Universidad Politcnica de Cartagena

Departamento de Electrnica, Tecnologa de Computadoras y Proyectos

Ingeniero de Telecomunicacin

Instrumentacin Electrnica
Tema 5. Medidas de seales con el osciloscopio

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ndice
5.5. Sistemas y controles de un osciloscopio 5.1. Introduccin 5.5.1. Sistema y controles verticales 5.2. Integridad de la seal 5.5.1.1. Posicin y voltios por divisin 5.2.1. La importancia de la integridad de la seal 5.5.1.2. Acoplamiento de la entrada 5.2.2. El problema la integridad de la seal 5.5.1.3. Lmite de ancho de banda 5.2.3. Orgenes analgicos de las seales digitales 5.5.1.4. Modos de presentacin alternado y troceado 5.3. El osciloscopio 5.5.2. Sistema y controles horizontales 5.3.1. Las formas de onda y su medida 5.5.2.1. Controles de adquisicin 5.3.2. Tipos de ondas 5.5.2.2. Modos de adquisicin 5.3.2.1. Ondas sinusoidales 5.5.2.3. Inicio y parada del sistema de adquisicin 5.3.2.2. Ondas cuadradas y rectangulares 5.5.2.4. Muestreo 5.3.2.3. Ondas en diente de sierra y triangulares 5.5.2.5. Controles de muestreo 5.2.2.4. Ondas en escaln y pulsos 5.5.2.6. Mtodos de muestreo 5.2.2.5. Seales sncronas y asncronas 5.5.2.7. Posicin y segundos por divisin 5.2.2.6. Ondas complejas 5.5.2.8. Selecciones de la base de tiempos 5.3.3. Medidas de las formas de onda 5.5.2.9. Zoom 5.4. Tipos de osciloscopios. 5.5.2.10. Modo XY 5.4.1. Introduccin. Necesidad de almacenamiento de la seal. 5.5.2.11. Eje Z 5.4.1.1. Tcnicas de almacenamiento convencional 5.5.2.12. Modo XYZ 5.4.1.2. Almacenamiento digital. 5.5.3. Sistema de disparo y controles 5.4.2. Osciloscopios analgicos 5.5.3.1. Posicin del disparo 5.4.3. Osciloscopios digitales 5.5.3.2. Nivel y pendiente de disparo 5.4.3.1. Osciloscopios de memoria digital 5.5.3.3. Fuentes de disparo 5.4.3.2. Osciloscopios de fsforo digital 5.5.3.4. Modos de disparo 5.4.3.3. Osciloscopios de muestreo 5.5.3.5. Acoplamiento del disparo 5.4.3.4. Conversores analgico-digital utilizados en los 5.5.3.6. Retencin del disparo (holdoff) osciloscopios

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5.5.4. Sistema de presentacin y controles 5.5.5. Tcnicas de presentacin 5.5.5.1. Conversor Digital-Analgico (D/A) 5.5.5.2. Solapamiento (aliasing) 5.5.5.3. Presentacin por puntos 5.5.5.4. Interpolacin lineal o presentacin vectorial 5.5.5.5. Interpolacin senoidal 5.5.5.6. Interpolacin senoidal modificada 5.5.5.7. Deteccin de pico (modo de envolvente) 5.5.5.8. Modo de desplazamiento 5.5.5.9. Predisparo 5.5.6. Otros controles del osciloscopio 5.6. Las sondas 5.6.1. Introduccin 5.6.2. Sondas pasivas 5.6.3. Sondas activas 5.6.4. Sondas diferenciales de tensin 5.6.5. Sondas de corriente 5.6.6. Otros tipos de sondas 5.6.7. Accesorios de las sondas 5.7. Trminos y consideraciones acerca de las prestaciones 5.7.1. Ancho de banda 5.7.2. Tiempo de subida 5.7.3. Ancho de banda y tiempo de subida tiles 5.7.3.1. Ancho de banda til 5.7.3.2. Tiempo de subida til

5.7.4. Velocidad de muestreo 5.7.5. Velocidad de captura de formas de onda 5.7.6. Longitud de registro y capacidad de memoria 5.7.7. Inestabilidad horizontal 5.7.8. Procesamiento de seales 5.7.8.1. Almacenamiento Diferencial 5.7.8.2. Suavizado 5.7.8.3. Promediado 5.7.8.4. Seales promediadas: Mejor resolucin y mayor precisin 5.7.9. Capacidades del disparo 5.7.10. Bits efectivos 5.7.11. Respuesta en frecuencia 5.7.12. Sensibilidad vertical 5.7.13. Velocidad de barrido 5.7.14. Precisin de la ganancia 5.7.15. Precisin horizontal (base de tiempos) 5.7.16. Resolucin vertical (convertidor analgico/digital) 5.7.17. Precisin vertical 5.7.18. Conectividad 5.7.19. Capacidades de expansin 5.7.20. Facilidad de utilizacin 5.7.21. Sondas 5.7.22. Comentarios acerca de la resolucin de memoria, resolucin de presentacin y frecuencia de muestreo.

