Las Funciones de Probabilidad - Diapositivas Vídeo

Arturo Ruiz-Falcó Rojas
Dr. Ing. Naval

Certificaciones ASQ:
CQE/CRE/CSSBB
Maestría MICRO
Arturo Ruiz-Falcó- 2016
Fiabilidad de Dispositivos - II
OBJETIVO:
CONOCER Y MANEJAR LAS PRINCIPALES

FUNCIONES DE FIABILIDAD
Maestría MICRO
Arturo Ruiz-Falcó- 2016 3
Temas a tratar:
1. EL MODELO ESTADÍSTICO EMPLEADO

EN INGENIERÍA DE CONFIABILIDAD.
2. PRINCIPALES FUNCIONES DE
PROBABILIDAD EMPLEADAS EN
CONFIABILIDAD.
3. CASO DE ELEMENTOS REPARABLES.
Maestría MICRO
1. El modelo estadístico empleado
EL MODELO ESTADÍSTICO
EMPLEADO EN INGENIERÍA DE
CONFIABILIDAD.
Maestría MICRO
RECORDAMOS ALGUNOS
CONCEPTOS VISTOS
ANTERIORMENTE.
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CONCEPTO DE FIABILIDAD SEGÚN LA NORMA CEI 60050-191 / UNE 21302-191
DA DOS DEFINICIONES DE FIABILIDAD:
FIABILIDAD (191.02.06): APTITUD DE UN ELEMENTO PARA REALIZAR UNA

FUNCIÓN REQUERIDA, EN CONDICIONES DADAS, DURANTE UN INTERVALO
DE TIEMPO DADO.
…
NOTA 2: GENERALMENTE LA FIABILIDAD SE CUANTIFICA MEDIANTE CARACTERÍSTICAS
APROPIADAS. EN ALGUNAS APLICACIONES, UNA DE ESAS CARACTERÍSTICAS SE EXPRESA COMO
UNA PROBABILIDAD, QUE SE LLAMA TAMBIÉN FIABILIDAD
FIABILIDAD (191.12.01): PROBABILIDAD DE QUE UN ELEMENTO PUEDA

REALIZAR UNA FUNCIÓN REQUERIDA EN CONDICIONES DADAS, DURANTE
UN INTERVALO DE TIEMPO DADO (T1, T2).
…..
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SI EL TIEMPO HASTA EL FALLO ES UNA VARIABLE ALETORIA TENDRÁ ASOCIADA

UNA FUNCIÓN DE DENSIDAD DE PROBABILIDAD DE FALLO f(t):
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SI EL TIEMPO HASTA EL FALLO ES UNA VARIABLE ALETORIA TENDRÁ ASOCIADA

UNA FUNCIÓN DE DENSIDAD ACUMULADA DE DE FALLO f(t):
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EN INGENIERÍA DE CONFIABILIDAD TRABAJAMOS CON LA FUNCIÓN DE

FIABILIDAD R(t) = 1- F(t):
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LAS RELACIONES ANALÍTICAS ENTRE ESTAS FUNCIONES SON:
CONCEPTO PROBABILÍSTICO DE LA FIABILIDAD

FUNCIÓN DE DENSIDAD DE
f (t ) PROBABILIDAD DE FALLOS
F  t    f ( t ) dt )
t
FUNCIÓN DE INFIABILIDAD
0
R( t )  1  F ( t ) FUNCIÓN DE FIABILIDAD
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CURVA DE LA BAÑERA
λ(t)
Fallos infantiles Vida útil Desgaste

t
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CONCEPTO DE DISPOSITIVO SEGÚN LA NORMA CEI 60050-191 / UNE 21302-191
ELEMENTO DISPOSITIVO (191.01.01): TODA PARTE, COMPONENTE,

SUBSISTEMA, UNIDAD FUNCIONAL, EQUIPO O SISTEMA QUE SE
PUEDE CONSIDERAR INDIVIDUALMENTE.
SEGÚN ESTO, DEBEMOS ENTENDERLO COMO LA CAJA NEGRA
MÁS PEQUEÑA QUE CONSIDEREMOS EN EL ANÁLISIS:
1. PARA EL INGENIERO DE UNA REFINERÍA,LA REFINERÍA ES

