Utem Ignacio Alvarez Trabajo de Titulo

UNIVERSIDAD TECNOLÓGICA METROPOLITANA
FACULTAD DE INGENIERÍA
DEPARTAMENTO DE MECÁNICA
ESCUELA DE MECÁNICA
DISEÑO TEÓRICO-NUMÉRICO DE NANO/MICROESTRUCTURAS

PARA POTENCIAR EL ENFRIAMIENTO RADIATIVO
TRABAJO DE TITULACIÓN PARA OPTAR AL TÍTULO DE

INGENIERO EN MECÁNICA
PROFESOR GUÍA: GERARDO SILVA OELKER
ALUMNO: IGNACIO ÁLVAREZ CATALÁN
SANTIAGO - CHILE
2021
NOTA OBTENIDA:
Firma y timbre de la autoridad responsable

Dar las gracias a mi familia y futuro hijo, por motivarme a
ser siempre mejor persona, también a compañeros y
profesores, por compartir el conocimiento.
Resumen
La regulación de la temperatura es una de las actividades humanas que más consumen energı́a,
actualmente las tecnologı́as de refrigeración representan un 15 % del consumo mundial de electri-
cidad y el 10 % de las emisiones de gases invernaderos. Debido al calentamiento global se espera
que estas cifras que aumenten [1] . Esta energı́a podrı́a producirse por mecanismos que ocupen
combustibles fósiles como termoeléctricas. También, puede significar un aumento en alternativas
no fósiles como la energı́a solar fotovoltaica. En general las celdas solares estándar se calientan
bajo la luz solar. En celdas de silicio, por cada 1 K de aumento en su temperatura de funciona-
miento su eficiencia disminuye en, aproximadamente un 0,45 % [2] y su durabilidad disminuye el
doble por cada 10 K de aumento en su temperatura de operación [3] .
Una alternativa de enfriamiento es el llamado enfriamiento radiativo (ER), el ER es un

proceso por el cual una superficie pierde calor a través de radiación térmica sin ningún consumo
de energı́a. La idea es colocar un material nanoestructurado altamente emisivo en el rango de la
ventana atmosférica (8 − 13 µm), produciendo una emisión de calor radiativo al espacio exterior,
el que resulta en un enfriamiento. Los materiales nanoestructurados de gratings de siete capas de
SiO2 /Si3 N4 que funcionan como un emisor selectivo se modelan mediante el análisis riguroso de
acoplamiento de ondas (RCWA) este método numérico, permite calcular las propiedades ópticas
de las nanoestructuras basado en la expansión de los campos electromagnéticos mediante series
de Fourier. Además, a través de un balance de energı́a se calcula la temperatura de equilibrio
que llega estar por debajo de 5°C de la temperatura ambiente (300 K) a exposición directa al
sol simulada a AM1.5D (900 [W/m2 ]).
Índice general
Índice general I
Índice de figuras III
Índice de tablas V
1. Introducción 1
1.1. Descripción de la problemática . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.2. Motivación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
1.3. Objetivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
1.3.1. Objetivo General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
1.3.2. Objetivos Especı́ficos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
1.4. Estructura . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
2. Marco Teórico 4
2.1. Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
2.2. Ondas Electromagnéticas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
2.2.1. Ecuaciones de Maxwell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
2.2.2. Polarización . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.2.3. Vector de Poynting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
2.2.4. Propiedades Ópticas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
2.2.5. Modelación de Prompiedades Electromagnéticas . . . . . . . . . . . . . . 15
Modelos de Función Dieléctrica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
Realciones Kramers-Kronig (KK) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
Modelo de Drude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
i
HandBook of Optical Constants of Solids (Palik) . . . . . . . . . . . . . . 18
2.2.6. Modelación de Ondas Electromagnéticas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
Gratings Periodicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
Análisis Riguroso de Acoplamiento de Ondas (RCWA) . . . . . . . . . . . 20
2.3. Validación del Código para el RCWA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
2.4. Enfriamiento Radiativo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
2.4.1. Modelo Matemático . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
2.4.2. Emisores Térmicos y Propiedades Ópticas para Enfriamiento Radiativo . 32
3. Diseño y Resultados 36
3.1. Diseño . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
3.2. Método de Obtención Resultados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
3.3. Resultados Obtenidos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
4. Análisis de Resultados 46
4.1. Análisis de emitancias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
4.2. Análisis de Potencias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
5. Conclusiones y trabajo futuro 49
Referencias 51
Anexos 55
A. Gráficos Estructuras 56
ii
Índice de figuras
2.1. Reflexión y transmisión en una interfase . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.2. Análisis Riguroso de Acoplamiento de Ondas (RCWA) esquema . . . . . . . . . . 20
2.3. Validación Wang, L . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
2.4. Validación Nguyen-Huu . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
2.5. Validación Hongchen Ma . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.6. Enfriamiento Radiativo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
2.7. Ángulo Sólido . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
2.8. Datos atmosféricos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
2.9. Ejemplo N°1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
2.10. Ejemplo N°1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
2.11. Ejemplo N°2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
2.12. Ejemplo N°3 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
3.1. Diseño estructuras . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
3.2. Propiedades ópticas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
3.3. Ordenes de difracción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
3.4. Resumen resultados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
3.5. Resultados Potencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3.6. Resultados Emitancias Promedio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
3.7. Resultados Reflectancias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
4.1. Análisis de emitancias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
4.2. Análisis de Reflectancias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
4.3. Análisis de Resultados hc = 0 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
iii
A.1. Resultados RCWA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
iv
Índice de tablas
3.1. Dimensiones capas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
v
Capı́tulo 1
Introducción
1.1. Descripción de la problemática
La regulación de la temperatura en macro y micro escala es una de las actividades humanas
que más consumen energı́a, actualmente las tecnologı́as de refrigeración ya representan un 15 %
del consumo mundial de electricidad y el 10 % de las emisiones de gases invernaderos. Debido al
calentamiento global se espera que estas cifras aumenten [1] . Esta energı́a podrı́a producirse por
mecanismos que ocupen combustibles fósiles como termoeléctricas. También, puede significar un
aumento en alternativas no fósiles como la energı́a solar fotovoltaica, en general las celdas solares
estándar se calientan bajo la luz solar. El resultado de este incremento en la temperatura de
operación, trae consecuencias desfavorables en la eficiencia y durabilidad de estas. En celdas de
silicio, por cada 1 K de aumento en su temperatura de funcionamiento su eficiencia disminuye en,
aproximadamente un 0,45 % [2] y su durabilidad disminuye el doble por cada 10 K de aumento
en su temperatura de operación [3] .
Otra problemática mundial es la obtención de agua dulce, debido al calentamiento global. Las
tecnologı́as tradicionales para la obtención de agua como, la desalación por osmosis inversa [4] ,
destilación [5] o el tratamiento y reciclaje de aguas servidas, consumen bastante energı́a, dejando
el acceso de agua a un precio elevado, dejando más difı́cil el acceso a este recurso a paises y
pueblos con problemas económicos y de agua potable.
1
1.2. Motivación
Para las problemáticas planteadas, es responsabilidad de las nuevas generaciones de profe-
sionales y cientı́ficos el encontrar alternativas, de enfriamiento y obtención de agua potable, que
reduzcan el consumo de energı́a eléctrica proveniente de fuentes fósiles para evitar esta retro-
alimentación negativa. Además, de aumentar la eficiencia de la alternativa solar fotovoltaica.
Gracias a la nanofotónica, que estudia el comportamiento de la luz y la materia en escalas
nanométricas, es posible hacer ingienerı́a de radiación térmica, este estudio requiere de herra-
mientas analı́ticas y numéricas para el diseño geométrico y de materiales, formando estructuras
que nos permitan manejar las propiedades ópticas.
1.3. Objetivos
1.3.1. Objetivo General
Proponer un modelo de enfriador radiativo a través de nano/microestructuras que permi-
tan ajustar propiedades ópticas como la emitancia y reflectancia, potenciando el enfriamiento
radiativo de superficies.
1.3.2. Objetivos Especı́ficos
1. Calcular numéricamente propiedades ópticas de nano/microestructuras.
2. Validar los métodos numéricos utilizados mediante soluciones analı́ticas y literatura.
3. Diseñar nano/microestructuras que potencien el enfriamiento radiativo.
4. Calcular la potencia de enfriamiento proporcionada por el enfriador radiativo.
1.4. Estructura
El presente trabajo se estructurará en cinco capı́tulos, los cuales engloban las grandes macro
tareas que corresponde al proyecto a desarrollar.
El capı́tulo 2 comprende el marco teórico, donde se describe la teorı́a y estado del arte,
necesarios para sentar las bases sobre las cuales se sustenta la etapa de Diseño y Resultados. El
2
trabajo sintetiza y resume contenido de distintas fuentes bibliográficas.
El capı́tulo 3 comprende el desarrollo de la investigación, sistemas implementados; y en
particular se detalla teóricamente los resultados, para registrar datos y la relevancia que tienen
estos para el análisis.
En el capı́tulo 4 se presentan los resultados obtenidos y su correspondiente análisis.
Finalmente, las conclusiones se presentan en el capı́tulo 5, donde se analiza el trabajo desde un
punto de vista más general, contrastando objetivos y resultados obtenidos, y a la vez proponiendo
trabajos futuros.
Se incluyen adicionalmente anexos con, unidades y prefijos del Sistema Internacional de
Medidas, entre otros datos de interés utilizados en el presente trabajo, cuyo objetivo es servir
como una consulta rápida para facilitar la comprensión del mismo.
3
Capı́tulo 2
Marco Teórico
2.1. Introducción
La regulación de la temperatura en macro y micro escala es una de las actividades humanas
que más consumen energı́a, actualmente las tecnologı́as de refrigeración ya representan un 15 %
del consumo mundial de electricidad y el 10 % de las emisiones de gases invernaderos. Debido al
calentamiento global se espera que estas cifras que aumenten [1] . Esta energı́a podrı́a producirse
por mecanismos que ocupen combustibles fósiles como termoeléctricas. También, puede significar
un aumento en alternativas no fósiles como la energı́a solar fotovoltaica, en general las celdas
solares estándar se calientan bajo la luz solar. En respuesta al calentamiento global en el mundo
donde hace varias décadas, se han impulsado las energı́as renovables (solar, eólica, etc). En
particular, en Chile, el plan de gobierno llamado ”La Hoja de Ruta 2050: Hacia una Energı́a
Sustentable e Inclusiva”busca que al menos un 70 % de la matriz eléctrica en el 2050 provenga
de fuentes renovables, con énfasis en la energı́a solar y eólica [6] . Particularmente importante es
la energı́a solar fotovoltaica, que convierte la radiación solar en electricidad a través del efecto
fotovoltaico. Las celdas solares de silicio (Si) llegan a una eficiencia de 26.3 % [7] .
En general las celdas solares estándar se calientan bajo la luz solar. El resultado de este
incremento en la temperatura de operación, trae consecuencias desfavorables en la eficiencia
y durabilidad de estas. En celdas de silicio, por cada 1 K de aumento en su temperatura de
funcionamiento su eficiencia disminuye en, aproximadamente un 0,45 % [2] y su durabilidad dis-
minuye el doble por cada 10 K de aumento en su temperatura de operación [3] . Debido a los
datos antes mencionados es que se busca una manera efectiva y de bajo costo para enfriar las
4
celdas fotovoltaicas.
Una alternativa de enfriamiento es el llamado enfriamiento radiativo (ER), el ER es un
proceso por el cual una superficie pierde calor a través de radiación térmica sin ningún consumo
de energı́a. Por ejemplo, la tierra tiene una temperatura de superficie cercana a los 300 K,
mientras que el fondo cósmico de microondas del universo tiene un espectro de radiación térmica
de cuerpo negro a una temperatura de 2.7 K. Esta diferencia de temperaturas entre la tierra y
el universo puede ser utilizada para enfriar la superficie de la tierra por medio de la emisión de
radiación infrarroja al universo a través de la atmósfera. El enfriamiento radiativo diurno es un
gran desafı́o debido a estrictas condiciones. Se requiere una baja absorción en el espectro solar,
es decir entre los 0,3 − 2,5 µm, mientras que una alta emisividad (≈ 1) en longitudes de onda
dentro de la llamada ventana atmosférica 8 − 13 µm. Dicha ventana atmosférica, es donde la
atmósfera tiene una mayor transmitancia hacia el espacio [8] .
La idea general de este trabajo es colocar un material nanoestructurado altamente emisivo
en el rango de la ventana atmosférica (8 − 13 µm), produciendo una emisión de calor radiativo al
espacio exterior, el que resulta en un enfriamiento. Los materiales nanoestructurados se modelan
mediante el análisis riguroso de acoplamiento de ondas (RCWA) este método numérico, permite
calcular las propiedades ópticas de las nanoestructuras basado en la expansión de los campos
electromagnéticos mediante series de Fourier. Además, a través de un balance de energı́a se cal-
cula la potencia de enfriamiento y la temperatura de equilibrio del enfriador radiativo diseñado.
2.2. Ondas Electromagnéticas
Las ecuaciones de Maxwell describen como las ondas electromagnéticas se propagan y como
interactúan con un medio. En este capı́tulo se mencionan la ecuaciones de Maxwell, las ecuaciones
constitutivas y se definen propiedades relevantes como el número de onda, longitud de onda ,
velocidad de fase, frecuencia angular, ı́ndice de refracción, coeficiente de amortiguación y sus
relaciones para el desarrollo de este trabajo.
2.2.1. Ecuaciones de Maxwell
Las ecuaciones de Maxwell son cuatro de las ecuaciones más influyentes de la ciencia, estas
son: Ley de Faraday, la ley de Ampere-Maxwell, ley de Gauss para campos eléctricos y ley de
5
Gauss para campos magnéticos.
~
∇ ~ = − ∂B ,
~ ×E (2.1)
∂t
~
∇ ~ = J~ + ∂ D ,
~ ×H (2.2)
∂t
~ ·D
∇ ~ = ρe y (2.3)
~ ·B
∇ ~ =0, (2.4)
~ es el campo eléctrico [V /m], H

