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05 MOA Temario MOOC
05 MOA Temario MOOC
Conceptos de rugosidad y
textura superficial.
1. Introducción
La Microscopía óptica data del siglo XVI y desde los primeros microscopios hasta los actuales,
el microscopio óptico ha conocido muchas configuraciones distintas, perfeccionándose hasta
permitir, en nuestros tiempos, una gran variedad de aplicaciones adicionales. Actualmente, se
puede considerar que todavía está en un estado de desarrollo considerable [1-13], es lo que
conocemos como Microscopía Óptica avanzada o Microscopía Óptica en la nanoescala y
Perfilometría Óptica. Esto se debe en parte a los nuevos avances técnicos, a las nuevas
configuraciones existentes y a las nuevas técnicas presentes en el mercado, tal y como
podemos ver en la tabla 1.
Como hemos visto en la tabla 1, existen diversas técnicas que cumplen con todas o
prácticamente todas estas características [14]. De todos modos, en este manual nos
centraremos en las técnicas relacionadas exclusivamente con el campo de los materiales y más
concretamente con las que algunos investigadores denominan Perfilometría Óptica: la
microscopía confocal y la microscopía interferométrica.La microscopía óptica se utiliza
ampliamente en muchos sistemas. Hoy en día, las técnicas ópticas son una herramienta muy
importante tanto en ingeniería de materiales como en el campo de la biotecnología, en los que
el rango espacial de interés se encuentra entre el submicrómetro y el micrómetro. Estas técnicas
incluyen sistemas biológicos tales como células o tejidos así como también las áreas de la física
"blandas", tales como los fluidos complejos. Dado que las escalas de longitud de trabajo están
en el orden de la longitud de onda de la luz visible, la microscopía proporciona una poderosa
herramienta para obtener información espacial en tiempo real. Los usuarios de estas técnicas
buscan rapidez de medida, alta resolución, reproducibilidad y, preferiblemente, que sean
técnicas de no- contacto, no invasivas y no destructivas.
Ambas son técnicas de no contacto capaces de medir la topografía de la superficie con precisión
y fiabilidad, alcanzando resoluciones en la escala nanométrica.
La figura 1 muestra el punto enfocado sobre la muestra y el pinhole, que está delante de un
detector. Un dispositivo de exploración es necesario para obtener una imagen en 3D de la
superficie del objeto.
La microscopía confocal [23] permite la medición topográfica de superficies con una amplia
gama de texturas (desde superficies muy rugosas a superficies muy lisas) mediante el escaneo
en pasos de la muestra verticalmente, de manera que cada punto de la superficie pase a través
de un punto denominado foco o zona focal. Se establece la altura de la superficie en cada punto
mediante la detección de la posición del valor máximo de la respuesta axial (figura 1).
El padre de la interferometría óptica fue, sin duda, Michelson. Fue galardonado con el Premio
Nobel en 1907 por "sus instrumentos ópticos de precisión y por las investigaciones
espectroscópicas y metrológicas realizadas con los mismos". Las últimas décadas han sido
testigo de grandes avances en la interferometría [27], lo que implica un futuro prometedor para
esta técnica.
Existen dos tipos principales de interferómetros, esto es, los que miden las variaciones de altura
de la superficie debido a los cambios de fase de la luz utilizada y los que miden las pendientes
de los cambios de altura de la superficie [28]. Existen versiones comerciales para las
configuraciones Fizeau, Michelson, Mirau y Linnik. Los interferómetros Fizeau utilizan una placa
paralela muy cerca de la superficie; los Michelsons utilizan superficies de referencia en un brazo
diferente; El diseño Linnik utiliza dos objetivos emparejados y el Mirau utiliza un divisor de haz
medio y un pequeño punto de reflexión sobre el objetivo. Los cuatro tipos se muestran en la
figura 2 [28].
La interferometría óptica de luz blanca [29, 30] (figura 3b) utiliza una fuente de luz de banda
ancha que es enfocada sobre una superficie mediante el objetivo de un sistema óptico. Acto
seguido, se posiciona el interferómetro justo por debajo o por encima del objetivo que divide la
luz en dos partes, una dirigida a la superficie y la otra dirigida a un espejo de referencia liso.