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5.8. Operacin con el osciloscopio. 5.8.1. Configuracin 5.8.2. Conexin a tierra del osciloscopio 5.8.3. Conexin a tierra del operario 5.8.4. Configuracin de los controles 5.8.5. Utilizacin de las sondas 5.8.6. Conexin de la pina de toma de tierra. 5.8.7. Compensacin de la sonda. 5.9. Tcnicas de medida con osciloscopios. 5.9.1. Medidas de voltaje. 5.9.2. Medidas de tiempo y frecuencia. 5.9.3. Medidas de ancho de pulso y de tiempos de subida. 5.9.4. Mediciones derivadas. 5.9.5. Medidas de desplazamiento de fase. 5.9.6. Deteccin de espreos (Glitches). 5.9.7. Mediciones diferenciales. 5.9.8. Utilizacin del disparo TV. 5.9.9. Mediciones con barrido retardado. 5.9.10. Osciloscopios de base de tiempos nica. 5.9.11. Osciloscopios de doble base de tiempos. 5.9.12. Mediciones en dos velocidades de barrido. 5.9.13. Disparo B independiente. 5.9.14. Aumento de la precisin de las mediciones de tiempo. 5.9.15. Otras tcnicas de medida. 5.10. Conclusiones. 5.10.1. Comparacin de instrumentos de almacenamiento digital y analgico Glosario de trminos

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Bibliografa
ABC... del osciloscopio digital de Tektronix XYZ de los osciloscopios de Tektronix ABC de las Sondas de Tektronix XYZ del empleo del osciloscopio de Tektronix Una aproximacin al mundo de las sondas de Tektronix

Objetivos
Describir cmo funciona un osciloscopio Describir las diferencias entre los osciloscopios analgicos, de memoria digital, de fsforo digital, y de muestreo Describir los tipos de formas de ondas elctricas Entender los controles bsicos de un osciloscopio Efectuar medidas simples

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5.1. Introduccin.
Los sensores pueden convertir a estas fuerzas en seales elctricas que se pueden observar y estudiar mediante un osciloscopio. Los osciloscopios permiten a los cientficos, ingenieros, tcnicos, educadores, y dems profesionales, ver eventos que cambian con el tiempo. Los osciloscopios son herramientas indispensables para cualquiera que trabaje en diseo, fabricacin o reparacin de equipos electrnicos. La utilidad de un osciloscopio no est limitada al mundo de la electrnica. Con el transductor adecuado, un osciloscopio puede medir todo tipo de fenmenos. Los osciloscopios son utilizados por todo el mundo, desde fsicos a tcnicos de reparacin de televisores. Un ingeniero de automocin utiliza un osciloscopio para medir las vibraciones del motor. Un investigador mdico utiliza un osciloscopio para medir las ondas cerebrales. Las posibilidades no tienen lmites.

Figura 5.1. Un ejemplo de datos cientficos recogidos por un osciloscopio.

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5.2. Integridad de la seal. 5.2.1. La importancia de la integridad de la seal Integridad de la seal: es la habilidad del osciloscopio para reconstruir con precisin una forma de onda. En conjunto, los diferentes sistemas (incluidas las sondas) y el nivel de prestaciones de un osciloscopio contribuyen a su habilidad para representar una seal con las caractersticas de integridad ms elevadas posibles.

La integridad de la seal influye en muchas disciplinas de diseo electrnico tanto analgico como digital.

5.2.2. El problema la integridad de la seal - Antes, mantener una integridad aceptable de la seal digital significaba prestar atencin a detalles como distribucin del reloj, diseo de la ruta de la seal, mrgenes de ruido, efectos de carga, efectos de lnea de transmisin, terminacin del bus, desacoplamiento y distribucin de la potencia. - Ahora, los tiempos de ciclo de bus son ms rpidos y las velocidades de flanco tambin estn aumentando. - El tiempo de subida de una seal digital puede transportar componentes de frecuencia mucho ms elevadas que lo que su velocidad de repeticin pudiera implicar.

