REPÚBLICA BOLIVARIANA DE

VENEZUELA
UNIVERSIDAD DEL ZULIA
FACULTAD EXPERIMENTAL DE
CIENCIAS
DIVISIÓN DE ESTUDIOS BÁSICOS
SECTORIALES
LICENCIATURA EN FÍSICA

CARACTERIZACION ESTRUCTURAL, DIFRACCION DE RAYOS

X Y DETERMINACION DE TAMAÑO DE GRANO

Autor:
Br.: Diego José Duran Robinson

Maracaibo, Diciembre de 2022

 INDICE GENERAL

INTRODUCCION

METODOLOGIA

DISCUSION DE RESULTADOS

CONCLUSION

BIBLIOGRAFIA
 INTRODUCCION

La ciencia de los materiales es esencial en la sociedad tecnológica que nos ha tocado

vivir: los semiconductores en la industria electrónica, las zeolitas aplicadas a procesos
catalíticos en la industria petroquímica, las cerámicas en medicina e ingeniería, las
proteínas en bioquímica y los superconductores en la ingeniería eléctrica, son solo
algunos de los múltiples campos donde la ciencia de los materiales es esencial. Con el
fin de entender las propiedades físico-químicas de los materiales y poder mejorarlas, es
imprescindible conocer su estructura atómica. Un método efectivo para conocerla es por
medio de las técnicas de difracción, bien utilizando neutrones, rayos X o radiación
sincrotrón. La técnica de difracción en monocristal utiliza cristales relativamente
grandes y nos da la información necesaria para poder resolver la estructura. Sin
embargo, muchos de los materiales con interés tecnológico no pueden ser crecidos con
tamaño suficientemente grande, de modo que es necesario recurrir a la técnica
de difracción en polvo. A priori, el problema de la difracción en polvo respecto a la
difracción en monocristal radica en que mucha información difractada se encuentra
fuertemente solapada, lo que se traduciría en la imposibilidad de poder determinar la
estructura con suficiente resolución. Entre 1964 y 1966 en el Reactor Center
Netherland, en Petten, Holanda, el Dr Hugo M. Rietveld desarrolló un método efectivo
para conseguir extraer toda la información solapada en los espectros de difracción en
polvo, conocido como Método de Rietveld en su nombre. El método desarrollado por
Rietveld permitía una determinación estructural precisa de cualquier material en polvo.
El método se presento por primera vez en el séptimo Congreso de la Unión
Internacional de Cristalografía (IUCr) de Moscú en 1966. Este método supuso una
pequeña revolución en la ciencia de los materiales, ya que abrió las puertas a la
posibilidad de estudiar estructuralmente una ingente cantidad de nuevos materiales hasta
el momento imposibles de abordar. El crecimiento del número de publicaciones donde
el método de Rietveld ha sido utilizado, ha ido incrementándose exponencialmente
desde su desarrollo inicial hasta la actualidad [1],2 como podemos ver en la figura 1.
ctualmente es la técnica más potente para estudiar el comportamiento térmico y
composicional de la estructura de los materiales, compitiendo en precisión con las
técnicas de difracción en monocristal. Por otra parte, existen materiales que aunque
pueden ser crecidos en forma de monocristal sufren efectos de extinción o de formación
de dominios magnéticos y cristalográficos inherentes al proceso de crecimiento, lo que
se traduce en la imposibilidad de ser estudiados por técnicas de monocristal. En estos
casos el método de policristal es el más indicado, debido a que o no existen esos
problemas en el polvo policristalino o se convierten en parámetros isotrópicos que
pueden ser evaluados más fácilmente. En la actualidad, el desarrollo de las técnicas de
computación, así como el aumento de la potencia de cálculo en los ordenadores
personales, ha convertido al método de Rietveld en una técnica accesible para cualquier
investigador interesado en la estructura de los materiales. Programas como GSAS [3] o
FullProf [4] han permitido su uso extensivo dentro de la comunidad científica, ampliando
y extendiendo las aplicaciones del método a la resolución de los más diversos
problemas en la ciencia de materiales
 METODOLOGIA

Bases del Método

 
Como hemos dicho antes, en una muestra policristalina es inevitable que
mucha información se pierda debido a la orientación aleatoria de los
microcristales. En la práctica la pérdida de información se debe al
solapamiento de los picos de difracción independientes en el diagrama de
polvo respecto al monocristal. Esto significa que en un monocristal, por
ejemplo con red cúbica podemos medir de forma independiente las
intensidades de los picos (1,0,0), (-1,0,0), (0,1,0), (0,-1,0), (0,0,1) y (0,0,-1),
mientras que en un policristal solo mediríamos un pico (1,0,0) pero con una
multiplicidad de orden 6. De esta manera, si calculásemos los factores de
estructura integrando la intensidad de los picos solo obtendríamos una
estimación por medio de policristal y seis por medio de monocristal. La base
del método de Rietveld consiste en utilizar los datos del perfil de intensidad de
cada reflexión en vez de su área integrada en el proceso de refinamiento, lo
que permite extraer la máxima cantidad de información contenida en el
diagrama de polvo[5]. Debido a la importancia que tiene el estudio de
estructuras magnéticas por difracción de neutrones, el método de Rietveld
permite refinar tanto la estructura atómica como la estructura magnética de la
red. La estructura magnética en un principio solo era posible refinarla si
estaba contenida en la celda unidad o en un múltiplo entero de ella 2. En la
actualidad existen programas como el JANA2000 [6] que permiten el estudio de
propiedades asociadas a fases inconmensurables o moduladas con periodos
distintos de los de la celda unidad.
 