EL SISTEMA Y UNA BOMBA ES UN DISPOSITIVO.
2. PARA EL FABRICANTE DE LA BOMBA, LA BOMBA ES EL
SISTEMA Y EL MOTOR UN DISPOSITIVO.
3. PARA EL FABRICANTE DEL MOTOR, EL MOTOR ES EL
SISTEMA ..ETC.
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¡¡¡AVANCEMOS CON
CONCEPTOS NUEVOS!!
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EN EL CASO DE LOS ELEMENTOS REPARABLES, LA POBLACIÓN

IRÁ MEZCLANDO ELEMENTOS NUEVOS Y REPARADOS:
NOS CENTRAREMOS DE
MOMENTO EN LOS NO REPARABLES NO REPARABLES
LOS ELEMENTOS O
DISPOSITIVOS PUEDEN
SER:
REPARABLES
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CONCEPTO DE TASA INSTANTÁNEA DE FALLOS SEGÚN LA NORMA

CEI 60050-191 / UNE 21302-191
TASA INSTANTANEA DE FALLOS (191.12.02): LÍMITE ,SI EXISTE, DEL COCIENTE ENTRE LA
PROBABILIDAD CONDICIONADA DE QUE AL INSTANTE t DE FALLO DE UN ELEMENTO ESTÉ
COMPRENDIDO EN UN INTERVALO DE TIEMPO DADO (t, t+Δt) Y LA DURACIÓN Δt DEL
INTERVALO DE TIEMPO, CUANDO Δt TIENDE HACIA CERO, SUPONIENDO QUE EL ELEMENTO
ESTÁ DISPONIBLE AL COMIENZO DEL INTERVALO DE TIEMPO.
NOTA : EN ESTA DEFINICIÓN, t PUEDE REPRESENTAR TAMBIÉN EL TIEMPO HASTA EL FALLO O EL TIEMPO
HASTA EL PRIMER FALLO, SEGÚN EL CASO.
ELEMENTOS NO REPARADOS
ELEMENTOS REPARADOS
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TASA INSTANTANEA DE FALLOS

1 𝑅 𝑡 + Δ𝑡 − 𝑅 𝑡
𝜆(𝑡) = lim
Δ𝑡→0 Δ𝑡 𝑅 𝑡
PROBABILIDAD DE QUE PROBABILIDAD DE QUE NO HAYA

FALLE EN ESE INTERVALO FALLADO ANTES DE t
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UNIDADES DE LA TASA INSTANTÁNEA DE FALLOSQUE SE

PUEDEN ENCONTRAR EN CATÁLOGOS DE COMPONENTES:
•PORCENTAJE DE FALLOS EN 1000 h (SE REPRESENTA %/K).

•FALLOS POR MILLÓN EN 1000 h (SE REPRESENTA PPM/K).
•FIT (FAILURES IN TIME) 1 FIT= 1 PPM/K.
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CONCEPTO DE MEDIA DE LA TASA INSTANTANEA DE FALLOS SEGÚN LA NORMA CEI

60050-191 / UNE 21302-191
MEDIA DE LA TASA INSTANTANEA DE FALLOS (191.12.03): MEDIA DE LA TASA

INSTANTÁNEA DE FALLOS EN UN INTERVALO DE TIEMPO DADO (t1, t2).
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CONCEPTO DE TIEMPO MEDIO HASTA EL PRIMER FALLO

(MTTFF) SEGÚN LA NORMA CEI 60050-191 / UNE 21302-191
TIEMPO MEDIO HASTA EL PRIMER FALLO (MTTFF) (191.12.07): ESPERANZA
MATEMÁTICA DEL TIEMPO HASTA EL PRIMER FALLO.
ESTE LÍMITE ES NULO SIEMPRE QUE λ(t) NO TIENDA A 0.
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CONCEPTO DE TIEMPO MEDIO HASTA EL PRIMER FALLO

