Analais en Rodamientos Por Demodulación AM MF PDF

S.E.
S.E.I.T
D.G.I.T
CENTRO NACIONAL DE INVESTIGACIN Y DESARROLLO

TECNOLGICO
cenidet
DIAGNSTICO DE CONDICIONES DE OPERACIN
DE RODAMIENTOS EN MQUINAS USANDO
ESPECTROS DE ALTO ORDEN
QUE PARA OBTENER EL GRADO DE

MAESTRO EN CIENCIAS
EN INGENIERA MECATRNICA
PRESENTAN:
ING. VICENTE CAPISTRN GMEZ
ING. RODRIGO IVN PAREDES PORTADOR
DIRECTORES:
DR. DARIUSZ SZWEDOWICZ WASIK
DR. MARCO ANTONIO OLIVER SALAZAR
CUERNAVACA, MORELOS
MARZO 2005
Contenido
Contenido
Lista de figuras
Lista de tablas
Nomenclatura
Resumen
Prefacio
i
iv
ix
x
xiii
xv
Captulo 1. Introduccin................................................................................................. 1
1.1 Descripcin del problema............................................................................................................2
1.2 Antecedentes..................................................................................................................................2
1.3 Estado del arte...............................................................................................................................4
1.4 Objetivo..........................................................................................................................................9
1.5 Aportacin .....................................................................................................................................9
1.6 Estructuracin de la tesis ...........................................................................................................10
Captulo 2. Fundamentos del anlisis de vibracin y trandusctores....................... 11

2.1 Seal de vibracin .......................................................................................................................11
2.1.1 Frecuencia.............................................................................................................................12
2.1.2 Amplitud...............................................................................................................................12
2.1.3 Fase........................................................................................................................................13
2.1.4 Desplazamiento ...................................................................................................................14
2.1.5 Velocidad ..............................................................................................................................14
2.1.6. Aceleracin..........................................................................................................................14
2.1.7 Efectos de modulacin.......................................................................................................15
2.1.8 Frecuencia natural, resonancia e impedancia mecnica .................................................16
2.2 Vibraciones mecnicas ...............................................................................................................16
2.2.1 Vibracin libre .....................................................................................................................17
2.2.2 Vibracin forzada................................................................................................................17
2.2.3 Vibracin aleatoria ..............................................................................................................17
2.3 Transductores de vibracin .......................................................................................................17
2.3.1 Acelermetro .......................................................................................................................18
2.3.3.1 Acelermetro tipo piezoelctrico .................................................................... 18
2.3.3.2 Acelermetro tipo MEMS .............................................................................. 20
2.4 Conclusiones................................................................................................................................24
Captulo 3. Diagnstico y causas de fallas en rodamientos usando tcnicas

Convencionales............................................................................................................... 25
3.1 Terminologa de los rodamientos .............................................................................................26
3.1.1 Trminos y definiciones. ....................................................................................................26
3.1.2 Disposicin de rodamientos. .............................................................................................30
3.2 Tipos de rodamientos.................................................................................................................31
3.2.1 Radiales .................................................................................................................................31
3.2.2. Axiales ..................................................................................................................................32
3.2.3. Tipo Y ..................................................................................................................................34

3.3 Principales causas de fallas en rodamientos ............................................................................34
3.3.1 Desalineamiento ..................................................................................................................34
3.3.2 Desbalanceo .........................................................................................................................36
3.3.3 Inicio de una falla y tipos de fallas ....................................................................................38
3.4 Anlisis de vibracin...................................................................................................................39
3.4.1 PSD .......................................................................................................................................41
3.4.2 Envolvente ...........................................................................................................................42
3.5 Conclusiones................................................................................................................................44
Captulo 4. Espectros de alto orden (HOS)............................................................... 45
4.1 Seales o datos aleatorios...........................................................................................................45

4.1.1 Procesos aleatorios estacionarios ......................................................................................46
4.1.2 Procesos aleatorios no estacionarios ................................................................................48
4.2 Anlisis de procesos aleatorios..................................................................................................48
4.2.1 Variable aleatoria .................................................................................................................48
4.2.2. Funcin de distribucin de probabilidad. .......................................................................49
4.2.3 Funcin de densidad de probabilidad ..............................................................................50
4.2.4 Valor esperado .....................................................................................................................51
4.2.5 Varianza ................................................................................................................................51
4.2.6 Valor medio cuadrtico ......................................................................................................53
4.3 Estadsticas de alto orden ..........................................................................................................53
4.3.1. Momentos de orden n ...................................................................................................53
4.3.1.1 Correlacin y autocorrelacin ......................................................................... 55
4.3.1.2 Covarianza y autocovarianza........................................................................... 56
4.3.2 Cumulantes...........................................................................................................................57
4.3.3 Relacin entre cumulantes y momentos ..........................................................................58
4.4 Espectros de alto orden (HOS) ................................................................................................61
4.4.1 Uso de cumulantes en lugar de momentos......................................................................61
4.4.2 Casos particulares ................................................................................................................62
4.4.3 PSD .......................................................................................................................................62
4.4.4 Biespectro .............................................................................................................................64
4.4.4.1 Propiedades .................................................................................................... 65
4.6 Conclusiones................................................................................................................................69
Captulo 5. Diseo y construccin del banco de pruebas........................................ 71

5.1 Seleccin del rodamiento ...........................................................................................................71
5.2 Falla artificial................................................................................................................................72
5.3 Banco experimental ....................................................................................................................74
5.3.1 Configuracin y especificacin de los componentes .....................................................74
5.3.2 Localizacin de sensores ....................................................................................................76
5.4 Sistemas de adquisicin.............................................................................................................77
5.4.1 Sistema de adquisicin de datos para los sensores piezoelctricos ..............................77
5.4.2 Sistema de adquisicin de datos para los acelermetros MEMS..................................79
5.5 Sistema de control de velocidad del motor .............................................................................83
5.6 Conclusiones................................................................................................................................85
ii
Captulo 6. Experimentacin y anlisis de resultados............................................... 87
6.1 Metodologa de la experimentacin .........................................................................................87

6.2 Frecuencias de falla del rodamiento en estudio (SKF-6206) ................................................88
6.3 Clasificacin de los datos ...........................................................................................................89
6.4 Frecuencias naturales del sistema mecnico............................................................................89
6.5 Interpretacin de datos adquiridos con los acelermetros piezoelctricos ........................92
6.5.1 Dominio del tiempo (piezoelctricos) ..............................................................................93
6.5.1.1 Caso 60 Hz - Vibracin vertical ................................................................................94
6.5.1.2 Caso 50 Hz - Vibracin vertical ................................................................................95
6.5.1.3 Caso 60 Hz - Vibracin horizontal ...........................................................................96
6.5.1.4 Caso 50 Hz - Vibracin horizontal ...........................................................................97
6.5.2 PSD (piezoelctricos)...........................................................................................................99
6.5.2.1 Caso de 60 Hz Vibracin vertical ..........................................................................99
6.5.2.2 Caso de 50 Hz Vibracin vertical ........................................................................102
6.5.2.3 Caso de 60 Hz Vibracin horizontal ...................................................................104
6.5.2.4 Caso de 50 Hz Vibracin horizontal ...................................................................106
6.5.3 Biespectro (piezoelctricos) .............................................................................................108
6.6 Comparacin entre los acelermetros MEMS y piezoelctricos........................................113
6.6.1 PSD de seales de vibracin vertical (MEMS) .............................................................114
6.6.2 PSD de seales de vibracin horizontal (MEMS) ........................................................115
6.6.3 Biespectro de las seales de vibracin vertical (MEMS) .............................................116
6.6.4 Biespectro de las seales vibracin horizontal (MEMS) .............................................118
7. Conclusiones................................................................................................................................119
Captulo 7. Conclusiones y recomendaciones ......................................................... 123

7.1 Conclusiones..............................................................................................................................123
7.2 Aportaciones..............................................................................................................................125
7.3 Recomendaciones para trabajos futuros................................................................................125
Referencias
Anexos
127
Anexo A. Validacin de los MEMS

Anexo B. Anlisis cinemtico de los rodamientos
Anexo C. Frecuencias naturales del banco de pruebas
Anexo D. Grficos de los piezoelctricos a otras velocidades
Anexo E. Planos tcnicos del banco de pruebas
Anexo F. Programas de MATLAB y LabView
Anexo G. Manual de usuario del programa de adquisicin de datos para
acelermetros tipo MEMS.
133
141
145
151
175
187
189
iii
Lista de Figuras
Captulo 2
Figura 2.1 Diferentes tipos de amplitud de una forma de onda senoidal........................................................................................ 13
Figura 2.2 Relaciones de fase entre dos ondas senoidales .............................................................................................................. 14
Figura 2.3 Movimiento entre la falla y el rea de carga conforme gira el anillo interior.................................................................. 15
Figura 2.4 Elementos del acelermetro piezoelctrico de tipo a compresin..................................................................................... 19
Figura 2.5 Respuesta en frecuencia del acelermetro piezoelctrico ................................................................................................. 20
Figura 2.6 Circuito elctrico simplificado del ADXL-210E....................................................................................................... 21
Figura 2.7 Esquema general del acelermetro MEMS................................................................................................................ 21
Figura 2.8 Modelo mecnico del acelermetro MEMS ................................................................................................................ 22
Figura 2.9 Capacitancias dentro de un acelermetro MEMS. ..................................................................................................... 23
Figura 2.12 Comportamiento del sensor MEMS con aceleracin................................................................................................. 23
Capitulo 3
Figura 3.1 Componentes de un rodamiento. ................................................................................................................................ 27
Figura 3.2 Dimetros de un rodamiento ..................................................................................................................................... 27
Figura 3.3 Angulo de contacto ().............................................................................................................................................. 28
Figura 3.4 Cargas axiales y radiales en un rodamiento ............................................................................................................... 28
Figura 3.5 Juegos internos en un rodamiento............................................................................................................................... 29
Figura 3.6 Ejemplo de elementos usados en la disposicin de rodamientos..................................................................................... 30
Figura 3.7 Rodamientos rgidos, a) de una hilera de bolas, b) con dos hileras de bolas. ................................................................. 31
Figura 3.8 Rodamiento de bolas a rtula, a) autoalineable , b) autoalineable con anillo interior extendido..................................... 31
Figura 3.9 Rodamientos de bolas de contacto angular, a) con cuatro puntos de contacto, b) de alta precisin, c) de doble hilera-anillo
interior de una pieza. ................................................................................................................................................................. 32
Figura 3.10 Rodamientos de rodillos cilndricos, a) cuatro hileras, b) de llenado completo de una hilera, c) de llenado completo de doble
hilera......................................................................................................................................................................................... 32
Figura 3.11 Rodamientos de agujas, a) de aguja combinado, b) de aguja autoalineable, c) ensamble de rodillos de aguja y su jaula, d)
de agujas con pestaa. ................................................................................................................................................................ 33
Figura 3.12 Rodamientos axiales de bolas, a) de simple efecto, b) de doble efecto .......................................................................... 33
Figura 3.13 Rodamiento axial de rodillos cilndricos................................................................................................................... 33
Figura 3.14 Rodamiento axial de agujas.................................................................................................................................... 33
Figura 3.15 a) Rodamiento axial de rodillos a rtula, b) ngulo formado por la transmisin de la carga ..................................... 33
Figura 3.16 Rodamiento tipo Y, a) con manguito de fijacin, b) con anillo de fijacin excntrico con prisionero, c) con prisioneros de
fijacin, d) con anillo interior normal........................................................................................................................................... 34
Figura 3.17 Desalineamiento a) paralelo, b) angular .................................................................................................................. 35
Figura 3.18 Espectro de una falla por desalineamiento. La amplitud de 2X es menor al 50 % de 1X......................................... 35
Figura 3.19 Espectro de una falla por desalineamiento. La amplitud de 2X es mayor al 50 % de 1X, pero menor al 150 % de 1X.
................................................................................................................................................................................................. 35
Figura 3.20 Espectro de una falla por desalineamiento. La amplitud de 2X es mayor al 150 % de 1X....................................... 36
Figura 3.21 Colocacin de acelermetros para la deteccin del desalineamiento.............................................................................. 36
Figura 3.22 Tipos de desbalance, a) esttico, b) par de fuerzas, c) casi-esttico, d) dinmico.......................................................... 37
Figura 3.23 Etapas progresivas del desconchado ......................................................................................................................... 38
Figura 3.24 Fallos por desconchado y sus causas......................................................................................................................... 38
Figura 3.25 Fallos por grietas y sus causas................................................................................................................................. 39
Figura 3.26 Velocidad de clculo de la DFT y la FFT.............................................................................................................. 41
Figura 3.27 Semiciclo positivo de la seal de vibracin y su contorno................................................................................. 42
Figura 3.28 Envolvente de la seal de vibracin........................................................................................................... 43
Figura 3.29 Pasos para la obtencin de la envolvente de la seal de vibracin basada en hardware [10]. .................................. 43
Figura 3.30 Pasos para la obtencin de la PSD basada en la transformada de Hilbert [10]................................................. 43
iv
Capitulo 4
Figura 4.1 Formacin de un conjunto-muestra. ........................................................................................................................... 46
Figura 4.2 Clasificacin de los procesos aleatorios o estocsticos.................................................................................................... 46
Figura 4.3 3 funciones-muestra de la seal de vibracin de los rodamientos................................................................................... 47
Figura 4.4 Vibraciones y funciones de distribucin de los rodamientos analizados......................................................................... 49
Figura 4.5 Densidad de probabilidad para los dos rodamientos analizados. ................................................................................. 50
Figura 4.6 Grficos de autocorrelacin de los rodamientos analizados. ......................................................................................... 56
Figura 4.7 Simetras del biespectro. ............................................................................................................................................ 65
Figura 4.8 Regin no redundante del BIS................................................................................................................................... 66
Figura 4.9 Regin IT y OT....................................................................................................................................................... 67
Figura 4.10 Acoplamiento de fase cuadrtica. a) PSDI, b) PSDII , c) magnitud del biespectro para BISI, d) magnitud del biespectro
para BISII. ................................................................................................................................................................................ 68
Figura 4.11 Relacin entre los conceptos de probabilidad mas usados y la PSD y el BIS. ............................................................. 70
Captulo 5
Figura 5.1 Aspecto fsico de la grieta. ......................................................................................................................................... 72
Figura 5.2 a) Mquina de electroerosin realizando un corte a un rodamiento, b) Zoom............................................................... 73
Figura 5.3 Anillo interior del primer rodamiento cortado. ........................................................................................................... 73
Figura 5.4 Anillo interior del segundo rodamiento cortado........................................................................................................... 73
Figura 5.5 Rodamiento a) con grieta de 1.5 mm. de profundidad y b) con grieta de 3 mm. de profundidad .................................... 74
Figura 5.6 Sistema mecnico...................................................................................................................................................... 75
Figura 5.7 Colocacin de los sensores piezoelctricos y MEMS. ................................................................................................... 77
Figura 5.8 Sistema de adquisicin usando acelermetros piezoelctricos......................................................................................... 78
Figura 5.9 Ejemplos de grficos en el tiempo y PSD obtenidos por el analizador HP3566A. ...................................................... 78
Figura 5.10 Sistema de adquisicin usando acelermetros MEMS. ............................................................................................. 79
Figura 5.11 Pantalla para configurar la adquisicin. .................................................................................................................. 80
Figura 5.12 Seal de vibracin expresada en voltajes. ................................................................................................................. 81
Figura 5.13 Seal de vibracin expresada en unidades gravitacionales. ........................................................................................ 82
Figura 5.14 Una de las tres pantallas de PSD........................................................................................................................... 82
Figura 5.15 Conexin entre variador y motor. ............................................................................................................................ 83
Figura 5.16 Diagrama de operacin constante. ........................................................................................................................... 84
Figura 5.17 Diagrama para una operacin escalonada................................................................................................................ 85
Captulo 6
Figura 6.1 Metodologa de la experimentacin. ........................................................................................................................... 88
Figura 6.2 Conexin de equipos para la medicin de las frecuencias naturales del sistema. ............................................................ 90
Figura 6.3 Puntos de excitacin. ................................................................................................................................................ 90
Figura 6.4 Respuesta en frecuencia de la excitacin en el punto A, utilizando la punta de acero (9902 A). .................................. 91
Figura 6.5 Coherencia de la excitacin en el punto A, utilizando la punta de acero (9902 A). .................................................... 91
Figura 6.6 Respuesta en frecuencia de la excitacin en el punto A, utilizando la punta de caucho (9904 A)................................. 91
Figura 6.7 Coherencia de la excitacin en el punto A, utilizando la punta de caucho (9904 A)................................................... 92
Figura 6.8 Desplazamiento de la falla conforme el anillo interior gira y amplitud de los impactos de acuerdo a su cercana con la
zona de carga............................................................................................................................................................................. 93
Figura 6.9 Seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 60 Hz....................................................... 94
Figura 6.10 Seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz. .................................................. 95
Figura 6.11 Seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 50 Hz. ................................................... 96
Figura 6.12 Seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz. .............................................. 97
Figura 6.13 Seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con fallo, caso de 50 Hz................................................ 98
Figura 6.14 PSD de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 60 Hz. ................................... 99
Figura 6.15 PSD de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz.................................. 101
Figura 6.16 PSD de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 50 Hz. ................................. 102
Figura 6.17 PSD de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 50 Hz.................................. 104
Figura 6.18 PSD de la seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin sin fallo, caso de 60 Hz.............................. 105
Figura 6.19 PSD de la seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz. ............................ 106
Figura 6.20PSD de la seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 50 Hz............................... 106
Figura 6.21 PSD de la seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 50 Hz. ............................ 107
Figura 6.22 Biespectro de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con fallo (caso de 60 Hz) a)Magnitud b) Fase ... 108
Figura 6.23 a) Biespectro de la vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 60 Hz, b) Zoom ..................... 109
Figura 6.24 a) Biespectro de la vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz, b)Zoom...................... 109
Figura 6.25 a) Biespectro de la vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 50 Hz, b) Zoom ..................... 110
Figura 6.26 a) Biespectro de la vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 50 Hz, b)Zoom...................... 110
Figura 6.27a) Biespectro de la vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 60 Hz,b)Zoom.................... 111
Figura 6.28 a) Biespectro de la vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz, b)Zoom ................. 111
Figura 6.29 a) Biespectro de la vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 50 Hz, b) Zoom ................ 111
Figura 6.30 a) Biespectro de la vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con fallo, caso de 50 Hz, b) Zoom ............... 112
Figura 6.31 PSD de seal de vibracin vertical (MEMS) para condicin con falla, caso de 60 Hz............................................ 114
Figura 6.32 PSD de seal de vibracin vertical (MEMS) para condicin con fallo, caso de 50 Hz. ........................................... 115
Figura 6.33 PSD de seal de vibracin horizontal (MEMS) para condicin con fallo, caso de 60 Hz. ...................................... 115
Figura 6.34 PSD de seal de vibracin horizontal (MEMS) para condicin con falla, caso de 50 Hz. ...................................... 116
Figura 6.35 a) Biespectro de la seal de vibracin vertical (MEMS) para condicin con falla, caso de 60 Hz, b) Zoom .............. 116
Figura 6.36 Vista frontal del BIS de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz. ....... 117
Figura 6.37 Vista frontal del biespectro de la seal de vibracin vertical (MEMS) para condicin con falla, caso de 60 Hz........ 117
Figura 6.38 a) Biespectro de la seal vertical (MEMS) para condicin con fallo, caso de 50 Hz, b) Zoom................................ 118
Figura 6.39 a) Biespectro de la seal horizontal (MEMS) para condicin con falla, caso de 60 Hz, b) Zoom. ........................... 118
Figura 6.40 a) Biespectro de la seal horizontal (MEMS) para condiciones con falla, caso de 50 Hz, b) Zoom..........................119
Anexo A
Figura A1. Respuesta en frecuencia de los MEMS y el piezoelctrico......................................................................................... 134
Figura A2. Respuesta en frecuencia de los MEMS ADXL-210 para una excitacin de 1 kHz. ............................................. 135
Figura A3. Respuesta en frecuencia de los MEMS ADXL-210 para una excitacin de 1.5 kHz. .......................................... 136
Figura A4. Respuesta de los MEMS y el Piezoelctrico para diferentes exictaciones................................................................... 137
Figura A5. Grficos de frecuencia (1200 Hz), nivel de excitacin 100 mV.............................................................................. 138
Figura A6. Grficos de frecuencia (1200 Hz), nivel de excitacin 250 mV.............................................................................. 140
Anexo B
Figura B1. Frecuencia y velocidades del rodamiento. .................................................................................................................. 141
Anexo C
Figura C1. Respuesta en frecuencia del punto B usando una punta 9902A............................................................................... 145
Figura C2. Coherencia del punto B usando una punta 9902A. ................................................................................................ 145
Figura C3. Respuesta en frecuencia del punto B usando una punta 9904A............................................................................... 145
Figura C4. Coherencia del punto B usando una punta 9904A. ................................................................................................ 146
Figura C5. Respuesta en frecuencia del punto C usando una punta 9902A............................................................................... 146
Figura C6. Coherencia del punto C usando una punta 9902A................................................................................................. 146
Figura C7. Respuesta en frecuencia del punto C usando una punta 9904A............................................................................... 146
Figura C8. Coherencia del punto C usando una punta 9904A................................................................................................. 147
Figura C9. Respuesta en frecuencia del punto D usando una punta 9902A .............................................................................. 147
Figura C10. Coherencia del punto D usando una punta 9902A. ............................................................................................. 147
Figura C11. Respuesta en frecuencia del punto D usando una punta 9904A. ........................................................................... 147
Figura C12. Coherencia del punto D usando una punta 9904A. ............................................................................................. 148
Figura C13. Respuesta en frecuencia del punto F usando una punta 9902A............................................................................. 148
Figura C14. Coherencia del punto F usando una punta 9902A............................................................................................... 148
Figura C15Respuesta en frecuencia del punto F usando una punta 9904A............................................................................... 148
Figura C16. Coherencia del punto F usando una punta 9904A............................................................................................... 149
vi
Figura C17. Respuesta en frecuencia del punto G usando una punta 9902A. ........................................................................... 149
Figura C18. Coherencia del punto G usando una punta 9902A. ............................................................................................. 149
Figura C19. Respuesta en frecuencia del punto G usando una punta 9904A. ........................................................................... 149
Figura C20. Coherencia del punto G usando una punta 9904A. ............................................................................................. 150
Anexo D
Figura D1. Seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 55 Hz. ................................................................................ 151
Figura D2. Seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 55 Hz................................................................................. 151
Figura D3. Seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 45 Hz ................................................................................. 152
Figura D9. PSD de la seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 55 Hz................................................................. 155
Figura D10. PSD de la seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 55 Hz. ............................................................. 155
Figura D11. PSD de la seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 45 Hz............................................................... 156
Figura D17. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 55 Hz, b) Zoom. ................................. 159
Figura D18. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 55 Hz, b) Zoom ................................... 159
Figura D19. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 45 Hz, b) Zoom.................................... 160
Figura D20. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 45 Hz, b) Zoom. .................................. 160
Figura D21. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 40 Hz, b) Zoom.................................... 161
Figura D22. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 40 Hz b) Zoom. .................................... 161
Figura D23. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 35 Hz, b) Zoom..................................... 162
Figura 24. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 35 Hz, b) Zoom. ...................................... 162
Figura D25. Seal de vibracin horizontal para condicin sin fallo. A 55 Hz. ........................................................................ 163
Figura D26. Seal de vibracin horizontal para condicin con fallo. A 55 Hz......................................................................... 163
Figura D33. PSD de la seal de vibracin horizontal para condicin con fallo. A 55 Hz. ........................................................ 167
Figura D35. PSD de la seal de vibracin horizontal para condicin sin fallo. A 45 Hz.......................................................... 168
Figura D37. PSD de la seal de vibracin horizontal para condicin sin fallo. A 40 Hz.......................................................... 169
Figura D41. a) Biespectro de la seal de vibracin horizontal para condiciones sin fallo. A 55 Hz, b) Zoom. ............................ 171
Figura D42. a) Biespectro de la seal de vibracin horizontal para condiciones con fallo. A 55 Hz, b) Zoom............................ 171
Figura D43. a) Biespectro de la seal de vibracin horizontal para condiciones sin fallo. A 45 Hz, b) Zoom. ........................... 172
Figura D45. a) Biespectro de la seal de vibracin horizontal para condiciones sin fallo. Motor a 40 Hz b) Zoom. .................... 173
Figura D47. a) Biespectro de la seal de vibracin horizontal para condiciones sin fallo. Motor a 35 Hz b) Zoom. .................... 174
vii
Anexo F
Figura F1 Diagrama del programa de adquisicin utilizado en el uso de los MEMS......................................................... 187
Figura F2 Diagrama de bloques del programa de adquisisicn, canal 7........................................................................... 188
Anexo G
Figura G1. Pantalla de programacin del sistema de adquisicin de los MEMS............................................................... 190
Figura G2. Seales de voltaje................................................................................................................................. 192
Figura G3. Seales de aceleracin ........................................................................................................................... 193
Figura G4. Pantalla donde se muestra la PSD correspondiente a los canales 0 y 1............................................................ 194
viii
Lista de Tablas
Captulo 3
Tabla 3.1 Frecuencias de fallas en los componentes de un rodamiento................................................................................ 40
Tabla 3.2 Formas de representar un espectro. .............................................................................................................. 42
Captulo 4
Tabla 4.1 Clculo de cumulantes de cuarto orden en trminos de momentos y viceversa...................................................................60
Captulo 5
Tabla 5.1 Especificacin de los componentes del sistema mecnico .................................................................................................75
Tabla 5.2 Acelermetros piezoelctricos .......................................................................................................................................79
Tabla 5.3 Caractersticas de los acelermetros MEMS ...............................................................................................................79
Tabla 5.4 Especificacin del motor y convertidor. ..........................................................................................................................83
Captulo 6
Tabla 6.1 Frecuencias de falla para los componentes del rodamiento 6206. .................................................................................. 89
Tabla 6.2 Frecuencias naturales encontradas en el banco de pruebas. ........................................................................................... 92
Tabla 6.3 Frecuencias de la PSD, condicin sin falla caso de 60 Hz, vibracin vertical. ........................................................... 100
Tabla 6.4 Frecuencias del espectro para condicin sin falla caso de 50 Hz, vibracin vertical ...................................................... 103
Tabla 6.5 Frecuencias del espectro para condicin sin falla. ...................................................................................................... 105
Tabla 6.6 Frecuencias del espectro para condicin sin falla. ...................................................................................................... 107
Anexo A
Tabla A1. Condiciones de adquisicin...................................................................................................................................... 127
Tabla A2. Diferentes frecuencias de excitacin para los MEMs ADXL-210 .......................................................................... 128
Tabla A3. Respuesta de los MEMS para una excitacin de 1 kHz......................................................................................... 129
Tabla A4. Respuesta de los MEMS para una excitacin de 1.5 kHz. .................................................................................... 131
Tabla A5. Variacin del voltaje de excitacin a 1200Hz. ...................................................................................................... 131
Tabla A6.. Respuesta de los MEMS para una excitacin de 1.2 kHz, 100 mV..................................................................... 133
Tabla A7. Respuesta de los MEMS para una excitacin de 1.2 kHz, 250 mV ..................................................................... 134
Anexo E
Tabla E1 Especificacin completa de los componentes del sistema mecnico..................................................................................176
ix
Nomenclatura
a= aceleracin lineal
Aprom = amplitud media
Arms= Amplitud efectiva
b(w1, w2) = ndice de bicoherencia
BIS = biespectro
BISx= biespectro de x
BISx = biespectro de la regin x
Cov( x, y ) = covarianza entre las variables x e y
Cov( x, x) = autocovarianza de la variable x
c x (I ) = cumulantes del subvector x I
cum( x1 , x 2 , x3 , x 4 ) = cumulante de cuarto orden
cnx = cumulante de x de orden n
cnx= cumulante de x de orden n
C= carga dinmica
C0= carga esttica
C1,C2= capacitancia
d =operador de derivada
d= dimetro de las bolas
D= dimetro de medio del rodamiento
de= dimetro nominal exterior del rodamiento
di= dimetro nominal del agujero del rodamiento
E [ x ( k ) 2 ] = valor cuadrtico medio
E{x1, x2, x3, x4}= momento de cuarto orden
E[]= operador de esperanza matemtica
f= frecuencia
FER = frecuencia de falla para los elementos rodantes
FFT= transformada rpida de Fourier
FJ = frecuencia de falla de la jaula
fN= frecuencia natural
FPI = frecuencia de falla para la pista interior
FPO = frecuencia de falla para la pista exterior
fc= frecuencia de corte
fa= frecuencia de alimentacin elctrica
fs= frecuencia de muestreo
f eh = frecuencia generada por la excentricidad del entrehierro
F = operador de transformada de Fourier
g= aceleracin de la vibracin
HMM= modelado por Hidden Markov
HOS= espectros de alto orden
Ix(w1, 2)= biperiodograma de x
Ix() = periodograma de x
IT= regin interior del triangulo
[mm/s2]
[mm]
[N]
[N]
[F]
[mm]
[mm]
[mm]
[mm]
[Hz]
[Hz]
[Hz]
[Hz]
[Hz]
[ m / s2 ]
I x = conjunto de ndices de x
I = es un subconjunto de I x
k= constante de elasticidad o rigidez
K x (t ) = funcin generadora de cumulantes
k = variable, conjunto de datos
LM= longitud de la muestra
log = logaritmo de base 10
m= masa
MEMS= sistemas micro electromecnicos
mn = momento de orden n, centrado respecto al origen
M x ( k ) (t ) = funcin generadora de momentos
[kg]
M x ( k ) y ( k ) (t , t1 ) = funcin generadora de momentos conjuntos

m x (I ) = momentos del subvector xI
M = conjunto de muestras
n= Nmero de bolas
N= velocidad de rotacin
ND= nmero total de elementos datos
No= velocidad de rotacin del anillo exterior del rodamiento
Ni= velocidad de rotacin del anillo interior del rodamiento
Nm= velocidad de rotacin de la jaula
NR= velocidad de rotacin del elemento rodante
OT= regin exterior del triangulo
p(x) = funcin de densidad de probabilidad
P(x) = funcin de distribucin de probabilidad
PSD = funcin de densidad espectral
PSDx= funcin de densidad espectral de x
Prob[x]=probabilidad de x.
Rxx(t1, t1+) = funcin de autocorrelacin de la variable x
Rx ( k ) y ( k ) = funcin de correlacin de las variables x e y
r= longitud desde el centro de rotacin de una partcula.
S4x= triespectro de x
Snx(w1, w2...wn-1= espectro de x de orden n
T= periodo
t = variable en el tiempo
t1= valor de t en un instante de tiempo
v= velocidad lineal
V0= voltaje de entrada
Vs= voltaje de salida
vo= velocidad lineal del anillo exterior del rodamiento
vi= velocidad lineal del anillo interior del rodamiento
vm= velocidad lineal de la jaula del rodamiento
w, w1, w2= frecuencias angulares
x0= Amplitud pico
X() = variable, proceso o seal en la frecuencia
X*() = variable X() en frecuencia conjugada
[rpm]
[rpm]
[rpm]
[rpm]
[rpm]
[s]
[s]
[mm/s]
[V]
[V]
[mm/s]
[mm/s]
[mm/s]
[Rad/s]
[mm]
xi
x(k), y(k), z(k), w(k) = variables aleatorias discretas

x(t) = variable, proceso o seal en el tiempo t
xk= secuencia discreta de datos
z = valor constante
x= valor medio promedio del vector x
= variable de desplazamiento en el tiempo
f = espaciamiento en frecuencia
x2 (k ) = varianza del vector x
x (k ) = desviacin estndar del vector x
n = momento de orden n, centrado respecto a la media
x ( k ) (t ) = funcin caracterstica
= fase del BIS
= constante lambda
= operador de derivada parcial
= constante de proporcionalidad
= ngulo de contacto
, constante pi
1X, 2X.. = mltiplos de la frecuencia de rotacin
xii
[Hz]
[Grados]
RESUMEN
En este trabajo, se estudi la utilidad de los espectros de alto orden (Higher Order Spectral,
HOS) para el diagnstico de fallas en rodamientos. En trminos generales, se realiz una
comparacin entre dos casos especiales de los HOS; los cuales son comnmente llamados:
Densidad Espectral de Potencia (Power Spectral Density, PSD) y Biespectro (bispectrum).
Estos dos algoritmos fueron utilizados para procesar las seales de vibracin provenientes de
rodamientos sin falla y con falla artificial. La falla artificial consisti en la realizacin de un
corte en el anillo interior de un rodamiento SKF-6206, por medio de una mquina de
electroerosin. Este corte, simula una grieta total del anillo interior, la cual comnmente es
causada por fatiga o por corrosin de contacto.
La adquisicin de las seales de vibracin se llevo a cabo por medio de acelermetros
piezoelctricos y acelermetros tipo MEMS (Micro ElectroMechanical Systems), con el fin de
evaluar el desempeo de estos ltimos. Para la condicin sin falla y con falla, las seales fueron
muestreadas a las siguientes frecuencias de rotacin del eje: 60, 55, 50, 45, 40 y 35 Hz. Los
grficos en el dominio del tiempo, PSD y biespectro obtenidos con los dos tipos de
acelermetros fueron consistentes.
El anlisis de las seales de vibracin en el dominio del tiempo, revel que la amplitud de la
vibracin producida por la condicin con falla es mayor que sin falla. El incremento en
amplitud es una clara indicacin de que existe una falla; sin embargo es muy difcil encontrar el
origen de esta, ya que no es posible identificar claramente los componentes de frecuencia de la
seal.
La utilizacin de la PSD y el biespectro en el anlisis de la seales de vibracin, permiti
determinar que los biespectros muestran con mucha ms claridad los armnicos generados
por el defecto en el rodamiento. Las PSDs mostraron tambin los armnicos, pero fue muy
difcil identificarlos ya que se presento un traslape entre dos series de picos.
Palabras clave: Espectros de alto orden, Biespectro, Densidad espectral de potencia, MEMS,
Grieta, Rodamiento.
ABSTRACT
In this work, the utility of the HOS (Higher Order Spectral) was studied for the diagnosis of
flaws in bearings. In general terms, it was carried out a comparison between two special cases
of the HOS; which are commonly calls: PSD (Power Spectral Density) and bispectrum. These
two algorithms were used to process the vibration signals coming from bearings without flaw
and with artificial flaw. The artificial flaw consisted on the realization of a cut in the inner ring
of a bearing SKF-6206, by means of an electroerosion machine. This cut, simulates a total
crack of the inner ring, the one which commonly is caused by fatigue or for contact corrosion.
The acquisition of the vibration signals you carries out by means of accelerometers
piezoelectrics and accelerometers type MEMS (Micro ElectroMechanical Systems), with the
purpose of evaluating the performance of these last ones. For the condition without flaw and
with flaw, the signals were samples to the following frequencies of rotation of the axis: 60, 55,
50, 45, 40 and 35 Hz. The graphics in the domain of the time, PSD and bispectrum obtained
with the two accelerometers types were consistent.
The analysis of the vibration signals in the domain of the time, revealed that the level of the
vibration taken place by the condition with flaw is bigger than without flaw. The increment in
level is a clear indication that a flaw exists; however it is very difficult to find the origin of this,
since it is not possible to identify the components of frequency of the signal clearly.
The use of the PSD and the bispectrum in the analysis of the vibration signals, allowed to
determine that the bispectrums shows with much more clarity the harmonic generated by the
defect in the bearing. The PSDs also showed the harmonic, but it was very difficult to identify
due a overlap between two series picks.
Keywords: Higher Order Spectral, Bispectrum, Power Spectral Density, MEMS, Crack,
Bearing.
Prefacio
Garantizar el correcto funcionamiento de las mquinas en los ambientes industriales es tan
importante, que se han desarrollado toda una serie de tcnicas, las cuales se encuentra en
contnuo desarrollo, motivado principalmente por los equipos de cmputo.
La PSD (Power Spectral Density) fue una de las primeras tcnicas en ser utilizadas. No
obstante, se ha descubierto que esta tcnica presenta ciertas limitaciones como son: la prdida
de la fase de la seal de vibracin y la incapacidad para detectar seales no estacionarias. La
fase es considerada informacin clave, ya que permite distinguir entre fallas que ocurren a
magnitud y frecuencia similares. Ante esta situacin, el biespectro (BIS) surge como una
tcnica del procesamiento de seales, que adems de cubrir las deficiencias de la PSD, tiene
algunas propiedades adicionales, como la eliminacin del ruido de naturaleza Gaussiana.
El trabajo consta de siete captulos, el primero se seis de los cuales se encargan de explicar los
conceptos bsicos utilizados en el desarrollo de la tesis, descripcin de los experimentos y
resultados de la investigacin.
En el captulo dos se presentan algunos conceptos del anlisis de vibracin, los cuales son
tiles para comprender el tipo de vibracin que genera una mquina. Adems, se detalla el
principio de operacin de los acelermetros piezoelctricos y de los acelermetros tipo MEMS.
Dentro del captulo tres se enuncian los principios bsicos de los rodamientos: sus
aplicaciones, tipos de rodamientos, tcnicas convencionales de monitoreo de condicin y fallas
ms comunes de los rodamientos en mquinas. La importancia de este captulo radica en que
fue un punto de partida para la caracterizacin de la falla artificial, ya se que necesitaba que el
dao producido se asemejara lo mejor posible a una falla real y, que al mismo tiempo, el dao
fuera controlado.
Las bases de los HOS se presenta en el capitulo cuatro. Se compara la utilidad de los HOS
respecto a la PSD, en el anlisis de sistemas no lineales. Tambin, se exponen algunas
propiedades del biespectro que lo hacen interesante para utilizarlo en problemas prcticos.
En el captulo cinco se describe el diseo y la especificacin del banco de pruebas, as como
tambin se presentan grficos de la respuesta en frecuencia de la estructura-soporte. Adems se
describen los dos sistemas de adquisicin de datos experimentales utilizados.
La metodologa de experimentacin y el anlisis de resultados se presentan en el captulo seis.
Se establece la nomenclatura para clasificar los datos adquiridos y se realiza una interpretacin
de la informacin obtenida con la PSD y el BIS.
En el captulo siete se presentan las conclusiones obtenidas de la investigacin sobre la utilidad
del biespectro y el desempeo de los acelermetros MEMS, en el diagnstico de fallas en
rodamientos. Tambin se enumeran las aportaciones y algunas recomendaciones para trabajos
futuros.
xv
Captulo 1
Introduccin
Garantizar el correcto funcionamiento de las mquinas en los ambientes industriales es tan
importante, que se han desarrollado toda una serie de tcnicas para llevar a cabo esta actividad.
En el pasado, el operario era el encargado de diagnosticar las fallas que se presentaran en la
maquinaria, empleando para ello nicamente sus sentidos [1], [2], [3]. El sentido del tacto lo
ocupaba para investigar un cambio en el nivel de vibracin o la temperatura. El sentido visual,
le permita investigar fugas de aceites o refrigerantes. Con el sentido auditivo escuchaba el
sonido producido por una falla. Sin embargo, se ha comprobado que esta ltima tcnica es til
solo cuando la falla produce frecuencias de vibracin bajas (falla avanzada).
Actualmente el rea de diagnstico de mquinas se encuentra en continuo desarrollo, motivado
principalmente por; los equipos de cmputo que procesan grandes cantidades de datos a altas
velocidades, la integracin de algoritmos de procesamiento digital complejos y el uso de la
Internet.
El surgimiento de equipos especializados y ms an, de sistemas de cmputo aplicados a la
industria, permiti utilizar tcnicas de procesamiento digital de seales. La PSD (Power
Spectral Density) fue una de las primeras tcnicas en el rea de diagnostico de mquinas. Se
comenz a utilizar, porque permita observar las vibraciones producidas a bajas y altas
frecuencias [3]. No obstante, poco tiempo despus se descubri que esta tcnica presentaba
ciertas limitaciones como son: la prdida de la fase de la seal de vibracin y la incapacidad
para detectar seales no estacionarias [4], [5]. La fase de la seal de vibracin, es considerada
informacin clave ya que permite distinguir entre fallas que ocurren a magnitud y frecuencia
similares [6]. Adems, se encontr otra fuerte limitacin de la PSD al tratar de diagnosticar
fallas en rodamientos, ya que comnmente la vibracin se encuentra modulada con resonancias
del sistema mecnico [5], [7], [8], [9].
Diagnstico de Condiciones de Operacin de Rodamientos en Mquinas Usando Espectros de Alto Orden
Dentro de los principales algoritmos que intentan sustituir el uso de la PSD en el diagnstico
de mquinas se encuentran; el espectro de la envolvente, wavelet, factor de cresta, cepstrum, e
impulsos de choque y los espectros de alto orden (HOS, Higher Order Spectra) [4], [5], [10],
[11], [12].
La incursin de los HOS en el rea de diagnstico ha proporcionado informacin relevante no
mostrada en la PSD, que an no ha sido analizada completamente [4], [8], [13], [14], [15], [16].
El biespectro (BIS) tiene la propiedad de ser compleja, ya que se forma de productos triples de
nmeros complejos; de esta manera se mantiene la informacin respecto a la fase [4], [8], [13],
[17]. Adems el BIS permite la deteccin de Gaussianidad de las seales; y la deteccin y
caracterizacin de propiedades no lineales de sistemas que generan series (datos) por medio de
relaciones de fase de sus componentes armnicos.
1.1 Descripcin del problema

La no deteccin a tiempo de anomalas o irregularidades en la operacin de mquinas
rotatorias tiende a aumentar el deterioro de la misma y en consecuencia, a un aumento en los
costos de mantenimiento correctivo, reduccin en la produccin, paros no programados, etc.
Los rodamientos son piezas importantes en la mayora de las mquinas; ya que se utilizan para
permitir el movimiento relativo entre dos componentes de la mquina y usualmente estn
montados sobre flechas. Estos dispositivos se encuentran formados a su vez por cuatro
elementos: anillo interior, anillo exterior, jaula y elementos rodantes.
Muchas de las fallas que se presentan en las mquinas se deben a los rodamientos, ya sea por
una seleccin inapropiada del lubricante, un montaje incorrecto, ajustes inadecuados, etc. [1],
[7]. Para diagnosticar una falla en un rodamiento comnmente se utiliza la PSD de la seal de
vibracin. Esto sin embargo tiene ciertas limitaciones, ya que en la mayora de los casos la seal
de vibracin se encuentra modulada con la frecuencia de rotacin, frecuencia de giro de los
elementos rodantes o con las resonancias propias del sistema [8] [9] [18]. La modulacin
provoca interacciones no lineales que no permiten observar claramente las frecuencias de falla
caractersticas de los rodamientos. Lo anterior, motiva a los investigadores a evaluar otras
tcnicas de procesamiento digital de seales para el diagnstico de mquinas. En el Cenidet, el
biespectro de la seal de vibracin ha proporcionado informacin relevante para el diagnstico
de fracturas en vigas [13] y se tiene conocimiento que ha sido aplicado para diagnosticar
algunos problemas de mquinas [8], [11], [19], [20].
1.2 Antecedentes
En el Cenidet, el anlisis de vibraciones con fines de diagnstico ha sido un tema de especial
inters. Los estudios realizados en esta rea se enfocan a la aplicacin de nuevas tcnicas de
procesamiento digital de seales.
En [22] se utiliz el mtodo de filtrado sncrono para analizar las seales de vibracin
generadas por el desbalanceo de una mquina. El filtrado sncrono permiti eliminar
2
Captulo 1. Introduccin
componentes de frecuencia no deseadas (generalmente producidos por ruido y factores

externos) de la seal de vibracin. En el trabajo se desarroll un sistema de anlisis de
vibraciones que permiti estimar y visualizar grficamente los parmetros de frecuencia, fase y
amplitud de la seal de vibracin; en condiciones de frecuencia variable o frecuencia constante.
El mtodo se implement en un DSP y tambin en una PC comercial con el objetivo de
comparar la velocidad de procesamiento; resultando que el DSP presenta una mayor velocidad
de procesamiento comparado con la PC. El buen desempeo a frecuencias constantes y
variables (incluso para variaciones de frecuencias moderadas), hace que esta herramienta sea
til para analizar procesos transitorios de aceleracin. Adems, la herramienta es muy verstil,
ya que cuenta con software y hardware fcilmente modificables por el usuario segn su
aplicacin.
En [13] se evalu la utilidad del biespectro respecto a la PSD, para la deteccin de fracturas de
una viga en cantiliver. El trabajo consisti en procesar seales de vibracin de vigas con
diferente tamao, forma de excitacin, colocacin de sensores y resolucin en frecuencia. La
comparacin entre la PSD y el biespectro mostr que los corrimientos de las frecuencias
naturales se deben a la presencia de la fractura. Adems, explica que la posible ubicacin de la
fractura est relacionada a los nodos de las frecuencias naturales y su posicin con respecto a la
fractura. Los resultados fueron comparados con el mtodo de elemento finito.
Tambin se evalu el desempeo de los acelermetros MEMS comparndolos con lo obtenido
por los piezoelctricos en la medicin de las frecuencias naturales de la viga. Para esta prueba
se realiz el montaje de un sensor tipo MEMS y un piezoelctrico lo ms cercanos posibles,
con el objetivo de que proporcionaran mediciones muy similares. En el momento de calcular
los espectros producidos por estos datos, se observ que con ambos dispositivos se logran
medir las frecuencias naturales de la viga, y con los MEMS se observaron frecuencias
adicionales, las cuales estaban relacionadas con la vibracin torsional de la viga. La vibracin
torsional se logr medir porque que el sensor MEMS utilizado era biaxial (proporciona seales
de vibracin de 2 ejes).
Un estudio muy relacionado a la deteccin de fallas en rodamientos es encontrado en [23], ya
que el trabajo evalu el desgaste de la superficie de contacto interno de una chumacera
generado por vibracin. Las seales de vibracin se obtuvieron de:
1.
2.
3.
4.
5.
Rodamiento con dao aparente en la superficie de rodadura.