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- Las pistas de la tarjeta de circuito de slo 15 cm de largo se convierten en lneas de transmisin cuando se incluyen seales que muestran tiempos de transicin de flanco inferiores a cuatro o seis nanosegundos, sin importar la velocidad del ciclo. En efecto, se crean nuevas rutas de la seal. Estas conexiones intangibles no estn en los diagramas del circuito, pero sin embargo proporcionan los medios para que las seales se influencien entre s de forma impredecible. - Al mismo tiempo, las rutas proyectadas para la seal no trabajan en la forma anticipada. Los planos de tierra y los planos de alimentacin, como las pistas de la seal descritas anteriormente, se vuelven inductivas y actan como lneas de transmisin. El desacoplo de la fuente de alimentacin resulta as mucho menos eficaz. Las interferencias EMI aumentan conforme las velocidades de flanco ms rpidas producen longitudes de onda ms cortas respecto a la longitud del bus. La diafona aumenta. - Adicionalmente, estas rpidas velocidades de flanco requieren, por lo general, corrientes elevadas para producirlas. Las corrientes elevadas tienden a causar rebotes de tierra, especialmente en buses anchos en los que muchas seales cambian a la vez. Adems, estas corrientes ms elevadas aumentan la cantidad de energa magntica radiada y, con ello, la diafona.

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5.3. El osciloscopio
El osciloscopio es un dispositivo de presentacin de grficas, es decir, traza una grfica de una seal elctrica. En la mayora de las aplicaciones, esta grfica muestra cmo cambia una seal con el tiempo: el eje vertical (Y) representa el voltaje, y el eje horizontal (X) representa el tiempo. La intensidad o brillo de la pantalla se denomina, a veces, eje Z.

Figura 5.2. Componentes X, Y y Z de una presentacin de forma de onda.

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Este grfico puede informar de muchos aspectos acerca de una seal, tales como: Los valores de tiempo y tensin de una seal La frecuencia de una seal oscilante Las partes mviles de un circuito representadas por una seal La frecuencia con la que est ocurriendo una porcin particular de la seal con relacin a otras porciones Si el mal funcionamiento de un componente est distorsionando la seal o no Qu parte de una seal es corriente continua (CC) y qu parte corriente alterna (CA) Qu parte de una seal es ruido, y si el ruido cambia en el tiempo

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5.3.1. Las formas de onda y su medida

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5.3.3. Medidas de las formas de onda

Frecuencia y periodo Voltaje y Amplitud

Fase

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5.4. Tipos de osciloscopios

5.4.2. Osciloscopios Analgicos

Figura 5.18. Arquitectura de un osciloscopio analgico.

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Almacenamiento de la seal: A. Convencional

1. Almacenamiento en Fsforo (Biestable) Ventajas: Sencillo y barato. Posibilidad de fraccionar la representacin Buena resolucin vertical Desventajas: Baja prestacin en la representacin rpida Dificultad en el ajuste de la posicin de ciertas seales despus de haber sido detectadas. Baja calidad de presentacin (brillo y contraste) Aplicaciones: Registro de datos, comparacin de seales, aplicaciones mecnicas.

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2. Almacenamiento en Placa 2.1. Persistencia variable Ventajas: Capacidad de representacin de seales de baja velocidad de repeticin. Capacidad de representacin de seales de transicin rpida. Buen contraste entre las seales y el fondo de la pantalla. 2.2. Transferencia rpida Ventajas: Mejor relacin capacidad/precio. Buenas prestaciones con eventos uniciclo de alta velocidad Desventajas: Poco tiempo en el que la seal est disponible.

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5.4.3. Osciloscopios Digitales

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Almacenamiento de la seal: B. Digital

1. Osciloscopios de memoria digital (DSO)

Caractersticas: La arquitectura es de procesado en serie. Permite la captura y visualizacin de transitorios. Almacenado permanente de la seal y procesado de la forma de onda. No tiene gradacin de intensidad de la seal en tiempo real.

Aplicaciones: Baja velocidad de repeticin o de ocurrencia nica Alta velocidad Mltiples canales

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2. Osciloscopios de fsforo digital (DPO, DPX)

Caractersticas: La arquitectura es en procesado paralelo Presenta la seal en tres dimensiones (tiempo, amplitud y distribucin de la amplitud en el tiempo).