 DISCUSION DE RESULTADOS

La calidad del acuerdo alcanzado entre el perfil de intensidad observado y calculado en

nuestro ajuste es evaluado mediante una serie de factores, denominados factores R.
Estos pueden estar asociados al ajuste teórico-experimental del perfil de intensidades Rp
El criterio es sencillo; cuanto menores sean estos valores mejor será el ajuste de nuestro
modelo teórico a los resultados experimentales. Mc Cusker et al, en su trabajo “Rietveld
Refinements Guidelines”[11], subraya el hecho de que junto a unos valores R bajos debe
de valorarse gráficamente el resultado teórico, solapado al experimental, así como la
curva diferencia. La figura 9 muestra el resultado de un refinamiento final de la
estructura de LiNbO3, adquirida por neutrones en el Instituto Laue Langevin (ILL) de
Grenoble (Francia), en la línea de alta resolución D1A. Los valores finales obtenidos en
este ajuste fueron Rp=10.9, RB=2.23 y RF=1.31.
 CONCLUSION

En todos los casos hasta el momento, el método de Rietveld, ha demostrado

ser superior a cualquier otro método utilizado en el estudio de policristales,
como los basados en la separación de picos independientes o en el uso de las
intensidades integradas de los grupos de picos solapados. El método de
Rietveld resuelve la aparente falta de información inherente a los espectros de
policristal como resultado de los severos solapamientos existentes de tal modo
que en muchos casos puede competir con los métodos de monocristal,
especialmente cuando estos están sujetos a errores sistemáticos asociados a su
crecimiento.
 
La resolución o refinamiento de una estructura en policristal, nos habla de la
estructura promedio de nuestro material, por tanto lo podemos considerar un
método integral. Este hecho es una ventaja respecto a la resolución en
monocristal donde lo que estamos analizando en la estructura local de una
esquirla de nuestro crecimiento, pudiendo considerarse, por tanto, un método
diferencial. Estas diferencias, intrínsecas al método de análisis, hacen que la
combinación de la técnica de policristal junto al método de Rietveld, permitan
estudiar la evolución de los parámetros estructurales promedio de nuestro
material respecto a variaciones externas (temperatura, presión, concentración
etc) de manera más integral que por la técnica de monocristal.
 BIBLIOGRAFIA

Aplicaciones de difracción de rayos X:

https://www.upct.es/~dimgc/webjoseperez/DOCENCIA_archivos/
Aplicaciones_DRX_Apuntes_y_ejercicios.pdf

Identificación de fases cristalinas:

https://youtu.be/xHE67GTTXd8

Método de Rietveld:

 Ramón Fernández Ruiz, SIdI-UAM, 2004,

http://ramontxrf.260mb.net/Rietveld.htm?i=2
 https://www.youtube.com/watch?app=desktop&v=lW5cwmqz_G4
 https://m.youtube.com/watch?v=mXmn7RccrnI&pp=QAFIAQ%3D%3D

Tamaño de grano

Martinez Lozano Gonzalo, “Análisis de parámetros microestructurales: tamaño

de cristalita y microdeformación de compuestos Tipo Hidrotalcita de Cobalto”,
tesis para obtener el grado de maestro en ciencias con especialidad en
ciencias de materiales, Instituto Politécnico Nacional, Escuela Superior de
Física y Matemática, Departamento de ciencias de materiales.
Otras bibliografías:

Garandilla Druz Francisco, Moreno Cabañas Gerardo, “APLICACIONES DE LA

DEFORMACION DE RAYOS-X A MATERIALES POLICRISTALINOS”,
Sociedad mexicana de cristalografía A.C.

file:///C:/Users/pc/Downloads/Tamaño%20del%20grano%20tesis%20gonzalo
%20martinez%20lozano%20(1).pdf

https://www.researchgate.net/profile/Francisco-Cruz-Gandarilla/publication/
273458745_Aplicaciones_de_la_Difraccion_de_Rayos_X_a_Materiales_Policri
stalinos/links/550340b30cf24cee39fd6d77/Aplicaciones-de-la-Difraccion-de-
Rayos-X-a-Materiales-Policristalinos.pdf