Rodamiento comercial, primer par.
Rodamiento comercial segundo par.
Rodamiento recubierto de diamante sinttico, con un tiempo de deposicin de 10 s.
Rodamiento recubierto de diamante sinttico, con un tiempo de deposicin de 40 s.
En este trabajo se utiliz el anlisis en frecuencia para procesar las seales de vibracin de los
rodamientos. La interpretacin de los espectros estuvo basada en ecuaciones, las cuales
permitieron calcular las frecuencias de falla caracterstica (tonos) para la pista interior, exterior,
bolas y jaula del rodamiento; as como tambin se utilizaron ecuaciones relacionadas con la
suma y resta de las frecuencias anteriores. Las frecuencias calculadas con el mtodo de suma y
resta, determinan defectos en el elemento rodante, ondulaciones en la pista interior,
ondulaciones en la pista exterior, puntos rugosos sobre los rodillos y ondulaciones en los
rodillos. Los resultados revelaron que tanto la vibracin del rodamiento recubierto de diamante
sinttico (deposicin de 40 s) como el rodamiento daado, presentaron magnitudes similares.
3
Estas magnitudes se atribuyeron al endurecimiento por desgaste de la superficie del

rodamiento daado, que de forma similar al rodamiento recubierto, cambian la rigidez del
sistema.
Por otra parte, el rodamiento recubierto de diamante sinttico (deposicin de 10 s) no present
el mismo comportamiento en amplitud, respecto de los rodamientos sin recubrir. De lo
anterior, se concluy que existe un espesor crtico afectado. Debajo de est, no se podrn
observar cambios en la seal de vibracin y arriba del mismo se mostrarn cambios en la
amplitud a causa de la rigidez. En los espectros se identificaron las frecuencias caractersticas,
ya que stas estn presentes tanto para un rodamiento con dao y sin dao; adems de que se
encontraron armnicos separados por estas frecuencias.
1.3 Estado del arte

En la actualidad, la integracin de tcnicas de diagnstico basadas en el monitoreo de la
temperatura, vibracin, corrientes, etc.; permiten mantener a las mquinas en ptimas
condiciones de operacin [24], [25], [26], [27]. Sin embargo, muchas de las industrias no
cuentan con los recursos necesarios (econmicos y de personal) para implementar estos tipos
de servicios. Esto motiva a los investigadores a desarrollar tcnicas ms eficientes, econmicas
y sencillas, con el objetivo de poder ofrecer una tcnica de alta confiabilidad.
En la mayora de los casos, las fallas en rodamientos son difciles de diagnosticar ya que las
seales de vibracin producidas presentan modulacin en amplitud [5], [14], [15], [28]. Como
consecuencia, muchos estudios que intentan hacer ms eficiente el diagnstico se basan en el
anlisis de vibraciones provenientes de rodamientos.
El anlisis de vibraciones es la tcnica de diagnstico de mquinas comnmente utilizada ya
que la frecuencia, magnitud y la fase de la seal de vibracin permiten detectar, localizar y
cuantificar la magnitud de la falla [9], [29], [30]. El anlisis convencional de vibraciones utiliza
la PSD como herramienta de procesamiento para detectar desbalance, desalineamiento, soltura
mecnica, etc. Sin embargo, esta herramienta presenta un inconveniente ya que slo muestra la
frecuencia y la magnitud; perdiendo informacin de la fase [8], [13], [17]. Siendo la fase un
elemento clave en la distincin entre dos tipos de fallas que se presentan a frecuencia y
magnitud similares [6].
Otro inconveniente de la PSD es expuesto en [9], en el cual se analiz la utilidad de la
transformada de Hilbert para la deteccin de fallas en rodamientos de bolas de motores
elctricos. La desventaja de la PSD est ntimamente relacionada con la resonancia producida
por las chumaceras. Es decir, cuando se presenta un dao en un rodamiento, sus frecuencias
de falla caractersticas no se observan en la PSD, ya que stas excitan las frecuencias naturales
de las chumaceras, provocando que solo se observen picos en alta frecuencia. (normalmente
desde 11 a 17 veces la frecuencia de rotacin).
El estudio experimental de [9] tambin hace la comparacin entre dos tipos de espectros de
vibracin, correspondientes a un dao en la pista interna de un rodamiento. El primer tipo de
espectro est basado en la PSD y el segundo en la transformada de Hilbert (despus de
calcularlo se obtiene la PSD); observndose que en el primer tipo los picos ms altos se
encuentran en frecuencias relativamente altas (entre 3000 y 4000 Hz) y en el segundo, los picos
se encuentran debajo de 500 Hz. Esto quiere decir, que el uso de la transformada de Hilbert
atena las altas frecuencias. El banco de pruebas utilizado consisti de un motor de induccin
de 1.5 HP, un freno electromagntico, sensores (acelermetro, sonmetro, pinza de corriente,
sensor de par, sensor de fibra ptica), un sistema de acondicionamiento de seales y un sistema
de adquisicin de datos. Las seales fueron muestreadas a 7.937 kHz., logrando con ello
capturar 32,768 datos por canal. Adems, utiliz un filtro elptico tipo pasabajas y una ventana
tipo Hanning, con el fin de minimizar los efectos del aliasing (traslape) y el leakage (dispersin),
respectivamente.
Tambin procesaron seales de ruido y corriente de tres tipos de rodamientos: sin dao, con
falla controlada y con fallas reales. Las fallas controladas fueron muescas de aprox. 2 mm de
dimetro en las pistas interna y externa, taladradas con broca de tungsteno.
Dos de los puntos relevantes en su conclusin son:
1. El uso conjunto de la transformada de Hilbert y la PSD increment la factibilidad de
deteccin de fallas por anlisis espectral, permitiendo identificar las fallas en el primer
armnico con amplitudes relativas mayores que la unidad.
2. El parmetro de vibracin es el mejor indicador para detectar fallas en rodamientos.
En [15] se utiliz el biespectro para analizar la vibracin vertical (vibracin sensible a los
cambios en la condicin) de un rodamiento con rotura en la jaula y para un rodamiento en
condiciones normales. En est trabajo se construy un banco de pruebas, que consisti de un
eje soportado por dos rodamientos; cada uno con 8 bolas de 6.35 mm y con un dimetro de
medio de 28.5 mm. La fuerza motriz transmitida al eje se realiz por medio de un motor de
corriente directa y un acoplamiento flexible. Como carga se utilizaron: un engrane en el
extremo opuesto al motor y dos volantes de metal a los costados de la chumacera opuesta al
motor.
Por otra parte, el sistema de adquisicin consisti de una tarjeta Loughborough Sound Images
DSP conectado a una Viglen 486PC a 33 MHz. Con est tarjeta se adquirieron datos durante 4
segundos con una frecuencia de muestreo de 24 kHz; en total se grabaron 40 segundos en 10
pruebas. El periodo de rotacin de la mquina se configur a 23 ms (43.47 Hz).
Al realizar la comparacin entre los biespectros, se encontr que para la condicin normal se
tuvo un pico (con armnicos a su alrededor) en el 5to armnico y para la condicin con fallo
se observ una reduccin en amplitud de los componentes modulados en alta frecuencia (700 1000 Hz). Tambin expone, que la modulacin en amplitud (que comnmente se presenta en
la vibracin de rodamientos) de la vibracin senoidal de alta frecuencia ( f1 ) por la frecuencia
de rotacin de la maquina ( f 0 ), origin picos en el espectro en: f 0 , f1 , ( f 0 + f1 ) , ( f 0 f1 ) y
picos en el biespectro en ( f 0 , f1 ), ( f 0 , f 0 f1 ). Concluye afirmando que los cambios en la
magnitud y fase podran proporcionar caractersticas de diagnostico.
En el trabajo [31] se utiliz la tcnica de Modelado de Hidden Markov (HMM) para analizar;
rodamientos en condiciones normales, falla en la pista interna, falla en pista externa y falla en
una bola. Para los casos de falla en la pista interna y la bola, se obtuvieron datos de vibracin
para tres niveles dao: 0.007, 0.014, 0.021. Para el caso de falla en la pista externa se
obtuvieron datos de vibracin para dos niveles de vibracin: 0.014, 0.021. Las fallas se
produjeron por medio del mtodo EDM (Electrical Discharge Machining). El equipo de
prueba consiste de un rodamiento de bolas de un motor de induccin de 2 HP, impulsado por
un sistema mecnico. El acelermetro fue montado sobre la armadura en el extremo final del
motor. Todos los experimentos fueron repetidos bajo cuatro condiciones de carga: 0, 1, 2 y 3
HP. De all, que los datos experimentales consisten de 4 seales de vibracin para condiciones
normales, 12 para condiciones de fallas en la pista interna y bola. Para el caso de falla en pista
externa fueron 8 seales de vibracin. Se muestre a 12 kHz y la duracin de cada seal de
vibracin fue de 10 s. La frecuencia central y el ancho de banda del filtro pasa bajas fueron de
3 y 2 kHz respectivamente. La frecuencia de corte para el filtro pasa bajas fue de 2 kHz.
El estudio consisti en extraer caractersticas (coeficientes de reflexin de la funcin de
transferencia polinomial del modelo autoregresivo) de la seales de vibracin demoduladas en
amplitud, para rodamientos en estado normal y con falla. Estas caractersticas son utilizadas en
el HMM para representar las diferentes condiciones de los rodamientos. La tcnica permiti la
deteccin en lnea de fallas a travs del monitoreo de las probabilidades del pre-entrenamiento
del HMM para el caso normal. El diagnstico exacto se produjo cuando el tamao de ventana
y el orden del modelo fueron de 0.25 s y 25, respectivamente. El incremento en el orden del
modelo increment la exactitud del diagnostico. Sin embargo, el cambio en el tamao de la
ventana no produjo un cambio significativo.
En [16] se emple un detector de modulacin en amplitud (basado en el algoritmo de la
bicoherencia), para diagnosticar fallas en la pista exterior de un rodamiento rgido de bolas
(SKF-6207). El detector al igual que el biespectro, es un grafico en tres dimensiones, pero sus
propiedades se basan en la bsqueda de frecuencias de suma, resta y portadoras; sin requerir la
frecuencia de banda base (frecuencia de falla caracterstica). El rodamiento de prueba se mont
en el extremo de salida del eje de un motor trifsico de 10 HP (NEMA tipo 215T, 440 V) y el
acelermetro se coloc en la cubierta del estator, de tal manera que se encontraba lo ms cerca
posible del rodamiento de prueba. La seal vibracin se muestre durante 3. 072 s a 10 kHz y
se dividi en 60 vectores (512 muestras por cada vector). Adems se aplic una ventana tipo
Hanning a cada vector.
Las seales de vibracin procesadas provinieron de tres tipos de rodamientos: con dao ligero
en la pista exterior, con dao fuerte en la pista exterior y sin dao en la pista exterior. Para cada
caso, calcula el detector de modulacin en amplitud normalizado y observa que para
condiciones normales no se presentan picos considerables comparados con las otras dos
condiciones. Cuando el dao era ligero, aparecieron acoplamientos en una pequea regin del
rea no redundante; pero cuando el dao era fuerte, se presentaban acoplamientos en toda el
rea no redundante. Estos acoplamientos estaban separados por una frecuencia de 212 Hz
(vertical y horizontalmente), la cual fue previamente calculada utilizando las ecuaciones de
fallas caractersticas de rodamientos. Tambin, analiz la informacin obtenida con la PSD y
determin que cuando el dao es ligero la PSD no indica el fallo.
En el estudio [5] se compar la utilidad de la wavelet respecto al espectro de la envolvente,

para la deteccin de fallas en rodamientos. En el artculo se enfatiza que las frecuencias de falla
caractersticas contienen poca energa; y que comnmente se ven atenuadas por el ruido y los
altos niveles de vibracin de los soportes. Esto provoca que se dificulte encontrarlos en su
espectro de frecuencia cuando se utiliza solo la tcnica de la FFT (Fast Fourier Transform). De
ah, que la deteccin de la envolvente se utilice siempre con la FFT para identificar fallas que
ocurren en las frecuencias de falla caractersticas. Sin embargo, la computacin de la deteccin
de la envolvente es complicada, requiere mucha experiencia y equipos de alto costo. Lo
anterior, acompaado con la incapacidad de la FFT para detectar seales no estacionarias, hace
que el anlisis de la wavelet sea una alternativa para el diagnostico de fallas en mquinas.
La seal de vibracin procesada fue adquirida de tres rodamientos SKF modelo 1205E: el
primero con una falla en la pista externa, el segundo con falla en la pista interna y el tercero
con falla en un rodillo. En el estudio se comprob que el uso del espectro de la envolvente
slo permite observar claramente las frecuencias de fallas para el anillo exterior, no as para
fallas en los rodillos o en la pista interior. Para el caso de falla en la pista interna, en el espectro
de la envolvente se presentaron picos laterales a la frecuencia de falla de la pista interna, los
cuales corresponden a la modulacin con la frecuencia de rotacin. Mientras que para la falla
en el rodillo, estos picos laterales correspondieron a la frecuencia de falla caracterstica de la
jaula. Para todos los tipos de daos estudiados, el uso de la wavelet mostr claramente las
frecuencias de falla caracterstica.
En [8] se considera que cuando existe un dao en la superficie de un elemento rodante, se
presentar un impulso (golpe) en la pista del anillo interior o exterior; el cual puede excitar las
resonancias del rodamiento y de la estructura de la mquina. De ah, que la vibracin producida
contenga las resonancias del sistema modulados con las frecuencias de falla caractersticas. Las
resonancias del sistema podran ser el efecto de la vibracin entre el elemento rodante y la pista
exterior e interior, la vibracin de la chumacera o estructura, o tal vez una combinacin de
estos.
El estudio experimental consisti en evaluar la utilidad del biespectro y el triespectro para
diagnosticar una falla en la pista externa de un rodamiento de bolas autoalineable FAG 1024.
El dao artificial fue producido por un arco elctrico, el cual simula un dao por desconchado.
La frecuencia de falla para la pista externa se calcul considerando que: la velocidad de
rotacin se mantena constante en 1600 rpm, la pista externa del rodamiento se encontraba fija
y que la geometra del rodamiento era conocida. El rodamiento se coloc con una carga radial
pura de 500 N. La seales de vibracin fueron muestreadas a 12.8 kHz durante 20.48 s. El
biespectro para cada condicin se calcul de vectores de 256 puntos (1024 particiones),
mientras que el triespectro se obtuvo de vectores de 64 puntos (4096 particiones).
Para el caso del rodamiento en condiciones normales, la bicoherencia y la tricoherencia
tuvieron magnitud pequea y no presentaron una estructura notable. Mientras que para el caso
con falla, exhibieron una forma definida y una gran magnitud. Con lo anterior se mostr que
los HOS pueden proporcionar ms informacin respecto a las estadsticas de segundo orden.
En [32] se explica que cuando un rodamiento se encuentra en condiciones normales la nica
frecuencia que debe aparecer es la frecuencia caracterstica de falla para el anillo exterior; esto a
consecuencia de las pequeas irregularidades en la superficie de rodadura que se producen en

la fabricacin.
El estudio [3] consider que los deslizamientos que aparecen entre los elementos rodantes y las
pistas de rodadura, producen pequeas variaciones en las frecuencias de falla caractersticas.
Adems, demostr que la falla ms difcil de diagnosticar es el defecto en la pista interior, ya
que la magnitud de los impactos no es constante (debido a que el defecto gira). La frecuencia
de aparicin del impacto mayor es igual a la velocidad del eje.
En el estudio de [28] se consider que las resonancias actan como la seal portadora, y estn
moduladas por las frecuencias DPI (Defecto en la Pista Interna), DPE (Defecto en la Pista
Externa), etc., que originan bandas laterales respecto a la portadora. Para detectarlas, fue
necesario proceder a la demodulacin de la seal y determinar su espectro, en el cual
normalmente estarn presentes algunas de las frecuencias indicadas y sus armnicas. Adems
recomienda que el acelermetro se localice lo ms cerca posible del rodamiento.
En [10] se presentan algunas ventajas del anlisis de la envolvente, una de ellas es la
particularidad de detectar la presencia de impactos peridicos, tales como los que se producen
en los elementos rodantes de un rodamiento, pudiendo discriminar de otras fuentes de golpes
aleatorios como los que se producen durante la cavitacin. Tambin comenta, que las
frecuencias de falla en los rodamientos pueden calcularse en base a: la velocidad de rotacin y
la geometra del rodamiento. Estas frecuencias deben encontrarse en el espectro de la
envolvente, es decir, debe aparecer una serie de picos separados por dicha frecuencia de falla.
Por otra parte, enfatiza que la rigidez de la chumacera provoca que la resonancia resulte muy
grande (ms de 2 kHz) y no permita encontrar la frecuencia de falla caracterstica de los
rodamientos. De ah, que los conceptos de movimiento forzado y resonancia del sistema sean
muy importantes para el diagnstico de fallas. El movimiento forzado se presenta cuando el
sistema es excitado con una onda senoidal pura con frecuencia mucho menor que la frecuencia
natural. En cambio, si la frecuencia de excitacin coincide con la frecuencia natural de la
estructura; se presentar la resonancia (movimiento amplificado). La resonancia produce que la
estructura se comporte como un filtro pasabandas, es decir, toda frecuencia que est cerca de
la frecuencia de resonancia se amplificar.
En el estudio [7] se consider que la aceleracin de la vibracin refleja con mayor nfasis las
vibraciones de alta frecuencia generadas por los defectos del rodamiento, concluyendo que es
el mejor indicador para estudiar la evolucin del estado tcnico de ste, sobre todo en la etapa
incipiente del fallo. Para interpretar los espectros, utiliza las ecuaciones para calcular las
frecuencias de falla caractersticas. Seala que las frecuencias que se generan en los
rodamientos defectuosos pueden sumarse restarse, de forma tal que en los espectros no
aparezcan las frecuencias tpicas del elemento: DPI, DPE, DER (Defecto en los Elementos
Rodantes) o DJ (Defecto en la Jaula), lo cual complica sobre manera el anlisis de los
espectros.
Explica tambin que, cuando el defecto ha comenzado a desarrollarse, los espectros comienzan
a exhibir bandas espectrales que indican modulacin de la frecuencia de rotacin con
frecuencias generadas por: la polea y la banda, un desperfecto una desalineacin. Adems,
menciona que el procedimiento para visualizar las frecuencias de falla es: 1) obtener la
8
envolvente de la seal (normalmente se utiliza un filtro que no elimine las frecuencias de falla)
y 2) calcular el espectro de la seal de la envolvente.
En [12] se busc detectar una falla en un rodamiento rgido de bolas, utilizando la tcnica de
wavelet para procesar la seal de corriente de arranque (corriente transitoria). La falla en el
rodamiento consisti de una indentacin de 1.5 mm sobre la pista externa. En el estudio
experimental se utilizaron rodamientos de bolas 6203-2Z-J/C3 (9 bolas), 6205-2Z-J/C3 (9
bolas) y un motor de induccin trifsico de 1 HP. (200V, 60Hz, 1750 rpm, cuatro polos). Su
hiptesis en la deteccin considera que una falla en el rodamiento producir una variacin en la
densidad de flujo del entrehierro. Determina que la transformada wavelet proporciona un
mejor desempeo para transitorios comparado con la transformada de Fourier. Se realizaron
dos pruebas para determinar el efecto de la falla en el rodamiento, para ello se muestre la
corriente de arranque del motor durante 60 ciclos a 512 muestras/ciclo. La primer prueba
consisti en tomar datos de la corriente de arranque para la condicin en estado estable (50%
del valor de carga) y la segunda, para la condicin con falla. El estudio consisti en medir los
niveles RMS en las sub-bandas de frecuencia de la wavelet, con el objetivo de detectar cambios
inducidos por los defectos en el rodamiento.
La comparacin de niveles entre un rodamiento sin dao y otro con dao, revel que los
niveles RMS del 3 al 6 son ms sensibles a los defectos del rodamiento. De lo anterior,
concluy que el anlisis de la wavelet para la corriente de arranque puede proporcionar un
diagnstico completo para la deteccin de fallas incipientes en rodamientos. El monitoreo de la
corriente de arranque se realiz sin afectar la operacin y sin ocupar transductores
especializados.
1.4 Objetivo
Detectar fallas en rodamientos usando la PSD y el BIS como las tcnicas de procesamiento de
seal y realizar un estudio comparativo de la utilidad de ambas tcnicas. As mismo, evaluar el
desempeo de los acelermetros MEMS en el diagnstico de fallas en rodamientos
1.5 Aportacin
Las seales de vibracin de rodamientos en estado normal y con falla artificial se adquirieron
por medio de acelermetros piezoelctricos y MEMS, lo que permiti evaluar el desempeo de
estos ltimos en el diagnstico de rodamientos. Adems, se realiz una interpretacin de la
informacin obtenida de la PSD y del BIS; utilizando las funciones programadas en [13]. A los
datos obtenidos podran aplicrseles otras tcnicas de procesamiento digital, ya que se crearon
archivos de datos de las seales de vibracin provenientes de los rodamientos.
Para llevar a cabo la experimentacin, se construy un banco de pruebas en el cual se podran
montar otros tipos de rodamientos y en consecuencia estudiar otro tipo de fallas.
1.6 Estructuracin de la tesis

El trabajo consta de siete captulos, seis de los cuales se encargan de explicar los conceptos
bsicos utilizados en el desarrollo de la tesis, descripcin de los experimentos y resultados de la
investigacin.
En el captulo dos se presentan algunos conceptos del anlisis de vibracin, los cuales son
tiles para comprender el tipo de vibracin que genera una mquina. Adems, se detalla el
principio de operacin de los acelermetros piezoelctricos y de los acelermetros tipo MEMS.
Dentro del captulo tres se enuncian los principios bsicos de los rodamientos como: sus
aplicaciones, tipos de rodamientos, tcnicas convencionales de monitoreo de condicin y fallas
ms comunes de los rodamientos en mquinas. En este ltimo tema se presentan fotografas
del aspecto fsico de las fallas en rodamientos, lo que permite una mejor compresin al realizar
un diagnstico de las condiciones de operacin mediante instrumentos de monitoreo. La
importancia de este captulo radica en que fue un punto de partida para la caracterizacin de la
falla artificial, ya se que necesitaba que el dao producido se asemejara lo mejor posible a una
falla real y, que al mismo tiempo, el dao fuera controlado.
Las bases de los HOS se presenta en el capitulo cuatro. Se compara la utilidad de los HOS
respecto a la PSD, en el anlisis de sistemas no lineales. Tambin, se exponen algunas
propiedades del biespectro que lo hacen interesante para utilizarlo en problemas prcticos.
En el captulo cinco se describe el diseo y la especificacin del banco de pruebas, as como
tambin se presentan grficos de la respuesta en frecuencia de la estructura-soporte. Adems,
se presentan las frecuencias de falla para el rodamiento en estudio. Tambin se describen los
dos sistemas de adquisicin de datos experimentales utilizados.
La metodologa de experimentacin y el anlisis de resultados se presentan en el captulo seis.
Se establece la nomenclatura para clasificar los datos adquiridos y se realiza una interpretacin
de la informacin obtenida con la PSD y el BIS. La simplicidad en la interpretacin permitir
evaluar el desempeo de las dos tcnicas.
En el captulo siete se presentan las conclusiones obtenidas de la investigacin sobre la utilidad
del biespectro y el desempeo de los acelermetros MEMS, en el diagnstico de fallas en
rodamientos. Tambin se enumeran las aportaciones y algunas recomendaciones para trabajos
futuros.
10
Captulo 2
Fundamentos del Anlisis de Vibracin y
Transductores
En este captulo se abordan conceptos bsicos de las seales de vibracin y se mencionan los
sensores que suelen utilizarse en el monitoreo de mquinas, poniendo nfasis en los que se
usaron en esta tesis. As mismo, se busca relacionar los conceptos descritos con el trabajo de
tesis desarrollado.
La teora de las vibraciones trata con el estudio de movimientos oscilatorios y las fuerzas
asociadas con estos movimientos [33]. En el caso de la vibracin mecnica, sta se transmite a
travs de bases y estructuras, causando fatiga en elementos estticos e incluso vibraciones
moduladas. Por eso es que en el anlisis de maquinaria se requiere de toda la informacin de la
cadena cinemtica: el tipo de rodamientos, las velocidades de giro, el nmero de dientes de las
ruedas dentadas, el nmero de aspas de los ventiladores, las condiciones de soporte, etc. La
severidad de la vibracin esta muy relacionada con las frecuencias resonantes del sistema, que
pueden llevarlo a condiciones crticas e inestables [34].
2.1 Seal de vibracin

De acuerdo a la norma ISO 2041, la vibracin se define como [7]: toda variacin en el tiempo,
de una magnitud que describe el movimiento o la posicin de un sistema mecnico, cuando
esta magnitud es alternadamente mayor o menor que cierto valor promedio o de referencia.
En otras palabras, la vibracin es la oscilacin de un cuerpo alrededor de un punto de reposo y
existen dos conceptos relacionados con ella: la frecuencia y la amplitud. Por otro lado, los
sistemas oscilatorios pueden clasificarse en dos grupos [33]: lineales y no lineales. Para los
11
sistemas lineales puede aplicarse el teorema de superposicin, y otra gran cantidad de tcnicas
matemticas para su anlisis; no as en el segundo tipo de sistemas, adems de que las pocas
tcnicas existentes son difciles de aplicar.
El anlisis de las seales de vibracin puede hacerse en el dominio del tiempo o de la
frecuencia. En el primero la variable independiente es el tiempo y en el segundo la frecuencia;
ambos dominios estn relacionados por la Transformada de Fourier [7], [33].
2.1.1 Frecuencia
En cuestin de vibracin, la frecuencia es el nmero de periodos (oscilaciones) completos que
el cuerpo realiza por segundo, la unidad de medicin son los ciclos/segundo o Hertz (Hz).
La norma ISO 2041 define frecuencia como: el recproco del periodo fundamental (tiempo de
repeticin de un fenmeno peridico); matemticamente la frecuencia es [7]:
f =
Donde:
f = frecuencia
T = periodo
1
( Hz )
T
(2.1)
El movimiento oscilatorio ms simple es conocido como movimiento armnico simple y

describe una onda senoidal como la presentada en la Figura 2.1, normalmente esta onda
senoidal es la que se utiliza para mostrar las caractersticas de una seal vibratoria, aunque en el
monitoreo de maquinaria las formas de onda obtenidas no son tan simples.
2.1.2 Amplitud
Amplitud es una magnitud utilizada para designar la desviacin, positiva o negativa, con
respecto a un punto cero o un punto de equilibrio.
Se puede medir la amplitud del desplazamiento, la velocidad la aceleracin, de la seal de
vibracin. Adems existen diversos tipos de amplitud, los cuales se definen enseguida y que
para mostrar las relaciones entre ellas se presentan en la Figura 2.1. En el anlisis espectral, la
amplitud de los picos suele indicar la importancia o gravedad del problema [7].
Amplitud pico: Indica el esfuerzo o desviacin mxima que est experimentando la parte
vibrante. Es la distancia mxima de la onda desde el punto cero o punto de equilibrio, hacia el
punto mximo (positivo o negativo).
Amplitud pico-pico: Es la diferencia algebraica entre los valores extremos de una magnitud
que vara durante cierto intervalo de tiempo, normalmente se emplea en mediciones de
desplazamiento [7]. Es la suma de las amplitudes pico en ambos sentidos del punto de
equilibrio.
12
Captulo 2. Fundamentos del anlisis de vibracin y transductores
Amplitud media: o valor medio o amplitud promedio, indica un valor esttico o estacionario
de funcionamiento, similar al nivel de CD de una corriente elctrica. Queda definido por la
siguiente expresin [7]:
1
T T
A prom = lim
x(t )dt
(2.2)
Amplitud rms: o valor efectivo; es la raz cuadrada del valor cuadrado medio y est asociado a
la potencia de la vibracin, de manera discreta queda definida de la siguiente manera [7]:
y1 + y2 + ... + y N
N
2
Arms =
Donde:
(2.3)
yN = valor en cada uno de los instantes de tiempo

N = numero total de elementos
En el caso de una vibracin peridica ser:
Arms = 0.7071 A pico
(2.4)
Figura 2.1 Diferentes tipos de amplitud de una forma de onda senoidal.
2.1.3 Fase
Fase es una medida de la diferencia de tiempo entre dos ondas senoidales. Se mide en trminos
de ngulo, grados o radianes. La diferencia en fase entre dos formas de onda se llama
desplazamiento o corrimiento de fase. Un desplazamiento de fase de 360 grados es un retraso
de un ciclo o de un periodo de la onda; un desplazamiento de 90 grados es un desplazamiento
de 1/4 del periodo de la onda; etc. El desplazamiento de fase puede ser considerado positivo o
negativo; eso quiere decir que una forma de onda puede estar retrasada o adelantada respecto a
otra y depende de cul se tome como referencia. Estos fenmenos se llaman atraso de fase y
13
adelanto de fase respectivamente, un ejemplo de estas relaciones se muestra en la Figura 2.2,

donde existe un desplazamiento de 90 grados entre las dos ondas senoidales.
Figura 2.2 Relaciones de fase entre dos ondas senoidales.
2.1.4 Desplazamiento
El desplazamiento especifica un cambio de posicin o distancia, sus unidades pueden ser m,
mm o m, queda expresado en la siguiente ecuacin [7]:
x = x0 sen(t )
Donde:
x0 = Amplitud pico
(2.5)
2
= frecuencia angular
T
T = Periodo
2.1.5 Velocidad
Velocidad es la tasa de cambio del desplazamiento con respecto al tiempo, se encuentra
desfasada 90 grados con respecto al tiempo. Se expresa en m/s in/s, la ecuacin que describe
la velocidad viene dada por [7]:
v=
dx
= x 0 cos(t )
dt
(2.6)
2.1.6. Aceleracin
La aceleracin es la razn de cambio de la velocidad con respecto al tiempo, se encuentra
desplazada 90 grados de la velocidad y 180 del desplazamiento. Puede expresarse m/s2, aunque
normalmente se hace en gs (unidades gravitacionales). Su expresin matemtica es [7]:
14
a=
dv d 2 x
= 2 = 2 x0 sen(t )
dt d t
(2.7)
La aceleracin est relacionada con la fuerza que provoca que el cuerpo vibre, algunas de estas
fuerzas se producen a altas frecuencias, aunque la velocidad y el desplazamiento sean
pequeos.
2.1.7 Efectos de modulacin

Muchas mquinas producen seales de vibracin que contienen modulacin de amplitud, lo
cual se traduce en la aparicin de bandas laterales en el espectro de vibraciones. Se pueden
diagnosticar varios tipos de problemas de mquinas examinando a detalle esas bandas laterales.
Ejemplos de mquinas que producen modulacin de amplitud son cajas de engranes, donde la
frecuencia del engranaje est modulada por la frecuencia de rotacin de cada engrane; y
rodamientos con elementos rodantes, donde las frecuencias de falla de los rodamientos se
pueden modular por la frecuencia de rotacin o la frecuencia de la jaula del rodamiento.
La modulacin de las frecuencias de falla de los rodamientos ocurre de la siguiente manera. Si
el anillo interno del rodamiento tiene un pequeo defecto como una grieta, este defecto entrar
y saldr del rea de carga a las rpm de la flecha, como se muestra en la Figura 2.3. El rea de
carga no es ms que la zona donde se presentan los mayores esfuerzos. Esto supone que el
anillo interno est girando y que se trata de una mquina horizontal donde la gravedad ejerce
una fuerza radial en lugar de axial en el rodamiento. Los impactos en el rodamiento sern ms
fuertes cuando el defecto se encuentre en el rea de carga del rodamiento y ms dbiles,
cuando el defecto est fuera del rea de carga; lo que quiere decir que la frecuencia de falla del
anillo interno ser modulada por amplitud y su espectro tendr bandas laterales, a distancias
iguales de la frecuencia de rotacin. En contraste con esto, con una falla en el anillo externo
que se queda estacionaria, no ocurrir modulacin y tampoco se producirn bandas laterales
alrededor de la frecuencia de falla del anillo externo [18].
Figura 2.3 Movimiento entre la falla y el rea de carga conforme gira el anillo interior.
Si un elemento rodante presenta un defecto, este tambin entrar y saldr del rea de carga,
pero lo har a la frecuencia de giro de las bolas, en lugar de a la frecuencia de rotacin. Esta
condicin producir modulacin en amplitud de la frecuencia de rotacin de las bolas y por lo
tanto las bandas laterales estarn a una distancia igual a la frecuencia rotacin.
15
2.1.8 Frecuencia natural, resonancia e impedancia mecnica

Se le llama frecuencia natural a la frecuencia que solo depende de la masa y la rigidez del
sistema mquina-soportes. Una frecuencia natural es una frecuencia a la que una estructura
vibrar si uno la desva y despus la suelta. Una estructura tpica tendr muchas frecuencias
naturales, como las que mostr el sistema en el que se analizaron los rodamientos. De
cualquier estructura fsica se puede hacer un modelo en funcin de un nmero de resortes,
masas y amortiguadores. Los amortiguadores absorben energa, mientras que los resortes y las
masas la liberan. El resorte y la masa interactan uno con otro, de manera que forman un
sistema que hace resonancia a su frecuencia natural caracterstica. Si se le aplica energa a un
sistema masa-resorte, el sistema vibrar a su frecuencia natural, y el nivel de las vibraciones
depender de la fuerza de la fuente de energa y de la absorcin inherente al sistema. La
ecuacin es [7]:
fN =
Donde:
1
2
k
m
fN = frecuencia natural (Hz)

m = masa (kg)
(2.8)
k = constante de elasticidad o rigidez (N/m)
De la ecuacin 2.8 se puede ver que si la rigidez aumenta, el valor de la frecuencia natural
tambin lo hace, y si la masa aumenta, la frecuencia natural disminuye.
La resonancia es un estado de operacin en el que una frecuencia de excitacin se encuentra
cerca de una frecuencia natural de la estructura de la mquina. Cuando ocurre la resonancia, los
niveles de vibracin que resultan pueden ser muy altos y pueden causar que los daos
evolucionen muy rpidamente.
La impedancia mecnica es una medida de la resistencia al movimiento de una estructura
cuando se le aplica una fuerza. La impedancia mecnica de una estructura vara de manera
complicada, a medida que vara la frecuencia. En las frecuencias de resonancia la impedancia
ser baja, lo que significa que se debe aplicar muy poca fuerza a esas frecuencias para evitar una
vibracin excesiva.
2.2 Vibraciones mecnicas

La vibracin en toda maquinaria es causada por una fuerza de excitacin [35], esta fuerza
puede ser originada por el contacto entre los componentes internos de la mquina
externamente a consecuencia de las mquinas que se encuentran a su alrededor.
De manera inherente, todo mecanismo vibra por la naturaleza de sus componentes, sin
embargo, las consecuencias de las vibraciones excesivas son el aumento de los esfuerzos y las
tensiones, prdidas de energa, desgaste de materiales, y las ms peligrosas: daos por fatiga de
los materiales, adems de ruidos molestos en el ambiente laboral, etc.
16
Cada uno de los elementos que componen una mquina posee caractersticas que lo identifican
en cuanto a diseo y velocidad de operacin; en consecuencia, cada uno de ellos tiene una
frecuencia caracterstica de vibracin. Es recomendable entonces, que antes de realizar un
diagnstico a una mquina se deban determinar las frecuencias de falla tericas; que no son
ms que las frecuencias que se esperan observar en la PSD cuando exista un problema.
Cuando las fuerzas que se presentan a diferentes frecuencias interactan en la mquina de
manera no lineal, el resultado es la generacin de frecuencias de suma y de diferencias, es decir,
nuevas frecuencias que no estn presentes en las frecuencias forzadas. Esas frecuencias de
suma y de diferencia forman las bandas laterales que se encuentran en los espectros de cajas de
engranes defectuosas, rodamientos con elementos rodantes, etc.
2.2.1 Vibracin libre

Se conoce como vibracin libre a la oscilacin del sistema que ocurre sin presencia de una
excitacin externa. Es el resultado de energa cintica en el sistema o de un desplazamiento de
la posicin de equilibrio que suministra una energa potencial [34], [35]. Algunos ejemplos son:
el pndulo cuando se lleva hacia algn punto y despus se suelta; la suspensin de un
automvil despus de pasar por un tope o un bache; la vibracin en un arma despus de haber
sido disparada; y en el caso de este proyecto: el giro de la flecha despus de que el motor ha
sido apagado, aunque esta condicin no fue analizada en este trabajo de tesis.
2.2.2 Vibracin forzada

La vibracin forzada se presenta cuando el sistema vibra debido a una excitacin externa. Si la
excitacin es peridica y continua, la respuesta del sistema podra alcanzar un estado estable;
por otro lado, si la fuerza de excitacin no es peridica entonces la vibracin se denomina
transitoria.
2.2.3 Vibracin aleatoria

Es aquel tipo de vibracin de la cual no se pueden predecir las magnitudes instantneas,
normalmente contiene componentes no peridicos o no determinsticos.
2.3 Transductores de vibracin