Aplicaciones: Visualizacin de altas y bajas frecuencias. Formas de ondas repetitivas y transitorias. Variaciones de la seal en tiempo real.

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3. Osciloscopios de muestreo

Caractersticas: El puente de muestreo est colocado delante del amplificador. El rango dinmico es reducido.

Aplicaciones: Medida de seales de muy alta frecuencia (50 GHz).

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5.5. Sistemas y controles de un osciloscopio

Con la Base de Tiempos se ajusta el tiempo de representacin a lo largo de la pantalla.

Con el Disparo se estabiliza una seal repetitiva o se visualiza un evento.

Con la Atenuacin o amplificacin de la seal se ajusta sta al rango de medida deseado.

Figura 5.31. Seccin de control del panel frontal de un osciloscopio.

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5.5.1. Sistemas y controles verticales: Posicin y voltios/divisin Acoplamiento de la entrada (CC, CA, GND)

Figura 5.32. Acoplamientos de entrada en CA y CC.

Lmite del ancho de banda

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Modos de presentacin (alternado o troceado)

Figura 5.33. Modos de presentacin multicanal.

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5.5.2. Sistemas y controles horizontales: Modos de adquisicin:

o o o o o Muestra (Sample) Deteccin de Picos (Peak Detect) Alta resolucin (Hi Res) Envolvente (Envelope) Promediado (Average)

Mtodos de muestreo:
o En tiempo real

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o En tiempo equivalente

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5.5.3. Sistemas de disparo y controles:

Controles de disparo: Por velocidad de transicin Por espreos Por ancho de pulso Por lapso de tiempo

Por seudopulso

Lgico

Por setup y hold

Comunicaciones

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5.6. Las sondas

5.6.1. Introduccin Una sonda funciona conjuntamente con un osciloscopio como parte de un sistema de medida. La precisin de las medidas comienza en la punta de la sonda. Las sondas adecuadas adaptadas al osciloscopio y al dispositivo bajo prueba (DUT) no slo permiten que la seal sea llevada al osciloscopio limpiamente, sino que tambin amplifican y preservan la seal para conseguir una mayor integridad y precisin de la medida. Las sondas se convierten en parte del circuito, introduciendo cargas resistivas, capacitivas e inductivas que, inevitablemente, alteran la medida. Para lograr los resultados ms precisos, se intentar seleccionar una sonda que ofrezca una carga mnima. La adaptacin ideal de la sonda con el osciloscopio minimizar esta carga y permitir tener acceso a toda la potencia, caractersticas y capacidades del osciloscopio.

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5.6.2. Sondas pasivas Las sondas pasivas de tensin no son, de hecho, dos simples cables elctricos. Se fabrican exclusivamente con componentes pasivos (resistencias, bobinas y condensadores). Las sondas de tensin son las ms comunes por ser econmicas, fciles de usar y tener un amplio rango dinmico. Adems, son muy robustas, y debido a su sencillez, su mantenimiento es mnimo. Las sondas pasivas proporcionan excelentes soluciones para pruebas de tipo general. Sin embargo, las sondas pasivas de tipo general no pueden medir con exactitud seales con flancos de subida extremadamente rpidos, y pueden cargar excesivamente ciertos circuitos sensibles. El factor de atenuacin de una sonda de tensin determina la proporcin que hay entre las amplitudes de las seales de entrada y salida de la misma cuando la sonda se conecta al osciloscopio. En este sentido son tpicos los factores de atenuacin xl, xl0, xl00 y xl000. Cuanto ms elevado es el factor de atenuacin de una sonda, menor es la sensibilidad vertical del sistema de medida sonda-osciloscopio, aunque por otro lado mayor es la tensin mxima que se puede medir.

Figura 5.63. Sonda de tensin atenuadora x10

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La compensacin de la sonda es necesaria si se quiere conseguir una respuesta plana del sistema sondaosciloscopio a lo largo de todo el ancho de banda de este ltimo. En caso contrario, las frecuencias elevadas se vern bien amplificadas (sonda sobrecompensada) o bien atenuadas (sonda subcompensada), originando en ambos casos una distorsin en la seal presente en pantalla del osciloscopio. Cuando la sonda est compensada, el puente de impedancias de la sonda est equilibrado. Las capacidades elevadas de entrada en los equipos de medida provocan que los tiempos de subida medidos sean ms lentos que los reales, mientras que impedancias de entrada bajas (paralelo de una carga resistiva con una carga capacitiva) originan amplitudes medidas inferiores a las verdaderas.

