Analizaremos cómo medir la capacitancia y el factor de disipación.

La capacitancia se mide usando un

puente de “Schering”. ¿Qué es este puente de Schering? Primero discutiremos cómo equilibrar un puente.

Como sabemos para el puente equilibrado, no debería haber corriente a través del detector, lo que significa
que la diferencia de potencial en el detector es cero.

I1*Z1 = I4*Z4. (1)

Pero I1 = I3 = E / (Z1 + Z3), E es la tensión de alimentación.

I2 = I4 = E / (Z2 + Z4)

Por lo tanto, desde (1), para que el puente se equilibre:

Z1*Z4 = Z2*Z3.

La conexión y el diagrama fasorial del puente de Schering en condiciones de equilibrio se muestran en la

figura a continuación.
De modo que:

C1 = Condensador de prueba (Condensador cuya capacitancia se va a medir)

 r1 = Una resistencia en serie que representa la pérdida en el condensador C1

 C2 = Un condensador estándar. Este condensador puede ser condensador de aire o de gas y, por lo tanto,
no presenta pérdidas. Es por eso que no hay resistencia de serie en C2.

 R3 = Una resistencia

 C4 = Un condensador variable

  R4 = Una resistencia variable en paralelo con C4

Por lo tanto, en nuestro caso para que el puente de Schering esté en equilibrio:

Z1*Z4 = Z2*Z3

(R1 + 1 / jωC1) {R4 / (1 + jωC4R4)} = R3 / (jωC2)

O bien,

(R1 + 1 / jωC1) R4 = R3 (1 + jωC4R4) / jwC2

 r1R4 - jR4 / ωC1 = -jR3 / ωC2 + R3R4C4 / C2

Igualando la parte real e imaginaria, obtenemos

R1 = R3C4 / C2

C1 = C2R4 / R3

tanδ = ωC1R1 = ω (C2R4 / R3) (R3C4 / C2) = ωC4R4.

Por lo tanto, podemos encontrar el valor del capacitor de prueba balanceando el puente Schering.

El puente de Schering es ampliamente utilizado para la medición del Factor de Disipación y Capacitancia. Se
utiliza para la medición de propiedades de aisladores, casquillos de condensadores, aceites aislantes y otros
materiales aislantes.

Hay tres modos de prueba, Prueba de muestra sin conexión a tierra (UST), Prueba de muestra con conexión
a tierra (GST) y Prueba de la prueba con toma de tierra (GST-G).

El modo de prueba UST se usa cuando el objeto de prueba no está conectado a tierra en ninguna parte. En
este caso, el cable de Alta Tensión (HV) se conecta a un punto del objeto de prueba y el Bajo Voltaje (LV)
conduce al otro punto como se muestra en la figura. Como en este caso, solo hay una forma de que la
corriente de fuga regrese al instrumento de prueba y es solo a través del cable LV, el equipo de prueba
analiza esta corriente de retorno y muestra el valor de capacitancia y tanδ. Tenga en cuenta que el puente
Schering está equilibrado solo en el interior del instrumento.

El modo de prueba GST se usa para el objeto de prueba que está conectado a tierra en cualquier punto.
Prácticamente, si el equipo está instalado, entonces el 99% de posibilidades es que el equipo esté conectado
a tierra y, por lo tanto, con el propósito de medir la Capacitancia y tanδ, se usa el modo GST. En este modo,
el cable HV está conectado a un terminal del objeto de prueba y el cable LV al suelo. Por lo tanto, la Prueba
analiza la corriente de fuga de retorno desde el suelo y muestra la Capacitancia y tanδ.

El modo de prueba GST-Guard se usa dónde queremos eliminar el efecto de la capacitancia debido a la
presencia de otro circuito. Debe tenerse en cuenta que el valor tanδ en el modo GST es igual a la suma del
valor en modo UST y GST-guard.

El objeto de prueba cuyo tanδ se va a medir se aísla primero del sistema. Luego está conectado al kit de
prueba. Después de eso, se aplica una tensión normal de muy baja frecuencia en todo el objeto de prueba.
Si el valor de tanδ concuerda con el Informe de prueba de fábrica del objeto de prueba, entonces el voltaje
se incrementa a 1.5 a 2 veces el voltaje nominal y se anota el valor de tanδ. De la misma manera, el voltaje
aumenta en pasos y se registra el valor de tanδ. Los valores obtenidos se corresponden con el informe de
prueba de fábrica o los datos históricos del objeto de prueba. Si los valores coinciden con una ligera
desviación, concluimos que el objeto de prueba está sano.

En caso de que no tengamos ningún Dato Histórico o Informe de Prueba de Fábrica, graficamos el valor de
tanδ con respecto al voltaje aplicado. Si no hay una ligera variación en el valor de tanδ, entonces podemos
decir que el objeto de prueba está bien dado que la tanδ no depende del voltaje o la frecuencia aplicada.

Una curva típica para el objeto de prueba saludable y el objeto de prueba no saludable se verá de la
siguiente manera:

De la curva, está claro que para un objeto de prueba en buen estado, hay un ligero cambio de la
tanδ con respecto a la variación de la tensión mientras que lo mismo no ocurre para un objeto de
prueba en mal estado (aumenta considerablemente con la tensión)

La Tanδ aumenta con el voltaje para el objeto de prueba malo que a su vez significa, la entrada de
humedad, suciedad o impureza en el dieléctrico del condensador. También se debe tener en
cuenta que si se ve que el tanδ aumenta con el voltaje, entonces debemos detener la prueba, ya
que la aplicación de un voltaje más alto puede conducir a un Avería dieléctrica.

¿Por qué voltaje de baja frecuencia?

Es importante tener en cuenta que el kit de prueba aplica una tensión de baja frecuencia en la
prueba de tanδ. Hay dos beneficios de esto:

a) A menor frecuencia significa más impedancia capacitiva (1/ ωC), como ω = 2πf, implica
que la Reactancia ofrecida por el Condensador será Alta. Debido a la alta impedancia, el
condensador extraerá menos corriente del kit de prueba a un voltaje determinado. Por lo
tanto, se reducirá el requisito de KVA del kit de prueba.
b) Debido a la baja frecuencia, el valor de tanδ = 1 / 2πfCr será alto y, por lo tanto, más fácil
de medir.