Cuando se vuelven a combinar los haces reflejados, se generan franjas de interferencia
alrededor del punto de combinación de ambos haces. Este punto coincide con el camino
detectado para cada área local de la superficie correspondiente a cada píxel del detector de la
cámara. El escaneo vertical de la superficie y la detección de la condición de ruta óptima igual
en cada píxel de la cámara dan como resultado una imagen topográfica. La interferometría
utiliza la interferencia entre las ondas de luz para hacer mediciones extremadamente precisas.
Sus dos modos de trabajo principales son la interferometría de desplazamiento de fase (PSI)
[31, 32], la cual permite la medición de la topografía en superficies muy planas con resolución
subnanométrica en altura y la interferometría de escaneado vertical (VSI) con luz blanca, la cual
se usa para medir la topografía de superficies lisas o superficies moderadamente rugosas (figura
3c) en escalas micro y nanométricas. Cabe destacar que no hay limitación intrínseca en el rango
de medición vertical con la técnica de VSI. Sin embargo, ambas técnicas tienen el inconveniente
de que no pueden hacer frente fácilmente a la medición de superficies muy inclinadas,
superficies que reflejen poco la luz o muestras estructuradas que contienen ateriales con índices
de refracción muy diferentes.
Figura 3. (a) Composición de formación de imágenes confocal, (b) Interferometría de
composición de imágenes y (c) PSI y la formación de interferencia VSI.
La fase adquirida por una onda plana es proporcional a la longitud del camino óptico a través
del cual viaja, que está dada por nd, donde d es la distancia y n es el índice de refracción. En
un interferómetro de Michelson, la longitud de la trayectoria di es modificada mediante el espejo
de referencia situado en la dirección de propagación. Moviendo el espejo una distancia di en la
dirección más larga de la longitud del camino, tiene lugar un incremento de fase δi= 2k0di, donde
el número de onda en el espacio libre, k0 está relacionado con la longitud de onda de la luz por
k0= 2π / λ. Cada posición discreta del espejo genera una intensidad interferométrica dada por
El sistema comprende una fuente de luz que incluye un diodo emisor de luz, divisores de haz,
un CCD (dispositivo de acoplamiento de carga) y una serie de lentes intercambiables (figura 5).
Estas lentes intercambiables pueden ser lentes convencionales que pueden utilizarse para
obtener imágenes confocales o bien lentes de interferometría específicamente diseñadas. Las
lentes están montadas en un revolver giratorio, que permite su fácil intercambio. Por otra parte,
el sistema está provisto de una fuente de iluminación de cristal líquido sobre silicio (LCOS), una
micropantalla que permite la generación de una secuencia de patrones de iluminación que
proporcionan, por medio de la aplicación de algoritmos apropiados, imágenes confocales o
permiten la apertura total de todos los píxeles de iluminación para obtener imágenes
interferométricas. El sistema se completa con un divisor de haz de polarización asociada con
dicha micropantalla.
Por último, el microscopio puede incluir un sistema para llevar a cabo la exploración vertical
accionada por motor requerida para la muestra, de manera que todos los puntos de la superficie
pasen a través del foco. A su vez, se requiere este análisis para ambos modos interferométricos,
el modo PSI y el modo VSI. El equipo se completa con un sistema de posicionamiento para las
muestras que permite el control mediante un joystick del movimiento XY en las muestras y el
movimiento en el plano perpendicular al eje óptico del perfilómetro mediante el accionado de un
motor.
