VII ANALISIS EXPERIMENTAL DE TENSIONES

7.1- Introducción

Un análisis experimental de tensiones debe estar basado en un completo

conocimiento sobre tensiones, deformaciones y las leyes que los relaciona.

Podemos citar como algunas técnicas utilizadas los métodos de Laca Frágil (Brittle-
coating), Medidores de Deformación (extensómetros) y la Fotoelasticidad.

Las aplicaciones del análisis experimental de tensiones comprenden a las áreas de

ingeniería de producto (diseño preliminar y de desarrollo, ensayos de pruebas de carga de
servicio y sobrecargas, etc.), análisis de fallas (detección de fallas y tensiones residuales,
etc.), investigación de materiales y educación.

7.2- Método de la Laca Frágil (Brittle-Coating)

Este método es aplicable a una gran clase de trabajos donde no se requiera una
gran exactitud.

El método está basado en la perfecta adherencia de una cubierta (laca), con ciertas
características de fragilidad, al elemento en estudio.

Cuando son aplicadas las cargas, las deformaciones son transmitidas a la cubierta,
ésto produce un sistema de tensiones en la laca que causarán que la misma falle por
fractura del material empleado como cubierta (laca).

Ya que la cubierta se diseña para que falle a un bajo nivel de tensión, el elemento
de estudio no llega a sobretensionarse, el método es clasificado como no destructivo.

A los efectos de mejorar la visibilidad, se coloca encima de la laca una pintura

blanca.

Las ventajas del método es la de mostrar el campo completo de magnitud y

dirección de las tensiones principales y no requiere el tedioso análisis de punto por punto;
no requiere la construcción de modelos y puede ser aplicado directamente al prototipo en
estudio; no es necesario simular o estimar valores de cargas que actúan sobre el prototipo
y los datos obtenidos son convertidos a valores tensionales de una manera sencilla.

La desventaja principal del método es la variable precisión en la distribución de

tensiones.

La laca se aplica en aerosol hasta un espesor de 0.005 a 0.01 pulgadas. Ya que la

laca es muy delgada con respecto a la pieza, es válido suponer que la deformación que
ocurre en la pieza es transmitida a la laca sin ningún tipo de modificación y es uniforme en
todo el espesor de la misma.

Se asume que la falla de la laca se produce cuando se alcanza un determinado

valor de deformación, llamada la deformación umbral (εt), la cual es determinada por un
proceso de calibración.

283
 La tensión principal de la pieza, perpendicular a la línea de fractura de la laca es
igual:
σ1 = E.εt

Esta ecuación es muy sencilla y es aceptada para trabajos de este tipo.

La formulación desprecia la influencia en la falla de la laca de un sistema tensional biaxial.

Para analizar la mecánica de la falla de la laca, consideremos una porción de laca y

pieza:

εxc = εx
σyc
Laca εyc = εy

σxc σzc = σz = 0
σy

σx Pieza

Para un estado plano de tensiones:

εx =
1
E
(
σ x − ν.σ y )
1
(
ε y = σ y − ν.σ x
E
)
ε cx =
1 c
Ec
(
σ x − ν c .σ cy )
ε cx =
1 c
Ec
(
σ y − ν c .σ cx )
Igualando los ε:
1
E
(
σ x − ν.σ y =
1 c
Ec
) (
σ x − ν c .σ cy )
1
E
(
σ y − ν.σ x =
1 c
Ec
) (
σ y − ν c .σ cx )
Resolviendo estas ecuaciones:

Ec
[ ).σ x + (ν c − ν ).σ y ]
σ cx =
(
E. 1 − ν c2 ) (1 − ν.ν c

Ec
[ ).σ y + (ν c − ν ).σ x ]
σ cy =
(
E. 1 − ν c2 ) (1 − ν.ν c

284
Estas ecuaciones representan el estado plano de tensiones en la laca.

La calibración se realiza mediante el uso de una probeta empotrada:

σx = E.εx P
εy ≈ 0

el procedimiento en la calibración es determinar εt = εx al momento de la falla.