donde E ~ es el campo magnético [C/ms], J~ es la densidad de
~ es el desplazamiento eléctrico [C/m2 ], B

corriente eléctrica [A/m2 ], D ~ es la inducción magnética
[W b/m2 ], y finalmente ρe es la densidad de carga [C/m3 ].
Las relaciones constitutivas para un medio lineal isotrópico son:
~ = εm E
D ~ ,y (2.5)
~ = µm H
B ~ , (2.6)
donde εm es la permitividad eléctrica en [F/m] y µm es la permeabilidad magnética del medio en
[H/m]. La permitividad y permeabilidad en el vacı́o tienen un valor de ε0 = 8,854 · 10−12 [F/m]
y µ0 = 4π · 10−7 [H/m], respectivamente. Además, la ley de Ohm, relaciona el movimiento de
electrones libres con el campo eléctrico, mediante:
J~ = σ E
~ , (2.7)
donde σ es la conductividad eléctrica [A/V · m].
6
A partir de la ecuación 2.1 se deriva la ecuación de onda para el campo eléctrico, obteniéndose:
∂2E~ ~
∂E
~ = µε
∇2 E + µσe . (2.8)
∂t2 ∂t
Una solución para la ecuación 2.8, en forma de onda plana, se obtiene:
E(r, ~ 0 exp[−i(ωt − ~k · ~r)] ,

~ t) = E (2.9)
donde E~0 representa la amplitud y dirección del campo eléctrico, ~r = xb

x + yb
y + zb
z donde ~r
es el vector posición, ~k = kx x
b + kx yb + kx zb es el vector de onda, que apunta en la dirección de
propagación de la onda y ω es la frecuencia angular. Para que la ecuación 2.9 sea una solución
√
de la ecuación 2.8, la magnitud de ~k deberı́a ser k = ω µm εm , que es el número de onda. El
2π
número de onda, k, está relacionado con la longitud de onda λm en el medio por k = . La
λm
superficie normal a ~k es llamada frente de onda y viaja a la llamada velocidad de fase, que viene
dada por:
ω 1
c= =√ . (2.10)
k µm εm
En el espacio libre la velocidad de fase es c0 = 299, 792, 458[m/s].
La magnitud del vector de onda se puede expresar en función de la frecuencia como:
Nω
|k| = , (2.11)
c0
donde N es el ı́ndice de refracción complejo, que viene dado por:
√
r
εm
N= = ε = n + iκ . (2.12)
ε0
En 2.12 n es el ı́ndice de refracción , κ es el coeficiente de extinción, que mide la amortiguación

εm
del campo electromagnético y ε es la constante dieléctrica o permitividad relativa (ε = ). En
ε0
general, N como ε dependen de la longitud de onda.
Se puede probar que la onda electromagnética es una onda transversal, y que los campos
7
eléctricos y magnéticos son perpendiculares entre si, por lo que se cumple:
E ~ ⊥ ~k .
~ ⊥H (2.13)
8
2.2.2. Polarización
Una descripción completa de una onda electromagnética no solamente incluye parámetros
como su longitud de onda, velocidad de fase y potencia, sino también una especificación de la
orientación de sus vectores de campo en un instante determinado.
Cuando el campo eléctrico está en la dirección y, y es perpendicular al plano de incidencia,
como muestra la (Fig. 2.1.a), se dice que la onda es transversal eléctrica (TE) o que está pola-
rizada perpendicularmente (s). Cuando el campo magnético es paralelo al eje y se dice que es
una onda transversal magnética (TM) o polarización paralela (p) (Fig. 2.1.b). En este trabajo,
ocuparemos la notación TE y TM [9] .
Figura 2.1: Ilustración de la reflexión y transmisión en una interface. En ambas figuras, k1 y k2

son el vector de onda incidente (y reflejado) en el medio 1 y el vector de onda transmitido en el
medio 2 respectivamente (también, se muestran sus componentes en los planos (x -z ). Además,
E es el campo eléctrico, H es el campo magnético, θ1 es el ángulo de incidencia en la interfaz y
θ2 es el ángulo de transmisión de la onda. Los subindices i representan la onda incidente, t la
onda transmitida y r la onda reflejada. (a) Muestra una onda TE y (b) muestra una onda TM.
El eje y es perpendicular al plano de incidencia x-z [9] .
9
2.2.3. Vector de Poynting
El vector de Poynting es esencialmente el flujo de energı́a instantáneo.
A partir de las ecuaciones de Maxwell se puede obtener la relación:

−∇ · (E ~ = ∂
~ × H) 1
εm E ~ + 1 µm H
~ ·E ~ ·H
~ ~ · J~ ,
+E (2.14)
∂t 2 2
donde el término −∇ · (E ~ × H),

~ representa el flujo de energı́a dentro de un volumen de control
1 ~ ·E
~ representa la densidad de energı́a del campo eléctrico en J/m3 ,
diferencial. El término εm E
2
1 ~ ·H~ es la densidad de energı́a del campo magnético también en J/m3 . El
el término µm H
2
segundo término de la derecha E ~ · J~ representa, el trabajo magnético disipado o calentamiento
de Joule.
~ ×H
El producto cruz E ~ la cantidad de flujo de energı́a dentro de un volumen. Llamaremos
a este producto cruz el vector de Poynting y es definido como:
~=E
S ~ ×H
~ , (2.15)
El vector de Poynting es esencialmente el flujo de energı́a instantáneo. Para campos armónicos,
el vector de Poynting promedio en el tiempo se puede expresar como:
1 ~ × H~ ∗ ) ,
hSi = Re(E (2.16)
2
donde el sı́mbolo ∗ denota el complejo conjugado [10] .
2.2.4. Propiedades Ópticas
Cuando se habla de propiedades ópticas, se suele hacer referencia a la interacción de la
radiación electromagnética con la materia. Esto se puede explicar, considerando un rayo de una
onda electromagnética de una sola frecuencia que entra en un medio desde el vacı́o. Este rayo
puede ser reflejado, transmitido (refractado) o absorbido.
La reflexión y la refracción (transmisión) de un medio isotrópico semi-infinito se estudian a
partir de las ecuaciones de Maxwell utilizando condiciones de contorno adecuadas en la interfaz
entre el medio incidente y el medio transmisor.
10
A altas frecuencias, la densidad de corriente J~ y el campo eléctrico E
~ ya no están en fase,
esto sugiere que la conductividad debe ser un numero complejo. En el caso de los aislantes,
como los dieléctricos cristalinos o amorfos, las ondas electromagnéticas pueden interactuar con
los electrones ligados o las vibraciones de la red para transferir energı́a al medio. Esto quiere
decir que en las frecuencias ópticas la diferencia entre conductor y aislante se vuelve ambigua. Se
sabe que un buen conductor es altamente reflectante en una amplia región espectral (infrarrojo
hasta las radiofrecuencias). Un material dieléctrico también puede ser altamente reflectante en
ciertas bandas de frecuencia, en especial en la región del infrarrojo medio.
La función dieléctrica compleja (o permitividad), viene dada por εr = (n + iκ)2 , donde n es
la parte real, el ı́ndice de refracción, y κ es la pate imaginarı́a llamado coeficiente de extinción.
Consideremos radiación incidente desde un medio (subı́ndice 1) a otro (subı́ndice 2) con una
interfaz entre ellos, como muestra la (Fig. 2.1). Además, supongamos que la interfaz que separa
a los medios es un plano liso y que se extiende hasta el infinito. Cada medio es homogéneo
e isotrópico, por lo tanto, no hay dispersión en el medio. Por lo que la respuesta eléctrica
puede caracterizarse por la permitividad o función dieléctrica εr , y la respuesta magnética puede
caractérizarse por la permeabilidad µ. Para materiales no magnéticos, el indice refractivo está

√
relacionados por la función dieléctrica por n = εr .
Con el fin de relacionar los campos en ambos medios, y con ello determinar la reflexión y
transmisión en la interfaz necesitamos establecer las condiciones de borde para el campo eléctrico
y magnético. Aplicando las ecuaciones de Maxwell a un volumen de control muy delgado que
rodea la interfaz, se pueden encontrar las siguientes condiciones [9] :
~2 − D
n̂ · (D ~ 1 ) = ρs , (2.17)
n̂ × (E~2 − E~1 ) = 0 , (2.18)
n̂ · (B~2 − B~1 ) = 0 , (2.19)
~2 − H
n̂ × (H ~1 ) = J~s , (2.20)
donde n̂ representa el vector normal a la interfaz, E~1 y E~2 son los campos eléctricos a los dos
~1 y H
lados de la interfaz, H ~2 son los campos magnéticos en ambos lados, y el sufijo s indica
11
que es en la superficie, por lo tanto, J~s es la densidad de corriente en la superficie. Además,
consideraremos a la radiación incidente como una onda plana monocromática de frecuencia
angular ω, cuyo vector de onda viene dado por k~+ 1 = (k1x , 0, k1z ) como muestra la (Fig. 2.1)
(los vectores de onda que fueron reflejados y transmitidos, deben estar en el mismo plano (x-z)).
Por lo tanto, se puede obtener sin θ1 = k1x /k1 u cos θ1 = k1z /k1 , donde resolviendo podemos
llegar a k12 = k1x