Figura 5.66. Efectos de la capacidad e impedancia de entrada.

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El ancho de banda del sistema Sonda-Osciloscopio determina la frecuencia mxima de una seal senoidal que dicho sistema puede adquirir sin reducir la amplitud por debajo del 70,7% de su valor real (punto de -3 dB de la curva de respuesta en frecuencia de la figura 5.67). Se puede demostrar que el ancho de banda del sistema sonda-osciloscopio es siempre inferior a los anchos de banda de la sonda y del osciloscopio por separado. As, por ejemplo, un osciloscopio de 500 MHz junto con una sonda de 500 MHz proporcionan un ancho de banda conjunto de 350 MHz. Por ello, para mantener el ancho de banda del osciloscopio en la punta de la sonda, es necesario que el ancho de banda de sta sea muy superior al de aquel.

Figura 5.67. Curva de respuesta en frecuencia.

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El porcentaje de aberracin, es un margen para las sobreoscilaciones que se generan en la respuesta del sistema sonda-osciloscopio cuando a la entrada de ste se aplica una seal con forma de escaln.

Las aberraciones se originan al resonar el circuito RLC de entrada del sistema sonda-osciloscopio. Se pueden eliminar estas aberraciones reduciendo la longitud del terminal de masa de la sonda, para as disminuir su inductancia asociada.

Figura 5.68. Aberracin tpica de una sonda de tensin atenuadora x10.

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5.6.3. Sondas activas El aumento de las velocidades de la seal y de las familias lgicas de ms bajo voltaje dificulta la obtencin de resultados exactos en las medidas. La fidelidad de una seal y la carga del dispositivo son factores crticos. Una completa solucin de medida a estas altas velocidades incluir soluciones de sondas de alta velocidad y alta fidelidad que se adapten a las prestaciones del osciloscopio.

Figura 5.73. Las sondas de altas prestaciones son crticas cuando se miden los rpidos relojes y flancos que se encuentran en los buses de los ordenadores y lneas de transmisin actuales. Las sondas activas emplean componentes activos (transistores y fuentes de alimentacin) tanto en el cuerpo de la sonda como en su caja de terminacin. Necesitan una fuente de alimentacin para su funcionamiento, que puede ser externa o provenir del propio osciloscopio.

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5.6.4. Sondas diferenciales de tensin Las sondas activas y diferenciales utilizan circuitos especialmente desarrollados para conservar la seal durante su acceso y transmisin al osciloscopio, asegurando la integridad de las mismas. Para medidas de seales con tiempos de subida rpidos, una sonda activa o diferencial de alta velocidad proporcionar resultados ms precisos.

Figura 5.75. Las sondas diferenciales pueden separar el ruido en modo comn del contenido de la seal de inters, en las actuales aplicaciones de alta velocidad y bajo voltaje, una caracterstica especialmente importante conforme las seales digitales siguen acercndose a los umbrales tpicos de ruido que se encuentran en los circuitos integrados.

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5.7. Trminos y consideraciones acerca de las prestaciones de un osciloscopio

5.7.1. Ancho de banda El ancho de banda determina la capacidad bsica de un osciloscopio para medir una seal. Conforme aumenta la frecuencia de la seal, disminuye la capacidad del osciloscopio para presentar la seal con exactitud. Esta especificacin indica el rango de frecuencia que el osciloscopio puede medir con precisin. El ancho de banda de un osciloscopio se define como la frecuencia a la cual una seal sinusoidal se presenta atenuada un 70,7% respecto a la amplitud real de la seal. Este punto se conoce como el punto a -3 dB, trmino basado en una escala logartmica.

Figura 5.81. El ancho de banda de un osciloscopio.

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Regla de las 5 veces: Ancho de banda requerido del osciloscopio = Componente de ms alta frecuencia de la seal a medir x 5 Un osciloscopio que se haya seleccionado utilizando la Regla de las 5 veces presentar menos del +/-2% de error en las medidas. Sin embargo, conforme aumenten las velocidades de la seal, puede que no sea posible alcanzar estas condiciones. Hay que tener siempre en cuenta que un mayor ancho de banda proporcionar siempre una reproduccin ms precisa de la seal.

