PREPARACION DE

MUESTRAS (TEM Y SEM)

Tcnicas de caracterizacin de materiales

JR Espinosa

QUE ES UN LABORATORIO DE PREPARACIN DE MATERIALES?

Es una instalacin en donde se preparan especmenes pulidos capaces de

revelar la verdadera microestructura de algn material estudiado.

Tipos de muestras
Muestra depende
de la informacin
buscada :
topografa,
microestructura,
composicin
Naturaleza de la
muestra : duro,
macizo, biolgica,
polvo
Mismas
operaciones que en
metalografa pero

Ventajas sobre las muestras con el MEB

Muestra macizo
Impresin de relieve
Posibilidad de mover la muestra

 La muestra normalmente va pegado a una base metlica (por lo genera

aluminio) y es aterrizado para evitar la esttica por las cargas de alto voltaje
cuando los electrones golpean la muestra.
Es necesario orientar la muestra de manera precisa respecto a haz de
electrones que inciden y el detector.
Para ello se utilizan las funciones de movimiento en x, y y z e inclinacin del
microscopio.

Protocolo para la preparacin de

algunas muestras
LIMPIEZA DE MATERIALES Y REACTIVOS
Tener extremo cuidado con la limpieza del material y soluciones a utilizar durante el
procesado de la muestra.
usar material de vidrio nuevo o limpio de apariencia y dejarlo remojando en una agua
de detergente con cloro para eliminacin de cualquier impureza orgnica, enjuagar al ltimo con agua
destilada, dejar secar en un lugar libre de polvo y guardar en un recipiente cerrado hasta su uso.
Las soluciones fijadoras, alcoholes y buffers deben ser filtrados despus de su preparacin utilizando
filtros que retengan partculas finas o microfiltros si se dispone de ello.
Antes de usar cualquier solucin es conveniente inspeccionar su transparencia agitndola y
observndola a travs de la luz, en las soluciones buffer suelen crecer fcilmente hongos. Todas estas
partculas extraas pueden adherirse a la superficie de la muestra y obstruir la observacin de la zona
de inters o dar lugar a malas interpretaciones de las imgenes.
Todas las pinzas, alfileres, pinceles, etc. Deben limpiarse con acetona y guardarlos protegidos del
polvo.

PREPARACIN DE MUESTRAS PARA

EL MICROSCOPIO DE BARRIDO

Las muestras destinadas al SEM deben cumplir dos

condiciones:
Las muestras deben estar secas y ser
conductoras.
El proceso debe llevarse a cabo preservando al
mximo la estructura original de la muestra.

 Recubrimiento de muestras en bajo vaco

Con este mtodo se realizan dos tipos de
recubrimientos: spputtering para obtener las
mejores condiciones de imagen , y si se requiere
microanlisis por rayos x el recubrimiento por hilo de
carbono.
*La pulverizacin catdica es un proceso fsico en el que se produce la vaporizacin de los atomos de un material slido
denominado "blanco" mediante el bombardeo de ste por iones energticos

Recubrimiento de muestras en alto vaco

Con este recubrimiento se consigue un grano ms
fino y esta preparado para se spputtering con
distintos metales.
Tambin trabaja por el mtodo de evaporacin, con
lo que aumenta el rango de posibles elementos de
recubrimiento. Utiliza electrodos de carbono.

 Observacin de Muestras Criofijadas

El proceso se inicia fuera del microscopio
enfriando la muestra a la mxima velocidad
mediante nitrgeno. Despus se pasa al sistema
de criobservacin, donde se puede fracturar,
sublimar el hielo superficial y recubrir con oro o
carbono para su observacin y/o anlisis.

 Secado hasta el punto crtico

En el que se sustituye el solvente de deshidratacin
por un gas en su estado lquido (CO2), aplicndole una
determinada presin y a una temperatura especfica,
pasa a la fase gaseosa sin pasar por el estado slido;
esto evita que el material se colapse y mantenga su
superficie intacta; con todos los relieves que tuvo al
estado natural.
Despus se cubre la superficie con una capa
conductora (60 a 100 nm) de carbn finamente
pulverizado y posteriormente con una pelcula de
metal pesado (plata, oro, platino o paladio) del mismo
grosor. Ambos elementos se depositan mediante un
sistema de evaporacin al vaco. De esta manera la
superficie de la muestra est preparada para recibir los
electrones, reflejarlos o emitir electrones.

Tcnicas de preparacin para la microscopa electrnica de barrido:

fijacin
deshidratacin
metalizacin de la muestra.

desecacin

montaje

Fijacin: Las muestras que se van a estudiar al SEM no

requiere de una fijacin especfica o distinta.

Postfijacin: El tetrxido de osmio es el postfijador ms

utilizado, tanto por su capacidad de fijar los lpidos, como por
favorecer ligeramente el contraste de la muestra, sobre todo en
aquellas cuyo patrn morfolgico es muy sutil.

Desecacin: paso por el cual la muestra pierde

sbitamente toda sustancia lquida, sin que se vea
mermada la estructura o morfologa de sta.
Para ello se utiliza un lquido de transicin que
tiene una sublimacin muy rpida, para evitar toda
tensin superficial y que la muestra conserve un
aspecto lo ms cercano posible a estado natural.
Una forma de llevar a cabo la desecacin: el punto
crtico y el tratamiento con compuestos orgnicos
voltiles.
El punto crtico se realiza en un dispositivo donde,
a una temperatura de 31 y una presin de 74 bar,
el CO2 lquido desplaza a la acetona
completamente, para posteriormente despresurizar
sublimando el CO2 a gas de manera sbita. En el
otro mtodo, la acetona se ve desplazada por un
lquido orgnico de alta volatilidad, como el
hexametildisilizano que a temperatura y presin
ambiental evaporar rpidamente.

Montaje: La muestra una vez desecada se ha de montar sobre

un pedestal metlico provisto de cinta adhesiva conductora de
doble capa, que sujeta firmemente a sta.

A. Pedestales para el montaje de muestras al SEM B. Cinta conductora de doble

capa y pegamentos conductores especiales para fijar las muestras al SEM.

Metalizacin: La metalizacin consiste en cubrir la muestra con un metal conductor como

el Au, el Pd o el Pt, y se realiza en vaco en un metalizador . Cuando la muestra se va a
analizar con difraccin de rayos X se suele cubrir con polvo de carbn.

A.- Metalizador Polaron SC7640; B.- Recubrimiento con oro ; C.- la cmara de metalizacin se encuentra rellena de un
gas inerte (Ar)

 Montaje de polvos muy finos

Para el TEM
Condiciones generales de la muestra
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.

Que sea delgada

Que sea representativa
Que sea establea la irradiacin por electrones
Que de un contraste adecuado
Que est libre de contaminacin superficial
Que sea reproducible
Que sea lo suficientemente rgida para poderla manejar
Que sea estable por horas en el microscopio electrnico y por aos en la atmsfera del
laboratorio.

Para muestras que requieren rejilla como soportes e incluyen:

Materiales fcilmente exfoliables.
Pelculas delgadas depositadas sobre sustratos.
Otros: ncleos de crecimiento (depositar, flotar).

Rejillas:
Que sea plana (no deformada)
Lado mate y lado brillante (colocar la muestra del lado mate)

Tipos de rejilla de acuerdo al a muestra:

*Secciones grandes: espaciamientos grandes(5-10mm) barras delgadas.
*Poco estable a la radiacin :malla ms fina y barra ms ancha.
*Rejillas delgadas se cierra y hay ms estabilidad con la muestra.