2 2
+ k1z = µ1 ε1 ω 2 /c20 . Debido a esto, es habitual que la reflexión y la refracción
(transmisión) se estudia para ondas polarizadas linealmente, es decir, con el campo eléctrico
o magnético paralelo al eje y, porque otras polarizaciones pueden descomponerse en las dos
componentes de polarización.
~ yH
Las condiciones de borde establecen que las componentes tangenciales de E ~ deben ser
continuas en la interfaz. Esto quiere decir, que la componente x del vector de onda tiene que
ser la misma para la onda incidente, reflejada y transmitida, k1x = k2x = kx . También, debido
a que el ángulo de reflexión debe ser el mismo al ángulo de incidencia (reflexión especular), se
tiene k~1− = (kx , 0, −k1z ). Para la onda refractada o transmitida, se tiene k~2 = (kx , 0, k2z ).
Para el caso de una interfaz, y utilizando las condiciones de borde señaladas anteriormente,
es posible obtener los coeficientes de reflexión (r12 ) y transmisión (t12 ), llamados coeficientes de
Fresnel. En el caso de una onda TE y materiales no magnéticos los coeficientes vienen dados por,
r12,T E = Er /Ei y t12,T E = Et /Ei , donde Ei , Er y Et son las amplitudes del campo eléctrico
incidente, reflejado y transmitido, respectivamente. Para materiales no magnéticos se puede
expresar como:
n1 cos θ1 − n2 cos θ2
r12,T E = , (2.21)
n1 cos θ1 + n2 cos θ2
2n1 cos θ1
t12,T E = , (2.22)
Para el caso de una onda TM se tiene una reflexión (r12,T M = Hr /Hi ) y transmitancia
(t12,T M = Ht /Hi ). Para materiales no magnéticos se tienen las siguientes ecuaciones:
n2 cos θ1 − n1 cos θ2
r12,T M = , (2.23)
2n2 cos θ1
t12,T M = , (2.24)
12
Donde n es el ı́ndice refractivo antes mencionado, θ1 el ángulo de incidencia y θ2 el ángulo
de transmitancia (ver Fig. 2.1.). Los Coeficientes de Fresnel dan las magnitudes de los campos
reflejados y transmitidos. Para calcular el flujo de energı́a que atraviesa una interfaz, debemos
examinar el vector de Poynting, tenemos:
kx∗

1 ∗ ∗
hS1x i = Re (Ei + E r )(Ei − E r ) (2.25)
2 ωµ0 µ∗1
y
kz∗

1 ∗ ∗
hS1z i = Re (Ei + Er )(Ei + Er ) , (2.26)
2 ωµ0 µ∗1
se puede ver que, la onda incidente y la onda reflejada están acopladas y el flujo de energı́a no
se puede separar en un flujo incidente y un flujo reflejado. Si asumimos un medio 1 sin perdidas
(no absorbente o no disipativo) y kx2 < k12 , se puede escribir:
k1z k1z
hSiz i = |Ei |2 y hSrz i = |Er |2 . (2.27)
2ωµ0 µ1 2ωµ0 µ1
La reflectividad espectral, o simplemente reflectividad, ρ0λ viene dada por la relación entre el
flujo de energı́a reflejado con el flujo de energı́a incidente, y la absorbencia αλ0 es la relación del
flujo de energı́a transmitido al flujo de energı́a incidente, ya que todos los fotones transmitidos
a través de la interfaz serán absorbidos dentro del segundo medio.
La condición sin pérdidas en el medio 1 se requiere para definir adecuadamente la reflectividad
de la energı́a. Esto no es un problema si la radiación es una onda incidente desde el aire. La
potencia reflectiva puede definirse basado en los componentes z del vector de Poynting reflejados
e incidentes, por lo tanto, para polarización TE, se tiene:
ρ0λ,T E (θ1 ) = |Er |2 /|Ei |2 = |r12,T E |2 . (2.28)
Además, se necesita definir el vector de Poynting para la interface en el medio 2 como:
kx∗ x̂ + k2z
∗

1 ẑ
hSt i = Re ∗ |Et |2 . (2.29)
2ωµ0 µ2
Ya que, la definición del flujo de energı́a transmitida en la interfaz se basa en el vector
de Poynting proyectado en la dirección z. Por lo tanto, la absortividad está relacionado a los
13
componentes z de los vectores de Poynting transmitidos e incidentes.
0 Re(k2z /µ2 )
αλ,T E (θ1 ) = |t12,T E |2 , (2.30)
Re(k1z /µ1 )
sabiendo que el medio 1, no tiene perdidas se puede decir ρ0λ,s + αλ,s

