotografa de un
difractmetro de Rx. (Cortesia
de H&M Analytical Services.)
86
Figura 3.45 (a) Diagrama
de un difractmetro donde
se observan la muestra en
polvo y los haces incidente
y difractado. (b) Figura de
difraccin obtenida con una
muestra de polvo en oro.
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87
Ejemplo 3.20 Anlisis de la difraccin de Rx.
88
Ejemplo 3.20 SOLUCION
89
Ejemplo 3.20 SOLUCION (Continuacin)
Para calcular la distancia entre planos se puede usar
cualquiera de los valores de 2 de los picos y luego el
parmetro de la red.Si escogemos el pico 8:
2 = 59.42 o = 29.71
0.7107
d 400 0.71699
2 sin 2 sin( 29.71)
a 0 d 400 h k l
2 2 2
(0.71699)( 4) 2.868
Este es el parmetro de red del hierro BCC
90
Figura 3.46 Fotografa de un
microscopio electrnico de
transmisin (TEM) usado para el
anlisis de la microestructura de
materiales. (Cortesia de JEOL
USA, Inc.)
91
Figura 3.47 Micrografa electrnica de transmisin de
una muestra de aleacin de Al. La figura de difraccin
de la derecha muestra manchas luminosas grandes que
representan la difraccin de los principales granos de la
matriz de aluminio, las manchas ms pequeas se
originan en cristales de nanoescala de otro compuesto
que esta presente en esa aleacin. (Cortesa del Dr.
Jrg M.K. Wiezorek, University of Pittsburgh.)
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Figura 3.48 Determine los ndices de Miller, para las
direcciones mostradas
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Figura 3.49
Determine los
ndices para las
direcciones en la
celda unitaria.
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Figura 3.50 Determine los ndices para los planos en la
celda unitaria cbica.
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Figura 3.51 Determine los ndices para los planos de la celda
unitaria cbica.
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Figura 3.52
Determine los
ndices para las
direcciones en la red
hexagonal, usando
el sistema de 3 y 4
dgitos.
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100
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Figura 3.56 Si se usaron Rx longitud de onda de = 0.15418nm
Determine:La estructura cristalina,parmetro, los ndices de los
planos que produce cada pico.
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Figura 3.57 Si se usaron Rx de = 0.07107 nm, determine:
Estructura cristalina, los indices de los planos y el parmetro del metal.
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