(MTTFF) SEGÚN LA NORMA CEI 60050-191 / UNE 21302-191
TIEMPO MEDIO HASTA EL PRIMER FALLO (MTTFF) (191.12.07): ESPERANZA

MATEMÁTICA DEL TIEMPO HASTA EL PRIMER FALLO.
Desgaste
Fallos infantiles
Vida útil
Desgaste
Fallos infantiles
Vida útil
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3. Principales Funciones de Probabilidad
Empleadas en Confiabilidad
PRINCIPALES FUNCIONES DE
PROBABILIDAD EMPLEADAS EN
CONFIABILIDAD.
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LAS FUNCIONES DE DISTRIBUCIÓN MÁS EMPLEADAS EN FIABILIDAD SON

LAS SIGUIENTES:
1) DISTRIBUCIÓN EXPONENCIAL.
2) DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL (2PARÁMETROS).
3) DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL (3 PARÁMETROS).
4) DISTRIBUCIÓN NORMAL.
5) DISTRIBUCIÓN LOGNORMAL.
6) DISTRIBUCIÓN GAMMA.
DE MOMENTO VAMOS A VER LA

EXPONENCIAL Y LA DE WEIBULL
Maestría MICRO
DISTRIBUCIÓN EXPONENCIAL
SE CARACTERIZA POR SER LA TASA DE FALLOS CONSTANTE:
LA FUNCIÓN DE FIABILIDAD:
LA FUNCIÓN DE DENSIDAD DE PROBABILIDAD DE FALLO:
MTTFF:
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 t
R(t )  e
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f (t )  e  t
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ASPECTOS IMPORTANTES A TENER EN CUENTA:
1) POR SU SIMPLICIDAD MATEMÁTICA ES LA MÁS EMPLEADA, ESPECIALMEMTE

PARA EL ANÁLISIS DE SISTEMAS MEDIANTE DIAGRAMAS DE BLOQUES Y LA
APLICACIÓN DEL ÁLGEBRA DE BOOLE.
2) POR SU DEFINICIÓN, ES MUY ÚTIL PARA MODELIZAR EL PERIODO DE “VIDA
ÚTIL” (TASA DE FALLOS CONSTANTE).
3) POR SER LA TASA DE FALLOS CONSTANTE, “NO TIENE MEMORIA”:
1) UN DISPOSITIVO FUNCIONA IGUAL EN CUALQUIER VALOR DEL TIEMPO.
2) PARA EL ANÁLISIS DE DATOS CUENTA EL TIEMPO ACUMULADO (CENTA
IGUAL UN DISPOSITIVO QUE HAYA FUNCIONADO 1.000 h SIN FALLOS, QUE
1.000 DISPOSITIVOS QUE HAYA FUNCIONADO 1 h SIN FALLOS.
4) SOLO EL 37% DE LOS DISPOSITIVOS FALLARÁN DESPUÉS QUE EL MTTFF.¡¡¡ ES UN
ERROR COMÚN PENSAR QUE ES EL 50%!!!
Maestría MICRO
DISTRIBUCIÓN EXPONENCIAL- Ej-1

SI SE TIENE LA CERTEZA RAZONABLE DE QUE LA FIABILIDAD DE UN DISPOSITIVO SE
COMPORTA SIGUIENDO UNA DISTRIBUCIÓN EXPONENCIAL CON TASA DE FALLOS λ =
10-4 FALLOS/ h ¿QUÉ PORCENTAJE DE LOS DISPOSITIVOS SE ESPERA QUE SUPEREN
CON ÉXITO 500 h? IDEM QUE FALLEN ANTES DE 1.000 h?
1) PORCENTAJE DE LOS DISPOSITIVOS QUE SE ESPERA QUE SUPEREN CON ÉXITO 500
h
2) PORCENTAJE DE LOS DISPOSITIVOS QUE SE ESPERA QUE FALLEN ANTES DE 1.000 h
Maestría MICRO
DISTRIBUCIÓN EXPONENCIAL- Ej-2