La norma ISO 2041 define un transductor como un dispositivo diseado para recibir energa
de un sistema y suministrar energa; ya sea del mismo tipo o de otra naturaleza, hacia otro
sistema, de forma tal que a la salida del transductor aparezca la caracterstica de inters de la
energa de entrada [7].
El transductor de vibraciones es un aparato que produce una seal elctrica que es una rplica
del movimiento vibratorio al cual est sujeto. Un buen transductor no debe agregar falsos
17
componentes (ruido) a la seal, y deber producir seales uniformes en todo el rango de

frecuencias de inters.
Existe una amplia variedad de dispositivos para sensar la vibracin:
1. De proximidad de desplazamiento, que son unidades de montaje permanente y cuya
operacin est basada en un principio magntico, y por eso es sensible a las anomalas
magnticas en la flecha [36].
2. De velocidad, que fue uno de los primeros transductores de vibracin. Esta formado
por una bobina de alambre y de un imn. Sin embargo son relativamente pesados y
complejos, y por eso son caros. Su respuesta en frecuencia que va desde 10 Hz a 1 kHz
se considera baja [7], [36].
3. El acelermetro, del cual existen diferentes tipos y bsicamente difieren en el mtodo
que utilizan para detectar la aceleracin que sufre un objeto, existen acelermetros
piezoelctricos, acelermetros de induccin [36] y recientemente (hace unos 10 aos)
los acelermetros del tipo MEMS. A continuacin se describe mas a detalle el principio
de operacin de los acelermetros utilizados en el desarrollo de la tesis.
2.3.1 Acelermetro
Para comprender mejor la comparacin que se hace en el Captulo 5, de ambos tipos de
acelermetros utilizados en las pruebas, se definen algunas de las caractersticas de stos.
Rango de medicin
Se refiere a la cantidad de gravedades que el dispositivo puede medir
Factor de escala
Especifica el cambio de voltaje en la salida por unidad de gravedad de aceleracin aplicada.
Resolucin
Nivel ms bajo de gravedad que el acelermetro es capaz de medir.
Operacin Radiomtrica
El circuito usa la fuente de alimentacin como voltaje de referencia.
Ancho de Banda
Se define como el rango de operacin hasta -3dB, es el rango de frecuencias que puede medir.
Sensitividad
Es el valor de voltaje que el acelermetro proporciona por cada unidad de gravedad aplicada.
2.3.1.1 Acelermetro tipo piezoelctrico
Se puede considerar al acelermetro piezoelctrico como el transductor estndar para medicin
de vibracin en mquinas. El acelermetro de tipo a compresin fue el primero en ser
18
desarrollado. Por lo general se prefiere el acelermetro del tipo a cizallamiento (tipo de

deformacin en la que no hay cambio de volumen, pero si de forma), configurado de tal
manera, que el elemento activo est sujeto a fuerzas de cizallamiento.
En la Figura 2.4 se muestran los elementos del acelermetro piezoelctrico de tipo a
compresin. La masa ssmica est sujetada a la base con un perno axial, que se apoya en un
resorte circular. El elemento piezoelctrico est ajustado entre la base y la masa; y cuando es
sometido a una fuerza, genera una carga elctrica entre sus superficies. Hay muchos materiales
de este tipo, aunque el cuarzo es el que ms se utiliza. Tambin hay materiales piezoelctricos
sintticos que funcionan bien y en algunos casos son capaces de funcionar a temperaturas ms
altas que el cuarzo. Si se incrementa la temperatura de un material piezoelctrico, se va llegar al
llamado "punto curie" o "temperatura curie" y se pierde la propiedad piezoelctrica. Una vez
que esto pasa, el transductor est defectuoso y no se podr reparar.
Figura 2.4 Elementos del acelermetro piezoelctrico del tipo a compresin [36], [37].
Cuando se mueve el acelermetro en la direccin arriba-abajo, la fuerza que se requiere para

mover la masa ssmica est soportada por el elemento activo. Segn la segunda ley de Newton,
la fuerza sobre el cristal produce la seal de salida, que por consecuente es proporcional a la
aceleracin del transductor. Los acelermetros son lineales en el sentido de la amplitud, lo que
quiere decir que tienen un rango dinmico muy largo. Los niveles ms bajos de aceleracin que
puede detectar son determinados nicamente por el ruido electrnico del sistema, y el lmite de
los niveles ms altos es la destruccin del mismo elemento piezoelctrico. Este rango de
niveles de aceleracin puede abarcar un rango de amplitudes de alrededor de 10 niveles (desde
gs hasta varias cientos de gs), lo que es igual a 160 dB, ningn otro transductor puede igualar
esto.
El piezoelctrico es muy estable y mantiene su calibracin si no se le maltrata. Las dos maneras
de que se puede daar un acelermetro piezoelctrico son la exposicin a un calor excesivo y la
cada en una superficie dura. Si se cae de una altura de ms de un par de pies, en un piso de
concreto o en una cubierta de acero, se debe volver a calibrar para asegurar que el cristal no se
halla cuarteado. Una pequea cuarteadura causar una reduccin en la sensibilidad y tambin
afectar de manera importante a la resonancia y a la respuesta de frecuencia. Los fabricantes
recomiendan calibrar los acelermetros una vez al ao.
El rango de frecuencias del piezoelctrico es muy ancho y se extiende desde frecuencias muy
bajas hasta varias decenas de kHz. La respuesta de alta frecuencia est limitada por la
resonancia de la masa ssmica, junto con la elasticidad del piezoelemento. Esa resonancia
19
produce un pico importante en la respuesta de la frecuencia natural del transductor, como se

aprecia en la Figura 2.5. Una regla general es que un acelermetro se puede usar alrededor de
1/3 de su frecuencia natural.
Figura 2.5 Respuesta en frecuencia del acelermetro piezoelctrico [37].
La mayora de los acelermetros piezoelctricos que se usan hoy en da en la industria son del
tipo "ICP" (Integrated Circuit Piezoelectric), lo que quiere decir que tienen un preamplificador
interno de circuito integrado. Este preamplificador recibe su energa de la polarizacin de la
corriente directa por el alambre de la misma seal, as que no se necesita alambrado
suplementario. El aparato con que est conectado debe tener un voltaje de corriente directa
disponible para este tipo de transductor. El acelermetro ICP tendr un lmite de baja
frecuencia, debido al mismo preamplificador y este se sita generalmente a 1 Hz para la
mayora de las unidades disponibles comercialmente. Algunas unidades son diseadas
especialmente para ir hasta 0.1 Hz si se necesitan datos de muy baja frecuencia.
Cuando se coloca un acelermetro es importante que la ruta de vibracin desde la fuente hacia
el acelermetro sea la ms corta posible, especialmente si se est midiendo la vibracin en
rodamientos con elementos rodantes.
2.3.1.2 Acelermetro tipo MEMS
MEMS son las siglas para Micro Electro-Mechanical Systems. Son dispositivos electromecnicos que caben dentro de un chip y pueden tener elementos mecnicos, sensores,
actuadores y acondicionadores electrnicos.
Hay varios mtodos para crear microestructuras, la mayora de las cuales estn basadas en el
mtodo de fabricacin de circuitos integrados [38], [39]; el primer registro que se tiene de estas
tcnicas es de 1967, cuando H. C. Nathanson, W. E. Newell, R. A. Wickstrom y J. R. Davis
utilizaron oro con una capa fotoresistiva [40]. En 1983 R. T. Howe and R. S. Muller
demostraron esta tcnica usando polysilicon con una superficie de dixido de silicon [40].
Bsicamente son 3 los pasos para la construccin de dispositivos MEMS [41], [42]:
1. El proceso de deposicin de delgadas capas de sustrato.
2. La litografa, que consiste en formar un patrn de material fotosensible que fue
depositado encima del sustrato.
3. El proceso de etching, consiste en eliminar las partes no necesarias del sustrato
usando solventes. De esta manera quedan formadas las microestructuras.
20
Dentro de las reas de aplicacin de los MEMS se encuentran la biotecnologa: deteccin de

agentes qumicos y biolgicos, el sensado de presin; las comunicaciones: inductores,
capacitores, reduccin del consumo de potencia, filtros sintonizables; y los acelermetros:
bolsas de aire de los automviles, sistema de frenado antibloqueo, diagnstico de mquinas;
entre otras.
En el desarrollo de esta tesis se utiliz el acelermetro de Analog Devices ADXL210E, el cual
es considerado un acelermetro de superficie de tercera generacin [43], es biaxial, la
sensitividad de sus ejes se encuentra en el mismo plano que el circuito de silicn y tiene un
rango de operacin de 10 g. La salida del sensor puede ser de naturaleza digital o analgica
como se muestran en la Figura 2.6, donde tambin se muestra el circuito dentro del chip, que
convierte el valor de capacitancia de los sensores, en una seal digital dentro de la cual se
codifica el valor de aceleracin [44].
Figura 2.6 Circuito elctrico simplificado del ADXL-210 [44].
El ADXL-210E est compuesto de 42 celdas capacitivas, formadas por placas fijas y placas
mviles unidas a una masa y que se presentan en la Figura 2.7 [44]. La masa se mueve en
respuesta a la aceleracin que sufre. El movimiento de la masa modifica el valor de la
capacitancia; de tal manera, que se obtiene un voltaje de salida proporcional a la magnitud de la
fuerza a la que est siendo sometido el acelermetro.
Figura 2.7 Esquema general del acelermetro MEMS [38].
Se sabe que el sensor est unido a la chumacera, as que se mover junto con ella. Para
comprender la manera en la que el sensor detecta la aceleracin, en la Figura 2.8 se presenta un
21
modelo mecnico del acelermetro. El marco fijo se encuentra formado por la chumacera y
todos aquellos elementos que estn fijos dentro del integrado (las placas fijas y los puntos de
sujecin), el sistema, masa-resorte-amortiguador representa la masa y las vigas a las que esta se
encuentra unida, tal como se puede apreciar en la Figura 2.8.
En ausencia de vibracin el sistema se encuentra en reposo como en la Figura 2.8a. Cuando se
presenta una fuerza en sentido negativo (los sentidos se han escogido arbitrariamente), se
mueve todo el sistema, pero la masa opone una resistencia al cambio de posicin, de tal
manera que se presenta un movimiento relativo entre el marco fijo y la masa, mostrado en la
Figura 2.8b. Para el caso de la Figura 2.8c, en el que se aplica una fuerza en sentido contrario,
la masa presenta nuevamente una resistencia al cambio de posicin, y de nuevo se manifiesta
un movimiento relativo entre el marco fijo y la masa.
Figura 2.8 Modelo mecnico del acelermetro MEMS.
En otras palabras, la operacin es parecida a la sensacin que se percibe al estar dentro de un

carro que arranca o frena. En el primero de los casos, la sensacin es la de una fuerza que
aprieta a la persona contra el asiento, mientras que en el segundo caso, lo que se siente es que
algo jala a la persona del asiento. Aunque en realidad, en ambos casos, lo que se observa es
una manifestacin del principio de inercia.
Una explicacin ms precisa esta relacionada con los sistemas inerciales y las deformaciones en
una viga, lo cual queda fuera del objetivo de esta tesis. Sin embargo, al respecto se puede decir
que un sistema inercial es aquel que se puede tomar como referencia absoluta, mientras que el
no inercial es aquel que se encuentra sometido a fuerzas de aceleracin (como es el caso de la
chumacera y los MEMS).
De acuerdo a lo descrito anteriormente, an cuando el acelermetro se encuentra montado en
la chumacera, existe siempre un movimiento relativo entre las placas fijas y las mviles,
manifestndose as una variacin en la capacitancia, como se indica en la Figura 2.9.
22
Figura 2.9 Capacitancias dentro de un acelermetro MEMS.
La ecuacin para obtener el voltaje de salida se muestra en (2.9) y se puede observar que el
voltaje de salida depende tanto del valor de la capacitancia, como del voltaje de alimentacin,
por lo que el sensor es radiomtrico.
Vo =
C1 C 2
Vs
C1 + C 2
(2.9)
En el caso especfico de este sensor, el voltaje de salida (Vo), se encuentra en funcin de la

aceleracin, la sensitividad y el voltaje de alimentacin (Vs), mediante la siguiente relacin [38]:
Vo =
Donde:
Vs
V
Sensitividad s a
2
5
(2.10)
a = aceleracin que experimenta el acelermetro (gs)

Sensitividad = parmetro propio de cada acelermetro (mV/g)
Vs = voltaje de alimentacin (V)
La figura 2.10 muestra el comportamiento del sensor cuando es sometido a fuerzas de

aceleracin, la flecha negra indica el sentido la aceleracin de la chumacera y la flecha gris, la
respuesta correspondiente de la masa.
Figura 2.10 Comportamiento del sensor MEMS con aceleracin [38].
Otra caracterstica importante de estos sensores, aunque no fue utilizada en este trabajo de
tesis, es la capacidad para medir fuerzas de inercia [38]. El comportamiento del sensor es como
el de la figura 2.10b, la flecha negra es la fuerza de gravedad, mientras que la reaccin del
23
sensor es la flecha gris. En el desarrollo de las pruebas, a la seal de los sensores montados
verticalmente se les sumaba un g para tener un valor en reposo igual a cero.
Adems, este tipo de acelermetros cuenta con una opcin de auto-test que puede apreciarse
en la Figura 2.6, y que al activarla genera una fuerza electrosttica equivalente al 20% de la
escala total del acelermetro.
La tecnologa de fabricacin de acelermetros MEMS ha venido evolucionando
constantemente y en la actualidad es posible obtener acelermetros del tipo MEMS triaxiales.
Aunque los anchos de banda y rangos de medicin continan siendo limitados. Otra
importante limitante es su baja relacin seal/ruido comparada con los acelermetros
piezoelctricos.
2.4 Conclusiones
Se han expuesto conceptos para entender las seales de vibracin, as como algunas
caractersticas de los acelermetros para cuando se realice la comparacin entre piezoelctricos
y MEMS. Ambos tipos de acelermetros utilizan como principio de funcionamiento la segunda
ley de Newton, que establece que la fuerza que experimente un cuerpo ser proporcional a la
masa multiplicada por la aceleracin a la que este siendo sometido.
Los acelermetros MEMS se presentan como una alternativa en el campo del diagnstico de
maquinaria, ya que a pesar de no contar con los mismos niveles de desempeo de los
piezoelctricos ya establecidos en el mercado, su costo es mucho menor; lo que facilitara la
instalacin de un mayor nmero de estaciones de monitoreo permanente.
24
Captulo 3
Diagnstico y Causas de Fallas en
Rodamientos Usando Tcnicas
Convencionales
Los rodamientos son dispositivos utilizados para permitir el movimiento relativo entre dos
elementos de una mquina, se suelen usar para guiar y reducir la friccin de una flecha en una
mquina rotatoria. Los tipos y aplicaciones de los rodamientos son muy diversos, pero en
cuestin de elementos giratorios, estos se pueden encontrar desde en una bicicleta hasta en los
inmensos taladros para la perforacin del suelo, pasando por motores elctricos y turbinas de
aviones. Hasta comienzos de la segunda guerra mundial, el diseo y aplicacin de rodamientos
era ms un arte que una ciencia [45], pero con la exigencia de equipos ms eficientes se hizo
patente la necesidad de realizar estudios ms precisos sobre el diseo, la fabricacin y el
comportamiento de los rodamientos.
La falla de un rodamiento puede dar lugar a un paro no previsto de la mquina. Cada hora
da que el equipo est parado a consecuencia de una falla prematura en el rodamiento, puede
reflejarse en costosas prdidas de produccin; especialmente en las industrias que emplean ms
maquinaria que factor humano. Ante esta situacin, los fabricantes se esfuerzan da a da para
ofrecer rodamientos de larga duracin; no obstante, la calidad del rodamiento por si sola no
puede asegurar un funcionamiento sin problemas. Existen otros factores que afectan la
duracin de un rodamiento, tales como: el entorno de funcionamiento, la instalacin y
mantenimiento, etc. [1], [7], [29], [46].
A medida que el costo y la complejidad de las mquinas aumentan, la aplicacin de mtodos
fiables de mantenimiento resulta cada vez ms importante. Estos mtodos se han enfocado
principalmente a desarrollar una filosofa de mantenimiento (integracin del personal) y a la
utilizacin de tcnicas de mantenimiento predictivo: anlisis de vibraciones, temperatura,
corrientes, sonido, etc. El anlisis de vibraciones es la tcnica ms utilizada en el diagnstico de
25
rodamientos ya que suele proporcionar informacin ms especfica del origen de la falla. Sin
embargo, en algunas aplicaciones se recomienda realizar una integracin de diferentes tcnicas
con el objetivo de obtener un diagnstico ms confiable [24], [25], [26], [27], [31].
Sin lugar a dudas, muchos de los avances originados en el rea de diagnstico de mquinas, se
han llevado a cabo gracias a las mejoras en los sistemas basados en computadora
(microprocesadores); los cuales han permitido implementar nuevas tcnicas del procesamiento
digital de seales. La aplicacin de estas nuevas tcnicas implica, no solo conocer el algoritmo
de procesamiento, sino tambin contar con los conocimientos bsicos de la naturaleza de la
maquinaria en la que se va a trabajar. Es por ello, que en este captulo se presentan algunas
definiciones y tipos de rodamientos. Existen algunos tipos de rodamientos que permiten
traslacin, es decir un movimiento lineal; sin embargo, la informacin hace referencia a los
utilizados en maquinaria rotativa.
3.1 Terminologa de los rodamientos

Conocer la terminologa usada en el rea de rodamientos, como en cualquier otra rama de la
ciencia, es importante, ya que permite entender los tecnicismos utilizados en dicha rea. Es por
ello, que a continuacin se presentan definiciones bsicas usadas en los textos de rodamientos,
las cuales, en algunos casos, se detallan utilizando esquemas de construccin y de montaje de
rodamientos. Informacin detallada acerca de otros tipos de rodamientos, trminos y
definiciones, pueden encontrase en ISO 5593:1997 en los catlogos de los fabricantes de
rodamientos.
3.1.1 Trminos y definiciones.

Existen diferentes diseos de rodamientos, sin embargo, todos ellos estn compuestos de
cuatro elementos; los cuales se muestran en la Figura 3.1. Para facilitar el entendimiento, a
continuacin se describe cada componente:
Pista interna. Se refiere al camino sobre el cual ruedan las bolas o rodillos. Este camino, se
encuentra en toda la periferia externa del anillo ms pequeo (o interior) del rodamiento. El
anillo interior se ocupa para fijar el rodamiento sobre la flecha o eje.
Pista externa.- Es el camino en sobre el cual ruedan las bolas o rodillos. Este camino, se
encuentra en toda la periferia interna del anillo ms grande (o exterior) del rodamiento. El
anillo exterior se ocupa para sujetar el eje y a la vez permitirle girar libremente.
Elemento rodante. Se refiere al elemento que permite la movilidad entre los dos anillos y por
ende, entre los dos elementos mecnicos, pueden ser bolas (como en el caso de los
rodamientos utilizados en esta tesis), pero tambin existen en forma de rodillos o cilindros y
tambin existen combinaciones de ambos. As pues, cuando se hace mencin a rodamientos de
bolas o rodamientos de rodillos, se hace referencia a la forma de los elementos rodantes que
componen dicho rodamiento.
26
Captulo 3. Diagnstico y Causas de Fallas en Rodamientos Usando Tcnicas Convencionales
Jaula. Es un componente (especie de barandal) que permite mantener a los elementos

rodantes separados entre si.
Figura 3.1 Componentes de un rodamiento.
Dimetros. En un rodamiento existen diferentes dimetros, pero los dos que suelen ser de
vital importancia son el dimetro nominal exterior (de) y el dimetro nominal del agujero (dA);
el primero se usa para determinar el espacio radial necesario de las chumaceras, y el interior es
el que se toma en cuenta para el tamao de la flecha o eje, se muestran en la Figura 3.2
Figura 3.2 Dimetros de un rodamiento.
Dimetro de paso (D). Es el dimetro a lo largo del cual los centros de los elementos
rodantes giran, mostrado en la Figura 3.2. En otras palabras, es la distancia mxima entre los
centros de los elementos rodantes ms alejados.
Vida media de un rodamiento. Se define como el nmero de revoluciones (o de horas a una
determinada velocidad constante) que el rodamiento puede dar antes de que se manifieste el
primer signo de fatiga en uno de sus aros o elementos rodantes.
Vida nominal. Este valor esta basado en la vida alcanzada o sobrepasada por el 90% de
rodamientos idnticos de un grupo suficientemente grande. La vida media de los rodamientos
es aproximadamente cinco veces la vida nominal.
ngulo de contacto (). Es el ngulo que forman la lnea virtual que atraviesa los puntos de
contacto (punto de contacto que se produce entre los elementos rodantes con los anillos) y el
eje del rodamiento, como se aprecia en la Figura 3.3. El rodamiento de una sola hilera de bolas,
tiene generalmente un ngulo de contacto de cero grados (para cargas nicamente radiales) o
27
algunos grados (si combina cargas axiales y radiales). Un rodamiento de bolas de contacto
angular tiene entre 15 y 30 grados de ngulo de contacto [47].
Figura 3.3 Angulo de contacto ().
Magnitud de la carga. Es la carga a la que el rodamiento ser sometido, existen cargas

dinmicas y estticas; este es uno de los factores que suele tener una gran importancia al
momento de seleccionar el rodamiento a utilizar, ya que por ejemplo, para rodamientos de las
mismas dimensiones, los de rodillos soportan una mayor carga que los de bolas.
Sentido de la carga. Se refiere al sentido en el que el rodamiento experimentar la mayor
fuerza, puede ser axial, radial o una combinacin de ambas, como se ve en la Figura 3.4.
Figura 3.4 Cargas axiales y radiales en un rodamiento.
Carga dinmica (C). Este valor expresa la carga que puede soportar un rodamiento
alcanzando una vida nominal de un milln de revoluciones; se usa para los clculos en los que
intervienen rodamientos sometidos a esfuerzos dinmicos, es decir, al seleccionar un
rodamiento que gira sometido a una carga.
Carga esttica (C0). Se usa en los clculos cuado los rodamientos van a girar a velocidades
muy bajas, cuando estarn sometidos a movimientos lentos de oscilacin o cuando estarn
estacionarios bajo carga durante cierto periodo de tiempo; tambin se toma en cuenta este
valor cuando sobre un rodamiento sometido a esfuerzos dinmicos actuarn elevadas cargas
de choque de corta duracin.
Zona de carga. Se define como la zona en la que ocurren los mayores esfuerzos, la forma y
disposicin de esta zona vara de acuerdo a si la mquina se encuentra montada en sentido
vertical u horizontal.
28
Velocidad de operacin. Es la velocidad mxima a la cual un rodamiento puede funcionar de

forma segura y esta limitada por la temperatura mxima permisible de funcionamiento. En las
tablas aparece como velocidad nominal, su valor varia tambin segn el tipo de lubricante
utilizado. Los rodamientos de alta precisin con jaulas especiales son los que permiten las
velocidades ms altas.
Rigidez. La rigidez de un rodamiento se caracteriza por la magnitud de la deformacin elstica
del rodamiento cargado; en la mayora de los casos este valor es muy pequeo y puede
despreciarse, no as en mquinas-herramientas o en transmisiones de engranajes cnicos donde
se vuelve un factor importante.
Carga mnima. Con el fin de lograr un funcionamiento satisfactorio, los rodamientos rgidos
de bolas, como todos los rodamientos de bolas y rodillos, se deben someter siempre a una
carga mnima determinada, particularmente si han de funcionar a altas velocidades o estn
sujetos a altas aceleraciones o cambios rpidos en la direccin de carga. Bajo tales condiciones
las fuerzas de inercia de las bolas y la jaula, y el rozamiento en el lubricante, pueden perjudicar
las condiciones de rodadura de la disposicin de rodamientos y pueden causar movimientos
deslizantes dainos entre las bolas y los caminos de rodadura.
Precarga de rodamientos. Se refiere a una holgura de funcionamiento negativa, es decir, un
apriete del rodamiento y sirve para asegurar la aplicacin de una carga mnima sobre el
rodamiento a fin de evitar que se dae como consecuencia de efectos de deslizamiento. La
precarga puede ser axial o radial.
Juego interno. Es la distancia total que puede desplazarse uno de sus aros con relacin al otro
en direccin radial (juego radial) o en sentido axial (juego axial) ambos tipos de muestran en la
Figura 3.5. El juego es de considerable importancia para el funcionamiento satisfactorio del
rodamiento, en los de bolas, deber ser casi nulo o incluso, puede ser conveniente una ligera
precarga.
Figura 3.5 Juegos internos en un rodamiento.
Algunos otros factores que se llegan a tomar en cuenta a la hora de seleccionar un rodamiento
son: el valor de rozamiento, tolerancias y los materiales usados para la construccin de cada
uno los elementos principales del rodamiento.
29
3.1.2 Disposicin de rodamientos.

La disposicin de rodamientos se refiere a la seleccin de un arreglo de rodamientos y de los
elementos adicionales; segn las condiciones de trabajo (espacio disponible, magnitud de la
carga, direccin de la carga, dispositivos que obstruyan la entrada de impurezas, permitan la
sujecin axial y radial del rodamiento etc.); todo enfocado en lograr un correcto
funcionamiento. Existen varios tipos de disposiciones de rodamientos [48], una de ellas se
presenta en la Figura 3.6, donde adems se indican algunos elementos.
1. Rodamiento de rodillos cilndricos.
2. Rodamiento de bolas con cuatro puntos de contacto
3. Soporte para rodamiento (chumacera). Existen de diferentes tipos de acuerdo al
rodamiento a usar, en el caso de esta tesis se utilizaron chumaceras del tipo bipartidas,
con el fin de asegurar una precarga adecuada.
4. Eje
5. Resalte del eje
6. Dimetro del eje. Es este el valor que se utiliza para la seleccin del dimetro interno
del rodamiento a utilizar.
7. Placa de fijacin. Se utiliza para evitar que el rodamiento se desplace en el sentido axial.
8. Sello radial del eje
9. Anillo espaciador. Tiene el mismo objetivo que la arandela de apriete, se puede colocar
a ambos lados del rodamiento
10. Dimetro de la chumacera. Los valores de los dimetros son estandarizados en base al
dimetro exterior del rodamiento a utilizar.
11. Agujero de la chumacera
12. Tapa de la chumacera.
13. Anillo de resorte
Figura 3.6 Ejemplo de elementos usados en la disposicin de rodamientos [1].
30
3.2 Tipos de rodamientos

Los rodamientos se clasifican principalmente segn la direccin en que actu la carga, esto es,
radiales y axiales. Sin embargo, esto no limita a un rodamiento radial a ser utilizado para cargas
axiales; todo depender de la magnitud de la carga y la aplicacin. Existen algunos tipos de
rodamientos que son capaces de soportar cargas axiales y radiales, se les denomina
rodamientos para cargas combinadas [1].
En general, los rodamientos de bolas se recomiendan para cargas de pequeas a moderadas,
mientras que los rodamientos de rodillos se recomiendan para grandes cargas [1]. A
continuacin se describen brevemente los tipos de rodamientos comnmente utilizados en
mquinas rotatorias [49]. Para mayor informacin de un tipo o marca en especifico refirase a
los catlogos de los fabricantes tales como: SKF, NTN, URB, TIMKEN, NSK.
3.2.1 Rodamientos Radiales

Los rodamientos rgidos de una hilera (como el rodamiento SKF-6206 utilizado en este
trabajo) y de doble hilera de bolas mostrados en la Figura 3.7, son los ms utilizados por
soportar cargas radiales considerablemente grandes. Adems, son adecuados para altas
velocidades, requieren poca atencin en servicio y son de bajo costo. Estos tipos de
rodamientos comnmente se fabrican con placas de proteccin o placas de obturacin de bajo
rozamiento, los cuales impiden la entrada impurezas en los caminos de rodadura. No requieren
ser lubricados y no deben ser calentados antes del montaje, ni se deben lavar por ningn
motivo.
a)
b)
Figura 3.7 Rodamientos rgidos, a) de una hilera de bolas, b) con dos hileras de bolas [48].
En esta clasificacin, tambin se encuentran los rodamientos de bolas a rtula de la Figura 3.8.
Estos tienen dos hileras de bolas con un camino de rodadura esfrico comn en el aro exterior.
Esta caracterstica confiere al rodamiento la propiedad de ser autoalineable, lo que permite
desviaciones angulares del eje con relacin al soporte. Son por tanto, especialmente adecuados
para aplicaciones en las cuales se pueden producir desalineaciones por errores de montaje o
por flexin del eje.
a)
b)
Figura 3.8 Rodamiento de bolas a rtula, a) autoalineable, b) autoalineable con anillo interior extendido [48].
31
Los rodamientos de contacto angular mostrados en la Figura 3.9 se utilizan para soportar
cargas combinadas, Esto se debe a que tienen los caminos de rodadura de sus aros interior y
exterior desplazados uno de otro en la direccin del eje del rodamiento.
a)
b)
c)
Figura 3.9 Rodamientos de bolas de contacto angular, a) con cuatro puntos de contacto, b) de alta precisin, c)
de doble hilera-anillo interior de una pieza [48].
Para altas velocidades y grandes cargas radiales, se utilizan los rodamientos de rodillos
cilndricos, como los de la Figura 3.10. Estos encuentran su aplicacin en mquinasherramientas y trenes de laminacin. Su capacidad de absorber las desalineaciones angulares del
aro interior con respecto al exterior esta limitada a algunos minutos angulares.
a)
b)
c)
Figura 3.10 Rodamientos de rodillos cilndricos, a) de cuatro hileras, b) de llenado completo de una hilera, c) de
llenado completo de doble hilera [48].
Los rodamientos de aguja en la Figura 3.11, son rodamientos de rodillos cilndricos cuyos
rodillos se caracterizan por ser finos y largos en relacin a su dimetro, por lo que se les
denomina agujas. A pesar de la seccin transversal tan pequea de estos rodamientos, tienen
una gran capacidad de carga radial y por tanto, son particularmente adecuados para aquellas
disposiciones en las que se tiene de un espacio radial limitado.
a)
b)
c)
d)
Figura 3.11 Rodamientos de agujas, a) de aguja combinado, b) de aguja autoalineable, c) ensamble de rodillos de
aguja y su jaula, d) de agujas con pestaa [48].
3.2.2. Rodamientos Axiales

Existen dos tipos de rodamientos axiales, el de simple efecto y el de doble efecto. Ambos tipos
no soportan cargas radiales. El rodamiento axial de bolas de simple efecto mostrado en la
32
Figura 3.12a, solo permite fijar la flecha en un solo sentido, mientras que el rodamiento de
bolas de doble efecto mostrado en la Figura 3.12b, permite fijar la flecha en ambos sentidos.
a)
b
Figura 3.12 Rodamientos axiales de bolas, a) de simple efecto, b) de doble efecto [48].
Los rodamientos axiales de rodillos cilndricos como el de la Figura 3.13 son de simple efecto.
Estos son adecuados para disposiciones que tengan que soportar grandes cargas axiales y en las
que se requiera insensibilidad a las cargas de choque, rigidez y un espacio axial mnimo. Se
emplean principalmente cuando la capacidad de carga de los rodamientos axiales de bolas es
inadecuada.
Figura 3.13 Rodamiento axial de rodillos cilndricos [48].
Los rodamientos axiales de agujas de la Figura 3.14 son de simple efecto. Estos soportan
grandes cargas axiales, son insensibles a las cargas de choque y proporcionan disposiciones
rgidas de rodamientos que requieren un espacio axial mnimo. Para un mismo dimetro
interior, los rodamientos de agujas requieren menor espacio axial comparado con un
rodamiento de rodillos cilndricos.
Figura 3.14 Rodamiento axial de agujas [48].
En los rodamientos axiales de rodillos a rtula de la Figura 3.15a, la carga se transmite de un

camino de rodadura al otro formando un ngulo con el eje del rodamiento mostrado en la
Figura 3.15 b. Por consiguiente, a diferencia de todos los dems rodamientos axiales; los de
rodillos a rtula son adecuados para absorber cargas radiales y axiales simultneamente. Otra
caracterstica de estos rodamientos es su propiedad de autoalineacin, lo cual los hace
insensibles a las flexiones del eje y a los errores de alineacin entre eje y alojamiento.
a)
b
Figura 3.15 a) Rodamiento axial de rodillos a rtula, b) ngulo formado por la transmisin de la carga [48].
33
3.2.3. Rodamientos Tipo Y

Los rodamientos tipo Y, tambin llamados rodamientos insertables; son rodamientos rgidos
de bolas, los cuales estn sellados en ambas caras. Adems, cuando son montados en
alojamientos tipo Y, son capaces de compensar errores iniciales de alineacin, pero, no
permiten desplazamiento axial y por tanto no son adecuados como apoyos libres. Los
rodamientos deben estar prximos entre si, o bien montar los soportes en armazones de chapa
flexibles para evitar que los rodamientos queden sometidos a esfuerzos, por ejemplo los que
resultan por la dilatacin trmica del eje. Sus caractersticas especiales permiten su aplicacin
en maquinaria agrcola, equipos de construccin, mquinas textiles, ventiladores, etc. Existen
cuatro mtodos para localizar los rodamientos Y sobre el eje, los cuales pueden observarse en
la figura 3.16.
Figura 3.16 Rodamiento tipo Y, a) con manguito de fijacin, b) con anillo de fijacin excntrico con prisionero,
c) con prisioneros de fijacin, d) con anillo interior normal [48].
3.3 Principales causas y tipos de fallas en

rodamientos
La falla de un rodamiento se puede producir por muchas razones, como el hecho de soportar
cargas mayores para las que fue diseado, el empleo de obturaciones ineficaces o ajustes
demasiados apretados que originan un juego interno demasiado pequeo del rodamiento,
desalineamiento, desbalanceo, etc. [1], [7], [29], [46]. Cada uno de estos factores produce un
particular tipo de dao y deja una huella nica en el rodamiento. Por consiguiente, examinado
el rodamiento daado se podra determinar la causa del dao y en base a esto, tomar acciones
preventivas que eviten su repeticin.
3.3.1 Desalineamiento
Este tipo de problema se produce cuando el eje motriz y el conducido no tienen la misma lnea
de centro. La condicin no coaxial puede ser: un desalineamiento paralelo como el de la Figura
3.17a un desalineamiento angular como en la Figura 3.17b. El desalineamiento causa que los
rodamientos se encuentren sometidos a magnitudes de cargas mayores para el cual fueron
diseados; provocando con ello, que el rodamiento falle por fatiga. La expansin trmica de los
ejes, las fuerzas transmitidas por tuberas y las cimentaciones desniveladas son algunos de los
factores que pueden producir el desalineamiento.
34
Figura 3.17 Desalineamiento a) paralelo, b) angular [7], [29].
Para diagnosticar este tipo de problemas, comnmente se utiliza el anlisis de la PSD y la

medicin de la fase. El desalineamiento angular provoca un alto nivel vibracin axial en la
frecuencia de operacin (1X), mientras que cuando existe desalineamiento paralelo, se produce
un alto nivel vibracin radial en dos veces la frecuencia de operacin (2X) [29]. No obstante
normalmente se presentan ambos tipos de desalineamiento, por lo que es necesario analizar las
mediciones axial y radial; en el primer y en el segundo armnico de la frecuencia de operacin.
En la mayora de los casos, una amplitud ms alta que la normal en 1X/2X indica un
desalineamiento. Una alta amplitud en 2X puede variar desde 30 hasta 200% de la amplitud de
1X. Los siguientes puntos son considerados para la deteccin de una falla por desalineamiento
[29].
1. En la Figura 3.18, cuando las amplitudes en 2X se encuentren debajo del 50 % respecto
a 1X, son comnmente aceptables y a menudo pueden operar por un largo tiempo sin
ningn problema.
Figura 3.18 Espectro de una falla por desalineamiento. La amplitud de 2x es menor al 50 % de 1X.
2. La Figura 3.19 muestra la situacin cuando la amplitud de la vibracin en 2X esta entre

el 50 y el 150 % respecto a 1X, es probable que exista un dao en el acoplamiento.
Figura 3.19 Espectro de una falla por desalineamiento. La amplitud de 2x es mayor al 50 % de 1X, pero menor al
150 % de 1X
35
3. Una mquina cuya amplitud de vibracin en 2X sea mayor al 150% respecto a 1X

como el de la Figura 3.20, tiene un desalineamiento severo. El problema debe ser
corregido tan pronto como sea posible.
Figura 3.20 Espectro de una falla por desalineamiento. La amplitud de 2x es mayor al 150 % de 1X.
La medicin de la fase consiste en medir las vibraciones axiales y radiales en el acoplamiento,

como se muestra en la Figura 3.21. El desalineamiento provoca un defasamiento de 180 tanto
en las vibraciones axiales como radiales [29].
Figura 3.21 Colocacin de acelermetros para la deteccin del desalineamiento.
3.3.2 Desbalanceo
El desbalanceo es una condicin que se produce cuando no existe una distribucin uniforme
de la masa alrededor del centro de giro del rotor cuando el peso del rotor flexiona al eje que
lo soporta. Estas dos causas de desbalanceo provocan que el centro de gravedad del rotor no
coincida con su centro de rotacin, permitiendo con ello, la generacin de fuerzas y momentos
de inercia indeseables sobre los rodamientos. En la Figura 3.22 se muestran los cuatro tipos de
desbalance: el desbalance esttico, desbalance por par de fuerzas, desbalance casi-esttico y el
desbalance dinmico. Estos se describen como sigue:
Desbalance esttico: Esta condicin se presenta cuando el eje longitudinal principal de
inercia del rotor esta desplazado paralelamente con respecto al eje de rotacin.
Desbalance por par de fuerzas: Se presenta cuando el eje principal longitudinal de inercia del
rotor intercepta al eje de rotacin en el centro de gravedad del rotor.
36
Desbalance casi-esttico: Ocurre cuando el eje longitudinal principal de inercia del rotor
intercepta al eje de rotacin en un punto arbitrario o sea, un punto que no coincide con el
centro de gravedad del rotor.
Desbalance dinmico: Se presenta cuando el eje longitudinal principal de inercia del rotor no
intercepta al eje de rotacin y tampoco es paralelo a ste.
Figura 3.22 Tipos de desbalance, a) esttico, b) par de fuerzas, c) casi-esttico, d) dinmico [7].
El desbalance esttico se presenta en rotores de pequea longitud axial, tales como rotores de
ventiladores, impelentes de bombas, engranes, poleas, etc. Los tipos restantes de desbalance
ocurren en rotores de grande longitud axial, tales como los rotores de motores elctricos de
gran potencia [50], [51].
Todos los tipos de desbalance son detectados midiendo la frecuencia y la fase de la seal de
vibracin. En el espectro, el problema de desbalance se identifica por un incremento en 1X. La
explicacin de este efecto es la siguiente: cuando el rotor tiene una masa concentrada a cierta
distancia con respecto al centro de rotacin de ste, ambos factores se combinan con la
velocidad de rotacin para producir un vector de fuerza de cierta magnitud y cierta posicin. Si
el rotor posee ms de una concentracin de masa, se tendr un vector de fuerza resultante.
Todo esto conduce al hecho de que, como el vector de fuerza gira con el rotor, entonces se
genera una vibracin a la propia frecuencia de rotacin. La amplitud de la componente en 1X,
se puede ver amplificada por los efectos de aflojamiento o resonancias y atenuadas por la
influencia de la masa, rigidez y/o amortiguamiento.
La medicin de la fase consiste en medir la vibracin vertical y horizontal en los extremos de
las mquinas. Si las lecturas de fase reportan que el rotor esta vibrando en el plano vertical en
forma similar (seales en fase) a como lo hace en el plano horizontal, entonces este
comportamiento es indicativo de la presencia de un desbalance. Adems, si la causa del
problema es el desbalance, entonces la amplitud de la vibracin ser mayor donde menor sea
la rigidez de la chumacera.
37
3.3.3 Inicio de una falla y tipos de fallas

La fatiga en los componentes de un rodamiento, esta en funcin del nmero de revoluciones
que ha efectuado, la magnitud de la carga, lubricacin y la limpieza del lubricante. La fatiga es
el resultado de esfuerzos de cizallamiento, y aparecen cclicamente, inmediatamente por debajo
de la superficie que soporta la carga [46]. Despus de cierto tiempo, estos esfuerzos originan
grietas que se extienden gradualmente hasta alcanzar la superficie. A medida que los elementos
rodantes van pasando sobre las grietas, se produce el desprendimiento de fragmentos de
material y a este hecho se le conoce con el nombre de desconchado. El desconchado inicial
generalmente es muy leve. No obstante, el aumento de los esfuerzos en los bordes y los
fragmentos transportados por el lubricante en circulacin hacen que el rea desconchada se
propague, como se puede apreciar en la Figura 3.23. Este tipo de dao de los rodamientos es
un proceso de degradacin relativamente largo que se hace notar por un incremento del ruido
y las vibraciones de la maquinaria, alertando al usuario con suficiente anticipacin para que
cambie el rodamiento antes de que falle totalmente.
Figura 3.23 Etapas progresivas del desconchado [46].
Existen diversas causas de fallas, pero todas generan ya sea un desconchado o una grieta en sus
componentes. En las Figuras 3.24 y 3.25 se presentan fotografas de los diferentes aspectos de
estas fallas y sus causas.
a) Anillo interior de un rodamiento de bolas de

contacto angular. El desconchado ocurre alrededor de
la superficie de la pista. La causa se debe a la
lubricacin inadecuada, a consecuencia de la entrada de
lquidos que degradan las propiedades del lubricante.
b) Anillo interior de un rodamiento de bolas de contacto

angular. El desconchado ocurre de forma diagonal sobre
la superficie de la pista. La causa se debe a mala alineacin
entre el eje y la chumacera.
c) Anillo interior de un rodamiento rgido de una hilera

de bolas. El desconchado ocurre sobre la superficie de
d) Anillo interior de un rodamiento de rodillos esfricos.
la pista en el camino de rodadura. Se observan
Desconchado ocurre sobre una pista de la circunferencia
abolladuras debido al impacto de cargas durante el
completa. Comnmente producida por lubricacin
montaje.
inadecuada.
Figura 3.24 Fallas por desconchado y sus causas [52].
38
a) Anillo exterior de un rodamiento de rodillos

cilndricos de doble hilera. Las grietas trmicas ocurren
sobre un costado de la cara del anillo. La causa es la
generacin anormal del calor debido a contacto de
deslizamiento entre la parte coincidente y la cara del
anillo.
b) Anillo interior de un rodamiento de rodillos a

rtula fracturado transversalmente seguido de
adherencias en una cara. El anillo se coloc junto a
un espaciador que no tuvo el ajuste suficientemente
fuerte sobre el eje. Consecuentemente el espaciador
ha girado con relacin al eje y al anillo del
rodamiento.
c) Anillo exterior de un rodamiento de rodillos

d) Anillo interior de un rodamiento de rodillos a
cilndricos de doble hilera. Las grietas se propagan en
rtula con corrosin de contacto y rotura
las direcciones axiales y circunferenciales desde el
transversal. La corrosin ha originado la rotura.
origen del desconchado sobre la superficie de la pista.
El desconchado ocurre a consecuencia de un
desperfecto y a impactos de cargas.
Figura 3.25 Fallas por grietas y sus causas [46,] [52].
3.4 Anlisis de vibracin

El diagnstico de la condicin mecnica de una mquina mediante el anlisis de sus
vibraciones, se basa en que las fallas generan fuerzas dinmicas que alteran su comportamiento
vibratorio. La vibracin obtenida de diferentes puntos de la mquina, se analiza utilizando
diversas tcnicas buscando indicadores vibratorios que mejor caractericen la falla. Entre los
indicadores vibratorios utilizados se encuentran: la estimacin de la PSD, la medicin de fase
de componentes vibratorias, los promedios sincrnicos y modulaciones, etc. [6], [28], [29].
Estos indicadores ofrecen nicamente una idea sobre cul es el problema especfico, ya que en
la mayora de los casos, las fallas pueden tener sntomas similares. Para ilustrar la situacin,
supngase que el sistema de monitoreo de la mquina detecta un cambio en la amplitud de la
componente vibratoria a 1X; sntoma que puede tener su origen en numerosos problemas:
desbalance, desalineamiento, holguras mecnicas, eje agrietado, pulsaciones de presin,
resonancia, etc. [6].
Un sensor situado en una mquina recoger una seal compuesta por una gama de frecuencias
muy amplia, desde bajas frecuencias a frecuencias muy altas. Estas seales se pueden dividir en
tres categoras [1]:
39
1) Baja frecuencia (0 a 2kHz)

2) Alta frecuencia (2 a 50kHz)
3) Muy alta frecuencia (ms de 50 kHz.).
Las vibraciones de baja frecuencia, son las causadas por vibraciones de la estructura y fallos de
la instalacin tales como falta de alineacin, desequilibrios, falta de fijacin de los montajes, as
como zonas deterioradas de los rodamientos. Las vibraciones de alta frecuencia, ocurren cada
vez que una bola pasa sobre uno de los defectos del rodamiento. Este hecho genera pequeos
impulsos que transmiten energa al alojamiento del rodamiento, est responder a su frecuencia
natural, amortiguada por el efecto de la estructura mecnica. Si se comparan los espectros en
frecuencia obtenidos durante un determinado periodo de tiempo, es posible detectar un
aumento en la amplitud en una de las frecuencias naturales de vibracin; aumento que puede
estar motivado por un defecto en el rodamiento. Las seales de vibracin de muy alta
frecuencia se encuentran en la regin de emisin acstica, y solo estn producidas por el paso
de las bolas por los defectos del rodamiento.
Con respecto a las fallas en rodamientos, cada uno de los componentes del rodamiento
presenta una frecuencia de falla nica y se estn definidos por las ecuaciones tericas
presentadas en la Tabla 3.1 [1], [7], [10], [16], [29], [30], [32].
Componente
Tabla 3.1 Frecuencias de fallas en los componentes de un rodamiento

Frmula
Pista interior
Pista exterior
Jaula
Elementos
rodantes
n N
d
1 + cos
2 60 D
n N
d
FPE =
1 cos
2 60 D
FPI =
FJ =
N
d
1 cos
120 D
D N d
2
FER =
1 cos
d 60 D
Donde:
D = Dimetro de paso (mm.)
d = Dimetro de bolas (mm.)
= ngulo de contacto entre las bolas y las pistas
N = Velocidad de rotacin(rpm)
n = nmero de elementos rodantes
(3.1)
(3.2)
(3.3)
(3.4)
FPI = Frecuencia de la pista interior