0
= 1, es requerida con-
servacion de energı́a por lo tanto, hS1z i = hS2z i en z = 0. Para materiales no magnéticos y
aproximadamente no disipativos, tenemos:
0 n2 cos θ2
αλ,T E (θ1 ) = |t12,T E |2 , (2.31)
n1 cos θ1
Para ondas transversal magnéticas (TM)se tiene una reflectividad espectral:
ρ0λ,T M (θ1 ) = |r12,T M |2 . (2.32)
La absorción resulta
0 Re(k2z /ε2 )
αλ,T M (θ1 ) = |t12,T M |2 , (2.33)
Re(k1z /ε1 )
para un material no magnético y no absorbente, tenemos
0 n1 cos θ2
αλ,T M (θ1 ) = |t12,T M 1 |2 . (2.34)
n2 cos θ1
Cuando la onda incidente no es polarizada, o polarizada circularmente, la reflectividad se
puede obtener por el promedio de los valores de las ondas polarizadas TM y TE, es decir:
0 0
αλ,T M + αλ,T E
αλ0 = (2.35)
2
Según la ley de Kirchhoff, la emisividad espectral direccional es igual a la absortividad
espectral direccional de un material ε0λ = αλ0 . Con las definiciones adecuadas, la ley de Kirchhoff
siempre es válida en lo que respecta a las propiedades espectrales direccionales para cualquier
polarización dada. Las hipótesis son:
1. El material considerado se encuentra a una temperatura uniforme, al menos dentro de
varias profundidades de penetración cerca de la superficie.
2. El cuerpo externo no es lo suficiente como para alterar las propiedades intrı́nsicas del
14
material, como en una interacción no lineal.
Podemos entonces calcular la emisividad direccional de una superficie opaca o medio semi-
infinito, desde la reflectividad direccional-hemisférica para incidencia desde el aire o el vacı́o,
utilizando la siguiente relación:
ε0λ = 1 − ρ0λ = αλ , (2.36)
Cuando un material no está en equilibrio térmico con su entorno, su emitancia se define basándo-
se únicamente en la emisión espontánea y es una propiedad intrı́nseca del material que no depen-
de del entorno. La absortancia por otra parte, se define en función de la energı́a neta absorbida,
tratando a la emisión inducida como una absorción negativa.
La emitancia se calcula normalmente promediando las dos polarizaciones. En la mayorı́a de
los estudios, la emitancia se calcula a partir de método indirecto, basado en la reflectividad y la
ley de Kirchhoff 2.36. [9] .
2.2.5. Modelación de Prompiedades Electromagnéticas
Para empezar, definiremos las constantes ópticas. Como fue visto en las secciones anteriores,
existen dos expresiones comunes para las constantes ópticas de un material: el ı́ndice de refracción
complejo N = n − iκ y la función dieléctrica compleja ε = ε1 − iε2 . Están relacionadas por:
ε = ε1 − iε2 = N 2 = (n − iκ)2 , (2.37)
Con
ε1 = n2 − κ2 y ε2 = 2nκ , (2.38)
cada término varı́a con la longitud de onda, λ, por lo que nos referimos a N (λ) y ε(λ) como
funciones ópticas de un material. El ı́ndice de refracción complejo describe cómo se altera la luz
por la interacción con un material. Por ejemplo, el ı́ndice n está relacionado con la velocidad
de fas. En una interfaz entre dos materiales, la diferencia en sus indices de refracción gobierna
la dirección de la luz transmitida, como también, la división de amplitudes de la luz entre la
reflexión y la transmisión. El coeficiente de extinción κ, está relacionado con la absorción de la
luz cuando atraviesa un material.
La función dieléctrica compleja también describe la interacción entre la luz y los materiales.
cuando la luz viaja a través de un material, los campos eléctricos oscilantes de la luz crean
dipolos de carga oscilantes entre los átomos o dentro de ellos. Cada dipolo irradia un campo
15
electromagnético y absorbe parte de la energı́a a determinadas frecuencias de oscilación. Cada
campo de dipolo se combina con los campos de otros dipolos, también con el campo incidente,
dando como resultado un campo macroscópico total dentro del material. La función dieléctrica
~ (que es el campo
describe la relación constitutiva entre el campo de desplazamiento eléctrico D
~
macroscópico total), el campo eléctrico incidente E:
~ = εε0 E
D ~ , (2.39)
donde ε0 es la permitividad en el vacı́o como fue visto anteriormente y ε es la constante dieléctrica
relativa.
Modelos de Función Dieléctrica
La absorción en los sólidos suele producirse en una región o banda de frecuencia. Los electro-
nes libres de los metales pueden interactuar con las ondas electromagnéticas entrantes o fotones,
y causar una absorción de banda ancha desde las longitudes de ondas visibles a (o incluso ul-
travioleta) hasta la microondas y las longitudes de onda largas. En el caso de semiconductores,
especialmente lo de altas concentraciones de impurezas (o dopaje) o a altas temperaturas, tanto
los electrones libres como los huecos contribuyen al proceso de absorción. La absorción de un
fotón, hace que el electrón libre o el hueco pase a un estado de energı́a más alto dentro de
la misma banda. Por lo tanto, la absorción de free-carriers es causada por transiciones inter-
banda. Para la conservación de momento, los carriers también deben colisionar con impurezas
ionizadas, fonones, otros carriers, lı́mites de grano, interfaces, etc. Las colisiones actúan como
una fuerza de amortiguación del movimiento de los carriers. El modelo de Drude describe el
movimiento oscilatorio de un electrón, impulsado por un campo armónico, que está sometido a
una fuerza de amortiguación. El modelo predice bastante bien la función dieléctrica de algunos
metales en una amplia región espectral, especialmente en el infrarrojo medio y lejano.
La absorción por las vibraciones de la red o los electrones ligados, que es relevante para los
aislantes y los semiconductores ligeramente dopados, se debe a la existencia de dipolos eléctricos
formados por la red. La mayor absorción se consigue cuando la frecuencia es igual a el modo
vibracional del dipolo, es decir, a la frecuencia de resonancia, que suele estar en la región del
infrarrojo medio y lejano del espectro.
La transición inter-banda es el proceso de absorción fundamental en los semiconductores. Un
electrón puede ser excitado desde la banda de Valencia a la banda de conducción al absorber un
fotón, cuya energı́a es mayor que el gap energético Eg . Debido a que la absorción de electrones
16
generalmente es débil en los semiconductores, se forma un fuerte borde de absorción cercano al
bandgap. En este proceso de transición, tanto la energı́a como el momento debe conservarse.
Dado que todos los materiales naturales y la mayorı́a de los sintetizados son no magnéticos
√
a altas frecuencias, sólo se consideran los materiales no magnéticos, dando µ = 1 y n = ε [11] .
Realciones Kramers-Kronig (KK)
Handrik Kramers y Ralph Kronig fueron los primeros en demostrar que las partes real e
imaginaria de la función di eléctrica están interrelacionadas. Estas relaciones se denominan
relaciones de dispersión Kramers-Kronig o relaciones KK. La relaciones Kramers-Kronig (KK)
establecen una conexión fı́sica entre ε1 y ε2 como:
Z ∞
2 ζε2 (ζ)
ε1 (ω) − 1 = ℘ dζ (2.40)
π 0 ζ 2 − ω2
y
∞
ε1 (ζ) − 1
Z
σ0 2ω
ε2 (ω) − =− ℘ dζ (2.41)
ε0 ω π 0 ζ 2 − ω2
donde σ es la conductividad eléctrica, ℘ denota el valor principal de Cauchy de la integral, y
ζ es una variable de frecuencia ficticia. Estas relaciones pueden escribirse en términos de n y κ
como:
Z ∞
2 ζκ(ζ)
n(ω) − 1 = ℘ dζ (2.42)
π 0 ζ 2 − ω2
y
∞
n(ζ) − 1
Z
2ω
κ(ω) = − ℘ dζ (2.43)
π 0 ζ 2 − ω2
Las ecuaciones 2.40,2.41, 2.42 y 2.43 son las relaciones KK, que relacionan la parte real de
una función con una integral de su parte imaginaria sobre todas las frecuencias y viceversa. Se
pueden derivar una serie de reglas de suma basadas en las relaciones KK y son útiles para obtener
o validar la función dieléctrica de un de un material determinado. Las relaciones KK pueden
aplicarse a la espectroscopia de reflectancia para facilitar la determinación de las constantes
ópticas a partir de la reflectividad medida de un material [9] .
Modelo de Drude
El modelo de Drude describe la conductividad dependiente de la frecuencia de los metales
y puede extenderse a los carriers libres en los semiconductores. Cuando se aplica un campo
17
electromagnético, los electrones libres adquieren una velocidad media no nula, dando lugar a una
corriente eléctrica que oscila a la misma frecuencia que el campo electromagnético. Las colisiones
con los átomos estacionarios dan lugar a una fuerza de amortiguación sobre los electrones libres,
que es proporcional a su velocidad. La función dieléctrica de Drude viene dada por
ωp2
ε = ε∞ − , (2.44)
ω(ω + jγ)
donde ε∞ es la permitividad a alta frecuencia, γ es el término de amortiguación y ωp es la
frecuencia angular del plasma dada por
s
ne2
ωp = (2.45)
ε0 m ∗
donde m∗ es la masa efectiva del electrón, e es la carga del electrón y n es la densidad del carrier,
y ε0 es la permitividad en el vacı́o ya antes definida.
El modelo de Drude es el tratamiento clásico más sencillo de las propiedades ópticas de los
metales. Considera que los electrones de valencia de los átomos están libres. Además, se utiliza
para los semiconductores cuando la densidad de portadores libres introducida por el dopaje es
suficientemente alta como para que el semiconductor se comporte de forma similar a un simple
metal [12] .
HandBook of Optical Constants of Solids (Palik)
Para la determinación de ı́ndices de refracción n y coeficientes de extinción κ de materiales
se utilizó un manual llamado HandBook of Optical Constants of Solids [13] , que contiene valores
tabulados para más de 50 materiales. Para cada material, cientı́ficos expertos en óptica han
tabulado cuidadosamente los valores de n y κ desde la región de rayos X, hasta regiones de
ondas milimétricas del espectro. Además, este manual incluye capı́tulos en que analizan las
diferentes formas de determinación de n y κ.
En este trabajo especı́ficamente se utilizó para determinar n y κ de SiO2 , donde se ve el
reflejo de trabajos de de Randall y Rawcliffe por técnica de interferometrı́a. Phillipp obtenidos
de KK análisis de datos de reflectancia aumentados por las mediciones de absorción. Malitson,
que usó datos del prisma. Rife y Osantowski, ellos midieron la reflectividad en función al ángulo
de incidencia utilizando Synchroton radiation. Entre otros, este manual es ampliamente usado
y revisado, para trabajos de modelación óptica.
18
2.2.6. Modelación de Ondas Electromagnéticas.
Gratings Periodicos
Los gratings de difracción son utilizados en la metrologı́a óptica, se han utilizado para estudiar
su efecto en la modificación de las propiedades radiativas. El conocimiento de estas propiedades
radiativas es esencial para el procesamiento térmico y el modelado en la fabricación de semi-
conductores, debido a que el tamaño de estos sigue reduciéndose. En una región no homogénea,
se tiene que tanto la permitividad ε y la permeabilidad µ son funciones que dependen del es-
pacio, por lo que el uso de las ecuaciones de onda plana monocromática se vuelve complicado.
Si suponemos que la solución es una onda plana armónica en el tiempo, podemos reescribir las
ecuaciones de Maxwell de la siguiente forma:
~ = iωµµ0 H
∇×E ~ (2.46)
~ = −iωεε0 E
∇×H ~ (2.47)
~ +E
ε∇ · E ~ · ∇ε = 0 (2.48)
~ +H
µ∇ · H ~ · ∇µ = 0 (2.49)
Como solo se considera medio isótropos, ε y µ son escalare. Si remplazamos las ecuaciones
2.48 y 2.49 en la ecuación 2.46, aplicando identidades vectoriales, se obtiene:
~ + ∇(E
∇2 E ~ · ∇ ln ε) + ∇ ln µ × (∇ × E)
~ + k 2 µεE
~ =0 (2.50)
~ + ∇(H
∇2 H ~ · ∇ ln µ) + ∇ ln ε × (∇ × H)
~ + k 2 µεH
~ =0 (2.51)
donde k = ω/c es el vector de onda en el vacı́o.
Estas ecuaciones no pueden resolverse fácilmente y a menudo requieren métodos numéri-
cos. Entre ellos se encuentran el análisis riguroso de ondas acopladas (RCWA), este método se
presenta como la herramienta a utilizar en este trabajo. Una definición conceptual de este se
presenta a continuación.
19
Análisis Riguroso de Acoplamiento de Ondas (RCWA)
El análisis riguroso de acoplamiento de ondas (RCWA) es un método numérico para resolver
problemas de dispersión electromagnética que implican estructuras periódicas. Con esta herra-
mienta se pueden calcular las propiedades ópticas de una superficie nanoestructurada. En la
Fig.2.2, se ejemplifica como actúa este método. La Fig.2.2 se ilustra una onda TE, que incide en
la superficie de un grating con periodicidad 1D, desde el espacio libre. La región I tiene propie-
dades εI = n1 = 1 y κI = 0 (aire o vacio), la región II está compuesta por materiales binarios
A y B, por lo tanto, la función dieléctrica en la región II es una función periódica de x con un
periodo, Λ, es llamado periodo del grating. La relación de llenado φ es la función de volumen de
material A y se supone que la extensión lateral del grating se asume infinita. La región III es el
substrato con una función dieléctrica εIII .
Figura 2.2: Dibujo esquemático de una onda TE incidente en una capa de grating, mostrando
las órdenes de difracción reflejadas j = −2, −1, 0y1 [9] .
.
Como se mencionó anteriormente el vector de onda ~k, define la dirección de la onda incidente;
el ángulo entre ~k y el vector normal a la superficie, θ, es el ángulo de incidencia. El vector del

~ es definido en la dirección positiva x con una magnitud K = 2π/Λ. Se asume que el
grating K
vector de onda incidente está en el plano x − z, por lo tanto, la componente y de ~k es cero. Como
~ es paralelo a la
la onda está polarizada de forma transversal eléctrica (TE), el campo eléctrico E
~ La magnitud del campo eléctrico incidente
dirección y, y perpendicular al vector del grating K.
se puede expresar como, exp(ikx x + ikz z − iωt). Para simplificar, el término tiempo armónico
exp(−iωt) será omitido desde ahora en adelante. La magnitud de ~k en las regiones I y III, se
pueden expresar como:

2πnI 2π
kI = = y (2.52)
λ λ
20
2πnIII
kIII = = nIII k , (2.53)
λ
donde nIII es el ı́ndice de refracción de la región III. La magnitud de la onda reflejada de orden
j puede ser escrita como rj exp(ikx,j x − ikIz,j z), donde rj es el coeficiente de reflexión, y kx,j
se determina por la condición Bloch-Floquet:
2π 2π ~j .
kx,j = sin θ + j = kx + K (2.54)
λ Λ
Esta es una onda evanescente que solo existe cerca de la superficie, con una distancia en el
orden de longitud de onda. Note que la componente z de ~k para la onda reflejada de orden j es

(kI2 − kx,j
2
)1/2 , si kI > kx,j


kIz,j = (2.55)
2
− kI2 )1/2 , si kx,j > kI

i(kx,j

Debido a que kx,j es el mismo en todo el medio, un criterio similar se puede aplicar a las ondas
transmitidas en la región III para obtener kIIIz,j remplazando el I por III en la ecuación 2.55.
El campo eléctrico en la región I es una superposición de ondas incidentes y reflejadas, por
lo tanto
X
EI = exp(ikx x + ikz z) + rj exp(ikx,j x − ikIz,j z) . (2.56)
j
El campo eléctrico en la región III se puede obtener superponiendo todas las ondas transmitidas
X
EIII (x, z) = tj exp[ikx,j x + ikIIIz,j (z − d)] , (2.57)
j
donde tj es el coeficiente de transmisión para la onda transmitida de orden j.
El campo eléctrico para la región II, se puede expresar como
X
EII (x, z) = Ψj (z) exp(ikx,j x) , (2.58)
j
donde Ψj (z) es la amplitud de la componente j del espacio armónico. Debido a las estructuras
periódicas, la función dieléctrica de la región II puede expandirse en las siguientes series de
Fourier
X 2mφ
ε(x) = εm exp(i x), m = 0, ±1, ±2, ... , (2.59)
m
Λ
21
donde εm es el coeficiente m que se puede calcular desde
(εA − εB ) sin(mφπ)
ε0 = φεA + (1 − φ)εB y εm = (m 6= 0) , (2.60)
mπ
para los gratings rectangulares representadas en la Fig. 2.2. La fórmulación proviene de la

