III SIMPOSIO DE METROLOGIA EN EL PERU CALIBRACION DE TACOMETROS OPTICOS UTILIZANDO UN SISTEMA DE GENERACION DE FRECUENCIAS Henry Daz

Responsable del Laboratorio de Tiempo y Frecuencia SNM-INDECOPI 18 de mayo del 2012

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Conceptos previos Base de tiempo Seal elctrica de referencia a partir de la cual se pueden realizar mediciones de intervalos de tiempo o frecuencia. Usualmente se utilizan seales con frecuencias de 5 MHz o 10 MHz.

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Conceptos previos Tacmetro Dispositivo capaz de medir la frecuencia de rotacin en sistema mecnicos (en rpm o rps). Acople ptico Dispositivo electrnico capaz de detectar una seal de luz y transformarla en una seal elctrica.

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Conceptos previos Tacmetro de no contacto (ptico) Es aquel que posee algn tipo de sistema ptico-electrnico que le permite medir la frecuencia de la seal mecnica bajo observacin en una seal elctrica. Para realizar la medicin utiliza una fuente de luz que apunta hacia el objeto en rotacin.

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Generacin de frecuencia Esta se realiza utilizando un generador de frecuencias, en donde no intervienen aditamentos para cambiar de manera voluntaria el valor de la frecuencia. El equipo puede estar conectado por referencia externa a la frecuencia patrn del laboratorio para mejorar su base de tiempo.
PATRN DE FRECUENCIA 5 MHz 10 MHz Comandado a la frecuencia patrn del laboratorio

GENERADOR DE FRECUENCIA

Seal del Generador

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Circuito emisor La seal peridica cuya frecuencia ser medida por el tacmetro ser proporcionada por un generador de frecuencias, el cual se conecta a un circuito capaz de encender y apagar un diodo emisor de luz, a la misma frecuencia de dicha seal generada. Esta seal lumnica ser la que alimente el sensor del tacmetro. Para esto se acopla un circuito de acondicionamiento para transformar la frecuencia en luz, utilizando un transistor el cual actuar como un switch de rpida respuesta, hacia el diodo emisor de luz convirtiendo los pulsos elctricos en pulsos de luz (circuito emisor). Se elige un diodo emisor ultra brillante de luz blanca para abarcar gran parte del espectro (se utiliza una pequea linterna).

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Circuito emisor

Diagrama de bloques del circuito emisor

Seal del Generador (Hz)

CIRCUITO DE ACONDICIONAMIENTO

EMISION DE FRECUENCIA DE LUZ

Salida de Luz

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Sistema de Generacin de Frecuencias El sistema de generacin de frecuencias esta compuesto por el generador de frecuencias y el diodo emisor de luz (circuito emisor). Tener en cuenta la siguiente relacin: 1 Hz = 1 rps = 60 rpm.

Tacmetro a calibrar Generador de Formas de Onda

Diodo emisor de luz Circuito Emisor

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Circuito receptor Un punto a tener en cuenta es la posibilidad de la verificacin del sistema de calibracin indicado. Para ello es necesario construir un circuito receptor el cual va a censar la frecuencia a ensayar (o los pulsos de luz) con ayuda de un contador de frecuencias. Este circuito receptor consta de un circuito de acondicionamiento usando un fototransistor el cual convertir la frecuencia de luz en frecuencia de seales de corriente y con la ayuda de un comparador es posible regenerar la seal en una onda cuadrada la cual va hacer censada por el contador de frecuencias.

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Circuito receptor

Diagrama de bloques del circuito receptor

RECEPCION DE FRECUENCIA DE LUZ

CIRCUITO DE ACONDICIONAMIENTO DE SEAL

CONTADOR DE FRECUENCIAS

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Verificacin del sistema de generacin de frecuencia Inyectando una frecuencia de 1 Hz, 10 Hz o 100 Hz con el generador de formas de onda la cual va hacer medida con el circuito receptor con ayuda de un contador de frecuencia se verifica su funcionamiento y su inmunidad contra influencias externas.
Contador de frecuencias

Osciloscopio

Fototransistor

Generador de Formas de Onda

Circuito Emisor

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Equipos y materiales - Frecuencia de referencia del laboratorio (opcional). - Generador de frecuencias. Equipos y accesorios adicionales: - Contador de frecuencias. - Osciloscopio (opcional). - Cables con terminales BNC. - Termhigrometro.