FPE = Frecuencia de la pista exterior
FJ = Frecuencia de la jaula
FER = Frecuencia del elemento rodante
Las frecuencias de falla, son puntos de referencia al analizar el espectro obtenido de las seales
de vibracin de los rodamientos. Puesto que, s en un rodamiento existe un problema, el
espectro proporciona informacin para ayudar a determinar la localizacin del problema, la
causa del problema, la tendencia y hasta que tanto llega a ser critico [29]. Cabe enfatizar que las
frecuencias de falla obtenidas en la prctica pueden variar en algunos Hertz. Las discrepancias
se incrementan cuando los rodamientos tienen cargas de empuje y precargas internas
significativas; esto cambia el ngulo de contacto y causa por ejemplo, que la frecuencia de la
40
pista externa sea ms grande que la calculada [30]. Cuando las frecuencias de fallo calculadas se
observan como picos en el espectro de vibracin de las seales adquiridas, probablemente
existe un defecto en el rodamiento [29].
3.4.1 PSD
El anlisis de espectros, que se define como la transformacin de una seal del dominio del
tiempo hacia el dominio de la frecuencia; tiene sus races a principio del siglo XIX, cuando
varios matemticos lo investigaron desde una base terica. Sin embargo fue un ingeniero el que
desarroll la teora en que estn basadas casi todas las tcnicas modernas de anlisis de
espectros; este ingeniero era Jean Baptiste Fourier. l estaba trabajando para Napolen,
durante la invasin de Egipto en un problema de sobrecalentamiento de caones, cuando
dedujo la famosa Serie de Fourier, para la solucin de la conduccin de calor. Fourier ms
tarde generaliz la Serie de Fourier en la Transformada Integral de Fourier.
La operacin de la Serie de Fourier esta basada en una seal de tiempo que es peridica; esto
es, una seal de tiempo cuya forma se repite en una cantidad infinita de veces. Fourier
demostr que una seal de este tipo es equivalente a una coleccin de funciones senos y
cosenos cuyos frecuencias son mltiplos del recproco del periodo de la seal de tiempo. El
resultado es que cualquier forma de onda, siempre y cuando no sea infinita en longitud, se
puede representar como la suma de una serie de componentes armnicos, y la frecuencia
fundamental de la serie de armnicos es 1 entre la longitud de la forma de onda. Las
amplitudes de los varios armnicos se llaman los coeficientes Fourier, y sus valores se pueden
calcular fcilmente si se conoce la ecuacin para la forma de onda. Tambin se puede calcular
grficamente la forma de onda
Con el surgimiento de la computadora, la teora de la Transformada Integral de Fourier se
tradujo en la Transformada Discreta de Fourier (Discrete Fourier Transform-DFT), y ms
tarde se optimiz el clculo por medio de la FFT (Fast Fourier Transform). En la figura 3.26 se
observa que el incremento en la velocidad de clculo de la FFT es lineal; mientras que para la
DFT es exponencial. Por esta razn la estimacin del espectro se realiza usando la FFT [53].
Figura 3.26 Velocidad de clculo de la DFT y la FFT [53].
41
Con el propsito de ubicar a la PSD en el rea del procesamiento digital de seales, en la Tabla
3.2 se muestran diferentes formas de representar un espectro [34].
Tabla 3.2 Formas de representar un espectro.
Espectro de Fourier
Y y (t )
PSD
DFT
Y ( w)
FFT
1
Y * ( w)Y ( w)
T
B
= B PSD = Y * ( w)Y ( w)
T
= T Potencia _ espectral = B Y * ( w)Y ( w)
=
Potencia espectral
Energa Espectral
Donde:
y(t) = Seal en el dominio del tiempo
Y(w) = Seal en el dominio de la frecuencia
B = Ancho de banda
T = Longitud del vector de datos
El anlisis matemtico de la PSD se presenta en el captulo 4, donde se exponen tambin los

conceptos relacionados con el BIS.
3.4.2 Envolvente
En la mayora de los casos, los impactos de vibracin generados por una falla en un
rodamiento contienen baja energa, y comnmente se ven atenuadas con el ruido de alta
energa y los altos niveles de vibracin de las chumaceras [5], [9]. De ah, que sea difcil
identificar las frecuencias de fallos usando solo la PSD. Para una deteccin ms fcil de estas
fallas, se ha utilizado la tcnica de la envolvente junto con la PSD. La envolvente de la seal de
vibracin, es el contorno que se obtiene uniendo todos los picos del semiciclo positivo. En las
Figuras 3.27 y 3.28, se aprecia cmo esta tcnica permite eliminar las oscilaciones producidas
por la respuesta natural de la chumacera; sin perder la informacin de periodicidad de la
excitacin (impulsos producidos por un defecto en el rodamiento).
8
Aceleracin, g
0.001
0.002
0.003
0.004
0.005
Tiempo seg
0.006
0.007
0.008
Figura 3.27 Semiciclo positivo de la seal de vibracin y su contorno.
42
0.009
0.01
Aceleracin, g
0.001
0.002
0.003
0.004
0.005
Tiempo, seg
0.006
0.007
0.008
0.009
0.01
Figura 3.28 Envolvente de la seal de vibracin
La envolvente de la seal de vibracin se puede obtener ya sea por hardware o software. La

tcnica basada en hardware, mostrada en la Figura 3.29, requiere la implementacin fsica de
filtros y circuitos de rectificacin para detectar los picos del semiciclo positivo. Mientras que la
tcnica basada en software de la Figura 3.30solo utiliza las propiedades de la transformada de
Hilbert [10], [28], [54]. La transformada de Hilbert es una transformacin lineal aplicada a la
seal de vibracin, que da como resultado una funcin analtica con las siguientes propiedades:
1. La parte real coincide con la magnitud de la seal de entrada
2. La parte imaginaria est en cuadratura con la seal de entrada. Esto significa que cada
componente del espectro de la parte imaginaria esta a 90 respecto de la misma
componente de la parte real.
Como la parte imaginaria y real estn en cuadratura, al obtener el modulo de la transformada se
eliminan las componentes de alta frecuencia y solo que queda la envolvente de la seal.
La envolvente de la seal de vibracin contiene informacin frecuencial que podra ayudar a
detectar fallas en rodamientos, sin embargo, en la mayora de los casos para facilitar el
diagnstico es necesario estimar la PSD de la envolvente.
Figura 3.29 Pasos para la obtencin de la envolvente de la seal de vibracin basada en hardware [10].
Figura 3.30 Pasos para la obtencin de la PSD basada en la transformada de Hilbert [10].
43
3.5 Conclusiones
En este captulo se present una breve descripcin de los conceptos utilizados en el rea de
diagnstico de rodamientos. As mismo, se mostraron los aspectos fsicos de las fallas ms
comunes en rodamientos: el desconchado y las grietas. Conocer el aspecto fsico de las fallas
reales fue de vital importancia, ya que esto determin el tipo de falla a estudiar, que
posteriormente se realiz artificialmente. Algunas ventajas del anlisis de vibraciones son:
permite detectar fallos en sus etapas iniciales y, se tiene la capacidad para encontrar el origen
del dao, es decir, proporciona la informacin necesaria para determinar que componente del
rodamiento esta fallando. No obstante, estas ventajas pueden ser afectadas si la seal de
vibracin proveniente del rodamiento se encuentra modulada con la respuesta natural del
sistema mecnico, frecuencia de rotacin con frecuencias de otros componentes del
rodamiento en estudio.
44
Captulo 4
Espectros de Alto Orden (HOS)
En este captulo se presenta la descripcin matemtica de los algoritmos de la PSD y el
biespectro, este ltimo caso especial de los HOS. Aunque la PSD es un espectro de segundo
orden, no se considera como espectro de alto orden. Solo son considerados espectros de alto
orden aquellos que son mayores al de segundo orden. Esta distincin se debe a que los
espectros mayores al de segundo orden permiten, suprimir el rudio gausiano de media y
varianza desconocida; reconstruir la fase y la respuesta en magnitud de las seales o sistemas; y
detectar y caracterizar no linealidades en los datos.
Basicamente, la PSD y el biespectro pueden ser obtenidos por medio de metodos paramtricos
y no paramtricos [17]. Sin embargo, en el desarrollo de este trabajo solo se utlizan los
mtodos no paramtricos; ya que su procesamiento es relativamente ms fcil y rpido. Para
una mejor la comprensin, los conceptos basicos son ejemplificados con las seales de
vibracin provenientes de los rodamientos de estudio.
4.1 Seales o datos aleatorios

Cabe aclarar que a menos que se indique lo contrario, en todo momento se habla de datos de
naturaleza aleatoria o estocstica. Los datos que provienen de un fenmeno aleatorio no
pueden ser descritos por una relacin matemtica explcita, esto se debe a que cada
observacin del fenmeno ser nica; es decir, cualquier conjunto de datos obtenidos de la
vibracin de los rodamientos ser nicamente uno de los posibles resultados que pudieran
ocurrir.
Una seal en el tiempo de un fenmeno aleatorio es llamada una funcin-muestra (o registromuestra cuando se observa sobre un intervalo de tiempo finito) [55]. La coleccin de todas las
posibles funciones-muestra que la vibracin del rodamiento pudiera ofrecer forman la
45
respuesta del proceso aleatorio o estocstico, y es llamada muestra conjunta, como se puede
ver en la Figura 4.1.
Funcin muestra 1
Funcin muestra 2
..
..
Funcin muestra N
Funcin-conjunta o muestra-conjunta
Figura 4.1 Formacin de un conjunto-muestra.
Los procesos aleatorios pueden ser clasificados como se muestra en la Figura 4.2 [55], a
continuacin se describen cada una de estas divisiones; una clasificacin mas general se puede
observar en [13] y [55].
Procesos
Aleatorios
Estacionarios
Ergdicos
No estacionarios
No ergdicos
Clasificaciones
especiales
Figura 4.2 Clasificacin de los procesos aleatorios o estocsticos.
Cuando un fenmeno fsico es considerado como un proceso aleatorio, las propiedades del
fenmeno se pueden describir hipotticamente- en cualquier instante de tiempo, al promediar
los valores de las funciones-muestra que describen el procesos aleatorio [55].
4.1.1 Procesos aleatorios estacionarios

En la Figura 4.3 se muestra una coleccin de funciones muestra obtenidas del rodamiento
daado; el valor medio o promedio (primer momento) de la vibracin en un instante de
tiempo t, se obtiene al tomar los valores instantneos de cada funcin muestra, sumarlos y
dividirlos entre el nmero de funciones muestra analizados.
46
Captulo 4. Espectros de Alto Orden (HOS)
tiempo
tiempo
tiempo
t1
t1 +
Figura 4.3 3 funciones-muestra de la seal de vibracin de los rodamientos.
De manera similar, la correlacin (momento conjunto) entre los valores de una misma seal de
vibracin del rodamiento en dos instantes de tiempo diferentes (llamada entonces funcin de
autocorrelacin) se obtendr al multiplicar los promedios del valor de la vibracin en dos
instantes de tiempo diferentes, es decir, t1 y t1+ como tambin se muestra en la Figura 4.3. El
promedio y la funcin de autocorrelacin de un proceso aleatorio estn dados por [33]:
promedio:
1 N
xk (t1 )
N N
k =1
x (t1 ) = lim
Donde:
(4.1)
N:nmero de elementos
x : valor medio promedio
x k : variable aleatoria
y la autocorrelacin R xx (t1 , t1 + ) se escribe como:
1
N N
R xx (t1 , t1 + ) = lim
x
k =1
(t1 ) x k (t1 + )
(4.2)
Donde la sumatoria final asume que cada una de las funciones-muestra es igualmente probable.
Por lo tanto, si el valor de la media y la autocorrelacin varan conforme vara t1, se dice que el
proceso es no estacionario, por otro lado si el valor de estas funciones no vara conforme lo
hace t1, entonces el proceso es clasificado como estacionario en sentido amplio; en este caso, la
media es una constante y el valor de la funcin de autocorrelacin depende nicamente del
tiempo de desplazamiento . Si se calculan los promedios para cada uno de los registro-muestra
47
y todos ellos son iguales entre si, y adems es igual al promedio de la muestra-conjunta, se dice
que el proceso aleatorio es ergdico.
4.1.2 Procesos aleatorios no estacionarios

Son todos aquellos procesos que no cumplan con los requerimientos de estacionaridad. Las
propiedades de procesos aleatorios no estacionarios son descritos por funciones variantes en el
tiempo, los cuales se obtienen de los promedios instantaneos de todas las funciones-muestra
que compongan el proceso. Como en la prctica no es factible obtener una cantidad adecuada
de registros-muestra para obtener un medicin confiable de las propiedades del proceso, no se
han desarrollado tcnicas prcticas para la medicin y anlisis de estos procesos [55].
En la mayoria de los casos, los datos producidos por los procesos aleatorios no estacionarios
se pueden clasificar en categorias especiales de estacionaridad que ayudan a simplificar la
medicin y el anlisis de este tipo de procesos. Por ejemplo, algunos procesos no estacionarios
podrian ser descritos por la combinacin de un proceso aleatorio estacionario y un factor de
multiplicacin determinstico.
4.2 Anlisis de procesos aleatorios

Para analizar y describir las propiedades de los datos obtenidos de procesos aleatorios se
utilizan procedimientos estdisticos, que difieren de las consideraciones utilizadas para datos
definidios slo por una funcin variante en el tiempo, llamados determinsticos. Las siguientes
propiedades y definiciones se aplican para datos aleatorios estacionarios.
4.2.1 Variable aleatoria

En la teora de probabilidad, una variable aleatoria (v.a.) escalar x(k ) es considerada una
funcin conjunta definida para k puntos del espacio muestral, que representa la coleccin de
las posibles salidas. Cuando la variable aleatoria x(k ) puede asumir slo un nmero finito de
valores en cualquier intervalo finito de observacin, se dice que x(k ) es una variable aleatoria
discreta. Si en cambio, la variable aleatoria x(k ) puede tomar cualquier valor en el intervalo de
observacin, se dice que la misma es una variable aleatoria continua. En seguida se muestran
las propiedades de las variables aleatorias, para ello es necesario realizar una descripcin
probabilstica de las mismas. Para una variable aleatoria x(k ) , se puede definir su probabilidad
en funcin de un valor x, es decir la probabilidad del evento x(k ) x. Esta probabilidad se
denota como [55]:
(4.3)
P rob[x(k ) x ]
Donde: P rob[x(k ) x ] : Probabilidad del evento x(k ) x.
x(k ) : Variable aleatoria (el valor de la seal de vibracin en este caso).
x : Valor cualquiera, dentro del rango de valores que la variable puede tomar.
48
4.2.2. Funcin de distribucin de probabilidad.

De la ecuacin 4.3, es claro que la probabilidad es funcin de la variable x. Se define entonces
la funcin de distribucin de probabilidad P(x) como [55]:
P (x) = P rob[x(k ) x ]
(4.4)
llamada simplemente funcin de distribucin de la variable aleatoria x(k ) . Esta funcin asigna
una probabilidad al conjunto de valores que satisfacen la desigualdad. Debe notarse que la
funcin de distribucin de probabilidad es una funcin de la variable independiente x, no de la
variable aleatoria x(k ) .Para cada valor de x, P(x) expresa una probabilidad. Para entender esto,
se ejemplifica con las vibraciones obtenidas del rodamiento sin falla, con falla y sus respectivas
funciones de distribucin en la Figura 4.4.
a) Vibracin del rodamiento sin falla.
b) Funcin de distribucin del rodamiento sin falla.
c) Vibracin del rodamiento con falla.
d) Funcin de distribucin del rodamiento con falla.
Figura 4.4 Vibraciones y funciones de distribucin de los rodamientos analizados.
En las grficas de la funcin de distribucin, el eje de las abcisas corresponde a la magnitud de

la vibracin en gs; mientras que las ordenadas indican la funcin de distribucin
correspondiente. En la Figura 4.4d, se observa de manera mas clara los niveles de vibracin
que se alcanzan con el rodamiento daado y que son alrededor de 3 veces mas grande que en la
Figura 4.4b, cuando el rodamiento no tiene falla. Aunque las grficas de la funcin de
distribucin no aportan informacin adicional respecto al nivel de vibracin mostrada en la
49
seal temporal, si la presentan de manera ms clara. La desventaja que tiene este procedimiento
es que se necesitan registros de cundo la mquina se encontraba en buena condicin para
poder tener un punto de referencia.
4.2.3 Funcin de densidad de probabilidad

Una descripcin alternativa de la probabilidad de una variable aleatoria x(k ) se logra usando la
derivada de P(x) para obtener la funcin de densidad de probabilidad de la variable aleatoria
x(k ) [55].
dP ( x)
(4.5)
p ( x) =
dx
Representa la razn de cambio de la probabilidad de aparicin de un valor en especifico dentro
del conjunto de datos. El rea bajo la curva de la funcin de densidad de probabilidad ser la
unidad porque representa la probabilidad de que los datos obtenidos tomen un valor entre
y +. De manera ms simple, esta funcin indica la proporcin del tiempo que una seal est
entre dos valores dados [33]. El trmino densidad de probabilidad, considera que la
probabilidad de que x1 x(k ) x2 es [33]:
P( x1 x(k ) x2 ) =
x2
p( x)dx
(4.6)
x1
Tomando nuevamente las seales de vibracin de los rodamientos, en la Figura 4.5 se

muestran las respectivas densidades de probabilidad para un rodamiento sin falla y uno con
falla. En el eje de las abcisas se presentan los niveles de vibracin (en gs) del rodamiento,
mientras que en el eje de las ordenadas se indica la probabilidad de aparicin de los valores de
vibracin.
a) Densidad de probabilidad del rodamiento sin falla b) Densidad de probabilidad del rodamiento con falla
Figura 4.5 Densidad de probabilidad para los dos rodamientos analizados.
En el anlisis de vibraciones, la informacin que proporciona esta funcin puede ser til;
principalmente cuando se establecen lmites permisibles de amplitud. Esto es, permitira
50
evaluar el estado de la mquina con solo comparar la amplitud de la funcin de densidad de

probabilidad; para un estado sin falla respecto a otro con falla.
La interpretacin de estas grficas es similar a las grficas de funcin de distribucin; se puede
observar como en el rodamiento con falla existe una mayor disperisn de los niveles de
vibracin, adems de que los niveles de vibracin de 2 gs se presentan con mayor frecuencia
con respecto al rodamiento sin falla.
4.2.4 Valor esperado

Asumiendo que una variable aleatoria x(k ) , pueda tomar valores en el rango de - a . El
valor medio, tambin llamado valor esperado o promedio de x(k ) , para variables aleatorias
continuas, se define como [55]:
E [x(k )] =
xp( x)dx =
= mx
(4.7)
Donde:
p(x)=funcin de densidad de probabilidad.
y por consiguiente en el caso de variables aleatorias discretas, se tiene
1
N N
E [x(k )] = lim
x(k )
(4.8)
k =1
En ambos casos, E[ ] es el operador de esperanza matemtica, ya sea de un conjunto de datos

o de una funcin, de acuerdo a lo que se encuentre entre los corchetes. Este valor dice la
tendencia central, que no es mas que el promedio simple del conjunto de datos. La esperanza
tiene las siguientes propiedades:
E [z ] = z
Donde:
(4.9)
E [z * x(k )] = zE [x(k )]
(4.10)
E [x(k ) + y (k ) z (k )] = E [x(k )] + E [ y (k )] E [z (k )]
(4.11)
z: constante
x(k ) , y (k ) , z (k ) : variables aleatorias
4.2.5 Varianza
Otra propiedad de las variables aleatorias ampliamente utilizada, es la varianza, la cual se define
como el valor medio cuadrado con respecto a la media.
51
x(k )
] (x E[x(k )])
= Var [x(k )] = E ( x(k ) E [x(k )]) =

2
p( x)dx
(4.12)
Esta funcin representa la dispersin de los valores de los datos, es decir, da una medida del
ancho efectivo de la funcin de densidad de probabilidad en torno a la media. La varianza de
una variable aleatoria es en cierta forma una medida del grado de aleatoriedad de la variable, ya
que da una indicacin de cunto se desva la variable con respecto a su valor medio.
Desarrollando el trmino cuadrtico de la ecuacin 4.12, se tiene:
] [
2 x ( k ) = E ( x ( k ) E [x ( k )])2 = E x ( k ) 2 2 x( k ) E [x ( k )] + (E [x ( k )])2
(4.13)
aplicando las propiedades del operador de esperanza matemtica, la ecuacin 4.13 se expresa
como sigue:
2 x ( k ) = E [x(k ) 2 ] 2 E [x(k )]E [E [x(k )]] + E (E [x(k )])2
(4.14)
Dado que el valor esperado de una constante, es la misma constante, el trmino E [E [x(k )]] es
igual a E [x(k )] y E (E [x(k )])
] es igual a E[x(k )]
por lo tanto,
2 x ( k ) = E [x(k ) 2 ] 2 E [x(k )]2 + E [x(k )]2
(4.15)
2 x ( k ) = E [x(k ) 2 ] E[x(k )]2
(4.16)
y finalmente la varianza es,
De la ecuacin 4.16 se puede ver la relacin entre la varianza y otra descripcin probabilstica
llamada valor medio cuadrtico E x(k ) 2 (definido en el siguiente apartado).
Por su parte, la varianza (Var) tiene las siguientes propiedades:

Var [z ] = 0
Var [x(k ) + z ] = Var [x(k )]
Var [a * x(k ) + z ] = a 2Var [x(k )]

Donde:
(4.17)
(4.18)
(4.19)
a,z: son constantes

x(k ) : es una v.a.
La raz cuadrada de la varianza es la desviacin tpica o estndar, y se expresa como:
x ( k ) = + x2( k )
52
(4.20)
tiene la ventaja sobre la varianza, de que se encuentra en las mismas unidades que la media y
que la variable aleatoria.
4.2.6 Valor medio cuadrtico

Es igual a la varianza mas el cuadrado de la media, constituye una medicin combinada de la
tendencia central y la dispersin. Es importante porque suele utilizarse como un indicador de la
calidad de un estimado.
E x(k ) 2 = 2 x ( k ) + E [x(k )]
(4.21)
4.3 Estadsticas de alto orden

Las herramientas estadsticas presentadas hasta ahora son suficientes para describir bien un
proceso aleatorio (o datos aleatorios), no obstante, puede obtenerse aun ms informacin
acerca de ellos con estadisticas de orden superior. A estas estadsticas se les conoce como
estadsticas de alto orden (HOS, Higher Order Statistics). Cabe sealar que en este trabajo, las
siglas HOS solo se utilizan para nombrar a los espectros de alto orden y no para las estadsticas
de alto orden. Esta distincin fue realizada, ya que los estadsticos de alto orden son
herramientas en el dominio del tiempo, mientras que los espectros de alto orden son en el
dominio de la frecuencia.
Aunque las estadsticas de alto orden no se utilizan explcitamente en este trabajo, a
continuacin se explican los conceptos bsicos; los cuales sern tiles para comprender el
algoritmo de la PSD y biespectro.
4.3.1. Momentos de orden n

Dada una variable aleatoria, los momentos son nmeros (caractersticas numricas), asociados
a ella, que suministran una cierta informacin sobre su comportamiento. Se distinguen los
siguientes dos tipos de momentos:
a) Momentos centrados con respecto del origen
Dada la v.a. x(k ) , con funcin de distribucin P(x), se llamar momento de orden n con
respecto al origen, siendo n un nmero positivo, a mn, definido como:
mn = E x(k ) n = x n dP( x)
(4.22)
cuando x(k ) es una v.a. continua, y:
53
mn = E x(k ) n = i xi P[x(k ) = xi ]
n
(4.23)
cuando x(k ) es un v.a. discreta. Especial importancia se le suele dar al momento de orden 1
con respecto al origen, que recibe el nombre de esperanza de la v.a. x(k ) (ver ecuaciones 4.7 y
4.8).
b) Momentos centrados con respecto de la media
Dada la v.a. x(k ) , con funcin de distribucin P(x) y esperanza E [x(k )] , se le llamar
momento de orden n con respecto a la media, o simplemente momento centrado de orden n a
n, definido como:
n = E ( x(k ) E ( x(k )) )n = ( x x ( k ) ) dP( x)
(4.24)
si la integral existe. Para n = 1, el momento centrado es cero. El momento con respecto a la

media ms utilizado es la varianza (ver 4.16), que es el momento centrado de orden 2. Con las
definiciones anteriores, se puede ver claramente la fuerte relacin entre los momentos y el
esperanza matemtica.
La funcin generadora de momentos de una v.a. x(k ) se define como [55], [56], [57]:
M x ( k ) (t ) = E e tx ( k ) = e tx ( k ) p ( x)dx
(4.25)
para t tal que M x ( k ) (t ) < . Las principales propiedades de esta funcin son:
M x ( k ) (0) = 1
(4.26)
M a +b x ( k ) (t ) = e at M x ( k ) (bt )
(4.27)
E x(k ) n =
d n M x ( k ) (t )
dt n
(4.28)
t =0
M x ( k ) (0) = E [x(k )]
M x ( k ) (0) M x( k ) (0) 2 = Var ( x(k ))
(4.29)
(4.30)
Existe sin embargo un problema relacionado con esta funcion generadora de momentos: y es
que para muchas distribuciones (procesos) E e tx (k ) < solo cuando t=0 y entonces la
Transformada de Laplace no existe; sin embargo, la Transformada de Fourier si, lo que lleva a
la siguiente definicin.
54
Sea i = 1 , la funcin caracterstica de x(k ) es:
x ( k ) (t ) = E [e itx ( k ) ]
(4.31)
donde t
En trminos de la funcin de densidad, la funcin caracterstica es:
p ( x )e
x ( k ) (t ) =
itx
(4.32)
dx
De esta manera, todas las variables aleatorias tienen una funcin caracterstica. Sin embargo,
presenta la gran desventaja de estar representada en numeros complejos. Existe adems, una
funcin llamada funcin generadora de momentos conjuntos y que se utiliza para dos variables
aleatorias. Se define como [55]:
M x ( k ) y ( k ) (t , t1 ) = E etx ( k ) + t1 y ( k ) = etx ( k ) + t1 y ( k ) p( x, y )dxdy
(4.33)
En el caso de que t=t1=0, la Ecuacin 4.33 se vuelve [29]:
] x
E x(k ) n y (k ) r =
y r p ( x, y )dxdy =
n + r M x ( k ) y ( k ) (t , t1 )
t n t1
(4.34)
4.3.1.1 Correlacin y autocorrelacin

La correlacin es una medida de la similaridad entre dos cantidades. Cuando se aplica a seales
de vibracin es un anlisis en el dominio del tiempo, til para detectar seales peridicas
ocultas entre ruido y para determinar alguna informacin relacionada con las caractersticas
espectrales de la seal [33]. La funcin de correlacin se define como:
b b
R x ( k ) y ( k ) = E [x(k ) y (k )] = xyp( x, y )dxdy
(4.35)
a a
en el caso de que la correlacin entre dos variables sea cero ( E [x(k ) y (k )] = 0 ), se dice que las
variables son ortogonales, y entonces no se puede tener idea del comportamiento de una de
ellas en base al comportamiento de la otra. Comparando la ecuacin 4.35, con las ecuaciones
4.33 y 4.34, se observa que la funcin de correlacin es un momento conjunto.
La funcin de autocorrelacin se define como el valor esperado del producto de: una v.a.
aleatoria en un instante t1, por la misma variable desplazada un cierto tiempo ; no es mas que
la funcin de correlacin aplicada a una misma variable, matematicamente se ha define como:
55
1
N N
R xx (t1 , t1 + ) = E [x k (t1 ) x k (t1 + )] = lim
x
k =1
(t1 ) x k (t1 + )
(4.36)
Analizando la funcin de autocorrelacin de la ecuacin 4.36, cuando sea igual a 0, se estar

analizando la seal en el mismo punto, por lo que se tendr una correlacin completa, mientras
se vaya haciendo mas grande, el valor de la correlacin decrecer. Funciones altamente
aleatorias, pierden rapidamente su similaridad dentro de un pequeo desplazamiento de
tiempo; por lo tanto su autocorrelacin tiene una gran amplitud en =0, que decrece
rapidamente con [33]. Para mostrar la rpida prdida de similaridad de los procesos
aleatorios, se presentan los grficos de autocorrelacin de los rodamientos analizados en este
trabajo.
En la Figura 4.6, la escala del rodamiento con falla se toma como referencia. Se puede observar
que en ambos grficos la amplitud decrece conforme se alejan de =0, sin embargo, el
rodamiento con falla presenta una amplitud mayor y un decremento mucho mas rpido; lo que
indica que la seal de vibracin proveniente del rodamiento con falla es mas aleatoria que la
obtenida del rodamiento sin falla.
a) Autocorrelacin del rodamiento sin falla

b) Autocorrelacin del rodamiento con falla
Figura 4.6 Grficos de autocorrelacin de los rodamientos analizados.
4.3.1.2 Covarianza y autocovarianza

Por otro lado, las correlaciones entre los momentos centrados de dos variables aleatorias se
denomina covarianza y se denota como:
Cov( x, y ) = E ( x(k ) m x )( y (k ) m y )
(4.37)
de la ecuacin 4.23 se pueve ver que mx=E[x(k)] y que my=E[y(k)], y por las propiedades del
operador E[ ], se tiene que:
Cov ( x, y ) = E [( x(k ) E [x(k )])( y (k ) E [ y (k )])] = E [x(k ) y (k )] E [x(k )]E [ y (k )] (4.38)
56
en el caso de que x(k ) y (k ) tengan media cero, la covarianza es igual a la correlacin (ver
ecuaciones 4.38 y 4.35).
Cuando las variables aleatorias son de la misma seal pero con un cierto desplazamiento, se
denomina autocovarianza, para un proceso aleatorio x(t ) se define como:
Cov( x, x) = E [( x(t ) m x (t ) )( x(t + ) m x (t + ) )]
(4.39)
o lo que es lo mismo,
Cov( x, x) = R xx (t1 , t1 + ) m x (t1 )m x (t1 + )
(4.40)
sustituyendo mx por E[x(t)], se tiene

Cov ( x, x) = E [x(t ) x(t + )] E [x(t )]E [x(t + )]
(4.41)
Las grficas obtenidas de la funcin de autocovarianza para los rodamientos utilizados en este
trabajo, son similares a las obtenidas aplicando la funcin de autocorrelacin, lo que indica que
el proceso tiene media cero o un un valor cercano a cero.
4.3.2 Cumulantes
Como se ver en este apartado, los cumulantes son una extensin del concepto de correlacin
para mltiples intervalos de tiempo. Si los momentos son la generalizacion de las correlaciones,
los cumulantes son combinaciones especificas no lineales de los momentos [57].
Para procesos aleatorios de media cero, el cumulante de primer orden se escribe como[17]:
c1x = E [x(t )]
(4.42)
c 2 x = E [x(t ) x(t + 1 )]
(4.43)
c3 x = E [x(t ) x(t + 1 ) x(t + 2 )]
(4.44)
El cumulante de segundo orden:
Y el tercero:
Obsrvese que el cumulante de segundo orden es la funcin de autocorrelacin (ver ecuacin

4.36). En el caso de que el proceso sea de media no cero, entonces [17]:
Cumulante de primer orden de media no cero:
c1x = E [x(t ) E [x(t )]]
(4.45)
El cumulante de segundo orden es:
57
c 2 x = E [( x(t ) E ( x(t )) )( x(t + 1 ) E ( x(t + 1 )) )]
(4.46)
Al hacer las operaciones indicadas, el cumulante de segundo orden queda como:
c 2 x = E [x(t ) x(t + 1 )] E [x(t )]E [x(t + 1 )]
(4.47)
que al compararlo con la ecuacin 4.38, se puede ver que el cumulante centrado de segundo
orden es igual a la covarianza. Finalmente el cumulante de tercer orden es:
c3 x = E [( x(t ) E ( x(t )) )( x(t + 1 ) E ( x(t + 1 )) )( x(t + 2 ) E ( x(t + 2 )) )]
(4.48)
E[x(t)]E[x(t +1)x(t +2)] +

c3x = E[x(t)x(t +1)x(t +2)] + 2E[x(t)]E[x(t +1)]E[x(t +2)] E[x(t +1)]E[x(t)x(t +2)] +
E[x(t +2)]E[x(t)x(t +1)]
(4.49)
Si x es una variable aleatoria de un proceso Gaussiano, todos los cumulantes de orden mayor a
2 son iguales a cero [17]. Esta propiedad es particularmente til, ya que permite distinguir
componentes no Gaussianos.
La funcin generadora de cumulantes de una v.a. x se define como [13], [58]:
K x (t ) = log M x (t )
(4.50)
y es el logartmo de la funcin generadora de momentos. Los cumulantes c nx de x estn

definidos como:
tn
(4.51)
c nx (t ) = c x
n =1 n!
una funcin equivalente es:
cn =
d n c nx (t )
dt n t =o
(4.52)
4.3.3 Relacin entre cumulantes y momentos

Existen relaciones matemticas para describir los cumulantes en trminos momentos y
viceversa [17]. Para ello, considrese los siguiente:
Sea x una coleccin de variables aleatorias, esto es, x = col ( x1 , x 2 , x3 ,.....x k ) y
I x = {1,2,3,......k } el conjunto de ndices de los componentes de x. Adems, si I I x (si I es
un subconjunto de Ix), entonces x I es el vector que consiste de estos componentes de x cuyos
ndices pertenecen a I.
58
Considerando lo anterior, el simple momento y cumulante del subvector x I es m x (I ) y c x (I ) ,

respectivamente. La particin del conjunto I es la coleccin desordenada de subconjuntos
I P no intersectados y no vacos, que matemticamente se puede expresar como:
UPIP = I
(4.53)
Por ejemplo, el conjunto de particiones correspondientes para k = 3 es {(1,2,3},

{(2), (1,3)} , {(3), (1,2)} , {(1), (2), (3)}.
{(1), (2,3)} ,
La formula para relacionar momentos con cumulantes es:
cx (I ) =
( 1)
q 1
( q 1)! m x ( I P )
P =1
U Pq =1 I P = I
(4.54)
donde U Pq =1 I P = I denota la sumatoria sobre todas las particiones del conjunto I. En el

ejemplo anterior, q=1 para {(1,2,3}, q=2 para {(1), (2,3)} , {(2), (1,3)} , {(3), (1,2)} , y q=3 para
{(1), (2), (3)}.
Por otra parte, la frmula que relaciona cumulantes con momentos es:
mx (I ) =
U Pq =1 I P = I
P =1
(I P )
(4.55)
Para ilustar el uso de las ecuaciones 4.54 y 4.55, en la Tabla 4.1 se calculan los cumulantes y
momentos para I = {1,2,3,4} .
Algunas propiedades importantes de los momentos y cumulantes son resumidas a
continuacin.
1. Si x(k ) es Gaussiano, el c nx ( 1 , 2 ,..., n 1 ) = 0 para n>2. En otras palabras, toda la
informacin acerca de un proceso Gaussiano esta contenido en sus cumulantes de
primer y segundo orden. Esta propiedad puede ser usada para suprimir el ruido
Gaussiano, o como una medicin de la desviaciones de Gaussiandid en series de
tiempo.
2. Si x(k ) est simetricamente distribuida, entonces c3 x ( 1 , 2 ) = 0 . Los cumulantes de
tercer orden no solo suprimen procesos Gaussianos, sino que tambin, todos aquellos
procesos distribuidos simetricamente; tales como: distribuciones uniformes, de Laplace
y de Gaussiano-Bernulli.
59
3. Los cumulantes son aditivos. Si x(k ) = s(k ) + w(k ) , donde x(k ) y w(k ) son procesos
aleatorios
estacionarios
y
estaticamente
independientes;
entonces
c nx ( 1 , 2 ,..., n 1 ) = c ns ( 1 , 2 ,..., n 1 ) + c nw ( 1 , 2 ,..., n 1 ) . Cabe sealar que los
momentos no son aditivos.
4. Si w(k ) es la representacin Gaussiana de rudio, el cual cual corrompe la seal de
interes s (k ) . Entonces, por medio de las propiedades (2) y (3) se obtiene que
c nx ( 1 , 2 ,.., n 1 ) = c ns ( 1 , 2 ,..., n 1 ) ; para n>2. En otras palabras, en el cumulante de
alto orden domina la seal de interes propagandose libre de ruido. La propiedad (3)
puede tambien proporcionar una medicin de la dependencia estadisticas de dos
procesos.
Tabla 4.1 Clculo de cumulantes de hasta cuarto orden en trminos de momentos y viceversa.
Momentos a cumulantes
I1
I2
I3
I4
1,2
1,3
1,4
2,3
2,4
3,4
1,2
3,4
1,3
2,4
1,4
2,3
1,2,3
1,2,4
1,3,4
2,3,4
1,2,3,4
(1)
q 1
(q 1)! m x ( I p )
p =1
6 E{x1 }E{x 2 }E{x3 }E{x 4 }
Cumulantes a momentos
q
(I p )
p =1
C{x1 }C {x 2 }C{x3 }C{x 4 }
2 E{x1 , x 2 }E{x3 }E{x 4 }
C{x1 , x 2 }C{x3 }C{x 4 }
2 E{x1 , x 4 }E{x 2 }E{x3 }
C{x1 , x 4 }C{x 2 }C{x3 }
2 E{x 2 , x 4 }E{x1 }E{x3 }
C{x 2 , x 4 }C{x1 }C{x3 }
E{x1 , x 2 }E{x3 , x 4 }
C{x1 , x 2 }C{x3 , x 4 }
E{x1 , x 4 }E{x 2 , x3 }
C{x1 , x 4 }C{x 2 , x3 }
E{x1 , x 2 , x 4 }E{x3 }
C{x1 , x 2 , x 4 }C{x3 }
E{x 2 , x3 , x 4 }E{x1 }
C{x 2 , x3 , x 4 }C{x1 }
2 E{x1 , x3 }E{x 2 }E{x 4 }

2 E{x 2 , x3 }E{x1 }E{x 4 }
2 E{x3 , x 4 }E{x1 }E{x 2 }

E{x1 , x3 }E{x 2 , x 4 }
E{x1 , x 2 , x3 }E{x 4 }
E{x1 , x3 , x 4 }E{x 2 }
E{x1 , x 2 , x3 , x 4 }
cum( x1 , x 2 , x3 , x 4 )
C{x1 , x3 }C{x 2 }C{x 4 }
C{x 2 , x3 }C{x1 }C{x 4 }

C{x3 , x 4 }C{x1 }C{x 2 }
C{x1 , x3 }C{x 2 , x 4 }
C{x1 , x 2 , x3 }C{x 4 }
C{x1 , x3 , x 4 }C{x 2 }
C{x1 , x 2 , x3 , x 4 }
E{x1 , x 2 , x3 , x 4 }
Una descripcin ms detallada de las propiedades de los momentos y los cumulantes se

encuentran en [4] [13] [17][58].
60
4.4 Espectros de alto orden (HOS)

Los espectros de alto orden (HOS) proporcionan informacin extra, la cual usualmente no se
encuentra en el procesamiento de seales tradicional, como el espectro de potencia y la funcin
de autocorrelacin. Esta informacin puede ser utilizada para obtener una descripcin ms
detallada del proceso o fenmeno.
El propsito de aplicar los HOS en el procesamiento de seales, radica en que permiten; 1)
obtener informacin debido a las desviaciones de Gaussianidad (normalidad), 2) estimar la
fase de seales paramtricas no Gaussianas, 3) detectar y caracterizar propiedades no lineales
en procesos que generan series (datos).
A continuacin se realiza la descripcin matemtica de las funciones a utilizar, sin embargo,
solo se explican a detalle los conceptos utilizados para el desarrollo de este trabajo. Una
descripcin ms detallada se puede encontrar en [4] [13] [17] [58].
4.4.1 Uso de cumulantes en lugar de momentos

Basicamente, existen dos formas de definir los HOS, la primera es por medio de momentos de
orden n; y la segunda es por cumulantes de orden n. Sin embargo, las propiedades de los
cumulantes proporcionan ciertas ventajas tales como [4] [13] [17] [58]:
1. La funcin de la covarianza del ruido blanco es una funcin impulso y el espectro es plano.
Los cumulantes de alto orden del ruido blanco son funciones multidimensionales de impulsos
y su poliespectro es plano multidimensionalmente.
2. El cumulante de dos procesos estadsticos aleatorios independientes, es igual a la suma de
los cumulantes de los procesos aleatorios individuales. Mientras, que para los momentos no es
igual. Esta segunda propiedad, permite considerar al cumulante como un operador
3. Si {x(k )} es un proceso aleatorio estacionario Gaussiano, todos los momentos de orden
n, para n 3 , no proporcionan informacin adicional perteneciente al proceso. De ah, que
sea mejor tener una funcin que muestre este hecho explicitamente. El espectro cumulante
hace esto, ya que los cumulantes de alto orden( n 3 ) son iguales a cero para procesos
Gaussianos.
4. Si las variables aleatorias {x1 ,..., x n }son dividas en dos o ms grupos, los cuales son
estadisticamente independientes; entonces, sus cumlantes de orden n son iguales a cero. Por
tanto, el espectro cumulante proporciona una forma apropiada de medir la dependencia
estadistica.
Estas propiedades permiten determinar lo siguiente:
Para seales desterministicas, los HOS pueden definirse en terminos de momentos; mientras
que para procesos aleatorios los HOS son definidos con cumulantes
61
Dado que la mayora de los procesos fsicos, contienen tanto componentes determinsticos y
aleatorios; es comn encontrar que los HOS estn definidos en trminos de cumulantes
4.4.2 Casos particulares

Considerando el apartado anterior, los espectros de orden n S nx ( w1 , w2 ,.......w n 1 ) de
los procesos {x(k )} ; se definen como la transformada de Fourier de la secuencia de
cumulantes de orden n c nx ( 1 , 2 ,...... n 1 ) [17]:
S nx (w1 , w2 ,......, wn1 ) =
.....
1 =
n 1 =
nx
( 1 , 2 ,......., n1 ) exp{ j ( w1 1 + ....wn1 n1 )} (4.56)
en general S nx ( w1 , w2 ,.......wn 1 ) es complejo y una condicin suficiente para su existencia es

que c nx ( 1 , 2 ,...... n 1 ) sea absolutamente sumable.
La densidad espectral de potencia, el biespectro y el triespectro son casos especiales de los
espectros de alto orden y se escriben como:
Densidad espectral de potencia simplemente PSD:
n=2
S 2 x (w1 ) =
c ( )exp{ j (w )}
1 =
2x
1 1
(4.57)
Biespectro: n = 3
S 3 x (w1 , w2 ) =
1 =
2 =
3x
( 1 , 2 ) exp{ j ( w1 1 + w2 2 )}
(4.58)
( 1 , 2 , 3 ) exp{ j ( w1 1 + w2 2 + w3 3 )}
(4.59)
Triespectro: n = 4
S 4 x (w1 , w2 , w3 ) =
1 = 2 = 3 =
4x
A continuacin solo se explican la potencia espectral y el biespectro, ya que son los dos
algoritmos utilizados para procesar las seales de vibracin provenientes de los rodamientos.
4.4.3 PSD
La funcin de densidad espectral de potencia (Power Spectral Density, PSD) es la cantidad de
potencia promedio por unidad de frecuencia. La definicin de la PSD, dada en la ecuacin
4.57; no es computable ya que el nmero de datos con el que se trabaja nunca son ilimitados y,
62
en la mayora de los casos, son de longitud muy pequea. Adems, los datos son normalmente
corrompidos por ruido o contaminados por una seal de interferencia.
Para resolver estos problemas, mediante mtodos no paramtricos se ha desarrollado una
tcnica conocida como periodograma; la cual fue utilizada en este trabajo de tesis para calcular
la PSD. Estos mtodos se basan en la idea de estimar las secuencias de correlacin de los
procesos aleatorios de un grupo de datos medidos, sacar su transformada de Fourier y obtener
el estimado de la funcin de densidad espectral.
De acuerdo a la definicin de la PSD (4.57) y de la definicin del cumulante de segundo orden
para un proceso de media cero (4.43), la PSD de un proceso estacionario se definir como[4]
[13] [17]:
PSD x ( ) =
c 2 x ( ) e j ( )
(4.60)
donde c2x() = E{x(t)x(t+)}. Acotando a las N muestras entonces se tiene

N 1
PSD x ( ) = c 2 x (m ) e
m
N
(4.61)
m =0
PSD x ( ) =
1
N
N 1
N 1
m =0
i =0
x(i )x(i + m ) e
m
N
(4.62)
Por tanto, el periodograma se escribe
PSD x (k ) =
1
1
2
X (k )X * (k ) =
X (k )
N
N
(4.63)
Donde X (k ) es la transformada de Fourier de tiempo discreto de la secuencia de datos de N

puntos.
Adems del periodograma, existe el periodograma promedio o promediado, donde a partir de
diferentes M conjuntos de muestras se obtienen M periodogramas para luego producir un
periodograma promedio. El periodograma promedio se define entonces como [4][13][17][59]:
I x ( ) =
I x ( ) =
1
M
l =1
1
M
l =1
N 1
N 1
m =0
i =0
PSD xl ( )
xl (i ) xl (i + m ) e
(4 .64)
m
N
(4.65)
Las M muestras usadas pueden ser conjuntos de datos obtenidos del mismo proceso (en las
63
mismas condiciones y considerando que es un proceso estacionario) en diferentes instantes de

tiempo o segmentos de igual longitud de una muestra de datos obtenidos de una sola
adquisicin.
De la Ec. 4.63, se tiene que las unidades de la PSD son cuadrticas. Por tanto, si la seal de
vibracin se obtiene de un acelermetro, las unidades de la PSD sern g 2 . Sin embargo, en la
mayora de los casos la PSD se divide entre el ancho de banda; logrando con ello, compensar
los efectos de reduccin en la amplitud provocados por la seleccin de la longitud de la
muestra y el ruido del ancho de banda. De esta manera, la amplitud de la aceleracin tiene
unidades de g 2 / Hz ). Se tiene entonces que el periodograma no es mas que la Transformada
de Fourier de la secuencia de autocorrelacin de un proceso aleatorio muestreado. Una
importante desventaja del periodograma, es que no ofrece informacin de la fase de la seal
analizada [4] [13][17].
Para el estudio de esta tesis, se utilizar la funcin de la PSD programada en [13]. Misma que
fue desarrollada bajo las siguientes consideraciones:
El periodograma promedio ser simplemente periodograma (PSD) y el periodograma definido
en (4.63) ser un caso particular del periodograma promedio (4.65) cuando no existan
divisiones del segmento de datos adquiridos.
4.4.4 Biespectro
Como se present en la seccin 4.4.2, el biespectro es un caso particular de los espectros de
alto orden y por definicin es la transformada de Fourier bidimensional de los cumulantes de
tercer orden. Una de las principales razones del uso del biespctro es que contiene la
informacin de amplitud y fase de las seales. Al igual que la PSD, el biespectro definido en la
ecuacin (4.58) no es computable. Por tanto, considerando la definicin del cumulante de
tercer orden de media cero y para un proceso estacionaro, el BIS se definir como[4] [13][17]
[60]:
BIS x (1 , 2 ) =
1 =
2 =
c3 x ( 1 , 2 ) e j (11 +2 2 )
(4.66)
donde c3x(1,2) = E{x(t)x(t+1)x(t+2). Acotando a las N muestras entonces