COMPORTA SIGUIENDO UNA DISTRIBUCIÓN EXPONENCIAL. ¿CUÁL ES LA TASA DE FALLOS
MÁXIMA QUE PUEDE TENER UN DISPOSITIVO SI SE DESEA QUE AL MENOS EL 95%
SOBREVIVAN 500 h? IDEM QUE FALLEN FALLEN MENOS DEL 9,5% ANTES DE 1.000 h?
1) TASA DE FALLOS MÁXIMA PARA AL MENOS EL 95% SOBREVIVAN 500 h:
2) TASA DE FALLOS MÁXIMA PARA QUE FALLEN MENOS 9,5% ANTES DE 1.000 h:
Maestría MICRO
UN PIONERO
ERNST HJALMAR WALODDI WEIBULL
(1887 – 1979)
INGENIERO SUECO
ESTUDIÓ EL TIEMPO HASTA EL FALLO POR FATIGA DE LOS

ACEROS Y LO MODELIZÓ MATEMÁTICAMENTE MEDIANTE UNA
FUNCIÓN DE PROBABILIDAD. A ESA FUNCIÓN LA CONOCEMOS
CÓMO “FUNCIÓN DE WEIBULL”.
Maestría MICRO
DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL CON 2 PARÁMETROS (2 P)

LA FUNCIÓN DE FIABILIDAD: k: PARAM. FORMA
LA FUNCIÓN DE DENSIDAD DE PROBABILIDAD DE FALLO: b: PARAM. ESCALA
k < 1: λ(t) DECRECIENTE

TASA DE FALLO:
K = 1: λ(t) =1/b CONSTANTE
K >1: λ(t) CRECIENTE
MTTFF:
Maestría MICRO
DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL – 2P
Maestría MICRO
DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL-2 P
Maestría MICRO
DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL
Maestría MICRO
DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL CON 3 PARÁMETROS (3 P)

LA FUNCIÓN DE FIABILIDAD:
t0: PARAM. DE ORIGEN O

TIEMPO LIBRE DE FALLOS
LA FUNCIÓN DE DENSIDAD DE PROBABILIDAD DE FALLO:
TASA DE FALLO:
MTTFF:
Nota: Para 0 < t < t0 R(t) = 1, f(t) = 0 y λ(t)=0

Maestría MICRO
DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL
ASPECTOS IMPORTANTES A TENER EN CUENTA:
1) ES MUY VERSÁTIL Y PUEDE EXPLICAR TANTO PERÍODOS DE MORTALIDAD INFANTIL, VIDA ÚTIL
COMO DESGASTE.
2) LA APLICACIÓN AL ANÁLISIS DE LA FIABILIDAD DE SISTEMAS MEDIANTE DIAGRAMAS DE
BLOQUES Y LA APLICACIÓN DEL ÁLGEBRA DE BOOLE ES MUCHO MÁS LABORIOSA QUE CON LA
DISTRIBUCIÓN EXPONENCIAL Y PRECISA DE HERRAMIENTAS DE SW.
3) POR NO SER LA TASA DE FALLOS CONSTANTE, “TIENE MEMORIA”.
4) LA DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL REPRESENTA LA DISTRIBUCIÓN DE LOS VALORES MÍNIMOS DE
UNA POBLACIÓN (FUNCIÓN DE GUMBEL TIPO-III), POR LO TANTO PUEDE INTERPRETARSE
COMO “UNA CARRERA ENTRE LOS DISTINTOS DEFECTOS O MODOS DE FALLO POSIBLE PARA
PRODUCIR EL FALLO DEL DISPOSITIVO.
5) SON CASOS PARTICULARES:
1) k = 1 DISTRIBUCIÓN EXPONENCIAL.
2) K=2  DISTRIBUCIÓN DE RAYLEIGH (EMPLEADA EN ESTUDIOS DE TOLERANCIAS).
6) LAS UNIDADES DE LOS PARÁMETROS SON:
1) K : ADIMENSIONAL.
2) b y t0: UNIDADES DE TIEMPO.
Maestría MICRO
DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL - Ej-1

