INSTITUTO TECNOLÓGICO SUPERIOR DE CIUDAD HIDALGO

EXAMEN PARCIAL, DE REGULARIZACIÓN O ESPECIAL

ELABORÓ: D. en C. Saúl Gálvez Barboza VALIDÓ: Ing. Juan Manuel Luque Murillo
Profesor 1 Profesor 2
Asignatura: Caracterización de materiales

Examen: Unidad: 6 Periodo de Recuperación: ____________________ ESPECIAL

División de: Ingeniería en2nanotecnología Fecha: 24 de mayo de 2021
Nombre: Luisa Mariana Peregrino Trejo Grupo: Nano 6
Instrucciones: Lee cuidadosamente cada una de las siguientes secciones y selecciona la respuesta adecuada de
acuerdo con cada pregunta.

Sección 1. Responde lo que se indica (50 %)

1.1. ¿Qué información podemos obtener de Microscopia de Fuerza Atómica?

Obtiene información morfológica, a partir de imágenes topográficas, parámetros superficiales, rugosidad, tamaño y
limites de grano, distribución de partículas, también se emplea en determinación de propiedades mecánicas.

1.2. ¿Qué información podemos obtener de Microscopia de Efecto Túnel?

De igual manera la topografía, su tamaño, su estructura electrónica, sus características periódicas, su superficie
rugosa y un posible contenido de elementos.
1.3. ¿Cuál es la función del escáner?
Enfocar la zona que se requiere observar, ya que se mueve en 3 direcciones, x, y, z.

1.4. ¿Por qué las muestras en Microscopia de Efecto Túnel tienen que ser conductoras?
Debido a la punta y la muestra ya que se genera una diferencia en su potencial, también su interaccion se relaciona
con electrones para poder observar la muestra.

1.5. Menciona 2 diferencias entre Microscopia de Efecto Túnel y Microscopia de Fuerza Atómica:
AFM muestras: conductoras, material biológico, alimentos, metales, cerámicos, películas delgadas, etc.
AFM interacción: viene dada por fuerzas interatómicas e intermoleculares.
STM muestras: conductoras
STM interacción: viene dada por electrones para poder generar el efecto túnel.

Sección 2. Subraya el inciso correcto (20 %)

2.1. En un Microscopia de Fuerza Atómica el detector es:

a) Laser y fotodiodo
b) Terminal
c) Un amperímetro
d) Ninguna de las anteriores

2.2. La sonda o punta de un Microscopia de Fuerza Atómica, típicamente hecha de:

a) W
b) PtIr
c) Si3N4
d) Ninguna de las anteriores

2.3. Los modos de operación en Microscopia de Efecto Túnel son:

a) Modo de corriente constante
b) Modo de altura constante
c) Modo de contacto
d) Escaneado de espectroscopia de túnel

2.4. Los modos de operación en Microscopia de Fuerza Atómica son:

a) Modo contacto

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b) Modo contacto intermedio
c) Modo no contacto
d) Modo altura constante

Sección 3. Determina lo siguiente (20 %)

3.1. Cuando la sonda de barrido analiza la superficie de la muestra, las interacciones de la superficie de la punta pueden
ser sensadas con un sistema de detector de movimiento.

3.2. Se utiliza un sistema de control de retroalimentación para controlar la posición vertical de la punta.

3.3. En el modo intermedio, el cantiléver está oscilando a una frecuencia resonante.

3.4 En el modo contacto, la fuerza en la punta es repulsiva.

Sección 4. Elige la respuesta correcta (10 %)

4.1. Describe a que tipo de microscopio corresponde cada configuración.

(a)AFM (b) STM (c)SPM

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