N 1
BIS x (1 , 2 ) =
n =0
1
BIS x (1 , 2 ) =
N
N 1
c (n, m)e
m =0
N 1
N 1
N 1
n=0
m=0
i =0
3x
n + 2 m
j 1
x(i )x(i + n )x(i + m)e
BIS x (1 , 2 ) = X (1 )X ( 2 )X (1 + 2 )
64
(4.67)
n + 2 m
j 1
(4.68)
(4.69)
donde es una constante de proporcionalidad, del cual su magnitud ser

BIS ( 1 , 2 ) = BIS ( 1 , 2 )
y la fase es
(4.70)
( 1 , 2 ) = ( 1 ) + ( 2 ) ( 1 + 2 )
(4.71)
Lo anterior, indica que el biespectro tiene magnitud y fase, la cual no se encontraba con la
PSD. Al igual que el periodograma se definir directamente el biperiodograma como[13]:
1
M
I x (1 , 2 ) =
1
I x (1 , 2 ) =
M
l =1
N 1
N 1
N 1
n =0
m =0
i =0
l =1
BIS x (1 , 2 )
(4.72)
xl (i ) xl (i + n ) xl (i + m ) e
n + 2 m
j 1
(4.73)
que ser un biperiodograma promediado en frecuencia, para las conjuntos de muestras. De

la ecuacin 4.69, se observa que el biespectro representa la contribucin del producto de tres
componentes de Fourier; de donde una frecuencia es igual a la suma de los otros dos. Para el
estudio de esta tesis, se utiliza la funcin biespectro programada en [13]. Misma que fue
desarrollada bajo las siguientes consideraciones:
La definicin del BIS en (4.69) de un segmento de datos, ser un caso particular de (4.73). El
biperiodograma tambin es conocido como periodograma de tercer orden [13].
4.4.4.1 Propiedades
1) Por definicin, el biespectro tiene doce regiones (doce simetrias), que se muestran en la
Figura 4.7, mismas que pueden ser descritas con solo estimar una sola regin de ellas. Estas
regiones se describen matematicamente como [4][13][17]:
w2
4
5
1
7
12
w1
11
9
10
Figura 4.7 Simetrias del biespectro.
65
BIS 1 = K = BIS 6 = K = BIS 12

BIS 1 = B(1 , 2 )
BIS 2 = B( 2 , 1 )
BIS 3 = B( 1 2 , 2 )
BIS 4 = B( 2 ,1 2 )
BIS 5 = B( 1 2 , 1 )
BIS 6 = B(1 ,1 2 )
BIS 7 = B( 1 , 1 + 2 )
BIS 8 = B(1 + 2 ,1 )
BIS 9 = B( 2 , 1 + 2 )
BIS 10 = B(1 + 2 , 2 )
BIS 11 = B( 2 ,1 )
BIS 12 = B( 1 , 2 )
BISx : BIS de la regin x
donde
De esta manera, conociendo el BIS en la regin triangular w2 0, w1 w2 , w1w2 (regin

1 de la Figura 4.7) es sufiente para hacer una descripcin completa del BIS. A la regon
mostrada en la Figura 4.8, se le conoce como region IT (por sus siglas en ingles: Inner
Triangle)
En el estudio de un proceso de banda limitada, esta propiedad es muy importante, ya que con
solo estimar una regin podemos describir el biespectro completo; ahorrando con ello, el
clculo de las otras regiones.
w2
/2
w1 + w2 =
w1 = w2
w1
Figura 4.8 Regin no redundante del BIS.
Sin embargo, en un proceso digital (muestreado); los limites de la regn no redundante

dependen de la frecuencia de corte fC . Donde la fC estar dada por [13]:
fC =
donde :
66
fS
2
fC: frecuencia de corte

fS : frecuencia de muestreo
(4.74)
y su espaciamiento en frecuencia esta dado por:

f =
fS
LM
(4.75)
fS : frecuencia de muestreo
LM : longitud de la muestra
donde :
Por lo tanto, para los procesos muestreados existe una regin; la cual es llamada como regin
OT (por sus siglas en ingles: Outer Triangle), y est determinada por la frecuencia de muestreo.
En la Figura 4.9 se observa la relacin entre la regin IT y OT.
w2
fS / 3
OT
fS / 4
IT
fS / 2
w1
Figura 4.9 Regin IT y OT.
La nueva regin triangular IT+OT ser f2 0, f1 f2, f2+2f1 fC. Con esta nueva regin se
pueden obtener igualmente las once regiones restantes. En este trabajo esta ser la regin a
considerar en los anlisis.
2) Procesos Gausianos: Si {x(k )} es un proceso gausiano estacionario de media cero, su
secuencia de momentos de tercer orden R(m, n) = 0 para todos los (m, n) y de all que el
biespectro BIS ( w1 , w2 ) es igual a cero.
3) Corrimientos de fase lineales: Dado un {x(k )} con potencia espectral PSD x (w) y el
biespectro BIS x ( w1 , w2 ) , los procesos y (k ) = x(k N ) , donde N es un entero constante
tiene potencia espectral PSD y ( w) = PSD x ( w) y el biespectro BIS y ( w1 , w2 ) = BIS x ( w1 , w2 ) ,
es decir, los momentos de segundo y tercer orden suprimen la informacin de la fase lineal. Sin
embargo, se observa que mientras la potencia espectral (autocorrelacin) suprime toda la
informacin de la fases, el biespectro (secuencia de momentos de tercer orden) no lo hace.
4) Ruido blanco no gausiano: Si {x(k )}si es un proceso estacionario no gausiano con
E{w(k )} = 0 , E{w(k ) w(k + )} = Q ( ) , y E{w(k ) w(k + ) w(k + )} = ( , ) , su
potencia espectral y biespectral son ambos planos, es decir, PSD( w) = Q y BIS ( w1 , w2 ) = .
5) Acoplamientos de fase cuadrticos: En la prctica, un proceso puede presentar interacciones
entre dos componentes armonicos (pares de frecuencia); provocando con ello, una
contribucin para la potencia espectral en sus frecencias de suma y/o diferencia.Tal fenmeno,
67
podra dar un incremento para ciertas relaciones de fase llamados acoplamientos de fase
cuadrticos; esto a consecuencia de no linealidades cuadrticas.
En ciertas aplicaciones, es necesario encontrar si los picos en la potencia espectral estn
acoplados. Puesto que la potencia espectral (PSD) suprime todas las relaciones de fase, esta no
puede proporcinar la respuesta. El biespectro, sin embargo, es capaz de cuantificar y detectar
los acoplamientos de fase. Esto se ilustra mejor siguiendo un simple ejemplo. Considrense los
procesos [4],
x I (k ) = cos(1 k + 1 ) + cos( 2 k + 2 ) + cos(3 k + 3 )
(4.76)
x II (k ) = cos(1 k + 1 ) + cos( 2 k + 2 ) + cos(3 k + (1 + 2 ))
(4.77)
Donde 3 = 1 + 2 , es decir, (1 , 2 , 3 ) estn armnicamente relacionados y 1 , 2 , 3 son

variables aleatorias independientes uniformemente distribuidas entre [0,2 ] . De (4.76), es
claro que 3 es un componente armnico independiente porque 3 es una variable aleatoria
(fase) independiente. Sin embargo, 3 de x II (k ) en (4.77) es un resultado de acoplamiento de
fase entre 1 y 2 . Ahora, se puede verificar fcilmente que x I (k ) y x II (k ) tienen potencias
espectrales iguales ( PSD I ( w) = PSD II ( w) componindose de impulsos en 1 , 2 y 3 (ver
figura 4.10a y 4.10b). No obstante, el biespectro de x I (k ) es igual a cero mientras que el
biespectro de x II (k ) muestra un impulso en la regin triangular w2 0 , w1 w2 , w1 + w2
(ver figuras 4.10c y 4.10d). El impulso se localiza en w1 = 1 , w2 = 2 , si 1 2 .
Figura 4.10 Acoplamiento de fase cuadratica. a) PSDI, b) PSDII , c) magnitud del biespectro para BISI, d)
magnitud del biespectro para BISII.
Esta propiedad proporciona una magnitud adimensional del biespectro, la cual es muy util. Por
ejemplo, en el procesamiento de seales de vibracin, se considera como una magnitud
proporcional a la interaccin entre dos pares de frecuencia.
68
6) ndice de Bicoherencia:
Esta funcin es considerada por varios autores como una herramienta muy til en aplicaciones
prcticas. Combina dos entidades completamente diferentes, es decir, el biespectro
BIS ( w1 , w2 ) y la potencia espectral PSD(w) de un proceso y es definido como [4].
b( w1 , w2 )
BIS ( w1 , w2 )
PSD ( w1 ) PSD ( w2 ) PSD( w1 + w2 )
(4.78)
El ndice de bicoherencia proporciona el grado de acoplamiento entre fases, de las frecuencias

observadas en la PSD.
4.6 Conclusiones
En este captulo se presentaron las definiciones bsicas de probabilidad, necesarias para
entender el BIS, se pus especial nfasis en mostrar los conceptos ms simples y su relacin
con los momentos y cumulantes de orden n, que finalmente originan la PSD y el BIS. Los
algoritmos utilizados para el clculo de las dos funciones utilizadas en este trabajo de tesis
(PSD y BIS) fueron desarrollados en [13], y en este captulo se explic la manera en que se
llevan a cabo estos clculos.
En la Figura 4.11 se muestra la relacin entre los conceptos de probabilidad y la obtencin de
la PSD y el BIS.
69
Proceso Aleatorio
Variable Aleatoria
Funcin de Densidad
de Probabilidad
Varianza
Esperanza Matemtica
Momentos
Momentos Centrados
Caso Particular
Caso Particular
Correlacin
Correlacin Cruzada
(2 v.a.)
Funcin de Distribucin
De Probabilidad
Valor medio
cuadrtico
Covarianza
Autocorrelacin
(1 v.a.)
Generalizando...1 v.a.
Mltiples intervalos de tiempo
Aplicando Transformada
de Fourier...
Cumulantes orden n
PSD
Caso Particular
Cumulante de orden 3
Aplicando Transformada
de Fourier...
Biespectro
Figura 4.11 Relacin entre los conceptos de probabilidad mas usados y la PSD y el BIS.
70
Captulo 5
Diseo y construccin del banco de pruebas
En este captulo, se muestran las consideraciones que determinaron la seleccin del
rodamiento y el tipo de falla a analizar. As mismo, se describen los componentes que fueron
utilizados para implementar el banco de pruebas.
Tambin, se detallan los equipos y transductores utilizados para la adquisicin de la seales de
vibracin. Se implementaron dos sistemas, el primero basado en acelermetros MEMS y PC; y
el segundo con acelermetros piezoelctricos y un analizador de espectros. El propsito de
utilizar los dos sistemas de adquisicin fue para observar el desempeo de los acelermetros
MEMS. Sin embargo, cabe sealar que no se espera que sus mediciones sean iguales ya que por
la forma de construccin y funcionamiento de los MEMS, no se pueden colocar en el mismo
lugar del banco. Finalmente, se explican los modos de operacin del convertidor y la manera
en que se program para obtener seales de vibracin a diferentes velocidades de rotacin.
5.1 Seleccin del rodamiento

El rodamiento seleccionado fue el SKF-6026, que es un rodamiento rgido de una sola hilera
de bolas. Esta decisin se tom despus de haber estudiado la geometra de los diversos
rodamientos (ver seccin 3.2). Las razones que determinaron la seleccin de este rodamiento
fueron las siguientes:
El hecho de tener una sola hilera de bolas, lo hace un rodamiento simple, y por lo tanto
la vibracin producida es ms fcil de analizar.
71
Este tipo de rodamientos se utiliza en una amplia gama de maquinaria, consiguiendo de

esta manera cierto grado de generalizacin en los resultados obtenidos. Se fabrican
desde dimetros interiores de 2.5 hasta 1 060 mm para diversas aplicaciones [49].
El costo de este tipo de rodamiento es comparativamente bajo, lo que permite

disponer de un conjunto de varios rodamientos para el anlisis.
5.2 Falla artificial

Para determinar la forma y dimensin de la falla artificial fue necesario analizar las fallas ms
comunes en rodamientos; con el propsito de seleccionar un tipo que fuese fcil de reproducir
artificialmente. En otras palabras, que se contara con el equipo adecuado para realizar la falla y
adems, que se pudiera cuantificar la magnitud del dao.
El anlisis de las fallas ms comunes en rodamientos [46], [52], permiti establecer que existen
muchas causas para que estas ocurran; sin embargo, en su estado terminal se distinguen solo
dos tipos de defectos; estos son el desconchado y las grietas. Dada las facilidades otorgadas por
el CNAD (Centro Nacional de Actualizacin Docente), se opt por analizar en este trabajo las
grietas producidas en el anillo interior de los rodamientos como se muestra en la Figura 5.1.
Este tipo de falla se origina por un ajuste incorrecto entre el eje y el dimetro interior del
rodamiento, as como tambin por corrosin de contacto y fatiga.
a) Real [52]
b) Artificial
Figura 5.1 Aspecto fsico de la Grieta.
Para crear la grieta artificialmente se utiliz la mquina de electroerosin mostrada en la Figura

5.2, la cual comnmente se utiliza para la fabricacin de piezas que presentan formas complejas
y de gran dureza. El principio de funcionamiento se basa en descargas elctricas a travs de un
hilo, de ah que el espesor del corte dependa del dimetro del hilo. Los dimetros de los hilos
varan desde 0.1 mm hasta 0.35 mm.
72
Captulo 5. Diseo y Construccin del Banco de Pruebas
Rodamiento
SKF-6206
a)
b)
Figura 5.2 a) Mquina de electroerosin realizando un corte a un rodamiento b) Zoom.
Con el propsito de evaluar dos diferentes estados de la grieta, se realizaron cortes en dos
rodamientos. Las dimensiones del primer corte realizado se muestran en la Figura 5.3 y fueron
las siguientes: a= 0.229 mm y h= 1.5 mm.
Figura 5.3 Anillo interior del primer rodamiento cortado.
El ancho (a) y la profundidad (h) del corte realizado al segundo rodamiento fueron
respectivamente de 0.229 mm y 3 mm mostrado en la Figura 5.4. Cabe sealar que cuando se
coloc este rodamiento en el eje, se fractur totalmente, es decir, la profundidad del corte era
igual al espesor del anillo interno. Al fracturarse completamente, el corte produjo una
extensin muy delgada de la grieta (en la Figura 5.4, se representa con una lnea.) y de esta
forma se obtuvo el rodamiento con un corte completo.
b)
a)
Figura 5.4 a) Anillo interior del segundo rodamiento cortado. b) Zoom.
73
La profundidad de los cortes se determin considerando que el estado final de la grieta es la

rotura total del anillo interior del rodamiento. Por lo tanto, arbitrariamente se eligieron 1.5 mm
y 3 mm de profundidad como estados previos.
En todo el desarrollo del trabajo, solo se analiza el rodamiento que tiene una grieta de 3 mm de
profundidad (el cual present rotura total cuando se mont sobre el eje). El rodamiento que
tiene una grieta de 1.5 mm de profundidad, no mostr un cambio significativo del nivel de
vibracin respecto a una condicin sin fallo. Esto, a consecuencia de que no existe un impulso
de choque entre el anillo interior y el giro de las bolas, como se puede apreciar en la Figura
5.5a. Slo existen impulsos de choque -indicado con lnea roja-, cuando existe la fractura total
del anillo se mente, Figura 5.5b.
a)
b)
Figura 5.5 Rodamiento a) con grieta de 1.5 mm de profundidad y b) con rotura total.
5.3 Banco experimental

5.3.1 Configuracin y especificacin de los componentes
El banco de pruebas donde se llevaron a cabo los experimentos, se construy en el laboratorio
de diseo mecnico del Cenidet. Para ello, se seleccion la mesa de trabajo de un cepillo
(mquina-herramienta); el cual sirvi como soporte para los componentes del banco de
pruebas. Adems, con el propsito de proporcionar a la mesa de trabajo mayor rigidez; se
coloc un tapete de hule bajo la maquina-herramienta y se atornill al suelo por medio de unos
taquetes expansivos.
En la Figura 5.6 se presenta la configuracin del banco experimental, como se puede observar
la transmisin de velocidad del motor a la flecha se realiza por medio de una banda trapezoidal.
Al utilizar este tipo de transmisin se evit el problema de desalineamiento entre el eje motriz
y el eje conducido.
Dos consideraciones importantes para la construccin del banco experimental, fueron las
siguientes:
1. La chumacera debera proporcionar un rea suficiente para la colocacin de los
sensores y la facilidad para montar diferentes rodamientos (al menos debera permitir
colocar el rodamiento SKF-6206). La chumacera que cumpli con estos requisitos fue
la chumacera tipo bipartida, modelo SNL-507.
74
2. Para el maquinado del eje conducido, debera tomarse en cuenta la recomendacin del
fabricante de rodamientos, logrando con ello determinar tolerancias, acabados
superficiales y hombros de resaltes correctos.
Figura 5.6 Sistema mecnico.
En la tabla 5.1 se listan los componentes mostrados en la Figura 5.6. La lista completa de
componentes, los dibujos de detalle y especificaciones de aquellas piezas que se maquinaron se
encuentran en el anexo C.
Tabla 5.1 Especificacin de los componentes del sistema mecnico
Nm. Cant.
Descripcin
1
1
Base (Mesa de trabajo de un cepillo-mquina-herramienta)
2
6
Tuerca M14, paso fino
3
6
Tornillo M14 X 1.5, paso fino, 60 mm. de longitud
4
6
Arandela sencilla (14N)
5
1
Banda A-28, Marca: Bando
6
1
Polea del motor BK4712, Marca: TBwoods
7
1
Eje conducido (ver anexo C)
10
1
Motor trifsico, 1Hp, 3410rpm, Marca ABB
11
2
Soporte para rodamientos SNL 507
12
1
Soporte del motor-Perfil C 7X2.299X0.419 pulg. (ver anexo C)
15
1
Tornillo M6 X 1, paso basto, 10mm de longitud
17
1
Arandela trabajo pesado (12W)
18
2
Tornillo M12 X 1.25 (paso fino), longitud 30mm
19
1
Polea conducida BK471, Marca: TBwoods
20
4
Tuerca M5 (paso basto)
21
4
Tornillo M5 X 0.8 (paso basto), longitud 32.0mm
22
4
75
El procedimiento para el montaje del banco de pruebas se realiza de la siguiente manera:

1. Se colocaron cuatro tornillos M14X1.5 (componente 2,3 y 4 de la Figura 5.6) en las
ranuras de la mesa de trabajo del cepillo. En estos tornillos se insert la mitad inferior
de las chumaceras ubicndolas segn las dimensiones que se presentan en la hoja 9 de
los dibujos tcnicos (ver anexos).En este dibujo tambin se da la ubicacin del perfil C.
2. Se colocaron los 2 rodamientos SKF-6206 sobre la flecha. Para hacer esto, se requiri
una prensa hidrulica ya que de esta manera el rodamiento se introdujo solo aplicando
carga en el anillo interior y no al exterior; tal y como recomienda el fabricante de
rodamientos.
3. Despus de haber colocado los rodamientos, en cada extremo se insertaron los anillos
espaciadores E1 y E2. El espaciador E1 se sujet axialmente por medio de una
arandela y un tornillo M12X1.5. Mientras que en el otro extremo, antes de hacer esto;
se coloc la polea (sin olvidar la cua y el tornillo opresor).
4. Una vez atornillados todos los componentes en la flecha, este se coloc sobre las
mitades inferiores de las chumaceras. Luego se insertaron los anillos de localizacin a
los lados del rodamiento. Por ultimo, mont la mitad superior de las chumaceras y se
atonillo a 50kN-m. Para conocer la fuerza de apriete, se utiliz un torqumetro.
5. La tensin de la banda se ajust por los tornillos que se encuentran en la base del
motor. La tensin de la banda debe ser de 3.5 lbf (15.56 N), de acuerdo a la
recomendacin del fabricante para una banda A-28. Para medir la tensin de la banda
se utiliz un medidor de tensin de bandas V, marca BANDO.
5.3.2 Localizacin de sensores

Para determinar la chumacera en la que se colocara el rodamiento en estudio SKF-6206, se
consider aquella que estuviese lo ms aislada posible de cualquier vibracin no controlada. Se
eligi la chumacera posterior, ya que se consider que la vibracin producida por la banda no
sera lo suficientemente grande como para corromper las lecturas obtenidas.
Como se puede observar en la Figura 5.7, se colocaron dos acelermetros MEMS
(especificados como b1 y b2) y dos acelermetros piezoelctricos (denominados a1 y a2). Los
dos MEMS utilizados fueron ADXL210E. La especificacin de los acelermetros
piezoelctricos y MEMS se encuentran en las Tablas 5.2 y 5.3, respectivamente. Los
acelermetros MEMS miden la vibracin en dos direcciones, mientras que los piezoelctricos
solo miden en una direccin, segn lo indicada la flecha correspondiente.
76
Figura 5.7 Colocacin de los sensores piezoelctricos y MEMS.
El acelermetro b2 permiti medir la seal vertical y axial, sin embargo, la seal de vibracin
axial no se analiz, ya que sta no proporcion informacin de la condicin del rodamiento.
En todo el desarrollo del trabajo de investigacin slo se analizan las vibraciones verticales y
horizontales.
5.4 Sistemas de adquisicin

Las seales de vibracin producidas en el rodamiento de estudio, fueron muestreadas por
medio de dos sistemas de adquisicin; los cuales son independientes uno del otro. De esta
manera, se pudo validar las mediciones por los acelermetros MEMS. Cabe sealar que los dos
sistemas adquirieron las seales de vibracin en los mismos instantes de tiempo y a la misma
frecuencia de de muestreo, sin embargo, no se esperaba que las mediciones fuesen idnticas ya
que estos sensores estaban colocados en diferentes lugares de la chumacera, pero muy
cercanos.
5.4.1 Sistema de adquisicin de datos para los sensores

piezoelctricos
Este sistema de adquisicin consiste de un analizador de espectros marca Hewlett Packardmodelo 3566A, dos acelermetros piezoelctricos marca Kistler, un amplificador marca
Kistler-modelo 5134 y una computadora. La configuracin del sistema de adquisicin de los
datos experimentales se presenta en la Figura 5.8.
77
Figura 5.8 Sistema de adquisicin usando acelermetros piezoelctricos.
Este sistema permite adquirir datos en el dominio del tiempo, adems permite obtener la
Potencia espectral, Respuesta en frecuencia, Octane, Time/Linear Spectrum, Coherencia,
Histograma, Orbita, y anlisis espectral RPM. La visualizacin de los grficos puede ser en
tiempo real, tiempo imaginario, frecuencia, cascada y espectrograma. En la Figura 5.9 se
presenta un ejemplo de las pantallas en el dominio del tiempo y de la frecuencia.
Figura 5.9 Ejemplo de grficos en el tiempo y PSD obtenidos por el analizador HP3566A.
Una de las grandes ventajas que presenta este sistema de adquisicin es el rango de medicin
de los acelermetros piezoelctricos, ya que las seales de vibracin provenientes de los
rodamientos pueden presentarse hasta en 25g [61]. En la Tabla 5.2 se muestran las
especificaciones de los acelermetros piezoelctricos usados en la experimentacin.
78
Tabla 5.2 Acelermetros piezoelctricos
Designacin: a1
Tipo: 8628B50
SN: C1099004
Rango de medicin: 50 g
Sensitividad: 99.2 mV/g
Sensitividad transversal: 1 %
Frecuencia de resonancia: 22 KHz.
Temperatura de operacin: 0 65 C
Designacin: a2
Tipo: 8636C50
SN: C106387
Sensitividad: 103.8 mV/g
Sensitividad transversal: 1 %
Frecuencia de resonancia: 22 KHz
Temperatura de operacin: 0 65 C
5.4.2 Sistema de adquisicin de datos para los acelermetros

MEMS
El segundo sistema de adquisicin de datos experimentales cuyo esquema se presenta en la
Figura 5.10, se implement a travs de una tarjeta de adquisicin marca National Instruments,
modelo AT-MIO-16E-1 la cual se insert en el puerto ISA de una computadora de escritorio.
Este sistema utiliza un conector externo marca National Instruments-modelo ATX-68, para
concentrar las seales de los acelermetros MEMS y enviarlas a la tarjeta de adquisicin. La
tarjeta permite adems alimentar a los sensores con 5 volts. Cabe sealar que aunque se
buscaron varias formas de alimentacin, los sensores MEMS siempre presentaron cierto nivel
de ruido. Este problema se logr disminuir utilizando un capacitor en paralelo con la fuente de
alimentacin. El valor del capacitor fue muy importante ya que inicialmente se coloc un
capacitor de 0.1 F y la disminucin de ruido no fue significativa. El valor de capacitancia que
permiti disminuir notablemente el nivel de ruido, fue de 2200 F.
Figura 5.10 Sistema de adquisicin para acelermetros MEMS.
En la Tabla 5.3 se presenta la descripcin de los acelermetros MEMS de los que se dispuso.
Tabla 5.3 Caractersticas de los acelermetros MEMS
Tipo: ADXL202E
Sensitividad: 312 mV/g
Sensitividad transversal 2 %
Ancho de banda: 5 kHz
Frecuencia de resonancia: 10 kHz
Temperatura: 0 - 70 C
Tipo: ADXL210E
Temperatura: : 0 - 70 C
Tipo: ADXL250JQC
Temperatura: : 0 - 70 C
79
Despus de realizar algunas mediciones con los sensores piezoelctricos se comprob que el
acelermetro ADXL202E no era adecuado para medir la vibracin proveniente del rodamiento
con falla artificial ya que la magnitud de los impactos rebasaba su rango de medicin. Tambin,
se descart utilizar el sensor ADXL250JQC debido a que las vibraciones producidas por la
falla se encontraban en frecuencias arriba de 2KHz. Por especificacin, los nicos sensores que
podran ser utilizados fueron los ADXL210E; dando como resultado que los grficos
obtenidos con estos ltimos sensores eran muy similares a los producidos por los sensores
piezoelctricos. Esto anim a utilizarlos en el diagnstico de fallas en rodamientos.
Para configurar los parmetros de adquisicin y graficar las seales obtenidas, se elabor un
programa en LabView, el cual est compuesto por 7 pantallas. La pantalla de la Figura 5.11 se
utiliza para configurar la frecuencia de muestreo, la cantidad de datos por canal y otros
parmetros que a continuacin se detallan:
Canales.- En esta columna se seleccionan los canales que muestrear, adems de que se pueden
desactivar los que no se necesiten, colocando el valor del canal igual a -1.
Figura 5.11 Pantalla para configurar la adquisicin.
Factor de Correccin.- Por especificacin, los sensores MEMS en posicin horizontal

(cuando los ejes no se encuentran sometidos a ningn tipo de aceleracin) deben de marcar 2.5
volts. Sin embargo, este valor pude variar por efecto de construccin, cuando ocurre as, se
incluye este factor de correccin para ajustar el voltaje de salida de los MEMS al 2.5 volts ideal,
esta adicin/sustraccin se realiza nicamente en el programa y de ninguna manera se altera el
voltaje de alimentacin o la seal proveniente del sensor.
Ajuste por Sensitividad.- Como los sensores que pueden ser utilizados tienen diferentes
rangos de medicin (2, 10 y 50 gs) la sensitividad vara entre estos grupos e inclusive entre un
sensor y otro con el mismo rango, por lo tanto para convertir el valor de la seal proveniente
del sensor de voltajes a gs el multiplicador debe ser capaz de variarse, de aqu la existencia de
esta columna.
80
Homologacin del punto de referencia.- Los MEMS son capaces de medir aceleracin
esttica, por lo que al colocarse sobre una superficie que no sea totalmente horizontal
medirn la fuerza de gravitacin aplicada. Como algunas veces resulta confuso estar utilizando
dos niveles de referencia (uno para los sensores horizontales y otro para los verticales) se
agreg esta columna para enviar a todas las seales en gs a un mismo punto de referencia. Al
igual que el Factor de Correccin esta manipulacin nicamente se hace en el programa y de
ninguna manera se altera fsicamente la seal proveniente del sensor.
La Figura 5.12 es una muestra de la segunda pantalla, y permite visualizar la magnitud de la
vibracin en niveles de voltaje, proporcionales a la vibracin sensada. El sensor utilizado
(ADXL210E), por especificacin tiene una resolucin de 100mV/g; por lo tanto entregar un
voltaje de 1.5 volts cuando mide -10 g y 3.5 volts cuando mide +10g. Ntese las lneas de color
rojo y azul, stas se utilizaron para obtener una mayor precisin en las lecturas de campo.
Figura 5.12 Seal de vibracin expresada en voltajes.
La Figura 5.13, es la pantalla donde se muestra la seal de vibracin en unidades

gravitacionales o gs. Para mostrar este grafico se realiz una conversin entre las unidades de
voltaje y gs. El valor de conversin para el sensor utilizado es: 100 mV corresponde a 1 g.
81
Figura 5.13 Seal de vibracin expresada en unidades gravitacionales.
De la cuarta a la sptima pantalla se pueden observar los grficos de PSD para cada canal. Los
canales de la tarjeta de adquisicin que se utilizaron fueron los canales 0 y 1, en la Figura 5.14
se observan sus espectros. El canal 0 para la medicin de la vibracin horizontal y el canal 1
para la medicin de la vibracin vertical.
Figura 5.14 Una de las tres pantallas de PSD.
Una de las ventajas que presenta este sistema es su rpida reconfiguracin, para el caso en que
se deseen modificar las condiciones de adquisicin; permitindose incluso montar MEMS de
diferente tipo. Adems las escalas de los grficos, tanto del eje x como del y, pueden ser
cambiados en lnea, permitiendo una mejor inspeccin de las seales que se estn obteniendo.
A las grficas de voltaje y gs se les incluy una funcin que permite medir de manera ms
precisa las amplitudes de las seales.
82
Las desventajas que pudieran encontrarse, se relacionan con el hecho de que se realiz una
conexin directa entre las seales provenientes de los MEMS y la tarjeta de adquisicin; es
decir, sin un acondicionamiento riguroso de seal; sin embargo las pruebas preliminares con
los MEMS no mostraron la presencia de ruido.
5.5 Sistema de control de velocidad del motor

Para conseguir diferentes velocidades de operacin del motor ABB, se utiliz un variador de
velocidad marca Fuji, el cual se seleccion considerando la potencia nominal del motor. En la
tabla 5.4 se transcriben las placas de datos del motor y del variador de velocidad
Tabla 5.4 Especificacin del motor y del variador de velocidad
Datos del motor

Marca: ABB
Potencia: 1hp
Voltaje de alimentacin: 220 volts (trifsico)
Velocidad nominal: 3450 rpm
No. Polos: 2
Datos del variador de velocidad

Marca: Fuji Electric
Fuente: 1, 200-240 Volts
Potencia: 1.5 HP, 3 Amp.
Tipo: FVR004G7S-7EX
La Figura 5.15 muestra como se realiz la conexin elctrica entre el motor y el variador de
velocidad.
Figura 5.15 Conexin entre el variador y motor.
El variador de velocidad tiene dos modos de operacin: la constante y la escalonada. Estos

modos se describen a continuacin:
Operacin Constante: Consiste en hacer funcionar el motor desde una velocidad cero hasta
una velocidad determinada. En la Figura 5.16 puede observarse que existen: un estado de
aceleracin, otro de operacin constante (permanece en este estado hasta que el usuario
presione el boton de stop) y un estado de desaceleracin. Todos estos estados estan
controlados por los botones de arranque (RUN) y paro (STOP). Sin embargo, se tienen que
configurar los siguientes parametros previamente:
83
Figura 5.16 Diagrama de operacin constante.
Paso 1.
Al configurar esta funcin como se indica, se logra programar el variador para un nivel bsico,
es decir, solo se permite acceder a las funciones a partir de 00 hasta 22.
Paso 2
Configura al variador para una bsqueda automtica de los tiempos de aceleracin y

desaceleracin.
Paso 3.
Permite configurar una frecuencia mxima de operacin. La seleccin fue 60 Hz.

Paso 4.
Permite configurar una frecuencia base. Esta frecuencia no debe ser mayor que la mxima. La
seleccin fue: 50 Hz.
Paso 5.
Permite configurar el nmero de polos del motor. El motor utilizado tiene dos polos
Paso 6.
Permite configurar el modo de operacin. La seleccin fue: Operacin por panel.
84
Paso 7.
Permite configurar el variador para utilizar las teclas de direccin como regulacin digital.
Operacin Escalonada: La operacin escalonada consiste en hacer operar el motor a
diferentes velocidades de rotacin en forma continua. El variador permite programar 7 saltos
al configurar la funcin 1900, estos 7 saltos pueden ser programados para que sean simtricos
o no, de acuerdo a como se muestra en la Figura 5.17.
Figura 5.17 Diagrama para una operacin escalonada.
5. 6 Conclusiones
En este captulo se present informacin que permite describir el proceso de construccin del
banco de pruebas. Primeramente, fue seleccionado el rodamiento rgido de bolas (SKF-6206)
como objeto de estudio ya que es tipo de rodamiento es utilizado en la gran mayora de las
aplicaciones.
Para determinar la forma y tamao del fallo artificial, se consider el aspecto de una falla real.
La disponibilidad de utilizar una mquina de electroerosin para realizar cortes muy delgados,
permiti simular una grieta en el anillo interior del rodamiento SKF-6206.
Considerando lo anterior, se procedi a seleccionar un tipo de chumacera que permitiera
montar el rodamiento SKF-6206. Adems, que proporcionara un rea suficiente para la
colocacin de los sensores MEMS y piezoelctricos. El tipo seleccionado fue la chumacera
bipartida SNL, la cual cumpli con estos requisitos. El eje conducido, banda, polea, etc.; se
escogieron tomando como restriccin los componentes previamente seleccionados. Todos los
componentes se montaron en la mesa de trabajo de un cepillo (mquina-herramienta)
Para evaluar el desempeo de los MEMS, fue necesario implementar dos sistemas de
adquisicin. El primero basado en sensores MEMS y el segundo con piezoelctricos. Tambin
se tom en cuenta que ambos tipos de sensores se localizaran lo ms cerca posible del
rodamiento, tanto para la medicin vertical como horizontal. Finalmente, se explic la forma
en que se vari la velocidad del sistema mecnico, permitiendo con ello obtener seales de
vibracin a diferentes frecuencias de rotacin.
85
Captulo 6
Experimentacin y anlisis de resultados
Las fallas en los rodamientos, sumados a las frecuencias naturales del sistema y a la vibracin
proveniente de otros elementos de la mquina, originan seales de vibracin muy complejas;
que algunas veces son difciles de interpretar y comprender. En estos casos, el anlisis espectral
lineal (PSD) est limitado, ya que no muestra la interaccin no lineal entre componentes
frecuenciales [4], [13], [17]. Bajo estas circunstancias, se ha propuesto el uso de tcnicas tales
como las wavelets, en anlisis de la envolvente, Hidden Markov, etc.; sin embargo requieren
de experiencia en el diagnstico y la implementacin de hardware especializados. Por otro lado,
se tiene conocimiento que el BIS ha proporcionado informacin relevante no mostrada con la
PSD, para detectar barras rotas en rotores, desbalanceo, desalineacin, etc. [8], [11], [14], [15],
[20].
En este trabajo de tesis, la experimentacin consisti bsicamente en adquirir seales de
vibracin (aceleracin) provenientes de un rodamiento sin falla y con falla artificial (grieta en el
anillo interior de un rodamiento SKF 6206). Posteriormente, se estim la PSD y el BIS para
cada condicin; y se realiz un anlisis comparativo con el propsito de obtener informacin
que permita distinguir entre una condicin sin falla y otra con falla.
La importancia de este estudio radica en la interpretacin de los grficos biespectrales para
ambas condiciones del rodamiento. Adems, se presenta una comparacin entre los grficos
obtenidos con los sensores piezoelctricos y con los sensores MEMS.
6.1 Metodologa de la experimentacin

Para llevar a cabo las pruebas, fue necesario comprender primeramente como se realiza un
diagnstico por medio de tcnicas convencionales; en especial usando la PSD. En la Figura 6.1,
87
Diagnstico de Condiciones de Operacin de Rodamiento en Mquinas Usando Espectros de Alto Orden
se muestra el procedimiento convencional (cuadros con lnea continua) y tambin se detallan

los pasos para evaluar el desempeo del BIS (cuadros con lnea punteada). Para el uso de la
PSD se requiere conocer las frecuencias de falla del rodamiento (ver seccin 6.2). Las
frecuencias de falla calculadas por medio de las ecuaciones 3.1 a la 3.4 deben aparecer en el
espectro; siempre y cuando exista un defecto en el componente que ellas describen. Dado que
el rodamiento en estudio tiene una grieta en el anillo interior, se espera que el espectro muestre
la frecuencia de falla para pista interna (FPI). De ah, que el primer paso en la metodologa fue
determinar las frecuencias de falla del rodamiento en estudio.
Valores de D, d, N, n y Cos dependen de la
geometra del rodamiento
Se conoce:
Frecuencias de fallo
FER =
FPI =
FJ =
n N
d
1 + cos
2 60
D
N
d
1 cos
120
D
FPE =
Procedimiento
Normal
D N d
2
1 cos Frecuencia del Elemento Rodante
d 60 D
n N
d
1 cos
2 60
D
Aportacin
Frecuencia de la Pista Interna

Frecuencia de la Jaula
Frecuencia de la Pista Externa
Frecuencias de fallo
tericas
Geometra
Conocer:
Tipos de
rodamientos
Tipos de Fallas en
rodamientos
Desarrollar:
Dao artificial
Banco de pruebas: Banco de pruebas Banco de pruebas:
Diseo y
construccin
Adquirir seales de
vibracin a diferentes:
rpms
y
Magnitud daos
Obtencin de
frecuencias
naturales
RESPUESTA EN FRECUENCIA
0.025
Se utiliz una punta de caucho 9904A,

el cual tiene un lm ite en frecuencia de
2000 Hz
80 Hz
0.02
115 Hz
140 Hz
195 Hz
M a g n itu d , g
0.015
1455 Hz
1330 Hz
1600 Hz
970 Hz
420 Hz
0.01
345 Hz
305 Hz
830 Hz
1900 Hz
240 Hz
0.005
Caracterizar:
Anlisis:
Biespectro
Espectro
Anlisis de
Informacin
adicional
Relacin entre fallas
y Biespectro
0
0
500
1000
1500
2000
Frecuencia, Hz
COHERENCIA
1
0.8
A m p litu d
0.6
Uso
MEMS
0.4
0.2
0
0
200
400
600
800
1000
Frecuencia, Hz
1200
1400
1600
1800
Utilidad MEMS y
Biespectro
2000
Figura 6.1 Metodologa de la experimentacin.
Para ambas condiciones del rodamiento, se tomaron las seales de vibracin a diferentes
frecuencias de rotacin: 60, 55, 50, 45, 40 y 35 Hz. La recoleccin de datos se hizo de manera
simultnea con los dos sistemas de adquisicin disponibles.
6.2 Frecuencias de falla del rodamiento SKF-6206

El dao en algn componente del rodamiento produce un pico a cierta frecuencia, el valor de
esta frecuencia depende de la forma geomtrica del rodamiento y de su velocidad de rotacin
[1] [10] [29] [30]. Como el rodamiento en estudio tena una grieta en el anillo interior; ste
deba de generar la frecuencia caracterstica de falla para la pista interna. Las frecuencias de
falla fueron calculadas utilizando las ecuaciones 3.1 a 3.4 y para ello se requiri determinar las
siguientes caractersticas del rodamiento SKF 6206 [47]:
D = 46 mm
d = 9.525 mm
= 0
n = 9 bolas
N = 1800, 2100, 2400, 2700, 3000, 3300, 3600 rpm (revoluciones de experimentacin)
88
Captulo 6. Experimentacin y anlisis de resultados
Los valores de las frecuencias de falla del rodamiento SKF 6206, para todos los elementos que
lo componen y a diferentes velocidades de rotacin se muestran en la Tabla 6.1.
Tabla 6.1 Frecuencias de falla para los componentes del rodamiento 6206.
Frecuencia de rotacin
Frecuencias (Hz)
Defecto en la pista
Defecto en la pista
Defecto en los
Defecto en la jaula
Hz (rpm)
interna
externa
elementos rodantes
35 (2100)
40 (2400)
45 (2700)
50 (3000)
55 (3300)
60 (3600)
190.11
217.27
244.43
271.59
298.75
325.91
124.89
142.73
160.57
178.41
196.25
214.09
13.88
15.86
17.84
19.82
21.81
23.79
161.78
184.89
208.00
231.12
254.23
277.34
Estudios previos han determinado que cuando un rodamiento se encuentra en condiciones

normales, es decir, sin ningn defecto en sus pistas de rodadura; pudiera producir la frecuencia
de falla para la pista externa. Esto a consecuencia de los contactos metlicos entre los
elementos rodantes y la pista externa [32]. Sin embargo, la amplitud de esta frecuencia suele ser
muy insignificante comparada con la producida por un dao.
6.3 Clasificacin de los datos

Para todos los casos y para ambos sistemas de adquisicin, las seales de vibracin
provenientes del rodamiento fueron adquiridas a 16 380 muestras/segundo durante 0.625
segundos, permitiendo obtener 10 240 datos. Para evitar los transitorios que se presentan en el
arranque, los datos fueron adquiridos despus de 6 minutos de operacin. Y se clasificaron
como sigue:
Archivo tipo
MATLAB
La estimacin de la PSD se realiz sin hacer particiones (ver seccin 4.4.3); logrando obtener
una resolucin de 1.6 Hz. Para la estimacin del biespectro se realizaron 5 particiones (ver
seccin 4.4.4), logrando obtener una resolucin de 8 Hz.
6.4 Frecuencias naturales del sistema mecnico

