Lec01 - Teorema de Muestreo

1
Teorema del Muestreo

Dr. Luis J avier Morales Mendoza
Procesamiento Digital de Seales
Departamento de Maestra
DICIS - UG
Dr. Luis J avier Morales Mendoza 2
ndice
1.1. Introduccin
1.2. Conversin analgico-digital y digital-analgico
1.3. Proceso de muestreo
1.4. Teorema del muestreo
1.5. Alteracin de la tasa de muestreo
1.6. Tarea
2
Introduccin
1.1. Introduccin
Las tcnicas de seales digitales proporciona un mtodo alternativo para
procesar una seal analgica de inters prctico tales como la voz, seales
biolgicas, ssmicas, del sonar y de los distintos tipos de comunicaciones
son. Para realizar esto, es necesario antes que nada de una interfaz entre la
seal analgicay el procesador digital y viceversa. Estas interfaces son el
convertidor Analgico-Digital (ADC) y el convertidor Digital-Analgico
(DAC) como se muestra en la Figura 1.1.
ADC
Procesador
Digital
DAC
Seal
Analgica
Seal
Analgica
Figura 1.1: Diagrama a bloques de un sistema digital
Introduccin
El procesador digital de seales puede ser un gran ordenador digital
programable (p. e. una PC) o un pequeo microprocesador embebido
(p. e. un DSP, FPGA, PIC) para realizar las operaciones deseadassobre la
seal de entrada.
Figura 1.2: DSP de la compaa Altera y uno de la Familia
TMS320 de Texas Instruments
3
Conversin AD y DA
1.2. Conversin Analgico-Digital y Digital-Analgico
Para procesar seales analgicas por medios digitales es necesario
convertirlas a formato digital, esto es, transformarlas en una secuencia de
nmeros de precisin finita. Este procedimiento se denomina conversin
analgico-digital (ADC).
Conceptualmente, se puede ver que la ADC posee un proceso de tres pasos
los cuales son:
1. Muestreo. Esta es la conversin de una seal en tiempo continuo a una
seal en tiempo discreto obtenida tomando muestras de la seal en tiempo
continuo en instantes de tiempo discreto. As x
a
(t) es la entrada al mues-
treador, la salida es x
a
(nT) x(n), donde T se denomina el intervalo de
muestreo.
Conversin AD y DA
2. Cuantificacin. Esta es la conversin de una seal en tiempo discreto
con valores continuos a una seal en tiempo discreto con valores discretos
(seal digital). El valor de cada muestra de la seal se representa mediante
un valor seleccionado de un conjunto finito de valores posibles. La diferen-
ciaentre la muestra sin cuantificar x(n) y la salida cuantificada x
q
(n) se
denomina error de cuantificacin.
3. Codificacin. En el proceso de codificacin, cada valor discreto x
q
(n) se
representa mediante una secuencia binaria de b bits.
Muestreador Cuantificador
Codificador
x
a
(t)
x(n) x
q
(n) 1001
Figura 1.3: Diagrama a Bloques de un ADC
4
Conversin AD y DA
ADC tipo flash (en paralelo).
Consiste en una serie de
comparadores arreglados en
paralelo que comparan a la
seal con una referencia para
cada nivel. El resultado de las
comparaciones ingresa a un
circuito lgico que cuenta
los comparadores activados.
Figura 1.4: ADC Flash
Conversin AD y DA
ADC de simple rampa. Este tipo de convertidor utiliza un integrador con un
condensador que se carga a pendiente constante hasta alcanzar latensin a
convertir, instante en el que cesa la integracin. El tiempo requerido es
proporcional a la tensin de entrada, y puede medirse con un contador
digital.
Figura 1.5: ADC Simple Rampa
5
Conversin AD y DA
ADC de doble rampa. Este esquema permite independizarse de la precisin
de la frecuencia del reloj, la resistencia y el condensador. La conversin se
hace en dos etapas, la primera se realiza la integracin de la tensin de
entrada durante un tiempo fijo, y en la segunda se produce la descarga con
pendiente fija, durante un tiempo que depende de la cantidad de carga
acumulada.
Figura 1.6: ADC doble rampa
Conversin AD y DA
DAC de escalera. Esta configuracin permite un rango amplio de valores
de las resistencias. En la actualidad, este tipo de circuito es superado por
las redes de escalera del tipo R-2R
Figura 1.7: DAC de escalera
6
Conversin AD y DA
DAC de escalera R-2R. La propiedad de esta configuracin es que
cualquiera que sea el nmero de secciones en la red, la resistencia vista
por el operacional es R.
Figura 1.8: DAC escalera R-2R
Conversin AD y DA
Existen otros circuitos convertidores analgico-digital y digital-analgico
que poseen circuiteramucho ms compleja para mejorar que las vistas
atrs. Por ejemplo, los ADC usan DAC dentro de su propia circuiteria.
Algunos ejemplos son: de aproximaciones sucesivas, balance continuo
y de rampa discreta
Figura 1.9: aproximaciones
sucesivas
7
Conversin AD y DA
Algunos parmetros de inters para los DAC son:
La resolucin, exactitud, el error de escala, error de offset, monotona,
Tiempo de establecimiento, slew-rate, sobrepicoy glith, derivadas con la
temperatura y con el envejecimiento entre otros parmetros.
Para los ADC son:
Rechazo al ruido, resolucin, error de cuantizacin, error de histresis,
error de offset, error de cero, y error de escala.
Muestreo de Seales
5.3. Muestreo de seales analgicas
Existen muchas maneras de muestrear una seal, la ms comn es el
muestreo peridico o uniforme. Este proceso se describe mediante la
relacin
( ) ( ) nT x n x
a
= (1.1) <n <+
donde x(n) es la seal en tiempo discreto obtenida tomando muestras de la
seal analgica x
a
(t) cada T segundos. Este proceso se ilustra en la Figura
1.10. El intervalo de tiempo T entre dos muestras sucesivas se denomina
periodo de muestreoo intervalo de muestreo, y su reciproco (1/T =F
s
) se
llama velocidad de muestreo(muestras por segundo) o frecuencia de
muestreo (Hertz).
8
Muestreo de Seales
x
a
(t)
t
x(n)
n
x
a
(t)
x(n) =x
a
(nt)
Muestreador
x
a
(t)
x(n) =x
a
(nt)
F
s
=1/T
T 2T 5T 9T t =nT
1 2 3 4 5 6 7 8 9
Figura 1.10: Muestreo peridico de una seal analgica
Muestreo de Seales
El muestreo peridico establece una relacin entre las variables t de
tiempo continuo y n de tiempo discreto. De hecho, estas variables se
relacionan linealmente a travs del periodo de muestreo T o equivalente-
mente, a travs de la velocidad de muestreo como
T
n
nT t = =
(1.2)
Como consecuencia de (1.2), existe una relacin entre la variable frecuencia
F de las seales analgicas y la variables frecuencia f de las en tiempo
discreto. Para establecer dicha relacin si se considera una seal analgica
de la forma
( ) ( ) + = Ft A t x
a
2 cos
(1.3)
9
Muestreo de Seales
( ) ( ) ( ) + = nFT A n x nT x
a
2 cos
que, cuando se muestrea peridicamente a una velocidad de F
s
=1 /T
muestras por segundo, da lugar a
( )

