3.1.1. Ensayo Mineralgico.

Los tres grupos ms importantes en que se clasifican los minerales arcillosos son: illita, caolinita y montmorillonita, compuestos por hidroaluminosilicatos. Los ensayos mineralgicos tienden a detectar la presencia de montmorillonita, que es el mineral preponderantemente expansivo. Existen varios mtodos para la identificacin mineralgica de los cuales utilizamos:

La Difraccin de rayos X Rayos x

Los rayos x son ondas electromagnticas producidas por la desaceleracin de los electrones cuando se detienen en un blanco. Los rayos x son una radiacin de elevada energa y pequea longitud de onda, la cual se encuentra entre m.

Los rayos x fueron descubiertos por Roentgen en 1895, mientras trabajaba con un tubo de rayos catdicos.

Difraccin de rayos X Es una tcnica que sirve para determinar la estructura detallada de un material, es decir, permite conocer la posicin que ocupan los tomos, iones o molculas que lo forman. Debido a este ordenamiento podemos determinar propiedades tanto fsicas como qumicas de los materiales.

METODOS DE DIFRACCION DE RAYOS X

Existen varias tcnicas de difraccin de rayos x Ley de Bragg Mtodo de Laue Mtodo de Polvo o Debye-Scherrer

Ley de Bragg William H. Bragg (1862-1942) y William L. Bragg (1890-1971) fueron quienes demostraron la utilidad del fenmeno que descubri Laue, para obtener la estructura interna de los cristales.

La variable d es la distancia entre los planos cristalinos paralelos, onda, un numero entero (1, 2,3),

la longitud de

el ngulo entre el haz difractado y la

direccin original del haz. Para que se cumpla la ley de Bragg la interferencia debe ser constructiva.

Mtodo de Laue. En este mtodo se utiliza un monocristal estacionario y una placa de fotogrfica. Se hace incidir un haz de rayos x al monocristal, el haz directo produce un ennegrecimiento al tocar la placa, la cual determinaran la informacin del material que se este investigando.

Mtodo de Laue por transmisin. En este mtodo la pelcula se coloca detrs del cristal y se hacen pasar los rayos x, el efecto de las ondas dar como resultado una elipse proyectada en la placa fotogrfica.

Esquema del mtodo de Laue por transmisin.

Mtodo Laue por reflexin Aqu se coloca la placa fotogrfica delante del cristal con un pequeo agujero, cuando las ondas atraviesan el cristal se reflejan hacia arriba y generan una especie de parbola proyectada en la placa fotogrfica.

Esquema del mtodo de Laue de reflexin

Aplicaciones de la difraccin de rayos X.

Identificacin de sustancias cristalinas desconocidas. Anlisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas. Caracterizacin y desarrollo de nuevos materiales. Control de calidad de materias primas y productos finales. Especiacin de arcillas. Determinacin de transformaciones de fase. Determinacin de parmetros estructurales. Determinacin del grado de orden estructural. Deteccin de imperfecciones cristalinas.

Bibliografia
Ciencia e ingenieria de los materiales D.R askelland. Caracterizacion de materiales, libro de J. Albella. Tecnicas de caracterizacion RPS, consultoria de laboratorios S.L. Estudio de la estructura y propiedades mecanicas. Magnetron sputtering.