La medicin de las frecuencias naturales se hizo con el fin de determinar, en qu medida las
vibraciones producidas por otros elementos del banco (motor, chumacera frontal, etc.) incidan
89
en las lecturas obtenidas en la chumacera posterior. Se utilizaron: un sensor piezoelctrico

colocado en la parte superior de la chumacera trasera y un analizador de espectros. Se
obtuvieron grficos de la respuesta en frecuencia y la coherencia de los datos adquiridos. Para
asegurar la certeza de las lecturas obtenidas, dichos grficos son el resultado de un promedio
de 30 mediciones en cada punto.
La medicin consisti en excitar un punto del banco de pruebas por medio de un martillo de
impacto y obtener la respuesta en frecuencia del acelermetro, como se muestra en la Figura
6.2. El martillo adems de producir el impulso, tambin mandaba una seal de disparo para la
adquisicin de la seal.
Figura 6.2 Conexin de equipos para la medicin de las frecuencias naturales del sistema.
Intentando encontrar las frecuencias naturales ms relevantes, se eligieron 6 puntos de

excitacin, los cuales se muestran en la Figura 6.3. El punto P indica la posicin del
acelermetro piezoelctrico.
Figura 6.3 Puntos de excitacin.
Se utilizaron dos puntas de excitacin; la primera fue de acero (9902 A), la cual permiti excitar
las frecuencias de hasta 6.4 kHz (alta frecuencia). La segunda fue una de caucho (9904 A), con
la cual se excitaron frecuencias de hasta 2 kHz (baja frecuencia). En las Figuras 6.4 a la 6.7 se
90
muestran los resultados obtenidos del punto A. Los grficos de los dems puntos de prueba se
encuentran en el anexo C.
Las frecuencias sealadas con flechas negras en las Figuras 6.4 y 6.6, son picos que se
identificaron fcilmente y que al mismo tiempo presentan una coherencia aceptable, como el
lector puede comprobar al ver las Figuras 6.5 y 6.7, respectivamente.
0.35
5555 Hz
0.3
Magnitud, g
3150 Hz
Se utiliz una punta de acero (9902A),

el cual, tiene un limite en frecuencia de
6800 Hz.
0.25
3280 Hz
3760 Hz
0.2
4890 Hz
4280 Hz
3490 Hz
0.15
4350 Hz
4700 Hz
2630 Hz
0.1
2410 Hz
2120 Hz
1435 Hz
0.05
0
1325 Hz
1000
2000
3000
Frecuencia, Hz
5555
6000
Figura 6.4 Respuesta en frecuencia de la excitacin en el punto A, utilizando la punta de acero (9902 A).
COHERENCIA
1
Amplitud
0.8
0.6
0.4
0.2
1000
2000
3000
Frecuencia, Hz
4000
5000
6000
Figura 6.5 Coherencia de la excitacin en el punto A, utilizando la punta de acero (9902 A).
0.025
Se utiliz una punta de caucho (9904 A),

el cual tiene un limite en frecuencia de 2000 Hz
0.02
1340 Hz
Magnitud, g
1400 Hz
1450 Hz
0.015
300 Hz
0.01
340 Hz
580 Hz
0.005
300
580
1000
Frecuencia, Hz
1340
1450
2000
Figura 6.6 Respuesta en frecuencia de la excitacin en el punto A, utilizando la punta de caucho (9904 A).
91
COHERENCIA
1
Magnitud
0.8
0.6
0.4
0.2
200
400
600
800
1000
1200
Frecuencia, Hz
1400
1600
1800
2000
Figura 6.7 Coherencia de la excitacin en el punto A, utilizando la punta de caucho (9904 A).
Las frecuencias naturales del banco de pruebas obtenidas de los puntos A, B, C, D, F, G, se

encuentran resumidas en la Tabla 6.2.
Tabla 6.2 Frecuencias naturales encontradas en el banco de pruebas.
Punta 9902A (acero)
Punta 9904A (caucho)
Punto A: 1325, 1435, 2120, 2410, 2630, 3150, 3280,
3490, 3760, 4280, 4350, 4700, 4890, 5555 Hz
Punto B: 420, 980, 1320, 1450, 1980, 2220, 2400,
2590, 2690, 2790, 3070, 3220, 3500, 3880, 4610, 4920,
5050, 5280, 5580, 5890 Hz
Punto C: 330, 1370, 1510, 1660, 2200, 2440, 2660,
2840, 3150, 3410, 3760, 3880, 4200, 4350, 4650,
4980,5110, 5650 Hz
Punto D: 2040, 3060, 3460, 3750, 4330, 4560, 5220,
5280, 5580 Hz
Punto F: 740, 1370, 1660, 2350, 2560, 2770, 3420,
3570, 4000, 4220, 4640, 5120, 5280, 5770 Hz
Punto G: 695, 1210, 1390, 2100, 2350, 2650, 2890,
3090, 3430, 3750, 4160, 4330, 4880, 5460, 6080 Hz
Punto A: 300, 340, 580, 1340, 1400, 1450 Hz

Punto B: 195, 305, 420, 830, 970, 1330, 1455, 1900 Hz
Punto C: 300, 345, 660, 950, 1365, 1510, 1650, 1885 Hz
Punto D: 300, 349, 580, 1340, 1400 Hz
Punto F: 90, 140, 180, 230, 325, 380, 560, 740, 820, 960,
1165, 1215, 1375, 1450, 1550, 1660 Hz
Punto G: 85, 120, 290, 325, 520, 580, 630, 690, 800,830,
960,1165, 1210, 1300, 1385, 1430, 1580, 1760, 1980 Hz
El conocimiento de las frecuencias naturales ayud a determinar, si las vibraciones obtenidas

durante la experimentacin correspondan a la excitacin de alguna frecuencia natural (efecto
de resonancia) del banco de pruebas.
6.5 Interpretacin de datos adquiridos con los

acelermetros piezoelctricos
De los datos adquiridos, se obtuvieron grficas en el tiempo, la PSD y el biespectro. La
comparacin entre ellas permiti mostrar las ventajas de utilizar el biespectro en el diagnstico
de fallas en rodamientos. Como era de esperarse, se encontr que a determinada velocidad de
rotacin; la falla en el rodamiento genera armnicos de la frecuencia definida en la ecuacin
3.1. A continuacin se presentan y describen, los grficos correspondientes a 60 y 50 Hz de
frecuencia de rotacin. Los grficos restantes se encuentran en el Anexo D.
92
Se ha definido anteriormente la zona de carga de un rodamiento. Y dado que en la descripcin

de las siguientes grficas se har mencin de este concepto; se describe la manera en que se
encuentran relacionadas la zona de carga y la amplitud de las vibraciones.
La Figura 6.8 muestra 330 grados de giro del anillo interior y el correspondiente
desplazamiento de la falla. Estas posiciones se obtuvieron de manera prctica: se desmont el
la flecha y se hizo girar manualmente. En la Figura 6.8 tambin se indica que, cada vez que
existe un choque, y la grieta se encuentre cerca o en la zona de carga, se producir un impulso
de gran amplitud; mientras que si el impacto entre la grieta y una bola, no sea en la direccin de
la carga, los picos sern de menor amplitud. Esta caracterstica de vibracin es propia para una
falla en el anillo interior del rodamiento y es una consecuencia de que en esta zona es donde
acta el vector de la carga (incluso el mismo peso de la flecha).
En la Figura 6.8 tambin puede apreciarse que los impactos no ocurren en posiciones
simtricas del rodamiento, de tal manera que no siempre se obtendr la misma amplitud de
vibracin. Adems pueden presentarse situaciones de deslizamiento entre los elementos
rodantes y las pistas [1]. Estos deslizamientos, que producen una pequea variacin en los
clculos de las frecuencias de falla, son as mismos aleatorios. Todo lo anterior contribuye a
que la amplitud de la vibracin obtenida presente cierta aleatoriedad; y a que no sea posible
determinar exactamente, la desviacin que se obtendr con respecto a las frecuencias de falla
esperadas.
En otras palabras, supngase que una bola requiere 2.5 vueltas del eje para recorrer totalmente
la circunferencia del rodamiento; sin embargo, si en ciertos instantes hay deslizamiento,
podran requerirse ms de esas 2.5 vueltas; modificando las frecuencias de falla obtenidas
durante la experimentacin.
Figura 6.8 Desplazamiento de la falla conforme el anillo interior gira y amplitud de los impactos de acuerdo a su
cercana con la zona de carga.
6.5.1 Dominio del tiempo (piezoelctricos)

En el anlisis de maquinara, -dada la dificultad que presenta- la seal en el tiempo no suele ser
analizada. Adems, para aportar informacin relevante, es necesario contar con una base de
93
datos de la vibracin producida por dicha mquina. La discusin siguiente se realiza con el de
poner en evidencia sus caractersticas.
6.5.1.1 Caso 60 Hz - Vibracin vertical
Al comparar las Figuras 6.9 y 6.10a se observa que como era de esperarse, la amplitud de la
vibracin es mayor cuando el rodamiento tiene la falla, respecto a la condicin sin dao. Sin
embargo, en el caso del rodamiento daado, se identifica una modulacin de amplitud. La
Figura 6.10b muestra claramente que la modulacin se lleva a cabo entre las frecuencias
correspondientes a: la respuesta forzada y la respuesta natural. Se considera respuesta forzada a
la seal de vibracin producida por el choque entre la grieta y las bolas (lneas rojas); mientras
que la respuesta natural es la seal obtenida despus cada impacto. En casos como este, los
patrones de modulacin dificultan el anlisis de la seal de vibracin cuando se utilizan tcnicas
convencionales tales como: PSD y envolvente.
10
Amplitud, g
-5
-10
0
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg.
0.4
0.5
0.6
Figura 6.9 Seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 60 Hz.
Por medio de la Figura 6.10b se muestra que la frecuencia de los impactos que ocurren en la
zona de carga, estn relacionados con la frecuencia de rotacin.
En la Figura 6.10b, los impactos separados una frecuencia aproximada de 64.3 Hz (0.01555 s)
se presentan cuando la grieta se encuentran dentro de la zona de carga. En esta figura tambin
se puede observar, que la frecuencia de los impactos producidos entre la grieta y las bolas es de
aproximadamente 312.5 Hz (0.0032 s). Esta ltima frecuencia esta relacionada con la
frecuencia de falla terica, que es de 325 Hz (ver Tabla 6.1).
a)
10
Aceleracin, g
-5
-10
0
94
0.1
0.2
0.3
Tiempo, s
0.4
0.5
0.6

10
0.01555 Seg.
b)
Aceleracin, g
-5
Despues de cada impacto se producen oscilaciones,
las cuales son producidas por la excitacin del sistema
mecnico.
Las flechas rojas sealan los impulsos producidos

por el choque entre la grieta y una bola
-10
0.0389
0.042
0.0452
0.0484
0.0512
0.0544
Tiempo,seg
c)
Aceleracin, g
4
5e-4s
2
0
-2
-4
-6
-8
0.0452
0.0458
0.0463
0.0469
Tiempo,seg
0.0474
0.048
0.0484
Figura 6.10 Seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz.
En la Figura 6.10c se muestra que la frecuencia de las oscilaciones producidas despus de cada
impacto, es de aproximadamente 2000 Hz (5e-04 s). Esta frecuencia es importante, ya que en
el espectro de esta seal los primeros picos de gran amplitud aparecieron cerca de 2000 Hz.
6.5.1.2 Caso 50 Hz - Vibracin vertical
En la Figura 6.11b se observa que el espaciamiento de los impactos cambia a consecuencia de
que el rodamiento esta girando ahora a 50 Hz. Los impulsos de gran amplitud, producidos
nicamente cuando que existe un choque en la zona de carga; tienen una frecuencia de 54.05
Hz (0.0185 s); mientras que los impulsos producidos por los choques entre la grieta y las bolas
es de 263.15 Hz (0.0038 s). La frecuencia de 263.15 Hz esta relacionada con la frecuencia de
falla terica, la cual es de 271.14 Hz. En la Figura 6.11c, se observa que la frecuencia de las
oscilaciones producidas despus de cada impacto fue nuevamente de alrededor de 2000 Hz.
95
10
a
Aceleracin, g
-5
-10
0.1
0.2
0.3
Tiempo, s
0.4
0.5
0.6
0.0185 Seg.
b)
Aceleracin, g
-4
Despues de cada impacto se producen oscilaciones,
las cuales son producidas por la excitacin del sistema
mecnico

-8
0.2299
0.2338
0.2376
Tiempo, seg
0.2412
0.2445
0.2484
c)
Aceleracin, g
4
5e-4s
0
-4
-8
0.2338
0.2343
0.2348
0.2353
0.2359
Tiempo, seg
0.2364
0.2369
0.2376
Figura 6.11 Seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 50 Hz.
6.5.1.3 Caso 60 Hz - Vibracin horizontal

La frecuencia de los choques entre la grieta y las bolas de la Figura 6.12b es de
aproximadamente 333.33 Hz (0.0030 s), y est relacionada con la frecuencia de falla terica de
325 Hz. En la Figura 6.12c, la frecuencia de las oscilaciones producidas despus de cada
impacto es de 3333.33 Hz; la cual justifica como se ver mas adelante- que en la PSD
correspondiente a esta seal, los picos de mayor amplitud aparecieran cerca de esta frecuencia.
96

15
a)
10
Aceleracin,g
5
0
-5
-10
-15
0.1
0.2
0.3
Tiempo,s
0.4
0.5
0.6
15
b)
Aceleracin,g
10
5
0
-5
-10
-15
0.337
0.34
0.3433
0.3465
0.3495
0.3523
Tiempo,s
0.3552
0.3586
0.3616
0.3646
0.3676
15
c)
10
Aceleracin, g
3e-4s
5
-5
-10
-15
0.3523
0.3526
0.3529
0.3532
0.3534
0.3537
0.354
0.3543
0.3545
0.3549
0.3552
Tiempo,s
Figura 6.12 Seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz.
6.5.1.4 Caso 50 Hz - Vibracin horizontal

En la Figura 6.13b, se observa claramente un efecto de modulacin. Mientras que la frecuencia
de rotacin ahora es de 50 Hz, la frecuencia de los choques entre la grieta y las bolas es de
270.27 Hz (0.0037 s); mientras que la frecuencia de falla calculada fue de 271.14 Hz.
En la Figura 6.13c, la frecuencia de las oscilaciones producidas despus de cada impacto es de
aproximadamente 3333.33 Hz. Por tanto, en el espectro de esta seal los picos de gran
amplitud deben aparecer cerca de esta frecuencia.
97
10
a)
Aceleracin, g
-5
-10
0.1
0.2
0.3
Tiempo, s
0.4
0.5
0.6
10
b)
Aceleracin, g
-5
-10
0.2631
0.2667
0.2703
0.2743
0.278
0.2815
0.2852
0.2888 0.2924
Tiempo, Seg.
0.2963
0.2999
0.3035
0.3072
0.3105
c)
10
3e-4s
Aceleracin, g
-5
-10
0.2852
0.2855
0.2858
0.2861
0.2863
0.2866
0.2869
0.2872
0.2875
0.2878
0.2881
0.2885
0.2888
Tiempo, Seg.
Figura 6.13 Seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con fallo, caso de 50 Hz.
Cabe aclarar, que fue muy difcil identificar estas frecuencias. Adems, otra desventaja de estos
grficos es que no muestran el contenido de energa en la seal de vibracin.
Obsrvese que la amplitud de la vibracin en las figuras 6.9a y 6.12a en algunos momentos
sobrepasa el rango de 10g. Por tanto, los MEMS (ADXL210E) no detectarn estos niveles;
dado que el lmite de medicin de ste tipo de MEMS es de 10 g. No obstante, en el anlisis
espectral comparativo entre los acelermetros piezoelctricos y MEMS; se muestra que las
mediciones fueron muy similares a pesar de encontrarse montados en lugares diferentes.
En resumen, la comparacin en el dominio del tiempo entre una condicin sin falla y otra con
falla; indica claramente que existe un problema en el rodamiento. Sin embargo es difcil
determinar el origen del problema ya que no se puede observar claramente una secuencia clara
de impactos (frecuencia de falla del rodamiento).
98
6.5.2 PSD (piezoelctricos)

6.5.2.1 Caso de 60 Hz Vibracin vertical
Al igual que los grficos en el dominio del tiempo, la comparacin entre las Figuras 6.14a y
6.15a, muestran una diferencia significativa del nivel de vibracin entre la condicin sin falla y
con falla.
0.12
Aceleracion, g 2/Hz
0.1
El objetivo de presentar este grafico con esta

escala, es el de poder realizar una comparacin
entre las dos condiciones del rodamiento
0.08
0.06
0.04
0.02
60
295
645
980
1340
1675
1985
2315
2675
3015
3320
3750
4295
5000
Frecuencia, Hz
-4
x 10
b)
Aceleracion, g 2/Hz
2545 Hz
6
2180 Hz
4
60
295
695
980
1340
1675
1985
2315
2675
Frecuencia, Hz
3015
3320
3750
4295
500
Figura 6.14 PSD de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 60 Hz.
El anlisis de la Figura 6.14b, revel que se estn generando resonancias; ya que en el espectro
se encontraron frecuencias muy prximas o que coinciden con algunas frecuencias naturales.
Esta conclusin se obtuvo despus de que no se encontrara relacin entre los diversos picos,
es decir, no se encontr ninguna serie de armnicos que indicaran algn tipo de falla. De aqu
en adelante a la caracterstica de vibracin sin falla, se le denominar comportamiento
dinmico del banco de pruebas. En la Tabla 6.3, se muestran las frecuencias correspondientes
a los picos de mayor amplitud que aparecen en la Figura 6.14b; y se puede notar que, a
excepcin de la frecuencia de rotacin, todos los dems picos corresponden a excitaciones de
frecuencias naturales.
99
Tabla 6.3 Frecuencias de la PSD, condicin sin falla caso de 60 Hz, vibracin vertical.
Pico en el espectro (Hz)
60
295
695
1340
1675
1985
2180
2315
2545
2675
3015
3320
3750
4295
Descripcin
Frecuencias naturales excitadas (Hz)
300
695
1340
1660
1980
2200
2350
2560
2660
3060
3280
3750
4280
Dado que en muchos casos es difcil eliminar la excitacin de frecuencias naturales, hay que
revisar que las resonancias que se estn produciendo no rebasen los lmites tolerables de
vibracin. Para hacer esto, existen tablas de ndices de vibracin permitidos, que se encuentran
tabuladas segn la velocidad de giro de la mquina. Y nuevamente se hace necesario tener un
historial de la mquina en su defecto, otra mquina que trabaje bajo las mismas condiciones.
A continuacin se analiza la manera en la que el rodamiento daado, influye en el
comportamiento dinmico del banco de pruebas. En la Figura 6.15a se observa un pico de
gran amplitud en 1895 Hz; este pico por si solo no indica una falla el rodamiento. No obstante,
despus de realizar un zoom, se encontr que el pico en 1895 Hz tiene relacin con otros picos
de menor amplitud mostrados en la Figura 6.15b. Es decir, los picos 1895 Hz, 2220 Hz, 2545
Hz, 2870 Hz, 3195 Hz y 3520 (indicados en rojo); tienen una separacin de 325 Hz, la cual
corresponde a la frecuencia de falla terica. Tambin se encontr otra serie de picos que
presentaron la misma separacin, y que est traslapada con la serie anterior, son indicados en
azul: 1690 Hz, 2015 Hz, 2340 Hz, 2665 Hz y 2990 Hz.
0.12
1895 Hz
a)
Amplitud, g 2/Hz
0.1
1870 Hz 1920 Hz
0.08
0.06
0.04
0.02
0
100
500
1000
1500
2000
2500
Frecuencia, Hz
3000
3500
4000
4500
5000
0.04
1895 Hz
b)
0.035
Amplitud, g 2/Hz
0.03
2015 Hz
0.025
2220 Hz
0.02
2545 Hz
0.015
3520 Hz
2340 Hz
2870 Hz
1690 Hz
0.01
3195 HZ
2665 Hz 2990 Hz
0.005
0
500
1000
1500
4000
4500
5000
Frecuencia, Hz
-3
x 10
c)
1690 Hz
Amplitud, g 2/Hz
0.8
0.6
645 Hz
295 Hz
1365 Hz
1570 Hz
0.4
60 Hz
772 Hz
1245 Hz
0.2
0.06
0
400
1040
1183
1570
Frecuencia, Hz
Figura 6.15 PSD de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz.
En [63] se explica que el efecto de traslape es una de las ambigedades en el uso de la PSD. De
las Figuras 6.14a y 6.15c se observa que la amplitud de la frecuencia de 60 Hz, se redujo en un
74 % respecto a la condicin sin falla. La amplitud de la frecuencia de 60 Hz para condicin
sin falla es de 2.3e-4 g 2 / Hz ; mientras que para la condicin con falla es de 0.06e-3. Esto es un
indicativo de que el problema es grave, ya que cuando el problema esta empezando la
frecuencia de rotacin crece en magnitud; pero cuando la falla es grande, la amplitud
disminuye.
Tambin, se ha considerado que cuando el problema es grave deben aparecer bandas laterales
alrededor de las frecuencias de falla. Por tanto, En la Figura 6.15a se analizaron los picos de
1870 Hz y 1920 Hz que se encuentran alrededor del pico en 1895 Hz. Se encontr que estas
frecuencias estn relacionadas con la frecuencia de falla de la jaula ya que la resta con la
frecuencia de 1895 Hz da 25 Hz. La frecuencia de 25 Hz se aproxima al valor de la frecuencia
de falla terica (ver tabla 6.1). As mismo, en la Figura 6.15c, se observa que se siguen
excitando algunas frecuencias naturales: 295, 645 y 772 Hz.
Como resumen se tiene que: el comportamiento dinmico del banco de pruebas dificult
relacionar directamente la frecuencia de falla con los primeros armnicos; ya que se esperaba
un pico de gran amplitud en 325 Hz. Sin embargo, la falla en el rodamiento produjo una
frecuencia que excit o estaba muy prxima a 1895 Hz, y a partir de esta frecuencia se
originaron una serie de armnicos. La aparicin de la serie de picos a partir de 1895 Hz, es
101
porque la frecuencia de las oscilaciones despus de cada impacto son de aproximadamente.

2000 Hz.
6.5.2.2 Caso de 50 Hz Vibracin vertical
Realizando un zoom a la Figura 6.16a; frecuencias naturales. En la Tabla 6.4 se presentan la
frecuencia de los picos y las frecuencias naturales correspondientes.
0.09
a)
Aceleracion, g 2/Hz
0.08
El objetivo de presentar este grafico con

esta escala, es el de poder realizar una
comparacin entre las dos condiciones del
d i t
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0
1000
2000
Frecuencia, Hz
3000
4000
5000
-3
x 10
b)
2215 Hz
865 Hz
Aceleracion, g 2/Hz
0.8
675 Hz
1140 Hz
0.6
1955 Hz
580 Hz
4705 Hz
2820 Hz
410 Hz
0.4
295 Hz
50
0.2
0 120
815
1095
1420
1700
2050
2495
Frecuencia, Hz
3330
3905
4500
5000
Figura 6.16 PSD de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 50 Hz.
Comparando la Tabla 6.3 y la 6.4, se observa que el cambio en la frecuencia de rotacin

produjo que se excitaran otras frecuencias naturales.
102

Tabla 6.4 Frecuencias del espectro para condicin sin falla caso de 50 Hz, vibracin vertical
Descripcin
50
Frecuencias naturales excitadas (Hz)
295
300 Hz.
410
420 Hz.
580
580 Hz.
675
660 Hz.
865
830 Hz.
1140
1165 Hz.
1420
1430 Hz.
1700
1660 Hz.
1955
1980 Hz.
2050
2040 Hz.
2215
2220 Hz.
2495
2440 Hz.
2820
2840 Hz.
3330
3280 Hz.
4705
4700 Hz.
En la Figura 6.17a se produjo un pico de gran amplitud en 1855 Hz, a consecuencia de la falla
en el rodamiento. Pero, este pico por si solo no indica un problema en el rodamiento. Se
realiz un zoom a la Figura 6.17a, y se encontr que este pico pertenece a una serie de picos
separados en 271 Hz; indicados en rojo en la Figura 6.17b.
Tambin, se encontr una segunda serie espaciados por 271 Hz. La serie inicia en 1413 Hz, y
sus elementos se encuentran indicados en azul en la Figura 6.17B. Adems, se observa que la
frecuencia de 4780 Hz tiene una amplitud considerable ya esta cerca de la frecuencia natural de
4700 Hz. Al igual que en el caso de 60 Hz, el efecto de traslape se atribuye al comportamiento
propio del banco experimental. La aparicin de la serie de picos en 1855 Hz obedece a que la
frecuencia de las oscilaciones despus de cada impacto sea de aprox. 2000 Hz.
En las Figuras 6.16b y 6.17c se observa que la amplitud en la frecuencia de 50 Hz, se redujo en
un 70 % respecto a la condicin sin falla. La amplitud de la frecuencia de 50 Hz para condicin
sin falla es de 0.008e-3 g 2 / Hz ; y para la condicin con falla es de 0.025e-4 g 2 / Hz . Esto es
indicativo de un problema grave en el rodamiento. Tambin, se observa que se excitaron las
frecuencias naturales de 288 Hz y 645 Hz.
En la grafica 6.17a, es posible ver que las frecuencias de 1835 Hz y 1875 Hz se encuentran
separadas 20 Hz del pico de 1855 Hz, lo que es indicativo de modulacin con la frecuencia de
falla de la jaula, esto viene a reforzar la teora de que se trata de un problema grave.
103
0.09
1855 Hz
0.08
a)
Aceleracion, g 2/Hz
0.07
1875 Hz
0.06
0.05
1835 Hz
0.04
0.03
0.02
0.01
0
500
1000
1500
2000
2500
Frecuencia, Hz
3000
3500
4000
4500
5000
-3
x 10
1855 Hz
1958 Hz
b)
Aceleracion, g 2/Hz
6
2130 Hz
2229 Hz
4
1584 Hz
3213 Hz
2400 Hz
2500 Hz
1413 Hz
3484 Hz
2942 Hz
2671 Hz
3042 Hz
3750 Hz
4780 Hz
1687 Hz
2771 Hz
1
0
500
1000
4000
Frecuencia, Hz
4500
5000
-4
x 10
1413 Hz
645 Hz
c)
1584 Hz
1313 Hz
Aceleracion, g 2/Hz
0.8
0.6
863 Hz
1134 Hz
288 Hz
50 Hz
0.4
0.2
200
400
592
Frecuencia, Hz
1042
Figura 6.17 PSD de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 50 Hz.
6.5.2.3 Caso de 60 Hz Vibracin horizontal

La Figura 6.18 corresponde al rodamiento sin dao, se aprecian varios picos que en su mayora
corresponden a frecuencias cercanas a las frecuencias naturales. La Tabla 6.5 presenta la
relacin entre ellas.
104
-3
x 10
2650 Hz
Aceleracion, g 2/Hz
2.5
3320 Hz
1.5
60 Hz
0.5
295
695
980
1650
1985
2315
2650
Frecuencia, Hz
2990
3320
3730
4010
5000
Figura 6.18 PSD de la seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin sin fallo, caso de 60 Hz.
Tabla 6.5 Frecuencias del espectro para condicin sin falla.

Descripcin
60
Frecuencia natural excitada (Hz)
295
300
695
695
980
980
1650
1650
1985
1980
2315
2350
2650
2650
2990
3060
3320
3280
3730
3750
4010
4000
En la Figura 6.19a, se observan claramente las dos series de picos traslapadas separados en
aproximadamente 325 Hz. La primera est indicada en azul y la segunda en rojo. El fenmeno
de traslape sigue indicando que el uso de la PSD para estos casos es inadecuada.
En la Figura 6.19a, se siguen observado bandas laterales alrededor de los picos originados por
la falla en el rodamiento. Comparando las Figuras 6.18b y 6.19b se observa que la amplitud de
la frecuencia de rotacin disminuy en un 75%. Las condiciones anteriores indican que la falla
en el rodamiento es grave.
Obsrvese que para la vibracin horizontal, los picos de mayor amplitud se encuentran en
aproximadamente 3520 Hz; esto era de esperarse, ya que en el grafico del tiempo se determin
que la frecuencia de las oscilaciones despus de cada impacto era de aproximadamente 3333.33
Hz.
105
0.16
Aceleracion, g 2/Hz
3520 Hz
2 series de picos traslapadas. Cada serie

esta separada aprox. 325 Hz, que
corresponde a la frecuencia de falla del
anillo interior del rodamiento.
0.14
0.12
0.1
0.08
3190 Hz
3315 Hz
a)
3640 Hz
2990 Hz
2865 Hz
2665 Hz
2540 Hz
2340 Hz
2220 Hz
0.06
2015 HZ
1890 Hz
0.04
1690 Hz
0.02
0
500
1000
1500
4000
4500
5000
Frecuencia, Hz
-3
x 10
b)
1690 Hz
Aceleracion, g 2/Hz
2.5
1565 Hz
2
1365 Hz
1.5
1422 Hz
295 Hz
60 Hz
1
120 Hz
0.5
0
60
295
712
915
Frecuencia, Hz
1183
1690
1800
Figura 6.19 PSD de la seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz.
6.5.2.4 Caso de 50 Hz Vibracin horizontal

Al hacer una comparacin directa entre las PSDs para ambas condiciones del rodamiento,
nicamente dejo ver un cambio en la amplitud de las vibraciones. En la Figura 6.20 se muestra
un zoom para la condicin sin dao, nuevamente se presentan picos relacionados con algunas
de las frecuencias naturales encontradas. En la Tabla 6.6 se resumen estas frecuencias.
-3
Aceleracion, g 2/Hz
x 10
1.5
815 Hz
1
580 Hz
295 Hz
0.5
50 Hz
580
860
1140
1420 1655
2215
2530
Frecuencia, Hz
2820 3070
33753535
3905
4500
5000
Figura 6.20PSD de la seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 50 Hz.
106

Tabla 6.6 Frecuencias del espectro para condicin sin falla.
Descripcin
50
Frecuencia de rotacin 50 Hz.
295
Es una excitacin de la frecuencia natural de 300 Hz.
580
815
1420
1655
2215
2530
2820
3070
3375
Es una excitacin de la frecuencia natural de 3410Hz.
3535
3905
En la Figura 6.21a se encontraron igualmente dos serie de picos, pero ahora separados en 271
Hz; siendo la frecuencia de rotacin de 50 Hz. Los picos de la primera serie estn indicados en
azul y los de la segunda en rojo. El traslape de picos, como se coment anteriormente dificult
el uso de la PSD para detectar el dao.
La Figura 6.21a se puede observar tambin la presencia de bandas laterales alrededor de las
frecuencias de falla; dando una indicacin de que el problema es grave. Por otra parte, la
comparacin de las Figuras 6.20 y 6.21b mostr que la amplitud de la frecuencia de rotacin
disminuyo pero no de manera significativa.
0.045
2
series
de
picos,
traslapados.
Separados
aprox. 271 Hz, frecuencia
que corresponde a una
falla en el anillo interior
d l d i
A m plitud, g 2/Hz
0.04
0.03
0.02
3587 Hz
a)
1860 Hz
1680 Hz
0.01
3316 Hz
3215 Hz
3045 Hz
3486 Hz
2944 Hz
2771 Hz
2673 Hz
2500 Hz
1951 Hz
2402 Hz
2230 Hz
2130 Hz
500
1000
4000
Frecuencia, Hz
4500
5000
-3
x 10
b)
1680 Hz
768 Hz
Amplitud, g 2/Hz
1.5
1585 Hz
1410 Hz
288 Hz
1315 Hz
0.5
50
288
500
768
Frecuencia, Hz
1140
1800
Figura 6.21 PSD de la seal de vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 50 Hz.
107
En la Figura 6.21b, se observa que se siguen excitando algunas frecuencias naturales; tales
como: 288 Hz y 768 Hz. Adems, los picos de mayor amplitud continan apareciendo en
aproximadamente 3520 Hz; lo cual era de esperarse ya que en el grafico del tiempo se
determino que la frecuencia de las oscilaciones despus de cada impacto es tambin de aprox.
3333.33 Hz.
Aunque a simple vista, nicamente se lograron ver bandas laterales en las Figuras 6.15 y 6.17,
estas se presentan en los dems picos, para ambos sentidos de vibracin y todas las frecuencias
de giro. Se encuentran espaciados un valor de frecuencia que corresponde a la frecuencia de un
defecto en la jaula del rodamiento en estudio.
6.5.3 Biespectro (piezoelctricos)

El biespectro son 2 grficos en tres dimensiones cada uno: amplitud y fase, se muestran en la
Figura 6.22. En los ejes x y y las unidades son en frecuencia y en el eje z se encuentra la
amplitud adimensional de los picos para el primer grfico y en radianes en el segundo grfico.
Comnmente slo se usa el primer grfico (magnitud del biespectro) para identificar
acoplamientos entre pares de frecuencias, como fue el caso de este trabajo de tesis. La vista en
tres dimensiones del biespectro no permite realizar un anlisis detallado, por ello se prefiere
utilizar la vista de planta (vista superior). La vista de planta permite localizar los picos y
tambin permite cuantificar la amplitud de ellos, a travs de la barra de colores.
Magnitud del biespectro
Vista frontal
a
b
Figura 6.22 Biespectro de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con fallo (caso de 60 Hz)
a) Magnitud b) Fase
Al igual que las grficas en el dominio del tiempo y la PSD, el biespectro muestra una
diferencia significativa entre el nivel de vibracin para la condicin sin falla y con falla.
Obsrvese la escala en las barras laterales de las Figuras 6.27 a la 6.35. Los biespectros para
condiciones sin falla, presentan unos picos muy pequeos que son generados por
acoplamientos entre las resonancias de sistema.
Para facilitar la comprensin, considrese el acoplamiento (3705 Hz, 2030Hz), el cual se
muestra en el zoom de la Figura 6.23b. De la Tabla 6.2 se puede comprobar que estas dos
108
frecuencias se aproximan a los valores de las frecuencias naturales del sistema mecnico, de ah
que se diga que estos picos fueron generados por el efecto de resonancia, ms especficamente,
por el acoplamiento de dos frecuencias naturales.
Las Figuras 6.24 y 6.26, son los biespectros obtenidos de la seal de vibracin vertical para
condiciones con falla, ntese que presentan una serie de picos. Al analizar el espaciamiento
entre los picos, se encontr que para el caso de una velocidad de giro de 60 Hz, el
espaciamiento es de 325 Hz y para el caso de 50 Hz es de 271 Hz. Por lo que estos picos se
relacionaron con las frecuencias de falla para el anillo interior.
100
100
2700
Los acoplamientos son producidos por

la excitacin de las frecuencias
naturales. La barra de colores indica su
amplitud
5000
90
2600
4500
2500
80
4000
2400
70
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
3500
3000
60
2500
50
2000
40
(3323,2320)
2200
60
(3705,2030)
2100
40
1800
30
500
50
(3323,2030)
1900
1000
80
70
2300
2000
1500
90
(4065,1670)
(3323,1770)
30
1700
1000
2000
3000 4000 5000

Frecuencia, Hz
6000
7000
8000
20
3000
3200
3400
3600
Frecuencia, Hz
3800
20
4000
b)
a)
Figura 6.23 a) Biespectro de la vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 60 Hz, b) Zoom
4
x 10
5000
4500
3.5
x 10
2217
El fallo del rodamiento produjo una

serie de picos espaciados en 325 Hz. La
barra de colores indica su amplitud
4
3.5
4000
3
2.5
3000
2500
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
3
3500
2.5
1897
2
2000
1.5
1.5
1500
1000
500
0
0
0.5
1000
2000
3000 4000 5000

Frecuencia, Hz
6000
7000
8000
0.5
1577
1897
2220
2545
Frecuencia, Hz
2870
b)
a)
Figura 6.24 a) Biespectro de la vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz, b)Zoom
109

30
30
1680

amplitud
5000
4500
25
25
(1415,1400)
1400
(1700,1400)
3500
20
3000
2500
15
2000
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4000
(1700,1680)
20
1120
(860,840)
(1700,1120)
840
15
(1415,840)
1500
560
10
1000
500
0
1000
2000
3000 4000 5000

Frecuencia, Hz
6000
7000
(860,560)(1140,560)
(1700,560)
860
1700
1980
Frecuencia, Hz
280
8000
(2260,560)
10
(1415,280)
1140
1415
2260
2540
b)
a)
Figura 6.25 a) Biespectro de la vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 50 Hz, b) Zoom
4
x 10
5000
2.2
4500
4000
1.8
3500
1.6
3000
1.4
2500
1.2
1
2000
1857
0.6
1000
2
1.8
1.4
1.2
1
0.8
1585
0.6
0.4
500
2.2
1.6
0.8
1500
0
0

Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
x 10
0.4
0.2
1000
2000
3000 4000 5000

Frecuencia, Hz
a)
6000
7000
0.2
8000
1857
2129
2400
Frecuencia, Hz
2672
b)
Figura 6.26 a) Biespectro de la vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 50 Hz, b)Zoom
Ntese como el patrn de los BIS para una condicin sin falla y una con rodamiento daado
son totalmente diferentes. Mientras que en el primer caso aparecen picos de manera dispersa y
sin relacin aparente, en las condiciones con falla se origina una nica lnea de acoplamientos,
relacionadas la mayora de las veces, con el pico de mayor amplitud presente en la PSD
correspondiente. Esto indica que existe una frecuencia dominante y que el valor de sta, es
caracterstica propia del banco en donde se realizaron las pruebas.
Los biespectros de las Figuras 6.28 y 6.30 se obtuvieron de la seal de vibracin horizontal
para condiciones con falla. En las grficas aparece una distribucin de picos totalmente
diferentes a los producidos con la seal de vibracin vertical (cordillera lineal de picos). Sin
embargo, al analizar los grficos, se encontraron picos separados por la frecuencia de falla. Para
el caso de 60 Hz, se encontraron picos separados por 325 Hz; mientras que la separacin fue
de 271 Hz que para el caso de 50 Hz.
110
350
350

amplitud
4500
Frecuencia, Hz
4000
300
300
250
3500
3000
200
2500
2000
600
Frecuencia, Hz
5000
695
500
250
400
200
295
150
150
1500
200
1000
100
100
100
500
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000 8000
50
2600 2705 2800 2900 3000 3100 3200 3300 3400
50
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
b)
a)
Figura 6.27a) Biespectro de la vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 60 Hz,b)Zoom
4
x 10
1.8
2550

4500
4000
1.6
1.6
(2550,2550)
(2875,2550)
1.4
3500
1.2
3000
1
2500
Frecuencia, Hz
5000
Frecuencia, Hz
x 10
1.8
(3200,2550)
1.2
2225
1
(2550,2225)
(2875,2225)
(3200,2225)
0.8
0.8
2000
1500
0.6
1.4
0.6
1900
1000
0.4
0.4
500
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
0.2
Frecuencia, Hz
(2550,1900)
(2875,1900)
2550
2875
Frecuencia, Hz
(3200,1900)
3200
0.2
b)
a)
Figura 6.28 a) Biespectro de la vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con falla, caso de 60 Hz, b)Zoom
200
200
1100
5000
Los acoplamientos son producidos

por la excitacin de las frecuencias
naturales. La barra de colores indica
su amplitud
Freceuncia, Hz
4000
3500
1000
900
150
3000
2500
2000
150
Freceuncia, Hz
4500
800
700
600
100
100
1500
500
1000
400
500
300
1000
2000
3000
4000
5000
Frecuencia, Hz
a)
6000
7000
8000
50
2200 2300 2400 2500 2600 2700 2800 2900 3000 3100
50
Frecuencia, Hz
b)
Figura 6.29 a) Biespectro de la vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin sin falla, caso de 50 Hz, b) Zoom
111

5000
4500
3500
(2405,2405)
(2675,2405)
(2947,2405)
3000
3500
2500
3000
2500
2000
2000
1000
3000
(2135,2135)
(2405,2135)
(2675,2135)
(2947,2135)
2500
2000
1863
1500
(2135,1863)
(2405,1863)
(2675,1863)
(2947,1863)
1000
1000
500
3500
2135
1500
1500
4000
2405
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4000
4000
1592
1000 2000 3000 4000 5000 6000 7000 8000

Frecuencia, Hz
500
2135
2405
2675
Frecuencia, Hz
2947
500
b)
a)
Figura 6.30 a) Biespectro de la vibracin horizontal (piezoelctrico) para condicin con fallo, caso de 50 Hz, b) Zoom
La razn por la que los BIS del sentido horizontal no muestren una nica lnea de picos
espaciados la frecuencia de falla, es porque este sentido se encuentra influenciado por el tipo
de accionamiento, y en la PSD ste fenmeno se observa por la presencia de un mayor
contenido armnico y una mayor dificultada para encontrar las frecuencias de falla esperadas.
Sin embargo y a pesar de sta condicin, con el BIS se lograron identificar inequvocamente
picos separados un valor igual a la frecuencia de falla.
A pesar de que el BIS presenta otros picos de menor amplitud, y que no se han relacionado
con la frecuencia de falla o con algn otro elemento del banco, el anlisis de ellos podra
aportar mayor informacin sobre el comportamiento general del banco donde se realiz el
estudio. Sin embargo, en este trabajo de tesis se limit a la bsqueda y localizacin de los picos
de mayor amplitud, que son los que proporcionan la informacin sobre el estado del
rodamiento.
En el biespectro de las dos direcciones de vibracin analizadas se encuentran picos separados
por la frecuencia de falla, permitiendo localizar su origen. Sin embargo los picos se presentaron
de manera mas clara en la seal de vibracin vertical, que los obtenidos de la seal horizontal.
Se determin que para este sistema en particular, la seal de vibracin vertical es el mejor
indicador del estado del rodamiento; dado que es en est direccin donde se tiene menor
rigidez.
Cuando un rodamiento tiene una falla, en la mayora de los casos excita las frecuencias
naturales del sistema (efecto de resonancia). De ah, que los picos que muestran en los
biespectros no se puedan relacionar directamente con las frecuencias de falla, en los primeros
armnicos. Durante la experimentacin, un pico de gran amplitud apareci en
aproximadamente (1900,1900). Pero la localizacin de este pico puede cambiar si se vara la
rigidez o la masa del sistema. Por lo tanto, el pico que suele aparecer alrededor de los 1900 Hz
no proporciona informacin relevante, ya que existen muchos equipos industriales que
presentan rigidez y masa muy diferentes. El cambio de la rigidez y la masa se ver reflejada en
la frecuencia de las oscilaciones despus de que ocurren los impactos.
112
En el caso de este trabajo de tesis, el biespectro result ser til en el diagnstico de

rodamientos, ya que no solo permiti detectar el dao en el anillo interior, sino que adems
present la informacin de manera ms clara, de tal manera que se tuvo una mayor seguridad
de la condicin del rodamiento.
Sin embargo, para validar un proceso de diagnstico, se busca que la tcnica permita detectar,
localizar y en el mejor de los casos, cuantificar la magnitud del dao. Estos puntos pueden ser
proporcionados con el uso del biespectro. El biespectro permiti detectar la falla ya que el
nivel de vibracin para una condicin sin fallo y otra con fallo, es muy diferente. La secuencia
de picos observados en el biespectro, los cuales estn espaciados por las frecuencias de falla,
permitieron localizar el origen de la falla, es decir, se tuvo certeza de que la falla estaba
ocurriendo en uno de los componentes del rodamiento. La cuantificacin del dao utilizando
el biespectro, puede ser establecido creando una clasificacin (estndares) entre la magnitud de
vibracin en el biespectro y el tamao de la grieta o desconchado. Esto permitira decir cundo
es que el rodamiento presenta un dao considerable y cuando no.
Una situacin de suma importancia en la aplicacin del BIS, es que hubiera permitido
diagnosticar la falla en el rodamiento, conociendo nicamente las caractersticas fsicas del
banco (tipos de rodamientos) y las condiciones de funcionamiento (velocidad de giro y mtodo
de accionamiento). A salvedad de lo que investigaciones posteriores pudieran determinar,
parece ser que el BIS puede detectar las fallas sin la necesidad de registros a priori del
funcionamiento de la mquina. Sin embargo, para determinar la magnitud del dao se necesita
una referencia, por lo que para cuantificar el dao en el rodamiento, el BIS no elimina la
necesidad de registros de la mquina.
6.6 Comparacin entre los acelermetros

MEMS y piezoelctricos
A continuacin se realiza una interpretacin de los grficos obtenidos con los acelermetros
MEMS. Para facilitar la comprensin, solo se comparan los datos obtenidos para condiciones
con falla y cuando el sistema operaba a 60 y 50 Hz (3600 y 3000 rpm, respectivamente). Los
dos acelermetros MEMS montados sobre la chumacera permitieron medir lo siguiente (ver
Figura 5.8):
2 Seales de vibracin vertical (medido por los acelermetros b1 y b2)