COMPORTA SIGUIENDO UNA DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL DE PARÁMETROS k = 1,25 Y
b = 7.500. ¿QUÉ PORCENTAJE DE LOS DISPOSITIVOS SE ESPERA QUE SUPEREN CON
ÉXITO 500 h? ¿CUÁNDO SE ESPERA QUE HAYAN FALLADO EL 50% DE LOS
DISPOSITIVOS?
1) PORCENTAJE DE LOS DISPOSITIVOS QUE SE ESPERA QUE SUPEREN CON ÉXITO
500 h:
2) CÁLCULO DE LA MEDIANA:
Maestría MICRO
3. Casos de elementos reparables
CASO DE ELEMENTOS
REPARABLES.
Maestría MICRO
CONCEPTO DE ELEMENTO REPARADO SEGÚN LA NORMA CEI 60050-191 / UNE

21302-191
ELEMENTO REPARADO (191.01.02): ELEMENTO REPARABLE QUE ES DE HECHO
REPARADO TRAS UN FALLO.
LA REPARACIÓN PUEDE SER:

 “PERFECTA” Y DEJA EL ELEMENTO COMO SI FUERA NUEVO (GOOD AS NEW”).
 “MÍNIMA PARA QUE EL ELEMENTO VUELVA A SER FUNCIONAL”, PERO LO DEJA
CON LAS TARAS Y DESGASTE QUE TENÍA UN INSTANTE ANTES DEL FALLO (BAD AS
OLD”).
 UN SITUACIÓN INTERMEDIA ENTRE LAS DOS.
t =0 t =t1 t =t2 t =tn
Maestría MICRO
ELEMENTOS REPARABLES
t =0 t =t1 t =t2 t =tn
1) COMO LA COMPOSICIÓN DE LA
POBLACIÓN ES CAMBIANTE A LO
LARGO DEL TIEMPO, EL
PLANTEAMIENTO A PARTIR DE LA
PROBABILIDAD DE SUPERVIVENCIA NO
ES ADECUADO NI CORRECTO.
2) EL ENFOQUE ES VER LA EVOLUCIÓN DEL
NÚMERO DE FALLOS REGISTRADOS EN
LA MEDIDA QUE PASA EL TIEMPO.
Maestría MICRO
CONCEPTO DE INTENSIDAD INSTANTÁNEA DE FALLO SEGÚN LA NORMA CEI

60050-191 / UNE 21302-191
INTENSIDAD INSTANTANEA DE FALLOS (191.12.04): LÍMITE SI EXISTE, DEL COCIENTE ENTRE LA ESPERANZA
MATEMÁTICA DEL NÚMERO DE FALLOS DE UN ELEMENTO REPARADO, DURANTE UN INTERVALO DE TIEMPO (t,
t+Δt) Y LA DURACIÓN Δt) DEL INTERVALO DE TIEMPO, CUANDO ESTA DURACIÓN TIENDE HACIA CERO.
DONDE: N(t) = NÚMERO DE FALLOS ACUMULADOS EN EL INSTANTE T.

Z(t) = E[N(t)]
DE LA DEFINICIÓN DE z(t) SE DEDUCE:
Maestría MICRO
INTENSIDAD INSTANTÁNEA DE FALLO

OBSERVACIONES IMPORTANTES:
1) z(t) SE CONOCE TAMBIEN COMO “FUNCIÓN DE INTENSIDAD”, “TASA DE

REPARACIÓN” O “ROCOF” (RATE OF OCURRENCE OF FAILURES”. NO HA QUE
CONFUNDIRLO CON LOS CONCEPTOS DE MANTENIBILIDAD, SINO AL NÚMERO
DE ELEMENTOS QUE FALLAN Y DEBEN SER REPARADOS, POR UNIDAD DE
TIEMPO.
2) EL TIEMPO ES DE FUNCIONAMIENTO (UP TIME). SI EL TIEMPO REQUERIDO PARA
REALIZAR LA REPARACIÓN NO ES CERO, DEBERÍA DESCONTARSE.
Maestría MICRO
MODELOS HABITUALES DE INTENSIDAD