El estado tensional que se genera en la laca, en este simple ensayo, cuando se

produce la falla es:

(1 − ν c .ν ).σ x
(1 − ν ) (1 − ν .ν).ε
Ec Ec
σ cx = =
(
E. 1 − ν c2 ) 2
c
c t

Ec Ec
(ν c − ν ).σ x =
σ cy =
(
E. 1 − ν 2c ) (1 − ν ) (ν
2
c
c − ν ).ε t

Esto muestra que un estado uniaxial de tensiones produce en la laca un estado

biaxial. Por lo general en la laca se utiliza νc= 0.42, y en materiales con ν = 0.3.

7.3- Medidores de deformación (extensómetros)

La medición de deformaciones es la determinación del movimiento relativo de dos

puntos del mismo cuerpo apartados una distancia L.

Los medidores de deformación pueden ser clasificados en cinco grupos:

mecánicos, ópticos, eléctricos, acústicos y neumáticos. Dentro de los eléctricos podemos
mencionar los basados en capacitores, los basados en la inducción de una bobina y por
último los que utilizan una resistencia eléctrica (extensómetros eléctricos, en particular los
strain gages).

En 1856, Lord Kelvin, durante un experimento notó que una resistencia de hierro y
cobre cambiaba cuando estaba sujeta a una deformación. Este descubrimiento fue
utilizado en 1938 por Edward Simmons para estudiar la relación existente entre tensión y
deformación en experiencias de choque.

La resistencia de un "strain gage" puede ser expresada como:

L
R=ρ
A

285
 R : resistencia (ohm)
ρ : Resistividad (ohm-cm)
L : Longitud (cm)
2
A : Área de la sección transversal (cm ) = π.D2 / 4

El cambio de la resistencia eléctrica vale:

dR dL dA dρ
= − +
R L A ρ

La ecuación anterior puede ser escrita, para ε = dL / L

dR dA dρ
=ε− +
R A ρ
dR
K es el factor de
k= R gage
ε

Aunque la resistividad cambia con la deformación, la experimentación demostró

que es relativamente constante en el rango de interés, podemos luego reemplazar el
diferencial de resistencia por su incremento:
dR
ε= R
k

A los efectos de realizar la medición se emplea un puente de Wheatstone,

midiendo entonces un voltaje de salida:
B

R1 R2

A C VS

R3 R4
D

Vo

Refiriéndonos al esquema anterior, vale:

 R1 R3 
VS = i ABC .R1 − i ADC .R 3 = Vo . − 
 R1 + R 2 R 3 + R 4 

286
Asumiendo que el puente tiene una solo rama "activa" (un solo strain-gage, el R1), vale:

 R2 
dVs = Vo . 2
.dR1
 (R1 + R 2 ) 

Esta ecuación puede ser reducida considerando que todos tienen la misma
resistencia inicial R (R1 = R2 = R)

dR
dVs = Vo
4R

Reemplazando dR / R:
k.ε.Vo
dVs =
4

A los efectos de aumentar la sensibilidad de la deformación que se está midiendo,

pueden ser usados puentes dobles (dos strain gage) o puentes completos (cuatro strain-
gage) Por ejemplo, si tenemos dos ramas activas (R1 y R4 ), queda:

 R2 R3 
dVs = Vo  .dR + dR 
 (R1 + R 2 ) (R 3 + R 4 )2
2 1 4


Si R1 = R2 = R3 = R4 , y además dR1 = dR4 = dR

dR k.ε.Vo
dVs = Vo =
2R 2

Hemos aumentado al doble la sensibilidad del strain gage. Igual resultado se

hubiera obtenido si las ramas activas son R1 y R2, pero con dR1 = -dR2

Si utilizamos todas las ramas activas:

 R2 R1 R4 R3 
dVs = Vo  dR − dR − dR + dR 
 (R1 + R 2 ) (R1 + R 2 )2 (R 3 + R 4 )2 (R 3 + R 4 )2
2 1 2 3 4


Si R1 = R2 = R3 = R4 , y con dR1 = dR4 = -dR2 = -dR3 =dR

dR
dVs = Vo = k.ε.Vo
R

287
 La ubicación de los strain gage pueden responder en aplicaciones especiales, ya
sea utilizando rosetas (tres strain gage) para la determinación de direcciones principales o
bajo el concepto de celdas cargas para las cuales es importante la deformación que se
mide como las ramas activas que se utilizan:

P
R1
M R1 R4 M
R2
R2 R3

R1 R3
R2 R4

7.4- La Fotoelasticidad

La fotoelasticidad fue desarrollada como técnica experimental a partir de los

trabajos de Davis Brewster y de los investigadores E. Coker y de L. Filon en la
Universidad de Londres, lo que permitió a la fotoelasticidad convertirse rápidamente en
una técnica viable para el análisis cualitativo de los esfuerzos. Se le encontró una gran
aplicación en la industria, y superó al resto de las técnicas hasta ese momento conocidas
en confiabilidad, alcance y factibilidad.

La fotoelasticidad es una técnica experimental para la medición de esfuerzos y

deformaciones. Se basa en el uso de luz para dibujar figuras sobre piezas que están
siendo sometidas a esfuerzos. Las figuras que se dibujan son semejantes a las mostradas
al realizar un análisis tensional por métodos de elasticidad (por ejemplo el método de los
elementos finitos) ya que se pueden observar contornos y colores.

La fotoelasticidad es el estudio de los fenómenos experimentados por las ondas

electromagnéticas a su paso por materiales transparentes. Estos fenómenos son de gran
complejidad, por lo que la mayoría de las aplicaciones realizadas en análisis experimental
de tensiones, se limitan a problemas bidimensionales dentro del dominio de la elasticidad.
No obstante, existen técnicas que amplían el dominio de actuación de la fotoelasticidad a
todo tipo de problemas mecánicos: tridimensionales, en régimen estático o dinámico y en
materiales plásticos, visco elástico, heterogéneo, anisótropo, etc.

La fotoelasticidad permite visualizar directamente el estado de tensiones o

deformaciones en que se encuentra la pieza analizada. Para comprender esta técnica es
preciso revisar algunos conceptos de óptica que intervienen directamente en ella.

La medición se logra al evaluar el cambio del índice de refracción de la pieza al

someterse a una carga (piezas trasparentes). En el caso de una pieza no transparente, se
cubre la pieza con una resina birrefringente.

La refracción es el cambio de dirección que experimenta una onda al pasar de un

medio a otro. Sólo se produce si la onda incide oblicuamente sobre la superficie de
separación de los dos medios y si éstos tienen índices de refracción distintos. La
refracción se origina en el cambio de velocidad que experimenta la onda. El índice de

288
refracción es precisamente la relación entre la velocidad de la onda en un medio de
referencia (el vacío para las ondas electromagnéticas) y su velocidad en el medio de que
se trate.

Un ejemplo de este fenómeno se ve cuando se sumerge un lápiz en un vaso con

agua: el lápiz parece quebrado. También se produce cuando la luz atraviesa capas de
aire a distinta temperatura, de la que depende el índice de refracción. Los espejismos son
un caso extremo de refracción, denominado reflexión total.

La luz pasa de un medio de propagación a otro con una densidad óptica diferente,
sufriendo un cambio de velocidad y un cambio de dirección si no incide
perpendicularmente en la superficie. Esta desviación en la dirección de propagación se
explica por medio de la ley de Snell. Esta ley, así como la refracción en medios no
homogéneos, son consecuencia del principio de Fermat que indica que la luz se propaga
entre dos puntos siguiendo la trayectoria de recorrido óptico de menor tiempo.