Seal de vibracin horizontal (medido por el acelermetro b1)
Seal de vibracin axial (medido por el acelermetro b2)
De las seales adquiridas con los MEMS, no se presenta el anlisis de la seal de vibracin
axial, ya que esta direccin no proporciona informacin de la condicin del rodamiento.
Tampoco se considera la seal de vibracin vertical obtenida con el MEMS colocado en la
parte lateral de la chumacera, a consecuencia del amortiguamiento de la vibracin que se
present al estar cerca del rea de apriete del tornillo. Por tanto, solo se realiza la comparacin
entre el MEMS b1 con los dos acelermetros piezoelctricos a1 y a2.
113
6.6.1 PSD de seales de vibracin vertical (MEMS)

Al comparar las Figuras 6.15a contra 6.31 y 6.17a contra 6.32, se observa que el sensor MEMS
y piezoelctrico midieron frecuencias muy similares. Para el caso de 60 Hz, el MEMS midi un
pico considerable en 1892 Hz con una amplitud de aprox. 0.2 g 2 / Hz , mientras que el
piezoelctrico lo midi en 1890 Hz con una amplitud de 0.12 g 2 / Hz . En el caso de 50 Hz, el
MEMS midi un pico considerable en 1854 Hz con una amplitud de aprox. 0.14 g 2 / Hz ,
mientras que el piezoelctrico lo midi en 1855 Hz con una amplitud de aprox. 0.08 g 2 / Hz .
De lo anterior, se puede decir que el sensor MEMS respondi satisfactoriamente.
En ambas frecuencias de rotacin: 60 y 50 Hz, los MEMS presentaron ms armnicos
alrededor del pico de mayor amplitud respecto a los piezoelctricos. Este efecto puede estar
relacionado con el hecho de que los sensores se encuentran en diferentes posiciones.
En las Figuras 6.31 y 6.32, al buscar la frecuencia de falla para el anillo interior en las PSDs
obtenidas del MEMS, se observ que tambin se presentan dos series de picos traslapados.
Esto corrobor la teora de que la aparicin de las dos series es un comportamiento propio del
banco experimental. Para el caso de 60 Hz, estn espaciados por aproximadamente 325 Hz. La
primer serie est indicada en rojo y la segunda en azul. Como se puede notar, las series estn
formadas por un nmero menor de elementos. Por otro lado, las frecuencias de 2147 y 2089
Hz corresponden a frecuencias naturales. Adems, se observan claramente bandas laterales en
el pico de mayor amplitud, que son indicativos de modulacin; la separacin entre los picos
corresponde a la frecuencia de la jaula del rodamiento analizado.
0.2
1892 Hz
Magnitud (g 2/Hz)
0.15
1918 Hz
2004 Hz
2089 Hz
0.1
2147 Hz
1868 Hz
2219 Hz
2361 Hz
0.05
1670 Hz
500
1000
1500
2500
Frecuencia (Hz)
3000
3500
4000
4500
5000
Figura 6.31 PSD de seal de vibracin vertical (MEMS) para condicin con falla, caso de 60 Hz.
Para el caso de 50 Hz mostrado en la Figura 6.32, los picos estn espaciados por
aproximadamente 271 Hz. La primer serie marcada en rojo y la segunda en azul. En esta
grfica, las frecuencias laterales del pico de 1854 tambin corresponden a la frecuencia de jaula
del rodamiento analizado. Tanto a 60 como a 50 Hz fue difcil determinar la falla, porque las
amplitudes de los picos son muy pequeas.
114

0.14
1854 Hz
0.12
Magnitud (g 2/Hz)
1834 Hz 1875 Hz
0.1
1974 Hz
0.08
2057 Hz
0.06
2127 Hz
0.04
1680 Hz
2245 Hz
4252 Hz
0.02
0
1000
3000
4000
5000
Frecuencia (Hz)
Figura 6.32 PSD de seal de vibracin vertical (MEMS) para condicin con fallo, caso de 50 Hz.
6.6.2 PSD de seales de vibracin horizontal (MEMS)

Al comparar las Figuras 6.19a contra la 6.33 y la 6.21a contra la 6.34, se observa que tanto el
piezoelctrico como el MEMS tienen ms armnicos en la direccin horizontal respecto a la
direccin vertical. Para el caso de 60 Hz, el MEMS midi un pico considerable en 3521 Hz con
una amplitud de aprox. 0.13 g 2 / Hz ; mientras que el piezoelctrico lo midi en 3520 Hz con
una amplitud de aprox. 0.16 g 2 / Hz . En el caso de 50 Hz, el MEMS midi un pico
considerable en 1954 Hz con una amplitud de aprox. 0.041 g 2 / Hz ; mientras que el
piezoelctrico lo midi en 3587 Hz con una amplitud de aprox. 0.045 g 2 / Hz . En esta ltima
comparacin la localizacin del pico de mayor amplitud vari mucho, a consecuencia de que se
encuentran montados en diferentes puntos sobre la chumacera.
Despus de buscar las frecuencias de falla (ver Tabla 6.1) en las PSDs obtenidas de los MEMS,
se observ que se presentan las dos series de picos traslapados. La Figura 6.33 es para el caso
de 60 Hz, los picos aparecen espaciados por 325 Hz. La primer serie esta indicada en rojo y la
segunda en azul.
0.14
1568 Hz
1688 Hz
0.12
3521 Hz
1868 Hz
3316 Hz
Magnitud (g 2/Hz)
2014 Hz
0.1
2219 Hz
2339 Hz
0.08
3195 Hz
2543 Hz
2665 Hz
0.06
3641 Hz
2870 Hz
2990 Hz
0.04
0.02
0
1000
Frecuencia (Hz)
4000
5000
Figura 6.33 PSD de seal de vibracin horizontal (MEMS) para condicin con fallo, caso de 60 Hz.
De manera similar, en el caso de 50 Hz de la Figura 6.38, los picos estn espaciados por 271
Hz. La primer serie nuevamente se indic en rojo y la segunda serie en azul. De manera similar
115
a como sucedi con el sentido vertical de los piezoelctricos, el traslape dificult determinar la
existencia de una falla.
0.045
1954 Hz
2128 Hz
2227 Hz
2400 Hz
2500 Hz
2671 Hz
0.04
Magnitud (g 2/Hz)
0.035
0.03
3316 Hz
3487 Hz
2772 Hz
3588 Hz
0.025
2943 Hz
1804 Hz
0.02
1683 Hz
0.015
3758 Hz
3045 Hz
3215 Hz
3881 Hz
4029 Hz
4153 Hz
0.01
0.005
0
500
1000
1500
4500
Frecuencia (Hz)
5000
Figura 6.34 PSD de seal de vibracin horizontal (MEMS) para condicin con falla, caso de 50 Hz.
6.6.3 Biespectro de las seales de vibracin vertical (MEMS)

Al comparar las Figuras 6.24 y 6.36 -caso de 60 Hz para condiciones con falla-, se observa el
mismo patrn (lnea de picos). Sin embargo, el biespectro obtenido con el MEMS no muestra
picos espaciados por la frecuencia de fallo. Solo coinciden en el pico de mayor amplitud, el cual
est en (1897 Hz, 1897 Hz). Cabe aclarar que los resultados no fueron los mismos porque los
sensores no fueron colocados en el mismo lugar. Sin embargo, otra razn es el hecho de que
los sensores tienen resoluciones distintas, siendo el MEMS el que tiene la menor resolucin,
por lo que no es capaz de detectar las vibraciones de muy pequea amplitud.
4
x 10
6
x 10
6
3000
1940
5
1920
2000
1500
3
1000
2
500
Frecuencia (Hz)
Frecuencia (Hz)
2500
1897
3
1860
1840
1820
1000
2000
3000
4000
Frecuencia (Hz)
5000
1897
1953
2000
2073
2113
2150
Frecuencia (Hz)
b)
a)
Figura 6.35 a) Biespectro de la seal de vibracin vertical (MEMS) para condicin con falla, caso de 60 Hz, b) Zoom
Para observar el efecto de la menor resolucin del MEMS, en las Figura 6.37 y 6.38 se
muestran las vistas frontales del BIS, que corresponden a la vista de planta de las Figuras 6.24 y
6.36, respectivamente.
116
En la Figura 6.36 se muestra una serie de picos, los cuales estn relacionados con la frecuencia
de fallo. Observe que los pequeos picos en 2215, 2540, 2870 y 3190 Hz no se observan en la
Figura 6.38 obtenida por el MEMS a consecuencia de la menor resolucin.
4
x 10
1890 Hz
4.5
2215 Hz
4
2540 Hz
3.5
Amplitud
2870 Hz
3
3190 Hz
2.5
3515 Hz
3840 Hz
2
4165 Hz
1.5
1
0.5
0
1000
4815
6000
7000
8000
Frecuencia, Hz
Figura 6.36 Vista frontal del BIS de la seal de vibracin vertical (piezoelctrico) para condicin con falla, caso
de 60 Hz.
4
x 10
Amplitud
5
4
3
2
1
0
500
1890
2215
2540
Frecuencia, Hz
2865
3190
3515
3840
4500
5000
Figura 6.37 Vista frontal del biespectro de la seal de vibracin vertical (MEMS) para condicin con falla, caso
de 60 Hz.
Al comparar las Figuras 6.26 y 6.38 (caso de 50 Hz para condiciones con falla), se observa que
en ambas se encuentran picos espaciados por la frecuencia de falla (271 Hz), aunque no tienen
la misma distribucin de picos. La amplitud de los picos, es mayor en el biespectro obtenido
con el MEMS respecto al piezoelctrico, esta diferencia se aprecia al comparar las magnitudes
de la barra de colores.
117
x 10
5
3000
2126
4.5
El fallo en el rodamiento
produjo picos separados por la
frecuencia de fallo (271 Hz).
4
Frecuencia, Hz
2500
3.5
2000
3
1500
2.5
4.5
4
(2126,2126)
3.5
3
(2126,1855)
(1855,1855)
2.5
1000
2
500
0
1.5
1000
2000
3000
Frecuencia, Hz
4000
5000
1.5
1855
1
1855
Frecuencia, Hz
2126
b)
a)
Figura 6.38 a) Biespectro de la seal vertical (MEMS) para condicin con fallo, caso de 50 Hz, b) Zoom
6.6.4 Biespectro de las seales vibracin horizontal (MEMS)

Al comparar las Figuras 6.28 y 6.39 (caso de 60 Hz para condicin con falla), se muestra la
misma distribucin de picos. En ambos casos se observa picos espaciados por la frecuencia de
falla (325 Hz). Sin embargo, sus amplitudes difieren mucho ya que encuentran en diferentes
puntos sobre la chumacera. La comparacin entre las Figuras 6.30 y 6.40, muestra que
tambin existe una distribucin de picos muy similares. En ambos casos se observan picos
espaciados por la frecuencia de falla (217 Hz). Sin embargo sus amplitudes difieren porque que
se encuentran en diferentes puntos sobre la chumacera. Las amplitudes son mayores en el
biespectro obtenido con el MEMS (16000) respecto al piezoelctrico (4000).
4
x 10
4.5
5500
4000
4
(2340,2340)
3.5
3500
3000
2.5
2500
2000
3.5
Frecuencia (Hz)
4500
x 10
4.5
2340
5000
Frecuencia (Hz)
Frecuencia, Hz
x 10
5
2015
2.5
(2015,2015)
(2340,2015)
(2665,21015)
2
1690
1500
1.5
1.5
1000
500
0
1000
2000
3000
4000
5000
Frecuencia (Hz)
6000
7000
8000
(2015,1690)
(2340,1690)
(2665,1690)
2015
2340
2665
0.5
1690
Frecuencia (Hz)
b)
a)
Figura 6.39 a) Biespectro de la seal horizontal (MEMS) para condicin con falla, caso de 60 Hz, b) Zoom.
118
1
0.5
4500
4000
(1955,1955)
(2226,1955)
14000
14000
1955
12000
3500
10000
3000
2500
8000
2000
Frecuencia (Hz)
5000
Frecuencia (Hz)
16000
16000
5500
12000
10000
8000
1684
6000
6000
1500
1000
4000
(1955,1684)
(2226,1684)
4000
500
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
Frecuencia (Hz)
8000
2000
1955
2226
2000
2497
Frecuencia (Hz)
b)
a)
Figura 6.40 a) Biespectro de la seal horizontal (MEMS) para condiciones con falla, caso de 50 Hz, b) Zoom.
7. Conclusiones
La determinacin de las frecuencias naturales del banco y el clculo de la frecuencia de falla del
rodamiento en estudio, fueron de gran utilidad para interpretar los grficos en el dominio del
tiempo, PSD y biespectro; tanto para condicin sin falla como para la condicin con falla. En
teora, la frecuencia de falla para la pista interior debe aparecer en el espectro medido; ya que el
rodamiento presenta una falla en el anillo interior. La medicin de las frecuencias naturales
tambin fue muy til en el diagnstico, ya que proporcion informacin acerca del
comportamiento dinmico del banco de pruebas.
Despus de analizar los datos de las seales de vibracin, se pueden establecer las siguientes
conclusiones: (Nota: Las conclusiones de la PSD y biespectro aplica para las seales de
vibraciones verticales y horizontales).
A. Caso de grficos en el tiempo
1. En las seales de vibracin vertical y horizontal para condicin con falla, se observaron
los impactos producidos por la falla en el rodamiento y las oscilaciones generadas
despus de que ocurren los impactos.
2. La modulacin en la seal de vibracin para condicin con falla, se est llevando a
cabo principalmente por la frecuencia generada por los impactos (respuesta forzada) y
por las oscilaciones producidas despus de los impactos (respuesta natural)
3. Solo en la seales de vibracin vertical para condicin con falla, se identificaron los
impactos originados en la zona de carga; ya que el eje de medicin del acelermetro
pasa por esta zona; siendo el peso del eje suficiente para que aqu ocurran los impactos
de mayor amplitud.
119
B. Caso de PSD
1. Los picos de pequea amplitud que se presentan en las PSDs para condiciones sin
falla, son resonancias (excitacin de las frecuencias naturales) del sistema mecnico.
Esta caracterstica de vibracin se considera como el comportamiento dinmico del
banco de pruebas.
2. La amplitud de la vibracin que presenta la PSD para condicin sin falla, no es
significativo respecto a la condicin con falla. No obstante, la amplitud de la frecuencia
de rotacin es mayor para la condicin sin falla. Esto indica que la falla es grave.
3. La PSD para condicin con falla solo indica la existencia de sta (presenta un nivel de
vibracin considerable), pero no proporciona informacin clara del origen (no presenta
una secuencia clara de armnicos). En las PSDs de la vibracin vertical para
condicin con falla, fue difcil identificar los picos originados por el defecto ya que
muchos de los picos son de pequea amplitud y tambin porque existen dos series de
picos separados por la frecuencia de fallo terica. Mientras, que en las PSDs de la
vibracin horizontal para la misma condicin, el problema de identificacin se debi a
el traslape entre dos series de picos; los cuales estn separados por la frecuencia de falla
terica.
4. En los espectros de la vibracin vertical y horizontal para condicin con falla, la
aparicin de los picos de gran amplitud en aproximadamente 2000 Hz y 3333.33 Hz; se
debe a las oscilaciones producidas despus de cada impacto.
B. Caso del Biespectro
1. Los pequeos picos que se presentan en el biespectro para condiciones normales, son
acoplamientos entre las resonancias (excitacin de las frecuencias naturales) del sistema
mecnico.
2. Existe una clara diferencia, entre la amplitud de la vibracin que presenta el biespectro
para condicin sin falla respecto a la condicin con falla.
3. El biespectro para condicin con falla indica la existencia de un dao (presenta un nivel
de vibracin considerable) y tambin proporciona informacin para determinar el
origen debido a que presenta una secuencia de armnicos fcilmente identificables.
4. La localizacin del pico de mayor amplitud en el biespectro para condicin con falla,
fue una consecuencia de la respuesta natural sistema y de la localizacin del sensor.
C. Diagnostico utilizando la seal de vibracin vertical vs horizontal.
1. En los biespectros obtenidos de las dos direcciones (para condiciones con falla) se
observan picos espaciados por la frecuencia de falla para el anillo interior del
rodamientos 6206. Pero el biespectro obtenido de la seal de vibracin vertical,
120
presenta mayor amplitud de vibracin. De ah, que se consider a la seal de vibracin

vertical como el mejor indicador del estado del rodamiento, ya que en esta direccin
existe menor rigidez.
D. Evaluacin de los acelermetros MEMS ADXL210E
1. Los MEMS (ADXL202, ADXL210, ADXL250) no fueron adecuados para el
diagnstico de fallas en los rodamientos de este banco, ya que las vibraciones
producidas por este defecto en ocasiones rebasaron 10g. As como tambin, la
resolucin que ofrece el MEMS es deficiente comparada con la del piezoelctrico.
2. La amplitud producida por los MEMS siempre es mayor comparado con los grficos
producidos por los piezoelctricos, a consecuencia de que el punto donde fue colocado
el sensor presenta menor rigidez.
3. Los biespectros obtenidos a diferentes velocidades de rotacin: 60, 55, 50, 45, 40 y 35
Hz, coinciden con los picos de mayor amplitud en los piezoelctricos, pero no
muestran una serie de picos espaciados por la frecuencia de falla.
121
Captulo 7
Conclusiones y recomendaciones
7.1 Conclusiones
Al colocar los acelermetros piezoelctricos en diferentes puntos sobre la chumacera; y
comparar los grficos obtenidos en cada uno de ellos, se observ que la seal de vibracin
estaba siendo afectada por la impedancia mecnica. Se logr identificar que el mejor punto
para colocar el acelermetro piezoelctrico es en la parte superior de la chumacera (en el centro
de la tapa). En este sitio se obtiene la mejor seal de vibracin vertical ya que present la
mayor amplitud de vibracin, a consecuencia de que existe menor rigidez en esta direccin.
Durante la experimentacin se determin que ninguno de los dos sistemas de adquisicin
utilizados, fueron capaz de detectar la grieta de 1.5 mm de profundidad. La deteccin de un
dao nicamente fue posible cuando el anillo interior estuvo completamente roto. Por lo tanto,
se necesitan mas pruebas para determinar el nivel de dao mnimo en el anillo interior que es
posible detectar.
La construccin del sensor tipo MEMS no permiti medir el sentido vertical desde la parte
superior de la chumacera, as que se opt por colocarlo en la parte frontal de sta (sensor
MEMS, b1).
A pesar de que los acelermetros piezoelctricos y MEMS se encontraban montados en
diferentes puntos sobre la chumacera, como se observa en la Figura 5.8; los grficos de PSD y
biespectro, para ambos tipos de acelermetros, coincidieron en la medicin de los picos de
mayor amplitud.
Para alimentar a los MEMS, se utiliz el voltaje de salida de la tarjeta de adquisicin (5V) y la
colocacin de un capacitor de 2200 F en paralelo con la fuente de voltaje. Inicialmente se
123
estaba utilizando una fuente de voltaje convencional, sin embargo se presentaba demasiado
ruido. La seleccin de la fuente de voltaje fue muy importante, ya que los acelermetros
MEMS son radiomtricos y por tanto, si existe mucho ruido en la fuente de voltaje; la
medicin se ver afectada.
La estimacin de la PSD present una ventaja respecto al biespectro: utiliza menos recursos
computacionales. La cantidad de datos y la frecuencia de muestreo fueron las mismas para
estimar la PSD y biespectro. Aproximadamente, la estimacin de la PSD se obtuvo en 2
segundos; mientras que el biespectro tardaba 30 minutos (para 10 240 en 5 particiones). De ah
que los grficos de PSD tengan mejor resolucin, siendo esta de 1.6 Hz; mientras que el
biespectro tiene 8 Hz (no se pudo mejorar la resolucin del biespectro por la cantidad de
recursos computacionales necesarios). Por tanto, se puede decir que en la estimacin del
biespectro se est perdiendo informacin.
Las seales de vibracin provenientes de los rodamientos presentaron patrones de modulacin;
lo cual indic que existe interaccin entre los componentes frecuenciales. La PSD estuvo
imposibilitada para mostrar estas interacciones; por el contrario con el biespectro se pudieron
identificar los acoplamientos entre pares de frecuencias. Esto ltimo es importante, ya que
permiti saber qu pares de frecuencia estaban produciendo la vibracin de mayor amplitud.
La no linealidad del sistema fue otra informacin que proporcion el BIS. Tal no linealidad se
determin al encontrar picos de gran amplitud fuera de la diagonal principal del triangulo
rea no redundante de BIS. Adems, en el biespectro se observ claramente las frecuencias de
falla dado que tiene la propiedad de eliminar el ruido de naturaleza Gaussiana, lo que no pasa
con la PSD.
Los impulsos producidos por la falla en el rodamiento, excitaron frecuencias naturales ( al
menos se estuvo muy cerca). Esto fue revelado analizando los espectros, ya que los picos de
mayor amplitud se presentaron en aproximadamente 1900 Hz para la vibracin vertical y 3500
Hz para la vibracin horizontal. Lo anterior, fue corroborado al encontrar que las frecuencias
de las oscilaciones (respuesta natural) producidas despus de los choques son 2000 Hz y
3333.33 Hz; para la vibracin vertical y horizontal respectivamente.
Tanto la PSD como el biespectro de las direcciones horizontal y vertical, permitieron detectar
y localizar el elemento donde se encontraba la falla. Sin embargo, en el biespectro fue ms fcil
y menos confusa la identificacin del dao. El incremento en amplitud del nivel de vibracin
es un parmetro que permiti detectar el dao en el anillo interior; mientras que la serie de
picos separados por la frecuencia de falla permiti determinar la ubicacin del dao. La PSD
por otro lado, fue difcil de interpretar, ya que se present un traslape (en la seal de vibracin
horizontal y vertical) entre las dos series de picos espaciados por la frecuencia de falla. Adems,
las amplitudes a partir del segundo pico de mayor amplitud fueron muy pequeas (seal de
vibracin vertical).
Se comprob que los MEMS utilizados (ADXL210E), pueden ser aplicados en el monitoreo
de maquinaria. Sin embargo, lo an limitado de sus caractersticas de operacin; como su
ancho de banda, su resolucin, la temperatura de trabajo, entre otras cosas; no los hace
recomendables parar utilizarlos en mquinas de procesos crticos, aunque en mquinas de
menor importancia es posible usarlos para implementar sistemas de monitoreo permanente.
124
Captulo 7. Conclusiones y recomendaciones
7.2 Aportaciones
Se present un estudio experimental, el cual permite evaluar el desempeo del

biespectro (caso especial de los HOS) en el diagnstico de fallas en
rodamientos.
Se dise y construy un banco de pruebas, que puede ser utilizado para

anlisis posteriores de otros tipos de fallas en rodamientos.
Se elabor un programa de adquisicin basado en LabView v6, que puede ser

utilizado en versiones posteriores de LabView, para utilizar el programa en
trabajos futuros; se hizo tambin un manual de usuario de dicho programa.
Se compar el funcionamiento de lo acelermetros MEMS (ADXL202E,

ADXL210E, ADXL250JQ), respecto a los acelermetros piezoelctricos,
logrando con ello, mostrar algunas ventajas y desventajas de los acelermetros
MEMS.
7.3 Recomendaciones Para Trabajos Futuros
Realizar un anlisis comparativo con otros algoritmos de procesamiento, tal

como: la Envolvente, Wavelet, Factor Cresta, Promedios Sncrono, etc.
Utilizar sensores MEMS de otros fabricantes, con el objetivo de evaluar la

forma de construccin y una posible reduccin del ruido. Construir un circuito
de acondicionamiento para la seal proveniente de los MEMS
Analizar la grieta en el anillo interior para otros niveles de profundidad; otros

tipos de fallas u otro tipo de rodamiento.
Realizar un programa de interfase para el diagnstico de fallas en rodamientos

utilizando el biespectro, de tal manera que sea amigable y pueda ser utilizado
por personas sin mucha experiencia.
Dado que la tcnica de la envolvente elimina las oscilaciones provocadas

cuando se excita la frecuencia natural de la chumacera, sera muy interesante
estimar el biespectro para la envolvente de la seal de vibracin. Esto, podra
permitir relacionar directamente, los primeros armnicos producidos por un
defecto en el rodamiento con las frecuencias de falla tericas.
125
Referencias
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The Nethidands,
email ypma@ph.tn.
tudelft.nl
131
Anexo A. Validacin de los MEMs
Anexo A. Validacion de los MEMs

En este trabajo de tesis, adems de los acelermetros piezoelctricos, se utilizaron
acelermetros MEMS de Analog Devices del tipo capacitivo, se implementaron diferentes
modelos, aunque finalmente el utilizado fu el ADXL-210, del cual sus caractersticas se
describen en el captulo X.
Para llevar a cabo la validacin de los ADXL-210, se montaron sobre el Shakber ubicado en el
laboratorio de diseo mecnico, adems se mont un acelermetro piezoelctrico para realizar
una comparacin de los resultados obtenidos y se hicieron dos tipos de pruebas:
La primera consisti en mantener el voltaje del shaker constante, variando nicamente

la frecuencia de excitacin
La segunda prueba se hizo manteniendo una frecuencia constante y se hizo variar el

voltaje de excitacin del shaker
Para la adquisicin de la seal de los MEMS se utiliz el mismo sistema con el que se
recogieron las seales de vibracin de los rodamiento. Los resultados obtenidos de ambas
pruebas se muestran a continuacin.
Se montaron 3 sensores y, debido a que son biaxiales, se tienen un total de 6 grficas, las
grficas del lado izquierdo corresponden al eje ortogonal a la excitacin, mientras que las del
lado derecho son las del eje que se estaba excitando.
Tabla A1. Condiciones de adquisicin
Condiciones del Shaker-Analizador
Condiciones del Sistema de Adquisicin
Excitacin: 400 mV.

Onda seno continua
50% de tiempo de grabado
Ganancia = 5
Canales muestreados: 6
Muestras por canal: 5000
Razon de muestreo: 80 kmuestras/s
Experimento No. 1 Respuesta en Frecuencia

El objetivo de esta prueba fue conocer el valor mximo de frecuencia a la cual los MEMS
respondan de manera similar al acelermetro piezoelctrico.
El procedimiento consisti en ir incrementando la frecuencia de excitacin del Shaker,
partiendo de los 100 Hz y hasta los 1500 Hz, en incrementos de 100 Hz, a la vez que en cada
incremento se midi la amplitud p-p en gs de las seales obtenidas de los tres sensores, los
resultados se muestran en la tabla A2 y se grafican en la Figura A1.
133
Tabla A2. Diferentes frecuencias de excitacin para los MEMs ADXL-210

Piezoelctrico:
Mem
Mem 3: verde
Frecuencia
azul, (500 gs)
1, 2: rojo
(Hz)
Amplitud p-p en gs
100
15.19
14
16
200
12.23
11
12
300
11.14
10
11
400
10.97
10
10.7
500
9.96
9.4
10
600
9.87
9
10
700
9.36
8.6
9.5
800
8.77
8.2
8.9
900
10.24
9.2
10
1000
9.53
8.8
9.4
1100
9.20
8.4
9
1200
9.1959
8.1
8.7
1300
9.11
8
8.4
1400
9.03
7.8
8.6
1500
8.94
7.8
8.5
18.00
Amplitud p-p (g's)
16.00
14.00
12.00
piezo
10.00
mems 1,2
8.00
mem 3
6.00
4.00
2.00
1600
1500
1400
1300
1200
1100
1000
900
800
700
600
500
400
300
200
100
0.00
Frecuencia (Hz)
Figura A1. Respuesta en Frecuencia de los MEMS y el piezoelctrico.
Nota: Debido a que las pantallas del sistema de adquisicin no contaba con una manera de
cuantificar la amplitud de la seal, esta se hizo de manera manual, por inspeccin de las
divisiones mostradas en la grfica, de ahi que los datos obtenidos para los MEMS no deban
tomarse como absolutamente correctos.
Para comprobar por otro lado, que efectivamente los sensores reproducian las frecuencias a las
que se estaban excitando, se graficaron las PSDs de algunas de estas frecuencias. Las grficas
de la Figura A2 corresponden a una frecuencia de excitacin 1 KHz.
134
a) Sensor 1, 1 KHz, eje ortogonal
b) Sensor 1, 1 KHz, eje excitado
c) Sensor 2, 1 KHz, eje ortogonal
d) Sensor 2, 1 KHz, eje excitado
e) Sensor 3, 1 KHz, eje ortogonal

f) Sensor 3, 1 KHz, eje excitado
Figura A2. Respuesta en frecuencia de los MEMS ADXL-210 para una excitacin de 1 KHz.
Las amplitudes de los picos se muestran a continuacin:

Tabla A3. Respuesta de los MEMS para una excitacin de 1 KHz
Sensor 1
Eje ortogonal
Frecuencia
del pico
65 Hz
Amplitud 1e-04
Eje
excitado
1 KHz
1 KHz
7.5e-04
0. 12
Sensor 2
Eje ortogonal
Eje
excitado
65 Hz 1 KHz
1 KHz
65 Hz
1 KHz
Eje
excitado
1 KHz
1e-04
1e-04
3.5e-03
0.14
5e-03
0.12
Sensor 3
Eje ortogonal
135
Como se puede ver en las grficas, los sensores detectaron correctamente la frecuencia de 1
KHz, sin embargo, el eje ortogonal muestra un pico adicionas alrededor de los 65 Hz, el cual
corresponde a la frecuencia de linea, ya que tambin aparece en las PSD de los ejes excitados;
sin embargo por ser de amplitud muy pequea comparada con la amplitud del pico de la
frecuencia excitada, no se alcanzan a ver en estas grficas. En seguida se muestra las PSD para
el caso en el que la frecuencia de excitacin fu de 1.5 KHz (Figura A3).
a) Sensor 1, 1.5 KHz, eje ortogonal
b) Sensor 1, 1.5 KHz, eje excitado
c) Sensor 2, 1.5 KHz, eje ortogonal
d) Sensor 2, 1.5 KHz, eje excitado
e) Sensor 3, 1.5 KHz, eje ortogonal

f) Sensor 3, 1.5 KHz, eje excitado
Figura A3. Respuesta en frecuencia de los MEMS ADXL-210 para una excitacin de 1.5 KHz.
Y asmismo se presentan los picos en la Tabla A4.
136

Tabla A4. Respuesta de los MEMS para una excitacin de 1.5 kHz.
Sensor 1
Eje ortogonal
Frecuencia
del pico
65 Hz
Amplitud 1e-04
Eje
excitado
Sensor 2
Eje ortogonal
Eje
excitado
1.5 KHz
65 Hz
0. 19
1e-04
1.5
KHz
1.1e-03
1.5
KHz
8e-03
Sensor 3
Eje ortogonal
Eje
excitado
1.5 KHz
65 Hz
1.5 KHz
1.5 KHz
0.19
1e-04
5e-03
0.23
Como se puede ver en las tablas A3 y A4, los sensores detectaron la frecuencia de excitacin
en sus dos ejes, aunque cabe aclarar que en el eje orgotonal el nivel de excitacin fue de 20 a
100 veces menor que en el eje excitado. Adems, la tercia de sensores mostraron una amplitud
similar en sus salidas, las variaciones se deben desalineaciones con la vertical.
Comportamientos similares se presentaron para las otras frecuencias de excitacin.
Experimento No. 2
En esta segunda prueba, el objetivo fue verificar el nivel de excitacin mnima que los MEMS
podan registrar correctamente. El voltaje de excitacin del Shaker se vari desde 400 mV hasta
100 mV en decrementos de 50 mV. La frecuencia de excitacin fu de 1200 Hz.Los niveles de
amplitud p-p se muestran en la Tabla A5 y se grafican en la Figura A4.
Amplitud p-p (g's)
Tabla A5. Variacin del voltaje de excitacin a 1200Hz.

Excitacin
Excitacin Piezoelctrico: Mems 1,2: rojo Mem 3:verde
Propuesta (V)
Real (V)
azul
Amplitud p-p en gs
0.400
0.392
9.1959
8.1
8.7
0.350
0.345
8.0991
7
7.6
0.300
0.303
7.0868
6.2
6.7
0.250
0.255
6.2431
5.4
5.7
0.200
0.197
4.3027
4.1
4.5
0.150
0.152
3.7172
3.2
3.5
0.100
0.0986
3.6841
2.15
2.25
10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
piezo
mems 1,2
mem 3
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
0.3
0.35
0.4
0.45
Figura A4. Respuesta de los MEMS y el Piezoelctrico para diferentes exictaciones.
137
Para verificar que se reprodujeran las frecuencias de excitacin, se graficaron las PSD para
diferentes niveles de exctiacin
a) Sensor 1, 1.2 KHz, 100 mV, eje ortogonal
b) Sensor 1, 1.2 KHz, 100 mV, eje excitado
c) Sensor 2, 1.2 KHz, 100 mV, eje ortogonal
d) Sensor 1, 1.2 KHz, 100 mV, eje excitado
d) Sensor 3, 1.2 KHz, 100 mV, eje ortogonal

f) Sensor 1, 1.2 KHz, 100 mV, eje excitado
Figura A5. Grficos de frecuencia (1200 Hz), nivel de excitacin 100 mV.
En la Figura A5 se muestran las seales obtenidas de los MEMs para 1200 Hz y 100 mV, se
observa un comportamiento similar al de las Figuras A2 y A3, se observa que en los canales de
excitacin aparece la seal de 1200 Hz, sin embargo en los canales ortogonales el pico de 65
Hz es mas visible, debibo posiblemente, al pequeo nivel de excitacin, por lo que la diferencia
entre la amplitud de la frecuencia de lnea y la seal de excitacin no sea tan grande; esto se
puede ver mas claramente en la Tabal A6.
138

Tabla A6.. Respuesta de los MEMS para una excitacin de 1.2 kHz, 100 mV.
Sensor 1
Eje ortogonal
Frecuencia
del pico
65 Hz
Amplitud 8.5e-05
1.2
KHz
7e-05
Eje
excitado
Sensor 2
Eje ortogonal
Eje
excitado
1.2 KHz
65 Hz
0. 016
1e-04
1.2
KHz
5.8e-04
Sensor 3
Eje ortogonal
Eje
excitado
1.2 KHz
65 Hz
1.2 KHz
1.2 KHz
0.016
0.7e-04
4e-04
0.02
En la Figura A6, se presenta el caso cuando el voltaje de excitacin es de 250 mV, se puede
observar que las diferencias de amplitud entre el pico de 65 Hz y la seal de excitacin es
notable, asi que se puede decir que a este nivel la seal de lnea ya casi no es perceptible.
a) Sensor 1, 1.2 KHz, 250 mV, eje ortogonal
b) Sensor 1, 1.2 KHz, 250 mV, eje excitado
c) Sensor 1, 1.2 KHz, 250 mV, eje ortogonal
d) Sensor 1, 1.2 KHz, 250 mV, eje excitado
139
e) Sensor 1, 1.2 KHz, 250 mV, eje ortogonal

f) Sensor 1, 1.2 KHz, 250 mV, eje excitado
Figura A6. Grficos de frecuencia (1200 Hz), nivel de excitacin 250 mV.
Tabla A7. Respuesta de los MEMS para una excitacin de 1.2 kHz, 250 mV
Sensor 1
Eje ortogonal
Frecuencia
del pico
65 Hz
Amplitud
1e-04
1.2
KHz
5e-04
Eje
excitado
Sensor 2
Eje ortogonal
Eje
excitado
1.2 KHz
65 Hz
0. 11
1e-04
1.2
KHz
3.8e-03
Sensor 3
Eje ortogonal
Eje
excitado
1.2 KHz
65 Hz
1.2 KHz
1.2 KHz
0.11
1e-04
2.7e-03
0.13
Resultados similares a la de los datos aqui mostrados, se presentaron para las otro niveles de
excitacin.
Conclusiones
Se observo que el comportamiento de los MEMS en cuanto a la respuesta en frecuencia es
similar a la del acelermetro piezoelctrico utilizado como punto de referencia y aunque la
amplitud p-p fue ligeramente menor, se reprodujo fielmente la frecuencia de excitacin sin
agregar otros componentes armnicos mas que la de linea que tambien aparece en la seal del
piezoelctrico.Respecto al nivel de excitacin, los MEMS respondieron bien a toda la escala de
voltaje aplicados al reproducir la frecuencia de 1200 Hz de entrada.
Comparando todas las tablas de amplitud, se observa que la frecuencia de lnea tiene una
amplitud constante para los dos tipos de pruebas, con lo que se verifica que el MEM no
aande o modifica el valor de las seales de entrada
Los tres MEMS analizados respondieron mas linealmente que el piezoelctrico, la explicacin a
este fenmeno puede justificarse porque el piezoelctrico utilizado tenia una capacidad de 500
gs y por lo tanto la excitacin resulto demasiado pequea como para que el piezoelctrico
respondiera linealmente.
Por todo lo anterior, se considera que los MEMs y que la manera en que se configur el
sistema de adquisicin, son adecuados para realizar la lectura de seales de vibracion de los
rodamientos.
140

Las frmulas que permiten calcular las frecuencias de fallos de los rodamientos, se pueden
obtener analizando su comportamiento cinemtico [2]. Para ello, es necesario asumir que el
anillo interno y externo del rodamiento giran; teniendo un ngulo de contacto () comn (ver
figura B1). Para facilitar la comprensin primero se determina la velocidad de rotacin de la
jaula y del elemento rodante.
1) Velocidad de rotacin de la jaula (Nm)
Figura B1. Frecuencia y velocidades del rodamiento.
La velocidad de lineal de cualquier partcula alrededor de un punto, se puede obtener por:

v = wr
(B1)
De donde:
w , es la velocidad angular (rad./seg.)
r , es la longitud entre el punto y la partcula (mm.)
Por consiguiente
vi =
1
wi ( D d cos )
2
d cos
, entonces la ecuacin (B2) puede escribirse como
D
1
vi = wi D(1 )
2
Similarmente,
1
vo = wo D(1 + )
2
(B2)
Si =
(B3)
(B4)
141
Considerando que w =
2 N
, en el cual N esta dada en rpm, de ah se obtiene que
60
vi =
vo =
N iD
60
(1 )
N o D
60
(B5)
(1 + )
(B6)
Si no ocurren grandes deslizamientos en las pista de contacto, entonces la velocidad de la jaula

y del conjunto de elementos rodantes se obtiene tomando la media de las velocidades de las
pistas externa e internas, por tanto
vm =
1
(v i + v o )
2
(B7)
Sustituyendo las ecuaciones (B5) y (B6) en B7 se produce
vm =
D
120
[N i (1 ) +
Considerando
vm =
N o (1 + ) ]
DN
1
wm D =
2
60
(B8)
(B9)
De ah que,
Nm =
1
[N i (1 ) + N o (1 + )]
2
(B10)
2) Velocidad del elemento rodante (NR)

La velocidad angular de la jaula relativa a la pista interna es,
N mi = N m N i
(B11)
Asumiendo que no existe deslizamiento entre la pista interna y bolas de contacto, la velocidad
lineal de la bola es igual al de la pista en el punto de contacto, esto es
1
1
w mi D (1 ) = w R d
2
2
(B12)
Por consiguiente, ya que N es proporcional a w ; sustituyendo N mi en la ecuacin B11 se tiene

D
N R = ( N m N i ) (1 )
(B13)
d
Sustituyendo la ecuacin B10 para N m produce
142
NR =
1D
(1 )(1 + )( N o N i )
2d
(B14)
Considerando que solo rota el anillo interno (caso tpico de aplicacin), las ecuaciones B10 y
B14 se reinscriben como
Nm =
1
N i (1 )
2
(B15)
NR =
1D
N i (1 2 )
2d
(B16)
3) Frecuencias de fallo de los rodamientos

Las frecuencias de fallo estn relacionadas a la velocidad de rotacin del anillo interno Ni (ya
que el anillo interior y el eje tienen la misma velocidad de rotacin, de aqu en adelante Ni ser
simplemente N), el dimetro de inclinacin del rodamiento D, el dimetro del elemento
rodante d, el nmero de bolas de rodillos n, y el ngulo de contacto .
Expresando la ecuacin B15 en unidades de Hertz, la frecuencia de rotacin de la jaula es
FJ =
N
d
1 cos
2 * 60 D
(B17)
De la ecuacin B17, se obtiene la frecuencia de fallo del anillo externo. Esto, a consecuencia
del contacto de bolas en un punto del camino de rodadura (del anillo externo). Esta frecuencia
puede calcularse como
FPE = n * FJ =
nN
d
1 cos
2 * 60 D
(B18)
Para definir la frecuencia de fallo del anillo interno, es necesario primero obtener la velocidad
rotacional del anillo interno relativo a la jaula. Esta se define como la razn a la cual un punto
fijo sobre el anillo interno pasa por un punto fijo sobre la jaula. Esto es,
wci =
N
d
1 + cos
2 D
(B19)
La ecuacin B19 tambin es conveniente expresarla en Hertz, por tanto
Fci =
N
d
1 + cos
2 * 60 D
(B20)
143
La frecuencia a la cual las bolas pasan en un punto del camino de rodadura (del anillo interno),
se conoce como la frecuencia de fallo del anillo interior; esto es
FPI = n * Fci =
nN
d
1 + cos
2 * 60 D
(B21)
La frecuencia de la rotacin del elemento rodante alrededor de su propio eje, se obtiene

expresando la ecuacin B16 en unidades de Hertz. Esto es,
FER =
DN
2d
2
d

1
cos
(B22)
Si existe un solo defecto sobre una bola o rodillo, se presentaran impactos en ambas pistas
internas y externa en una revolucin; as que la frecuencia de defecto es 2*FER. Adems, el
defecto puede tambin impactarse en una o ambas caras de la jaula, sin embargo, estos
normalmente tienen poca influencia sobre la medicin de la vibracin externa del rodamiento.
144
Anexo C. Frecuencias naturales del banco de

pruebas
Con el propsito de obtener mayor informacin sobre el comportamiento del banco
experimental, se hicieron una serie de pruebas para determinar las frecuencias naturales. En
este anexo se presentan las grficas obtenidas de los puntos de prueba B, C, D, F y G; con las
dos puntas utilizadas.
0.09
5580 Hz
5890 Hz
0.08
Se utiliz una punta de acero 9902A,

el cual tiene un lmite en frecuencia de
6400 Hz
0.07
1320 Hz
5280 Hz
4610 Hz
3220 Hz
3500 Hz
3880 Hz
2590 Hz
6190 Hz
5050 Hz
4920 Hz
0.05
1450 Hz
0.04
2400 Hz
2220 Hz
1980 Hz
0.03
420 HZ
0.02
980 Hz
0.01
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
Frecuencia, Hz
Figura C1. Respuesta en frecuencia del punto B usando una punta acero 9902A.
COHERENCIA
1
0.9
Amplitud
Magnitud, g
0.06
3070 Hz
2790 Hz
2690 Hz
0.8
0.7
0.6
0.5
1000
2000
3000
Frecuencia, Hz
4000
5000
6000
Figura C2. Coherencia del punto B usando una punta acero 9902A.
145
0.025

2000 Hz
80 Hz
Magnitud, g
0.02
115 Hz
140 Hz
195 Hz
0.015
1600 Hz
970 Hz
420 Hz
0.01
345 Hz
305 Hz
830 Hz
1900 Hz
240 Hz
0.005
1455 Hz
1330 Hz
500
1000
1500
2000
Frecuencia, Hz
Figura C3. Respuesta en frecuencia del punto B usando una punta de caucho 9904A.
COHERENCIA
1
Amplitud
0.8
0.6
0.4
0.2
200
400
600
800
1000
Frecuencia, Hz
1200
1400
1600
1800
Figura C4. Coherencia del punto B usando una punta caucho 9904A.
0.14

6400 Hz
0.12
5650 Hz
3880 Hz
3760 Hz
5110 Hz
0.1
Magnitud, g
3410 Hz
4980 Hz
3150 Hz
0.08
2840 Hz
4650 Hz
1660 Hz
0.06
2660 Hz
1510 Hz
4350 Hz
2440 Hz
4200 Hz
0.04
330 Hz
1370 Hz
2200 Hz
0.02
1000
2000
3000
4000
Frecuencia, Hz
Figura C5. Respuesta en frecuencia del punto C usando una punta acero 9902A.
146
6000
2000
C O H E R E N C IA
1
0.9
0.8
Amplitud
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
1000
2000
3000
F re c u e n c ia , H z
4000
5000
6000
Figura C6. Coherencia del punto C usando una punta acero 9902A.
0.025
0.02
Magnitud, g