INTANTÁNEA DE FALLOS
LOS MODELOS MÁS USADOS SON:
1) PROCESO DE POISSON HOMOGENEO (HPP). ES EL MÁS SIMPLE Y SIRVE

PARA MODELIZAR SITUACIONES EN la QUE z(t) ES CONSTANTE.
2) PROCESO DE POISSON NO HOMOGENEO (NHPP). TAMBIÉN CONOCIDO COMO
“MODELO DE LA LEY POTENCIAL”, “MODELO DE DOUANE”, “PROCESO DE
WEIBULL” O “MODELO AMSAA” (ARMY MATERIALS SYSTEM ANALYSIS
ACTIVITY). ES EL MÁS COMPLICADO Y SIRVE PARA MODELIZAR
SITUACIONES EN la QUE z(t) VARÍA EN EL TIEMPO.
Maestría MICRO
PROCESO DE POISSON HOMOGENEO (HPP)

SI z(t) = λ ES CONSTANTE, IMPLICA QUE LOS FALLOS SON INDEPENDIENTES ENTRE SÍ Y
RESPONDE A UN PROCESO DE POISSON CLÁSICO:
POR SEGUIR UNA LEY DE POISSON, LA ESPERANZA MATEMÁTICA DE NÚMERO DE FALLOS

EN UN TIEMPO t, ES:
EFECTIVAMENTE, z(t) ES CONSTANTE:
EL TIEMPO MEDIO ENTRE FALLOS ES:
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PROCESO DE POISSON NO HOMOGENEO (NHPP)

Z(t) SIGUE UNA LEY POTENCIAL:
LA PROBABILIDAD DE QUE SUCEDAN k FALLOS EN UN TIEMPO t, ES:
HACIENDO k=1 TENEMOS LA FUNCIÓN DE DENSIDAD DE PROBABILIDAD DEL TIEMPO

HASTA EL PRIMER FALLO (QUE ES UNA WEIBULL)
SI SE HA PRODUCIDO UN FALLO EN t=T, LA FUNCIÓN DE DENSIDAD DE PROBABILIDAD DEL

TIEMPO HASTA EL SIGUIENTE FALLO ES:
Maestría MICRO
CON ESTO FINALIZA MI
EXPOSICIÓN. ESPERO QUE LES
HAYA RESULTADO ÚTIL.
MUCHAS GRACIAS POR SU
ATENCIÓN
Maestría MICRO

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Arturo Ruiz-Falcó Rojas

Dr. Ing. Naval

CONOCER Y MANEJAR LAS PRINCIPALES

1. EL MODELO ESTADÍSTICO EMPLEADO

CONCEPTO DE FIABILIDAD SEGÚN LA NORMA CEI 60050-191 / UNE 21302-191

DA DOS DEFINICIONES DE FIABILIDAD:

FIABILIDAD (191.02.06): APTITUD DE UN ELEMENTO PARA REALIZAR UNA

FIABILIDAD (191.12.01): PROBABILIDAD DE QUE UN ELEMENTO PUEDA

SI EL TIEMPO HASTA EL FALLO ES UNA VARIABLE ALETORIA TENDRÁ ASOCIADA

SI EL TIEMPO HASTA EL FALLO ES UNA VARIABLE ALETORIA TENDRÁ ASOCIADA

EN INGENIERÍA DE CONFIABILIDAD TRABAJAMOS CON LA FUNCIÓN DE

LAS RELACIONES ANALÍTICAS ENTRE ESTAS FUNCIONES SON:

CONCEPTO PROBABILÍSTICO DE LA FIABILIDAD

Fallos infantiles Vida útil Desgaste

CONCEPTO DE DISPOSITIVO SEGÚN LA NORMA CEI 60050-191 / UNE 21302-191

ELEMENTO DISPOSITIVO (191.01.01): TODA PARTE, COMPONENTE,

1. PARA EL INGENIERO DE UNA REFINERÍA,LA REFINERÍA ES

EN EL CASO DE LOS ELEMENTOS REPARABLES, LA POBLACIÓN

CONCEPTO DE TASA INSTANTÁNEA DE FALLOS SEGÚN LA NORMA

TASA INSTANTANEA DE FALLOS

PROBABILIDAD DE QUE PROBABILIDAD DE QUE NO HAYA

UNIDADES DE LA TASA INSTANTÁNEA DE FALLOSQUE SE

•PORCENTAJE DE FALLOS EN 1000 h (SE REPRESENTA %/K).

