Procesado de Ssmica de Reflexin Superficial

Introduccin

CAPITULO III
INTRODUCCIN

III.1

MTODOS SSMICOS
La exploracin ssmica emplea las ondas elsticas que se propagan a travs del terreno y

que han sido generadas artificialmente. Su objetivo es el estudio del subsuelo en general, lo
cual permite obtener informacin geolgica de los materiales que lo conforman. La prospeccin
ssmica es una herramienta de investigacin poderosa, ya que con ella se puede inspeccionar
con buena resolucin desde los primeros metros del terreno (ssmica de alta resolucin o
ssmica superficial; shallow seismic) hasta varios kilmetros de profundidad (ssmica profunda;
deep seismic). As, para la ssmica profunda se utilizan fuentes de energa muy potentes
(explosivos o camiones vibradores) capaces de generar ondas elsticas que llegan a las capas
profundas del subsuelo, mientras que para la ssmica superficial se utilizan martillos de
impacto, rifles ssmicos y explosivos de baja energa. De manera que el diseo de una campaa
ssmica (equipo y material a utilizar) est en funcin del objetivo del estudio. Segn esto, la
ssmica profunda se emplea en la deteccin de reservorios petrolferos (ya sea terrestre o
martima), grandes estructuras geolgicas (plegamientos montaosos, zonas de subduccin,
etc.), yacimientos minerales, domos salinos, etc. Mientras que la ssmica superficial tiene mucha
aplicacin en la obra pblica y la ingeniera civil.
La prospeccin ssmica se basa en el mismo principio que la sismologa, consiste en
generar ondas ssmicas mediante una fuente emisora y registrarlas en una serie de estaciones
sensoras (gefonos) distribuidas sobre el terreno. A partir del estudio de las distintas formas de
onda y sus tiempos de trayecto, se consiguen obtener imgenes del subsuelo que luego se
relacionan con las capas geolgicas (secciones ssmicas, campos de velocidades, etc.).
El desarrollo de la teora ssmica se remonta a 1678 cuando se enuncia la Ley de la
Elasticidad de Hooke1, mucho antes de la existencia de instrumentos capaces de realizar
medidas significativas. Sin embargo, no es sino hasta 1845 cuando, Robert Mallet, realiza los
primeros intentos de medicin de las velocidades ssmicas a travs de terremotos artificiales,
usando plvora negra como fuente de energa y recipientes de mercurio como receptores. En
1899 Knott2 desarrolla la teora ssmica de la reflexin y la refraccin. Pero, es en 1910 cuando

1
2

Vase el Anexo A.1

Knott, C. Reflexin y refraccin de ondas elsticas con aplicaciones sismolgicas. Philosophical Magazine 48. 1989, p. 64-97.

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Introduccin

las diferencias entre las ondas S y P se da a conocer por A. Mohorovicic, quien las identifica y
las relaciona con la base de la corteza, el Moho.
La ssmica de reflexin nace gracias a los primeros trabajos realizados por Reginald
Fesseden, en 1913, con el fin de detectar icebergs. Pero no fue sino hasta 1927 cuando el mtodo
de reflexin se convierte en una tcnica comercial de exploracin geofsica.
En 1919, Ludger Mindtrop aplic para una patente sobre el mtodo de refraccin y ya
hacia 1930 todos los domos salinos superficiales haban sido descubiertos mediante esta tcnica
de exploracin.
Rieber (1939) introduce la idea del procesado de datos ssmicos usando una grabacin de
densidad variable y foto celdas para la reproduccin de las trazas ssmicas. Sin embargo, es en
1953, cuando las cintas magnticas se hicieron comercialmente disponibles, que se dio el paso al
inicio del procesamiento de datos; difundindose rpidamente en los aos siguientes [2]. Hasta
este momento no se empleaba la geometra CMP, la cual es usada por primera vez en 1956.
A finales de los 70, coincidiendo con el auge informtico y el desarrollo tecnolgico, los
nuevos soportes digitales y la nueva instrumentacin representaron otro cambio significativo en
el campo de la ssmica. Desde entonces no se ha dejado de trabajar en la continua mejora de las
tcnicas de adquisicin y procesamiento de datos. En la actualidad toda la adquisicin se realiza
en formato digital y los datos son procesados antes de su interpretacin.