En contraste con el modo confocal, el modo interferométrico ilumina a la vez, por medio de una
micropantalla, toda la superficie a analizar. En otras palabras, no se proyectan patrones de
iluminación, sino que toda la superficie se ilumina para obtener imágenes interferométricas para
cada plano de análisis (figura 6) [36]. El haz emitido pasa a través de un divisor, el cual envía
toda la luz a la superficie de la muestra y la imagen de la superficie se proyecta sobre el
dispositivo CCD. La serie de imágenes resultantes de la exploración vertical de la muestra
proporcionan, por medio del algoritmo apropiado, el análisis topográfico de la superficie de
estudio. La obtención de los patrones de franjas de interferencia se desarrolla de la siguiente
manera: un rayo de luz pasa a través de un divisor de haz, una parte del haz se envía a la
superficie de la muestra y la otra parte se envía a un espejo de referencia. La luz reflejada desde
estas superficies se recombina y forma el patrón. Las configuraciones ópticas más habituales
que nos solemos encontrar son el interferómetro Michelson, el interferómetro Mach-Zehnder y
el interferómetro de Twyman-Green [37]. En interferometría, la técnica PSI se puede usar para
medir superficies continuas y muy suaves, con repetitividad vertical subnanométrica,
independientemente de la lente interferométrica utilizada, es decir, para todos los valores de
apertura numérica. Esto permite llevar a cabo mediciones de la forma y la textura, incluso a
escalas inferiores a 0,1nm. Sin embargo, tiene el inconveniente de tener un rango de medida
vertical extremadamente limitado (<100nm). Del mismo modo, la técnica VSI puede ser usada
para medir tanto superficies pulidas como superficies rugosas, con repetitividad vertical
nanométrica para todos los valores de apertura numérica. Además, con la técnica VSI, el rango
de medición vertical es intrínsecamente ilimitado y se pueden usar altas velocidades de
exploración (hasta 100 μm/s).
Figura 5. (a) Esquema dual (confocal e interferométrico) del camino óptico para ambas
microscopias y (b) comparación de ambas tecnologías.
2.2.3. La resolución
Es la distancia (dz) entre puntos de potencia mitad (A y B) de la respuesta del detector (figura
7). Para un tipo de reflexión OMSC dz es dada por [38], donde θ es el ángulo medio del cono
del objetivo e igual a su apertura numérica. La resolución lateral se determina multiplicando el
tamaño de la difracción limitada por el punto de enfoque (2).
La pendiente máxima medible de la superficie se define como el ángulo en el que la luz reflejada
escapa al objetivo del microscopio y no es recogida por el mismo.
La estructura de la superficie se puede dividir en tres grupos, de acuerdo con las dimensiones
laterales. (1) Microrrugosidad de superficie (a menudo llamada rugosidad), considerada hasta
aproximadamente un milímetro de profundidad, incluyendo películas delgadas, marcas de
pulido y estructura de grano; (2) ondulación superficial, o frecuencia de rugosidad, con
longitudes que van desde unos pocos milímetros a un centímetro, incluyendo superficies
químicamente pulidas como obleas de silicio y presentando ondulaciones que comúnmente se
llaman piel de naranja; (3) la forma general de la superficie, a menudo llamada figura óptica
(obtenida a partir de una superficie perfecta de la forma deseada) o forma de la industria del
mecanizado. Comprende longitudes desde el rango de centímetros hasta el tamaño total de la
pieza.
Aunque los valores de rugosidad pueden ser medidos por una gran variedad de técnicas (figura
9) [42, 43], lo que debemos conocer son las mediciones hechas con diferentes instrumentos
donde la superficie de rangos de longitud de onda espaciales puede ser diferentes. Por ejemplo,
la microscopía de sonda próxima (SPM), la cual se suele usar principalmente para analizar
rugosidades de la superficie en una escala atómica o subnanométrica, aporta una mayor
resolución que la de los microscopios ópticos. Por lo tanto, estos microscopios SPM son los que
tienen mejor resolución lateral y puede medir alturas superficiales en el régimen de la ondulación
[44].
La rugosidad medida se puede expresar con más de 100 parámetros, tal y como veremos en el
punto 3.4, lo que implica que sea muy importante el correcto conocimiento del significado de los
mismos para la adecuada optimización de resultados en el cálculo de la rugosidad de una
superficie. Así por ejemplo, si queremos obtener la rugosidad de una imagen tridimensional, Rq
se calcula mediante la inclusión de todas las alturas de la superficie del plano de referencia,
obteniéndose Sq. Para una superficie isotrópica, o superficie gaussiana, se puede demostrar
que los valores obtenidos para Rq en un perfil de dos dimensiones son los mismos que los
obtenidos en un perfil tridimensional [50]. Las unidades típicas calculadas varían entre los
angstroms o nanómetros para las superficies más lisas y los micrómetros para superficies
rugosas o para dimensiones laterales, también llamadas longitudes de onda espaciales de
superficie.