Por otro lado, la velocidad de propagación de la luz en un medio distinto del vacío
está en relación con la longitud de la onda y, cuando un haz de luz blanca pasa de un
medio a otro, cada color sufre una ligera desviación. Este fenómeno es conocido como
dispersión de la luz. Por ejemplo, al llegar a un medio más denso, las ondas más cortas
pierden velocidad sobre las largas (ejemplo: cuando la luz blanca atraviesa un prisma).
Las longitudes de onda corta son hasta 4 veces más dispersadas que las largas lo cual
explica que el cielo se vea azulado, ya que para esa gama de colores el índice de
refracción es mayor y se dispersa más.

7.4.1- La luz polarizada

Cuando las ondas son forzadas a vibrar de manera sistemática en el plano normal
a la dirección de propagación, decimos que son polarizadas. La forma de la polarización
está determinada por el comportamiento del vector E (campo eléctrico):

Polarización lineal: E vibra sobre planos paralelos.

Polarización circular: E = constante; E rota de forma continua.

Polarización elíptica: el extremo de E describe una elipse.

Luz
polarizada
Luz natural linealmente Luz Luz polarizada
polarizada elípticamente
circularmen
te emiten pulsos de ondas prácticamente
Los átomos de una fuente de luz ordinaria
monocromáticos (con una única longitud de onda). Cuando hay un número elevado de
átomos emitiendo luz, la oscilación de la onda que cada átomo emite está distribuida de

289
forma aleatoria, y las propiedades del haz de luz son las mismas en todas direcciones, se
dice así que la luz no está polarizada. Si el plano de oscilación de las ondas se unifica en
uno sólo, se dice que la luz está polarizada en un plano, o polarizada linealmente.

Algunas sustancias son anisótropas, es decir, muestran propiedades distintas

según la dirección del eje a lo largo del cual se midan. En esos materiales, la velocidad de
la luz depende de la dirección en que ésta se propaga a través de ellos. Algunos cristales
con estas características también pueden generar una alineación del plano de oscilación
de las ondas de luz que los atraviesan, siendo llamados polarizadores. Y algunos
materiales adquieren esta propiedad polarizadora de la luz al ser sometidos a esfuerzos
mecánicos.

7.4.2- La birrefringencia accidental

La birrefringencia o doble refracción es una propiedad de ciertos cuerpos,

especialmente el espato de Islandia, de desdoblar un rayo de luz incidente en dos rayos
linealmente polarizados de manera perpendicular entre sí como si el material tuviera dos
índices de refracción distintos

La primera de las dos direcciones sigue las leyes normales de la refracción y se

llama rayo ordinario; la otra tiene una velocidad y un índice de refracción variables y se
llama rayo extraordinario. Ambas ondas están polarizadas perpendicularmente entre sí.
Este fenómeno sólo puede ocurrir si la estructura del material es anisotrópica. Si el
material tiene un solo eje de anisotropía, (es decir es uniaxial), la birrefringencia puede
formalizarse asignando dos índices de refracción diferentes al material para las distintas
polarizaciones.

La birrefringencia está cuantificada por la relación:

donde no y ne son los índices de refracción para las polarizaciones perpendicular (rayo
ordinario) y paralela al eje de anisotropía (rayo extraordinario), respectivamente.

7.4.3- El efecto fotoelástico completo

Designamos por n1, n2, n3 los índices de refracción correspondiente

respectivamente a los vectores E paralela a las tensiones principales 1, 2, y 3
(ortogonales entre sí) y llamando n0 al índice de refracción del material libre de tensión,
Maxwell (en1852) estableció las relaciones siguientes:

290
 n1 – n0 = a.σ1 + b.(σ2 + σ3)
n2 – n0 = a.σ2 + b.(σ1 + σ3)
n3 – n0 = a.σ3 + b.(σ2 + σ1)

Donde a y b son dos constantes que dependen del material considerado.