III.2

PRINCIPIOS BSICOS
Cuando una onda ssmica encuentra un cambio en las propiedades elsticas del material,

como es le caso de una interfase entre dos capas geolgicas; parte de la energa contina en el
mismo medio (onda incidente), parte se refleja (ondas reflejadas) y el resto se transmite al otro
medio (ondas refractadas) con cambios en la direccin de propagacin, en la velocidad y en el
modo de vibracin (Figura III.1).
Las leyes de la reflexin y la refraccin se derivan por el principio de Huygens cuando se
considera un frente de onda que incide sobre una interfase plana. El resultado final es que
ambas leyes se combinan en un nico planteamiento: en una interfase el parmetro de rayo, p,
debe tener el mismo valor para las ondas incidentes, reflejadas y refractadas. Si el medio consta
de un cierto nmero de capas paralelas, la ley de Snell establece que el parmetro del rayo tiene
que ser el mismo para todos los rayos reflejados y refractados resultantes de un rayo inicial
dado.

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Introduccin

S reflejada

P incidente
I1
i0

P reflejada

i1

medio 1
p 1 , vp1, vs 1
medio 2
p 2 , vp2, vs 2

P crtica
i2
i2

ic
P trasmitida

S trasmitida

sen io sen i1 sen i'1 sen i2 sen i'2 = p

vp1 = vp1 = vs1 = vp2 = vs1
Figura III.1

Conversin de una onda incidente P. Las ondas ssmicas que viajan por subsuelo se reflejan
y se refractan siguiendo la ley de Snell. La cantidad de energa de las ondas incidentes se
reparte entre las ondas reflejadas, las refractadas y la absorcin natural del terreno.

Cuando V1<V2, i0>i2, los rayos se refractan por la segunda capa y los gefonos situados en
la superficie no registran el fenmeno. En el caso en el que i2 alcanza los 90, se define como

i1= sen1 (V1/V2) el ngulo de incidencia crtico para el cual el rayo viaja a travs de la interfase.
La ley de Snell proporciona informacin sobre las trayectorias de los rayos, los tiempos de
llegada y la posicin de los refractores, pero no proporciona informacin alguna sobre las
amplitudes de las ondas.

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Introduccin

gefonos

tiro

v1
onda directa t = x / v1

Rayo directo que viaja por la parte superior de la

primera capa a una velocidad V1.

gefonos

tir
ic

ic

v1
v2
onda refractada t = x/ v2 sen ic = V1 / V2

gefonos

tiro

v1
v2
s'
2

onda reflejada t = to + x / V1

Figura III.2

Rayo refractado (o trasmitido), que se origina para

ngulos de incidencia (i0) mayores y cuando la
velocidad de la segunda capa es superior a la de la
primera (V2 > V1). Dependiendo de las velocidades, hay
un ngulo de incidencia crtica (ic) para el cual el ngulo
de refraccin es de 90, entonces el rayo viaja a travs
del contacto entre las dos capas y vuelve a subir con el
mismo ngulo que ha incidido, este rayo se denomina
rayo crtico y es el nico que se registra en superficie.
Rayo reflejado que se origina para ngulos de incidencia
(i0) pequeos. Las ondas rebotan sobre el techo de la
segunda capa.

Los gefonos, situados a distancias conocidas (xi), registran los diferentes tiempos de
llegada de cada tipo de onda (tj) que est caracterizada para una determinada trayectoria.
Con estos tiempos (tj), la geometra del dispositivo experimental (xi) y las ecuaciones de las
trayectorias de los rayos se calcula la distribucin de velocidades del subsuelo (V1, V2;....).

En el registro ssmico que se presenta en la Figura III.3 se pueden identificar claramente

las ondas elsticas producto del contacto entre dos capas. Se aprecia la onda directa (1754 m/s),
la onda refractada (3500 m/s) y las ondas P reflejadas (1630 m/s primera capa, y 4000 m/s
segunda capa), as como la onda reflejada SV (2858 m/s). Luego, con la informacin de distancia
fuente-receptor y tiempos de llegada se construyen las dromocronas.

tiempo
distancia crtica
to
ti

ona reflejada

a
o nd

dire

o n da

r ef r a c

tad a

cta

xc

distancia de corte
g
distancia

Profundidad

v1
v2

Figura III.3 Ejemplo de tiro de campo en donde se pueden ver todas las ondas procedentes del contacto
entre dos capas. A la derecha se muestra las curvas espacio-tiempo (dromocronas).