2000 Hz
0.015
1650 Hz
1510 Hz
0.01
345 Hz
1365 Hz
950 Hz
110 Hz
1885 Hz
660 Hz
300 Hz
0.005
200
400
600
800
1000
1200
1400
1600
1800
2000
Frecuencia, Hz
Figura C7. Respuesta en frecuencia del punto C usando una punta caucho 9904A.
COHERENCIA
1
Amplitud
0.8
0.6
0.4
0.2
200
400
600
800
1000
Frecuencia, Hz
1200
1400
1600
1800
2000
Figura C8. Coherencia del punto C usando una punta caucho 9904A.
1.4
5580 Hz

6400 Hz
1.2
5280 Hz
Magnitud,g
1
3750 Hz
5220 Hz
0.8
4560 Hz
3060 Hz
0.6
2040 Hz
4330 Hz
3460 Hz
0.4
0.2
0
1000
2040
3060
4000
4560
5280
5580
6000
Frecuencia, Hz
Figura C9. Respuesta en frecuencia del punto D usando una punta acero 9902A
147

1
0.9
0.8
0.7
Amplitud
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0
1000
2000
3000
F re c u e n c i a , H z
4000
5000
6000
Figura C10. Coherencia del punto D usando una punta acero 9902A.
0.03
1400 Hz
0.025
el cual tiene una frecuencia lmite de
2000 Hz
Magnitud, g
0.02
1340 Hz
0.015
580 Hz
345 Hz
0.01
110 Hz
300 Hz
0.005
200
400
600
800
1000
Frecuencia, Hz
1200
1400
1600
1800
2000
Figura C11. Respuesta en frecuencia del punto D usando una punta caucho 9904A.
COHERENCIA
1
0.9
0.8
Amplitud
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
200
400
600
800
1000
Frecuencia, Hz
1200
1400
1600
1800
2000
Figura C12. Coherencia del punto D usando una punta caucho 9904A.
0.14
6400 Hz
0.12
5120 Hz
3040 Hz
4910 Hz
0.1
Magnitud, g
3120 Hz
0.08
1370 Hz
1455 Hz
1545 Hz
1660 Hz
0.06
2880 Hz
2770 Hz
2560 Hz
740 Hz
2350 Hz
5280 Hz
5770 Hz
4215 Hz
4395 Hz
4465 Hz
3330 Hz
3440 Hz
3570 Hz
3760 Hz
6190 Hz
4640 Hz
0.04
3965 Hz
2070 Hz
0.02
0
1000
2000
3040
Frecuencia, Hz
3965
4910
Figura C13. Respuesta en frecuencia del punto F usando una punta acero 9902A.
148
6190
C O H E R E N C IA
1
Amplitud
0.8
0.6
0.4
0.2
1000
2000
3000
4000
5000
6000
Figura C14. Coherencia del punto F usando una punta acero 9902A.
0.035
2000 Hz
0.03
1375 Hz
Magnitud, g
0.025
1450 Hz
820 Hz
1550 Hz
0.02
740 Hz
960 Hz
180 Hz
0.015
140 Hz
90 Hz
1215 Hz
230 Hz
1660 Hz
1165 Hz
325 Hz
0.01
380 Hz
560 Hz
0.005
0
200
400
600
800
1000
Frecuencia, Hz
1200
1400
1600
1800
2000
Figura C15. Respuesta en frecuencia del punto F usando una punta caucho 9904A.
1
0.95
0.9
Amplitud
0.85
0.8
0.75
0.7
0.65
0.6
200
400
600
800
1000
Frecuencia, Hz
1200
1400
1600
1800
2000
Figura C16. Coherencia del punto F usando una punta caucho 9904A.
0.12
6400 Hz
0.1
6080 Hz
5450 Hz
2100 Hz
2200 Hz
Magnitud, g
5650 Hz
3750 Hz
0.08
3090 Hz
2350 Hz
3860 Hz
3215 Hz
5000 Hz
4160 Hz
4880 Hz
0.06
2525 Hz
300 Hz
3335 Hz
2650 Hz
4330 Hz
3490 Hz
4530 Hz
0.04
525 Hz
1210 Hz
695 Hz
2890 Hz
1390 Hz
0.02
1000
2000
4000
5000
6000
Frecuencia, Hz
Figura C17. Respuesta en frecuencia del punto G usando una punta acero 9902A.
149
C O H E R E N C IA
1
0.8
Amplitud
0.6
0.4
0.2
1000
2000
3000
4000
5000
6000
Figura C18. Coherencia del punto G usando una punta acero 9902A.
0.02
2000 Hz
1390 Hz
Magnitud, g
0.015
520 Hz
580 Hz
600 Hz
325 Hz
295 Hz
0.01
200 Hz
125 Hz
85 Hz
1210 Hz
1960 Hz
1165 Hz
635 Hz
695 Hz
830 Hz
390 Hz
1300 Hz
1470 Hz 1575 Hz
950 Hz
1780 Hz
0.005
500
1000
Frecuencia, Hz
1500
2000
Figura C19. Respuesta en frecuencia del punto G usando una punta caucho 9904A.
COHERENCIA
1
Amplitud
0.8
0.6
0.4
0.2
200
400
600
800
1000
Frecuencia, Hz
1200
1400
Figura C20. Coherencia del punto G usando una punta caucho 9904A.
150
1600
1800
2000
Anexo D. Grficos a otras velocidades
Anexo
D. Grficos
(piezolctricos)
otras
velocidades
A continuacin se describen brevemente los grficos en el tiempo, PSD y biespectro; los cuales
corresponde a las frecuencias de rotacin restantes (55, 45, 40 y 35 HZ).
1. Dominio del tiempo-seales de vibracin vertical
10
Aceleracin, g
-5
-10
0
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
Figura D1. Seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 55 Hz.
Picos intermedios
10
0.0167 Seg
Aceleracin, g
-5
-10
0
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
Figura D2. Seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 55 Hz.
De las Figuras D1 y D2, se observa que el nivel de vibracin para la condicin con fallo es
mayor respecto a la condicin sin fallo. En la figura D2 se identifican picos de gran amplitud,
los cuales estn separados por aprox. 0.0167 seg. (59.88 Hz). Estos picos se generan cuando la
grieta pasa por la zona de carga del rodamiento, por tanto, es lgico que la frecuencia de estos
picos se aproxime a la frecuencia de rotacin (55 Hz). Cabe sealar que la frecuencia de fallo
para la pista interna es muy difcil encontrarla ya que los picos intermedios tienen baja
amplitud. Aunque en los dos grficos se presenta el efecto modulacin, en la Figura D2 se
observa con ms detalle. Esto se debe a la gran magnitud de los impactos, los cuales oscilan
entre 10 gs.
151

8
6
Aceleracin, g
4
2
0
-2
-4
-6
-8
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
Figura D3. Seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 45 Hz

8
6
3.8e-3 seg
Aceleracin, g
4
2
0
-2
-4
-6
-8
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
mayor respecto a la condicin sin fallo.
En la Figura D4 se identifican picos de gran amplitud, los cuales estn separados por aprox.
3.8e-3 seg. (263.15 Hz). Estos picos son producidos por el fallo en el rodamiento ya que la
frecuencia de esta seal se aproxima a la frecuencia de fallo para la pista interna, la cual es de
244.43 Hz (ver tabla 1.4). Aunque en los dos grficos se presenta el efecto modulacin, en la
figura 4A se observa con ms detalle. Esto se debe a la gran magnitud de los impactos, los
cuales oscilan entre 6 gs.
152
Aceleracin, g
4
2
0
-2
-4
-6
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
6
4.8e-3
Aceleracin, g
-2
-4
-6
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
153
Aceleracin, g
1
0
-1
-3
-5
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
0.5
0.6
5
5.2e-3 seg
Aceleracin, g
1
0
-1
-3
-5
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
154
II. PSD-Seales de vibracin vertical

0.1
A c elerac ion, g 2/H z
0.08
0.06
0.04
5830 Hz
2130 Hz
0.02
1000
2130
3000
4000
Frecuencia, Hz
5000
5830
7000
8000
Figura D9. PSD de la seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 55 Hz.
0.1
1850 Hz
0.08
Aceleracion, g 2/Hz
2030 Hz
0.06
2145 Hz
0.04
2330 Hz
1740 Hz
2440 Hz
0.02
1000
3000
4000
Frecuencia, Hz
5000
5950
7000
8000
Figura D10. PSD de la seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 55 Hz.
La comparacin de las Figuras D9 y D10, muestra que para la condicin con fallo existen picos
de gran amplitud; los cuales determinan que existe un fallo en el rodamiento. Los picos
mostrados en la PSD para condicin sin fallo (ver Figura D9) son producidos por excitacin
de las frecuencias naturales del sistema mecnico (ver tabla 5.4).
La figura D10 muestra dos series de picos traslapados, los cuales estn separados por la
frecuencia de fallo (295 Hz). La frecuencia de fallo terica a esta frecuencia rotacin es de
298.75 Hz (ver tabla 1.4). El traslape no permite determinar claramente que existe un problema
en el rodamiento. Los valores de la primera serie estn encerrados con cuatros de lnea
continua, mientras que la segunda con cuadros de lneas punteadas
155
0.014
Aceleracion, g 2/Hz
0.012
0.01
0.008
0.006
1990 Hz
0.004
730 Hz
0.002
0
5760 Hz
1770 Hz
1000
1990
3000
4000
Frecuencia, Hz
5000
5760
7000
8000
0.014
1910 Hz
2155 Hz
0.012
Aceleracion, g 2/Hz
2000 Hz
2244 Hz
2400 Hz
0.01
2490 Hz
2644 Hz
0.008
2734 Hz
5970 Hz
2888 Hz
0.006
1756 Hz
2978 Hz
3132 Hz
0.004
5726 Hz
6214 Hz
3376 Hz
0.002
0
1000
4000
Frecuencia, Hz
5000
7000
8000
Al comparar las Figuras D11 y D12, se observa que para la condicin con fallo existen picos de
gran amplitud; los cuales determinan que existe un fallo en el rodamiento. Los picos mostrados
en la PSD para condicin sin fallo (ver Figura D11) son producidos por excitacin de las
frecuencias naturales del sistema mecnico (ver tabla 5.4).
La Figura D12 muestra dos series de picos traslapados, los cuales estn separados por la
frecuencia de fallo (244.0 Hz). La frecuencia de fallo terica a esta frecuencia rotacin es de
156
-3
x 10
Aceleracion, g 2/Hz
2
5740 Hz
6310 Hz
680 Hz
1580 Hz
80 Hz
680
1580
3000
4000
Frecuencia, Hz
5000
5740
6310
7000
8000
-3
x 10
1840 Hz
1910 Hz
1770 Hz
1990 Hz
Aceleracion, g 2/Hz
2130 Hz
2207 Hz
2347 Hz
2428 Hz
5770 Hz
2564 Hz
2781 Hz
3000 Hz
1690 Hz
75 Hz
440
5553 Hz
3217 Hz
1340 Hz
6000 Hz
3420 Hz
3000
4000
Frecuencia, Hz
5000
7000
8000
gran amplitud. Esto, determina que existe un fallo. En la Figura D13 se muestran picos, los
cuales son producidos por la excitacin de las frecuencias naturales de la chumacera o soporte
(ver tabla 2.3).
157
-3
x 10
Aceleracion, g 2/Hz
7
6
5
4
3
2
3660 Hz
1
0
600
1000
1560
2000 2320
3000
3500 4000
Frecuencia, Hz
5000
5490
6000
7000
8000
-3
x 10
1860 Hz
1930 Hz
2050 Hz
1740 Hz
Aceleracin, g 2/Hz
2120 Hz
2240 Hz
5820 Hz
6018 Hz
3
5632 Hz
2
1
0
1000
3370
4000
Frecuencia, Hz
5000
7000
8000
gran amplitud. Esto, determina que existe un fallo.
158
III. Biespectro- seales de vibracin vertical

200
200
2200
(2130,2130)
4500
2000
4000
1800 (2130, 2105)
150
3500
3000
2500
2000
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
5000
(3380,2130) (3710,2130)
150
1600
1400
1200
100
100
1000
1500
800
1000
500
0
(2760,2130)
(2130, 620)
600
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
50
2200 2400 2600 2800 3000 3200 3400 3600 3800

Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
50
b)
a)
Figura D17. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin sin fallo. A 55 Hz, b) Zoom.
9000
9000
2149
5000
8000
8000
4500
(1849, 1849)
3500
6000
3000
5000
2500
4000
2000
1500
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
(2452,1849)
7000
7000
4000
6000
1849
5000
4000
3000
3000
1000
2000
500
0
(2154,1849)
1000
2000
3000
4000
5000
Frecuencia, Hz
6000
7000
8000
1000
2000
1549
1849
2154
1000
2452
Frecuencia, Hz
b)
a)
Figura D18. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 55 Hz, b) Zoom
Se distingue una gran diferencia entre el nivel de vibracin para condicin sin fallo y con fallo (ver
Figuras D17 y D18).
De la Figura D17 se observa que no existe un patrn definido, mientras que en la Figura D18 se
muestran picos espaciados por la frecuencia de fallo (305 Hz), la cual tericamente debe ser de
298.57 Hz.
159
18
18
5000
16
14
3500
12
14
1500
3000
10
2500
2000
1500
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4000
16
1750
4500
(1780,1500)
12
1255
985
(2030,985)
(1280,735)
735
1000
(1780,735)
500
10
(1780,1255)
(2030,735)
4
400
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
2
780
Frecuencia, Hz
a)
1030 1280 1530 1780 2030 2280 2530 2780

Frecuencia, Hz
b)
1600
2000
1400
1950
1600
5000
4500
1400
1900
4000
1200
1200
3500
1000
3000
2500
800
2000
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
(1913,1913)
(2405,1913)
(2160,1913)
1850
1000
1800
1750
800
1700
600
600
1500
1650
1000
400
400
1600
500
0
2000
4000
Frecuencia, Hz
a)
6000
8000
200
1800
1900
2000 2100 2200

Frecuencia, Hz
2300
2400
200
b)
Figura D20. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 45 Hz, b) Zoom.
Se distingue una gran diferencia entre el nivel de vibracin para condicin sin fallo y con fallo (ver
Figuras D19 y D20).
244.43 Hz.
160

9
9
1540
5000
(1580,1540)
8
1320
4000
3500
7
(1780,1320)
3000
5
2500
4
2000
1500
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4500
(890,680)
(1330,680)
(1780,680)
5
(680,680) (1100,680)
(1580,680)
680
3
440
1000
500
(1330,440) (1580, 440)
240
1000
2000
3000 4000 5000

Frecuencia, Hz
6000
7000
8000
680 890 1100 1330 1580 1780 2000 2200 2430

Frecuencia, Hz
3000
a)
b)
500
500
2000
5000
(1915,1915)
450
400
3500
350
3000
300
2500
250
2000
1915
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4000
450
1950
4500
400
350
1850
(2132,1915)
(2350,1915)
300
1800
250
1750
1500
1698
150
150
500
0
200
200
1000
(1915,1698)
1000
2000
3000
4000
5000
Frecuencia, Hz
6000
7000
8000
100
1800
1915
2000
2132 2200
100
23502400
Frecuencia, Hz
a)
b)
Figura D22. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 40 Hz b) Zoom.
Se distingue una gran diferencia entre el nivel de vibracin para condicin sin fallo y con fallo
(ver Figuras D21 y D22).
217.21 Hz.
161
6
5000
4000
5
2000
4.5
3500
4
3000
3.5
2500
2000
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
5.5
2100
4500
2.5
1500
4.5
4
1900
3.5
1800
3
1700
2.5
1000
1600
1.5
500
0
2200
5.5
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
1.5
1500
3400 3500 3600 3700 3800 3900 4000 4100 4200 4300
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
a)
b)
350
350
(1865,1865)
5000
300
300
1865
250
3000
200
2000
250
Frecuencia, Hz
Freceucnia, Hz
4000
200
(1865,1670)
1670
150
150
1000
100
100
1478
2000
4000
6000
Frecuencia, Hz
8000
50
(1865,1478)
1865
2063
2261
50
2459
2657
2855
3053
Frecuencia, Hz
b)
a)
Figura 24. a) Biespectro de la seal de vibracin vertical para condicin con fallo. A 35 Hz, b) Zoom.
(ver Figuras D23 y D24).
muestran algunos picos espaciados por la frecuencia de fallo (190 Hz), la cual tericamente debe
ser de 198.02 Hz.
162
IV. Dominio del tiempo-Seales de vibracin horizontal

15
Aceleracin, g
10
5
0
-5
-10
-15
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
Figura D25. Seal de vibracin horizontal para condicin sin fallo. A 55 Hz.
15
3.4e-3 seg
Aceleracin, g
10
-5
-10
-15
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
Figura D26. Seal de vibracin horizontal para condicin con fallo. A 55 Hz.
298.75 Hz (ver tabla 1.4).
Aunque en los dos grficos se presenta el efecto modulacin, en la Figura D26 se observa con
ms detalle. Esto se debe a la gran magnitud de los impactos, los cuales varan desde 10g.
163

10
Aceleracin ,g
-5
-10
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
10
4.1e-3 seg
Aceleracin, g
-5
-10
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
244.43 Hz (ver tabla 1.4).
ms detalle. Esto se debe a la gran magnitud de los impactos, los cuales varan desde 8 g.
164
Aceleracin, g
-4
-8
0
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
8
4.6e-3 seg
Aceleracin, g
-4
-8
0
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
217.27 Hz (ver tabla 1.4).
165
Aceleracin, g
-3
-6
0
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
6
5.4e-3 seg
Aceleracin, g
-3
-6
0
0.1
0.2
0.3
Tiempo, seg
0.4
0.5
0.6
190.11 Hz (ver tabla 1.4).
166
V. PSD- Seales de vibracin horizontal

0.07
Aceleracion, g 2/Hz
0.06
0.05
0.04
0.03
2130 Hz
3380 Hz
0.02
0.01
0
1000
2000
3000
4000
Frecuencia, Hz
5000
6000
7000
8000
Figura D33. PSD de la seal de vibracin horizontal para condicin con fallo. A 55 Hz.
0.07
1850 Hz
2040 Hz
3540 Hz
2150 Hz
0.06
2340 Hz
3650 Hz
Aceleracion, g 2/Hz
2450 Hz
0.05
2640 Hz
3840 Hz
2750 Hz
0.04
2940 Hz
4140 Hz
3050 Hz
0.03
3240
1740 Hz
0.02
3350
0.01
0
1000
5000
6000
7000
8000
Frecuencia, Hz
gran amplitud. Esto, determina que existe un fallo en el rodamiento.
167
0.016
0.014
Amplitud, g 2/Hz
0.012
780 Hz
0.01
730 Hz
0.008
0.006
0.004
0.002
0
1000
2000
3000
4000
Frecuencia, Hz
5000
6000
7000
8000
Figura D35. PSD de la seal de vibracin horizontal para condicin sin fallo. A 45 Hz.
0.016
1910 Hz
0.014
3395
3468 Hz
3224
3610 Hz
2245 Hz
3145
2395 Hz
0.012
Aceleracion, g 2/Hz
2005 Hz
2155 Hz
1770 Hz
0.01
2490 Hz
2645 Hz
2730
2885
0.008
2980
0.006
780 Hz
1670 Hz
0.004
0.002
0
1000
3610 4000
Frecuencia, Hz
5000
6000
7000
8000
168
-3
x 10
Amplitud, g 2/Hz
7
6
5
4
3560 Hz
680 Hz
3360 Hz
3260 Hz
2
1540 Hz
1
0
1000
3810 Hz
3120 Hz
2680 Hz
2000
3000
4000
Frecuencia, Hz
5000
6000
7000
8000
Figura D37. PSD de la seal de vibracin horizontal para condicin sin fallo. A 40 Hz.
-3
x 10
1770 Hz
Aceleracion, g 2/Hz
7
6
5
1690 Hz
1910 Hz
3415
1990 Hz
2125 Hz
3290
2210 Hz
2345 Hz
3205
2430 Hz
2575 Hz
2655
2765
2860
3010
3510
3630 Hz
3
2
1
0
1000
5000
6000
7000
8000
Frecuencia, Hz
frecuencia de fallo (215 Hz). La frecuencia de fallo Terica a esta frecuencia rotacin es de
169
-3
x 10
Amplitud, g 2/Hz
6
5
4
3880 Hz
3740 Hz
3940 Hz
3660 Hz
770 Hz
3520 Hz
600 Hz
2320 Hz
3300 Hz
1
0
1000
2000
3000
5490 Hz
5280 Hz
5000
6000
7000
8000
Frecuencia, Hz
-3
x 10
1860 Hz
1935 Hz
3555
2050 Hz
2120 Hz
3365
Aceleracion, g 2/Hz
2240 Hz
3255
2310 Hz
1740 Hz
3170
2430 Hz
2485 Hz
2610 Hz
2680 Hz
2800
2875
1
0
1000
3555 4000
Frecuencia, Hz
5000
6000
7000
8000
170
VI. Biespectro- Seales de vibracin horizontal

400
400
2900
5000
350
4500
2700
300
3500
250
3000
2500
200
2000
1500
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4000
300
2600
(3050,2745
250
2500
200
2400
(3355,2480)
150
2300
100
2200
1000
350
2800
150
(3705,2130 )
100
500
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
50
2100
50
2900 3000 3100 3200 3300 3400 3500 3600 3700
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
a)
b)
Figura D41. a) Biespectro de la seal de vibracin horizontal para condiciones sin fallo. A 55 Hz, b) Zoom.
10000
10000
5000
9000
2635
9000
4500
8000
3500
7000
3000
6000
2500
5000
2000
1500
(2635,2635)
(2935,2635)
(3235,2635)
7000
2335
6000
(2335,2335)
(2635,2335)
(2935,2335)
(3235,2335)
4000
1000
5000
4000
2035
3000
500
0
8000
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4000
1000
2000
3000
4000
5000
Frecuencia, Hz
6000
7000
8000
2000
3000
(2335,2335)
2335
(2635,2035)
(2935,2035)
2635
2935
(3235,2035)
3235
2000
Frecuencia, Hz
a)
b)
Figura D42. a) Biespectro de la seal de vibracin horizontal para condiciones con fallo. A 55 Hz, b) Zoom.
(ver Figuras D41 y D42). La barra de colores para la condicin sin fallo muestra picos hasta
400, mientras que para condicin con falla indica picos hasta 10000.
De la Figura D41 se observa que se excitaron algunas frecuencias naturales, sin embargo, no
existe un patrn secuencia de picos evidentes. Contrariamente, en la Figura D42 se muestran
algunos picos espaciados por la frecuencia de fallo (300 Hz), la cual tericamente debe ser de
298.75 Hz.
171
45
45
5000
900
40
4500
35
4000
40
800
35
3500
30
3000
25
2500
20
2000
1500
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
700
30
600
25
500
400
20
15
300
15
10
200
1000
500
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
10
100
2000
2500
Frecuencia, Hz
3000
3500
Frecuencia, Hz
a)
b)
Figura D43. a) Biespectro de la seal de vibracin horizontal para condiciones sin fallo. A 45 Hz, b) Zoom.
4000
4000
2155
5000
3500
4500
3000
3500
2500
3000
2500
2000
2000
3000
1912
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4000
3500
(1912,1912)
2500
(2155,1912) (2400,1912)
1668
2000
1500
1500
1500
(1912,1668)
1000
1000
1000
500
0
1000
2000
3000
4000
5000
Frecuencia, Hz
a)
6000
7000
8000
500
1668
1912
2155
2400
2644
500
Frecuencia, Hz
b)
(ver Figuras D43A y D44). La barra de colores para la condicin sin fallo muestra picos hasta
45, mientras que para condicin con falla indica picos hasta 4000.
244.43 Hz.
172

60
60
800
5000
700
4500
50
50
600
3500
40
3000
2500
30
2000
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4000
40
500
400
30
300
1500
20
1000
500
0
20
200
100
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
10
2200
2400
2600
2800
3000
3200
3400
10
3600
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
b)
a)
Figura D45. a) Biespectro de la seal de vibracin horizontal para condiciones sin fallo. Motor a 40 Hz b)
Zoom.
2000
2000
2130
5000
(2130,2130)
4500
(2347,2130)
1500
3500
3000
2500
2000
1000
1500
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4000
1500
1913
(1913,1913)
(2130,1913)
(2347,1913) (2564,1913)
1000
1698
1000
(1913,1698)
500
0
1000
2000
3000
4000
5000
Frecuencia, Hz
6000
7000
8000
500
1913
2130
2347
2564
500
Frecuencia, Hz
b)
a)
(ver Figuras D45 y D46). La barra de colores para la condicin sin fallo muestra picos hasta 60,
mientras que para condicin con falla indica picos hasta 2000.
217.21 Hz.
173
20
20
900
5000
850
4500
800
15
3500
3000
2500
2000
10
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
4000
15
750
700
650
600
10
1500
550
1000
500
500
0
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
450
2400
2600
Frecuencia, Hz
2800
3000
3200
3400
Frecuencia, Hz
a)
b)
Figura D47. a) Biespectro de la seal de vibracin horizontal para condiciones sin fallo. Motor a 35 Hz b)
Zoom.
16000
1000
14000
900
1000
(1865,1865)
900
12000
800
10000
700
8000
600
6000
500
4000
400
800
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
1865
700
600
500
1675
400
(1865,1675)
300
300
2000
2000
4000
6000
8000 10000 12000 14000 16000
200
1865
2055
200
Frecuencia, Hz
Frecuencia, Hz
b)
a)
(ver Figuras D47 y D48). La barra de colores para la condicin sin fallo muestra picos hasta 20,
mientras que para condicin con falla indica picos hasta 1000.
198.02 Hz.
174
Anexo E
Planos tcnicos del banco de pruebas
175
A continuacin se presenta la tabla completa de componentes utilizados en el banco

experimental
Tabla E1 Especificacin completa de los componentes del sistema mecnico
Nm. Cant. Descripcin
176
Base (Mesa de trabajo de un cepillo-mquina-herramienta)
Tuerca M14, paso fino
Tornillo M14 X 1.5, paso fino, 60 mm. de longitud
Banda A-28, Marca: Bando
Polea del motor BK4712, Marca: TBwoods
Eje conducido (ver anexo C)
Espaciador E1 (ver anexo C)
Espaciador E2 (ver anexo C)
10
Motor trifsico, 1Hp, 3410rpm, Marca ABB
11
Soporte para rodamientos SNL 507
12
Soporte del motor-Perfil C 7X2.299X0.419 pulg. (ver anexo C)
13
Rodamiento de una hilera de bolas SKF-6206-2RS1
14
Anillos de sujecin FRB 8/62
15
Tornillo M6 X 1, paso basto, 10mm de longitud
16
Cua 6.35X6.35X30(mm.), Mat.: Acero 1045
17
Arandela trabajo pesado (12W)
18
Tornillo M12 X 1.25 (paso fino), longitud 30mm
19
Polea conducida BK471, Marca: TBwoods
20
Tuerca M5 (paso basto)
21
Tornillo M5 X 0.8 (paso basto), longitud 32.0mm
22
23
Cua 4.7X4.7X36 mm.
24
Tornillo M5 X 0.8 (paso basto), longitud de 16.0mm
25
Arandela sencilla (5W)
26
27
Rodamiento de bolas a rtula SKF-1206

Tornillos M5 X 3 mm.
Anexo F. Programas de MATLAB y LabView
Anexo F Programas de MATLAB y LabView

F1. Programas para obtener los grficos de las funciones de probabilidad
Las siguientes lneas de cgido fueron utilizadas para generar los grficos presentados en el
captulo 4. La variable t corresponde al vector de datos obtenidos de la adquisicin y esta
compuesto de 10240 elementos.
Funcin de densidad de probabilidad
f = normpdf (t,0,1);
plot(t,f) ;
Funcin de distribucin de probabilidad
h = cdfplot(t) ;
Funcin de autocorrelacin
x= [-10239:1:10239];
c= xcorr(t);
plot(x,t) ;
F2. Programa de LabVIEW para el sistema de adquisisicn usando

MEMS.
El diagrama presentado en la Figura F1, muestra el diagrama de bloques del programa que fue
utilizado para adquirir la seal de vibracin de los MEMS, fue elaborado en LabVIEW v. 6.
Figura F1 Diagrama del programa de adquisicin utilizado en el uso de los MEMS.
187
En la Figura F2, se muestra unicaemente uno de los canales para dar una breve explicacin de
lo que se hace en cada etapa:
0.
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
En esta etapa se realiza la configuracin de la tarjeta de adquisicin. Se le dice al

programa que tipo de tarjeta es, se encuentra fuera del lazo hacer mientras ya que
solamente se necesita hacer la operacin una vez.
Con estos bloques se configura la adquisicin: los canales a muestrear, el nmero
de muestras por canal, la razn de muestreo y los lmites de voltaje de entrada. La
inclusin de estos bloques dentro del lazo de control permiten realizar una
reconfiguracin en lnea.
Este bloque se utiliza para asignar un indice a cada canal, de tal manera que el
orden de los canales se puede cambiar, esto result til para el caso en el que se
quisieron visualizar sentidos iguales, correspondientes a sensores distintos.
La etapa tres es un multiplexor para poder enviar todas las seales de voltaje a una
misma grfica.
En estos bloques se controla el factor de correcin y el ajuste por sensitividad, se
utiliza uno de estos por cada canal. Ntese que el factor de correccin se aplica
antes de enviar la seal a la grfica de voltajes. Los bloques de media que
aparecen a los lados de este bloque, se utilizaron unicamente para presentar en
pantalla un estimado del promedio de la seal.
Es el bloque para presentar la PSD de los datos de despus de haber pasado el
valor de voltaje a unidades gravitacionales. Se utiliz un bloque de estos por cada
canal, esto permita aplicar a cada PSD una configuracin particular.
Nuevamente se utiliza un multiplexor para concentrar todas las seales ahora
expresadas en gs- y enviarlas a una sola grfica.
Finalmente, cuando el ciclo es interrumpido se hace la grabacin de los datos en un
archivo.
Figura F2 Diagrama de bloques del programa de adquisisicn, canal 7.
188
Anexo G. Manual de usuario del programa de adquisicin de datos para acelermetros tipo MEMS.
Anexo G. Manual de usuario del programa de

adquisicin de datos para acelermetros tipo
MEMS.
El manual est diseado para comprender el funcionamiento del programa utilizado en el
sistema de adquisicin de datos basados en acelermetros MEMS, sin embargo se espera que el
nuevo usuario tenga conocimientos bsico del lenguaje de programacin LabView.
El sistema fu desarrollado bajo LabView por ser un lenguaje de programacin que ofrece
muchas ventajas, tales como: una interfaz amigable, funciones preestablecidas para la
adquisicin de seales y adems, la facilidad para modificar el programa.
A pesar de que el programa se desarroll con la versin 6 de LabView, est probado que es
posible utilizarlo con versiones posteriores. Los recursos computacionales mnimos son los
necesarios para correr la versin 6 de LabView.
Para la adquisicin se utiliz una tarjeta de National Instruments (NI), AT-MIO-16E1, que
tiene capacidad para 16 canales analgicos, dependiendo de la configuracin; para mayor
informacin refierase al manual de la tarjeta. La conexin de los sensores MEMS a la tarjeta se
llev a cabo a travs de un conector de NI modelo TBX-68, que viene junto con un cable
SH68-EP que se inserta en la tarjeta. Todos estos elementos se encuentran en el laboratorio de
control del Cenidet.
En las figuras se indican mediante nmeros cada una de las partes importantes de las pantallas,
la nmeracin se hace de manera progresiva para hacer referencia a funciones similares.
Los cuadros en naranja indican consideraciones importantes y que pueden no resultar tan
obvias para el nuevo usuario del programa.
El programa se encuentra en el disco que se anexa con la tesis.
Pantalla de configuracin de la adquisicin

El programa consiste de 7 pantallas, colocadas en tandem; para acceder a cada una de ellas no
debe hacerse ms que clickear la pestaa correspondiente. La primer pantalla se muestra en la
Figura G1. En ella, es donde se realiza la configuracin de la adquisicin y cada uno de las
funciones se describe a continuacin.
189
Diagnstico de condiciones de operacin de rodamientos en mquinas usando espectros de alto orden
Figura G1. Pantalla de programacin del sistema de adquisicin de los MEMS.
1. Canales a muestrear. En esta parte se indica el nmero de los canales a muestrear, la

numeracin se hace de acuerdo a la numeracin de la tarjeta, por eso es que la cuenta
inicia desde cero. Adems el orden en el que sean colocados los canales, ser el orden
en el que la tarjeta muestrear los canales. El programa est creado para aceptar hasta
ocho canales.
2. Nmero de muestras/canal. Aqu se especifica el nmero de muestras que se tomarn
por cada canal. Este valor en conjunto con la razn de muestreo, determina el tiempo
que se adquiere de la seal.
3. Razn de muestreo. Determina como su nombre lo indica la cantidad de muestras por
segundo, este valor se aplica para cada uno de los canales.
La cantidad de tiempo adquirido de la seal, se determina por la divisin del nmero
de muestras entre la razn de muestreo. Quedando de la siguiente manera:
Tiempo de adquisicin: Muestras por canal / Razn de muestreo = Tiempo de adquisicin
1000 / 30,000
= 0.0333 s de adquisicin
Ejemplo:
4. Status. Se utiliza para indicar la presencia de un error en la ejecucin del programa. Su
valor normal es 0, para mayor informacin sobre los cdigos de error posibles refirase
al manual de la tarjeta de adquisicin.
5. Dither. Es una funcin que tienen algunas de las tarjetas de NI (como la serie E a la
que pertenece la tarjeta de adquisicin utilizada). Al activarla en conjunto con un
promediado de la seal, produce un aumento de la resolucin de la grficas mostradas;
para mayor informacin refirase al manual de la tarjeta.
190
6. Indica y selecciona el nmero de dispositivo a utilizar, en el caso especfico de este

trabajo nicamente existia un dispositivo, para computadoras con ms de una tarjeta
de adquisicin se deber tener cuidado de selccionar el nmero de dispositivo correcto.
7. Canales. Esta columna se indica el orden en el que la informacin se desplegar en las
pantallas de las PSDs. Dado que los MEMS son biaxiales, la conexin se hizo de tal
manera que las seales correspondientes a cada MEMS quedaran en canales
subsecuentes; de tal manera que los canales 0 y 1 corresponden al msmo MEMS, al
igual que los canales 2 y 3, as hasta llegar a los canales 6 y 7.
8. Factor de correccin. A pesar de que los MEMS son fabricados con procesos similares
al utilizado en los circuitos integrados, no los libera de tener variaciones en la medicin,
aunque sean montados exactamente de la misma manera; adems, pequeas
desalineaciones en la colocacin de los MEMS podan ocasionar que se obtenga
resultados diferentes por la capacidad de estos sensores para medir inclinacin, sta
columna de agreg para eliminar estas variaciones.
9. Ajuste por sensitividad. Nuevamente los MEMS a pesar de ser del mismo tipo
pudieran no presentar la misma sensitividad. El valor incial que se debe introducir aqu
viene determinado en las hojas de datos del fabricante y debe corregirse posteriomente
si llegan a detectarse variaciones al momento de calibrar los MEMS.
10. Homologacin del punto de referencia. Cuando los MEMS son montados en posicin
vertical, por el tipo de construccin del sensor, estos miden la fuerza de gravedad. Al
momento de tomar las lecturas, los sensores mostrarn un desplazamiento del punto
de referencia o cero; por lo que al momento de procesar los datos deber tenerse en
cuenta este desplazamiento. Esta columna se agreg para llevar todas las seales
adquiridas a un mismo punto de referencia y de esa manera no tener que hacer
posteriores manipulaciones con los datos correspondientes a los MEMS colocados en
sentido vertical. Los valores introducidos en esta columna corresponden a unidades
gravitacionales, y se resta o se suma una unidad de acvuerdo al sentido en el que este
colocado el MEMS.
11. STOP. AL oprimir este botn se detiene la ejecucin del programa y posteriormente
ste muestra un cuadro de dilogo indicando que se especifique la ruta y el nombre de
archivo a guardar. La cantidad de datos para cada canal se determina por el valor
colocado en 2.
Pantalla de las seales de voltaje

La pantalla mostrada en la Figura G2, corresponde a las seales obtenidas de los acelermetros
MEMS expresada en voltajes, que es tal y como este tipo de acelermetros entregan la seal.
191
14
16
15
Figura G2. Seales de voltaje.
12. En este cuadro se muestra el color correspondiente de cada canal, dichos colores
puden ser modificados en lnea y a conveniencia del usuario.
13. Esta columna muestra el valor instntaneo de cada seal, pero dado que este valor vara
muy rapidamente, se agreg una columna de promedios, sta columna se utiliz para
conocer con mayor precisin el valor de la seal cuando no existia excitacin alguna de
entrada, es la manera en que se asegur que los MEMS estuvieran bien calibrados.
14. Por la necesidad de medir las amplitudes de la seal de manera precisa, se agreg est
funcin que viene junto con la grfica y que el usuario puede elegir en utilizarla o no.
Los valores mostrados corresponden a la posicin x y y del cruce de las lneas 15 y 16
(explicadas a continuacin). La cantidad de decimales que se muestran es fcilmente
modificable simplemente haciendo click derecho sobre cada uno de los valores.
15. Sirve para indicar que los valores de ese rengln corresponden al punto de interseccin
de la lnea de color rojo.
16. Indica que los valores del rengln corresponden al punto de interseccin de las lneas
de color magenta. Los colores de las lneas pueden ser cambiados a gusto del usuario.
17. Tiene la misma funcin que 11 y se coloc tambin en esta pantalla (al igual que en el
resto) para evitar tenerse que regresar a la pantalla de configuracin cuando se quiera
detener la ejecucin.
192
Los ejes de cada una de las grficas pueden ser modificados a gusto del usuario o puede
activarse la funcin de autoescala, que modifica el valor de los ejes de acuerdo a los
valores de los datos mostrados Sin embargo la autoescala puede en algunos casos
dificultar la lectura de las grficas, sobre todo cuando los datos varan de manera rpida y
constante.
Pantalla de las seales de aceleracin

La pantalla de la Figura G3 presenta la informacin mostrada en la pantalla anterior, pero
los valores de la seal se encuentran expresados en unidades gravitacionales (gs). Dado lo
anterior, no se explicar a detalle cada una de las partes indicadas, simplemente se hace
referencia a la funcin que desempea.
Figura G3. Seales de aceleracin
18. Tiene la misma funcin que 12.

19. Utilizada para una lectura nmerica del valor de la seal al igual que 13, la diferencia es
que aqu no se incluy el valor instantneo de la seal.
20. Se utiliza para la msma funcin que 14, 15 y 16.
21. Al igual que 17, hace posible detener la ejecucin del programa sin regresar a la pantalla
de configuracin.
Pantalla de la PSDs
La razn para incluir estas pantallas, donde se muestra la PSD de la seal de vibracin; fue la
necesidad de obtener un estimado previo, del contenido energtico de la seal de vibracin. En
193
el caso de que se esten moniteoreando menos de los 8 canales posibles, las grficas
correspondientes no mostrarn seal alguna.
Figura G4. Pantalla donde se muestra la PSD correspondiente a los canales 0 y 1.
22. Window. Una de las opciones que ofrece la funcin de la PSD, es la aplicacin de
ventanas al momento de graficarla, en el programa desarrollado se program la funcin
de tal manera que el usuario pueda modicar la ventana aplicada y observar la manera en
la que la PSD obtenida vara. Esta funcin al igual que las otras descritas a
continuacin se incluyeron en todos los grficos de la PSD.
23. dB. Cuando se tiene seales cuya magnitud vara considerablemente epuede ser
necesario observar la PSD en dB mas que en unidades lineales, ste elemento activa y
desactiva dicha funcin.
24. Indica el canal al que corresponde la PSD mostrada.
194

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S.E.

CENTRO NACIONAL DE INVESTIGACIN Y DESARROLLO

QUE PARA OBTENER EL GRADO DE

Captulo 2. Fundamentos del anlisis de vibracin y trandusctores....................... 11

Captulo 3. Diagnstico y causas de fallas en rodamientos usando tcnicas

3.2.3. Tipo Y ..................................................................................................................................34

Captulo 4. Espectros de alto orden (HOS)............................................................... 45

4.1 Seales o datos aleatorios...........................................................................................................45

Captulo 5. Diseo y construccin del banco de pruebas........................................ 71

Captulo 6. Experimentacin y anlisis de resultados............................................... 87

6.1 Metodologa de la experimentacin .........................................................................................87

Captulo 7. Conclusiones y recomendaciones ......................................................... 123

Anexo A. Validacin de los MEMS

M x ( k ) y ( k ) (t , t1 ) = funcin generadora de momentos conjuntos

x(k), y(k), z(k), w(k) = variables aleatorias discretas

Diagnstico de Condiciones de Operacin de Rodamientos en Mquinas Usando Espectros de Alto Orden

1.1 Descripcin del problema

componentes de frecuencia no deseadas (generalmente producidos por ruido y factores

Rodamiento con dao aparente en la superficie de rodadura.

Diagnstico de Condiciones de Operacin de Rodamientos en Mquinas Usando Espectros de Alto Orden

Estas magnitudes se atribuyeron al endurecimiento por desgaste de la superficie del

1.3 Estado del arte

Diagnstico de Condiciones de Operacin de Rodamientos en Mquinas Usando Espectros de Alto Orden

En el estudio [5] se compar la utilidad de la wavelet respecto al espectro de la envolvente,

Diagnstico de Condiciones de Operacin de Rodamientos en Mquinas Usando Espectros de Alto Orden

consecuencia de las pequeas irregularidades en la superficie de rodadura que se producen en

Diagnstico de Condiciones de Operacin de Rodamientos en Mquinas Usando Espectros de Alto Orden

1.6 Estructuracin de la tesis

2.1 Seal de vibracin

Diagnstico de Condiciones de Operacin de Rodamientos en Mquinas Usando Espectros de Alto Orden

El movimiento oscilatorio ms simple es conocido como movimiento armnico simple y

Captulo 2. Fundamentos del anlisis de vibracin y transductores

yN = valor en cada uno de los instantes de tiempo

En el caso de una vibracin peridica ser:

Arms = 0.7071 A pico

Figura 2.1 Diferentes tipos de amplitud de una forma de onda senoidal.

Diagnstico de Condiciones de Operacin de Rodamientos en Mquinas Usando Espectros de Alto Orden

adelanto de fase respectivamente, un ejemplo de estas relaciones se muestra en la Figura 2.2,

Figura 2.2 Relaciones de fase entre dos ondas senoidales.

Captulo 2. Fundamentos del anlisis de vibracin y transductores

2.1.7 Efectos de modulacin

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2.1.8 Frecuencia natural, resonancia e impedancia mecnica

fN = frecuencia natural (Hz)

2.2 Vibraciones mecnicas

Captulo 2. Fundamentos del anlisis de vibracin y transductores

2.2.1 Vibracin libre

2.2.2 Vibracin forzada

2.2.3 Vibracin aleatoria

2.3 Transductores de vibracin

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componentes (ruido) a la seal, y deber producir seales uniformes en todo el rango de

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desarrollado. Por lo general se prefiere el acelermetro del tipo a cizallamiento (tipo de

Cuando se mueve el acelermetro en la direccin arriba-abajo, la fuerza que se requiere para

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produce un pico importante en la respuesta de la frecuencia natural del transductor, como se

Figura 2.5 Respuesta en frecuencia del acelermetro piezoelctrico [37].

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Dentro de las reas de aplicacin de los MEMS se encuentran la biotecnologa: deteccin de

Figura 2.6 Circuito elctrico simplificado del ADXL-210 [44].

Figura 2.7 Esquema general del acelermetro MEMS [38].

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