~
ecuación de onda del campo eléctrico total en la región II. Debido a que el campo eléctrico, E,
es paralelo al eje y, y que los factores ε son independientes de y, obtenemos:
∇2 EII (x, z) + k 2 ε(x)EII (x, z) = 0 . (2.61)
Sustituyendo 2.58 y 2.59 en 2.60, se obtiene:
 " #
X d2 Ψj X X 2mπ  X
2 2
exp(ikx,j x)− kx,j Ψj exp(ikx,j x)+k εm exp(i x) Ψp exp(ikx,p x) = 0 .
j
dz 2 j j
Λ p
(2.62)
La ecuación 2.62 se puede factorizar en términos de exp(ikx,j x) para el orden j, de la siguiente
manera !
X d 2 Ψj 2
X
2
− kx,j Ψj + k 2 εj−p Ψp exp(ikx,j x) = 0 . (2.63)
j
dz p
Para satisfacer la ecuación para cualquier valor de x, el coeficiente de exp(ikx,j x) debe ser cero
para todos los órdenes j 0 s. Por lo tanto, la ecuación 2.63 es un conjunto infinito de ecuaciones
acopladas de segundo orden. Una solución númerica aproximada, se obtiene con un número
suficientemente grande de órdenes de difracción.
Suponiendo j = 0, ±1, ±2, ..., ±q, entonces hay N = 2q + 1 órdenes de difracción, de modo
que p = 0, ±1, ±2, ..., ±q también tendrá N términos. La ecuación 2.63 también puede ser repre-
sentada por una matriz N × N . La expansión de Fourier de la función dieléctrica puede tener
m = 0, ±1, ±2, ..., ±2q, o 4q + 1 términos. El campo magnético se puede obtener de la ecuación
2.49 quedando en términos de Ψj .
Las funciones N desconocidas Ψ(j = 0, ±1, ±2, ..., ±q) se pueden expresar como la suma de las
funciones propias, que tienen 2N coeficientes desconocidos. Junto a rj y tj (j = 0, ±1, ±2, ..., ±q),
hay 4N incógnitas. Aplicando las condiciones de borde del campo eléctrico y las componentes
tangenciales del campo magnético en la interfaz entre la región I y II, y de las regiones II y III,
le corresponden 4N ecuaciones lineales, que pueden resolverse usando el método de la matriz.
22
Una vez obtenidos los coeficientes de reflecxión y transmisión, es posible calcular los campos
dentro y fuera de las estructuras del grating, ası́ como para obtener la eficiencia del grating
para cada una de las ondas difractadas calculando el vector de Poynting promediado en el
tiempo. Como se vio anteriormente, la reflectancia direccional hemisférica ρ0λ es la suma de
la reflectancia en todos las órdenes. Además, podemos calcular la absortancia a partir de la
reflectancia direccional hemisférica, mediante αλ0 = 1 − ρ0λ , con la suposición de que la región III
(substrato) es semi infinito [9] .
2.3. Validación del Código para el RCWA
El código utilizado en esta investigación, es un código abierto para Matlab [14] . La validación
de este código se realizó comparando la emitancia en función de la longitud de onda obtenida con
la emitancia que se obtuvo en literatura existente. Dicha validación se muestra en las (Fig. 2.3,
2.4 y 2.5), donde la leyenda ”literatura de referencia” precisamente señala los datos extraı́dos
de la publicación, con la cual se validó el código.
La primera validación fue con el trabajo de investigación de Wang, L. P., et al, [15] , que
mediante nano/microestructuras busca aumentar la emitancia en las longitudes de trabajo de
las celdas termophotovoltaica (TPV) 0.5 a 2.0 mµ. La estructura considerada es un grating de
periodo Λ = 600nm (Fig 2.3(a)). Los materiales son tungsteno (W ) y óxido de silicio (SiO2 ).
Además, el espesor de las tiras de metal es h = 60nm con una relación de llenado f = 0,5 y
ancho de las capas bajo las tiras de material, es d = 60nm. Las emitancias se muestran en la
(Fig.2.3(b)).
(a) (b)
Figura 2.3: (a)Esquema del emisor TPV hecho de un grating de tungsteno y un espaciador de
SiO2 [15] , (b)Gráfico emitancia v/s longitud de onda. Comparación de las emitancias, color
azul indica el resultado del código y color magenta resultados obtenidos en [15] .
23
La segunda validación se realizó con el trabajo de investigación de Nguyen-Huu, Nghia et
al. [16] . Al igual que el caso anterior, mediante nano/microestructuras se busca aumentar la
emitancia en las longitudes de trabajo de las celdas TPV. La estructura periódica a comparar se
presenta en la Fig. 2.4(c), el material del grating es tungsteno y la comparación se realizó para
distintos periodos, Λ1 = 400nm y Λ2 = 600nm. La estructura consta de dos gratings con distinta
relación de llenado y un sustrato. El ancho de la capa de las tiras de metal es h = 200nm, con
una relación de llenado f = 0,4 para la capa superior y f = 0,9 para la capa inferior. El resultado
se muestra en las Figs. 2.4(a) y 2.4(b). Las diferencias se determinan como la consecuencias de
la toma de datos a partir del gráfico de la ”literatura de referencia” este se realizó con Engauge
Digitaizer [17] , que es un software que permite la toma de datos de un gráfico, pero este depende
esencialmente que el gráfico de muestra sea concordante en sus dimensiones y parámetros. Si
este gráfico, no se realizó a escala o tuvo modificaciones de esta en la edición de la estructura
del texto, habrá resultados distintos.
(a) Periodo de 400nm
(b) Periodo de 600nm (c)
Figura 2.4: (a), (b)Gráficos emitancia v/s longitud de onda. Estos gráficos se realizaron
para dos periodos diferentes (400 y 600 nm) de la estructura mostrada en (c). El color azul
indica el resultado obtenido en este trabajo y el color rojo el valor entregado por la literatura
de referencia [16]
.
Una tercera validación muestra el funcionamiento de este código para enfriadores radiativos
24
tipo multicapa. En este caso estudió la estructura que desarrollaron Hongchen Ma, et al, [18] Fig
2.5. Como se muestra, este enfriador radiativo está compuesto por siete capas alternas de SiO2
y Si3 N4 sobre un reflector de plata. La multicapa de SiO2 / Si3 N4 funciona como un emisor
selectivo, siendo transparente para el espectro solar pero opaco en la ventana atmosférica. Las
diferencias que tenemos en la simulación se relacionan con al menos tres factores, el primero es
la fuente de datos, en la ”literatura de referencia” el ı́ndice de refracción complejo de Ag, SiO2
y Si3 N4 procede de [19] y [20] , en cambio nuestras propiedades las obtuvimos de [21] y modelos
de Drude, para Si3 N4 [22] , para el Si [23] y por último Ag [14] . El segundo factor podrı́a ser el
método utilizado, en la ”literatura de referencia” se utiliza el método estándar de la matriz
de caracterı́sticas [24] , en cambio en este trabajo se utilizó el método RCWA, que se basa en el
método de matriz de transferencia. El tercer factor es el de la toma de datos a partir del gráfico
de la ”literatura de referencia”, este se realizó con Engauge Digitaizer [17] , que es un software
que permite la toma de datos de un gráfico, pero este depende esencialmente que el gráfico de
muestra sea concordante en sus dimensiones y parámetros. Si este gráfico, no se realizó a escala
o tuvo modificaciones de esta en la edición de la estructura del texto, habrá resultados distintos.
(a)
(b)
Figura 2.5: (a)Enfriador radiativo pasivo hecho de capas de Si3 N4 y SiO2 [18] , (b) Gráfico emi-
tancia v/s longitud de onda; el color azul indica el resultado obtenido en este trabajo y el
color rojo resultados de literatura [18] .
.
25
2.4. Enfriamiento Radiativo
El enfriamiento radiativo es un mecanismo termodinámico pasivo a través del cual la tem-
peratura de la tierra se mantiene estable. Nuestro planeta está en equilibrio entre la energı́a que
entra y la que sale. El intercambio de energı́a entre la tierra, el sol y el espacio exterior se lleva
a cabo a través de la atmósfera de la tierra, debido a sus propiedades radiativas. Para ilustrar
esto, la irradiación solar y la transmisión atmosférica, están graficados en la Figura 2.6 a) que
muestra como la irradiación solar pasa a través de la atmósfera para la mayorı́a de las longitu-
des de onda visibles y cercanas al infrarrojo (0,3 a 2,5µm). Esta radiación es absorbida por la
superficie de la tierra, elevando su temperatura. Parte de esta energı́a hace funcionar el clima
de la tierra, mientras el resto se irradia al espacio exterior como energı́a térmica infrarroja en el
rango 8 a 13µm (ventana atmosférica) en cantidades proporcionales a T 4 [25] . Es en esta ventana
atmosférica que los diseños de estructuras buscan adaptar su emisión espectral, aumentándola
para estas longitudes de onda (8 a 13µm), es donde la atmosfera permite la transferencia de
calor entre el espacio y los objetos en la tierra.
Figura 2.6: Energı́a térmica infrarroja ideal para un cuerpo negro para el enfriamiento radiativo.
a) La irradiación solar A.M 1.5 y la transmisión atmosférica (b)muestra la respuesta de un
emisor ideal de banda ancha (lı́nea continua de color celeste) que refleja o transmite luz visible y
cercana al infrarrojo. la irradiancia del cuerpo negro terrestre (a 300K) también se traza para su
comparación. Para mayor claridad se relaciona con los colores de la transmitancia atmosférica [25]
.
El enfriamiento radiativo estuvo limitado a su aplicación durante la noche, debido a que
el calentamiento de la luz solar durante el dı́a es mucho más fuerte que el efecto de refrigera-
ción que se podı́a conseguir. En los últimos años, gracias a la ingenierı́a nanofotónica, se ha
logrado llegar a temperaturas bajo la temperatura ambiente utilizando estructuras de emisión
selectiva. El primer enfriador diurno fue demostrado experimentalmente por Fan y su grupo, el
26
cual consta de una estructura multicapa de materiales dieléctricos, que logró una temperatura
4.9°C por debajo de la temperatura ambiente, esto bajo sol directo entre las 13:00 y 14:00 del
horario local [26] . Posteriormente se continua con el estudio de enfriadores radiativos diurnos, de
los cuales se pueden agrupar en revestimientos de polı́meros, materiales compuestos orgánicos-
inorgánicos y láminas multicapa dieléctricas. Cada tipo de enfriador radiativo tiene sus ventajas
y caracterı́sticas, según su aplicación. El enfriador radiativo basado en revestimientos de polı́me-
ros, es conveniente en su integración en superficies heterogéneas, es flexible y de un bajo costo.
Las multicapas dieléctricas tienen alta resistencia a la corrosión, una mayor tolerancia a altas
temperaturas. Además, estas multicapas pueden diseñarse mediante métodos de resolución de
las ecuaciones de Maxwell (RCWA) para alcanzar la selectividad espectral deseada (8 a 13µm).
27
2.4.1. Modelo Matemático
La máxima potencia que puede ser emitida por una fuente térmica a una temperatura deter-
minada es la de un cuerpo negro. El cuerpo negro es una superficie que absorbe toda la radiación
entrante y da la máxima potencia de emisión. La potencia de emisión de un cuerpo negro esta
dado por la ley de Stefan-Boltzmann, la cual, es proporcional a la temperatura absoluta a la
cuarta potencia. Como un cuerpo negro es también un emisor difuso, su intensidad es indepen-
diente de la dirección.
La distribución espectral de la emisión de un cuerpo negro es descrita por la ley de Planck, que
da la intensidad espectral en función de la temperatura y la longitud de onda:
eb,λ (T, λ) 2hc2