+ =
s
F
nF
A n x
2
cos
Si una seal en tiempo discreto es expresada como
(1.4)
( ) ( ) + = nf A n x 2 cos
(1.5)
entonces, al comparar la relacin (1.4) con la (1.5), se observa que las
variables de frecuencia F y f estn linealmente relacionadas como
Muestreo de Seales
T =
s
F
F
f =
(1.6)
Si =2f y =2F, entonces, la (1.6) queda como
(1.7)
La relacin dada en (1.6) justifica el nombre de frecuencia normalizada o
relativa, que se usa a veces para describir a la variable f. Como se ve en
(1.6), se puede usar a f para determinar a la frecuencia F solo si la frecuen-
ciade muestreo F
s
es conocida.
El rango de la variable de frecuencia F para senoides en tiempo
continuo es
< <+ <F <+
(1.8)
10
Muestreo de Seales
Sin embargo, la situacin es diferente para senoides en tiempo discreto, las
cuales establecen que
< <
<F <
(1.9)
Sustituyendo (1.6) y (1.7) en (1.9) se encuentra que la frecuencia de la
senoide en tiempo continuo cuando se muestreo a una velocidadF
s
=1/T
debe encontrarse en el rango
T
F
F
F
T
s s
2
1
2 2 2
1
= =
(1.10)
T
F F
T
s s
= =
(1.11)
o equivalentemente
Muestreo de Seales
Ejemplo 1. considere la siguiente seal analgica
( ) ( ) t t x
a
100 cos 3 =
a) Si la seal se muestrea a una velocidad de F
s
=200Hz cul es la
seal en tiempo discreto obtenida tras el muestreo?.
b) Si la velocidad de muestreo cambia a F
s
=75Hz.
Sol. Aplicando la (1.4) se tiene
( ) =
= n n x
200
100
cos 3