La selección del objetivo también puede influir en el cálculo de la rugosidad de una superficie,
por ejemplo, si usamos un objetivo de baja apertura numérica, al aumentar el tamaño del punto
que determina la resolución espacial, variaremos la rugosidad. Por otra parte, la profundidad de
la curva de respuesta nos puede dar información acerca de la rugosidad de la superficie, ya que
esta curva se amplía a medida que aumenta la rugosidad de la superficie. La altura a media
anchura de la curva puede ser correlacionada con el valor de una curva más ancha o menos
ancha y se puede correlacionar con una rugosidad más alta o más baja.
La textura puede ser definida como un conjunto de determinados patrones existentes en las
superficies físicas, perceptibles al ojo humano y que aportan gran cantidad de información sobre
la naturaleza de la superficie, tales como la microrrugosidad, la rugosidad, la ondulación o la
forma (figura 10).
Figura 10. Componentes de la textura superficial. Cada componente tiene un origen y un efecto
diferente en su interacción con la superficie.
Es la evolución 3D de normas anteriores, como por ejemplo la norma ISO 4287: 1997,
Geometrical Product Specifications (GPS) – Surface texture: Profile method, donde se describe
la medida de textura superficial 2D. Es el primer estándar internacional que tiene en cuenta las
especificaciones y medidas de textura superficial tridimensional, incorporando a las normativas
ya existentes un amplio rango de sistemas de medida sin contacto. Parte de un grupo
matemáticamente consistente de definiciones y conceptos sin tener en cuenta los estándares
previos e introduce nuevo vocabulario para especificar las características de una superficie,
nuevos conceptos, parámetros de medida y filtros. Por lo tanto, y tal cómo podemos observar
en la figura 11, implica un cambio en los conceptos de análisis superficial a través de la
descomposición en frecuencias espaciales (W→ Ondulación→ Bajas frecuencias / R→
Rugosidad→ Altas frecuencias) de la frecuencia de corte (ISO 4287) respecto al contenido de
información dependiente del nesting index (índice de anidación) (ISO 25178). Así, por lo tanto,
usando filtros lineales, ambos conceptos son equivalentes.
Figura 11: Cambio en los conceptos de análisis superficial de la norma ISO 25178 (b) respecto
a la norma ISO 4287 (a). Filtro S: filtro de eliminación de los elementos de escala más pequeña
de la superficie (o de la longitud de onda más corta para un filtro lineal); filtro L: filtro de
eliminación de los elementos en la escala más grande de la superficie (o de la longitud de onda
más larga para un filtro lineal); operador F: Operador de supresión de forma nominal; Superficie
primaria: la superficie obtenida después de utilizar el filtro S; superficie SF: superficie obtenida
tras la aplicación de un operador F a la superficie primaria; Superficie SL: superficie obtenida
después de aplicar un filtro L a la superficie SF; índice de anidación: índice correspondiente a
la longitud de onda de corte de un filtro lineal o a la escala del elemento de estructuración de un
filtro morfológico.
En resumen, con el desarrollo de la nueva ISO 25178, podemos clasificar todos los conceptos
de rugosidad desde 1D a 3D pasando por 2D. Esta información se puede complementar junto
a los métodos de medición de la textura superficial en 1D, 2D y 3D, tal y cómo podemos ver en
la figura 12.
Figura 12: Clasificación de métodos de medición de la textura superficial [54, 55]. Hay que tener
en cuenta que el término "Topografía superficial" en sí mismo está siendo objeto de examen por
el grupo de trabajo de la ISO, por lo que esta tabla se encuentra todavía bajo revisión.