Figura 5.82. Cuanto mayor es el ancho de banda, mayor es la precisin en la reproduccin de la seal, segn se ilustra con una seal capturada a niveles de ancho de banda de 250 MHz, 1 GHz y 4 GHz.

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5.7.2. Tiempo de subida El tiempo de subida puede ser una consideracin de prestaciones ms apropiada cuando se van a medir seales digitales, tales como pulsos y escalones. El osciloscopio deber tener un tiempo de subida suficientemente pequeo para capturar con precisin los detalles de las transiciones rpidas.

El tiempo de subida describe el rango de frecuencia til de un osciloscopio. Para el clculo del tiempo de subida requerido en un osciloscopio, se utiliza la siguiente ecuacin:

Tiempo de subida requerido en el osciloscopio = Tiempo de subida ms rpido de la seal medida 5

Como en el caso del ancho de banda, la consecucin de esta regla prctica puede no siempre ser posible dada la alta velocidad de las seales actuales. Hay que recordar siempre que un osciloscopio con tiempos de subida ms rpidos capturar ms precisamente los detalles crticos de las transiciones rpidas.

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Figura 5.83. Caracterizacin del tiempo de subida de una seal digital de alta velocidad.

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En algunas aplicaciones, slo se puede conocer el tiempo de subida de una seal. El ancho de banda y el tiempo de subida de un osciloscopio se pueden relacionar mediante una constante, utilizando la ecuacin: Ancho de banda = k / Tiempo de subida Donde k es un valor entre 0,35 y 0,45, dependiendo de la forma de la curva de respuesta de frecuencia del osciloscopio y de la respuesta del tiempo de subida. Los osciloscopios con un ancho de banda <1 GHz tpicamente tienen un valor de 0,35, mientras que los osciloscopios con un ancho de banda >1 GHz tienen habitualmente valores entre 0,40 y 0,45. Algunas familias lgicas producen tiempos de subida inherentemente ms rpidos que otras:

Familia lgica TTL CMOS GTL LVDS ECL GaAs

Tiempo de subida de una seal tpica 2 ns 1,5 ns 1 ns 400 ps 100 ps 40 ps

Ancho de banda calculado de la seal 175 MHz 230 MHz 350 MHz 875 MHz 3,5 GHz 8,75 GHz

Figura 5.84. Algunas familias lgicas producen tiempos de subida inherentemente ms rpidos que otras.

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5.7.4. Velocidad de muestreo La velocidad de muestreo expresada en muestras Samples por segundo (S/s), especifica con qu frecuencia un osciloscopio digital tomar una instantnea, o una muestra, de la seal, de forma anloga a los fotogramas de una cmara de cine. Cuanto ms rpida es la velocidad de muestreo de un osciloscopio, mayores sern la resolucin y el detalle de la forma de onda presentada, y menor la probabilidad de que se pierda informacin crtica o eventos de inters.

Figura 5.89. Una mayor velocidad de muestreo proporciona una mayor resolucin de la seal, asegurando as la observacin de eventos intermitentes.

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La velocidad de muestreo expresada en funcin de la frecuencia (20 x 106 muestras por segundo), equivale a decir que la velocidad de muestreo es de 20 MHz. A veces se cita la velocidad de informacin, es decir, el nmero de bits de datos almacenados en un segundo (160 millones de bits por segundo). Para efectuar la conversin entre ambos valores basta con dividir la velocidad de la informacin entre el nmero de bits utilizado por el conversor A/D (en este caso, suponiendo un conversor de 8 bits, sera 160 x 106 bits dividido entre 8, lo que es igual a 20 x 106 muestras por segundo). En otras ocasiones, se expresa en funcin del intervalo de muestreo, como una relacin tiempo/ puntos (50 ns por punto), el inverso de la frecuencia. Para determinar la velocidad de digitalizacin para una determinada posicin del mando TIME/DIV, se emplea la frmula: Velocidad de digitalizacin = Palabras de datos por divisin / Posicin del mando TIME/DIV El nmero de palabras de datos por divisin es: Palabras de datos por divisin = longitud del registro de la forma de onda / longitud de barrido (en divisiones) Por ejemplo, si una forma de onda se almacena en 1.024 palabras de datos y la pantalla muestra los 1.024 puntos en 10,24 divisiones (algunos osciloscopios utilizan una pantalla de diez divisiones), el nmero de palabras de datos por divisin es de 100. Al dividir ese valor por la posicin del mando TIME/DIV se obtiene la frecuencia de digitalizacin. Para 1 segundo, la frecuencia sera 100 Hz; para 10 microsegundos, la frecuencia sera 10 MHz.