n
2
cos 3

( ) =
= n n x
75
100
cos 3

n
3
4
cos 3

a)
b)
11
Muestreo de Seales
Figura 1.11: Muestreo de la seal x
a
(t)
5.4. Teorema de Muestreo
Dada una seal analgica cualesquiera, cmo se debe elegir el periodo de
muestreo T? cual es velocidad de muestres F
s
? Para contestar esta pre-
guntaes necesario cierta informacin sobre la caracterstica de la seal que
va a ser muestreada.
En particular, se debe tener cierta informacin general sobre el contenido
de frecuencia de la seal. Generalmente, dicha informacin se encuentra
disponible, por ejemplo se sabe que la frecuencia mayor en seales de voz
ronda los 3KHz o en las seales de televisintiene componentes de fre-
cuenciaimportante hasta los 5MHz.
La informacin contenida en dichas seales se encuentra en la amplitud,
frecuenciay fasede las distintas componentes de frecuencia, pero antes de
obtener dichas seales no se conoce sus caractersticas con detalle.
12
De hecho, el propsito del procesado de seal es normalmente la extrac-
cinde dichas caractersticas. Sin embargo, si se conoce la mxima fre-
cuenciade una determinada clase de seal, se puede especificar la
velocidad de muestreo necesaria para convertir las seales analgicas en
seales digitales.
Si se supone que cualquier seal analgica se puede representar como una
suma de senoides de diferentes amplitudes, frecuencias y fases, es decir
( ) ( )
=
+ =
N
i
i i i a
t F A t x
1
2 cos
(1.12)
donde N indica el nmero de componentes de frecuencia. Todas las
seales, como las de voz video se prestan a dicha representacin en
cualquier intervalo de tiempo pequeo.
Normalmente, las amplitudes, fases y frecuencias varan lentamente de un
intervalo de tiempo al siguiente. Si se supone que la frecuenciade una
determinada seal no excede una frecuencia mxima conocida F
max
.
Por ejemplo, si F
max
=3KHz, para seales de voz y F
max
=5MHz para
seales de video, se puede ver que la mxima frecuencia puede variar
ligeramente, y para asegurar que F
max
no sobrepase determinado valor, la
seal analgica es pasada a travs de un filtro que atene fuertemente las
componentes de frecuencia por encima de F
max
. En la prctica, este filtrado
se realiza antes del muestreo.
Se sabe que la frecuencia ms alta de una seal analgica que puede
reconstruirse sin ambigedad cuando la seal se muestrea a una velocidad
de F
s
=1/T es F
s
/2. Cualquier frecuencia por encima de F
s
/2 o por debajo
de F
s
/2 produce muestras que son idnticas a las correspondientes a las
frecuencias dentro del intervalo F
s
/2 F F
s
/2.
13
Teorema: Si la frecuencia ms alta contenida en una seal
analgica x
a
(t) es F
max
=B y la seal se muestrea a una
velocidad F
s
>2F
max
, entonces x
a
(t) se puede recuperar
totalmente de sus muestras mediante la siguiente funcin de
interpolacin:
( )
( )
Bt
Bt
t g
2
2 sin
=
Para evitar las ambigedades, que resultan del aliasing, se debe seleccionar
una velocidad de muestreo lo suficientemente alta, esto es, se debe escoger
a F
s
/2 mayor que a F
max
. Por lo tanto para evitar el problema de aliasing, se
selecciona a F
s
como
F
s
>2F
max
(1.13)
(1.14)
As, x
a
(t) se puede expresar como
( )