Sumando convenientemente podemos escribir:

n1 – n2 = c.(σ1 - σ2)
n2 – n3 = c.(σ2 - σ3)
n3 – n1 = c.(σ3 - σ1)

Donde c = a – b designado el coeficiente de tensión-óptica

Para estudiar el comportamiento de los esfuerzos en los materiales, se utilizan

placas y probetas de sección rectangular y espesor constante. Estas placas serán
sometidas a cargas a la vez que se instalarán en un fotoelasticímetro para visualizar la
distribución de esfuerzos que cada pieza en particular muestra, según sean sus
características geométricas.

En la figura se presenta un esquema del fotoelasticímetro, la pieza sometida a

cargas que se instala entre el polarizador y el analizador. Es este último elemento el que
hace visible la imagen del estado tensional de la pieza.

1 Fuente de luz, 2 polarizador, 3 Bastidor de carga para modelos 4 Modelo cargado, 5 Analizador

Consideremos una lámina transparente sometida a una tensión biaxial. Este

estado se logra con una buena aproximación para láminas de espesor pequeño,
sometidas a fuerzas aplicadas uniformemente en el plano y en las extremidades. Bajo
estas condiciones, las tensiones principales 1 y 2 están en el plano de la lámina y
291
prácticamente constantes a través del espesor de la lámina, y la tercera tensión
principal 3 (perpendicular al plano de la lámina) es nula en todas partes.

Para σ1 σ2 el material se comporta como un cristal biaxial. Las ecuaciones

anteriores se reducen

n1 – n2 = c.(σ1 - σ2)
n2 – n3 = c.σ2
n1 – n3 = c.σ1

E1 e

σ1

E2 n1

n3
E1´
σ2 n2 σ3

E2´

Una onda polarizada vibrando en el plano de una cualquiera de las tres secciones
principales del elipsoide de índices es transmitida sin cambios por la placa, excepto una
pérdida ligera de intensidad. Para toda otra incidencia normal, la onda E es separada
en dos componentes E1 y E2 vibrantes en el plano 1 2 y 2 3 respectivamente, las
que emergen con un desfase espacial (e es el espesor de lámina)

δ = (n1 – n2).e = c.(σ1 - σ2).e

El fotoelasticímetro más simple que uno puede realizar incluye un polarizador

lineal y un analizador lineal, entre los cuales uno coloca el objeto a estudiar. La fuente
luminosa es a menudo provista de un difusor. En general, los ejes del polarizador y
analizador están cruzados en 90º, de modo que las figuras de interferencia aparecen en
el fondo en negro.

292
 y1
x1
y x
E
σ1
Luz σ2
natural θ
y2
x2
Polarizador P

Analizador

Escojamos una onda polarizada linealmente, abordando la placa con una

incidencia normal en un punto P sometido a las tensiones principales 1 y 2 el
vector E formando un ángulo con la dirección de 1. El cálculo demuestra que la
intensidad Ι transmitida por el analizador va como:

Ι = Ι0.sin2(2θ).sin2(α/2)

Donde Ι0 designa la intensidad que sería transmitida por el analizador si él fuera

isótropo, (alpha) el desfase entre las componentes de la onda emergente del
analizador. El desfase angular de las componentes correspondientes a un cambio
espacial δ es dado por:
2π 2π
α= δ= c.(σ 1 − σ 2 ).e
λ λ

Esta ecuación muestra que aquí existen dos condiciones separadas que
conducen a la extinción de la luz:

La primera: = 0º ó = 90º se satisface para todos los puntos P de la placa

donde las direcciones de las tensiones principales 1 ó 2 son paralelas a los ejes del
polaroide. El lugar de estos puntos que aparecen en negro son las curvas continuas
llamadas isoclinas. Las isoclinas son independientes de la longitud de onda , y del
coeficiente c.

La segunda condición de extinción sin2(α/2) = 0 ⇒ α = 2.m.π, equivalente a un

desfase espacial de m longitudes de onda ( m entero).