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Proceso de calibracin El tacmetro deber ser calibrado al menos en dos puntos por escala de medicin del instrumento (por ejemplo al 10% y 90% de cada escala). Esperar un tiempo prudente para la estabilizacin de los equipos no menor a 1 hora. Es recomendable fijar tanto el sensor ptico del tacmetro como el sistema de generacin de frecuencias de tal forma que no exista ningn tipo de interferencia entre ambos. El diodo emisor de luz (LED) del sistema de generacin de frecuencias se debe colocar perpendicular a la superficie del tacmetro a una distancia entre 2 cm a 5 cm.

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Proceso de calibracin Antes de activar la seal del sistema de generacin de frecuencias se debe realizar una medicin con el tacmetro para verificar que no existen otras seales lumnicas que pueden causar errores en la medicin. Seleccionar en el generador de frecuencias la funcin pulso en modo continuo a una amplitud de 1 V, tener en cuenta que este puede estar comandado por referencia externa a la frecuencia del laboratorio (opcional). Esperar un tiempo prudente no menor a 20 segundos para tomar las medidas.

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Determinacin del error El error de la calibracin del instrumento a calibrar se expresa como: E = (Lc + Cres + Ctemp(c)) - (Lp + Cbase + Ctemp(p)) Donde: Lc Lectura del instrumento a calibrar (en rpm o rps). Cres Correccin por resolucin del instrumento a calibrar (Cres = 0). Ctemp(c) Correccin del instrumento a calibrar debido a influencia de la temperatura (Ctemp(c) = 0). Lp Lectura del patrn (en Hz, 1 Hz = 1 rps = 60 rpm). Cbase Correccin del patrn debido a la base de tiempo (Cbase = 0). Ctemp(p) Correccin del patrn debido a influencia de la temperatura (Ctemp(p) = 0). E = Lc - Lp

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Clculo de incertidumbre E = (Lc - Lp) + Cres + Ctemp(c) - Cbase - Ctemp(p) u(E) = u(e) + u(Cres) + u(Ctemp(c)) - u(Cbase) - u(Ctemp(p)) Donde: u(e) u(Cres) u(Ctemp(c)) u(Cbase) u(Ctemp(p))

Incertidumbre por diferencias de lectura entre el instrumento a calibrar y el patrn. Incertidumbre debida a la resolucin del instrumento a calibrar. Incertidumbre debida debido a influencia de la temperatura en el instrumentos a calibrar. Incertidumbre debido a la base de tiempo. Incertidumbre debida a la influencia de la temperatura en el patrn.

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Clculo de incertidumbre - Incertidumbre por diferencias de lectura entre el instrumento a calibrar y el patrn u(e).
n 1 ei e n 1 i 1

u (e )

- Incertidumbre por resolucin del instrumento a calibrar u(Cres).

u (C res )

res 2 3

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Clculo de incertidumbre - Incertidumbre debido a la influencia de la temperatura sobre el instrumento a calibrar u(Ctemp(c)).

u (C tempc )

T 3

- Incertidumbre debida a la base de tiempo del patrn u(Cbase).

u (Cbase ) base
- Incertidumbre debido a la influencia de la temperatura en el patrn u(Ctemp(p)).

u (Ctemp p )

T 3

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Clculo de incertidumbre El resumen del anlisis de incertidumbre sera:

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Clculo de incertidumbre De todas estas contribuciones las ms representativas son u(e) y la u(Cres), las dems contribuciones se pueden considerar despreciables por ser de un orden inferior. Entonces la incertidumbre expandida U(E) estar dada por: U(E) = k x u(E) Donde: k U(E) Factor de cobertura (k =2). Incertidumbre combinada.

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Referencias - Guide to the expression of uncertainty in measurement. - EA4/02 Expression of the uncertainty of measurement in calibrations. European cooperation for accreditation (EA). - Tacmetros (Medicin de Frecuencia Rotacional). Metas y Metrologos Asociados, La Gua Metas. 2005 - Septiembre.

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Agradecimientos Luis Palma (SNM-INDECOPI) Henry Postigo (SNM-INDECOPI) Raul Solis (CENAMEP AIP) Luis Mojica (CENAMEP AIP) lpalma@indecopi.gob.pe hpostigo@indecopi.gob.pe rsolis@cenamep.org.pa lmojica@cenamep.org.pa

Contacto: Henry Daz hdiaz@indecopi.gob.pe