2.3.- SISTEMAS CRISTALINOS.

Los cristales se describen por los sistemas cristalinos. Se pueden observar

el análisis de un cristal considerando un cubo Existen 7 sistemas cristalinos
y cada uno de ellos tiene sus propios elementos de simetría. Se describen
los sistemas cristalinos por:

- Sus ejes cristalográficos.

- Los ángulos que respectivamente dos de los ejes cristalográficos rodean.
- Las longitudes de los ejes cristalográficos

1. Se fijarán el aspecto obvio que todas las caras están perpendiculares

entre sí.

2. Hay tres planos de simetría, que están perpendiculares entre sí y los

cuales se llaman 'planos axiales de simetría'. Cada cara a un lado de este
plano de simetría se refleja a su otro lado. También se pueden coger dos
caras opuestas del cubo entre pulgar y índice así incluyendo un eje de
simetría y girar el cubo para encontrar un eje cuaternario de simetría. Es
decir que por una rotación completa de 360° una cara se repite cuatro
veces.
Un otro eje de simetría entre las esquinas opuestas del cubo es un eje
ternario de simetría. De los mismos hay cuatro en el cubo. Un eje de
simetría perpendicular a un par de aristas opuestas es un eje binario de
simetría, de los cuales existen seis en el cubo.

3. El aspecto esencial de la simetría es el siguiente: se pueden realizar una

operación geométrica en tal manera que una cara se repite en una otra
posición. Es decir que al realizar una operación geométrica como una
rotación p. ej. una cara nueva ocupará la misma posición que fue ocupado
por una otra cara antes de la rotación y con la consecuencia que no pueden
distinguirse entre la apariencia después la rotación y la apariencia original.
 2.3.2.- RED DE BRAVAIS.

Ya en el siglo XIX, el físico francés A. Bravais demostró que para evidenciar con
claridad todas las simetrías posibles de las redes tridimensionales son necesarios
no 7, sino 14 celdillas elementales, que, en su honor, son denominadas redes de
Bravais. Estas celdillas se construyen a partir de los 7 poliedros anteriores, pero
asociándoles una serie de puntos (nudos) que no sólo están situados en los
vértices, sino también en el centro del mismo, o en el centro de sus caras.

La siguiente tabla ilustra estas 14 celdillas y los sistemas a los que pertenecen. La
repetición en las tres direcciones del espacio de estas celdillas que contienen
nudos origina lo que se denomina red espacial o de Bravais (lo que viene a ser
algo así como el esqueleto imaginario del cristal).
 2.4.- APLICACIÓN DE LOS “RAYOS X” EN CRISTALOGRAFÍA.

La cristalografía de rayos X es una técnica experimental para el estudio y análisis

de materiales, basada en el fenómeno de difracción de los rayos X por sólidos en
estado cristalino.

Los rayos X son difractados por los electrones que rodean los átomos por ser su
longitud de onda del mismo orden de magnitud que el radio atómico. El haz de
rayos X emergente tras esta interacción contiene información sobre la posición y
tipo de átomos encontrados en su camino. Los cristales, gracias a su estructura
periódica, dispersan elásticamente los haces de rayos X en ciertas direcciones y
los amplifican por interferencia constructiva, originando un patrón de difracción.
Existen varios tipos de detectores especiales para observar y medir la intensidad y
posición de los rayos X difractados, y su análisis posterior por medios matemáticos
permite obtener una representación a escala atómica de los átomos y moléculas
del material estudiado.

2.4.1.- METODO DE LAUE.

El método de Laue fue el primer método de difracción de Rayos X desarrollado, en
este caso se hace incidir un rayo de radiación blanca (l variable) sobre el mono
cristal o una lámina muy delgada del material a analizar, y los rayos difractados
por el cristal, son aquellos que cumplen las condiciones de ángulo y
espaciamiento especificadas por la ley de Bragg, para este método se tienen dos
variantes, que son: el utilizar cámaras de transmisión o cámaras de reflexión.

2.4.2.- METODO DE BRAGG.

La hipótesis de Bragg consiste en imaginar la difracción como una reflexión de los rayos X
originada por "espejos" imaginarios formados por planos de átomos de la red cristalina (mostrados
como líneas horizontales que pasan por los centros dispersores, es decir, por los átomos que se
muestran como círculos azules en la imagen de la izquierda). Debido a la naturaleza repetitiva del
cristal, estos planos estarían separados entre sí por distancias constantes d. Los dos haces de
rayos X, de longitud de onda λ, inciden en fase sobre sendos planos imaginarios, con un ángulo de
incidencia θ, y forman un frente de ondas (primera línea verde de la izquierda).

2.4.2.- APLICACIÓN DE LA ECUACION DE BRAGG.

Cuando los rayos X son dispersados por una red cristalina, se observan picos de
intensidad dispersada, que corresponden a las siguientes condiciones:

1. El ángulo de incidencia = ángulo de dispersión.

2. La diferencia de longitud de trayectorias es igual a un número entero de
longitudes de onda.

La condición de máxima intensidad contenida en la ley de Bragg de arriba, nos

permite calcular detalles sobre la estructura cristalina, o si se conoce la estructura
cristalina, determinar la longitud de onda de los rayos X incidente sobre el cristal.

𝒏𝝀 = 𝟐𝒅𝒔𝒆𝒏𝜽
DONDE
𝝀=longitud de onda
𝒅=esparcimiento de la red