=
n s s
a a
F
n
t g
F
n
x t x
(1.15)
donde x
a
(n/F
s
) =x
a
(nT) =x(n).
Cuando el muestreo de x
a
(t) se realiza a la tasa mnima de muestreo F
s
=2B,
la formula de reconstruccin (1.15) se transforma en
( )
( )
( )
=
n B
n
B
n
a a
t B
t B
B
n
x t x
2
2
2
2 sin
2
(1.16)
La tasa de muestreo dada por FN =2B =2Fmax, se denomina tasa de
Nyquist. La Figura 1.12 ilustra el proceso de un DAC ideal que usa esta
funcin de interpolacin.
14
( )
( )
( )
B
n
B
n
t B
t B
t g
2
2
2
2 sin
Figura 1.12: Conversin analgico a digital ideal

Como puede observarse tanto en la (1.15) como en la (1.16), la
reconstruccin de x
a
(t) a partir de la secuencia x(n) es un proceso complicado
que supone la suma ponderada de la funcin de interpolacin g(t) y sus
versiones correspondientemente desplazadas en el tiempo g(t - nT) con
<n <, donde los coeficientes de ponderacin son las muestras de x(n).
Dada la complejidad y el infinito nmero de muestras que se requiere en
(1.15) y (1.16), stas formulas de reconstruccin, son puramente de inters
terico.
Ejemplo 2. Considere la siguiente seal analgica
( ) t t t t x
a
100 cos 300 sin 10 50 cos 3 + =
Cual es la tasa de Nyquist para esta seal?
15
Sol. Las frecuencias presentes en la seal son:
Hz F 25
1
=
Hz F 50
3
=
Hz F 150
2
=
Por lo tanto, la frecuencia mxima contenida en la seal es 150Hz, y de
acuerdo a (1.13) la tasa de Nyquist es
max
2F F
N
= Hz F
N
300 =

Ejemplo 3. Considere la siguiente seal analgica
( ) t t t t x
a
12000 cos 10 6000 sin 5 2000 cos 3 + + =
a) Cual es la tasa de Nyquist para esta seal?
b) suponga ahora que se muestrea esta seal a una velocidad de F
s
=5000
muestras por segundo Cul es la seal en tiempo discreto que se obtiene
tras el muestreo?
KHz F 1
1
=
KHz F 6
3
=
KHz F 3
2
=
Por lo tanto
KHz F
N
12 =
Sol.
16
b) Dado que se ha elegido a F
s
=5KHz, la mxima frecuencia que puede
ser representada sin ambigedad mediante las muestras es
( ) ( ) ( ) ( )n n n t x
a 5
6
5
3
5
1
2 cos 10 2 sin 5 2 cos 3 + + =
( ) ( ) ( )n n n
5
1
5
2
5
1
1 2 cos 10 1 2 sin 5 2 cos 3 + + + =
( ) ( ) ( )n n n
5
1
5
2
5
1
2 cos 10 2 sin 5 2 cos 3 + + =
( ) ( )n n
5
2
5
1
2 sin 5 2 cos 13 =
KHz
F
s
5 . 2
2
=
usando la (1.2) se obtiene
Tarea
1. Investigue en forma detallada cada uno de los convertidores analgico-
digital que se presentaron en esta lectura, cubriendo el anlisis del
circuito, aplicaciones, ventajas y desventajas que presenta cadauno, entre
otros datos de inters.
2. Realice la programacin de un DAC y ADC en Matlabaplicando los
mtodos de conversin descritos en esta lectura.
3. Investigue cual es el estado del arte de los convertidores analgicos-
digitales y digitales-analgicos en cuestin de diseo electrnico, en
programacin de algunos sistemas embebidos (PIC, FPGA, DSP),
velocidad, etc.
17
Tarea
4. Se tiene las siguientes seales analgicas
Encuentre:
a) La frecuencia mxima
b) La tasa de Nyquist
c) Si la frecuencia de muestreo cambia a F
s
=500 muestras por segundo
Cul es la seal en tiempo discreto que se obtiene tras el muestreo?
( ) t t t x
a
1800 cos 2 600 cos 3 + =
( ) ( ) { } ( ) { } t j t j t x
a
400 exp Im 7 200 exp Re 5 + =
( ) ( ) { } ( ) { } t j t j t x
a
100 exp Im 200 exp Re 3 =

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Teorema del Muestreo

Figura 1.12: Conversin analgico a digital ideal

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