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III.3

Introduccin

SSMICA DE REFRACCIN
La ssmica de refraccin realiz grandes aportaciones a la prospeccin ssmica en sus

comienzos. Hasta la dcada de los 60 fue extremadamente popular, especialmente en la

exploracin de cuencas sedimentarias donde condujo al descubrimiento de grandes campos de
petrleo; posteriormente qued relegada por los avances del mtodo de reflexin que
proporcionaba una informacin ms detallada [3]. Sin embargo, debido a su menor coste y al
tipo de informacin que proporciona (campo de velocidades) la ssmica de refraccin es un
potente mtodo que actualmente se emplea tanto en estudios de estructuras profundas de la
corteza terrestre como en estudios del subsuelo ms inmediato (ripabilidad, rellenos
anisotrpicos, compactacin de los materiales, etc.)
El mtodo se basa en la medicin del tiempo de viaje de las ondas refractadas crticamente
en las interfaces entre las capas con diferentes propiedades fsicas; fundamentalmente por
contraste entre impedancias acsticas (i = .v; en donde es la densidad y v la velocidad de la
capa). La energa ssmica se genera mediante un impacto controlado en superficie (o a una
determinada profundidad) que va propagndose en forma de onda elstica a travs del
subsuelo interaccionando con las distintas capas, de manera que una parte de la energa se
refleja y permanece en el mismo medio que la energa incidente, y el resto se transmite al otro
medio con un fuerte cambio de la direccin de propagacin debido al efecto de la interfase
(refraccin). De esta interaccin, la ssmica de refraccin solo considera las refracciones con
ngulo crtico ya que son las nicas ondas refractadas que llegan a la superficie y pueden ser
captadas por los gefonos (Figura III.4).

Figura III.4

La ssmica de refraccin utiliza los tiempos de primeras llegadas del sismograma que
corresponden a las ondas refractadas crticamente en las distintas capas del subsuelo. Cada
una de estas capas se distingue por su impedancia acstica y se le llama refractor. El
resultado de este mtodo es una imagen ssmica del terreno en forma de campo de
velocidades [V(x,z)]; que posteriormente ser interpretado geolgicamente.
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Introduccin

La distancia desde los receptores al punto de tiro debe ser considerablemente grande
comparada con la profundidad de los horizontes que se desean detectar, debido a que las ondas
viajan grandes distancias horizontales antes de ser refractadas crticamente hacia la superficie;
por ello tambin se suele llamar ssmica de gran ngulo. Estas largas trayectorias de
propagacin hacen que se disipe una mayor proporcin de energa y, en particular se produzca
una absorcin de las frecuencias ms altas, en consecuencia los datos de refraccin son de bajas
frecuencias comparados con los datos de reflexin y, a igualdad de fuente ssmica, se
inspecciona menor profundidad.
La ssmica de refraccin es especialmente adecuada cuando se desean estudiar superficies
de alta velocidad, ya que brinda informacin de velocidades y profundidades en las cuales se
propagan las ondas (Figura III.5). Tambin es posible inspeccionar reas ms grandes mas
rpidamente y de forma ms econmica que el mtodo de reflexin; a pesar de presentar una
significante perdida del detalle [4].

10

20

30

40

50

60

70

80

90

100

110

120

130

140

150

160

170

180

190

200

210

220

230

240

-10

-20

-30

Velocidaes de las Ondas P

(m/s)
5000 4500 4000 3500 3000 2500 2000 1500 1000

Figura III.5

III.4

500

El mtodo de refraccin proporciona una imagen del subsuelo en trminos de campo de

velocidades ssmicas V (x,z). Este perfil ssmico de refraccin se realiz en la cuenca
evaportica de Cardona, Barcelona (Espaa) [5]. El techo de la sal corresponde a la capa de
mayor velocidad (superior a 3500 m/s). Ntese que el contacto entre la sal y las capas
superiores es altamente irregular dando cuenta de la alta plasticidad de la sal.

SSMICA DE REFLEXIN
El mtodo ssmico de reflexin se basa en las reflexiones del frente de ondas ssmico sobre

las distintas interfases del subsuelo. Estas interfases (reflectores) responden, al igual que en la
refraccin, a contrastes de impedancia que posteriormente se relacionaran con las distintas
capas geolgicas. Las reflexiones son detectadas por los receptores (gefonos) que se ubican en
superficie y que estn alineados con la fuente emisora. Dado que las distancias entre la fuente y
los gefonos son pequeas respecto a la profundidad de penetracin que se alcanza (Figura

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III.6), el dispositivo experimental soporta que se est operando en "corto ngulo"; asegurando
as la obtencin de reflexiones y, distinguindose de la ssmica de refraccin o de "gran ngulo".

