Práctica dirigida N° 4 _ gráficos de control

SINTAXIS DE R _ Gráficos de control

install.packages(“qcc”)
##Graficas de control ##
datos1=read.delim("clipboard")
datos1
library(qcc)
qcc(datos1,type="R")
pc=qcc(datos1,type="xbar")
s=qcc(datos1,type="S")

#Gráficos de Atributos con qcc

#grafico p
datosp=read.delim("clipboard")
datosp
qcc(datosp$D,sizes=datosp$Prod,type="p")
# grafico np
datosnp=read.delim("clipboard")
datosnp
qcc(datosnp$Inasistencia,sizes=datosnp$n,type="np")

#grafico C
library(qcc)
datosc=read.delim("clipboard")
datosc
attach(datosc)
qcc(datosc,type="c")
#grafico u

datosu=read.delim("clipboard")
datosu
attach(datosu)
qcc(datosu$defectos,sizes=datosu$Tamaño,type="u")

Ejercicios

1. El siguiente ejemplo ilustra el gráfico de control para observaciones individuales. Se

estudió un nuevo proceso para monitorear el caudal. Los primeros 10 lotes dieron
como resultado

Tasa de
batch N° flujo
1 49.6
2 47.6
3 49.9
4 51.3
5 47.8
6 51.2
7 52.6
8 52.4
9 53.6
10 52.1
¿el proceso esta bajo control?

2. Estamos inspeccionando 25 wafers sucesivas, cada una de las cuales contiene 100
chips; el wafer es la unidad de inspección. El número observado de defectos es:

Número de
wafer N° defectos
1 16
2 14
3 28
4 16
5 12
6 20
7 10
8 12
9 10
10 17
11 19
12 17
13 14
14 16
15 15
16 13
17 14
18 16
19 11
20 20
21 11
 22 19
23 16
24 31
25 13
¿el proceso esta bajo control?

3. Los datos consisten en 30 obleas donde cada wafer contiene 50 chips. Para cada
wafer, registramos la fracción de chips defectuosos.

Fraccion de N° Fraccion de Fraccion de

N° muestra defectuosos muestra defectuosos N° muestra defectuosos
1 0.24 11 0.1 21 0.4
2 0.3 12 0.12 22 0.36
3 0.16 13 0.34 23 0.48
4 0.2 14 0.24 24 0.3
5 0.08 15 0.44 25 0.18
6 0.14 16 0.16 26 0.24
7 0.32 17 0.2 27 0.14
8 0.18 18 0.1 28 0.26
9 0.28 19 0.26 29 0.18
10 0.2 20 0.22 30 0.12
¿el proceso esta bajo control?