Ib,λ (T, λ) = = 5 hc/k λT , (2.64)
π λ (e b − 1)
donde, h es la constante de Planck (h = 4,136 · 10−15 [eV · s]), c es la velocidad de la luz y kb es
la constante de Boltzmann (kb = 8,6173 · 10−5 [eV · K −1 ]).
La relación entre el poder de emisión de un material real y el del cuerpo negro, define la
emisividad (Total-Hemisférica), ε(T ) = e(T )/σSB T 4 , donde σSB es la constante de Stefan-
Boltzmann 5,67 × 10−8 [W/m2 K 4 ].
La emisividad espectral-direccional se define como la intensidad espectral emitida por la
superficie Ib,λ es decir, ε0λ (λ, θ, φ, T ) = πIb,λ (λ, θ, φ, T )/eb,λ (T, λ), se puede obtener, [9] :
"Z #
Z ∞ 2π Z π/2
π
ε(T ) = eb,λ (T, λ)dλ ε0λ (λ, θ, φ, T ) cos θ sin θdθdφ , (2.65)
σT 4 0 0 0
donde θ es el ángulo de incidencia, φ es el ángulo azimutal (medido entre un eje arbitrario en la
superficie y la proyección de la superficie), (θ, φ) es la dirección de propagación, medida respecto
a una superficie normal dA cos θ. De la Fig.2.7 se puede observar, r = (x2 + y 2 + z 2 )1/2 , θ =
cos−1 (z/r) y que φ = tan−1 (y/x). El ángulo sólido dΩ = dAn /r2 , se puede expresar como
dΩ = (rdθ)(r sin θdφ)/r2 = sin θdθdφ. Por lo que el ángulo sólido se define como dΩ = sin θdθdφ,
que representa simplemente un área infinitesimal en una esfera unitaria [27] .
La intensidad espectral (Ib,λ ), se define como la potencia radiativa recibida dentro de un
ángulo sólido, un área proyectada unitaria y un intervalo de longitud de onda unitario, es decir,
Ib,λ (λ, θ, φ) = dQ̇/dA cos θdΩdλ. Para relacionar la intensidad y potencia radiativa se presenta
la Fig. 2.7, donde se evalúa un elemento con un área dA en coordenadas polares.
28
Figura 2.7: Ilustración del ángulo sólido en coordenadas esféricas. [9]
.
Para una superficie gris difusa, se reduce a ε = ε0λ , debido a que la emisividad mencionada
en la sección 2.2, es independiente de la longitud de onda y de la dirección.
Cómo ya se ha mencionado en general, la reflexión y la transmisión dependen de la longitud
de onda, el ángulo de incidencia y el estado de polarización de la onda electromagnética entrante.
La absortancia (α), reflectancia (ρ) y transmitancia(t) de un material puede definirse como la
fracción de un material que está siendo absorbida, reflejada y transmitida. A través del RCWA es
posible obtener la reflectancia y transmitancia y, consecuentemente, la absortancia o emitancia.
Estas propiedades se utilizan para calcular la potencia de refrigeración. Utilizando la siguiente
relación:
Pcooling (TEmit ) = Prad (TEmit ) − Patm (Tamb ) − Psol (θsol ) − Pconv+cond (Tamb − TEmit ) , (2.66)
Considerando un enfriador radiativo de área A a una temperatura T y su emisividad espectral
y angular es ε(λ, θ), donde:
Z Z ∞
Prad (TEmit ) = A dΩ cos θ dλIb,λ (TEmit , λ)ε(λ, Ω) , (2.67)
0
es la potencia irradiada hacia el exterior por la estructura. Donde,
Z Z π/2
dΩ cos θ = dθ sin θ , (2.68)
0
29
es la integral angular sobre un hemisferio. Ib,λ (T, λ) es la ya antes mencionada intensidad es-
pectral emitida por un cuerpo negro a una temperatura TEmit , que es la temperatura tomada
de la superficie superior del emisor.
La potencia absorbida por la atmósfera y el ambiente, lo da
Z Z ∞
Patm (Tatm ) = A dΩ cos θ dλIb,λ (Tamb , λ)ε(λ, θ)εatm (λ, θ) , (2.69)
0
La emisividad dependiente del ángulo de la atmósfera está dado por εatm (λ, θ) = 1 − t(λ)1/ cos θ ,
donde t(λ) es la transmitancia de la atmósfera en la dirección cenit.. La potencia solar incidente
absorbida por la estructura se denomina Psol , que viene definida por:
Z ∞
Psol (θsol ) = A ε(λ, θsol )dλIAM 1,5 (λ) , (2.70)
0
donde IAM 1,5 (λ) representa la iluminación solar en el espectro AM1.5. θsol es el ángulo en que
la estructura se enfrenta al sol.
Pconv+cond (θsol ) = Ahc (Tamb − T ) , (2.71)
corresponde a la potencia perdida debido a la conducción y convección. Siendo hc = hconv +hcond
que abarca el efecto del calentamiento por conducción y convección, debido al contacto con el
exterior del enfriador radiativo.
Por lo tanto, un enfriador radiativo diurno tiene que tener una salida de potencia positiva neta
cuando T = Tamb bajo la luz solar directa, es decir, si irradia más calor al espacio del que gana
al absorber radiación térmica atmosférica y luz solar. Por lo tanto, la potencia de enfriamiento
se define a temperatura ambiente. Como no habrı́a un flujo de salida neto, la temperatura de
un enfriador radiativo deberı́a alcanzar una temperatura de equilibrio menor a la temperatura
ambiente. Una solución a la ecuación de equilibrio 2.66 con Pcool = 0 define la temperatura de
equilibrio Ts . El objetivo de un enfriador radiativo y de este estudio, es diseñar una estructura
de enfriamiento radiativo diurno con Ts < Tamb y medir su potencia de refrigeración en función
a T bajo la luz solar directa.
Se realizó un código en Matlab, incluyendo este balance de energı́a y sus integrales, dejando
en función de la emitancia ya obtenida con el código RCWA y remplazada en Prad y Patm ,
los datos de irradiación en el espectro solar IAM 1,5 se utilizó datos del Laboratorio Nacional
de Energı́as Renovables de estados unidos conocido por sus siglas en inglés (NREL) [28] y la
30
transmitancia atmosférica del observatorio Gemini [29] .
(a)
(b)
Figura 2.8: (a) Es un gráfico de la Irradiación solar utilizada (IAM 1,5 ), fuente NREL [28] y (b)
muestra la transmitancia atmosférica, especı́ficamente en las longitudes de onda de la ventana
atmosférica (8 a 13µm), la fuente de estos datos es del observatorio Gemini [29] .
.
31
2.4.2. Emisores Térmicos y Propiedades Ópticas para Enfriamiento
Radiativo
En esta sección se mencionan diferentes casos de la tecnologı́a de enfriamiento radiativo, con
la intención de ejemplificar el trabajo que se realizará y la forma de evaluarlo.
Se ve en la Fig. 2.9 una tecnologı́a de recolección de rocı́o, estudiado por Dong, Minghao
et al. [30] . Esta tecnologı́a ocupa el enfriamiento radiativo para enfriar una superficie debajo del
punto de rocı́o, enfriando el aire y condensar del vapor de agua rocı́o o escarcha. De esta forma
maximizar el flujo másico de condensación. La Fig 2.9 (a) muestra el condensador inclinado con
dos propósitos (i) la colección de rocı́o y (ii) que este no se acumule en la superficie del conden-
sador. La Fig. 2.9 (b) muestra un segundo diseño utilizando el mismo condensador, pero con la
incorporación de un intercambiador de calor conectado a una bomba con el fin de incrementar
la masa de aire que es enfriada y llevada a la temperatura de rocı́o, para una mayor producción
de agua mediante esta condensación.
El diseño del enfriador radiativo usado en los sistemas de recolección de rocio de la Fig. 2.9
se muestra en la Fig. 2.11 (a). Dicho diseño consiste de seis capas fabricadas de tres materiales
dieléctricos comunes: M gF2 , Si3 N4 y SiC, con un sustrato de aluminio (Al) como espejo.
El espectro de emisividad de este diseño se muestra en la Fig. 2.11 (b) en color rojo, con
la transmisividad atmosférica representada en gris. Se observa la emisividad alcanza un valor
cercano al máximo posible (ε = 1), en el rango considerado como la ventana atmosférica (8 −
13 µm) que asegura una potencia de enfriamiento radiativo capaz de enfriar la superficie del
condensador llegando a la temperatura de rocı́o. [30] .
También hay avances significativos de usar el enfriamiento radiativo para el enfriamiento del
cuerpo humano en el exterior. Cai, Lili et al. [31] desarrollaron un material textil con las propie-
dades que requiere para tener una alta reflexión de la irradiación solar y una alta transmisión
para la radiación térmica del cuerpo humano. En este material textil mediante la incorporación
de nanopartı́culas (NPs) de óxido de Zinc en un polietileno nanoporoso (ZnO-PE), como se
muestra en la Fig. 2.11 (a) y (b). La reflexión de la irradiación solar que alcanza este material es
más que el 90 %, y la transmisión de la radiación térmica del cuerpo humano puede ser mayor
que el 80 %. El material permite evitar el sobrecalentamiento de la piel en más de 10°C, en
comparación con el algodón.
Finalmente, un ejemplo de enfriamiento radiativo para celdas fotovoltaicas. El estudio reali-
zado por L, Zhu et al. [3] , el cual estudia las estructuras de la Fig.2.12(a). La primera estructura
32
Figura 2.9: Tipos de diseño de colectores de agua de rocı́o, (a) condensador al aire libre, colecta
en su superficie el rocı́o y lo conduce a un estanque debido a su inclinación. (b) Muestra el
mismo condensador que actúa sobre un intercambiador de calor, este intercambiador impulsa el
aire mediante una bomba, esto con la intensión de aumentar el flujo másico de aire y rocı́o [30]
.
Figura 2.10: (a) Diseño del condensador y sus materiales dieléctricos. (b) Espectro de emisividad
del diseño de multicapas (rojo) y la transmisividad de la atmósfera (gris) para comparación [30]
.
33
Figura 2.11: (a) Ilustración de nanocompuesto textil espectralmente selectivo. Este material tiene
un alto coeficiente de reflexión para radiación térmica. (b) Foto del material textil bajo el sol.
(c) Reflectancia (rojo) y transmitancia (azul) del compuesto textil mostrado en (a). Es posible
observar como la reflectancia es cercana al 100 % para las longitudes de onda que coinciden con
el espectro solar y que la emitancia alcanza un 80 % para las longitudes de onda de un enfriador
radiativo de banda ancha. En lı́nea continua se muestran las simulaciones y en lı́nea punteada
las mediciones [31] .
de izquierda a derecha, muestra como seria la celda solar desnuda (Bare Silicon), la segunda
estructura trata de ejemplificar una estructura idealizada con la intención de comparar, la que
tiene una emisividad cero en rangos bajo los 4[µm] y una emisividad alta para longitudes de
onda mayores a 4[µm]. Una tercera estructura simulada es con 5[mm] de óxido de Silicio SiO2
(Silica), esta estructura se hizo emulando la tı́pica geometrı́a de módulos solare, los cuales ge-
neralmente están cubiertos de vidrio, que contienen de 70 % a un 80 % de óxido de Silicio. Una
cuarta estructura, es la estructura periódica de SiO2 en forma piramidal (Silica Pyramid), que
es la que se aproxima más a la emitancia de la ideal y en las longitudes de onda donde hay
una mayor transmitancia en la atmósfera. La Fig.2.12(a) muestra las distintas configuraciones
estudiadas en [3] y la Fig.2.12(b) las emitancias obtenidas para cada configuración.
34
(a)
(b)
Figura 2.12: (a) Muestra las cuatro estructuras estudiadas [3] y (b) las emitancias obtenidas
para cada estructura, en color azul celda solar desnuda (Bare Silicon), en color verde estructura
idealizada, color rojo 5[mm] de óxido de Silicio SiO2 (5mm Silica) y en color cian la estructura
periódica de SiO2 en forma piramidal (Silica Pyramid). [3] .
35
Capı́tulo 3
Diseño y Resultados
3.1. Diseño
Propusimos un tipo de enfriador radiativo compuesto de siete capas alternadas de SiO2 y
Si3 N4 , basado en el estudio de Ma, Hongche [18] , el ancho de cada capa está en la tabla ??. Las
capas de SiO2 /Si3 N4 funcionan como un emisor selectivo, ya que estos son transparentes para
el espectro solar visible, pero opacos para la ventana atmosférica. La capa de plata se deposita
sobre una capa de silicio (Si). Esta capa de plata funciona para reflejar la irradiación solar, por
lo que la emisión térmica se devuelve al espacio.
N° de capa Elemento Sı́mbolo Altura de la capa [µm]