Existen un gran número de métodos ópticos para la medida del perfil y la topografía superficial.
Casi todos ellos pueden proporcionar una resolución espacial próxima al límite de difracción, tal
y cómo hemos visto previamente. Hocken et al. ha realizado una revisión profunda de estos
métodos ópticos [56]. Estas técnicas tienen la ventaja de ser de no contacto y, por tanto, no
destructivas. Además, son muy sensibles a un gran número de características de la superficie,
tales como las constantes ópticas, los valles de la superficie que puede causar dispersión
múltiple o zonas superficiales más finas que pueden causar difracción.
3.2. Rugosidad
Por último, remarcar que las desviaciones de acabado superficial influyen en aspectos tales
como: Lubricación: superficies de pistones, rodamientos,...; Desgaste: guías, apoyos,…;
Estanqueidad: piezas de depósitos de alta presión; Comportamiento a fatiga: ejes,
acoplamientos,...;Aspecto estético: superficies de moldes y matrices; y otros: brillo, adherencia,
corrosión, etc.
Para poder evaluar el acabado superficial de una pieza, es necesario distinguir entre rugosidad
y defecto de forma (figura 13):
Los picos y valles de una superficie aparecen, por lo general, de forma aleatoria. Es necesario
utilizar parámetros estadísticos para cuantificar la rugosidad, estando estos normalizados(ISO
4288:1996, ASME B46.1-2002). Así, es habitual utilizar más de un parámetro para definirla.
Para medir la rugosidad se realizan los siguientes pasos: a) Medir un perfil completo con una
longitud de evaluación normalizada ln> lc (generalmente, 5·lc), donde ln es la longitud de
evaluación y lc es la longitud de corte. b) Filtrar la señal para eliminar la ondulación y c)
establecer la línea media, que es la línea que separa áreas iguales en los picos y en los valles
(figura 14).
Figura 14: Establecimiento de la línea media para poder realizar el cálculo de la rugosidad.
Figura 15: (a) Aplicación de un filtrado a la superficie y (b) frecuencia de corte a utilizar.
La nueva ISO 16610 define diferentes filtros. Los filtros se aplican tanto en 2D (Perfil) cómo en
3D (Área). Algunos ejemplos son: filtro Gaussiano, filtro Gaussiano robusto, filtro Spline, filtro
Spline robusto, filtro Spline ondículo. El filtro Gaussiano es el más utilizado.
Las normas ISO (ISO 4288, ISO 11565) dan una guía para elegir el valor de corte adecuado
conforme con el material, el trabajo y el estado final de la pieza. En la figura 14 tenemos un
ejemplo de la rugosidad 2D (Perfil). En primer lugar es necesario tener una estimación del valor
de rugosidad, normalmente en términos de Ra, Rz o Rsm (definidos en punto 3.3.1). A
continuación, medimos un perfil de evaluación de la longitud L y utilizamos el correspondiente
corte para filtrarlo. Por último, se comprueba si los resultados son los esperados según la tabla.
En la nueva norma ISO 25178, todos los parámetros empiezan con la letra mayúscula S o V, a
diferencia de los anteriores parámetros como Pa, Ra, Wa. Los parámetros de amplitud 3D son
generalmente una extensión superficial de los ya existentes en 2D. Los parámetros espectrales
nos dan información sobre la isotropía de la muestra, los componentes espectrales de mayor
importancia y la dirección de su textura. Los parámetros funcionales, propuestos por la industria
de automoción alemana, nos permiten correlacionar resultados numéricos con la funcionalidad
de las piezas analizadas (desgaste / fricción / rozamiento). Los parámetros S son una extensión
de los parámetros R ya existentes y un paso intermedio a los parámetros V. Los parámetros
topológicos segmentan la superficie en elementos constituyentes de la textura y permiten
cuantificar las características principales de estos elementos tratados en conjunto.
Existen más de 90 parámetros que pueden ser utilizados para la evaluación de la rugosidad
tanto 2D [66-69] cómo 3D [70-74]. En esta sección, únicamente daremos una pequeña
pincelada de los parámetros más comúnmente utilizados.