Así todo punto P de la placa por los cuales la diferencia σ1 - σ2 de tensiones

principales es tal que el desfase espacial es igual a un número entero de longitudes de
onda, aparecerá sombreado.

El lugar de estos puntos define las curvas isocromáticas, que son clasificadas
por el orden de las franjas ( m = 1,2,…).Aquí el desfase depende de n, ya que los
puntos de extinción para cada color se sitúan sobre curvas diferentes. En este caso, y
si miramos el polariscopio con luz blanca, las veremos aparecer de las líneas de color
293
residuales que son vecinas de cada línea de color extinta. Para eliminar fácilmente las
isocromáticas se utilizan materiales pocos activos ópticamente y una carga
relativamente pequeña, de tal manera que δ permanezca siempre inferior a 1 en todo el
modelo y que no aparezca así ninguna isocromática. El material que se usa con mayor
frecuencia es el plexiglás, y debido a la ausencia de isocromáticas se puede usar luz
blanca para tener más luminosidad.

Características de las isoclinas:

• Negras
• Definidas menos nítidamente que las isócromas
• A tensión constante, ellas varían cuando rotamos simultáneamente el
polarizador y el analizador manteniéndolos cruzados a 90º
• Con el polarizador y analizador mantenidos fijos, la modificación de la tensión
las mantiene invariante

FRANJAS ISÓCLINAS. POLARIZADOR Y ANALIZADOR A 20º

Cuando intercalamos dos láminas de cuarto de onda entre los polaroides de un

polariscopio lineal, los ejes principales de esta lámina estarán inclinados a 45º sobre
aquellos del polaroide, obteniendo un fotoelasticímetro circular. El modelo a estudiar
se establece sobre el cambio de luz polarizada circularmente entre las láminas de
cuarto de onda. De los ejes y de las láminas de cuarto de onda, respectivamente
cruzados entre sí a 90º, conducen a la versión llamada fotoelasticímetro circular
cruzado standard.

El cálculo muestra que la intensidad a la salida del polariscopio está dada por la
ecuación:
Ι = Ι0.sin2(α/2)

294
 Polarizador
y1
x1 λ/4

x’ 45º
Vibración
circular
y’

Vibración y
x
lineal σ1
σ2
x’’
P Vibración
lineal
y2

Vibración
elíptica y’’ x2
45º

λ/4

Analizador
Así la luz transmitida es nula para = 2m que corresponde a un número entero
de longitudes de onda de retraso. Esta condición es idéntica a la extinción de las
isocromáticas, estamos, por consiguiente, eliminando las isoclinas. El orden de las
franjas isocromáticas corresponde entonces al número m ya dicho.
Características de las isocromáticas:

• Coloreadas, con excepción de las franjas de orden cero

• Definidas más nítidamente que las isoclinas
• A tensión constante , ellas permanecen fijas cuando rotamos el polarizador y
analizador manteniéndolos cruzados a 90º
• Con el polarizador y analizador manteniéndolos fijos, ellas varían con la tensión

A menudo, toda la información deseada puede ser obtenida a partir de las

isocromáticas, en este caso las isoclinas son indeseables, ya que ellas oscurecen el
dibujo de las tensiones. Es posible entonces eliminar las isoclinas utilizando luz
polarizada circularmente.

A partir de las isoclinas es posible obtener las líneas isostáticas que corresponden
a las trayectorias de las tensones principales. Estas líneas se obtienen a partir de un
método gráfico simple consistente en indicar la cruz de tensiones en cada punto
tomando como dato el valor de la isoclina (la isoclina 0º tiene, en la cruz de
tensiones, un brazo horizontal y otro vertical).

Las isopacas son las curvas de igual suma de las tensiones principales:
295
 σ1 + σ2 = constante

Siendo esta constante positiva o negativa.

Los métodos experimentales utilizados para obtener esta red son menos clásicos
que los dos precedentes. Algunos son la analogía red-eléctrica, el moiré o la
holografía, estos dos últimos son métodos ópticos.

296