I Óxido de Silicio SiO2 0.257
II Nitruro de Silicio Si3 N4 0.217
III Óxido de Silicio SiO2 0.421
IV Nitruro de Silicio Si3 N4 0.292
V Óxido de Silicio SiO2 0.418
VI Nitruro de Silicio Si3 N4 0.257
VII Óxido de Silicio SiO2 0.056
VIII Plata Ag 1.0 o 3.0
Tabla 3.1: Dimensiones de capas y orden de materiales
Estas capas se sometieron a una formulación de estructura periódica, con distintos periodos
(Λ=6.0, 7.0 y 8.0 µm) a dos profundidades distintas, un grating de las tres primeras capas y un
grating de las 7 capas, y distintas relaciones de llenado de aire (f =0.2, 0.5 y 0.8) esta relación
de llenado quiere decir, por ejemplo, un f =0.2 de un periodo 6.0 seria que la relación de aire-
material serı́a, un 2 % del periodo será aire (0.12µm) y ası́ con las demás relaciones de llenado.
Estas capas terminan con un sustrato reflector de plata (Ag).
36
(a)
(b)
(c)
Figura 3.1: (a) Diseño estudiado de Ma, Hongche [18] . (b) Estructuras 1 y 3, con grating en las
3 primeras capas, según la relación de llenado de aire f va variando el espacio entre el grating.
(c) Representa el diseño del grating de las estructuras 2 y 4, el cual se extiende por las 7 capas
de dieléctrico.
Se muestran las constantes ópticas para los materiales en la Figura 3.2, el ı́ndice de refracción
n y el coeficiente de extinción κ ambos SiO2 y Si3 N4 tienen un ı́ndice de refracción alto en
longitudes de onda del rango visible lo que significarı́a hay una alta transmisión en ese rango, lo
que provocarı́a una reflexión por parte de el sustrato de plata (Ag). Por otra parte, el coeficiente
37
de extinción (κ) tienen un peak en las longitudes de onda de la ventana atmosférica, donde la
emisión térmica puede escapar sin obstáculos al espacio, lo que indica la posibilidad de su aporte
mutuo a la emisividad de banda ancha.
(a)
(b)
Figura 3.2: (a) Muestra las propiedades ópticas del SiO2 y su realación con la ventana at-
mosférica (8 a 13µm), cabe destacar su alto ı́ndice de refracción n para el rango visible y el alto
coeficiente de extinción κ para los rangos de la ventana atmosférica. (b) Muestra las propiedades
ópticas del Si3 N4 y su relación con la ventana atmosférica (8 a 13µm), también , cabe destacar
su alto ı́ndice de refracción n para el rango visible y el alto coeficiente de extinción κ para los
rangos de la ventana atmosférica. Se puede ver que la combinación de estos dos materiales en
sus coeficiente de extinción κ, darı́an un peak completo en la ventana atmosférica.
.
Se estudiaron cuatro tipo de estructuras periódicas, dos multicapas y un Bulck o pedazo de
plata de 100µm, con intención de comprobar las caracterı́sticas de reflectancia. De estas cuatro
estructuras periódicas, dos de estas con gratings en las 3 primeras capas (estructura 1 y 3) y
otras dos con gratings en las 7 capas (estructura 2 y 4). Las estructuras 1 y 3 solo tienen la
diferencia del ancho de la capa del sustrato Ag, con la intención de comprobar resultados, la
estructura 1 tiene 1.0 µm y la 3 tiene 3.0 µm de sustrato. De la misma manera las diferencias
de las estructuras 2 y 4, la estructura 2 tiene 1.0 µm de sustrato y la estructura 4 tiene 3.0 µm
del mismo.
38
Las dos multicapas estudiadas se realizan bajo el mismo formato de diferencias en el sustrato
la multicapa original tiene 1.0 µm de sustrato y la multicapa sustrato de 3.0 µm.
3.2. Método de Obtención Resultados
Las estructuras estudiadas son dos multicapas, 1 Bulck de plata y treinta y seis gratings, ya
que de las 4 estructuras Figura 3.1, se analizan a periodos Λ=6.0, 7.0 y 8.0 µm y para cada
periodo son relaciones de llenado de aire de f =0.2, 0.5 y 0.8.
El proceso de obtención de resultados tiene como primera etapa modelar la emitancia de las
estructuras mediante el método RCWA en Matlab, este código se realizó para que nos diera los
resultados para ángulos de incidencia 0°, 5°, 10°, 15,° 20°, 25°, 30°, 35°, 40°, 45°, 50°, 55°, 60°,
65°, 70°, 75°, 80° y 85°, para poder tener una descripción completa de la dispersión de la onda,
la reflectancia y la emitancia de estas estructuras.
Del método RCWA se calculan los coeficientes de Fresnel para cada polarización (TE y TM),
reflectancia y transmitancia, de estos se obtiene la absortancia en cada polarización (TE y TM),
estas absortancias se promedian y da como resultado la absortancia promedio. La absortancia
promedio se ingresa al código de balance de energı́a con la intención de calcular este balance,
dando los resultados de la temperatura de equilibrio en K, potencia solar incidente absorbida
Psol , potencia perdida debido a la conducción y convección Pconv+cond , con un coeficiente de
conducción y convección hc = 6,9[W/m2 K], la potencia irradiada por el enfriador Prad y la
potencia absorbida por la atmósfera y el ambiente Patm .
Los parámetros ambientales que se utilizan en este estudio son el ya antes mencionado
coeficiente de conducción y convección hc = 6,9[W/m2 K], la temperatura ambiente de 300 K,
temperatura inicial 280 K y temperatura más alta o final de 308 K.
Las ordenes de difracción utilizadas para una definición fiable del código y su superposición
entre ondas sea homogéneo para la absorción promedio, se realizó una comparación de las ordenes
de 5, 10, 20, 30, 35, 40, 50, 60 y 80. Estos resultados para una longitudes de ondas bajas y
polarización TM que generalmente es la que varı́a más se muestran en la Figura 3.3 donde
además, se ve que la orden que se empieza a mantener un comportamiento más uniforme, parte
en las 50 órdenes, por lo que en los datos obtenidos por el RCWA se utilizó 60 órdenes de
difracción. Cabe destacar que cuando aumenta la longitud de onda más uniforme se vuelven
desde las 30 órdenes de difracción. Se calculó para dos ángulos de incidencia 0° y 60°, para tener
39
una mayor descripción.
(a)
(b)
Figura 3.3: ?? Ordenes de difracción para un ángulo de incidencia de 0°, (b) Órdenes de difracción
para un ángulo de incidencia de 60°, se ve un resultado parejo desde principio a fin en las órdenes
de 60 y 80.
.
40
3.3. Resultados Obtenidos
Los resultados se muestran en las Figuras 3.4 . Se divide en tres tablas la Figura 3.4(a)
muestra los resultados para el Bulck de plata y las multicapas originales con 1µm y 3µm. La
Figura 3.4(b) muestra la estructura 1 y 3, las cuales ambas tienen un grating en las tres primeras
capas. La Figura 3.4(c) muestra la estructura 2 y 4 la cual tiene un grating en las 7 capas de
dieléctrico. Los parámetros colocados son los datos del grating el periodo y la relación de llenado
de aire del grating. La temperatura de enfriamiento (cuando Pcool es igual a 0), la temperatura
de equilibrio es el aproximado a la temperatura de enfriamiento en Pcool = 0. Los datos de
potencias son los ya antes mencionados.
En las tres tablas de la Figura 3.4 se ve como el ancho del sustrato de plata no afecta en
los resultados, se mantienen los valores, esto comprueba que la plata es el reflectante de la onda
incidente y no afecta su ancho en la emisividad de los materiales superiores.
A la menor temperatura de equilibrio que se llega es con la estructura 2 y 4, la cual tiene
el grating en las siete capas de dieléctrico, estos resultados se marcan con amarillo en la Figura
3.4(c), el primero a un periodo Λ= 7.0 µm y una relación de llenado de aire de f =0.5, teniendo
una temperatura de equilibrio de 295 K, una potencia irradiada por el enfriador de Prad =143.6
[W/m2 ] y una potencia absorbida del sol Psol =46.7 [W/m2 ] . El segundo mejor resultados a
un periodo Λ= 8.0 µm y una relación de llenado de aire de f =0.5 teniendo una temperatura
de equilibrio de 295 K, una potencia irradiada por el enfriador de Prad =142.9 [W/m2 ] y una
potencia absorbida del sol Psol =46.2 [W/m2 ].
Los resultados vistos en la Figura 3.4 los entrega el código de balance de energı́a, además
de un gráfico resumen con las potencias calculadas, el cual se muestran para las estructras de
mejor desempeño en la Figura A.6. Mostrando de una forma gráfica los resultados entregados.
En la Figura 3.6 se ven los gráficos de emitancia y en la Figura 3.7 los de reflectancia,
estos describirı́an el comportamiento de la estructura a las longitudes de onda de la ventana
atmosférica y rango visible, respectivamente. Para no colocar todos los gráficos de emitancia y
reflectancia obtenidos para los 36 gratings colocaremos los de los resultados que tuvieron los
mejores resultados y en el anexo se colocará los demás.
41
(a)
(b)
(c)
Figura 3.4: (a) da a conocer los resultados obtenidos por el Bulck de plata y las multicapas
originales, donde no se ve diferencia por el cambio de longitud del sustrato.(b) Resultados de
las estructuras 1 y 3, las cuales tienen las tres primeras capas con grating. (c) Resultados de las
estructuras 2 y 4, estas estructuras tienen un grating completo por las siete capas de material
dieléctrico dejando el sistrato expuesto en los huecos del grating.
.
42
(a)
(b)
Figura 3.5: (a) Potencias resultantes para estructura con periodo Λ= 7.0 µm y una relación de
llenado de aire de f =0.5, donde se marca el punto donde Pcool es aproximadamente 0 (Ts tem-
peratura de equilibrio). (b) Potencias resultantes para estructura con periodo Λ= 8.0 µm y una
relación de llenado de aire de f =0.5, donde se marca el punto donde Pcool es aproximadamente
0 (Ts temperatura de equilibrio).
.
43
(a)
(b)
Figura 3.6: (a)(b) Emitancias promedio, entre TE y TM, resultantes para estructura con periodo
Λ= 7.0 µm y una relación de llenado de aire de f =0.5, se destaca la ventana atmosférica
(8 a 13µm).
.
44
(a)
(b)
Figura 3.7: (a)(b) Emitancias promedio, entre TE y TM, resultantes para estructura con periodo
Λ= 7.0 µm y una relación de llenado de aire de f =0.5, en el rango visible, el rango de la
irradiación solar.
.
45
Capı́tulo 4
Análisis de Resultados
4.1. Análisis de emitancias
Para realizar un análisis de las emitancias primero hay que recordar que se busca una alta emi-
sividad del material o enfriador en las longitudes de onda de la ventana atmosférica (8 a 13µm),
por lo que en los gráficos de la Figura 3.6, muestra las emitancias para la estructura con mejores
resultados de temperatura de equilibrio Ts =295 K (estructura 4 Λ=7µm y f =0.5). En la Figura
4.1, se realiza una comparación de las emitancias de los 2 mejores resultados y la multicapa de
estos materiales, se observa que la de mejor resultado, no llega a valores de 1 en emisividad,
pero parece abarcar una mayor área y además, dos fuertes peaks entre 0.8 y 1.0 dentro de la
ventana atmosférica a diferencia de la multicapa, en cambio, la estructura de periodo Λ=8 µm
llega con un peak fuera de la ventana atmosférica, significando la pequeña diferencia que se tiene
con la de mejor resultados. Por lo tanto, se logró un mejor diseño espectral del enfriador con la
estructura 4 Λ=7µm y f =0.5 .
Un análisis de la reflectancia se lleva a cabo una comparación de las reflectancias en el
espectro visible se realiza en la Figura 4.2, con la intención de verificar cual es la estructura
que más reflejara en este espectro, por lo que, tendrı́a una potencia absorbida por el sol (Psol )
menor , confirmando lo antes visto en las tablas de la Figura 3.4. Las tres estructuras tienen un
buen comportamiento de reflectancia en el espectro visible, llegando a valores casi de 1.
46
Figura 4.1: En esta figura se muestran 3 emitancias promedio de 3 estructuras estudiadas, la
multicapa, la estructura 4 con Λ=7µm y f =0.5, y la estructura 4 Λ=8µm y f =0.5.
Figura 4.2: En esta figura se muestran 3 reflectancias de 3 estructuras estudiadas, la multicapa,

