Documentos de Académico
Documentos de Profesional
Documentos de Cultura
INTERFERMETRO DE MICHELSON
ANTICONA SANCHEZ ALEXANDER SAMIR
UNIVERSIDAD NACIONAL DE TRUJILLO
Resumen:
Medir la longitud de onda de la luz emitida por un laser, determinar la variacin del ndice
de refraccin del aire con la presin y evaluar el ndice de refraccin de un vidrio usando
un interfermetro de Michelson.
Objetivos:
La medida de la longitud de onda del lser verde.
Introduccin:
El interfermetro de Michelson es uno de los ms conocidos e histricamenteimportante.
Entre las aplicaciones queposee, en esta experiencia se considera lamedicin de la
longitud de onda de un lser; utilizando la reflexin paraestablecer condiciones en las que
seinterfieren dos ondas de luz.
Fundamentos Tericos:
El haz luminoso emitido por el laser de He-Ne incide sobre el separador de haces, el cual
refleja el 50% de la onda incidente y transmite el otro 50%. Uno de los haces se transmite
hacia el espejo mvil M1 y el otro se refleja hacia el espejo fijo M2. Ambos espejos
reflejan la luz hacia el separador de haces, de forma que los haces transmitido y reflejado
por este ltimo se recombinan sobre la pantalla de observacin.
Como los dos haces que interfieren sobre la pantalla provienen de la misma fuente
luminosa, la diferencia de fase se mantiene constante y depende slo de la diferencia de
camino ptico recorrido por cada uno. Por lo tanto, las franjas generadas por el
interfermetro se pueden visualizar sobre la pantalla mediante la colocacin de una lente
convergente de corta distancia focal entre el laser y el separador de haces. El sistema de
franjas de interferencia producido es similar al que se muestra en la Fig. 2.
El camino ptico de uno de los haces se puede variar desplazando el espejo M1. Si dicho
espejo se desplaza en /4 alejndose del separador de haces, el camino ptico de ese
haz aumentar en /2. Las franjas de interferencia cambiarn de modo que el radio de los
mximos aumentar y ocupar la posicin de los mnimos inciales. Si el espejo M1 se
desplaza en una distancia adicional de /4, el nuevo sistema de franjas producido ser
indistinguible del original.
. 1
Esquema experimental:
Se hace el montaje experimental paradeterminar la longitud de onda con el interfermetro
de Michelson. Sin la lente, se prueba hacer coincidir loshaces de luz reflejados por los
espejossobre la pantalla, movimientocuidadosamente los tornillos del espejo y elespejo
del micrmetro.
Se selecciona con el tornillo micromtrico laposicin cero u otro nmero de referenciade la
escala.
Se coloca la lente de +20cm en el portalente y se observa la figura deinterferencia sobre
la pantalla.
Esquema experimental:
a) Calibramos el equipa para la tomas de datos
b) Tomamos datos de 50 en 50. Hasta los 500 numero de franjas
c) Tomamos medida en una tabla de numero de franjas vs la distancia del
micrmetro
d) Hacemos la conversin del micrmetro.
e) Graficamos numero de franjas vs la distancia del micrmetro
Conclusiones:
Para encontrar la zona de interferencia serecomienda la utilizacin de una lentedivergente
para mejorar el enfoque del haz (monocromtico).
Se encontr que a menor nmero defranjas (brillantes u oscuras), mayor es ladesviacin
de la longitud con respecto alreal. Por lo tanto se requiere un grannmero de franjas
medidas para obtener unmejor resultado.Por otro lado, se not que a medida
queaumentaba el nmero de franjas y por endeel nmero de pasos en el micrmetro;
estese senta mucho ms difcil de mover, esdecir, menos liviano. Este hecho podra serla
causa del error en las primerasmediciones.
Bibliografa:
1. SERWAY, Raymond. Fsica. TomoII. 4 edicin.Ed. McGraw Hill.Mxico.2002. Pag 456.
2. SEARS, Francis; ZEMANSKY,Mark. Fsica Universitaria. Volumen. 9edicin Ed.
Pearson Educacin.Mxico. 2000. Pag 236.