CONCEPTO DE MEDIA DE LA TASA INSTANTANEA DE FALLOS SEGÚN LA NORMA CEI

MEDIA DE LA TASA INSTANTANEA DE FALLOS (191.12.03): MEDIA DE LA TASA

CONCEPTO DE TIEMPO MEDIO HASTA EL PRIMER FALLO

ESTE LÍMITE ES NULO SIEMPRE QUE λ(t) NO TIENDA A 0.

CONCEPTO DE TIEMPO MEDIO HASTA EL PRIMER FALLO

TIEMPO MEDIO HASTA EL PRIMER FALLO (MTTFF) (191.12.07): ESPERANZA

LAS FUNCIONES DE DISTRIBUCIÓN MÁS EMPLEADAS EN FIABILIDAD SON

DE MOMENTO VAMOS A VER LA

LA FUNCIÓN DE DENSIDAD DE PROBABILIDAD DE FALLO:

1) POR SU SIMPLICIDAD MATEMÁTICA ES LA MÁS EMPLEADA, ESPECIALMEMTE

DISTRIBUCIÓN EXPONENCIAL- Ej-1

2) PORCENTAJE DE LOS DISPOSITIVOS QUE SE ESPERA QUE FALLEN ANTES DE 1.000 h

DISTRIBUCIÓN EXPONENCIAL- Ej-2

1) TASA DE FALLOS MÁXIMA PARA AL MENOS EL 95% SOBREVIVAN 500 h:

ESTUDIÓ EL TIEMPO HASTA EL FALLO POR FATIGA DE LOS

DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL CON 2 PARÁMETROS (2 P)

LA FUNCIÓN DE DENSIDAD DE PROBABILIDAD DE FALLO: b: PARAM. ESCALA

k < 1: λ(t) DECRECIENTE

DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL CON 3 PARÁMETROS (3 P)

t0: PARAM. DE ORIGEN O

Nota: Para 0 < t < t0 R(t) = 1, f(t) = 0 y λ(t)=0

DISTRIBUCIÓN DE WEIBULL - Ej-1

CONCEPTO DE ELEMENTO REPARADO SEGÚN LA NORMA CEI 60050-191 / UNE

LA REPARACIÓN PUEDE SER:

CONCEPTO DE INTENSIDAD INSTANTÁNEA DE FALLO SEGÚN LA NORMA CEI

DONDE: N(t) = NÚMERO DE FALLOS ACUMULADOS EN EL INSTANTE T.

DE LA DEFINICIÓN DE z(t) SE DEDUCE:

INTENSIDAD INSTANTÁNEA DE FALLO

1) z(t) SE CONOCE TAMBIEN COMO “FUNCIÓN DE INTENSIDAD”, “TASA DE

MODELOS HABITUALES DE INTENSIDAD

1) PROCESO DE POISSON HOMOGENEO (HPP). ES EL MÁS SIMPLE Y SIRVE

PROCESO DE POISSON HOMOGENEO (HPP)

POR SEGUIR UNA LEY DE POISSON, LA ESPERANZA MATEMÁTICA DE NÚMERO DE FALLOS

EFECTIVAMENTE, z(t) ES CONSTANTE:

EL TIEMPO MEDIO ENTRE FALLOS ES:

PROCESO DE POISSON NO HOMOGENEO (NHPP)

LA PROBABILIDAD DE QUE SUCEDAN k FALLOS EN UN TIEMPO t, ES:

HACIENDO k=1 TENEMOS LA FUNCIÓN DE DENSIDAD DE PROBABILIDAD DEL TIEMPO

SI SE HA PRODUCIDO UN FALLO EN t=T, LA FUNCIÓN DE DENSIDAD DE PROBABILIDAD DEL