la estructura 4 con Λ=7µm y f =0.5 (mejor resultado), y la estructura 4 Λ=8µm y f =0.5.
4.2. Análisis de Potencias
Un enfriador radiativo, que funcione de dia, debe emitir fuertemente la radiación térmica
Prad , mientras minimiza la radiación térmica incidente desde la atmosfera, minimizando sus
emisiones en las longitudes de onda donde esta es opaca (alta emisividad para la ventana at-
47
mosférica). Debe ser altamente reflectante de la luz solar para minimizar el Psun , además este
enfriador debe estar bien sellado respecto al entorno para minimizar la convección y conduc-
ción Pconv+cond . Con la estructura de mejor comportamiento tenemos una potencia irradiación
del enfriador Prad =143.65 [W/m2 ] menor a la multicapa estudiada de referencia, esto quiere
decir que nuestra estructura propuesta tiene menor emisión de radiación térmica. Su potencia
absorbida por el ambiente es menor Patm =58.78[W/m2 ], lo que quiere decir, que minimiza sus
emisiones en el rango opaco de la atmosféra, por lo que, se destaca por su emisividad, en la
Figura 4.1 se ve como la estructura propuesta se mantiene por más longitudes de onda en altas
emitancias dentro de la ventana atmosférica. Además, se ve por el comportamiento de la poten-
cia solar recibida es menor a la multicapa Psol =46.724[W/m2 ], lo que demuestra que el diseño
es altamente reflectivo de la luz solar.
Figura 4.3: En esta figura se muestran 3 resultados del balance de energı́a de 3 estructuras
estudiadas, la multicapa, la estructura 4 con Λ=7µm y f =0.5 (mejor resultado), y la estructura
4 Λ=8µm y f =0.5. Estas estructuras fueron estudiadas sin coeficiente de convección (hc = 0),
es decir, describe su comportamiento radiativo solamente.
En la Figura 4.3 se muestra un segundo análisis con hc =0, con la intención de visualizar
solo el efecto radiativo, los resultados muestran lo ya antes mencionado, con mayor diferencias
y un temperatura de equilibrio muy por debajo de la temperatura ambiente (20 K). Una alta
emisividad en la ventana atmosférica, tenieno una baja Patm =58.78[W/m2 ], una alta reflexión de
la luz solar Psol =46.38[W/m2 ] y una menor irradiación termica de este enfriador en comparación
a la multicapa de referencia Prad =114.2 [W/m2 ].
48
Capı́tulo 5
Conclusiones y trabajo futuro
Los resultados obtenidos son prometedores, teniendo una temperatura de equilibrio menor
en 5°C a la temperatura ambiente, ocupando un recurso pasivo y enviando el desecho de calor al
espacio, que es el diseño de una nano/microestructura que funciona como un enfriador radiativo,
que puede ser utilizado tanto para celdas fotovoltaicas, recolección de agua de rocı́o o nuevas
tecnologı́as, que necesiten una menor temperatura para una mayor eficiencia, en este trabajo se
presenta una alternativa de diseño y materiales. Con una baja absorción de la radiación incidente
desde la atmósfera, una alta reflexión de la luz y una alta emisividad en la ventana atmosférica.
Estos resultados se lograron debido a la modelación de ondas electromagnéticas y las ecua-
ciones de Maxwell, mediante métodos numéricos, en especı́fico el RCWA, que es uno de las
alternativas para resolver una matriz de transferencia, gracias a las herramientas de simulación
como Matlab, el entorno a resolver se puede hacer mucho más fácil, permitiéndonos realizar
ingenierı́a de radiación térmica y crear nuevas estructuras o dispositivos posibilitando el manejo
de la luz.
El enfriamiento radiativo se ve como una alternativa a muchas necesidades del futuro, ya
sea en enfriamiento en macro o micro escala, con polı́meros o con dieléctricos, mientras más
se investigue la nanofotónica y sus alcances mayor serán los desafı́os en construcción de estos
dispositivos, ya existen varias técnicas de construcción (mediante un depósito quı́mico de vapor
mejorado por plasma, sistema PlasmaPro100, cámara de vacı́o con una presión base [18] ), pero por
la dificultad de estos y la infraestructura, esta tecnologı́a de enfriamiento no ha sido explotada.
Para mejorar los resultados obtenidos en este trabajo, se recomienda centrarse en la elección
de materiales que contengan una emisividad mayor y que provoquen una emisión térmica mayor
49
a la que se obtuvo.
50
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pii/B9780080547213500022.
54
Anexos
55
Anexo A
Gráficos Estructuras
56
(a)
(b)
Figura A.1: (a) Potencias resultantes para estructura con periodo Λ= 7.0 µm y una relación de
llenado de aire de f =0.5, donde se marca el punto donde Pcool es aproximadamente 0 (Ts tem-
peratura de equilibrio). (b) Potencias resultantes para estructura con periodo Λ= 8.0 µm y una
relación de llenado de aire de f =0.5, donde se marca el punto donde Pcool es aproximadamente
0 (Ts temperatura de equilibrio).
.
57
(a)
(b)
Figura A.2: Emitancia TE para estructura con periodo Λ= 7.0 µm y una relación de llenado de
aire de f =0.5
.
58
(a)
(b)
Figura A.3: Emitancia TM para estructura con periodo Λ= 7.0 µm y una relación de llenado de
aire de f =0.5
.
59
(a)
(b)
Figura A.4: Emitancia TE para estructura con periodo Λ= 8.0 µm y una relación de llenado de
aire de f =0.5
.
60
(a)
(b)
Figura A.5: Emitancia TM para estructura con periodo Λ= 8.0 µm y una relación de llenado de
aire de f =0.5
.
61
(a)
(b)
Figura A.6: Emitancia Promedio para estructura con periodo Λ= 8.0 µm y una relación de
llenado de aire de f =0.5
.
62

Utem Ignacio Alvarez Trabajo de Titulo

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UNIVERSIDAD TECNOLÓGICA METROPOLITANA

DISEÑO TEÓRICO-NUMÉRICO DE NANO/MICROESTRUCTURAS

TRABAJO DE TITULACIÓN PARA OPTAR AL TÍTULO DE

PROFESOR GUÍA: GERARDO SILVA OELKER

ALUMNO: IGNACIO ÁLVAREZ CATALÁN

Firma y timbre de la autoridad responsable

Una alternativa de enfriamiento es el llamado enfriamiento radiativo (ER), el ER es un

Índice de figuras III

1.1. Descripción de la problemática . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1

1.3.1. Objetivo General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2

1.3.2. Objetivos Especı́ficos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2

2.2. Ondas Electromagnéticas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5

2.2.1. Ecuaciones de Maxwell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5

2.2.3. Vector de Poynting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10

2.2.4. Propiedades Ópticas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10

2.2.5. Modelación de Prompiedades Electromagnéticas . . . . . . . . . . . . . . 15

Modelos de Función Dieléctrica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16

Realciones Kramers-Kronig (KK) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17

2.2.6. Modelación de Ondas Electromagnéticas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19

Análisis Riguroso de Acoplamiento de Ondas (RCWA) . . . . . . . . . . . 20

2.3. Validación del Código para el RCWA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23

2.4. Enfriamiento Radiativo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26

2.4.1. Modelo Matemático . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28

2.4.2. Emisores Térmicos y Propiedades Ópticas para Enfriamiento Radiativo . 32

3.2. Método de Obtención Resultados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39

3.3. Resultados Obtenidos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41

4.1. Análisis de emitancias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46

4.2. Análisis de Potencias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47

5. Conclusiones y trabajo futuro 49

2.1. Reflexión y transmisión en una interfase . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9

2.2. Análisis Riguroso de Acoplamiento de Ondas (RCWA) esquema . . . . . . . . . . 20

2.3. Validación Wang, L . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23

2.4. Validación Nguyen-Huu . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24

2.5. Validación Hongchen Ma . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25

2.6. Enfriamiento Radiativo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26

2.7. Ángulo Sólido . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29

2.8. Datos atmosféricos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31

2.9. Ejemplo N°1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33

2.10. Ejemplo N°1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33

2.11. Ejemplo N°2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34

2.12. Ejemplo N°3 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35

3.1. Diseño estructuras . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37

3.2. Propiedades ópticas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38

3.3. Ordenes de difracción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40

3.4. Resumen resultados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42

3.5. Resultados Potencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43

3.6. Resultados Emitancias Promedio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44

3.7. Resultados Reflectancias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45

4.1. Análisis de emitancias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47

4.2. Análisis de Reflectancias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47

4.3. Análisis de Resultados hc = 0 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48

A.2. Resultados RCWA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58

A.3. Resultados RCWA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59

A.4. Resultados RCWA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60

A.5. Resultados RCWA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61

A.6. Resultados RCWA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62

3.1. Dimensiones capas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36

1.1. Descripción de la problemática

La regulación de la temperatura en macro y micro escala es una de las actividades humanas

que más consumen energı́a, actualmente las tecnologı́as de refrigeración ya representan un 15 %

del consumo mundial de electricidad y el 10 % de las emisiones de gases invernaderos. Debido al

estándar se calientan bajo la luz solar. El resultado de este incremento en la temperatura de

operación, trae consecuencias desfavorables en la eficiencia y durabilidad de estas. En celdas de