Figura III.6 Esquema bsico de la emisin y recepcin de los rayos reflectados en las distintas capas
reflectoras.

Con el fin de conseguir un mejor reconocimiento de la zona de estudio, se realiza un

nmero de disparos mayor y se aumenta la cantidad de gefonos en comparacin con los
empleados en un perfil de refraccin de longitud equivalente. El resultado es un grupo de
trazas ssmicas procedentes de todos los tiros que se analizan, se procesan y luego se reordenan
en conjuntos de puntos reflectores comunes (CMP), los cuales contienen la informacin de
todas las reflexiones halladas (Figura III.7-a). Una vez todas las trazas de un mismo CMP se han
agrupado, se suman y se obtiene una traza CMP. El conjunto de todas las trazas CMP
constituye la denominada seccin ssmica de reflexin que es el resultado final de este mtodo.
Una seccin ssmica es una imagen del subsuelo en donde las reflexiones se ven en forma de
lbulos negros de mayor amplitud y definen las capas reflectoras que despus se asociarn a las
estructuras geolgicas (Figura III.7-b).

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Introduccin

Gefonos .... ......

Tiro

Reg istro Ssm ico

Capa 1

Capa 2
Reflexiones en las capas
Capa 3

Puntos d e reflexin

Tiro 1

(a)
Gefonos

Tiro 2

Traczas CDP

Puntos reflectores Comunes (CDP)

(b)
Figura III.7

Reflectores

(c)

(a) Esquema del recorrido de los rayos reflejados en tres capas para una posicin de tiro y
dos estaciones receptoras (gefonos). Debido a la ecuacin de propagacin, las reflexiones
quedan marcadas en el registro ssmico como trayectorias hiperblicas. (b) Una vez todas
las reflexiones de un mismo CDP se han agrupado, se suman y se obtiene una traza CDP.
(c) Las trazas CDP proporcionan la imagen ssmica del terreno, llamada seccin ssmica.

El tratamiento de los datos en ssmica de reflexin es ms laborioso y delicado que el

procesado de refraccin3; donde uno de los retos ms importantes es conseguir aislar de los
registros las reflexiones, eliminando las otras ondas (onda directa, refracciones, ruido, etc.). Esta
tarea implica la aplicacin de tratamientos multiseal (filtros, deconvoluciones, etc.) que, si no
se hacen cuidadosamente, pueden crear artefactos y confundirse con falsos reflectores. Otro
punto conflictivo del procesado es que en las secciones ssmicas de reflexin las capas
reflectoras estn en modo tiempo doble debido a que cada rayo reflejado ha hecho el viaje de
ida (incidencia) y vuelta (rebote). A los interpretes que estn acostumbrados a trabajar con
secciones ssmicas les es fcil pasar mentalmente del tiempo doble en donde se detecta un
reflector a la profundidad que le tocara (profundidad equivalente), pero en muchos casos se

Consultar el apartado de bibliografa si se quiere profundizar ms en el tema.

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Procesado de Ssmica de Reflexin Superficial

Introduccin

facilita esta tarea automticamente y se presentan las secciones ssmicas de reflexin

convertidas a una profundidad aproximada.
Este mtodo es una de las tcnicas de prospeccin geofsica ms utilizada debido a que su
resultado es una imagen denominada seccin ssmica en donde se aprecia la geometra de las
estructuras geolgicas (Figura III.8).

Figura III.8

Seccin ssmica obtenida mediante el mtodo de reflexin. El objetivo fundamental de este

mtodo es describir la estratigrafa del subsuelo estudiado. El perfil ssmico de reflexin
coincide con el de refraccin de la Figura III.5 realizado en la cuenca evaportica de
Cardona, Barcelona (Espaa) [5].

La ssmica de reflexin tuvo su gran auge en la exploracin petrolera, donde se aplic en

la bsqueda de reservorios de gas y petrleo. Sin embrago, a partir de de los aos 90 empez a
extenderse a aplicaciones ms superficiales, en donde se combina con la ssmica de refraccin
de alta resolucin, logrndose as expandir su campo de accin hacia los problemas
relacionados con la ingeniera geolgica (Figura III.9).

