Gráfico NP

Del análisis de los datos de inspecciones y pruebas finales de un producto ensamblado se detectó a través de una estratificación y un análisis de Pareto
la causa principal por la que los artículos salen defectuosos está relacionada con los problemas de un componente en particular (el componente k12). P
tanto, se decide analizar más de cerca el proceso que produce tal componente. Para ello, de cada lote de componentes k12 se decide inspeccionar
muestra de n = 120. Los datos obtenidos en 20 lotes consecutivos se muestran en la tabla. Como n es constante, la cantidad de defectuosos por muest
puede analizar con una carta np. Para obtener sus límites, primero se estima p–, que se obtiene de dividir el total de artículos defectuosos (183) entre el
de piezas inspeccionadas (20 muestrasde 120 piezas cada una).

Defectos en componentes K12

Muestra Tamaño de la muestra ni Componentes defectuosos di Proporción de defectuosos pi LI
1 120 9 0.08 0.43
2 120 6 0.05 0.43
3 120 10 0.08 0.43
4 120 8 0.07 0.43
5 120 5 0.04 0.43
6 120 5 0.04 0.43
7 120 14 0.12 0.43
8 120 12 0.10 0.43
9 120 9 0.08 0.43
10 120 8 0.07 0.43
11 120 10 0.08 0.43
12 120 20 0.17 0.43
13 120 12 0.10 0.43
14 120 10 0.08 0.43
15 120 10 0.08 0.43
16 120 0 0.00 0.43
17 120 13 0.11 0.43
18 120 5 0.04 0.43
19 120 6 0.05 0.43
20 120 11 0.09 0.43
2400 183 0.08

p 0.08

LS 17.87

LC 9.15

LI 0.43

Gráfico NP
25

20

15

10

0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Componentes defectuosos di LI
LC LS

Discrepancia en: 12 y 16
Se aprecia que el proceso no funcionó de manera estable, ya que el número de piezas defectuosas en la muestra del lote 12 es
mayor que el límite superior; mientras que en la muestra del lote 16 el número de defectuosos es menor que el límite inferior. De
aquí que se tenga una evidencia objetiva para afi rmar que en la fabricación del lote 12 se presentó una causa o situación especial
que normalmente no está presente en el proceso y que lo empeoró de forma seria; mientras que en el lote 16 ocurrió una causa
espe_x0002_cial que mejoró el desempeño del proceso de fabricación de componentes k12. Es necesario localizar ambas causas,
ya que así se estará en posibilidades de prevenir la primera, y en caso de no haber un error en el registro de los datos, fomentar la
segunda.
atificación y un análisis de Pareto que
particular (el componente k12). Por lo
ntes k12 se decide inspeccionar una
ntidad de defectuosos por muestra se
ículos defectuosos (183) entre el total

LC LS
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
9.15 17.87
a muestra del lote 12 es
que el límite inferior. De
ausa o situación especial
ote 16 ocurrió una causa
localizar ambas causas,
de los datos, fomentar la