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5.7.5. Velocidad de captura de formas de onda La velocidad de captura indica la rapidez con la que un osciloscopio adquiere formas de onda completas.

Figura 5.90. Un DSO es la solucin ideal para aplicaciones de diseo digital con requerimientos multicanal, de alta velocidad y de seal no repetitiva.

Figura 5.91. Un DPO permite un nivel superior de observacin del comportamiento de la seal, proporcionando velocidades de captura de forma de onda mucho ms grandes y una presentacin tridimensional, convirtindose en la mejor herramienta de diagnstico y localizacin de fallos en diseos de tipo general para un amplio rango de aplicaciones.

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5. 7. 6. Longitud del registro y capacidad de memoria La longitud de registro, expresada como el nmero de puntos (muestras) que conforman un registro completo de una longitud de onda, determina la cantidad de datos que se pueden capturar en cada canal. Puesto que, dependiendo de la capacidad de memoria, un osciloscopio puede almacenar solamente un nmero limitado de formas de onda, la duracin (el tiempo) de la forma de onda ser inversamente proporcional a la velocidad de muestreo del osciloscopio. Intervalo de tiempo = Longitud de registro / Velocidad de muestreo

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5.7.7. Inestabilidad horizontal (jitter) La inestabilidad horizontal aparece cuando se efectan varias adquisiciones de una seal. El valor de esta inestabilidad es de 1/2 intervalo de muestreo (intervalo de muestreo es el tiempo existente entre muestras sucesivas) y se debe a la forma en que el osciloscopio digital almacena la seal. El osciloscopio digital siempre est adquiriendo la seal de entrada, no espera el evento de disparo (como sucede en un osciloscopio analgico). Por tanto, no existe una relacin temporal consistente entre el reloj de digitalizacin y el evento de disparo. A medida que se producen disparos y trazados sucesivos de la seal de entrada, la relacin entre el reloj y la forma de onda puede variar 1/2 intervalo de muestreo. La traza parece entonces desplazarse ligeramente hacia adelante y hacia atrs, lo que limita enormemente la claridad y eficacia del instrumento cuando se desea amplificar la presentacin.

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5.10.1. Comparacin de Instrumentos de Almacenamiento Digital y Analgico

Almacenamiento Analgico
Capacidad de almacenamiento Compromiso entre la amplitud de la seal y la frecuencia mxima almacenada. Dificultad en escribir transiciones rpidas/lentas sin destellos molestos.

Almacenamiento Digital
La frecuencia mxima almacenada es independiente de la amplitud. Ningn tipo de destellos. El modo de envolvente permite detectar glitches a cualquier velocidad de barrido.

Ancho de banda

Fijo, determinado por la respuesta del amplificador Variable, determinado por la velocidad de digitalizacin y/o la velocidad de escritura. seleccionada con el mando TIME/ DIV; o fijo, en el modo de envolvente. La limitacin de banda atena la amplitud; las transiciones de alta velocidad no se detectan. El solapamiento crea seales falsas; los impulsos estrechos no se almacenan.

Problemas al superar el ancho de banda Resolucin

Uniforme. Verticalmente limitada por el perfil del Resolucin vertical cuantificada; resolucin horizontal punto. Horizontalmente limitada por la anchura de limitada por el tamao de la memoria y el tipo de la traza. reconstruccin de la presentacin. Las caractersticas del error son independientes de la seal de entrada; la atenuacin debida a la limitacin de banda, linealidad, etc., puede medirse y utilizarse para mejorar la precisin de la medida. Las caractersticas del error dependen de la relacin de temporizacin entre la seal de entrada y el reloj de muestreo; los errores mximos son del mismo orden que los de los sistemas analgicos pero las caractersticas de error no permiten su utilizacin para mejorar la precisin.

Errores de medida

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Actividades Actividad 1. Realizar una lectura rpida del Tema, marcando todos los conceptos y definiciones. Hacer un resumen propio. Apuntar en una hoja aqullos conceptos que no hayan quedado claros. Actividad 2. Preparar el examen: Estudiar el Tema. Apuntar en una hoja aqullos problemas que no se hayan podido resolver para consultarlos en la tutora.

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