Figura III.9

Combinacin de una seccin ssmica (reflexin) con su correspondiente perfil ssmico de

refraccin. Ambos resultados pertenecen a las figuras III.5 y III.8. Ntese como el campo de
velocidades de la refraccin ayuda a la interpretacin geolgica de la seccin a la vez que
ha permitido su conversin a profundidad.

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Introduccin

La ssmica de reflexin de alta resolucin se basa en los mismos principios que la ssmica
profunda y, al igual que ella, persigue los mismos propsitos. La diferencia estriba en que las
estructuras geolgicas de inters de la ssmica son menores que las de la ssmica profunda, de
manera que para conseguir la resolucin necesaria debe trabajarse con geometras ms
reducidas y rangos de frecuencias ms altos; puesto que los primeros metros del subsuelo
constituyen una zona caracterizada por ser ms heterognea y con contrastes de velocidades
ms elevados [6]. Ello produce que el registro ssmico de la propagacin del frente de ondas se
distinga por un nmero elevado de trenes de ondas que muy a menudo se interfieren y se
superponen a las reflexiones superficiales. En la Figura III.10 se intenta establecer las diferencias
entre un registro de ssmica de alta resolucin y uno de ssmica profunda (tomado del Yilmaz
[7]). En el registro de ssmica profunda, se observa que el Ground Roll (A) no es lo
suficientemente fuerte como para solapar las reflexiones (B, C, D, E).

Trenes de onda superficiales que se superponen

a las reflexiones superficiales

(a)

(b)

Figura III.10 La diferencia entre registros ssmicos pertenecientes a ssmica superficial (a) y a ssmica
profunda (b) estriba, fundamentalmente, en que en la ssmica superficial las reflexiones de
inters se superponen a las otras ondas del frente ssmico. Ello produce que el
procesamiento de datos sea ms complicado.

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Procesado de Ssmica de Reflexin Superficial

Introduccin

En ssmica superficial, la eleccin del dispositivo experimental est muy condicionada por
la generacin de las ondas guiadas, el GR y la onda area debido a que normalmente los datos
se adquieren con un solo gefono por traza; a diferencia de la ssmica profunda en donde es
clsico utilizar conjuntos (arrays) de gefonos que contribuyen a la formacin de una traza
disponindose estratgicamente de manera que estos frentes se interfieran destructivamente y
aumente as la relacin seal/ruido [8].
En general los tiros se efectan en los extremos (tiros en cola o en cabeza) o en el centro
(tiros simtricos) del dispositivo (Figura III.11). La primera geometra permite cubrir una
distancia ms grande de la trayectoria de los reflectores, mientras que en los tiros simtricos se
obtiene un mejor control sobre las hiprbolas de reflexin; resultando un dispositivo ms
apropiado cuando hay reflectores inclinados [9]. No obstante, muchas veces la geometra de tiro
simtrico no suele ser la ms adecuada ya que las ondas guiadas, el GR y la onda area ocupan
la mayor parte de la ventana temporal de los registros de campo. Como se demostrar en los
siguientes captulos, esta diferencia en la adquisicin de datos ha sido uno de los puntos de
valoracin de la presente tesis ya que se han procesado dos lneas ssmicas en zonas con las
mismas caractersticas geolgicas pero una adquirida con tiro simtrico (PS-1) y otra con tiro en
cola (PS-2).

(a)

(b)

Figura III.11 Registros de campo con diferentes geometras de adquisicin en un mismo contexto
geolgico. (a) Tiro en cola y (b) tiro simtrico. En este caso, el tiro simtrico muestra mejor
las reflexiones por debajo de los 60 ms que el tiro en cola, ya que stas no se ven afectadas
por las refracciones ni por los trenes de la onda directa. No obstante, se observan
reflexiones superficiales de baja amplitud que quedan mejor descritas en el tiro en cola.
Registros de campo sin procesar; espaciado entre trazas de 5 m y muestreo de 0.1 ms.
Trazas escaladas con AGC de 125 ms (sobre ventana temporal de 250 ms).
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Introduccin

Dos aspectos importantes en la definicin de la geometra de adquisicin son las

posiciones del tiro respecto al primer gefono activo (offset ms prximo) y la del ltimo
gefono (offset ms lejano). stas dependen de las profundidades de investigacin, de las
velocidades del subsuelo y de la longitud total del dispositivo experimental. Una regla
emprica, anloga a la de prospeccin profunda, consiste en que la lnea de gefonos activos
cubra una distancia entre 1.5 y 2 veces la profundidad mxima de los reflectores a investigar
[10].

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